JPS5811876A - 直流通電寿命試験回路 - Google Patents
直流通電寿命試験回路Info
- Publication number
- JPS5811876A JPS5811876A JP56109312A JP10931281A JPS5811876A JP S5811876 A JPS5811876 A JP S5811876A JP 56109312 A JP56109312 A JP 56109312A JP 10931281 A JP10931281 A JP 10931281A JP S5811876 A JPS5811876 A JP S5811876A
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- Japan
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- sample
- samples
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子部品の直流通電寿命試験回路に関するもの
である。
である。
従来は多数の電子部品の直流通電寿命を試験する場合、
例えば、第１図に示されているように、各電子部品を並
列に結線し、定電圧電源から電力を供給するようにした
回路で行なっていた。図において、１α，１ｈ，・・・
は所定の抵抗値を有する電子部品の試料、２は定電圧電
源、３α，３ｈ。
例えば、第１図に示されているように、各電子部品を並
列に結線し、定電圧電源から電力を供給するようにした
回路で行なっていた。図において、１α，１ｈ，・・・
は所定の抵抗値を有する電子部品の試料、２は定電圧電
源、３α，３ｈ。
・・・はＬＥＤ （発光ダイオード）、４α，４ｂ，・
・・はトランジスタである。
・・はトランジスタである。
今、このような回路で試料１α，１ｂ．・・・の寿命を
試験している間に、試料１αの抵抗値が異常に大きくな
っｔこりあるいは断線したとすると、試料１αの端子間
電圧は上昇し、トランジスタ４αは導通する。そして、
トランジスタ４αのコレクタに接続されたＬＥＤ３αは
発光する。したがって、このような従来回路によれば、
ＬＥＤが発光すれば、それに対応した試料の寿命がきた
ことを知ることができる。
試験している間に、試料１αの抵抗値が異常に大きくな
っｔこりあるいは断線したとすると、試料１αの端子間
電圧は上昇し、トランジスタ４αは導通する。そして、
トランジスタ４αのコレクタに接続されたＬＥＤ３αは
発光する。したがって、このような従来回路によれば、
ＬＥＤが発光すれば、それに対応した試料の寿命がきた
ことを知ることができる。
しかしながら、上記の従来回路では、各試料に流れる電
流は試料の初期抵抗値のばらつきに従ってばらつくこと
になる。すなわち、初期抵抗値の小さな試料には大きな
電流が流、れ、初期抵抗値の小さな試料は他の初期抵抗
値の大きな試料に比べてより苛酷な条件で試験されるこ
とになる。このため、従来回路では試料の初期特性の差
を強調、加速して寿命試験を行なうことになるという欠
点があった。
流は試料の初期抵抗値のばらつきに従ってばらつくこと
になる。すなわち、初期抵抗値の小さな試料には大きな
電流が流、れ、初期抵抗値の小さな試料は他の初期抵抗
値の大きな試料に比べてより苛酷な条件で試験されるこ
とになる。このため、従来回路では試料の初期特性の差
を強調、加速して寿命試験を行なうことになるという欠
点があった。
本発明の目的は、評価されるべき大量の電子部品の初期
特性のばらつきにより、各試料に流れる電流がまちまち
になるという従来技術の欠点をなくし、各試料に流れる
電流を等しくして、寿命の適正な評価および解析を容易
に行なえるようにした直流通電寿命試験回路を提供する
にある。
特性のばらつきにより、各試料に流れる電流がまちまち
になるという従来技術の欠点をなくし、各試料に流れる
電流を等しくして、寿命の適正な評価および解析を容易
に行なえるようにした直流通電寿命試験回路を提供する
にある。
本発明は、直列に結線された試料に直流定電流電源によ
って電力を供給することにより各試料に流れる電流を等
しくし、かつ各試料に並列にバイパス回路とそれに電流
が流れたことを報知する報知手段を設けて、試別に寿命
がきたとき、このバイパス回路に電流が流れるようにす
ることによシ、故障に至らない試料の通電状態に悪影響
を与えることなく通電寿命試験を続行できるようにする
と共に試料に寿命がきたことを報知するようにした点に
特徴がある。
って電力を供給することにより各試料に流れる電流を等
しくし、かつ各試料に並列にバイパス回路とそれに電流
が流れたことを報知する報知手段を設けて、試別に寿命
がきたとき、このバイパス回路に電流が流れるようにす
ることによシ、故障に至らない試料の通電状態に悪影響
を与えることなく通電寿命試験を続行できるようにする
と共に試料に寿命がきたことを報知するようにした点に
特徴がある。
以下に、本発明を実施例によって説明する。
第２図は本発明の一実施例を示し、故障モードが断線、
半断線あるいは抵抗増の電子部品において、初期のノミ
ナル（公称値）抵抗が２０Ωの電子部品２０個の通電寿
命試験を行う場合の回路を示す。図において、２０個の
試料１１Ｚｌ 、１％ 、・・・１へ。
半断線あるいは抵抗増の電子部品において、初期のノミ
ナル（公称値）抵抗が２０Ωの電子部品２０個の通電寿
命試験を行う場合の回路を示す。図において、２０個の
試料１１Ｚｌ 、１％ 、・・・１へ。
は直列に結線され、定電流電源５に接続されている。各
試料１へ〜１〜。のそれぞれには並列にパワー素子２例
えばパワートランジスタ６ａ１〜６へ。が接続され、パ
ワートランジスタ６ａＸ〜６−０の各々のベース回路に
は、前記パワー素子をトリガするトリガ素子（例えば、
ツェナー又はアバランシェダイオード）７ａ１〜７−０
とＬＥＤＢａ１〜８へ。が直列に接続されたものが挿入
されている。
試料１へ〜１〜。のそれぞれには並列にパワー素子２例
えばパワートランジスタ６ａ１〜６へ。が接続され、パ
ワートランジスタ６ａＸ〜６−０の各々のベース回路に
は、前記パワー素子をトリガするトリガ素子（例えば、
ツェナー又はアバランシェダイオード）７ａ１〜７−０
とＬＥＤＢａ１〜８へ。が直列に接続されたものが挿入
されている。
ここに、ＬＥＤは前記パワー素子とトリガー素子によっ
て構成されろバイパス回路に電流が流れ４ 。
て構成されろバイパス回路に電流が流れ４ 。
たことを報知する働きをする。
寿命試験の開始時においては、直列に接続された２０個
の試料はすべて２０Ωで導通状態にあるものとし、定電
流電源５は１００ｍＡ供給するように設定されているも
のとする。したがって各試料の両端には２Ｖの電圧が発
生していることになり、定電流電源５の初期的な出力箱
、圧は４０Ｖである。
の試料はすべて２０Ωで導通状態にあるものとし、定電
流電源５は１００ｍＡ供給するように設定されているも
のとする。したがって各試料の両端には２Ｖの電圧が発
生していることになり、定電流電源５の初期的な出力箱
、圧は４０Ｖである。
そこで、実用的には、安定動作のためのマージンを込め
てツェナー又はアバランシェ電圧が３Ｖ程度の定電圧素
子を用いれば、いずれの試料が断線あるいは半断線した
場合にもその試料に並列に接続されている回路のトリガ
ー素子がオンする。そして、それに接続されたＬＥＤが
点灯（半断線の場合には点滅）して、試料が断線したこ
とを示す。これと同時にパワートランジスタが導通し、
断線した試料のバイパス回路を形成し、非断線試料に通
電を続ける。
てツェナー又はアバランシェ電圧が３Ｖ程度の定電圧素
子を用いれば、いずれの試料が断線あるいは半断線した
場合にもその試料に並列に接続されている回路のトリガ
ー素子がオンする。そして、それに接続されたＬＥＤが
点灯（半断線の場合には点滅）して、試料が断線したこ
とを示す。これと同時にパワートランジスタが導通し、
断線した試料のバイパス回路を形成し、非断線試料に通
電を続ける。
このため、試験中にどの試料に断線が発生しても、適正
な条件の下で他の試料の試験を続行することができる。
な条件の下で他の試料の試験を続行することができる。
上記したように、トリガー素子として用いる定電圧ダイ
オードのツェナー又はアバランシェ電、圧を３Ｖ程度に
すると、試料のわずかな抵抗増に対してもＬＥＤが点灯
し、断線であると報知することになる。これを改善し、
わずかな抵抗増に対しては断線であると報知しないよう
にするには、該ツェナーあるいはアバランシェ電圧を前
記の３Ｖより大きな適当な値に選べばよい。
オードのツェナー又はアバランシェ電、圧を３Ｖ程度に
すると、試料のわずかな抵抗増に対してもＬＥＤが点灯
し、断線であると報知することになる。これを改善し、
わずかな抵抗増に対しては断線であると報知しないよう
にするには、該ツェナーあるいはアバランシェ電圧を前
記の３Ｖより大きな適当な値に選べばよい。
例えば、ツェナー電圧Ｖｚ ｆ ５Ｖに設定すれば、パ
ワートランジスタのベース・エミッタ電圧ＶｈｇとＬＥ
Ｄの順方向降下電圧Ｖｆの和が２Ｖであるとすると、試
料の抵抗が７００（すなわち（５Ｖ＋２Ｖ）／１００ｍ
Ａ ） ｆ越えた場合、すなわち、抵抗増が指定値以上
に達した場合には、断線、半断線の場合と同様に、定電
圧素子が導通し、ＬＥＤが点灯子る。
ワートランジスタのベース・エミッタ電圧ＶｈｇとＬＥ
Ｄの順方向降下電圧Ｖｆの和が２Ｖであるとすると、試
料の抵抗が７００（すなわち（５Ｖ＋２Ｖ）／１００ｍ
Ａ ） ｆ越えた場合、すなわち、抵抗増が指定値以上
に達した場合には、断線、半断線の場合と同様に、定電
圧素子が導通し、ＬＥＤが点灯子る。
これと同時にパワートランジスタが導通して、抵抗増の
試別がＶｚ＋Ｖｆ＋Ｖｈｉ以上の高電圧によって破壊さ
れるのを防止しながら、他の試料には設定電流１０ｏｔ
ｙｔＡを供給し続けるので、全試料についての寿命試験
を当初と同じ条件の下で継続的に行なうことができる。
試別がＶｚ＋Ｖｆ＋Ｖｈｉ以上の高電圧によって破壊さ
れるのを防止しながら、他の試料には設定電流１０ｏｔ
ｙｔＡを供給し続けるので、全試料についての寿命試験
を当初と同じ条件の下で継続的に行なうことができる。
第３図は本発明の第２実施例を示す。この実施例は、第
２図で説明した第１実施例において、ＬＥＤとして高輝
度ＬＥＤが用いられていない、あるいはパワートランジ
スタ６（Ｌ、 、６％ ・・・のｈｆｅが高すぎる等の
理由により、ＬＥＤＢａｌ、８ａｔ・・・の発光が弱い
場合を改良したものである。第３図には試料１とその並
列回路の１ブロツクのみが記されており、第２図に記さ
れている定電流電源５や他のブロックの試料およびその
並列回路は省略されている。
２図で説明した第１実施例において、ＬＥＤとして高輝
度ＬＥＤが用いられていない、あるいはパワートランジ
スタ６（Ｌ、 、６％ ・・・のｈｆｅが高すぎる等の
理由により、ＬＥＤＢａｌ、８ａｔ・・・の発光が弱い
場合を改良したものである。第３図には試料１とその並
列回路の１ブロツクのみが記されており、第２図に記さ
れている定電流電源５や他のブロックの試料およびその
並列回路は省略されている。
本実施例では、試料１の高電位側端子Ａとパワトランジ
スタ６のコレクタ間に、抵抗へと五８の直列回路と、抵
抗へとを並列に接続した回路が接続されている。また、
前記端子Ａとパワトランジスタ６のペース間に定電圧ダ
イオード７が接続されている。
スタ６のコレクタ間に、抵抗へと五８の直列回路と、抵
抗へとを並列に接続した回路が接続されている。また、
前記端子Ａとパワトランジスタ６のペース間に定電圧ダ
イオード７が接続されている。
このため、試料１が断線して、試料１の両端子間の電圧
が上シ、定電圧ダイオード７が導通すると、パワトラン
ジスタ６はオ゛ンになる。そうすると、パワトランジス
タ６のコレクタエミッタ間には定電流電源から出力され
ろ電流とほぼ等しい電流が流れる。したがって、ＬＥＤ
Ｂにはこのコレクタに接続された抵抗へ、鳥 とＬＥＤ
８の内部抵抗で決壕る電流が流れて発光する。
が上シ、定電圧ダイオード７が導通すると、パワトラン
ジスタ６はオ゛ンになる。そうすると、パワトランジス
タ６のコレクタエミッタ間には定電流電源から出力され
ろ電流とほぼ等しい電流が流れる。したがって、ＬＥＤ
Ｂにはこのコレクタに接続された抵抗へ、鳥 とＬＥＤ
８の内部抵抗で決壕る電流が流れて発光する。
第４図は本発明の第３実施例を示し、前記第２実施例と
同様にＬＥＤ５の発光輝度を第１実施例に比べて高めた
ものである。本実施例では試料１が断線して定電圧ダイ
オード７が導通すると１、ＥＤ８には第２実施例と同様
の大きな電流が流れ、ＬＥＤ８は発光する。なお、この
回路では定電圧ダイオード７がパワー素子とそれをトリ
ガする定電圧素子とを兼ねている。
同様にＬＥＤ５の発光輝度を第１実施例に比べて高めた
ものである。本実施例では試料１が断線して定電圧ダイ
オード７が導通すると１、ＥＤ８には第２実施例と同様
の大きな電流が流れ、ＬＥＤ８は発光する。なお、この
回路では定電圧ダイオード７がパワー素子とそれをトリ
ガする定電圧素子とを兼ねている。
第５図は本発明の第４実施例を示す。同図（ｃＬ）にお
いて、９はホトサイリスタカプラ、１０は抵抗、１１は
定電圧電源、１５はパワー素子であるサイリスタである
。また１２は抵抗、１３はコンデンサ、１４はショット
キーダイオードであり、１２゜１３．１４の素子からな
る回路は急激な電圧の変寛を防止する回路である。
いて、９はホトサイリスタカプラ、１０は抵抗、１１は
定電圧電源、１５はパワー素子であるサイリスタである
。また１２は抵抗、１３はコンデンサ、１４はショット
キーダイオードであり、１２゜１３．１４の素子からな
る回路は急激な電圧の変寛を防止する回路である。
今、試料１が断線したとすると、試料１の両端子間電圧
は急激に上ろうとするが、前記した抵抗１２、コンデン
サ１３およびショットキーダイオード１４からなる回路
によりその上昇速度はおさえられる。試料１の両端子間
の電圧の上昇によって定電圧ダイオード７が導通すると
、ホトサイリスタカプラ９がオンになると共にサイリス
タ１５がオンとなる。このため、電流は断線した試料を
バイパスして、す、イリスタ１５ヲ通って流れる。一方
、ホトサイリスタカプラ９は一度オン状態になると、サ
イリスタ９αはオン状態を保持するので、試料が断線し
、その後回復してもＬＥＤＢは定電圧電源１１から電力
を供給されて発光を継続し、故障を経験したことを示す
。
は急激に上ろうとするが、前記した抵抗１２、コンデン
サ１３およびショットキーダイオード１４からなる回路
によりその上昇速度はおさえられる。試料１の両端子間
の電圧の上昇によって定電圧ダイオード７が導通すると
、ホトサイリスタカプラ９がオンになると共にサイリス
タ１５がオンとなる。このため、電流は断線した試料を
バイパスして、す、イリスタ１５ヲ通って流れる。一方
、ホトサイリスタカプラ９は一度オン状態になると、サ
イリスタ９αはオン状態を保持するので、試料が断線し
、その後回復してもＬＥＤＢは定電圧電源１１から電力
を供給されて発光を継続し、故障を経験したことを示す
。
以上のように、本実施例では試料１に瞬断あるいは瞬間
的な抵′抗増が一度あっただけでも、「寿命が到来した
」と判定アきるという特徴がある。
的な抵′抗増が一度あっただけでも、「寿命が到来した
」と判定アきるという特徴がある。
第６図は本発明の第５実施例を示し、前記第、 ｄ
４実施例と比べてホトサイリスタカプラ９０代りにホト
トランジスタカプラ１６ヲ用いた点、および試料の断線
を光でなく電気信号として端子１７から取り出すように
した点で異なるだけである。本実施例では試料１に断線
があったとき端子１７からこれを報知するパルス的な電
気信号が出力されるがとの電気信号が出力されたとき、
端子１７に接続されている図示されていない回路例えば
マイコン等によって試料が断線したと判断するようにす
ればよい。
トランジスタカプラ１６ヲ用いた点、および試料の断線
を光でなく電気信号として端子１７から取り出すように
した点で異なるだけである。本実施例では試料１に断線
があったとき端子１７からこれを報知するパルス的な電
気信号が出力されるがとの電気信号が出力されたとき、
端子１７に接続されている図示されていない回路例えば
マイコン等によって試料が断線したと判断するようにす
ればよい。
なお、第５図及び第６図における定電圧ダイオード７と
抵抗１０との直列回路に替えて、第５図（ｈ）に示すよ
うなトリガーダイオードを用いてもよいことは勿論であ
る。
抵抗１０との直列回路に替えて、第５図（ｈ）に示すよ
うなトリガーダイオードを用いてもよいことは勿論であ
る。
以上のように本発明の直流通電寿命試験回路によれば、
大量の試料に同一の電流を供給して、通電寿命（断線、
半断線、抵抗増）ｆ、検知でき、しかも、寿命に達した
試料を除去することなく連続して試験することが可能で
ある。
大量の試料に同一の電流を供給して、通電寿命（断線、
半断線、抵抗増）ｆ、検知でき、しかも、寿命に達した
試料を除去することなく連続して試験することが可能で
ある。
第１図は従来の直流通電寿命試駆回路の回路図、第２図
は本発明の断線試料短絡回路をバリートランジスタで実
現した第１実施例の回路図、第３図、第４図はＬＥＤの
発光輝度を高めた第２．。 第３実施例の回路図、第５図はホトザイリスタカブラで
本発明を実現した第４実施例の回路図、第６図は検出信
号を外部へ取り出して処理するようにした第５実施例の
回路図である。 １．１へ、１へ・・・試料、 ５・・・定電流電源、
６．６ａ１．６ａ、・・・パワトランジスタ、７．７ａ
１．７ａ、 ・・・定電圧素子、 ８．８ａ１．８％−
ＬＥＤ１］ ７１図 ／ｌ ′３ 図 才 ４ 図法 ５ 図 （ａ ） （
しン才 ｂ 門
は本発明の断線試料短絡回路をバリートランジスタで実
現した第１実施例の回路図、第３図、第４図はＬＥＤの
発光輝度を高めた第２．。 第３実施例の回路図、第５図はホトザイリスタカブラで
本発明を実現した第４実施例の回路図、第６図は検出信
号を外部へ取り出して処理するようにした第５実施例の
回路図である。 １．１へ、１へ・・・試料、 ５・・・定電流電源、
６．６ａ１．６ａ、・・・パワトランジスタ、７．７ａ
１．７ａ、 ・・・定電圧素子、 ８．８ａ１．８％−
ＬＥＤ１］ ７１図 ／ｌ ′３ 図 才 ４ 図法 ５ 図 （ａ ） （
しン才 ｂ 門
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１１直流定電流電源と、該直流定電流電源に直列に接
続された複数個の試料と、該試料の各々に並列に接続さ
れたパワー素子と、これをトリガするトリガ素子とを含
むバイパス回路と、該バイパス回路に電流が流れたこと
を報知する報知手段とを少なくとも具備したことを特徴
とする直流通電寿命試験回路。 （２） 前記報知手段が前記直流定電流電源から電力
を供給されるようにしたことを特徴とする特許回路。 （３｝ 前記報知手段が前記直流定電流電源とは別電
源から電力を供給されるようにしたことを特徴とする前
記特許請求の範囲第１項記載の直流通電寿命試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56109312A JPS5811876A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 直流通電寿命試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56109312A JPS5811876A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 直流通電寿命試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5811876A true JPS5811876A (ja) | 1983-01-22 |
Family
ID=14507010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56109312A Pending JPS5811876A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 直流通電寿命試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5811876A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2592173A1 (fr) * | 1985-12-20 | 1987-06-26 | Gueriaux Pierre | Procede d'identification d'un recepteur electrique devenu defectueux dans un circuit serie, en particulier d'une source eclairante, ainsi que du circuit serie defectueux, et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede |
| FR2611914A1 (fr) * | 1987-02-23 | 1988-09-09 | Auge Christian | Dispositif de detection des pannes adaptable sur installation preexistante sans modification de la cablerie initiale |
-
1981
- 1981-07-15 JP JP56109312A patent/JPS5811876A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2592173A1 (fr) * | 1985-12-20 | 1987-06-26 | Gueriaux Pierre | Procede d'identification d'un recepteur electrique devenu defectueux dans un circuit serie, en particulier d'une source eclairante, ainsi que du circuit serie defectueux, et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede |
| FR2611914A1 (fr) * | 1987-02-23 | 1988-09-09 | Auge Christian | Dispositif de detection des pannes adaptable sur installation preexistante sans modification de la cablerie initiale |
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