JPS58136263A - サイリスタバルブの故障診断装置 - Google Patents
サイリスタバルブの故障診断装置Info
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- JPS58136263A JPS58136263A JP1754882A JP1754882A JPS58136263A JP S58136263 A JPS58136263 A JP S58136263A JP 1754882 A JP1754882 A JP 1754882A JP 1754882 A JP1754882 A JP 1754882A JP S58136263 A JPS58136263 A JP S58136263A
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- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
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- H02M1/088—Circuits specially adapted for the generation of control voltages for semiconductor devices incorporated in static converters for the simultaneous control of series or parallel connected semiconductor devices
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- Power Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は交直変換装置用サイリスタバルブの故障診断装
置に係り、特に、高電圧用サイリスタバルブのすイリス
タの故障を確実に、かつ自動的に検出することのできる
故障診断装置に関する。
置に係り、特に、高電圧用サイリスタバルブのすイリス
タの故障を確実に、かつ自動的に検出することのできる
故障診断装置に関する。
第１図に交直変換装置の構成例を示す。図においてｌは
変換用変圧器、ａ、ｂ、ｃは変圧器の交流噛子、２は交
直変換器で２１〜２１１で示すサイリスタバルブで構成
される。３は直流リアクトル、４．４′は直流母線でめ
夛、交直変換装置が直流送電に用いられる場合には、直
流送電線を介して相手端子の交直変換装置に接続される
。ここで用いられるサイリスタバルブ祉普通第２図に示
すように多数のサイリスタを直列に接続して構成される
。非常に多数のサイリスタを使用するため、確率的にい
くつかのサイリスタが故障して短絡状態になり、サイリ
スタバルブ全体としての耐圧が低下することが起りうる
。しかしながら、一般にサイリスタの数にある種変の冗
長をもたせておき、サイリスタの故障数が許容される範
囲であれば、故障したサイリスタを放置したままで運転
を続行することができる。ただし、このような運転を行
うためには故障し九サイリスタの数を常時監視しておき
、その故障数は許容値内にあることを確めることが必要
である。そこで、サイリスタノ（ルブの故障診断装置は
交直変換装置の運転を行う上で必要不可欠なものとなる
。
変換用変圧器、ａ、ｂ、ｃは変圧器の交流噛子、２は交
直変換器で２１〜２１１で示すサイリスタバルブで構成
される。３は直流リアクトル、４．４′は直流母線でめ
夛、交直変換装置が直流送電に用いられる場合には、直
流送電線を介して相手端子の交直変換装置に接続される
。ここで用いられるサイリスタバルブ祉普通第２図に示
すように多数のサイリスタを直列に接続して構成される
。非常に多数のサイリスタを使用するため、確率的にい
くつかのサイリスタが故障して短絡状態になり、サイリ
スタバルブ全体としての耐圧が低下することが起りうる
。しかしながら、一般にサイリスタの数にある種変の冗
長をもたせておき、サイリスタの故障数が許容される範
囲であれば、故障したサイリスタを放置したままで運転
を続行することができる。ただし、このような運転を行
うためには故障し九サイリスタの数を常時監視しておき
、その故障数は許容値内にあることを確めることが必要
である。そこで、サイリスタノ（ルブの故障診断装置は
交直変換装置の運転を行う上で必要不可欠なものとなる
。
第２図においてＡ、にはそれぞれサイリスタＩ（ルブの
アノード、カンード端子である。人Ｌ１〜ＡＬＭはアノ
ードリアクトル、８！〜８買はすイリスタ、Ｃ１〜Ｃ＊
、Ｒｔ〜Ｒｘは分圧用の抵抗器、コンデンｔ Ｖ Ｄ
ｓ〜ＶＤｘは分圧器である。
アノード、カンード端子である。人Ｌ１〜ＡＬＭはアノ
ードリアクトル、８！〜８買はすイリスタ、Ｃ１〜Ｃ＊
、Ｒｔ〜Ｒｘは分圧用の抵抗器、コンデンｔ Ｖ Ｄ
ｓ〜ＶＤｘは分圧器である。
この例では８個のサイリスタと２つのアノードリアクト
ル、分圧器等によシ１つのモジュールを構成し、そのモ
ジュールを直列に接続してサイリスタパルプを構成して
いる。ＶＤ１〜ＶＤ電はモジュール単位毎に設ける分圧
器であり、例えば、／（ルブダンピング回路を分割して
モジュール毎に設ける場合、直流分圧用の抵抗器をモジ
ュール単位毎に設ける場合等がこれにあたる。ネオンラ
ンプＮＬ１％ ライトガイドＬＧ１、検出装置ＦＤｓ
＄サイリスタ故障検出装置の従来例である。
ル、分圧器等によシ１つのモジュールを構成し、そのモ
ジュールを直列に接続してサイリスタパルプを構成して
いる。ＶＤ１〜ＶＤ電はモジュール単位毎に設ける分圧
器であり、例えば、／（ルブダンピング回路を分割して
モジュール毎に設ける場合、直流分圧用の抵抗器をモジ
ュール単位毎に設ける場合等がこれにあたる。ネオンラ
ンプＮＬ１％ ライトガイドＬＧ１、検出装置ＦＤｓ
＄サイリスタ故障検出装置の従来例である。
平常時は、サイリスタ８１〜Ｓ４とＢ 、 、、、 ３
・ は等しい電圧を分担しており、分圧器ｖＤ１とＶＤ
ｓも等しい電圧を分担しているからネオンランプＮＬ１
には電圧がかからない、ところが、例えばサイリスタＳ
１が故障し、短絡状態になると、電圧の平衡状態がくず
れて、ネオンランプＮＬｔが発光する。その光はライト
ガイドＬＧｓ を介して大地電位にある検出装ｆｉｔ
Ｆ Ｄ ＊に送られ、検出装置ＦＤＩによってその光を
検出してサイリスタの故障を知ることができるわけであ
る。
・ は等しい電圧を分担しており、分圧器ｖＤ１とＶＤ
ｓも等しい電圧を分担しているからネオンランプＮＬ１
には電圧がかからない、ところが、例えばサイリスタＳ
１が故障し、短絡状態になると、電圧の平衡状態がくず
れて、ネオンランプＮＬｔが発光する。その光はライト
ガイドＬＧｓ を介して大地電位にある検出装ｆｉｔ
Ｆ Ｄ ＊に送られ、検出装置ＦＤＩによってその光を
検出してサイリスタの故障を知ることができるわけであ
る。
しかしながら、例えば、サイリスタＳ１とＳｔが故障し
たような場合を考えると、故障が発生し九にもかかわら
ず、サイリスタ８１〜８４と８．〜８・の電圧は平衡し
てお９、ネオンランプＮ Ｌ ｓには電圧がかからない
ため、故障を検出することはできない。また、ネオンラ
ンプの光の強さは必ずしも加える電圧に比例しないから
１個のサイリスタが故障した場合と２個のサイリスタが
故障した場合を明確に区別することは難かしい。更に、
交直変換装置の太番量化、高耐圧化に伴って、サイリス
タパルプの使用数が増えると故障を検出し、故障数を常
時監視するのも、従来は係員によって行われているので
、非常に困拳である。
たような場合を考えると、故障が発生し九にもかかわら
ず、サイリスタ８１〜８４と８．〜８・の電圧は平衡し
てお９、ネオンランプＮ Ｌ ｓには電圧がかからない
ため、故障を検出することはできない。また、ネオンラ
ンプの光の強さは必ずしも加える電圧に比例しないから
１個のサイリスタが故障した場合と２個のサイリスタが
故障した場合を明確に区別することは難かしい。更に、
交直変換装置の太番量化、高耐圧化に伴って、サイリス
タパルプの使用数が増えると故障を検出し、故障数を常
時監視するのも、従来は係員によって行われているので
、非常に困拳である。
本発明の目的は、上記したような欠点がなく、サイリス
タの故障力所や故障数を確実に知ることのできるサイリ
スタノ（ルブの故障診断装置を提供するにある。
タの故障力所や故障数を確実に知ることのできるサイリ
スタノ（ルブの故障診断装置を提供するにある。
本発明の豐点は、サイリスタのＡＫ間にサイリスタ両端
の順電圧ま九は（及び）逆電圧を検出する回路を設け、
サイリスタの非導通期間中にこの電圧があればサイリス
タは健全、なければ故障と判断するようにし、個々のす
イリスタの順電圧または（及び）逆電圧の有り（健全）
ｔたは無しく故障）の情報を割プ当てられた記憶領域の
香地壕九は番地のビットに格納しておき、故障カ所や故
障数を分るようにしたところＫある、第３図に本発明の
一実施例を示す。前回と同じ記号のものは同じものを示
すので異ったものについてのみｉｔ関すると、ＶＬｔ〜
ｖＬＮは個々のすイリスタのλに間の両端の電圧を検出
するＡＫ間電電圧検出回路ＬＧ、〜ＬＧ）ｌはＡＫ関電
電圧検出回路よや検出された電圧信号を光信号により大
地電位にある故障診断装置ＦＭに送るライトガイドであ
る。この故障診断装置ＦＭは個々のサイリスタに順電圧
または（及び）逆電圧の有無の状態の自動監視及び記録
を行うため、計算ｔａ例えばマイクロコンピュータ（マ
イコン）で構成されている。この装置の詳細の動作は後
述するとして、まず、ＡＫ間電電圧検出回路具体的な一
回路を第４図に示す。第４図は第３図中の１番目のサイ
リスタを例にとって示す（ｉ−１〜Ｎ＞。ここでＰＤ＋
は逆並列に接続されたフォトダイオードでダイオードに
電流が流れると、即ちサイリスタＳＩのＡＫ閾に′−圧
が印加されると光信号を発する。なお、ここではサイリ
スタパルプの順、逆電圧のいずれ本検出可能とするため
）゛オドダイオードは逆並列接続としたが、一方だけで
も可能である。この光信号はライトガイドＬ Ｇ Ｉを
介して前述の故障診断装置ＦＭに導かれる。Ｒ１はＰＤ
＋に流れる電流を制限するための制限抵抗で、λに間電
圧検出回路ｖＬ癒はＲ１とＰ Ｄ Ｉの直列接続回路か
らこの場合構成されているが、ＡＫ閣の電圧の有無が検
出できるものであれば何でもよく、検出方法がこの方法
にのみ限定されるものではない。
の順電圧ま九は（及び）逆電圧を検出する回路を設け、
サイリスタの非導通期間中にこの電圧があればサイリス
タは健全、なければ故障と判断するようにし、個々のす
イリスタの順電圧または（及び）逆電圧の有り（健全）
ｔたは無しく故障）の情報を割プ当てられた記憶領域の
香地壕九は番地のビットに格納しておき、故障カ所や故
障数を分るようにしたところＫある、第３図に本発明の
一実施例を示す。前回と同じ記号のものは同じものを示
すので異ったものについてのみｉｔ関すると、ＶＬｔ〜
ｖＬＮは個々のすイリスタのλに間の両端の電圧を検出
するＡＫ間電電圧検出回路ＬＧ、〜ＬＧ）ｌはＡＫ関電
電圧検出回路よや検出された電圧信号を光信号により大
地電位にある故障診断装置ＦＭに送るライトガイドであ
る。この故障診断装置ＦＭは個々のサイリスタに順電圧
または（及び）逆電圧の有無の状態の自動監視及び記録
を行うため、計算ｔａ例えばマイクロコンピュータ（マ
イコン）で構成されている。この装置の詳細の動作は後
述するとして、まず、ＡＫ間電電圧検出回路具体的な一
回路を第４図に示す。第４図は第３図中の１番目のサイ
リスタを例にとって示す（ｉ−１〜Ｎ＞。ここでＰＤ＋
は逆並列に接続されたフォトダイオードでダイオードに
電流が流れると、即ちサイリスタＳＩのＡＫ閾に′−圧
が印加されると光信号を発する。なお、ここではサイリ
スタパルプの順、逆電圧のいずれ本検出可能とするため
）゛オドダイオードは逆並列接続としたが、一方だけで
も可能である。この光信号はライトガイドＬ Ｇ Ｉを
介して前述の故障診断装置ＦＭに導かれる。Ｒ１はＰＤ
＋に流れる電流を制限するための制限抵抗で、λに間電
圧検出回路ｖＬ癒はＲ１とＰ Ｄ Ｉの直列接続回路か
らこの場合構成されているが、ＡＫ閣の電圧の有無が検
出できるものであれば何でもよく、検出方法がこの方法
にのみ限定されるものではない。
第５図に故障診断装置の内部に設けられる光信号を電気
信号に変侯する回路の一回路図を示す。
信号に変侯する回路の一回路図を示す。
■、は直流電源、ＰＴｓはフォトトランジスタで、ライ
トガイドＬ Ｇ ＋から光信号が送られてくると導通状
態となる。ＲｏｌはフォトトランジスタＰＩ’ｔを流れ
る電流を制限する制限抵抗である。出力ＯＩは従って、
第４図に示すサイリスタＳ１が鍵全て、その非導通期間
に順又は逆電圧がかかるとＰＤｔから光信号が送られＰ
Ｔｓを導通させるので零となる。一方、ＳＬが故障して
おり、その非導通期間に順又は逆電圧がかからない場合
はＰＤｚからは光信号が出ないため、ＰＴｓは非導通状
態のままで出力ＯＩは＠１”（Ｖ、の電位）となる。
トガイドＬ Ｇ ＋から光信号が送られてくると導通状
態となる。ＲｏｌはフォトトランジスタＰＩ’ｔを流れ
る電流を制限する制限抵抗である。出力ＯＩは従って、
第４図に示すサイリスタＳ１が鍵全て、その非導通期間
に順又は逆電圧がかかるとＰＤｔから光信号が送られＰ
Ｔｓを導通させるので零となる。一方、ＳＬが故障して
おり、その非導通期間に順又は逆電圧がかからない場合
はＰＤｚからは光信号が出ないため、ＰＴｓは非導通状
態のままで出力ＯＩは＠１”（Ｖ、の電位）となる。
故障診断装置ＰＭは個々のすイリスタの非導通期間の状
態が１１”か＠０”かを自動的に点検する装置である。
態が１１”か＠０”かを自動的に点検する装置である。
この装置の動作原理を第６図を用いて説明する。
第６図において、（１）はサイリスタパルプ２１〜２６
のうちのある相のＡＫ間電圧波形、（２）はオンパルス
、（３）はその他の相のオンパルス、（４）、 （５）
はそれぞれ順、逆電圧検出信号、（６）は出力ＯＩの信
号、（７）はマイコンの割シ込み信号、（８）は１イコ
ンの動作状愈を示し、８は処理（故障診断）の、Ｔは侍
１ｍ（通常処理）の期間を示した図である。サイリスタ
はオンパルスにより導通状態となり、ＡＫ閣の１圧は零
となる。定常的にはオンパルスより電気角で１２０°遅
れ九ところで次の相のオンパルスが印加されるため、導
通していたサイリスタはある電な９期間の後、非導通と
なる。サイリスタが非導通となるとサイリスタのλに間
には逆電圧が現われ、その後、再び順電圧が印加され、
オフパルスよシミ気負で３６０°後に再びオンパルスが
印加され、非導通状態から導通状態となる。
のうちのある相のＡＫ間電圧波形、（２）はオンパルス
、（３）はその他の相のオンパルス、（４）、 （５）
はそれぞれ順、逆電圧検出信号、（６）は出力ＯＩの信
号、（７）はマイコンの割シ込み信号、（８）は１イコ
ンの動作状愈を示し、８は処理（故障診断）の、Ｔは侍
１ｍ（通常処理）の期間を示した図である。サイリスタ
はオンパルスにより導通状態となり、ＡＫ閣の１圧は零
となる。定常的にはオンパルスより電気角で１２０°遅
れ九ところで次の相のオンパルスが印加されるため、導
通していたサイリスタはある電な９期間の後、非導通と
なる。サイリスタが非導通となるとサイリスタのλに間
には逆電圧が現われ、その後、再び順電圧が印加され、
オフパルスよシミ気負で３６０°後に再びオンパルスが
印加され、非導通状態から導通状態となる。
サイリスタが錐全な場合にはこのような動作をくり返す
。サイリスタが故障したときには通常、常時短絡状態と
なるので、このサイリスタのＡＫ間には順電圧も逆電圧
も現われない。サイリスタパルプの非導通期間はこのサ
イリスタパルプより電気角で６０°、１２０°、及び１
８０’進んだ相進んだ他相のオンパルスＰｓ （自相
のオフパルス）により、マイコンに割ｐ込みをかけてこ
のサイリスタパルプを構成する個々のサイリスタの故障
診断を行う場合を示している。
。サイリスタが故障したときには通常、常時短絡状態と
なるので、このサイリスタのＡＫ間には順電圧も逆電圧
も現われない。サイリスタパルプの非導通期間はこのサ
イリスタパルプより電気角で６０°、１２０°、及び１
８０’進んだ相進んだ他相のオンパルスＰｓ （自相
のオフパルス）により、マイコンに割ｐ込みをかけてこ
のサイリスタパルプを構成する個々のサイリスタの故障
診断を行う場合を示している。
第７図に故障診断装置ＦＭの概略構成のブロック図を示
す。ＩＲＱは割込み信号、ＭＰＵはマイコンの中枢を構
成するマイクロプロセッサ、ＲＣＭは読み取りのみを行
う記憶回路で、故障診断装置ＦＭで行う処理の命令内容
はここに記憶されている。ＲＡＭは読み書き可能な記憶
回路で前述の第５図に示すサイリスタ個々の状態を一時
記憶し、かつ、演算結果の一時的な格納を行う。ＤＩは
サイリスタ個々の状態１．（第５゛図の０１に基づいた
信号）をと夛込む入力のインターフェース回路で、前述
のマイクロプロセッサＭＰＵから出力さし＆アドレス信
号（アドレスバスＡＢを介シて転送される）をデコーダ
ＤＥＣで解読し、適切な時点で入力インタ７工−ス回路
ＤＩの入力ゲートを開く。サイリスク個々の状Ｍ（デー
タ）はこれによりデータバスＤＢを通して前述の記憶回
路調にとり込まれる。ＤＯは出力のインタフェース回路
で入力インタフェース回路ＤＩにおける動作と同様に前
述のデコーダＤＥＣのもう１つの出力信号により出力イ
ンタフェース回路ＤＯの出力ゲートを開き、表示回路Ｄ
ＩＳにその出力信号の内容を表示する。
す。ＩＲＱは割込み信号、ＭＰＵはマイコンの中枢を構
成するマイクロプロセッサ、ＲＣＭは読み取りのみを行
う記憶回路で、故障診断装置ＦＭで行う処理の命令内容
はここに記憶されている。ＲＡＭは読み書き可能な記憶
回路で前述の第５図に示すサイリスタ個々の状態を一時
記憶し、かつ、演算結果の一時的な格納を行う。ＤＩは
サイリスタ個々の状態１．（第５゛図の０１に基づいた
信号）をと夛込む入力のインターフェース回路で、前述
のマイクロプロセッサＭＰＵから出力さし＆アドレス信
号（アドレスバスＡＢを介シて転送される）をデコーダ
ＤＥＣで解読し、適切な時点で入力インタ７工−ス回路
ＤＩの入力ゲートを開く。サイリスク個々の状Ｍ（デー
タ）はこれによりデータバスＤＢを通して前述の記憶回
路調にとり込まれる。ＤＯは出力のインタフェース回路
で入力インタフェース回路ＤＩにおける動作と同様に前
述のデコーダＤＥＣのもう１つの出力信号により出力イ
ンタフェース回路ＤＯの出力ゲートを開き、表示回路Ｄ
ＩＳにその出力信号の内容を表示する。
この故障診断装置ＦＭの計算処理のノブドウエアの流れ
を８１８図に示す。起動８ｏとともにマイコンは通常処
［１８１、例えば故障サイリスタの位置の表示及び個数
の表示等を行っている。他相のオンパルス即ち、自相の
オンパルスよシミ気負で６０°ま九は１２０°または１
８０°進んだパルスが、ここには王妃のパルス発生回路
から出力されると、これが割込み信号ＩＲＱとな９、マ
イコンは割込み処理８２〜８６に入る。このときは通常
の処理を一時待機させる。割込み処理では個々のサイリ
スタの状態工、のデータ読み込み８３を行い、その状態
が“１”（故障）か“０”（鍵全）かを点検記憶し、か
つ、故障であればその位置と時刻を表示８４する。この
割込み処理は、眩轟の相のサイリスタの全個数の点検が
終了したかどうかの判断８５を行い、終了し九ときは割
込み処理を終了８６とする。その後は４との通常処理８
１に戻って、次の割込み信号ＩＲＱが来るまで通常処１
１８１を繰シ返し行う。個々のサイ・リスタバルブのサ
イリスタの状態は一時記憶回路几ムＭに、例えば第９図
にアドレスＭ１のデータ（８ビツトから成る場合）含示
すように、モジュールＭｔＯサイリスタの各状態を各ビ
ットにｌ対ｌに対応させて記憶することができ、１つの
相のうちでサイリスタの状態が１１”（故障）となって
いる個数（図では一つ）及びその位置（４図ではＳＳ
）は簡単に知ることができる。また、故障数が冗長度を
超え九場合に警報を発することも簡単に行える。
を８１８図に示す。起動８ｏとともにマイコンは通常処
［１８１、例えば故障サイリスタの位置の表示及び個数
の表示等を行っている。他相のオンパルス即ち、自相の
オンパルスよシミ気負で６０°ま九は１２０°または１
８０°進んだパルスが、ここには王妃のパルス発生回路
から出力されると、これが割込み信号ＩＲＱとな９、マ
イコンは割込み処理８２〜８６に入る。このときは通常
の処理を一時待機させる。割込み処理では個々のサイリ
スタの状態工、のデータ読み込み８３を行い、その状態
が“１”（故障）か“０”（鍵全）かを点検記憶し、か
つ、故障であればその位置と時刻を表示８４する。この
割込み処理は、眩轟の相のサイリスタの全個数の点検が
終了したかどうかの判断８５を行い、終了し九ときは割
込み処理を終了８６とする。その後は４との通常処理８
１に戻って、次の割込み信号ＩＲＱが来るまで通常処１
１８１を繰シ返し行う。個々のサイ・リスタバルブのサ
イリスタの状態は一時記憶回路几ムＭに、例えば第９図
にアドレスＭ１のデータ（８ビツトから成る場合）含示
すように、モジュールＭｔＯサイリスタの各状態を各ビ
ットにｌ対ｌに対応させて記憶することができ、１つの
相のうちでサイリスタの状態が１１”（故障）となって
いる個数（図では一つ）及びその位置（４図ではＳＳ
）は簡単に知ることができる。また、故障数が冗長度を
超え九場合に警報を発することも簡単に行える。
これらの処理は上述した様に通常処理８１の中で行われ
る。
る。
この故障診断は高速に行う必要はなく、故障診断を確実
に行う上からは、何回かの故障診断を行い、連続してサ
イリスタの状態が１１＃（故障）となったとき初めて、
このサイリスタを故障と判断するようにするのが良い。
に行う上からは、何回かの故障診断を行い、連続してサ
イリスタの状態が１１＃（故障）となったとき初めて、
このサイリスタを故障と判断するようにするのが良い。
この操作はマイコンのソフトウェアにより簡単に行える
。
。
を九、第９図に示し九データではサイリスタ１個の状態
を１ビツトに分りふって格納したが、記憶容量に制限が
ないものでは、ｌワードに１サイリスタを対応させるこ
とも可能であるとし、記憶容量に制限がある場合には、
故障のサイリスタの位置、時間のみを記憶するようなデ
ータ処理の方法をとることもでき、これらはマイコンの
ソフトウェア操作によシ簡単に行えるのでここでは詳細
の説明は行わない。
を１ビツトに分りふって格納したが、記憶容量に制限が
ないものでは、ｌワードに１サイリスタを対応させるこ
とも可能であるとし、記憶容量に制限がある場合には、
故障のサイリスタの位置、時間のみを記憶するようなデ
ータ処理の方法をとることもでき、これらはマイコンの
ソフトウェア操作によシ簡単に行えるのでここでは詳細
の説明は行わない。
ま九、サイリスタパルプが転流失敗を生じたりすると転
流失敗を生じたサイリスタパルプの個々のサイリスタの
状態は′ｍ１＃となるので、このときは転流失敗の検出
、例えばリレー等の信号により、この故障診断装置を四
ツクすると更に確実な動作が期待できる。
流失敗を生じたサイリスタパルプの個々のサイリスタの
状態は′ｍ１＃となるので、このときは転流失敗の検出
、例えばリレー等の信号により、この故障診断装置を四
ツクすると更に確実な動作が期待できる。
さらに、上述の実施例では割９込み指令によりサイリス
タパルプの個々のサイリスタの故障診断を行い、終了し
九時点で待機状態となる場合について説明し九が、診断
の信頼性を高める上では、繰９返し診断を行うのが喪く
、この操作もマイコンのソフトウェアで簡単に対応でき
る。尚、この場合、故障診断をくり返し行う期間は故障
診断を行っているサイリスタバルブの非導通期間とし、
サイリスタバルブのオンパルスが印加される時点では故
障診断を打ち切る必要があることは言うまでもない。
タパルプの個々のサイリスタの故障診断を行い、終了し
九時点で待機状態となる場合について説明し九が、診断
の信頼性を高める上では、繰９返し診断を行うのが喪く
、この操作もマイコンのソフトウェアで簡単に対応でき
る。尚、この場合、故障診断をくり返し行う期間は故障
診断を行っているサイリスタバルブの非導通期間とし、
サイリスタバルブのオンパルスが印加される時点では故
障診断を打ち切る必要があることは言うまでもない。
また、上述の実施例では故障診断を電気角で３６０°
（１サイクル）に１回行う場合について説明し九が、数
サイクルに１回行うようにしても同様の効果が得られる
ことは明らかである。
（１サイクル）に１回行う場合について説明し九が、数
サイクルに１回行うようにしても同様の効果が得られる
ことは明らかである。
以上のように本発明によれば、使用サイリスタの数にか
かわらず、サイリスタの故障カ所や故障数を確実に知る
ことができ、かつ自動で行うことができる。
かわらず、サイリスタの故障カ所や故障数を確実に知る
ことができ、かつ自動で行うことができる。
第１図は交直変換装置の構成図、第２図はサイリスタパ
ルプの故障構出方法の従来例、第３図は本発明によるサ
イリスタバルブの故障診断装置、纂４図は＃Ｉ３図のλ
に閾電圧検出回路の一実施例、Ｉｓ５図は光・電変換回
路の一実施例、第６図は故障診断装置の動作原理図、第
７図は故障診断装置の概略ブロック図、第８図は故障診
断装置のソフトウェアの流れ図、第９図は故障診断装置
のデータ例でるる。 １・・・変換用変圧器、２・・・交直変換器、３・・・
ＩＩ流クリアクトル４．４’・・・直流母線、２１〜２
６・・・す範１０ 駅３目 躬４０ 躬５呂 第６図 （す （５〕
゛（６） 躬８０ 第９図
ルプの故障構出方法の従来例、第３図は本発明によるサ
イリスタバルブの故障診断装置、纂４図は＃Ｉ３図のλ
に閾電圧検出回路の一実施例、Ｉｓ５図は光・電変換回
路の一実施例、第６図は故障診断装置の動作原理図、第
７図は故障診断装置の概略ブロック図、第８図は故障診
断装置のソフトウェアの流れ図、第９図は故障診断装置
のデータ例でるる。 １・・・変換用変圧器、２・・・交直変換器、３・・・
ＩＩ流クリアクトル４．４’・・・直流母線、２１〜２
６・・・す範１０ 駅３目 躬４０ 躬５呂 第６図 （す （５〕
゛（６） 躬８０ 第９図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、サイリスタを複数個直列接続して構成るサイリスタ
モジュールを多数直列接続して構成したサイリスタパル
プのサイリスタの故障を検出するものにおいて、上記各
サイリスタのアノード・カンート°関の順電圧及び逆電
圧の有無の少なくとも一方を検出する回路を設け、上記
サイリスタパルプの非導通期間に、上記順電圧又は逆電
圧の無い状態が検出され九サイリスタを故障と判断する
サイリスタパルプの故障診断装置。 ２、特許請求の範囲第１項において、前記非導通期間に
、前記順電圧又は逆電圧が無い状態が連続して検出され
九サイリスタを故障と判断するサイリスタパルプの故障
診断装置。 ３、特１ｆｆ−請求の範囲第１項又は第２項において、
他相のサイリスタパルプに与えるオンパルスの発生によ
り、自相のサイリスタパルプが前記非導通期間にあると
判断するサイリスタパルプの故障診断装置。 ４、’ｌ’ｉｔ’Ｐ１１求の範囲第３項において、前記
他相のオンパルスとして、自相のオンパルスより電気角
で６０” 、１２Ｇ＠及び１８００進んだ他相のオンパ
ルスのうちの少なくとも一つを用いることを特徴とする
サイリスタパルプの故障診断装置。 ５、特許請求の範囲第３項又は第４項において、前記他
相のオンパルスの発生毎に、前記順電圧又は（及び）逆
電圧の有無の信号を入力し、前記各サイリスタの錐全、
故障の表示を行うことを特徴とするサイリスタパルプの
故障診断装置。 ６．４１ｆｆｉｆ１１求の範囲第５項において、前記各
サイリスタの故障表示は、故障数と故障サイリスタの位
置の表示であることを特徴とするサイリスタパルプの故
障診断装置。 ７、特許請求の範囲第６項において、前記各サイリスタ
の故障数が所定数以上となり九場合に、警報を発するこ
とを特徴とするサイリスタパルプの故障診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1754882A JPS58136263A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | サイリスタバルブの故障診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1754882A JPS58136263A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | サイリスタバルブの故障診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58136263A true JPS58136263A (ja) | 1983-08-13 |
| JPH0531380B2 JPH0531380B2 (ja) | 1993-05-12 |
Family
ID=11946962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1754882A Granted JPS58136263A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | サイリスタバルブの故障診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58136263A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0421353A (ja) * | 1990-05-14 | 1992-01-24 | Toshiba Corp | サイリスタバルブの保護装置 |
| JP2006271084A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | サイリスタの故障検出装置 |
| JP2008011608A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Hitachi Ltd | 半導体電力変換装置，スイッチング装置，半導体電力変換方法及びスイッチング方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5381557U (ja) * | 1976-12-09 | 1978-07-06 |
-
1982
- 1982-02-08 JP JP1754882A patent/JPS58136263A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5381557U (ja) * | 1976-12-09 | 1978-07-06 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0421353A (ja) * | 1990-05-14 | 1992-01-24 | Toshiba Corp | サイリスタバルブの保護装置 |
| JP2006271084A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | サイリスタの故障検出装置 |
| JP2008011608A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Hitachi Ltd | 半導体電力変換装置，スイッチング装置，半導体電力変換方法及びスイッチング方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0531380B2 (ja) | 1993-05-12 |
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