JPS58148942A - 表面被覆薄膜の特性を求める方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は金属薄片顔料を含有する表面被覆の特性を器
械的に求める方法と、この方法を遂行できる装置とに関
する。

金属薄片顔料例えばアルミニウム薄片を含有する表面被
覆は良く知られている。これは自動車の車体を見る角度
によって通常「フリップ」と称せられる相異なる光反射
効果を与えるから、自動の車体の保護および装飾に特に
好ましい。得られるフリッゾ効果の程度は被覆薄膜の外
向に対する金属薄片の配向の関数であって、理想的には
薄片社この外面に平行な平面の中に位置すべきであシそ
の場合に最大のフリツゾ効果が観察される。しかし７な
がら寮際には薄片のほとんどを真に平行に位置させるこ
とは不可能であってその他の薄片は表面の平面に対して
棟槓の概して小さい角度をなす。

すなわち被覆の中に薄片の配向の分布が存する。

金属被覆はしばしは付加的に金属薄片以外の顔料を含有
し、かかる材料は一般に光散乱蓋であるよりもむしろ光
吸収型である。

金属を顔料とする被覆の特性を器械的に求めることは原
理的には被覆され丸、ｅネルの反射率の角度依存度を反
射針で測定することによって遂行できる。従来これは単
一の定置の平面における多くの入射照射角度および眺め
角度で−ｊ定を行なうことによって或いは入射方向と眺
め方向との間の角ｆを一定にして多くの照明入射角度お
よび眺め角度で＃１１Ｉ足を行なうことによって遂行さ
れた。このよりな測定の結果は確かに薄片の配列の程度
に依存するけれども、この測定結果はま九金属薄片の相
対濃度にもまたどの吸収性顔料の存在にも依存するから
その値は被覆の特性を示す値としての価値が低い。故に
金属薄片の配列の程度を有効に側足するためＫはこれら
条件で存在するすべての顔料の吸収を考慮する会費があ
る。被・し九ノ七ネルをその法線のまわりに回転させた
ときに起る反射率の変化を測定することもできるが、こ
れは不充分な塗布および乾燥作業またはそのいずれかの
結果であるかも知れない薄膜の法線のまわ９の薄片配向
の対称性の何らかの欠除を示すに過ぎない。

かくしてこの技術は任意の特定の点における薄片の配向
の実際の分布を測定するものではない。

この１！明の発明者がかくして見出したところによれば
、上述したような欠点および限定を受けない金属薄片の
分布の有用な一定は、薄膜の法−に対して一定に予め定
められ九角縦で薄膜ｏＸＰ向試料を照射し同じく薄膜の
法線に対して一定の角度で薄膜の表面から反射された光
の強度を多くの相異なる方位角眺め位置で測定すること
によって達成される。

かくしてこの発明によれば薄＊＊面に対する法線に対し
て所与の角度で傾斜する光の平行光束で薄膜の平面試料
を照射する段階と、並び（多くＯ方位角眺め位置におい
て薄膜から反射される党の強１１渕定する段階とからな
ることを特徴とする金属薄片顔料を含有するｌｉ！面被
覆薄膜の特性を求める方法が提供される。

ここで方位偽眺め位置とは、薄眺表向の照射された区域
の中の薄膜表面上の１つの点における薄膜の法線上に中
心を有し薄膜＊ｍＫ平行な平面θ中に位置する１つの円
の円周上に位置していて羨起点から反射された光束をさ
えぎるような位置を云う。ここで第１図を参照すれば入
射光束はｍｘで表わされ薄膜１１画の法線ＺＫ対して角
ｆ＃・になっている。ま九反射され九光束は／１１　Ｙ
Ｉｔ　Ｙ茸、など表わされそのおのおのは薄膜法線ＺＫ
対して共通の角ｆ＃罠なっている 薄膜を照射する光束は、これが（１）平行であル（―）
薄膜の法線に対して所与の角度（第１図にθ・で示され
る）で傾斜しくｌ）すでの方位角眺め位置で集められる
光を反射する区域よりも大きい区域で薄膜表面を照射す
る、と云う３つＯ畳件を満足するように適当１ｋｊｔ学
費素と関連し九任意の普通の光源によって生成できる。

望ましくはこれは薄膜１１面の照射区域がβになるよう
に配置される。

薄膜から反射された光の一定は多くの相異なる方法で遂
行できる０例えばこれは薄膜の照射区域の中の１つの点
における薄膜の法線のまわ〕の円形径路内で勤〈ことが
できるような方法て取付けられ九光検出器を使用するこ
とによって達成できる。この際Ｋ、検出器め感光面はこ
れが１紀照射区域の中に全体として位置する１つの区域
を有効に眺めるように指向され、１＊、薄膜の千■から
予め定められ九一定の［ｌｌＦ距離４Ｋｔｋｂようにか
つ回転軸線（＃ｊｉ記の薄ｌＩＯ法線）から予め定めら
れた一定の距離ｊＫなるように艙持される。ここで薄膜
法−に対する眺め角度を−とすればｊ／ｊ−１ａｎ　＃
　Ｋ　ｔｋる。薄膜それ自身は定置保持される。検出器
が１転するときに、反射光の強度が成る任意の基準線（
ＩＩＩ／−にムて示される）から淘つ九入射光束の角度
φ・から入射光束０［１＊上反対側であるφ、４ｉｒｏ
°　まで０＠■Ｏ方位角すなわち１転角度−の種１１の
値で一定される０反射党の強度を一定する位置であるφ
０ＩｌＩＯ個徴紘主として薄膜の中での薄片の配向の分
布の狭さすなわち＠に依存して特性を求めるべき特定Ｏ
薄膜に従ってかｌ）変化できる。少くと４参つ０４　ａ
でない一定が一般に必賛であって、その１つが基準とし
選択でき他の４０は比例反射率強度として貴わされる。

光検出器を動かす代）Ｋ１反射ｊｔ、Ｃ：を一定は平−
反射鏡を使用して繭述しえ検出器の場合と岡ＩＩＯ方法
ですなわちこの平面反射鏡の反射面の作動部分’ｔ＊述
し九ような予め定められたー、定の距ｌａｔおよびｊＫ
ｍ持するようにして勤か丁ことができるようにこの平面
反射鏡を壜付けることＫよっても達成できる。このＩＩ
Ｋ党検出器は定置保持され、反射鏡は薄膜の照射区域の
中に完全に含まれる１つの区域を光検出器が有効に眺め
るよう（配列される。角度φの値が一定範囲内であると
きにはいつでも、薄膜から反射鏡に到着する光の一定の
割合が検出＠に入射する。この測定方法は検出器が動く
際にこれとの電気的接触を達成するという開題を完全に
避けることができるから既述した方法よりもむしろ望ま
しい、これは１＋反射率基準を参照して入射光の強度を
絶えず監視てきるいわゆる「二重光束」方法の採用を容
嘉にするという点でも望ましい。

単一の光検出器および可動の眺め要素を包含するＩＩＩ
述Ｏ方法のいずれかの代ルとして、反射光の一定は前述
の場合に単一の光検出器または反射鏡が通過し九（ロ）
じ円形径路に沿って過尚に離れた間隔で配置される多く
の定置の眺め要素によっても達成できる。定＠０跳め要
素のおのおのはそれ自身で反射光を１ＩＩＩＫ受ける光
検出器でもよく、或いはこれは実際の眺め位置から離れ
構成る地点に配置された１つｔた杖多く０党検出器へ受
取つえ光を移送する党学繊−のような光学的光集め系で
吃よい。この多くの眺め要素０ＩＩＩ用は運動横構を畳
せずｉ友作動が迅速であるという利点を有するけれど４
、これでｒｉ明らかに単一の可動眺め要素の場合に会費
としたよりもか＊＊＊緘ｔｋ１ｍ１６網が検出され先光
強度の配＃ｋＯえめに会費である。

選ばれた数ｏ’ｍ＠する方位角眺め位置でかくして一定
畜れたｌ連の反射光強度は検査される薄膜の特性求めの
単−形を構成する。所与の基準の特性に適合するかの試
験薄膜Ｏ合否ｔｆｌｉｉｉｌじ党入射角および同じ方位
角眺め位置ＯＪｌを各場合に使用するような多（Ｏ調定
を行なう仁とによって実験的方法で害ａＫ確定できる。

しかし１ｋからこの発明の特徴に１１まれ石繭述し−に
λつの段階によって得られるデータは、各方位角眺め位
置における反射光の強度を成る選択された方位角眺め位
置における反射光の強ｇＫ対する比例として表わす段階
およびこのようにして導き比され皮比例強１と薄膜の法
ＪＩＫ対する金属薄片の角度との関係を確定する段階を
さらに採用することによって薄膜における金属薄片配向
の頻１分布を導き出すに利用てきる。

この発明のこの拡張され喪方法は次の通論的考察に基づ
く１反射の法則から判るように、被覆薄ＩＩＩＫ含有さ
れる特定の金属薄片において薄片の法線の方向は入射光
束および反射光束の双方を含む平向の中に位置しかつこ
れら双方から等距１１１１［なっている７党は照射され
た多くの薄片から多くの方向に反射され、方向（θ、φ
）のまわりの小さい立体角ｄ−の中に含まれる反射光の
微小分はｐ（θ、φ：θ・、φ・）ｄωと書くことがで
きる。ここで（θ・、φ・）ｒ１入射方向である。薄膜
の法線に対する特定の薄片の法線の角ｆをαとすれば。

薄膜の法線に対するこの角１αのまわりの小さい立体角
ｄａｍ’に含まれる薄片の法線の微小分はＳ（α）ｄω
′　と書くことができる。かくしてＳ（α）ｄ伽′ｃＣ
ν（＃、φニー・、φ・）ｄ・になＪｌ、　ａの値は反
射の法ｇ＜よって＃、φ、＃・およびφ・Ｃ）＠に＠係
する。よって−８φ０ＩＩＯ遍当な範囲に渉っての微小
分りの知識から薄片Ｏ配向の分布の測定が導き出される
。実１１に一定されるものは方向（０，φ）て薄膜から
反射される党Ｏ強度である。一定の入射角て入射光Ｏａ
ｔが一定であれば１反射光の強ｌｌＬｒ１こ０４１定０
幾何を使用して一定し丸薄膜の反射率に比例する。

一般に、金属薄片以外には著しい量Ｏ党散１媒体が薄膜
に全く存しないとすれば、ｌＩ画反射のない場合に完全
（白いう７ａ−ト（Ｌａｍｂ＠ｒｔ　）　０散乱体に対
する反射率ＲはＩＩｌ近似で 凰−ｆ（＃、−・）ｐ（＃、φ；−・、φ・）Ｋよって
与えられる。ζ仁てψは＃および−・Ｏ関数であるがφ
まえはφ・ｏｖｇ＊ではない、　　＊ｓｉ反射が存する
場合には逼＊ｔｍ正がなされるべ龜である、現在の目的
のためには関数ψの性質の決定は必要でない。一般にψ
はｔ走（１）薄膜の中の金属薄片の容積＠＃、　　（ｂ
）薄片の配向の角度の分布、（Ｃ）薄片の輝度、（ｄ）
薄膜の中の他のすべての顔料の製置および吸収係数、お
よび（ｅ）　＃４脂の屈折率の関数でもある。薄膜の法
線に対して一定の入射角度θ・および薄膜の法ｌ１Ｉｖ
Ｃ対して一定の眺め角度θを採用しただし法線のまわり
のφ−φ・の値が色色である成る範囲で反射数を測定し
かつ（φ−φ０）のこれら色色の値で測定された反射率
のそれぞれを（φ−φ・）の選択され九１つの値（これ
を便宜上（φ１−φ・）で示す）で一定された反射度で
割ったとすると、（θ、θ・）と独立なｌ連の相対反射
度が導き出される。すなわち０およびθ・が一定値のと
きく φ、−φ・での反射率　　　ν（＃、φ、；　θ・　、
φ・）”０・）ｄｅａｒ’　　　、。６．） になる、ここでαａｒｉ選択されえ眺め角度φ１（対応
するαの値を示す。

故Ｋ、上述したような多くの方位角位鎗に訃いて薄膜の
反射率を測定し相対反射率を計算することくよって駕（
α）／Ｓ（αａ）Ｋ対する対応個数の値が得られる。こ
れらのおのおのに対する信ＯＶ＃ｉｏ、＃・、φおよび
−０の値を知ること（よって簡単な幾何学考慮から計算
できる。これら蜜数とαを連結する数学的式は薄膜でＯ
屈折を避ける経験的方法を反射率の画定に使用するか否
か虻よって異なる、屈折を避けるえめに使用できる実際
約手続は薄膜結合剤の屈折率に等しいかまえ紘近い屈折
率を有する逼轟な寸法のガラス半球を使用するものであ
夛、この半球はＭｍｏｓｒｔ率を有する逓ｔ１４＃Ｉの
層を介在させて照射区域内０薄１１０１！画上に配置さ
れる。その手ｌＩについてはこ０ＩＩＩ！＃による装置
に関連して壁膜てさらＫｍ＠する。

この手続が採用されえ場合には−を一１＃・、φおよび
φ・に連結する式は次のようになる。

コ［／＋ｃｏｓａｃｏ＊ａ＠　＋ｓｉｎθ５ｉｒＪ＠　
　ｃｏｔ（φ　φ・）］この発明の方法の望ましい実施
方式によれば薄膜の法線に対する入射光束の角度が反射
率一定のすべてを行なう眺め角ＵＫ等しくなるような配
備がなされる。すなわち−・がａＫ等しくされる（入射
光束Ｉ′ｉ第１図で線Ｘ′で表わされる）。このようＫ
したことによる利点は薄膜の−ｊ１面に平行に配向され
た薄Ｈに関するすなわちα−０の場合（対する反射率の
測定を達成できるようになることＫある。この場合に反
射率の一］定のｌっがφ−φｏ４−ｉｒｏ＠で与えられ
る眺め位置で実際（行なうような配備がなされ、この位
置で通常は最大の反射率が１！掬される。この位置は次
いで基準位置（φ、−φ・）として採用され、そのよう
にすると一定された反射強度のすべてがこの最大値の分
数として表わされる。

一足のこの望ましい条件でαを計算するための式は次の
ようになる。

λｃｏｓ”＄ ／　＋　　ｃｏｏ”θ＋ｓｉｎ”　＃　Ｃ＠１１（φ−
φ・　）薄膜表面でＯＩＩ折を１避できない場合に対し
ての逼ｍ＆式は λ−一　易轟膳”＠（／−ｃｏｏ（φ−φ・　）〕声１ であり、ここでμは結合剤の屈折率を表わす、眺め位置
−１＝φ・＋／１０″′てａ、　０値はゼロである。

使用される装置における誤差の知られる源例えば光検出
器の非ＮＩｍ性を考慮して一定され九反射度を補正する
仁とは望ましい。

適当なｌ連のａＯ値が計算されると、これは金属薄片の
配向の分布画線を与えるようＫｍ（ａ）／％（０）の対
応の値に対してグラフ的にプロットできる。このようＫ
して導き出され九自纏およびデータの例はｍ２ｍおよび
添付の−に示される。−纏が完全であル従って正規化て
きるときには、ζれは分布Ｓ（α）の実際の性質に関す
る仮定に無関係な薄膜配向の絶対分布を示す。曲線が不
完全な場合には、これはむしろ薄膜！！！Ｉｉｉに平行
に配向され九範片の数に対する分布を示す。絶対分布ま
たは相対分布のいずれかの知識は金属顔料被憬組成の処
方をかなり援助する。かくして与えられ種類の組成（対
して、最適の「クリップ」効果を得るに６ｂ１なｍ布の
詳細な処方または条件がこの発明の方法に従ってなされ
た反射＆−足に関連し九適当な試行によって見出すこと
ができる。一般に、＊（ｆｆ）／＊（０）−”’ｆｋ、
ａ＝００で定められる点からの分布自鍔の下降が深くな
るほど７リツプ効果が原著［ｔｋる。同様に、この発＃
Ｊ（よる分布の決定は決定すべき所与の基準薄膜に対す
る実験的組成の適合を正確に達成できるようＫする。

ｒｌ！Ｊ 入射光の角度＝ダ！０ 注意すべ電点として、一定のθの値に対して薄膜／空気
の界１ｌｉＫ＄ＩＰける屈折の効果を除去すればこの効
果を除去しなかった場合におけるよ夕も広いａの値の範
囲に渉って分布の特色を求めることができる。ｔｍｓの
１部の欠損が分布の全体０ｆＦ１ｉ１１に意味があるか
否かｒｉ特定の状況に依存するけれども、一般的に言っ
て屈折の効果を取除いて薄片の配列の画像をで龜るだけ
完全に得るようにすることが望ましい。従来の技術と比
べたこの発明の方法の１つの利点は入射光束に対してま
た反射光束のすべてに対してその方位角位置に拘わ夕な
しに屈折に対する単一〇ＩＩＩＦ１１ｆが有効であると
いう点にあると言うことができる。従来の技術では屈折
に対する許容度は薄膜の法ｍＫ対する光束Ｏ角１が変る
と変化する。

この発明の別の一点によれば、光の平行光束を生成する
ための平行光束源、＊束が薄膜の１１面の［１に対して
所与の角度で薄膜に向いこれＫよって薄膜が照射される
ようにこの薄膜を位置させるための支持体、ンよび１１
１段で定義しえよつな多くの相異なる方位角眺め位Ｒに
おいて、前記の照射された区域の中に完全に含まれる薄
膜表面の１つの区域から反射される光を受取る装置を有
することを特徴とする金属薄片顔料を含有する表向被優
薄膜の特性を求める装置が提供される。

この発明の詳細な説明においてすでに示し丸ように、＊
置のｌ集施例（おいて嬬反射され走光を受取り測定する
丸めの単一の！ＩＲが採用されてこれは薄膜の表面に平
行な平面の中に位置すみ円形のａ路内で移動でき、従っ
てこれは薄＊＊直の照射区域を常に同じ角度で眺める。

この装置は遍轟に取付けられ九党検出器からなることが
でき、これから発した信号は増幅されて配倦器を九線針
−に送られる。これＫよって反射光の強ＩＩＯ＠対−足
が与えられる　しかしながら町勤０党受歇一定装置が代
ルに前述し九円形のａｍ内で移動する反射錠からなるこ
とが便利であるかも知れず、これ定位獣に取付けられ走
光検出器とｉ同し、これ線反射鏡の位置がどこであって
一薄膜の表層土の点から反射した光が次いで反射鏡によ
ってこＯ党檎出量に落ちるよう（配置される。円形の径
路における可動の検出器ｔえは反射鏡の運動は１反射率
の一定を行なう多くの選択された相異なる方位角眺め位
置に対応してとびとびの段階で行なわれることが漸進的
に行なわれるよりもむしろ好都合である。この発明の方
法を遂行する九めには検出器ま九は反射鏡の運動がφ−
φｅからφ＝φｅ＋／ＩＩ＠までにできるだけ近い方位
角Ｏ範囲を被うものであれば十分であるが、検出器を九
は反射鏡が実際土倉Ｊ４０＠の範囲をはとんど運動でき
る方が有利である。１層的［ｔｉ範Ｈａ−ｉｔｏ″の中
の選択された方位角位置でＩ！−され九反射強度が範囲
／１Ｏ−Ｊ４０”の中の対応する位置て繰返されるが実
＠には装置およびＡネル準備の質の正確で対称的な機Ｗ
性を確保するためＫは全範囲に渉って鋼足を行なうこと
が有用である。対応する一定値の間の食違いが小さい場
合には各対応対の平均を取ることかで龜る。

この発明の装置の別の実施例においてはすでに鋳造し友
ように１反射され九九を受取９糊定する丸めの装置が多
数用いられていてこれら装置が薄膜の表面に平行な１つ
の平画内に位置する円形の径路の中の定位置に配置され
、この党受取掬定装置の個数および位置は選択され友方
監角挑め位置のそれらに一致する０党受取一定装置は儒
儒の光検出器からなることがてき、その代参にこれ社光
学的党集め器特に光学繊維かもなることもできる。

この党学的光集め系によって、各特定位置て受取つ走光
は実際の眺め位置から離れている成る特定の地点に取付
けられ友単−の光検出器へ送られ。

または各位置で受取つえ党が別別の光検出−へ送られる
０党検出器で発生し良信号は一１逐し良ように増幅して
適当な器械へ送ることができ、検出された光の強度がこ
Ｏ器械（よって表示壕え社記−できる。

前述しえすべての形０＊ｇＫ＞いて薄膜Ｏ妹−に対する
入射光束の角＆が任意Ｏ方位角眺め位置で受取られる反
射光束Ｏ角ｆに等しくなるよう（光源を配置することが
既遮し九層由でｉｗｔｔ、、い。

入射光Ｏ光束が平行であるばか参でを〈薄膜のｓｉｔ上
に円形の層射区域を与えるように光源ｔ−党学畳素と結
合させることも望ましい０例えば円形の鮨孔を有し光束
の方向く対して過当に傾斜し友鐘党部材が使用でき、或
いはその代、９に光束に直角に配置され九楕円闘孔を持
つ遮光部材も使用できる。

単一の定置の光検出器が設けられ反射された光が可動の
反射＃［よって偏向されるような前述し良形式の装置の
場合に、光源の強度の揺れの効果を打消すために光学装
置でしばしば採用されるような単一の光検出ＩＩを使用
する「二重光束」配備を装置に組入れることが有利であ
る。この配備（おいて、入射光束は特性を求めるべ龜薄
膜の表向からではなく反射率特性の知られている表面（
例えば純粋１に硫酸−奢すウムのブロック）から反射さ
れるように入射光束がときどき転向させられる。

表面被覆薄膜の反射率を一定する従来技術の装置にも共
通なものである前述した任意の形式の装置の別の可能な
１つの変型として、薄膜内の結合剤の屈折率が反射率の
一定に与える作用を打消すためガラス半球体が包含てき
る。結合剤の屈折率と同様の屈折率を持つこの半球体紘
、そのｆｉｌ麿が薄膜の表面上に位置するように、同じ
く結合剤と同様の屈折率を有する油の介在によって爽好
な光学的接触をなすよう（、まえ入射光束と種種の方位
角のいずれかから見九反射光東とＯ１ｔ方が仁の半球体
を通過するよう（配置される。

以下、　ＩｌＩｍのうちの藁Ｊｌ！を参照しながらこの
発明の装置の実施例について１ｍ＠すみ。

金属薄片顔料を含有する＊ａ薄膜Ｏ平■試料Ｉ（断面で
示す）Ｆｉ党を通さない包■体コの側部Ｏ開孔に固定さ
れ、さらに薄膜の表面には薄膜内Ｏ結合剤横１の屈折率
と一様の屈折率を持つガラス半球体Ｊが固定される（一
定手段は開示なし）。

半球体の基底は油の層（図示なし）Ｋよって薄膜の１！
■と党字的ＫＩＩ触するように＃Ｉ持され、ＪＰ球体の
わん一表面は包１体コの内＊に：ｉｉｉする。包一体一
の中に配置される光源参からの党は集光レンズｊ＞よび
第コの集束レン！≦を通過して遮光部材７の所に楚点を
結ぶ、仁れらレンズは光が進行して半球体Ｊの中にはい
るときにこれが平行になって薄膜ｌの表面上に照射区域
を作るように配置される。包囲体λの壁に同定されたブ
ラケツ）ｊは多段歩道モータタを支持し、その軸（は開
孔／／が穿設され九腕１０が取付けられる。腕１０ｒｉ
その外端で反射＠／コを支持する。この反射＊は薄膜ｌ
の平面（こ平行な平面の中で腕１０が歩道的に運動する
際に腕ｉｏの回転軸ｍＶＣ常に平行になるように配置さ
れる。校正装置（図示なし）が設けられていて腕が回転
する方位角が一定できる。薄膜から反射され走光は半球
体３′ｆｒ通って種種の方向へ戻る。開孔／／を通過し
た光の部分だけが反射鏡／−２で反射されて、包囲体−
の反射鏡の壁（取付けられ走光検出器／Ｊに衡突する。

光検出器は円筒部材ｌ参の閉端に配置される。この円筒
部材の内壁面は白く塗られ、この円筒部材作用は腕ｉｏ
および反射＊／Ｊの位置に拘わらずこれに到着するすべ
ての光を集めその一定部分を光検出器に送ることにある
。光検出器／Ｊ、反射鏡／／。

党Ｉ［参、レンズ！と１および遮光部材７の相対位置は
、入射光束が薄膜表ＩｉＫ到着する角１と反射鏡を介し
て光検出器に到着する光束が薄膜ｌＩ画から反射される
角度とが相等しくなるように決定される。光検出器／／
は適当な増幅器および配―器または計器（図示なし）に
ＩＩＲされる。Ｗｉｌ１１００各歩道位置においてその
方位角位置が配−されかつ薄！［試料から反射される光
の強度の読取〕が計器で行なわれ、かくして得られ友デ
ータは薄膜試料の中の金属薄片の配向分布のグラフ表示
を作るために前述した方法で処理される。

【図面の簡単な説明】

第１ＷＪｒｉこの発明Ｋｍ達する入射光束と反射光束の
関係を斜視図的に略示する図、票コｌ！ａｔｉこの発明
によって得られた金属薄片の配向分布の例を表わすグラ
フｓ＊’図は単一の定置の光検出器と可動の眺め反射鏡
とを組込んだ仁の発Ｉ１４による実施例を線図的な断面
によって示す図である。 図ｍＫ＆いて、ｌは薄膜、Ｊはガラス半球体、ヂは’１
ｔｆ１％　ｊと４はレンズ、７は瑞光部材、ｔ。 は反射鏡を回転させる七−メ、／／は光通過開孔、ｌコ
は反射鏡、／Ｊは光検出器、Ｘは入射光束、ＹｌとＹｚ
ｒｉ反射光束、０は眺め角度、φは方位角を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ／、　薄膜１１面に対する法線に対して所与の角度で傾
   斜する光の平行光束で薄膜の平面試料を照射する段階と
   、並びに、薄膜表面の照射された区域の中の薄膜表面上
   の１つの点における薄膜の法線上に中心を有し薄膜表面
   に平行な平面の中に位置する１つの円の円周上に位置し
   ていて前配点から反射された光束をさえぎるような方位
   角眺め位置の多くにおいて、薄膜から反射される光の強
   度を欄定する段階とからなることを特徴とする金属薄片
   顔料を含有する表面被覆薄膜の特性を求める方法。 λ　各方位角眺め位置における反射光の強ｆを成る選択
   された方位角眺め位置における反射光の強度に対する比
   例として表わ１段階およびこのようにして導き出され友
   比例強寂と薄膜の法線に対する金属薄片の角度との関係
   を確定する段階をさらに包苫する％ｆｆ縛水０範囲第１
   項に配植の方法。 ｉ　薄膜の法線に刈する入射光束の角度が薄−の法−に
   対するすべての方位角眺め位置でさえぎられる反射光束
   の角度に等しい臀１Ｔｔ−請求の＠ｖ！ｉ凧１項または
   第コ央に起部の方屹。 弘　薄膜の表面ｖＣおける入射光束および反射光束の屈
   折が阻止される特許請求の範門第１項、絽λ項、第ＪＪ
   Ｊｉのいずれかｌ槍（Ｃ記畝の方法。 ま　入射光束が付性を求めるべき薄膜の表向から反射さ
   れる代夕に反射′４脣性の知られた表向から反射される
   ようにときどき転向される特許請求の範囲第／唄、第λ
   槍、第３項、謳参積のいずれ１項にに２楓の方法。 直　尤の平行光束を生成するための平行光束源、光束が
   薄膜の表面の法線に対して所与の角度で薄膜に向いこれ
   によって薄膜が照射されるようにこの薄膜を位置させる
   友りの支持体、薄膜表面の照射された区域の中の１つの
   点における薄膜の法線上に中心を有し薄膜表ｔｒｉ＋に
   平行な平向の中に位置する１つの円の円周上に位置して
   いる掻くの相異なる方位角眺め位置において、前記の照
   射された区域の中に完全に含まれる薄膜表面の１つの区
   域から反射される光を受取る光受取装置、およびかくし
   て受取った光ｔ−州定するための測定装置を有すること
   を特徴とする金属薄片顔料を含有する表面被覆薄膜の特
   性を求める装置 ２　反射光を受取るための単一の光受取装置を有し、こ
   の装置が＃記方位角眺め位置を含む円周と一致する径路
   内を移動できるように取付けられる特許請求の範囲第６
   項に記載の装置。 ｌ　単一の可動の光受取装置が光検出器であシ、測定装
   置が光検出器に連結された記録器また１よ計器である特
   許請求の範囲第７項に記載の装置。 ２　単一のａ］動ツノ党受取装置が平面反射鏡であや、
   付加的に光検出器が設けられていて薄膜の表向から反射
   され九九が反射鏡のすべての位置において反射鏡によっ
   てこの光検出器に達するようにこの光検出器が定位置に
   取付けられ、ｍ定装置が光検出器に連結された記録器ま
   たは計器である特許請求の範囲第７項に記載の装置。 ｉｏ、　　可動の光検出器または反射鏡が選択され友方
   位角眺め位置に対応してとびとびの段階で移動する特許
   請求の範囲ｆ１１．ＩｆＪ４または第２項に記載の装置
   。 ／　／、　　反射された光を受取る丸めの光受取装置が
   多数配備され、この光受取装置が選択され先方位角眺め
   位置に対応する定位置にそれぞれ配置される特許請求の
   範囲＠６ＪＪに記載の装置。 ７．２　　定置の先受砲装置が光検出器であシ、掬定装
   置が各光検出器に連結された記録器を友は計器である特
   許請求の範囲第１／項に記載の装置。 ／ｊ、　　付加的に少くとも１個の光検出器が配備され
   、定置の光受取装置が光学的光集め系であって受取った
   犬がこの系によって光検知器へ送られ。 測定装置がこの光検知器まえは各光検知器にＩＩｍされ
   九に２録器ま九は計器である特許請求の範−謳ｉｉ項に
   記載の装置。 ／４４　　薄膜の法−に対する入射光束の角ｋが薄膜の
   法線に対するすべての方位角眺め位置でさえぎられる反
   射光束の角度に轡しくなるように光源が配置される特許
   請求の範囲第６項、第７項、第１項、第り項、第１０項
   、第１／ｆＪ４．第１コ項、第７３ＪＪのいずれかｌ墳
   に記載の装置。 ｌま　特性を求めるべき薄膜の表面からではなく反射率
   特性の知られている表面から反射されるように入射光束
   を転向させる装置を付加的に備える特許請求の範＃１５
   第２項に記載の装置。 １４　　特性を求めるべき薄膜の中の結合剤と同様の屈
   折率を持つガラス半球体が付加的に配備され、このガラ
   ス半球は入射光束および任意の方位角から眺めたときの
   反射光束がこのガラス半球を通過するような位置で薄ｌ
   Ｉ表面に対して良好な光学的接触をなすようにかつこの
   ガラス半球の基面が薄膜の表面上に位置するように配置
   される特許請求の範ｗＭ第を項、第７項、第を項、第り
   項、第１０１１１ｉ／／項、’ＩＭ／２＊、第１Ｊ墳、
   ｔ１．ｌｆ１項。 ｍｔｚ＊のいずれか１項に記載の装置。