JPS581363B2 - 測量器械用基盤 - Google Patents

測量器械用基盤

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JPS581363B2
JPS581363B2 JP53065187A JP6518778A JPS581363B2 JP S581363 B2 JPS581363 B2 JP S581363B2 JP 53065187 A JP53065187 A JP 53065187A JP 6518778 A JP6518778 A JP 6518778A JP S581363 B2 JPS581363 B2 JP S581363B2
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JP
Japan
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surveying instrument
optical element
telescope
reflective optical
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JP53065187A
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JPS54156664A (en
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岩井秀夫
岩舟恵男
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Tokyo Optical Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Optical Co Ltd
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Publication date
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Priority to US06/043,039 priority patent/US4277171A/en
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Publication of JPS581363B2 publication Critical patent/JPS581363B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D11/00Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D11/30Supports specially adapted for an instrument; Supports specially adapted for a set of instruments
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G01B11/27Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00

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  • Telescopes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、測量用の求少望遠鏡付基盤に関する。
トランシットや光波距離計を用いて測量を行なう場合に
、視準ずべきターゲットや反射鏡を地上のマーク点の鉛
直上方に固定する必要があり、この目的のために測量器
械用基盤が用いられる。
この基盤は、ターゲット、反射鏡及びトランシット等の
測量器械を、正確に位置決めして取付け得るようになっ
ており、ターゲット、反射鏡及び他の器械に、鉛直下方
を視準するための求心望遠鏡が設けられている場合には
、この求心望遠鏡により視準を行なって、基盤の所定点
を地上のマーク点の鉛直上方に位置決めすることができ
る。
しかし、ターゲットや反射鏡には求心望遠鏡のついてい
ないものがあるため、基盤自体に求心望遠鏡を備え、こ
れによって鉛直下方の視準を行なうようにする必要があ
る。
求心望遠鏡は接眼部に設けた指標の位置を調節すること
によりその視準軸を正確に合わせるようになっているが
、調節後も経時変化や取扱い時に接眼部が他の物体に当
ることなどの理由により、視準軸に狂いが生じることが
ある。
したがって、求心望遠鏡の視準軸の点検を野外でも行な
う必要がある。
従来は、基盤の基準面を水平に保接し、該基盤から吊下
げた錘の先端位置を地面にマークして、このマークを求
心望遠鏡により視準して、接眼部の指標線がそのマーク
に合致しているかどうかを確かめ、合致していないとき
は再調整を行なうという方法がとられていた。
しかし、野外では、僅かな風がある場合でも重錘は静止
せず、地上にマークするのに長時間を要し、かつマーク
位置にも誤差を生じ易く、2ないし3mm程度の誤差は
避けられない。
本発明は、このような点に着目して得られたもので、そ
の目的は、トランシット、光波距離計等のような基盤上
部に取付けられる器械本体に設けた求心望遠鏡により、
基盤上の求心望遠鏡の視準軸の点検を行ない得るように
することにある。
すなわち、本発明は、測量器械本体を定められた位置関
係で着脱自在に取付け得るようにした測量器械用の基盤
において、鉛直下方視準のための求心望遠鏡の視準線を
ほぼ直角下向きに屈折させる反射光学素子を前記基盤の
中心に位置するように配置し、前記基盤には中心に上下
に貫通する穴を形成するとともに、前記基盤の上方をら
前記穴を通して基盤中心の鉛直下方を見通すことが可能
なように、前記反射光学素子を構成配置したことを特徴
とする。
すなわち、反射光学素子は半透性のものとするが、或い
は該反射光学素子が基盤中心より片側にのみ位置するよ
うに構成すればよい。
本発明によれば、基盤に求心望遠鏡を有する測量器械本
体を取付け、この測量器械本体の求心望遠鏡により基盤
の穴を通して鉛直下方の点をマークし、次に基盤の求心
望遠鏡によりこの地上のマーク点を視準して、その指標
線とマーク点との一致を確認することにより、基盤の求
心望遠鏡の視準線の点検を行なうことができる。
測量器械本体は鉛直軸のまわりに、すなわち水平面内で
旋回可能であるから、測量器械本体側の求心望遠鏡の視
準線の精度は、該本体を90°づつ旋回させた位置で、
下方の視準を行なうことにより容易に点検できる。
このようにして、基盤、上の求心望遠鏡の視準線の点検
および必要に応じて調節を行なった後は、該基盤を所望
位置に移動し、その求心望遠鏡を使用して位置決めを行
ない、ターゲット又は反射鏡と組合わせるか、トランシ
ット又は光波距離計などの測量器械と組合わせて使用す
る。
以下、本発明の実施例を図について説明すると、第1図
及び第2図は、本発明の一実施例による測量用基盤の一
例を示すもので、この基盤は三脚の合板に取付けるため
の雌ねじ穴1aを有する下板1と、該下板1上に載置さ
れる上板2とを有し、上板2は3個の整準ねじ3により
下板1上に支持されて、整準ねじ3を調節することによ
り水平状態にすることができる。
上板2の中心部には、下板の雌ねじ穴1aに重なる穴2
aが形成され、該穴2aに透明ガラス4が取付けられて
いる。
第2図に示すように、上板2は、トランシット等の測量
器械又はターゲット、反射鏡等を正確に位置決めして取
付けるための円筒形凹部5を有し、この凹部5内には水
平基準面を形成するための3個の台部6が形成されてい
る。
上板2には、円筒形凹部5の中心に対し鉛直下方の点を
視準するために、求心望遠鏡7が取付けられている。
求心望遠鏡7は、上板2に固定される外筒8と該外筒8
内を摺動ずる内筒9とを有し、外筒8の先端には直角ダ
ハプリズム10が取付けられている。
直角ダハプリズム10は、稜線10aにおいて直角に交
差する二つの反射面10bを有し、稜線10aは外筒8
の軸線に対し45°の角度で配置されている。
したがって、1板1のねじ穴1aを通り上方に進む光束
は、プリズム10の反射面10bにより左右反転される
と同時に外筒8の軸方向に反射される。
内筒9の先端には、対物レンズ11が取付けられている
外筒8の他端付近には、十字線等の指標を有する透明指
標板12が、4本の十字形に配置された調節ねじ13に
より上下及び左右方向位置調節自在に取付けられる。
すなわち、指標板12は、支持筒14に固定されており
、各調節ねじ13の端部がこの支持筒14にねじ係合し
ており、ねじ13を適宜回転させることにより、指標板
12の位置調節を行なうことが可能である。
また、外筒8の指標板側端部には、接眼レンズ15の鏡
筒16がねじ係合しており、該鏡筒16の回転により、
ピントの微調整を行なうことができる。
外筒8には長さ方向にスロット8aが形成され、このス
ロツ}8aには、一端を内筒9に固定したビン17が挿
入される。
ピン17の他端は、外筒8の外側に取付けられた調節筒
18のカムスロット18aに係合しており、調節筒18
の回転により内筒9を軸方向に動かしてピントの粗調整
を行なうことができる。
調節筒18には、調節ねじ13の端部を囲む形状のフラ
ンジ19が形成され、このフランジ19にカバー20が
嵌められている。
したがって、指標板12の位置調節は、カバー20を取
外して、調節ねじ13を回転させることにより行なう。
上板2あ上方から中心穴2aを通して拓直下方の視準を
可能にするため、プリズム10は上板2の中心を通り外
筒8の軸に直角な鉛直面において先端が切り落された形
状を有する。
このような形状のプリズムの代りに、半透鏡を用いても
同様な効巣が得られる。
第4図は基盤を三脚上に固定し、その上にトランシット
を取付けた状態を示す。
三脚の台板21はその中心に中空のねじ軸22を有し、
このねじ軸22を基盤の下板1のねじ穴1aにねじ込む
ことにより、基盤を三脚上に固定することができる。
トランシット23は、その下端の円筒形部を基盤の上板
2の凹部5に嵌合させることにより、基盤上に位置決め
して固定することができる。
通常はトランシット23上の水準器(図示せず)を用い
て、基盤の基準面6を水平に調節する。
トランシソト23には、公知の構造の求心望遠鏡24が
設けられており、基盤の上板2に設けた求心望遠鏡は、
プリズム10の先端が切り落されているので、該上板2
の穴2a及び下板1のねじ穴1aを通して、トランシッ
ト23の求心望遠鏡24により鉛直下方を視準すること
ができる。
トランシット23の本体は水平面内で回転自在であり、
90°づつ異った4方向から鉛直下方を視準することに
より、真の鉛直下方点を知ることができる。
このようにして得られた鉛直下方点を、基盤の上板2に
設けた求心望遠鏡により視準し、指標板12上の指標の
位置が、この視準点から外れている場合には、カバー2
0を外してねじ13を調節する。
求心望遠鏡7をこのように点検し、必要に応じて調節し
た後は、基盤を所望の位置に動かして、ターゲット、反
射鏡、トランシット、光波距離計などの器械と組合わせ
て所望の測量を行なう。
以上述べたように、本発明においては、求心望遠鏡を有
する基板の中心に、該基盤を上下に貫通する穴を形成し
、求応量蓮鏡は基盤の上方から前記穴を通して下方を見
通し得るように、反射光学素子を基盤中心から片側のみ
に位置するように設けるか又は半透性としたので、該求
心望遠鏡を、基盤に取付ける測量器械の求心望遠鏡によ
り容易に点検することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す測量用位置決め基盤の
平面図、第2図はその■−■線断面図、第3図は求心望
遠鏡のフリズムの斜視図、第4図は基盤を三脚及びトラ
ンシットと組合わせて示す断面図である。 1・・・・・・下板、2・・・・・・上板、7・・・・
・・求心望遠鏡、10・・・・・・直角ダハプリズム、
23・・・・・トランシフト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 測量器械本体を定められた位置関係で着脱自在に取
    付け得るようにした測量器械用の基盤において、前記基
    盤中央部を上下に光学的に貫通する貫通部を形成し、鉛
    直下方の視準のための求心望遠鏡の視準線をほぼ直角下
    向きに屈折させる反射光学素子を前記貫通部に配置して
    、前記基盤の上方から前記貫通部を通して基盤中央部の
    鉛直下方を見通すことが可能なように、前記反射光学素
    子を配置することを特徴とする測量器械用基盤。 2 前記第1項において、反射光学素子は基盤中心より
    片側にのみ位置するように先端を切り落された形状を有
    する測量器械用基盤。 3 前記第1項において、反射光学素子は半透性である
    測量器械用基盤。
JP53065187A 1978-05-31 1978-05-31 測量器械用基盤 Expired JPS581363B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53065187A JPS581363B2 (ja) 1978-05-31 1978-05-31 測量器械用基盤
US06/043,039 US4277171A (en) 1978-05-31 1979-05-29 Base board device for measuring instruments

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53065187A JPS581363B2 (ja) 1978-05-31 1978-05-31 測量器械用基盤

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS54156664A JPS54156664A (en) 1979-12-10
JPS581363B2 true JPS581363B2 (ja) 1983-01-11

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ID=13279657

Family Applications (1)

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JP53065187A Expired JPS581363B2 (ja) 1978-05-31 1978-05-31 測量器械用基盤

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US (1) US4277171A (ja)
JP (1) JPS581363B2 (ja)

Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61235616A (ja) * 1985-04-09 1986-10-20 Hiroshima Gas Kk 無炎燃焼赤外線ガス暖房器用燃焼板

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US4277171A (en) 1981-07-07
JPS54156664A (en) 1979-12-10

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