JPS58188968A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPS58188968A JPS58188968A JP57071850A JP7185082A JPS58188968A JP S58188968 A JPS58188968 A JP S58188968A JP 57071850 A JP57071850 A JP 57071850A JP 7185082 A JP7185082 A JP 7185082A JP S58188968 A JPS58188968 A JP S58188968A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- main surface
- solid
- substrate
- processing circuit
- signal processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/73—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors using interline transfer [IT]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(川 発明の技術分野
本発明は一次元あるいは二次元の固体撮lII装置に係
り、特に入射光に感応する受光素子と、該受光素子で光
電変換された信号電荷を処理するだめの回路素子とを供
えた固体撮像装置の構造に関するものである。
り、特に入射光に感応する受光素子と、該受光素子で光
電変換された信号電荷を処理するだめの回路素子とを供
えた固体撮像装置の構造に関するものである。
(b 技術の背景
近年、受光素子を多素子化して高解像度の固体撮像装置
を実現すべく集積度を向上させる研究・開発がなされて
いる。
を実現すべく集積度を向上させる研究・開発がなされて
いる。
+(3+ 従来技術と間部点
第1図は従来の固体撮像装置を説明するための概念的な
L面図であり、この場f&8X8のインクフィン転送方
式の二次元固体撮儂装置を例示している。
L面図であり、この場f&8X8のインクフィン転送方
式の二次元固体撮儂装置を例示している。
第1図において、半導体基板lの一生面玉に受光素子2
がマトリックス状に配設され、各縦列ごとに配列された
各受光素子2に対応して移送グー)TOと垂直シフトレ
ジスタVSが配設されている。また各垂直シフトレジス
タvSからの信号電荷を時系列的に出力するための水平
シフトレジヌタf(Sおよび出力増幅器AMPが配設さ
れている。
がマトリックス状に配設され、各縦列ごとに配列された
各受光素子2に対応して移送グー)TOと垂直シフトレ
ジスタVSが配設されている。また各垂直シフトレジス
タvSからの信号電荷を時系列的に出力するための水平
シフトレジヌタf(Sおよび出力増幅器AMPが配設さ
れている。
、かかる固体撮像装置において、受光素子2に入射した
光は該受光素子内で光tge換されて信号電荷を発生す
る。該信号電荷は該受光素子内に一時蓄積される。一定
時間蓄積された該信号電荷は移送ゲートTGが開かれる
と垂直シフトレジヌタvSに移送され、該垂直シフトレ
ジスタVS内を順次転送したのち水平シフトレノスタE
(Sへ並列的ニ移る・さらに該信号電荷は該水平シフト
レジスタH8内を輸送されて出力増幅1(l A M
Pで電圧に変換され時系列的に読み出される。なお第1
図中の矢印は上記信号電荷の流れを示している。
光は該受光素子内で光tge換されて信号電荷を発生す
る。該信号電荷は該受光素子内に一時蓄積される。一定
時間蓄積された該信号電荷は移送ゲートTGが開かれる
と垂直シフトレジヌタvSに移送され、該垂直シフトレ
ジスタVS内を順次転送したのち水平シフトレノスタE
(Sへ並列的ニ移る・さらに該信号電荷は該水平シフト
レジスタH8内を輸送されて出力増幅1(l A M
Pで電圧に変換され時系列的に読み出される。なお第1
図中の矢印は上記信号電荷の流れを示している。
上述したような構成の固体撮像装置においては各受光素
子2が転送ゲートTO,垂1[シフトレンヌタvSおよ
び水平シフトレンメタH8等の信号処理回路素子と同−
基板玉に構成されているため、基板l内に占める有効受
光面積の割合は低下し、かつ解像度向丘の妨げとなって
いた。
子2が転送ゲートTO,垂1[シフトレンヌタvSおよ
び水平シフトレンメタH8等の信号処理回路素子と同−
基板玉に構成されているため、基板l内に占める有効受
光面積の割合は低下し、かつ解像度向丘の妨げとなって
いた。
(■ 発明の目的
本発明は丘記従来の欠点に鑑み、半4体抵板の両主面を
有効に利用することで集積ifを飛躍的に向上させ、も
って高解像度の固体撮像装置を提供することを目的とす
るものである。
有効に利用することで集積ifを飛躍的に向上させ、も
って高解像度の固体撮像装置を提供することを目的とす
るものである。
+611 発明の構成
そしてこの目的は本発明によれば半4体基板の一主面と
に光電変換素子である受光調子を配設し、池の一王面北
に該受光素子からの信号電荷を処理するための回路素子
を配設し、かつ前記受光素子に設けた信号電荷の出力端
と前記回路素子に前記信号vi1.荷を導入する入力端
とを電気的に接続するための前記基板と通導111c型
の不純物層を該基板を繊゛通して設けたことを特做とす
る固体撮像装置を提供することによって1a成できる。
に光電変換素子である受光調子を配設し、池の一王面北
に該受光素子からの信号電荷を処理するための回路素子
を配設し、かつ前記受光素子に設けた信号電荷の出力端
と前記回路素子に前記信号vi1.荷を導入する入力端
とを電気的に接続するための前記基板と通導111c型
の不純物層を該基板を繊゛通して設けたことを特做とす
る固体撮像装置を提供することによって1a成できる。
(わ 発明の実施例
、以F本発明の実施例を図面によって詳述する。
第2図は本発明による固体撮像装置の一受光素子を含む
囃位構成を示す概略図であり、第2図(川あ・よび+C
+はそれぞれ基板の表裏各面く形成された受光素子およ
び信号処理回路素子の平面図を、第2図(至)は第2図
μ)およびtc+ノx −x’、Y −Y’断面を示す
図である。
囃位構成を示す概略図であり、第2図(川あ・よび+C
+はそれぞれ基板の表裏各面く形成された受光素子およ
び信号処理回路素子の平面図を、第2図(至)は第2図
μ)およびtc+ノx −x’、Y −Y’断面を示す
図である。
同図において、IOは例えばp型s1ウェハからなる半
導体基板であって、該基板ioの一主面tOaの表一部
にイオン注入または熱拡散法により ”て
形成したn型不純物層からなる受光部11が形成されて
おり、該受光部の周辺は高濃度のp型不純物−からなる
或荷堰12で囲まれている。一方基板10の也の一主面
上tabには、例えばS1酸化@(S1υ1I)18を
介して移送グー)TGおよび垂直シフトレジスタとなる
電荷結合装置の転送電極ダl、ダ2.43.貞4等が配
設されて信号処理回の 路素子を形成している。そして、前記受光部2出力端1
4と信号処理回路素子の入力端15とをwL電気的闇続
するため前記基板10と通導を型の不純物層である高濃
度のn型不純物層16が基板10の両主面toa、
tabを貫通するよう形成されている。
導体基板であって、該基板ioの一主面tOaの表一部
にイオン注入または熱拡散法により ”て
形成したn型不純物層からなる受光部11が形成されて
おり、該受光部の周辺は高濃度のp型不純物−からなる
或荷堰12で囲まれている。一方基板10の也の一主面
上tabには、例えばS1酸化@(S1υ1I)18を
介して移送グー)TGおよび垂直シフトレジスタとなる
電荷結合装置の転送電極ダl、ダ2.43.貞4等が配
設されて信号処理回の 路素子を形成している。そして、前記受光部2出力端1
4と信号処理回路素子の入力端15とをwL電気的闇続
するため前記基板10と通導を型の不純物層である高濃
度のn型不純物層16が基板10の両主面toa、
tabを貫通するよう形成されている。
かくして、上述したような構e、を用いて、例えば8X
8のマ) IJツクヌ配列の固体撮像装置を作成すれば
、第8図のようになる。この−図から明らかなように信
号処理回路素子が受光素子21の配設面上にないため該
受光素子21を近接配置できて集積度を飛躍的に向丘さ
せ得る。第8図において、20は半導体基板、22は該
基板20と逆導電型の不純物層で前期受光素子21と図
示していない池の一主面上に配設された信号処理回路素
子とを電気的に接続する役目をもっている。
8のマ) IJツクヌ配列の固体撮像装置を作成すれば
、第8図のようになる。この−図から明らかなように信
号処理回路素子が受光素子21の配設面上にないため該
受光素子21を近接配置できて集積度を飛躍的に向丘さ
せ得る。第8図において、20は半導体基板、22は該
基板20と逆導電型の不純物層で前期受光素子21と図
示していない池の一主面上に配設された信号処理回路素
子とを電気的に接続する役目をもっている。
次に本発明の固体撮像装置の動乍について、第2図を用
いて説明する。
いて説明する。
入射光17が受光部11に入射すると、該受光部内で光
電変換されて発生した信号電荷(この場合は電子)は該
受光部11およびn型不純物層16下の電位の井戸18
に一時蓄積される。一定時間蓄積された該信号電荷は移
送グー)TGが開かれると移送グー)TG下を経て電荷
転送装置の転送電極夏1Fの電位の井戸19に移送され
る。さらに電荷転送装置の転送電極01.グg、 as
、ダ4に順次駆動バルヌが印加されると曲記信り一亀荷
は第2図+01の矢印方向へ転送された後、図25を省
略したが水平シフトレジスタへ移され、その後該水平シ
クトレジスタ内を転送されて出力増幅器に入り、その出
力増幅器で電圧に変換されて出力される。
電変換されて発生した信号電荷(この場合は電子)は該
受光部11およびn型不純物層16下の電位の井戸18
に一時蓄積される。一定時間蓄積された該信号電荷は移
送グー)TGが開かれると移送グー)TG下を経て電荷
転送装置の転送電極夏1Fの電位の井戸19に移送され
る。さらに電荷転送装置の転送電極01.グg、 as
、ダ4に順次駆動バルヌが印加されると曲記信り一亀荷
は第2図+01の矢印方向へ転送された後、図25を省
略したが水平シフトレジスタへ移され、その後該水平シ
クトレジスタ内を転送されて出力増幅器に入り、その出
力増幅器で電圧に変換されて出力される。
なお、上述した受光素子11の出力端14と信号処理回
路素子の入力@15を電気的に接続するための不純物#
16を形成する一実施例を第4図を用いて説明する。
路素子の入力@15を電気的に接続するための不純物#
16を形成する一実施例を第4図を用いて説明する。
通常半導体基板80の厚みは800μm程度であるが、
該基板80の一生面上80aの周辺の幅lを5sm轢度
残して化学研磨し、基板中央部の厚みdlを20μm程
度まで薄くする。さらに所定の位置に、例えば異方性エ
ツチング等の手法を用いて凹部81を設け、該四部81
の底部と池の一主面80bとの距jlidlを577
m程度にする。しかる後に基板80と逆導電型の不純物
を深さ方向に6μm以と拡散することにより該基板に新
たに形成した一主面800と曲の一主面80bとを貫通
する拡散N182を容易に形成することができる。
該基板80の一生面上80aの周辺の幅lを5sm轢度
残して化学研磨し、基板中央部の厚みdlを20μm程
度まで薄くする。さらに所定の位置に、例えば異方性エ
ツチング等の手法を用いて凹部81を設け、該四部81
の底部と池の一主面80bとの距jlidlを577
m程度にする。しかる後に基板80と逆導電型の不純物
を深さ方向に6μm以と拡散することにより該基板に新
たに形成した一主面800と曲の一主面80bとを貫通
する拡散N182を容易に形成することができる。
なお、半導体基板80の周辺の輻lを6W程度初期の厚
みのまま分厚くしておく理由はウェハの取り扱いを容易
にするためである。
みのまま分厚くしておく理由はウェハの取り扱いを容易
にするためである。
前記のような凹部81の形成に異方性エツチングを採用
すれば四角踵状の凹部が形成できる。この場合Si基板
BOとしては(100)面のものを用い、四角踵状四部
を形成すべき領域以外の領域をホトレジストでマスキン
グした後、例えばHBO(水)とN5k14(ヒドラジ
ノ)の混合水溶液(例えば液温100℃)に浸漬せしめ
て基板80の露出部をエツチングすることにより(il
l)面が現われ、その結果81基板表面に頂部を基板深
さ方向に有する四角鍾伏凹部81が容易に形成される。
すれば四角踵状の凹部が形成できる。この場合Si基板
BOとしては(100)面のものを用い、四角踵状四部
を形成すべき領域以外の領域をホトレジストでマスキン
グした後、例えばHBO(水)とN5k14(ヒドラジ
ノ)の混合水溶液(例えば液温100℃)に浸漬せしめ
て基板80の露出部をエツチングすることにより(il
l)面が現われ、その結果81基板表面に頂部を基板深
さ方向に有する四角鍾伏凹部81が容易に形成される。
このように形成された四角踵状四部81の基板表面に対
する角度θは約65度(正確にはθ目54゜74度)と
なる・ なお、前述の実施例では受光素子にp −n接合を用い
九町視光用固体撮像装置について説明し九像装置にも有
効である。また基板の一生面上に信 ゛号処理回路
素子を形成するだけでなく、信す処理回路素子を駆動す
る駆動回路素子を形成することも可能である。
する角度θは約65度(正確にはθ目54゜74度)と
なる・ なお、前述の実施例では受光素子にp −n接合を用い
九町視光用固体撮像装置について説明し九像装置にも有
効である。また基板の一生面上に信 ゛号処理回路
素子を形成するだけでなく、信す処理回路素子を駆動す
る駆動回路素子を形成することも可能である。
(2)発明の効果
以北、絆細に説明したように、本究明は半導体基板の一
生面上全面に受光素子を形成することができ集積度を飛
躍的KIt8iIJ:できるため、高解像度の固体撮像
装置を実現し得るという多大な効果を有する。
生面上全面に受光素子を形成することができ集積度を飛
躍的KIt8iIJ:できるため、高解像度の固体撮像
装置を実現し得るという多大な効果を有する。
第1図は従来の固体撮像装置を説明するための(既、金
的な上面図、第2図(a)、(至)およびtc+は本発
明による固体撮像装置の単位構成を示す概略図、第8図
は本発明による8×8のマトリックス状に配列された固
体撮像装置の概念的な上面図、第4図は受光素子と借り
処理回路素子とを電気的に接続する拡散層を作る工程を
説明するための図である。 1.20:半導体基板、2,21:受光素子、10、8
0 : p型Sj−M板、ll:n型不純物層、12:
[荷堰、l 9 : 5ins、14,81:頂部を深
さ方向に有する凹部、16.22.$2:n型拡散層、
17二人射光。 第1図 第2図 第3図 U 第 4 図
的な上面図、第2図(a)、(至)およびtc+は本発
明による固体撮像装置の単位構成を示す概略図、第8図
は本発明による8×8のマトリックス状に配列された固
体撮像装置の概念的な上面図、第4図は受光素子と借り
処理回路素子とを電気的に接続する拡散層を作る工程を
説明するための図である。 1.20:半導体基板、2,21:受光素子、10、8
0 : p型Sj−M板、ll:n型不純物層、12:
[荷堰、l 9 : 5ins、14,81:頂部を深
さ方向に有する凹部、16.22.$2:n型拡散層、
17二人射光。 第1図 第2図 第3図 U 第 4 図
Claims (1)
- 半導体基板の一主面上に光電変換機能を有する受光素子
を配設し、池の一主面土に該受光素子からの信号電荷を
処理するだめの回路素子を配設し、かつ前記受光素子に
設けた信号電荷の出力端と前記回路素子にmll倍信号
電荷導入するための入力端とを電気的に接続するための
前記基板と逆導電型の不純物層を該基板をlK通して設
けたことを特徴とする固体機ll装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57071850A JPS58188968A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57071850A JPS58188968A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58188968A true JPS58188968A (ja) | 1983-11-04 |
Family
ID=13472421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57071850A Pending JPS58188968A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58188968A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07106535A (ja) * | 1993-10-01 | 1995-04-21 | Sharp Corp | 受光素子及び受光素子形成方法 |
| WO2004030102A1 (ja) * | 2002-09-24 | 2004-04-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | フォトダイオードアレイ及びその製造方法 |
-
1982
- 1982-04-28 JP JP57071850A patent/JPS58188968A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07106535A (ja) * | 1993-10-01 | 1995-04-21 | Sharp Corp | 受光素子及び受光素子形成方法 |
| WO2004030102A1 (ja) * | 2002-09-24 | 2004-04-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | フォトダイオードアレイ及びその製造方法 |
| JPWO2004030102A1 (ja) * | 2002-09-24 | 2006-01-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | フォトダイオードアレイ及びその製造方法 |
| CN100399570C (zh) * | 2002-09-24 | 2008-07-02 | 浜松光子学株式会社 | 光电二极管阵列及其制造方法 |
| JP4554368B2 (ja) * | 2002-09-24 | 2010-09-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | フォトダイオードアレイ及びその製造方法 |
| KR101087866B1 (ko) | 2002-09-24 | 2011-11-30 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 포토 다이오드 어레이 및 그 제조 방법 |
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