JPS5812875U - Lsi試験用プロ−ブ・カ−ド - Google Patents
Lsi試験用プロ−ブ・カ−ドInfo
- Publication number
- JPS5812875U JPS5812875U JP10492381U JP10492381U JPS5812875U JP S5812875 U JPS5812875 U JP S5812875U JP 10492381 U JP10492381 U JP 10492381U JP 10492381 U JP10492381 U JP 10492381U JP S5812875 U JPS5812875 U JP S5812875U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe card
- test probe
- lsi test
- metal needle
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図はプローブ・カードによりウェハの測定を行なう
状態を一部破断して示す斜視図、第2図は第1図のプロ
ーブ・カードを示す斜視図、第3図は従来の金属針を拡
大して示す断面図、第4図は本考案の一実施例によるプ
ローブ・カードの金属針を拡大して示す断面図である・
。 1・・・・・・絶縁物基板、2・・・・・・孔、3・・
・・・・プリント・配線、4・・・・・・金属針、5・
・・・・・プローブ・カード、6・・・・・・ウェハ、
7・・・・・・LSI素子、8・・・・・・合成樹脂製
チューブ、9・・・・・・銅管、10・・・・・・導電
性ペースト。
状態を一部破断して示す斜視図、第2図は第1図のプロ
ーブ・カードを示す斜視図、第3図は従来の金属針を拡
大して示す断面図、第4図は本考案の一実施例によるプ
ローブ・カードの金属針を拡大して示す断面図である・
。 1・・・・・・絶縁物基板、2・・・・・・孔、3・・
・・・・プリント・配線、4・・・・・・金属針、5・
・・・・・プローブ・カード、6・・・・・・ウェハ、
7・・・・・・LSI素子、8・・・・・・合成樹脂製
チューブ、9・・・・・・銅管、10・・・・・・導電
性ペースト。
Claims (1)
- 位置合わせ用の孔を開口した絶縁物基板の表面に、先端
が前記孔の周縁に集束するようにプリント配線を形成し
、このプリント配線の先端に夫々金属針を接続したLS
I試験用プローブ・カードにおいそ、前記金属針に合成
樹脂製チューブを被せ、更にその外周に導電性ペースト
を塗布したことを特徴とするLSI試験用プローブ・カ
ード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10492381U JPS5812875U (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | Lsi試験用プロ−ブ・カ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10492381U JPS5812875U (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | Lsi試験用プロ−ブ・カ−ド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5812875U true JPS5812875U (ja) | 1983-01-27 |
Family
ID=29899481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10492381U Pending JPS5812875U (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | Lsi試験用プロ−ブ・カ−ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5812875U (ja) |
-
1981
- 1981-07-15 JP JP10492381U patent/JPS5812875U/ja active Pending
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