JPS5814034A - 熱間ｘ線透過解析方法および装置 - Google Patents
熱間ｘ線透過解析方法および装置Info
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- JPS5814034A JPS5814034A JP56111638A JP11163881A JPS5814034A JP S5814034 A JPS5814034 A JP S5814034A JP 56111638 A JP56111638 A JP 56111638A JP 11163881 A JP11163881 A JP 11163881A JP S5814034 A JPS5814034 A JP S5814034A
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- rays
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は加熱した試料面とほぼ直角方向からＸ線を照射
し、透過Ｘ線像を得て、内部の状態を解析する熱間Ｘ線
透過解析方法およびその装置に関するものである。
し、透過Ｘ線像を得て、内部の状態を解析する熱間Ｘ線
透過解析方法およびその装置に関するものである。
近年、省エネルギー、省資源に関連して、鉄鋼分野では
各種の技術開発が行なわれている。その中で、製銑関係
（高炉関連部門）がエネルギー、資源などを多量に消費
しており、高炉操業上重要々原料であるペレット、コー
クス、スラグ、焼結鉱および耐火レンガ、セラミックス
などの高品質化の必要性が高く、より一層の技術開発が
要求されている。
各種の技術開発が行なわれている。その中で、製銑関係
（高炉関連部門）がエネルギー、資源などを多量に消費
しており、高炉操業上重要々原料であるペレット、コー
クス、スラグ、焼結鉱および耐火レンガ、セラミックス
などの高品質化の必要性が高く、より一層の技術開発が
要求されている。
最近、高炉解体などにより、その内部状態が解明されて
きているが、依然、操業中の内部は不明であり、とくに
、ペレット、コークス、スラグ、焼結鉱、各種耐火物は
どのような性状のものが最もよいか、その基礎的な研究
はまだ十分ではない。
きているが、依然、操業中の内部は不明であり、とくに
、ペレット、コークス、スラグ、焼結鉱、各種耐火物は
どのような性状のものが最もよいか、その基礎的な研究
はまだ十分ではない。
現在、その研究が一部行なわれているが、加熱中の物質
内部の状態を逐次解析する手法がなく、加熱前後の外観
の変化および切断して内部を観察するだけであった。本
発明は以上の点を考え、おモニ、ペレット、コークス、
スラグ、焼結鉱、各種耐火物など加熱状態にある試料内
部を非接触、非破壊で測定することを目的としたもので
ある。
内部の状態を逐次解析する手法がなく、加熱前後の外観
の変化および切断して内部を観察するだけであった。本
発明は以上の点を考え、おモニ、ペレット、コークス、
スラグ、焼結鉱、各種耐火物など加熱状態にある試料内
部を非接触、非破壊で測定することを目的としたもので
ある。
前述したよう力各種原材料の中でとくに、ペレットおよ
びコークスは高炉操業の状態を左右する重要なものであ
り、さらに、詳しく説明する。酸化鉄およびスラグを球
状に成型し、還元して鉄分を多くするためのペレットは
還元時のふくれ率と還元率によってその性状を決めてお
り、ふくれ率が太きければ還元率は高いが強度が低く、
装入後粉化し易く、閉塞の原因になり、逆に、ふくれ率
が小さければペレット内部へのガス流通が悪く、還元率
が低下する。良好なペレットはふくれ率は１６％以下、
還元率は８０ｑ／Ｄ以上といわれている。
びコークスは高炉操業の状態を左右する重要なものであ
り、さらに、詳しく説明する。酸化鉄およびスラグを球
状に成型し、還元して鉄分を多くするためのペレットは
還元時のふくれ率と還元率によってその性状を決めてお
り、ふくれ率が太きければ還元率は高いが強度が低く、
装入後粉化し易く、閉塞の原因になり、逆に、ふくれ率
が小さければペレット内部へのガス流通が悪く、還元率
が低下する。良好なペレットはふくれ率は１６％以下、
還元率は８０ｑ／Ｄ以上といわれている。
石炭の乾留によって製造されるコークスは強度が高く、
適正な気孔状態で亀裂の少ない、熱間性状のよいものが
要求されており、とくに、乾留過程が重要となっている
。以上、ペレットとコークスを例として述べたが、それ
ぞれの性状を調査する場合には熱間での連続的変化を逐
次測定することが必要である。現在の方法はつぎの点で
問題があった。
適正な気孔状態で亀裂の少ない、熱間性状のよいものが
要求されており、とくに、乾留過程が重要となっている
。以上、ペレットとコークスを例として述べたが、それ
ぞれの性状を調査する場合には熱間での連続的変化を逐
次測定することが必要である。現在の方法はつぎの点で
問題があった。
（１） −’！レットは昇温・還元試験法により、各
種の鉄鉱石、スラグとそれらの配合を変えて還元ガス（
ＣＯ＋Ｎ２）雰囲気で室温から１２００℃付近まで加熱
したのち、ふくれ率や還元率を測定し、その後室温まで
冷却してから表面は目視、内部は切断して、それぞれ観
察を行なっている。したがって、加熱中の内部状況を測
定することが１ｉ要であるが、加熱前後の変化しか観察
できないのが現状である。
種の鉄鉱石、スラグとそれらの配合を変えて還元ガス（
ＣＯ＋Ｎ２）雰囲気で室温から１２００℃付近まで加熱
したのち、ふくれ率や還元率を測定し、その後室温まで
冷却してから表面は目視、内部は切断して、それぞれ観
察を行なっている。したがって、加熱中の内部状況を測
定することが１ｉ要であるが、加熱前後の変化しか観察
できないのが現状である。
（２） コークスは石炭の乾留を経てコークス化（４
００〜１２００℃）するときに発生する気孔、亀裂、ガ
ス流通経路などを測定するのが目的であるが、現状は４
００℃位の温度までしか観察できない。々ぜならば、反
応器にそれぞれ各種の石炭を詰めて加熱し、外部から石
英板を通して、目視観察を行なっているが、４００℃付
近で石炭中の揮発成分であるガス、タールが発生し、ガ
ラス板にそれらが付着し、観察不可能になる。したがっ
て、反応後コークス化したものについて、その状態を調
査するだけである。
００〜１２００℃）するときに発生する気孔、亀裂、ガ
ス流通経路などを測定するのが目的であるが、現状は４
００℃位の温度までしか観察できない。々ぜならば、反
応器にそれぞれ各種の石炭を詰めて加熱し、外部から石
英板を通して、目視観察を行なっているが、４００℃付
近で石炭中の揮発成分であるガス、タールが発生し、ガ
ラス板にそれらが付着し、観察不可能になる。したがっ
て、反応後コークス化したものについて、その状態を調
査するだけである。
以上、述べたようにペレット、コークスとも解析上重要
な加熱過程の状況を測定することが出来なかった。
な加熱過程の状況を測定することが出来なかった。
本発明は以上の点を考慮し、軟ｘｙを照射源として非接
触、非破壊で熱間のペレット、コークスなどを逐次Ｘ線
像として得て表面および内部の状態を解析することを目
的とする方法および装置である。ここで、軟Ｘ線につい
て説明する。一般に、Ｘ線は軟Ｘ線と硬Ｘ ｌｆＭがあ
り、前者は波長の長い（０，１〜２．５１ ）もの、後
者は波長の短かい（０，０５〜０．１１ ）ものと区別
されている。
触、非破壊で熱間のペレット、コークスなどを逐次Ｘ線
像として得て表面および内部の状態を解析することを目
的とする方法および装置である。ここで、軟Ｘ線につい
て説明する。一般に、Ｘ線は軟Ｘ線と硬Ｘ ｌｆＭがあ
り、前者は波長の長い（０，１〜２．５１ ）もの、後
者は波長の短かい（０，０５〜０．１１ ）ものと区別
されている。
硬Ｘ線は物質透過能力は高いが、５０〜５００μｍの微
細なものを識別することはできない。一方、軟Ｘ線は硬
Ｘ線に比較して透過能力は劣るが物質吸収度合が大きい
性質を利用し、僅かの密度差がある物質や微細構造を検
出することができるのが特徴でおる。
細なものを識別することはできない。一方、軟Ｘ線は硬
Ｘ線に比較して透過能力は劣るが物質吸収度合が大きい
性質を利用し、僅かの密度差がある物質や微細構造を検
出することができるのが特徴でおる。
以上、熱間でのペレットおよびコークスの反応状態測定
の必要性と軟Ｘ線透過法について述べたが、つぎに、本
発明を第１図の実施例装置にもとづいて詳細に説明する
。
の必要性と軟Ｘ線透過法について述べたが、つぎに、本
発明を第１図の実施例装置にもとづいて詳細に説明する
。
管球１は管球窓に膜厚５ＱＱｐｍ以下のベリリウム（Ｂ
ｅ）膜をもち、その膜厚に応じて各波長の軟Ｘ線を取り
出すことができるようになっている。
ｅ）膜をもち、その膜厚に応じて各波長の軟Ｘ線を取り
出すことができるようになっている。
（５）
管電圧は０〜１２５ ｋＶＰ （常用４０〜１００ｋＶ
Ｐ）、管電流はθ〜１０ ｍＡ （常用３〜５ ｍＡ
）のそれぞれ仕様をもったものが適当である。広い面積
（例えば５００Ｘ５００Ｘ５０各ｗＩ＋）を測定する場
合には複数の管球を固定して用いるか、１個の管球を走
査させることも出来る。
Ｐ）、管電流はθ〜１０ ｍＡ （常用３〜５ ｍＡ
）のそれぞれ仕様をもったものが適当である。広い面積
（例えば５００Ｘ５００Ｘ５０各ｗＩ＋）を測定する場
合には複数の管球を固定して用いるか、１個の管球を走
査させることも出来る。
フィルム２はＸ線照射方向と直角で反応器４の透過側側
面に出来るだけ密着して用いる。このフィルムには散乱
Ｘ線によって像が不鮮明になることもあるので、鉛箔増
感紙を使用した方がよい。
面に出来るだけ密着して用いる。このフィルムには散乱
Ｘ線によって像が不鮮明になることもあるので、鉛箔増
感紙を使用した方がよい。
これはフィルムを真中にして両側に密着させて用いる。
反応の推移を逐次写真に取る場合にはその都度、手操作
でフィルムを挿入することも出来るが、非常に繁雑なの
で、ロールフィルム式や５〜１０枚を単位とするカセッ
ト式を用いて自動送りする方式が適当である。フィルム
の種類はとくべ限定するものではないが、測定対象物に
応じて使い分けてもよく、例えば工業用フィルム（す１
００）々とがある。
でフィルムを挿入することも出来るが、非常に繁雑なの
で、ロールフィルム式や５〜１０枚を単位とするカセッ
ト式を用いて自動送りする方式が適当である。フィルム
の種類はとくべ限定するものではないが、測定対象物に
応じて使い分けてもよく、例えば工業用フィルム（す１
００）々とがある。
Ｘ線カメラ３は直接法と間接法があり、前者は（６）
Ｘ線をビジコンチューブで検出後電流変換する手法、後
者は螢光板にできたＸ線像をカメラで撮影する手法で、
それぞれモニターテレビに映し出すことができる。前者
の方が変換効率がよいので、分解能が良好である。
者は螢光板にできたＸ線像をカメラで撮影する手法で、
それぞれモニターテレビに映し出すことができる。前者
の方が変換効率がよいので、分解能が良好である。
いずれもＸ線検出部は限定するものではなく、目的とす
るものが迅速に鮮明な像が得られればよい。形状は６．
９．１２インチなど各種あり、測定物の大きさに応じて
用いればよい。
るものが迅速に鮮明な像が得られればよい。形状は６．
９．１２インチなど各種あり、測定物の大きさに応じて
用いればよい。
このカメラを用いるときはフィルム２は使用できないが
、モニターテレビで観察しながら必要々時にフィルムを
挿入し、撮影を行なうことも出来る。広い面積の物質を
高分解能で測定する場合に、管球１と同じようにカメラ
を複数個もうける固定方式か、１個で走査方式にし、そ
れぞれ管球と同期させて用いることもできる。
、モニターテレビで観察しながら必要々時にフィルムを
挿入し、撮影を行なうことも出来る。広い面積の物質を
高分解能で測定する場合に、管球１と同じようにカメラ
を複数個もうける固定方式か、１個で走査方式にし、そ
れぞれ管球と同期させて用いることもできる。
反応器４は管球１とＸ線カメラ３を結ぶ軸上の適当な位
置に設置する。本発明は加熱（室温〜１２００℃位）し
ながらフィルム撮影を行ない、Ｘ線カメラでも観察でき
ることが特徴とする所であるが、冷却が重要な点であり
、つぎのような方式にした。すなわち、第１図に示した
ように反応器は管球１とＸ線カメラ３を結ぶ軸と直角と
なる側面は二重構造とし、内側は試料と接し、外側は水
冷却やガス冷却を行なうことができるようになっている
。この二重構造を採用するにあたって、Ｘ線像が不鮮明
に々ら々いよすな材質であり、間隔にすることが重要で
ある。冷却は取扱い上の点でガス冷却方式が好適である
。加熱方式は抵抗体を使った通電加熱、高周波加熱など
が考えられるが、抵抗体の交換などや作業性の点で高周
波加熱の方が好適である。
置に設置する。本発明は加熱（室温〜１２００℃位）し
ながらフィルム撮影を行ない、Ｘ線カメラでも観察でき
ることが特徴とする所であるが、冷却が重要な点であり
、つぎのような方式にした。すなわち、第１図に示した
ように反応器は管球１とＸ線カメラ３を結ぶ軸と直角と
なる側面は二重構造とし、内側は試料と接し、外側は水
冷却やガス冷却を行なうことができるようになっている
。この二重構造を採用するにあたって、Ｘ線像が不鮮明
に々ら々いよすな材質であり、間隔にすることが重要で
ある。冷却は取扱い上の点でガス冷却方式が好適である
。加熱方式は抵抗体を使った通電加熱、高周波加熱など
が考えられるが、抵抗体の交換などや作業性の点で高周
波加熱の方が好適である。
加熱は管球１とＸ線カメラ３を結ぶ軸と平行の反応器両
面付近に高周波コイルを設置し、両側から面加熱を行な
う。したがって、反応器の材質は抵抗体として使用でき
、しかもＸ線が透過し、Ｘ線像として測定物質に影響が
ないものであればよいが、一般にはこのような材質は少
ないので抵抗体とＸｆｆ１ｊを透過させる材質とはそれ
ぞれ別の材質を用いる方がよいが、とくに限定するもの
ではない。形状は立方体、円筒形など、とくに限定する
ものではないが、製作の容易さ、フィルム撮影彦どを考
慮すると立方体（例えば５０Ｘ５０Ｘ２００各日）が良
好である。この反応器は各種の材質や他の形状のものと
適宜に交換できるようになっている。反応器内の温度を
常時測定できるように熱電対の設置も可能である。
面付近に高周波コイルを設置し、両側から面加熱を行な
う。したがって、反応器の材質は抵抗体として使用でき
、しかもＸ線が透過し、Ｘ線像として測定物質に影響が
ないものであればよいが、一般にはこのような材質は少
ないので抵抗体とＸｆｆ１ｊを透過させる材質とはそれ
ぞれ別の材質を用いる方がよいが、とくに限定するもの
ではない。形状は立方体、円筒形など、とくに限定する
ものではないが、製作の容易さ、フィルム撮影彦どを考
慮すると立方体（例えば５０Ｘ５０Ｘ２００各日）が良
好である。この反応器は各種の材質や他の形状のものと
適宜に交換できるようになっている。反応器内の温度を
常時測定できるように熱電対の設置も可能である。
高周波コイル５は管球とＸ線カメラを結ぶ軸上にある反
応器の軸と平行する両面をそれぞれ加熱できるように偏
平状のコイルを用いており、加熱する面は十分抵抗体と
して１２００℃付近まで耐えるような物質であることが
必要である。高周波の周波数と出力はとくに規定するも
のではなく、室温から徐々に、ある昇温速度で１２００
℃付近まで加熱できる能力をそなえていればよく、例え
ば周波数が４００ｋＨｚ、出力が５ ｋＷのものなどが
ある。
応器の軸と平行する両面をそれぞれ加熱できるように偏
平状のコイルを用いており、加熱する面は十分抵抗体と
して１２００℃付近まで耐えるような物質であることが
必要である。高周波の周波数と出力はとくに規定するも
のではなく、室温から徐々に、ある昇温速度で１２００
℃付近まで加熱できる能力をそなえていればよく、例え
ば周波数が４００ｋＨｚ、出力が５ ｋＷのものなどが
ある。
排出管６は反応器４内から発生するガス、冷却用ガスな
どを外部に排出させるための排出管で、装置本体の外部
側はＸ線漏洩等を考慮して２〜３箇所をまげである。
どを外部に排出させるための排出管で、装置本体の外部
側はＸ線漏洩等を考慮して２〜３箇所をまげである。
（９）
ガス導入管７は反応器４内を不活性ガス、反応ガスなど
の雰囲気にするためのガス供給用管でこれらのガスは反
応器内で発生したガスを早く、排出管６を通して、外部
に排出させる役目がある。
の雰囲気にするためのガス供給用管でこれらのガスは反
応器内で発生したガスを早く、排出管６を通して、外部
に排出させる役目がある。
この管の装置本体外部に出ている部分はＸ線漏洩の可能
性もあるので排出管６と同様に２〜３箇所１げである。
性もあるので排出管６と同様に２〜３箇所１げである。
雰囲気ガス導入管８は反応器４内からガス漏れがあった
場合に、管球、カメラなどを損傷させる恐れもあるので
、ガスを迅速に外部に排出する必要があるため、不活性
ガスなどを導入する管である。壕だ、反応器から発生す
る熱のため装置内の温度が上昇しないように冷却効果も
兼ねている。
場合に、管球、カメラなどを損傷させる恐れもあるので
、ガスを迅速に外部に排出する必要があるため、不活性
ガスなどを導入する管である。壕だ、反応器から発生す
る熱のため装置内の温度が上昇しないように冷却効果も
兼ねている。
遮蔽板９はＸ線カメラ３とフィルム２との間に位置し、
なるべく、フィルムに近い位置で、それと平行に設定し
た方がよい。これは管球から照射されたＸ線のうち、散
乱Ｘ線がフィルム、カメラに影□響を与えるためである
。反応器内を透過してきたＸ線のみフィルムおよびカメ
ラに受けるようにする役目をもっている。材質は一般に
用いられ（１０） ている鉛板が適当である。形状は管球方向からＸ線が透
過する反応器の面の大きさだけあけて、Ｘ線カメラ部と
反応器とを仕切るような構造がよい。
なるべく、フィルムに近い位置で、それと平行に設定し
た方がよい。これは管球から照射されたＸ線のうち、散
乱Ｘ線がフィルム、カメラに影□響を与えるためである
。反応器内を透過してきたＸ線のみフィルムおよびカメ
ラに受けるようにする役目をもっている。材質は一般に
用いられ（１０） ている鉛板が適当である。形状は管球方向からＸ線が透
過する反応器の面の大きさだけあけて、Ｘ線カメラ部と
反応器とを仕切るような構造がよい。
保護容器１０は管球１、フィルム２、Ｘ線カメラ３、反
応器４、高周波コイル５などを収容し、Ｘ線を遮断する
ような構造にする。容器は鉛板（約５．）を内張とした
鉄板で作り、とくに、各ガス導入管など装置の外部との
接続部は漏洩がないように注意する必要がある。試料、
反応器などの交換など操作のために開閉する扉を設置す
るが、その材質も上述したものを使用した方がよく、Ｘ
線発生中、扉を開けた場合、照射電源が切れるような安
全構造を備えておく必要がある。
応器４、高周波コイル５などを収容し、Ｘ線を遮断する
ような構造にする。容器は鉛板（約５．）を内張とした
鉄板で作り、とくに、各ガス導入管など装置の外部との
接続部は漏洩がないように注意する必要がある。試料、
反応器などの交換など操作のために開閉する扉を設置す
るが、その材質も上述したものを使用した方がよく、Ｘ
線発生中、扉を開けた場合、照射電源が切れるような安
全構造を備えておく必要がある。
モニターテレビ１１はＸ線カメラで受けた透過Ｘ線像を
映像として取り出すもので、一般に使用されているもの
で、限定するものではないが、測定試料、対象物に応じ
て形状を適当に決めればよく、なるべく走査線数が多く
、画質がよい型式のものを使用した方がよい。また、Ｘ
線カメラの数に応じて複数台設置することも出来る。以
上、本発明の詳細について述べたが、つぎの実施例によ
り、さらに説明する。
映像として取り出すもので、一般に使用されているもの
で、限定するものではないが、測定試料、対象物に応じ
て形状を適当に決めればよく、なるべく走査線数が多く
、画質がよい型式のものを使用した方がよい。また、Ｘ
線カメラの数に応じて複数台設置することも出来る。以
上、本発明の詳細について述べたが、つぎの実施例によ
り、さらに説明する。
〈実施例〉
第１図に示した装置の反応器の形状を２５Ｘ２５×５０
各ＷｒＭ（内寸）とし、高周波加熱面（２面）は炭素板
（２５Ｘ１０Ｘ５０各＝）を、Ｘ線透過面（２面）には
アルミナバルク板（４５ｘｌＯｘ５０各蝙）をそれぞれ
使用し、Ｘ線が透過する側面はアルミナバルク板を２枚
使用し、板間を平行して１ｏ（転）あけ、その空間に窒
素ガスを流通させて冷却をはかった。測温は反応器の中
心に熱電対を設定して行なった。一本の管球（タングス
テンフィラメント、ベリリウム膜厚：４００ｐｍ、管電
圧：９０ｋＶＰ。
各ＷｒＭ（内寸）とし、高周波加熱面（２面）は炭素板
（２５Ｘ１０Ｘ５０各＝）を、Ｘ線透過面（２面）には
アルミナバルク板（４５ｘｌＯｘ５０各蝙）をそれぞれ
使用し、Ｘ線が透過する側面はアルミナバルク板を２枚
使用し、板間を平行して１ｏ（転）あけ、その空間に窒
素ガスを流通させて冷却をはかった。測温は反応器の中
心に熱電対を設定して行なった。一本の管球（タングス
テンフィラメント、ベリリウム膜厚：４００ｐｍ、管電
圧：９０ｋＶＰ。
管電流：４ｍＡ、波長：０．５１）から軟Ｘ線を照射し
、反応器に酸化鉄を造粒して作った２種類のペレットを
２個づつ入れ、ガス導入管から還元ガス（ｃｏ／Ｎ２：
３０／７０チ）を入れながら、高周波加熱（周波数：
４００ ｋＨｚ 、出カニ ５ ｋＷ 、、昇温速陵：
５℃／ｍｉｎ、、最高温度１２００℃）を行なった。検
出方法は軟Ｘ線照射源から反応器を介して５０ｃｒｎ離
れた位置に設置したＸ線カメラ（螢光板）で透過Ｘ１ｆ
ｓを受け、そのＸ線像をカメラで撮影し、温度の表示と
そのときのペレットの変化を逐次モニターテレビに映像
させた。つぎに、反応器外側に密接したフィルム設定部
（フィルム１０枚を１組としたカセット式）に自動的に
フィルムを送り込み、モニターテレビの画像を観察しな
がら必要に応じて写真撮影し、熱間でのペレットの表面
および内部変化を連続的に測定した。第２図はａ、ｂ２
種類のペレットの温度による変化の代表例を図示したも
ので、１） 、 ３）は８００℃のときの状態で、２）
。
、反応器に酸化鉄を造粒して作った２種類のペレットを
２個づつ入れ、ガス導入管から還元ガス（ｃｏ／Ｎ２：
３０／７０チ）を入れながら、高周波加熱（周波数：
４００ ｋＨｚ 、出カニ ５ ｋＷ 、、昇温速陵：
５℃／ｍｉｎ、、最高温度１２００℃）を行なった。検
出方法は軟Ｘ線照射源から反応器を介して５０ｃｒｎ離
れた位置に設置したＸ線カメラ（螢光板）で透過Ｘ１ｆ
ｓを受け、そのＸ線像をカメラで撮影し、温度の表示と
そのときのペレットの変化を逐次モニターテレビに映像
させた。つぎに、反応器外側に密接したフィルム設定部
（フィルム１０枚を１組としたカセット式）に自動的に
フィルムを送り込み、モニターテレビの画像を観察しな
がら必要に応じて写真撮影し、熱間でのペレットの表面
および内部変化を連続的に測定した。第２図はａ、ｂ２
種類のペレットの温度による変化の代表例を図示したも
ので、１） 、 ３）は８００℃のときの状態で、２）
。
４）は１２００℃のときの状態をそれぞれ示した。両者
のペレットのうち、ａペレットはしだいにふくれが大き
くなっており、焼成不十分であることがわかる。ｂペレ
ットはふくれとは反応に多少収縮傾向にあり、ガス流通
ができにくい外殻部と内殻部を形成（斜線は空隙部）シ
、還元が十分に進まない状態を示していることがそれぞ
れ観察された。
のペレットのうち、ａペレットはしだいにふくれが大き
くなっており、焼成不十分であることがわかる。ｂペレ
ットはふくれとは反応に多少収縮傾向にあり、ガス流通
ができにくい外殻部と内殻部を形成（斜線は空隙部）シ
、還元が十分に進まない状態を示していることがそれぞ
れ観察された。
以上、熱間Ｘ線透過解析方法および装置に関して、実施
例にもとづいて詳細に述べたが、本発明（１３） は熱間での物質の微細構造など、連続的な変化を波長の
長いＸｉ（軟Ｘ線）を用いてモニターテレビおよびフィ
ルムに測定し、解析できる方法および装置である。
例にもとづいて詳細に述べたが、本発明（１３） は熱間での物質の微細構造など、連続的な変化を波長の
長いＸｉ（軟Ｘ線）を用いてモニターテレビおよびフィ
ルムに測定し、解析できる方法および装置である。
近年、省エネルギー、省資源に関連して、低操業下でも
その機能を損なうことなく、安定操業ができる技術開発
が行なわれているが、高炉操業においてもペレット、コ
ークスなど装入原料の高品質化が要求されており、各種
耐火物とともにその基礎的解析手法として、本発明は今
後槽々その利用価値は大きい。
その機能を損なうことなく、安定操業ができる技術開発
が行なわれているが、高炉操業においてもペレット、コ
ークスなど装入原料の高品質化が要求されており、各種
耐火物とともにその基礎的解析手法として、本発明は今
後槽々その利用価値は大きい。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の方法および装置に関する説明図であり
、第２図は本発明の実施例に関する説明図である。 １・・・管球 ２・・・フィルム３・・・
Ｘ線カメラ ４・・・反応器５・・・高周波コイ
ル ６・・・排出管７・・・ガス導入管 ８
・・・雰囲気ガス導入管９・・・遮蔽板 １
０・・・保護容器（１４） １１・・・モニターテレビ。 （１５〕 第１図
、第２図は本発明の実施例に関する説明図である。 １・・・管球 ２・・・フィルム３・・・
Ｘ線カメラ ４・・・反応器５・・・高周波コイ
ル ６・・・排出管７・・・ガス導入管 ８
・・・雰囲気ガス導入管９・・・遮蔽板 １
０・・・保護容器（１４） １１・・・モニターテレビ。 （１５〕 第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｔｏ、ｉ１以上２．５Ｘ以下の波長のＸ線を加熱した試
料面とほぼ直角方向から照射し、透過Ｘ線像を得て、内
部の状態を解析することを特徴とする熱間Ｘ線透過解析
方法。 ２ 試料の加熱機構と、試料面とほぼ直角方向に位置す
る０、１Ｘ以上２．５Ｘ以下の波長を発生する１個以上
のＸ線源と、透過Ｘ線像を検出する１個以上の検出部と
からなることを特徴とする熱間Ｘ線透過解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56111638A JPS5814034A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | 熱間ｘ線透過解析方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56111638A JPS5814034A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | 熱間ｘ線透過解析方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5814034A true JPS5814034A (ja) | 1983-01-26 |
Family
ID=14566377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56111638A Pending JPS5814034A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | 熱間ｘ線透過解析方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5814034A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61234341A (ja) * | 1985-04-10 | 1986-10-18 | Nippon Steel Corp | 石炭の炭化過程の直接観察装置 |
| JP2002139461A (ja) * | 2000-11-06 | 2002-05-17 | Murata Mfg Co Ltd | Ｘ線透視検査装置の高温観察炉 |
| KR101145205B1 (ko) | 2010-04-23 | 2012-05-24 | 국방과학연구소 | 열전지용 펠렛의 비파괴검사장치 |
| JP2023057471A (ja) * | 2021-10-11 | 2023-04-21 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 耐火物の欠陥評価方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54164187A (en) * | 1978-02-14 | 1979-12-27 | De Beers Cons Mines Ltd | Radiographic examination |
| JPS5662244A (en) * | 1979-10-10 | 1981-05-28 | Alsthom Atlantique | Cooling cassette for gamma ray photographic film |
-
1981
- 1981-07-17 JP JP56111638A patent/JPS5814034A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54164187A (en) * | 1978-02-14 | 1979-12-27 | De Beers Cons Mines Ltd | Radiographic examination |
| JPS5662244A (en) * | 1979-10-10 | 1981-05-28 | Alsthom Atlantique | Cooling cassette for gamma ray photographic film |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61234341A (ja) * | 1985-04-10 | 1986-10-18 | Nippon Steel Corp | 石炭の炭化過程の直接観察装置 |
| JP2002139461A (ja) * | 2000-11-06 | 2002-05-17 | Murata Mfg Co Ltd | Ｘ線透視検査装置の高温観察炉 |
| KR101145205B1 (ko) | 2010-04-23 | 2012-05-24 | 국방과학연구소 | 열전지용 펠렛의 비파괴검사장치 |
| JP2023057471A (ja) * | 2021-10-11 | 2023-04-21 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 耐火物の欠陥評価方法 |
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