JPS58150949A - ポジ型感光性組成物用の現像溶液 - Google Patents
ポジ型感光性組成物用の現像溶液Info
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はポジ型感光性組成物用の現像液に関するもので
ある。例えば、現像溶液はポジ型レジストに於ける画像
の現像に使用する水性現像液であってよい。
ある。例えば、現像溶液はポジ型レジストに於ける画像
の現像に使用する水性現像液であってよい。
ポジ型感光性組成物並びにホトレジスト及び平版印刷プ
レートのような要素と一緒に使用する多数の現像液が説
明されてきた。アルカリ性溶液はポジ型組成物の大部分
を構成するキノンジアザイ(3) ドfヒ合物に関してよく作用するので、使用現像液は主
として水酸化物溶液であった。例としては英国特許明細
書箱1.867.830号に記載のテトラメチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド、及び米国特許明細置薬4,
141,738号に記載のメチルトリエタノールアンモ
ニウムハイドロオキサイトが挙げられる。
レートのような要素と一緒に使用する多数の現像液が説
明されてきた。アルカリ性溶液はポジ型組成物の大部分
を構成するキノンジアザイ(3) ドfヒ合物に関してよく作用するので、使用現像液は主
として水酸化物溶液であった。例としては英国特許明細
書箱1.867.830号に記載のテトラメチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド、及び米国特許明細置薬4,
141,738号に記載のメチルトリエタノールアンモ
ニウムハイドロオキサイトが挙げられる。
有用な水酸化物現像液の別の例は例えば特開昭51−5
6226に記載のテトラアルキルアンモニウムハイドロ
オキサイドである。このような現像液は電歇で1チから
2チの量で上記四級アンモニウムハイドロオキサイドを
含み、そのアルキル部分は2個から7個の炭素原子をも
っている。この現像液は解像力のような多くの性質に於
てすぐれているといわれる。
6226に記載のテトラアルキルアンモニウムハイドロ
オキサイドである。このような現像液は電歇で1チから
2チの量で上記四級アンモニウムハイドロオキサイドを
含み、そのアルキル部分は2個から7個の炭素原子をも
っている。この現像液は解像力のような多くの性質に於
てすぐれているといわれる。
しかし、これらの現像液は現像液選択性、すなわち、現
像液が感光性組成物の露光部分のみを除去し非露光部分
を全く除去しない傾向、に於て欠ける傾向にあることが
見出されている。好ましくは、現像液選択性は非露光部
分の厚み減少を現像(4) 後に於て10%より大きくさせないようなものである。
像液が感光性組成物の露光部分のみを除去し非露光部分
を全く除去しない傾向、に於て欠ける傾向にあることが
見出されている。好ましくは、現像液選択性は非露光部
分の厚み減少を現像(4) 後に於て10%より大きくさせないようなものである。
しかし、その減少が0に近いことが最も望ましい。この
ような選択性は臨界的な寸法制御に影響するので重要で
ある。すなわち、非露光組成物の微小寸法6<長時間現
像を行わねばならない時その許容範囲を保持し得ない。
ような選択性は臨界的な寸法制御に影響するので重要で
ある。すなわち、非露光組成物の微小寸法6<長時間現
像を行わねばならない時その許容範囲を保持し得ない。
長時間現像とは、像のクリーンアウトに必要な時間をこ
える長さの時間の間組酸物へ現像液を適用することであ
る。
える長さの時間の間組酸物へ現像液を適用することであ
る。
このような長時間現像は半導体加工に於て、例えばレジ
ストを凹凸のある基体上に各種の厚さで被覆する場合に
、ときには必要である。このような場合には、可溶性レ
ジストの厚い部分をクリーンアウトするのに用いる現像
は厚みの薄い部分に長時間現像を受けさせることになる
。
ストを凹凸のある基体上に各種の厚さで被覆する場合に
、ときには必要である。このような場合には、可溶性レ
ジストの厚い部分をクリーンアウトするのに用いる現像
は厚みの薄い部分に長時間現像を受けさせることになる
。
特に、重量で1%より多い(Cnf12n−h )4
NOHの溶液はnが2から7であるときには現像選択性
がわるく、低濃度で使用してもいくつかの有用なポジ型
レジスト組成物を現像することができないことOf見出
されている。
NOHの溶液はnが2から7であるときには現像選択性
がわるく、低濃度で使用してもいくつかの有用なポジ型
レジスト組成物を現像することができないことOf見出
されている。
本発明は現像選択性の増大したポジ型感光性組(5)
酸物用の現像液を提供することによって、これまでの現
像液の問題を克服するものである。
像液の問題を克服するものである。
本発明により、ポジ型レジストの現像液用の添加剤が開
発された。その添加剤は現像液の攻撃から比較的不溶性
の部分を保護し、従って現像選択性を増すものである。
発された。その添加剤は現像液の攻撃から比較的不溶性
の部分を保護し、従って現像選択性を増すものである。
添加剤の量は比較的可溶性のレジスト部分をも現像から
保護する量より少ないように選ばれ、かつ現像液溶質と
一緒になって現像時間を約60秒より長くさせる量以下
の量である。このような添加剤は一つのアニオンと、そ
して現像液のアルカリ性溶液の溶質カチオンとは異なる
一つのカチオンとから成り立っている。この添加剤カチ
オンはアルキル基が2個から7個の炭素原子をもつテト
ラアルキルアンモニウムまたはホスホニウム、アルキル
基が1個から7個の炭素g子iもつベンジルトリアリー
ルアンモニウムオたはホスホニウム、及びアリール基が
6個から10個の核炭素原子をもつベンジルトリアリー
ルアンモニウムまたはホスホニウム、から選ばれる。
保護する量より少ないように選ばれ、かつ現像液溶質と
一緒になって現像時間を約60秒より長くさせる量以下
の量である。このような添加剤は一つのアニオンと、そ
して現像液のアルカリ性溶液の溶質カチオンとは異なる
一つのカチオンとから成り立っている。この添加剤カチ
オンはアルキル基が2個から7個の炭素原子をもつテト
ラアルキルアンモニウムまたはホスホニウム、アルキル
基が1個から7個の炭素g子iもつベンジルトリアリー
ルアンモニウムオたはホスホニウム、及びアリール基が
6個から10個の核炭素原子をもつベンジルトリアリー
ルアンモニウムまたはホスホニウム、から選ばれる。
露光したポジ型感光性組成物の可溶性部分を選(6)
択的に除去し得る現像液の現像選択性は、ノボラック樹
脂とキノンジアザイドとを含有する十分に露光したレジ
スト混合物について現像時間を約60秒エリ長くさせな
い量で上記カチオンを含−ませることによって改善され
る。現像速度は、60秒より長い現像時間は実用するに
ばあ甘り長すぎるので、約60秒をこえないように選択
される。
脂とキノンジアザイドとを含有する十分に露光したレジ
スト混合物について現像時間を約60秒エリ長くさせな
い量で上記カチオンを含−ませることによって改善され
る。現像速度は、60秒より長い現像時間は実用するに
ばあ甘り長すぎるので、約60秒をこえないように選択
される。
本発明によれば、ポジ型感光性組成物用の現像液が提供
されるのであって、この液は少くとも12.0の7)H
を与えるのに有効な溶質を含み:この溶液が、アルキル
基が2個から7個の炭素原子をもつテトラアルキルアン
モニウムまたはホスホニウム、アルキル基が1個から7
個の炭素原子をもつベンジルトリアルキルアンモニウム
またはホスホニウム、及びアリール基が6個から10個
の核炭素原子會もつベンジル) IIアリールアンモニ
ウムまたはホスホニウム、から選ばれる一つのカチオン
金倉み:そのカチオンがα)溶質のカチオンとは異なる
ものでありかつb)1)重量平均分子量カ約aoooの
クレゾール−ホルムアルデヒド(7) 樹脂と11)この樹脂の約18重it%のトリヒドロキ
シベンゾフェノンのキノンジアザイドスルホン酸エステ
ルとから混合状態で成る十分に画像露光したレジスト組
成物について現像時間を約60秒より長くさせない−I
で溶液中に存在し;この量が1だ現像液の選択性を増大
させるようなものでもある;ことを特徴とする現像液で
ある。
されるのであって、この液は少くとも12.0の7)H
を与えるのに有効な溶質を含み:この溶液が、アルキル
基が2個から7個の炭素原子をもつテトラアルキルアン
モニウムまたはホスホニウム、アルキル基が1個から7
個の炭素原子をもつベンジルトリアルキルアンモニウム
またはホスホニウム、及びアリール基が6個から10個
の核炭素原子會もつベンジル) IIアリールアンモニ
ウムまたはホスホニウム、から選ばれる一つのカチオン
金倉み:そのカチオンがα)溶質のカチオンとは異なる
ものでありかつb)1)重量平均分子量カ約aoooの
クレゾール−ホルムアルデヒド(7) 樹脂と11)この樹脂の約18重it%のトリヒドロキ
シベンゾフェノンのキノンジアザイドスルホン酸エステ
ルとから混合状態で成る十分に画像露光したレジスト組
成物について現像時間を約60秒より長くさせない−I
で溶液中に存在し;この量が1だ現像液の選択性を増大
させるようなものでもある;ことを特徴とする現像液で
ある。
このような現像液は感光性のギノンジアザイドーノボラ
ック樹)薄給酸物の十分に画像6光した)−をこの現像
液と接触させてその層の露光領域を除去する工程によっ
てこの層を選択的に現像する改良方法を提供する。
ック樹)薄給酸物の十分に画像6光した)−をこの現像
液と接触させてその層の露光領域を除去する工程によっ
てこの層を選択的に現像する改良方法を提供する。
本発明の特色及び利点は以丁の記述と付緘の図面に於て
さらに詳細に述べる。
さらに詳細に述べる。
本発明の現像液はこの現像液によって提供されるpHに
於て差別的溶解性を示す任意の十分に露光したポジ型レ
ジスト組成物について使用してよい。この現像液に関し
て有用なレジストは露光部分に於て好ましい姿に攻撃さ
れかつ非露光部分に於ては現像液によって比較的平がつ
けられないよ(8) うなものである。
於て差別的溶解性を示す任意の十分に露光したポジ型レ
ジスト組成物について使用してよい。この現像液に関し
て有用なレジストは露光部分に於て好ましい姿に攻撃さ
れかつ非露光部分に於ては現像液によって比較的平がつ
けられないよ(8) うなものである。
本明細書に於て用いるように、「十分に露光した」及び
「十分に画像露光した」とは、像の線幅が約10.4μ
mであるマスクを用いるときに、解像に十分な程度に露
光して、その幅がマスクの幅から±0.25μ常より大
きくはずれていないクリ−アウトされたレジスト像を意
味する。
「十分に画像露光した」とは、像の線幅が約10.4μ
mであるマスクを用いるときに、解像に十分な程度に露
光して、その幅がマスクの幅から±0.25μ常より大
きくはずれていないクリ−アウトされたレジスト像を意
味する。
現像液選択性の増大した本発明の現像液選択性すること
がわかったレジスト組成物は唯一つの処方に限定される
ものではない。むしろ、本発明の現像液は、ノボラック
樹脂と、感光性成分としての、この樹脂と縮合している
かあるいは樹脂と混合したモノマーであるかあるいは樹
脂の一部として並びに樹脂と混合したモノマーとしての
両者で存在するキノンジアザイド成分と、から成る任意
のレジスト組成物に関して操作可能で、上記の改善され
た結果が得られる。
がわかったレジスト組成物は唯一つの処方に限定される
ものではない。むしろ、本発明の現像液は、ノボラック
樹脂と、感光性成分としての、この樹脂と縮合している
かあるいは樹脂と混合したモノマーであるかあるいは樹
脂の一部として並びに樹脂と混合したモノマーとしての
両者で存在するキノンジアザイド成分と、から成る任意
のレジスト組成物に関して操作可能で、上記の改善され
た結果が得られる。
キノンジアザイドが樹脂と縮合している場合には、スル
ホニル、カルボニル、カルボニルオキシ、及びスルホニ
ルオキシ、から選ばれる結合基を通(9) して縮合しているのが好筐しい。このような縮合反応は
米国特許明細置薬4,294,911号に於てさらに詳
細に説明されている。このようなキノンジアザイドの有
用な例は米国特許明細置薬4.294,911号中に列
記されており、その中、1.2−ナフトキノン−2−ジ
アザイド−5−スルホニルクロライドが最も好ましい。
ホニル、カルボニル、カルボニルオキシ、及びスルホニ
ルオキシ、から選ばれる結合基を通(9) して縮合しているのが好筐しい。このような縮合反応は
米国特許明細置薬4,294,911号に於てさらに詳
細に説明されている。このようなキノンジアザイドの有
用な例は米国特許明細置薬4.294,911号中に列
記されており、その中、1.2−ナフトキノン−2−ジ
アザイド−5−スルホニルクロライドが最も好ましい。
その中に記載されているノボラック樹脂はいずれも上記
縮合反応に対して使用してよい。最も好ましいのは、重
量平均分子量が1000と10,000の間のエステル
化したクレゾール−ホルムアルデヒド樹脂及ヒフエノー
ル−ホルムアルデヒド樹脂である。
縮合反応に対して使用してよい。最も好ましいのは、重
量平均分子量が1000と10,000の間のエステル
化したクレゾール−ホルムアルデヒド樹脂及ヒフエノー
ル−ホルムアルデヒド樹脂である。
有用なモノマー状キノンジアザイドはヒドロキシ置換芳
香族化合物ブたは炭素環式環状化合物のエステルとして
形成させて工い。このエステル結合は好1しくはスルホ
ン酸エステルまたはカルボン酸エステルのいずれかであ
る。ベンゾキノンジアザイド及びナフトキノンジアザイ
ドはともに有用であり、それの特定例は米国特許明細置
薬4.294,911号の第3欄、6〜35行に於て列
記されている。きわめて好ましいのは、ジーまたはトリ
ーヒドロキシ置換の、ベンゾフェノンのような芳香族化
合物及び炭素項式榎状化合物のジーまたはトリー1.2
−ナフトキノン−2−ジアザイド−5−スルホネートで
ある。
香族化合物ブたは炭素環式環状化合物のエステルとして
形成させて工い。このエステル結合は好1しくはスルホ
ン酸エステルまたはカルボン酸エステルのいずれかであ
る。ベンゾキノンジアザイド及びナフトキノンジアザイ
ドはともに有用であり、それの特定例は米国特許明細置
薬4.294,911号の第3欄、6〜35行に於て列
記されている。きわめて好ましいのは、ジーまたはトリ
ーヒドロキシ置換の、ベンゾフェノンのような芳香族化
合物及び炭素項式榎状化合物のジーまたはトリー1.2
−ナフトキノン−2−ジアザイド−5−スルホネートで
ある。
非感光性成分もレジスト組成物中に任意的に使用してよ
い。例えば、一つ以上の非感光性ポリマー粘結剤全音1
せるのが好ましい。このような粘結剤の例としては前述
の米国特許明細書箱4.294.911号中に列記され
ているものが挙げられ、最も特定的なものは、好1しく
は500と150000の間の重量平均分子量をもつア
ルキルメタクリレートのポリマー及びコポリマーである
。
い。例えば、一つ以上の非感光性ポリマー粘結剤全音1
せるのが好ましい。このような粘結剤の例としては前述
の米国特許明細書箱4.294.911号中に列記され
ているものが挙げられ、最も特定的なものは、好1しく
は500と150000の間の重量平均分子量をもつア
ルキルメタクリレートのポリマー及びコポリマーである
。
任意的には、本発明の現像液によって現像されるレジス
ト組成物中に感光性増強剤を使用してよい。このような
薬剤の例はRttsearch Disclosure
。
ト組成物中に感光性増強剤を使用してよい。このような
薬剤の例はRttsearch Disclosure
。
219巻、1982年7月、Itgm21906の中に
記載されているものが含まれる。特定的には、このよう
な薬剤は1個、2個筐たは3個の項をもつ多ハロゲン化
複素環式化合物であり、その核原子は炭素原子及び2個
から4個の窒素原子から成り、窒素原子の少くとも一つ
は水素と結合している。最も好筐しい例は多−・ロゲン
化ベンゾトリアゾール;1,2−ナフトトリアゾール;
インダゾール;6,7−ジーヒト0−5H−ピロロテト
ラゾール;及び1.8.4−イミダゾピリジンが含まれ
る。
記載されているものが含まれる。特定的には、このよう
な薬剤は1個、2個筐たは3個の項をもつ多ハロゲン化
複素環式化合物であり、その核原子は炭素原子及び2個
から4個の窒素原子から成り、窒素原子の少くとも一つ
は水素と結合している。最も好筐しい例は多−・ロゲン
化ベンゾトリアゾール;1,2−ナフトトリアゾール;
インダゾール;6,7−ジーヒト0−5H−ピロロテト
ラゾール;及び1.8.4−イミダゾピリジンが含まれ
る。
さらにその他の任意的成分は、染料、顔料、界面活性剤
、及び安定剤を包括し、これらはすべて慣用的なもので
ある。
、及び安定剤を包括し、これらはすべて慣用的なもので
ある。
レジスト組成物をつくりそれを基板または支持体上にコ
ーティングする方法、及びこの種のコーティングされた
組成物を露光する方法は慣用的なものであってさらに説
明を要しない。慣用的の基板または支持体はすべて有用
であり、解説例は前述の米国特許明細書箱4,294,
911号に現われている。
ーティングする方法、及びこの種のコーティングされた
組成物を露光する方法は慣用的なものであってさらに説
明を要しない。慣用的の基板または支持体はすべて有用
であり、解説例は前述の米国特許明細書箱4,294,
911号に現われている。
本発明の現像液は適切な苛性溶液によって提供される通
りの少くとも140のpHkもつ水溶液である。このよ
うなpHを提供するのに有効な溶質はすべて有用である
。好ましい溶質は無機水酸化物、テトラメチルアンモニ
ウムハイドロオキサイド、テトラエチルアンモニウムハ
イドロオキサイド、メチルトリエタノールアンモニウム
ハイドロオキサイド、珪酸ナトリウム、燐酸ナトリウム
と混合した珪酸す) IJウム、及び上記溶質の混合物
、から成る群から選ばれるものである。特に有用な無機
水酸化物はNaOH,NH4OH及びKOHを含む。珪
酸ナトリウムと燐酸三ナトリウムとの好ましい混合物は
珪酸塩対燐酸塩の比が約1対2と約2対1の範囲にある
ものである。最も好捷しいのは、このような混合物の場
合に於て、NaxSiO,・9H20が2−75重量%
でNcL3PO4・12H20が4.0重量%である溶
液である。(特記しないかぎり、ここで述べるすべての
溶液重量%は合計溶液の重量について測定したものであ
る。) この現像液の選択性は上述のカチオンの添加によって改
善される。テトラアルキルアンモニウムまたはホスホニ
ウムのカチオンの好ましい例は構造式 %式% をもつものであり、式中、nはエチル、プロピル、ブチ
ルなどのような2から7であり、Mはアンモニウムまた
はホスホニウムである。ベンジルトリアルキルアンモニ
ウムまたはホスホニウムのカチオンの好ましい例は構造
式 をもつものであって、式中、mは1から5であり例えば
メチル、エチル、プロピルなどであり、MLj7ンモニ
ウムまたはホスホニウムである。ベンジルトリアリール
アンモニウムまたはホスホニウムツカチオンの好ましい
例はベンジル) IJ フェニルアンモニウムまたはホ
スホニウムである。
りの少くとも140のpHkもつ水溶液である。このよ
うなpHを提供するのに有効な溶質はすべて有用である
。好ましい溶質は無機水酸化物、テトラメチルアンモニ
ウムハイドロオキサイド、テトラエチルアンモニウムハ
イドロオキサイド、メチルトリエタノールアンモニウム
ハイドロオキサイド、珪酸ナトリウム、燐酸ナトリウム
と混合した珪酸す) IJウム、及び上記溶質の混合物
、から成る群から選ばれるものである。特に有用な無機
水酸化物はNaOH,NH4OH及びKOHを含む。珪
酸ナトリウムと燐酸三ナトリウムとの好ましい混合物は
珪酸塩対燐酸塩の比が約1対2と約2対1の範囲にある
ものである。最も好捷しいのは、このような混合物の場
合に於て、NaxSiO,・9H20が2−75重量%
でNcL3PO4・12H20が4.0重量%である溶
液である。(特記しないかぎり、ここで述べるすべての
溶液重量%は合計溶液の重量について測定したものであ
る。) この現像液の選択性は上述のカチオンの添加によって改
善される。テトラアルキルアンモニウムまたはホスホニ
ウムのカチオンの好ましい例は構造式 %式% をもつものであり、式中、nはエチル、プロピル、ブチ
ルなどのような2から7であり、Mはアンモニウムまた
はホスホニウムである。ベンジルトリアルキルアンモニ
ウムまたはホスホニウムのカチオンの好ましい例は構造
式 をもつものであって、式中、mは1から5であり例えば
メチル、エチル、プロピルなどであり、MLj7ンモニ
ウムまたはホスホニウムである。ベンジルトリアリール
アンモニウムまたはホスホニウムツカチオンの好ましい
例はベンジル) IJ フェニルアンモニウムまたはホ
スホニウムである。
本発明のカチオン添加剤の最も好葦しい例はテトラエチ
ルアンモニウム、テトラプロピルアンモニウム、テトラ
ブチルアンモニウム、テトラペンチルアンモニウム、ペ
ンジルトリエチルアンモニラム、ベンジルトリフェニル
ホスホニウム、及ヒテトラプチルホスホニウムである。
ルアンモニウム、テトラプロピルアンモニウム、テトラ
ブチルアンモニウム、テトラペンチルアンモニウム、ペ
ンジルトリエチルアンモニラム、ベンジルトリフェニル
ホスホニウム、及ヒテトラプチルホスホニウムである。
本発明の添加剤は既知化合物でありそ1−で、(または
)慣用技術によって合成し得る。
)慣用技術によって合成し得る。
現像時間を約60秒より長くさせずかつ現像後の厚み減
少が≦10チである与えられたカチオン添加剤の実際の
濃度は、現像液の溶質と現像されるレジストの選択に依
存して変る。現像時間が60秒をこえないようにする選
択はある場合には添加剤の量に制限を置くことになる。
少が≦10チである与えられたカチオン添加剤の実際の
濃度は、現像液の溶質と現像されるレジストの選択に依
存して変る。現像時間が60秒をこえないようにする選
択はある場合には添加剤の量に制限を置くことになる。
非苛性性のカチオン例えばハライド、ホスフェート、ま
たはナイトレートをもつ添加剤については特にその通り
である。この群の中では、60秒またはそれより短い現
像時間をなおも可能とする虐はカチオンの化学式に依存
しニ一般的には存在する有機基が嵩高いほど、現像時間
が60秒をこえる前に、添加剤はより大きい保護を提供
しかつより少く使用することができる。この60秒の制
限(cut−off)時間に達するのに要するカチオン
添加量は、現像されるレジスト、現像液用に選択した溶
質、及び露光レジストを溶解するその溶質の能力に応じ
て変動する。ある与えられた溶質に対する例は以下の作
業例に示されている。
たはナイトレートをもつ添加剤については特にその通り
である。この群の中では、60秒またはそれより短い現
像時間をなおも可能とする虐はカチオンの化学式に依存
しニ一般的には存在する有機基が嵩高いほど、現像時間
が60秒をこえる前に、添加剤はより大きい保護を提供
しかつより少く使用することができる。この60秒の制
限(cut−off)時間に達するのに要するカチオン
添加量は、現像されるレジスト、現像液用に選択した溶
質、及び露光レジストを溶解するその溶質の能力に応じ
て変動する。ある与えられた溶質に対する例は以下の作
業例に示されている。
添加剤アニオンがそれ自体苛性である場合、例えばOH
○である場合には、添加剤の他の量が好ましい。このよ
うな場合には、添加剤の増加は葦たより多くの苛性物質
を導入する傾向がある。このことは、レジストの不溶性
部分への、事実−ヒその「不溶性」レジストの10チ以
上が消失する点壕での、攻撃を促進する。それ以−ヒの
消失は望1しくないと考えられる。特にこの制限は、添
加剤がテトラエチルアンモニウムハイドロオキサイドで
ある場合には、アルギル基の長さの減少に基づいておこ
るものであり、従ってアルキル基がレジストの不溶性部
分を保護する能力の減少に基づいておこる。しかしこの
後者の機構は現像液の溶質のより高い濃度に於てのみ作
用し得るものと思われ、その実際の値は現像されるレジ
ストに依存する。溶質がより低い濃度で存在しそしてテ
トラエチルアンモニウムハイドロオキサイドである場合
には、ある特定のレジストに関して使用するときにその
テトラエチルアンモニウムノ・イドロオキサイド添加剤
の有用範囲は、実施例及び図面に於てさらに十分に説明
するように、二様性であると思われる。
○である場合には、添加剤の他の量が好ましい。このよ
うな場合には、添加剤の増加は葦たより多くの苛性物質
を導入する傾向がある。このことは、レジストの不溶性
部分への、事実−ヒその「不溶性」レジストの10チ以
上が消失する点壕での、攻撃を促進する。それ以−ヒの
消失は望1しくないと考えられる。特にこの制限は、添
加剤がテトラエチルアンモニウムハイドロオキサイドで
ある場合には、アルギル基の長さの減少に基づいておこ
るものであり、従ってアルキル基がレジストの不溶性部
分を保護する能力の減少に基づいておこる。しかしこの
後者の機構は現像液の溶質のより高い濃度に於てのみ作
用し得るものと思われ、その実際の値は現像されるレジ
ストに依存する。溶質がより低い濃度で存在しそしてテ
トラエチルアンモニウムハイドロオキサイドである場合
には、ある特定のレジストに関して使用するときにその
テトラエチルアンモニウムノ・イドロオキサイド添加剤
の有用範囲は、実施例及び図面に於てさらに十分に説明
するように、二様性であると思われる。
鎖がより長い方のアルキル(炭素数6個寸たけ7個)は
水性現像液中に於てきわめて少量溶解する。しかし、以
下の実施例中で見られるように、このような少量、例え
ば約0.02重量%より少々い析、で効果がある。
水性現像液中に於てきわめて少量溶解する。しかし、以
下の実施例中で見られるように、このような少量、例え
ば約0.02重量%より少々い析、で効果がある。
上記の論議と以下の実施例により、現像液中でカチオン
を可溶とさせるアニオンはすべて有用であることがわか
る。好ましい例としては、塩化物、臭化物、沃化物、弗
化物、炭酸塩、燐酸塩、硝酸塩、及び水酸化物が含まれ
る。
を可溶とさせるアニオンはすべて有用であることがわか
る。好ましい例としては、塩化物、臭化物、沃化物、弗
化物、炭酸塩、燐酸塩、硝酸塩、及び水酸化物が含まれ
る。
本発明の方法の好ましい実施方法は、レジスト層を画像
露光し、それを本発明の現像液と約60秒より長くない
時間の間接触させることによって現像することである。
露光し、それを本発明の現像液と約60秒より長くない
時間の間接触させることによって現像することである。
実施例
(1’7)
以下の諸実施例は本発明をさらに説明するものである。
以下の実施例に於てはすべて、被隋されたレジストはハ
ントケミカル社から「1lPR−206」の商標で入手
できるレジストであって、次の組成をもっている: 2−エトキシエチルアセテート62.0酢酸ブチル
6.2キシレン
51この組
成物を直径5cmの5in2 ウェハー基板へスピン
コーティングによって施用して厚さ1.0または1.5
μmの乾燥フィルムを形成させ、90℃で30分間慣用
浴中で予備焼付けを行なった。このレジスト層を高解像
クロムマスクを通して200ワツトの水銀ランプを用い
るオリールプリンター(Oriel Pr1nter)
を用いて密着露光した。露光ウェハーを後述する現像液
処方の各々の中で露光r]I:I) したレジストのすべてが完全に除去される寸で22℃で
浸漬しひたした11処理した。二つの処理条件を評価1
−たh瓢一つは、露光レジストを完全に除去するのに要
する最短現像時間を決定することであり、他は、長時間
現像のラテイチュード(tyxtended deve
lopment 1atitude)を決定することで
ある。後者については、レジストフィルムの11ざの変
化を現像液中60秒浸漬後にスローンデクタク(Slo
an Dektαk)膜厚分析計で測定した。現像液の
選択性の尺度であるのは公称的には不溶であるレジスト
部分の厚み減少であり、すなわち、その減少が大きいほ
ど、選択性はわるい。
ントケミカル社から「1lPR−206」の商標で入手
できるレジストであって、次の組成をもっている: 2−エトキシエチルアセテート62.0酢酸ブチル
6.2キシレン
51この組
成物を直径5cmの5in2 ウェハー基板へスピン
コーティングによって施用して厚さ1.0または1.5
μmの乾燥フィルムを形成させ、90℃で30分間慣用
浴中で予備焼付けを行なった。このレジスト層を高解像
クロムマスクを通して200ワツトの水銀ランプを用い
るオリールプリンター(Oriel Pr1nter)
を用いて密着露光した。露光ウェハーを後述する現像液
処方の各々の中で露光r]I:I) したレジストのすべてが完全に除去される寸で22℃で
浸漬しひたした11処理した。二つの処理条件を評価1
−たh瓢一つは、露光レジストを完全に除去するのに要
する最短現像時間を決定することであり、他は、長時間
現像のラテイチュード(tyxtended deve
lopment 1atitude)を決定することで
ある。後者については、レジストフィルムの11ざの変
化を現像液中60秒浸漬後にスローンデクタク(Slo
an Dektαk)膜厚分析計で測定した。現像液の
選択性の尺度であるのは公称的には不溶であるレジスト
部分の厚み減少であり、すなわち、その減少が大きいほ
ど、選択性はわるい。
この厚み減少が対照標準物よりも小さい場合には、現像
液選択性が増加したことを示す。
液選択性が増加したことを示す。
さらに、α)初期クリーンアウト後、及びb)60秒間
現像後、の10.4μmのレジスト線の幅をピンカース
のlinage shearing測定系で測定し、比
較した。幅の差は項目△C,D、とじて次表に示しであ
る。
現像後、の10.4μmのレジスト線の幅をピンカース
のlinage shearing測定系で測定し、比
較した。幅の差は項目△C,D、とじて次表に示しであ
る。
実施例1−3 第1表は試験した現像液の組成を列記し
たものである。
たものである。
第 I 表
対照標準1 水中の100区のテトラメチルアンモニウ
ムハイドロオキサイド(10 %)。100cc、の蒸溜水。
ムハイドロオキサイド(10 %)。100cc、の蒸溜水。
対照標準2 水中の100cc−のテトラメチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。(追加の水なし)。
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。(追加の水なし)。
対照標準3 水中の100CI−のテトラエチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。400c、r−の蒸溜水。
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。400c、r−の蒸溜水。
対照標準4 水中の100cr−のテトラエチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。100cr−の蒸溜水。
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。100cr−の蒸溜水。
対照標準5 水中の100c10−のテトラエチルアン
モニウムハイドロオキサイド(10 チ〕。(追加の水なし)。
モニウムハイドロオキサイド(10 チ〕。(追加の水なし)。
対照標準6 水中の100cr−のテトラプロピルアン
モニウムハイドロオキサイド010 %)。200仁の蒸溜水。
モニウムハイドロオキサイド010 %)。200仁の蒸溜水。
対照様$7 水中の100匡のテトラプロピルアンモニ
ウムハイドロオキサイド(10 係)。(追加の水なし)。
ウムハイドロオキサイド(10 係)。(追加の水なし)。
刀11けり 水中の100cmr−のテトラブチルアン
モニウムハイドロオキサイド(10 %)。200Ceの蒸溜水。
モニウムハイドロオキサイド(10 %)。200Ceの蒸溜水。
対照標準9 水中の100菌のテトラブチルアンモニウ
ムハイドロオキサイド(10 %)。(追加の水なし)。
ムハイドロオキサイド(10 %)。(追加の水なし)。
対照標準10 水中の100cr−のテトラメチルア
ンモニウムハイドロオキサイド(10 チ)。800cr−の蒸溜水。
ンモニウムハイドロオキサイド(10 チ)。800cr−の蒸溜水。
実施例1 水中の100cr−のテトラメチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。296cr−の水。
ニウムハイドロオキサイド(10 %)。296cr−の水。
水中の4ccのテトラエチルアンモニ
ウムハイドロオキサイド(10%)。
夫」「ガ4 水中の100区のテトラメチルアンモニ
ウムハイドロオキサイド(10 %)。292区の蒸溜水。
ウムハイドロオキサイド(10 %)。292区の蒸溜水。
C21)
水中の8cr−のテトラエチルアンモニウムハイドロオ
キサイド(10%)。
キサイド(10%)。
対jffl標準11 水中の100ci−のテトラメ
チルアンモニウムハイドロオキサイド(10 チ)。284cQの蒸溜水。
チルアンモニウムハイドロオキサイド(10 チ)。284cQの蒸溜水。
水中の16第のテトラエチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド(10%)。
対照標準12 水中の100cLのテトラメチルアン
モニウムハイドロオキサイド(10 %)。275cr−の蒸溜水。
モニウムハイドロオキサイド(10 %)。275cr−の蒸溜水。
水中の25顧のテトラエチルアンモ
ニウムハイドロオキサイド(10%)。
対照標準13 水中の100ec、のテトラメチルア
ンモニウムハイドロオキサイド(10 %)。250cr−の蒸溜水。
ンモニウムハイドロオキサイド(10 %)。250cr−の蒸溜水。
水中の50cc、のテトラエチルアンモニウムハイドロ
オキサイド(10%)。
オキサイド(10%)。
実施例3 水中の100ωのテトラメチルアンモニウ
ムハイドロオキサイド(10 %)。200頭の蒸溜水。
ムハイドロオキサイド(10 %)。200頭の蒸溜水。
(22)
水中の100ccのテトラエチルアン
モニウムハイドロオギザイド(10
チ)。
第■表はその結果を示すものである。
(23)
一口剤の
対照標準1 5.0((L549) 12.
15 0対照標準2 10.0(1,
099) 12.30 0対照標準8
2.0 (0,186) −0対照標準4
5.0(0,84) 11.95
0対照標準5 10.0(0,68)
12.85 0対照標準6 3.3
8(0,164) 12.06 0対照
標準7 10.0(0,498) 11.98
0対照標準8 8.83(0,12
9) 12.04 0対照標準9
10.0(0,886) 12.06
0対照標準10 2.5(0,275) 1
2.2 01 2.5(0,2
75) −’ 0.0884”(0,0+2
2.5(0,275) −’
OA’l’l (0,01n照標準11
2.5(0,275) −’ 0.854
CO,OS対照標準12 2.5(0,27
5) −’ 0.558 (ol対照標
準18 2.5(0,275) −’
1.105 (0,Of8 2.5
(0,275) −’ 2.21
(0,17(24) 303− 量 現像速度 厚’4c少(埠) △C,D、Cμ
m)4 1000 −10.44
1000 −10.4ン120
現像せず 適用不能ン120 25 460 −2.45〉120 現
像せず 適用不能〉120 〉120 〉120 9 60”’ −0,17)7)
8’l 10”’ −0,0514
) 60 0 ”’ −C
浮キカず)a27) 90 0”1
適用不能8) 100 0°“
45) 75 20”1rO)
80 40”” −0−67米 特記
する以外は、初期のフィルム厚み1.000μmの側ボ
は適用全試料について±10μmである。蕗光はオリー
ルに対して5秒であった。
15 0対照標準2 10.0(1,
099) 12.30 0対照標準8
2.0 (0,186) −0対照標準4
5.0(0,84) 11.95
0対照標準5 10.0(0,68)
12.85 0対照標準6 3.3
8(0,164) 12.06 0対照
標準7 10.0(0,498) 11.98
0対照標準8 8.83(0,12
9) 12.04 0対照標準9
10.0(0,886) 12.06
0対照標準10 2.5(0,275) 1
2.2 01 2.5(0,2
75) −’ 0.0884”(0,0+2
2.5(0,275) −’
OA’l’l (0,01n照標準11
2.5(0,275) −’ 0.854
CO,OS対照標準12 2.5(0,27
5) −’ 0.558 (ol対照標
準18 2.5(0,275) −’
1.105 (0,Of8 2.5
(0,275) −’ 2.21
(0,17(24) 303− 量 現像速度 厚’4c少(埠) △C,D、Cμ
m)4 1000 −10.44
1000 −10.4ン120
現像せず 適用不能ン120 25 460 −2.45〉120 現
像せず 適用不能〉120 〉120 〉120 9 60”’ −0,17)7)
8’l 10”’ −0,0514
) 60 0 ”’ −C
浮キカず)a27) 90 0”1
適用不能8) 100 0°“
45) 75 20”1rO)
80 40”” −0−67米 特記
する以外は、初期のフィルム厚み1.000μmの側ボ
は適用全試料について±10μmである。蕗光はオリー
ルに対して5秒であった。
来米完全現像時の線幅(公称幅10.4μm)と60秒
後の幅との間の差に等しい。
後の幅との間の差に等しい。
1昧初期のフィルムの厚さは1.500μm(15,0
0OA)であった。露光はオリールに対して14秒であ
った。
0OA)であった。露光はオリールに対して14秒であ
った。
a、この浮きかすは結果を受は容れ不能とするには不十
分である。
分である。
b、この化合物の電量チは0.1である。このカチオン
はこの化合物の電縫の+30 /、47 に等しいの
で、このカチオンの重量%は0.0884でである。そ
の他のカチオンについての重量係も同じ方法で計算した
。
はこの化合物の電縫の+30 /、47 に等しいの
で、このカチオンの重量%は0.0884でである。そ
の他のカチオンについての重量係も同じ方法で計算した
。
C,カチオン添加剤の少量は溶質pHをさほど変えるこ
とがない。
とがない。
いくつかの重要な結果が第■表に示されている。
対照標準の中で、2.5重量%の、そして僅かに2.5
重量%の、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイ
ド自身が試験用レジストに対(−て受は答れ可能な現像
速度を提供する(対照標準10)けれども、テトラエチ
ルアンモニウムハイドロオキサイド自体は不満足である
。たとえ10重量%で使用しても(対照標準5を対照標
準8及び4と比較)、厚さの減少は許容できるものでは
ない(46%)。鎖がさらに長いテトラアルキルアンモ
ニウムハイドロオキサイドはどれも、試験濃度のすべて
に於て現像液の単独成分として使用するときには、働か
せることができなかった(テトラエチルからテトラペン
チルに至る、対照標準3〜9)。テトラメチルアンモニ
ウムハイドロオキサイドの2.5重量%溶液へ僅か0.
0884重量係重量上ラエチルアンモニウム−・イドロ
オギサイドを添加すると(実施例1)、厚み減少を60
μ情下させることにより、現像液選択性を増大させた。
重量%の、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイ
ド自身が試験用レジストに対(−て受は答れ可能な現像
速度を提供する(対照標準10)けれども、テトラエチ
ルアンモニウムハイドロオキサイド自体は不満足である
。たとえ10重量%で使用しても(対照標準5を対照標
準8及び4と比較)、厚さの減少は許容できるものでは
ない(46%)。鎖がさらに長いテトラアルキルアンモ
ニウムハイドロオキサイドはどれも、試験濃度のすべて
に於て現像液の単独成分として使用するときには、働か
せることができなかった(テトラエチルからテトラペン
チルに至る、対照標準3〜9)。テトラメチルアンモニ
ウムハイドロオキサイドの2.5重量%溶液へ僅か0.
0884重量係重量上ラエチルアンモニウム−・イドロ
オギサイドを添加すると(実施例1)、厚み減少を60
μ情下させることにより、現像液選択性を増大させた。
カチオン添加剤の量を2倍にすると(実施例2)厚み減
少は本質上全くなくなった。
少は本質上全くなくなった。
対照標準10、実施例1〜3、及びχ・1照標準11〜
13のデーターは第1図の曲線10のプロットの基礎で
ある。カチオン濃度が0.2重−1#チと1.1重性チ
の間で、曲線は酸大値の位置が明らかでないので点線で
示されている。曲l1i1i!10の重要性は、現像速
度が60秒をこえるべきでないという基準に従うと、結
果が二様性であることである。この具体化に於ける許容
できる結果のためには、テトラエチルアンモニウムカチ
オン添加剤の量は約0.2重量%より小さいかあるいは
約1.5重量%より大きい。
13のデーターは第1図の曲線10のプロットの基礎で
ある。カチオン濃度が0.2重−1#チと1.1重性チ
の間で、曲線は酸大値の位置が明らかでないので点線で
示されている。曲l1i1i!10の重要性は、現像速
度が60秒をこえるべきでないという基準に従うと、結
果が二様性であることである。この具体化に於ける許容
できる結果のためには、テトラエチルアンモニウムカチ
オン添加剤の量は約0.2重量%より小さいかあるいは
約1.5重量%より大きい。
実施例1の方法を繰返したが、しかし現像液の溶質であ
るより大きい濃度のテトラメチルアンモニウムハイドロ
オキサイド(3,3重量%)ヲ用いた。このように、対
照標準14はテトラメチルアンモニウム−・イドロオキ
サイドのこの濃度を増加させた唯一のものである。実施
例4〜9に対する添加剤は各々の場合、テトラエチルア
ンモニウムハイドロオキサイドであった。添加剤のカチ
オン部分の濃度と結果は第■表に示されている。対照標
準15は2.95重i−%のカチオン添加剤を用いてつ
くった。
るより大きい濃度のテトラメチルアンモニウムハイドロ
オキサイド(3,3重量%)ヲ用いた。このように、対
照標準14はテトラメチルアンモニウム−・イドロオキ
サイドのこの濃度を増加させた唯一のものである。実施
例4〜9に対する添加剤は各々の場合、テトラエチルア
ンモニウムハイドロオキサイドであった。添加剤のカチ
オン部分の濃度と結果は第■表に示されている。対照標
準15は2.95重i−%のカチオン添加剤を用いてつ
くった。
第■表
対照標準14 ;(,88(0,866) 1
2.14 00 (00)実施例4 8.3
8(0,866) 0.0884(0,0
07)実施例5 8J3(0,366)
0.177(0,014)実施例6 8.88(l
J、866) 0.854(0,027)
実施例7 3.83(0,366) (
1,581(0,041)実施例8 819(0,8
66) 0.787(0,057)実施例
9 8.88(0,866) 1.48
(0,113)対照標準15 8.88(0,3
66) 2.95 (0,226)
憂 初期のフィルムの厚さ:1,500μm(15,0
OOA);オ現像速度 厚み減少(μm) △C,D
、Cμm)5 320 −0.0628
100 −(L1711 40
−0.1510 80 −
0.0518 80 −0.297
20 〜0.15 7 120 −0.115 57
0 − L52υ−ルへの露光、14秒。
2.14 00 (00)実施例4 8.3
8(0,866) 0.0884(0,0
07)実施例5 8J3(0,366)
0.177(0,014)実施例6 8.88(l
J、866) 0.854(0,027)
実施例7 3.83(0,366) (
1,581(0,041)実施例8 819(0,8
66) 0.787(0,057)実施例
9 8.88(0,866) 1.48
(0,113)対照標準15 8.88(0,3
66) 2.95 (0,226)
憂 初期のフィルムの厚さ:1,500μm(15,0
OOA);オ現像速度 厚み減少(μm) △C,D
、Cμm)5 320 −0.0628
100 −(L1711 40
−0.1510 80 −
0.0518 80 −0.297
20 〜0.15 7 120 −0.115 57
0 − L52υ−ルへの露光、14秒。
(29)
明らかに、厚み減少をもとの厚さの10チより小さくす
るには僅か0.0884車量チで十分である(実施例4
)。結果のプロットは許容し得る厚み減少(150μm
)の上限が約1.6重量%に於であることを示している
。これらの実施例は、カチオン添加剤の有用濃度範囲を
きめるのは60秒の現像時限制限の他に選択性改善が必
要であるという点に於て実施例1〜2と異なる。
るには僅か0.0884車量チで十分である(実施例4
)。結果のプロットは許容し得る厚み減少(150μm
)の上限が約1.6重量%に於であることを示している
。これらの実施例は、カチオン添加剤の有用濃度範囲を
きめるのは60秒の現像時限制限の他に選択性改善が必
要であるという点に於て実施例1〜2と異なる。
これらの実施例の目的は、本発明が在来技術に述べる同
族技術のすぐ近隣の技術と比べてすぐれた現像液選択性
を提供することを示すことである。
族技術のすぐ近隣の技術と比べてすぐれた現像液選択性
を提供することを示すことである。
特定的にいえば、実施例4の方法を繰返したが、ただし
、対照標準はウェイコートポジティブLSI金属イオン
フリー現像液の商標名で−・ントケミカル社から入手で
きる現像液の類似品であり、この中では、テトラメチル
アンモニウムハイドロオキサイドの一部は炭酸塩化され
ていた。このような対照標準を得るためには、各種濃度
のテトラメチ(30) ルアンモニウムカーボネート(以後は、TkfACOs
)を第■表に示すように3.3重量%のテトラメチルア
ンモニウムハイドロオキサイドへ添加した。実施例10
〜12は記載の濃度のテトラエチルアンモニウムカーボ
ネート(以後は、TEACO3)を3.8重量%のテト
ラメチルアンモニウムハイドロオキサイドへ添加するこ
とによって調製した。結果を第■表に示す。
、対照標準はウェイコートポジティブLSI金属イオン
フリー現像液の商標名で−・ントケミカル社から入手で
きる現像液の類似品であり、この中では、テトラメチル
アンモニウムハイドロオキサイドの一部は炭酸塩化され
ていた。このような対照標準を得るためには、各種濃度
のテトラメチ(30) ルアンモニウムカーボネート(以後は、TkfACOs
)を第■表に示すように3.3重量%のテトラメチルア
ンモニウムハイドロオキサイドへ添加した。実施例10
〜12は記載の濃度のテトラエチルアンモニウムカーボ
ネート(以後は、TEACO3)を3.8重量%のテト
ラメチルアンモニウムハイドロオキサイドへ添加するこ
とによって調製した。結果を第■表に示す。
(32)
はぼ等重量%のカチオン添那剤について、T EACO
sはTMACO3を含有するハント現像液である同族と
近隣のものよシ厚み減少ははるかに小さく、従って現像
選択性がはるかに良い。
sはTMACO3を含有するハント現像液である同族と
近隣のものよシ厚み減少ははるかに小さく、従って現像
選択性がはるかに良い。
実 施 例 13〜24 嵩増加の効果これらの実施例
は添加剤のアルキル部分の鎖長増加、従って嵩の増大の
効果を確かめるために実施した。実施例4の方法を繰返
したが、ただし添加剤は第7表に記載のものである。対
照標準19〜26は表中記載の量のカチオン添加剤を用
いて得られた。
は添加剤のアルキル部分の鎖長増加、従って嵩の増大の
効果を確かめるために実施した。実施例4の方法を繰返
したが、ただし添加剤は第7表に記載のものである。対
照標準19〜26は表中記載の量のカチオン添加剤を用
いて得られた。
(33)
306−
第 V 表
相対的の現像液選択性
対照標準14− な し 00
(00)実施例13 テトラメチルアンモ
0.259 (0,(+ 20 )ニウムクロラ
イド 実施例14 、 1.31
(0,100)対照標準19
2−62 (0,201)実施例15
テトラプロピルアン (1,277(0,0
15)モニウムクロライド 実施例16 0.140
(0,0075)実施例17
0.28 (0,015)対照標準20
0.563 (0,0
80)実施例18 テトラブチルアンモ 0.
014 (0,0006)ニウムクロライド 実施例19 0.0296
(−)実施例20 0.(
1576(−)対照標準21
0.146 (−)5 820
−0.625 60
−0.1012 2 (+
−(1,06>60 20 不完
全現像6 110 −0.51 6 20 −0.27 10 0 −0.20 〉60 0 不完全現像 6 40 −0.28 6 40 −0.28 7 0 −0.01 ン60 0 不完全現像 (O傷] 第 V 表 (続き) 実施例21 テトラペンチルアン 0.000
89 (−)モニウムクロライド 実施例22 +1.00
45 (−)実施例28
0.015 (0,0005)実施例24
0.080 (0,001)対
照標準22 0.059
(0,002)対照標準28 テトラメチ
ルアンモ 0.113 (0,015)ニウムク
ロライド 対照標準24 0.22
6 (−)対照標準251.18(−) 対照標準262.26(−) −4JJ期フィルム厚み−1,500μm(15,(1
0o、j )、露光:井昔第■表からとった。
(00)実施例13 テトラメチルアンモ
0.259 (0,(+ 20 )ニウムクロラ
イド 実施例14 、 1.31
(0,100)対照標準19
2−62 (0,201)実施例15
テトラプロピルアン (1,277(0,0
15)モニウムクロライド 実施例16 0.140
(0,0075)実施例17
0.28 (0,015)対照標準20
0.563 (0,0
80)実施例18 テトラブチルアンモ 0.
014 (0,0006)ニウムクロライド 実施例19 0.0296
(−)実施例20 0.(
1576(−)対照標準21
0.146 (−)5 820
−0.625 60
−0.1012 2 (+
−(1,06>60 20 不完
全現像6 110 −0.51 6 20 −0.27 10 0 −0.20 〉60 0 不完全現像 6 40 −0.28 6 40 −0.28 7 0 −0.01 ン60 0 不完全現像 (O傷] 第 V 表 (続き) 実施例21 テトラペンチルアン 0.000
89 (−)モニウムクロライド 実施例22 +1.00
45 (−)実施例28
0.015 (0,0005)実施例24
0.080 (0,001)対
照標準22 0.059
(0,002)対照標準28 テトラメチ
ルアンモ 0.113 (0,015)ニウムク
ロライド 対照標準24 0.22
6 (−)対照標準251.18(−) 対照標準262.26(−) −4JJ期フィルム厚み−1,500μm(15,(1
0o、j )、露光:井昔第■表からとった。
(35)
307−
6 110 −(LOO650+0
.05 6 10 −0.087
0 −0.04〉60 0
不完全現像 5 240 −0.78 5 290 −0.06 5 500 −1.00 5 1500 −10.4オリールに対
して14秒。
.05 6 10 −0.087
0 −0.04〉60 0
不完全現像 5 240 −0.78 5 290 −0.06 5 500 −1.00 5 1500 −10.4オリールに対
して14秒。
これらの実施例は、アルキル鎖が畏いほど添加剤は少く
てすむことを示しており、そして事実、厚み減少の所望
の低下をもたらすことが許容され得る。アルキルがペン
チルであるときには、0.059重量%では現像時間を
60秒より長くするので多すぎる(対照標準22)。テ
トラ波ンチルアンモニウムクロライドについての好筐し
い範囲は0.0008から0.05重量%である第2図
は実施例13〜24のテトラアルキルカチオン中に存在
する炭素原子数に対して、20〜40 pmC200〜
400 A )の厚み減少をもたらすのに必要な重量%
をプロットしたものである。
てすむことを示しており、そして事実、厚み減少の所望
の低下をもたらすことが許容され得る。アルキルがペン
チルであるときには、0.059重量%では現像時間を
60秒より長くするので多すぎる(対照標準22)。テ
トラ波ンチルアンモニウムクロライドについての好筐し
い範囲は0.0008から0.05重量%である第2図
は実施例13〜24のテトラアルキルカチオン中に存在
する炭素原子数に対して、20〜40 pmC200〜
400 A )の厚み減少をもたらすのに必要な重量%
をプロットしたものである。
曲線20の点線部分は僅か20〜40μm(200〜4
00A)の厚み減少をもたらすのに有効であるはずのテ
トラヘキシルアンモニウムカチオン及びテトラヘプチル
アンモニウムカチオンの推定重量%ヲ示すものであり、
それぞれ、約0.0115及び0.01より犬きくない
。これらは塩化物アニオンと一緒に用いるときのこれら
のカチオンの既知の水中溶解度よりもはるかに小さい(
それぞれ、0.08及び0.02モル当量)。
00A)の厚み減少をもたらすのに有効であるはずのテ
トラヘキシルアンモニウムカチオン及びテトラヘプチル
アンモニウムカチオンの推定重量%ヲ示すものであり、
それぞれ、約0.0115及び0.01より犬きくない
。これらは塩化物アニオンと一緒に用いるときのこれら
のカチオンの既知の水中溶解度よりもはるかに小さい(
それぞれ、0.08及び0.02モル当量)。
実施例18〜20と対照標準21は、カチオンがテトラ
ブチルアンモニウムであるときの好ましい濃度範囲が溶
液の約0.01重量%と0.1市債チとの間にあること
を示している。
ブチルアンモニウムであるときの好ましい濃度範囲が溶
液の約0.01重量%と0.1市債チとの間にあること
を示している。
対照標準23〜26は、本発明の部分ではないテトラエ
チルアンモニウムクロライド添加剤力150μm(15
00A)(10%)より犬きくない厚み減少をもたらし
得ないことを説明するために含唸れている。
チルアンモニウムクロライド添加剤力150μm(15
00A)(10%)より犬きくない厚み減少をもたらし
得ないことを説明するために含唸れている。
実施例4の方法を繰返したが、ただし、添加剤は第■表
に記載のものであった。
に記載のものであった。
実 施 例 31〜36 アニオンを変えても差がな
い 実施例4の方法を繰返したが、しかし第■表のアニオン
だけが異なる添加剤を便用した。
い 実施例4の方法を繰返したが、しかし第■表のアニオン
だけが異なる添加剤を便用した。
実例37 ホスホニウム添加削の例実施例32の方
法を繰返したが、ただ1〜カチオン添加削は0.002
4モル当tco、o7屯量%)のテトラブチルホスホニ
ウムブロマイドであった。
法を繰返したが、ただ1〜カチオン添加削は0.002
4モル当tco、o7屯量%)のテトラブチルホスホニ
ウムブロマイドであった。
結果は、現像時間−7秒、厚み減少(60秒に於ける)
−〇 、 △C,D、= 0.2411mであった
。これらの結果は実施例32と十分に匹敵する。
−〇 、 △C,D、= 0.2411mであった
。これらの結果は実施例32と十分に匹敵する。
実 施 例 88 NaOH溶質との使用実施例23
の方法を繰返]〜だが、ただし現像液の溶質は3.3重
量%のテトラエチルアンモニウム・・イドロオキサイド
でなくて、ウェイコートポジティブLSI現像液の商標
名でハントケミケル社から得られる現像液を基体とする
NaOHであり、12.80のpHを提供した。結果は
次の通りであった。現像時間−40秒、厚み減少(60
秒に於ける)−〇、及び△C,D、= 0゜対照標準と
してこの方法を繰返したが、しかし添加剤なしでウェイ
コートポジティブLSI現像液を用いた。現像時間は9
秒で、460 μm(4600A )の厚み減少をおこ
し、△C,D、は−1,60μmであった。
の方法を繰返]〜だが、ただし現像液の溶質は3.3重
量%のテトラエチルアンモニウム・・イドロオキサイド
でなくて、ウェイコートポジティブLSI現像液の商標
名でハントケミケル社から得られる現像液を基体とする
NaOHであり、12.80のpHを提供した。結果は
次の通りであった。現像時間−40秒、厚み減少(60
秒に於ける)−〇、及び△C,D、= 0゜対照標準と
してこの方法を繰返したが、しかし添加剤なしでウェイ
コートポジティブLSI現像液を用いた。現像時間は9
秒で、460 μm(4600A )の厚み減少をおこ
し、△C,D、は−1,60μmであった。
第1図は現像液添加剤テトラエチルアンモニウムハイド
ロオキサイドの濃度を現像時間に対してプロットしたグ
ラフであり、 第2図は20から40#m(200から40OA)の厚
み減少を得るのに必要とする添加剤カチオン、テトラア
ルキルアンモニウム、の重量%をアルキル成分中の炭素
原子数に対してプロットした半対数グラフである。 特許出願人 イーストマン・コダック・カンパニー浸
希斥各〜軟 纂2図 手 続 補 正 書 昭和58年4月な1 特許庁長官 若杉和夫 殿 上事件の表示 昭和58年特許願第 8014 号 2、発明の名称 ボン型感光性組成物用の現像溶液 ろ、補正をする者 事件との関係 !特許出願人 住所 名 称 (707)イーストマン・コダック・カンパ
ニー4゜代理人 5、補正の対象 6補正の内容 明細書第68頁表Vlの最左桐1「[1段の「ロス÷1
を削除し、最右欄中段の「接着」を「接着低下→÷←」
に訂正する。 以」−
ロオキサイドの濃度を現像時間に対してプロットしたグ
ラフであり、 第2図は20から40#m(200から40OA)の厚
み減少を得るのに必要とする添加剤カチオン、テトラア
ルキルアンモニウム、の重量%をアルキル成分中の炭素
原子数に対してプロットした半対数グラフである。 特許出願人 イーストマン・コダック・カンパニー浸
希斥各〜軟 纂2図 手 続 補 正 書 昭和58年4月な1 特許庁長官 若杉和夫 殿 上事件の表示 昭和58年特許願第 8014 号 2、発明の名称 ボン型感光性組成物用の現像溶液 ろ、補正をする者 事件との関係 !特許出願人 住所 名 称 (707)イーストマン・コダック・カンパ
ニー4゜代理人 5、補正の対象 6補正の内容 明細書第68頁表Vlの最左桐1「[1段の「ロス÷1
を削除し、最右欄中段の「接着」を「接着低下→÷←」
に訂正する。 以」−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ボン型感光性組成物用の、pHを少くとも12.0
とするのに有効な溶質を含む現像液であって; その液は、アルキル基が2個から7個の炭素原子をもつ
テトラアルキルアンモニウムまたはホスホニウム、アル
キル基1J(1個から7個の炭素原子をもつベンジルト
リアルキルアンモニウムまたはホスホニウム、及びアリ
ール基が6個から101固の核炭素をもつベンジルトリ
アリールアンモニウムまたはホスホニウム、から選ばれ
るカチオン、並びにそのカチオンに対するアニオンを含
み;そのカチオンはa)溶質のカチオンとは異なるもの
でありかつb)1)重量平均分子量約6000のクレゾ
ール−ホルムアルデヒド樹脂と2)その樹脂の約18重
量%のトリヒドロキシベンゾフェノンのキノンジアザイ
ドスルホン酸エステルとかう混(1) 合状態で成る十分に画像露光したレジスト組成物に対し
て、溶質と一緒になって、現像時間を約60秒より短か
くする一酸で存在し、このカチオンのこの醍が現像液の
選択性を増加させるようなものでもある;ことを特徴と
する現像溶液。 2、溶質がテトラメチルアンモニウムハイドロオキサイ
ドである、特許請求の範囲第1項に記載の現像液。 3、カチオンがテトラ被ンチルアンモニウムである、特
許請求の範囲第1項に記載の現像液。 4、カチオンが溶液の重量で0.0008%から0.0
5%の量で存在するテトラペンチルアンモニウムである
、特許請求の範囲第2項に記載の現像液。 5、上記カチオンがテトラブチルアンモニウム筐たはホ
スホニウムである、特許請求の範囲第2項に記載の現像
液。 6、溶質が溶液の重量で約3.3%の量で存在し、カチ
オンが溶液の重量で0.01%から0.1%の量で存在
する、特許請求の範囲第5項に記載の現像t′)) 液。 7.カチオンがテトラエチルアンモニウムである、特許
請求の範囲第1項に記載の現像液。 8、溶質が溶液の重量で約2.5チの量で存在し、カチ
オンが溶液の重量で約0.2チより少ないかあるいは約
1.5チより多いかのいずれかの量で存在する、特許請
求の範囲第7項に記載の現像液。 9、溶質が溶液の重量で約3.3チの量で存在し、カチ
オンが溶液の重量で0.08チから1.6%の量で存在
する、特許請求の範囲第7項に記載の現像液。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/341,419 US4423138A (en) | 1982-01-21 | 1982-01-21 | Resist developer with ammonium or phosphonium compound and method of use to develop o-quinone diazide and novolac resist |
| US341419 | 1982-01-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58150949A true JPS58150949A (ja) | 1983-09-07 |
| JPH0234382B2 JPH0234382B2 (ja) | 1990-08-02 |
Family
ID=23337483
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58008014A Granted JPS58150949A (ja) | 1982-01-21 | 1983-01-20 | ポジ型感光性組成物用の現像溶液 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4423138A (ja) |
| EP (1) | EP0089249B1 (ja) |
| JP (1) | JPS58150949A (ja) |
| CA (1) | CA1176901A (ja) |
| DE (1) | DE3376769D1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US4741989A (en) * | 1983-04-01 | 1988-05-03 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Positive photoresist aqueous developer solution containing quaternary ammonium hydroxide with aliphatic ketone or cyclic ether alone or with amine as development modifier |
| US4833067A (en) * | 1985-08-06 | 1989-05-23 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Developing solution for positive-working photoresist comprising tmah and non-ionic surfactant |
| JP2011137890A (ja) * | 2009-12-25 | 2011-07-14 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | フォトリソグラフィ用現像液の製造方法及び製造装置 |
| JP2015028576A (ja) * | 2013-07-01 | 2015-02-12 | 富士フイルム株式会社 | パターン形成方法 |
| TWI514092B (zh) * | 2009-12-25 | 2015-12-21 | 東京應化工業股份有限公司 | Microscope with concentrated developer |
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| US4628023A (en) * | 1981-04-10 | 1986-12-09 | Shipley Company Inc. | Metal ion free photoresist developer composition with lower alkyl quaternary ammonium hydrozide as alkalai agent and a quaternary ammonium compound as surfactant |
| DE3230171A1 (de) * | 1982-08-13 | 1984-02-16 | Hoechst Ag, 6230 Frankfurt | Waessrig-alkalische loesung und verfahren zum entwickeln von positiv-arbeitenden reproduktionsschichten |
| JPS59219743A (ja) * | 1983-05-28 | 1984-12-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | ポジ型レジスト現像液 |
| US4606999A (en) * | 1983-12-21 | 1986-08-19 | Thiokol Corporation | Development of positive photoresists using cyclic quaternary ammonium hydroxides |
| US4556629A (en) * | 1983-12-21 | 1985-12-03 | Morton Thiokol, Inc. | Developer composition for positive photoresists using solution with cyclic quaternary ammonium hydroxides |
| US4711836A (en) * | 1984-09-10 | 1987-12-08 | Olin Hunt Specialty Products, Inc. | Development of positive-working photoresist compositions |
| JPH063549B2 (ja) * | 1984-12-25 | 1994-01-12 | 株式会社東芝 | ポジ型フォトレジスト現像液組成物 |
| JPH0727219B2 (ja) * | 1985-04-26 | 1995-03-29 | 日立化成工業株式会社 | ネガ型感光性組成物用現像液 |
| JPS62160441A (ja) * | 1986-01-09 | 1987-07-16 | Hitachi Chem Co Ltd | ホトレジスト用感光性組成物 |
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| JPH0284776U (ja) * | 1988-12-21 | 1990-07-02 | ||
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| US6936398B2 (en) | 2001-05-09 | 2005-08-30 | Massachusetts Institute Of Technology | Resist with reduced line edge roughness |
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1982
- 1982-01-21 US US06/341,419 patent/US4423138A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-06-25 CA CA000405991A patent/CA1176901A/en not_active Expired
-
1983
- 1983-01-20 JP JP58008014A patent/JPS58150949A/ja active Granted
- 1983-01-20 EP EP83400134A patent/EP0089249B1/en not_active Expired
- 1983-01-20 DE DE8383400134T patent/DE3376769D1/de not_active Expired
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| EP0089249B1 (en) | 1988-05-25 |
| CA1176901A (en) | 1984-10-30 |
| EP0089249A3 (en) | 1984-07-25 |
| DE3376769D1 (en) | 1988-06-30 |
| JPH0234382B2 (ja) | 1990-08-02 |
| US4423138A (en) | 1983-12-27 |
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