JPS58204885A - 焼結セラミツクの金属化法 - Google Patents
焼結セラミツクの金属化法Info
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- JPS58204885A JPS58204885A JP8542382A JP8542382A JPS58204885A JP S58204885 A JPS58204885 A JP S58204885A JP 8542382 A JP8542382 A JP 8542382A JP 8542382 A JP8542382 A JP 8542382A JP S58204885 A JPS58204885 A JP S58204885A
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- ceramic
- alloy
- sintered
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の分野
本発明は、灰化けい素などけい素化合物をその構成成分
又は不+!44.aとして包むセラミックの金属イト法
に係り、6ヤしくはマンガンの融点より低い飄疲でマン
ガンと反応し得るけい素化合物を営むセラミックの特定
表面に、密着力のグ虫いマンガン含自金属層を比較的低
温(マンガンの融点より低い温、髪)で短時間に形成す
る方法及びそのマンガン8有金属層上に他の金属1−を
接付する方法に関する。
又は不+!44.aとして包むセラミックの金属イト法
に係り、6ヤしくはマンガンの融点より低い飄疲でマン
ガンと反応し得るけい素化合物を営むセラミックの特定
表面に、密着力のグ虫いマンガン含自金属層を比較的低
温(マンガンの融点より低い温、髪)で短時間に形成す
る方法及びそのマンガン8有金属層上に他の金属1−を
接付する方法に関する。
本発明により製造された全域化セラミックは。
半導体装置用基板、電子部品、機構部品、構造材などの
直接材料1部品又は中間材料なととして、谷檜用途に供
される。
直接材料1部品又は中間材料なととして、谷檜用途に供
される。
(2)従来技術の説明
セラミック焼結体、特にアルミナ焼結体の金属化法は古
くから知られている。セラミックコンデンサへの電極付
け、電子管などの絶縁性封止材料。
くから知られている。セラミックコンデンサへの電極付
け、電子管などの絶縁性封止材料。
半導体装置における半導体素子接合技術、半導体装置の
基板に2ける配線技術など、セラミックの金属化はきわ
めて重要なものである。
基板に2ける配線技術など、セラミックの金属化はきわ
めて重要なものである。
アルミナ、ベリリアなどの酸化物系セラミックについて
は古くから研究され、各種の金属化法がある。例えばア
ルミナセラミックにおいては、マンガン粉末とモリブデ
ン粉末との混合ベース)’(c−セラミックに塗布し、
これを焼付ける方法がある。
は古くから研究され、各種の金属化法がある。例えばア
ルミナセラミックにおいては、マンガン粉末とモリブデ
ン粉末との混合ベース)’(c−セラミックに塗布し、
これを焼付ける方法がある。
その他、上記粉末にチタン水素化物、酸化アルミニウム
、酸化けい素、酸化カルシウムなどを混合したペースト
も提案されている(特開昭55−113683号公報参
照)。
、酸化けい素、酸化カルシウムなどを混合したペースト
も提案されている(特開昭55−113683号公報参
照)。
特開昭55−113683号公報によれば、炭化けい素
セラミックの金属化法として、粉末状のpJ a、 ■
a、 ■a及び■a族金稿の1種以上をlO〜100重
菫部と、 lb、 [b、 1llb、 ■b及び■
族元素の1檀以上金90重菫部以下とからなる金属化用
組成物が示されている。同公報の実施例及びその説明に
よると、上記組成物はペーストの形で炭化けい累セラミ
ックの表面に塗布され、加熱してセラミック面に金属膜
全形成する。上記ペーストは加熱時(1000〜180
0C)に溶融せずにnbdによりセラミックと金属の結
合を生じさせるものである。例えば銅粉末20重1%と
マンガン粉末80畝延%とからなるペーストを炭化けい
素慴ラミックに塗布し、これをに空中で焼付けているが
、80(ICでは雀礪化状態は不良であると結論づVす
られている。
セラミックの金属化法として、粉末状のpJ a、 ■
a、 ■a及び■a族金稿の1種以上をlO〜100重
菫部と、 lb、 [b、 1llb、 ■b及び■
族元素の1檀以上金90重菫部以下とからなる金属化用
組成物が示されている。同公報の実施例及びその説明に
よると、上記組成物はペーストの形で炭化けい累セラミ
ックの表面に塗布され、加熱してセラミック面に金属膜
全形成する。上記ペーストは加熱時(1000〜180
0C)に溶融せずにnbdによりセラミックと金属の結
合を生じさせるものである。例えば銅粉末20重1%と
マンガン粉末80畝延%とからなるペーストを炭化けい
素慴ラミックに塗布し、これをに空中で焼付けているが
、80(ICでは雀礪化状態は不良であると結論づVす
られている。
分限にはペーストの僻村は時間rま明記されていないが
、金属の拡散を利用するものであるから。
、金属の拡散を利用するものであるから。
長時間の加熱が必要である。
モリブデン80 q ’i oIn%シリカ7〜3重−
%に酸化マンガン3〜2ii%峻びタングステ〈5〜1
5重童%からなるペーストを用いてアルミナセラミック
を・金嬌化する方法が特開昭54−58714号公報に
記載されている。その金属化温度は13’70tZ’で
あり、拡散接合によって金属化がイfわれると記載され
ている。、′ タングステン粉末とマンガン粉末とを含むペーストで窒
化けい素セラミック11550tll”で拡散接合によ
って金属化を行う方法(特開昭55−51774号公報
)も知られている。これらはいずれも高温で比較的長時
間の加熱が必要である。
%に酸化マンガン3〜2ii%峻びタングステ〈5〜1
5重童%からなるペーストを用いてアルミナセラミック
を・金嬌化する方法が特開昭54−58714号公報に
記載されている。その金属化温度は13’70tZ’で
あり、拡散接合によって金属化がイfわれると記載され
ている。、′ タングステン粉末とマンガン粉末とを含むペーストで窒
化けい素セラミック11550tll”で拡散接合によ
って金属化を行う方法(特開昭55−51774号公報
)も知られている。これらはいずれも高温で比較的長時
間の加熱が必要である。
アルミナセラミックは電子材料として、炭化けい素セラ
ミックは電子材料、ガスタービンのブレード、内燃機関
のエンジン、シールリングなどの産業機関用材料として
注目されている。これらのセラミックの金属化がより低
@、短時間で容易に行えるならば、セラミックに対する
熱的ストレスも小さくなり、熱エネルギーの節約、量産
性の向上が期待できる。
ミックは電子材料、ガスタービンのブレード、内燃機関
のエンジン、シールリングなどの産業機関用材料として
注目されている。これらのセラミックの金属化がより低
@、短時間で容易に行えるならば、セラミックに対する
熱的ストレスも小さくなり、熱エネルギーの節約、量産
性の向上が期待できる。
最近の研究の結果、従来のモリブデンペーストやタング
ステンペースト(マンガン粉末を含む場合もある)をセ
ラミックの表面に印刷して焼付けた場合、その金属化処
理時にマンガンの拡散又はモリブデンの蒸発、沈着によ
って、ペーストラ印刷しない部分の表面の抵抗値が低下
すゐことが観察された。かかる現象により、セラミック
の表面もれ電流が増加するこフ本観察された。以上のと
とからも、金属化処理は、なるべく低温、短時間で実施
するのが望ましいのである。
ステンペースト(マンガン粉末を含む場合もある)をセ
ラミックの表面に印刷して焼付けた場合、その金属化処
理時にマンガンの拡散又はモリブデンの蒸発、沈着によ
って、ペーストラ印刷しない部分の表面の抵抗値が低下
すゐことが観察された。かかる現象により、セラミック
の表面もれ電流が増加するこフ本観察された。以上のと
とからも、金属化処理は、なるべく低温、短時間で実施
するのが望ましいのである。
(3)発明の要約
本発明の目的は、炭化けい素などのけい素化合物含有セ
ラミックの金属化処理が比較的低温、短時間で行え、良
好な密着力を示す金属膜を形成す為ことができる金属化
法を提供することである。
ラミックの金属化処理が比較的低温、短時間で行え、良
好な密着力を示す金属膜を形成す為ことができる金属化
法を提供することである。
本発明は、けい素化合物含有セラミックの表面に形成し
たマンガン官有金属層の状態によって。
たマンガン官有金属層の状態によって。
従来予測できなかった全く新しいメカニズムが生シ、コ
れによってマンガンの融点より低い温度で容易に金属化
反応が起るという事実の発見に基づいている。より詳し
くは、セラミックに含有されるけい素化合物がマンガン
と容易に反応し得る形態で存在し、かつマンガン又はマ
ンガン合金あるいはマンガンと他の金嘱の混合物を、上
記セラミックの表面を高度に密着した状態でセラミック
と接触させ、これをマンガンの融点より低い温度に加熱
してマンガンとけい素とを反応させ金属化反応を行わせ
るものである。
れによってマンガンの融点より低い温度で容易に金属化
反応が起るという事実の発見に基づいている。より詳し
くは、セラミックに含有されるけい素化合物がマンガン
と容易に反応し得る形態で存在し、かつマンガン又はマ
ンガン合金あるいはマンガンと他の金嘱の混合物を、上
記セラミックの表面を高度に密着した状態でセラミック
と接触させ、これをマンガンの融点より低い温度に加熱
してマンガンとけい素とを反応させ金属化反応を行わせ
るものである。
(4)発明の説明
(1)セラミック材料
本発明においては、炭化けい素セラミック、不純物とし
て酸化けい素を含むアルミナセラミックなどが代表的な
セラミック材料である。
て酸化けい素を含むアルミナセラミックなどが代表的な
セラミック材料である。
SiC及び8i01は、低温の金属化処理でもマンガン
との良好な反応の場が形成されるならば、容易にマンガ
ンシリサイドが形成され強固な結合が得られる。
との良好な反応の場が形成されるならば、容易にマンガ
ンシリサイドが形成され強固な結合が得られる。
実験によれば、マンガンの融点(1244C)よシ低い
温度では窒化けい素セラミックの場合は、シリコンと窒
素との結合が、マンガンとけい素との結合よりも強く、
良好な金属化膜が得られなかった。
温度では窒化けい素セラミックの場合は、シリコンと窒
素との結合が、マンガンとけい素との結合よりも強く、
良好な金属化膜が得られなかった。
本発明で使用するセラミック材料は、その中に含まれる
けい素成分がマンガンと反応してマンガンシリサイドを
形成し得るようなものである。炭化けい素と酸化けい素
のシリコンはマンガンと低温で容鵬に反応し得る成分で
ある。
けい素成分がマンガンと反応してマンガンシリサイドを
形成し得るようなものである。炭化けい素と酸化けい素
のシリコンはマンガンと低温で容鵬に反応し得る成分で
ある。
(li)−qンガン言有金属層
本発明において、マンガン原子又はマン−ガン結晶はセ
ラミック基体の炭化けい素結晶粒又はアルミナ結晶粒に
最接近し、緊密に密着して炭化けい素や酸化けい素とマ
ンガンが容易に反応し得る状態全形成する必要がある。
ラミック基体の炭化けい素結晶粒又はアルミナ結晶粒に
最接近し、緊密に密着して炭化けい素や酸化けい素とマ
ンガンが容易に反応し得る状態全形成する必要がある。
かかる状態を形成する手段として次のものがある。
(イ) マンガンをセラミック基体の全面又は特定表面
に真空蒸着する。この蒸着膜のマンガン原子又は結晶は
、セラミック基体表面の微細構造に入り込み、緊密に密
着しているか°ら、マンガンと基体中のシリコンとが容
易に反応する。−例では、金属化処理は700Cで1分
間以下で実施できるという驚くべきことがわかっている
。
に真空蒸着する。この蒸着膜のマンガン原子又は結晶は
、セラミック基体表面の微細構造に入り込み、緊密に密
着しているか°ら、マンガンと基体中のシリコンとが容
易に反応する。−例では、金属化処理は700Cで1分
間以下で実施できるという驚くべきことがわかっている
。
(ロ) マンガンと銅、ニッケル又はチタンとの合金を
真空蒸着してセラミック基体表面に沈着する。この場合
、マンガンの蒸気圧が高いため。
真空蒸着してセラミック基体表面に沈着する。この場合
、マンガンの蒸気圧が高いため。
セラミック表面に接する側ではマンガンリッチな層が形
成され、その上に合金成分リッチな層が形成される。こ
のような蒸着膜の作用は、上記(イ)の場合とほとんど
同じであると考えられる。
成され、その上に合金成分リッチな層が形成される。こ
のような蒸着膜の作用は、上記(イ)の場合とほとんど
同じであると考えられる。
(ハ) マンガンの微粉末(なるべく細かいもの。
例えば5μm以下、特に2μm以下)で金属化用ペース
トをA製し、これをセラミック表面にスクリーン印刷法
などで印刷する。かかる微粉末でマンガンペーストを調
整すれば、マンガン微結晶は炭化けい素結晶粒又はアル
ミナ結晶粒の表面と緊密に密着し、シリコンとマンガン
との反応が容易に行われる状態となる。
トをA製し、これをセラミック表面にスクリーン印刷法
などで印刷する。かかる微粉末でマンガンペーストを調
整すれば、マンガン微結晶は炭化けい素結晶粒又はアル
ミナ結晶粒の表面と緊密に密着し、シリコンとマンガン
との反応が容易に行われる状態となる。
なお、マンガン粉単独でなく、銅、ニッケル。
チタンなど他の金属の微粉末との混合系でもよい。また
、マンガンと銅、ニッケル、チタンなどの合金を、微粉
末にし、ペーストを調整してもよい。上記のような混合
系又は合金系[bいて、その組成はマンガンと他の金属
が金属化処理温度において融液を形成し得る範囲のもの
がよい。かかる融液が形成されることによって、マンガ
ン原子とセラミック基体中のシリコン原子は最接近して
容易に反応し得る。上記組成については次の項で説明す
る。
、マンガンと銅、ニッケル、チタンなどの合金を、微粉
末にし、ペーストを調整してもよい。上記のような混合
系又は合金系[bいて、その組成はマンガンと他の金属
が金属化処理温度において融液を形成し得る範囲のもの
がよい。かかる融液が形成されることによって、マンガ
ン原子とセラミック基体中のシリコン原子は最接近して
容易に反応し得る。上記組成については次の項で説明す
る。
に) マンガンと銅、ニッケル又はチタンの特定合金の
箔、線、粉末をセラミックの表面に載置し、これを加圧
しながら合金の融点以上でマンガンの融点より低い温度
に加熱すると1合金が浴融し液相が形成される。このよ
うにして形成されだ液相は、セラミック基体のシリコン
原子に最接近し、シリコンとマンガンは容易に反応し得
る。
箔、線、粉末をセラミックの表面に載置し、これを加圧
しながら合金の融点以上でマンガンの融点より低い温度
に加熱すると1合金が浴融し液相が形成される。このよ
うにして形成されだ液相は、セラミック基体のシリコン
原子に最接近し、シリコンとマンガンは容易に反応し得
る。
特に好ましい冶金組成は、25〜45重量%マンガン−
銅合金(融点870C士約1oc)。
銅合金(融点870C士約1oc)。
50〜70篭i%マンガンーニッケル合金(s点101
8tr士約100)、及び42〜43’l[ii%マン
ガン−ニッケル合金(融点1175C士約100)であ
る。これらの合金は、マンガンの融点よりずっと低い温
;Wで融液を形成し得、かつ良好な金属化膜全形成でき
る。
8tr士約100)、及び42〜43’l[ii%マン
ガン−ニッケル合金(融点1175C士約100)であ
る。これらの合金は、マンガンの融点よりずっと低い温
;Wで融液を形成し得、かつ良好な金属化膜全形成でき
る。
前記特開昭55−113683 号では、銅(20%)
−マンガン(80%)ペーストラ用いており、 10
00 CK 、7JI]熱して金属化しているので。
−マンガン(80%)ペーストラ用いており、 10
00 CK 、7JI]熱して金属化しているので。
融液は形成されず、従って長時間加熱して拡散しなけれ
ばならない。本発明によれば、上記−一マンガン合金の
?乙を用いて、860t:’近辺でわずか1分以下の9
口熱で良好な金属化膜が得られる。
ばならない。本発明によれば、上記−一マンガン合金の
?乙を用いて、860t:’近辺でわずか1分以下の9
口熱で良好な金属化膜が得られる。
上記合金組成は、前項(ハ)の場合にもあてはまる。
(ホ) その他の方法
マンガン又はマンガン合金層を形成する他の方法として
、スパッタリング、又は超微粉を用いたプラズマ溶射が
ある。
、スパッタリング、又は超微粉を用いたプラズマ溶射が
ある。
OiD金属又はセラミックとの接合
上記のようにして得た金属化膜を有するセラミックに他
の金属又は金属膜あるいはセラミックを接合するには次
の方法がある。
の金属又は金属膜あるいはセラミックを接合するには次
の方法がある。
マンガン含有金@層(マンガン本独も含む。
以下同じ)を、蒸着、スパッタリング、ペースト印刷で
形成し、これ?金属化処理した場合には、鉄、銅、ニッ
ケルなどの金属膜を電気めっき又は化学めっきで形成し
、必要に応じ金属膜を加熱して強固に結合させる。チタ
ンやアルミニウムならば蒸着、スパッタリングで形成す
る。
形成し、これ?金属化処理した場合には、鉄、銅、ニッ
ケルなどの金属膜を電気めっき又は化学めっきで形成し
、必要に応じ金属膜を加熱して強固に結合させる。チタ
ンやアルミニウムならば蒸着、スパッタリングで形成す
る。
マンガン含有金属層を形成するのにマンガン合金の箔な
どを用いる場合は、マンガン合金の上に、#、銅、ニッ
ケル、チタン、アルミニウムなどの箔又は板あるいは線
を載置し、加圧。
どを用いる場合は、マンガン合金の上に、#、銅、ニッ
ケル、チタン、アルミニウムなどの箔又は板あるいは線
を載置し、加圧。
加熱すれば、金属化と接合が同時に行える。加圧力は、
0.01Kg7m”以上おればよ<、1匂ゝ/簡冨以下
で充分である。
0.01Kg7m”以上おればよ<、1匂ゝ/簡冨以下
で充分である。
マンガン含有金、嗅層に、炭化けい素又は酸化けい素含
有セラミックを載置して加熱すれば。
有セラミックを載置して加熱すれば。
セラミック同志の接合が得られる。
IV)セラミックの表面粗さ
炭化けい素セラミックに本発明を適用した場合、炭化け
い素とマンガンは次のように反応して金属化される。
い素とマンガンは次のように反応して金属化される。
81C+ M n −* f3 iMn + にの事は
、金属化面を研摩して分析し、遊離炭素が存在すること
を確認することによって確かめられた。アルミナセラミ
ンクの場合は、不純物として含まれているsio、がM
nと反応して強固な結合を作ると考えられる。
、金属化面を研摩して分析し、遊離炭素が存在すること
を確認することによって確かめられた。アルミナセラミ
ンクの場合は、不純物として含まれているsio、がM
nと反応して強固な結合を作ると考えられる。
81011 + M n−+S iMn + 04従っ
て本発明では、上記の反応が進行し易い状態を作ること
がM要である。
て本発明では、上記の反応が進行し易い状態を作ること
がM要である。
セラミックの表面粗さΔHと使用するマンガン粉又はマ
ンガン合金粉の粒径との関係について考察する。例えば
セラミックの表面粗さが5μmであれば、ペースト中の
マンガン又はマンガン合金粉の大きさはなるべく小さく
、特に2μm以Fにするのがよい。一般的には、表面粗
さくΔHerμmで表わした場合、使用するセラミンク
基板の表面粗さよりも小さい粒径(μm)のマンガン粉
又はマンガン合金粉を用いるのがよい。
ンガン合金粉の粒径との関係について考察する。例えば
セラミックの表面粗さが5μmであれば、ペースト中の
マンガン又はマンガン合金粉の大きさはなるべく小さく
、特に2μm以Fにするのがよい。一般的には、表面粗
さくΔHerμmで表わした場合、使用するセラミンク
基板の表面粗さよりも小さい粒径(μm)のマンガン粉
又はマンガン合金粉を用いるのがよい。
これに対して、蒸7I!、スパッタリング、溶射あるい
は融液の場合は、マンガン原子又は微結晶はセラミック
の表面粗さよりはるかに小さく、族4.スパッタリング
、溶射のままでセラミック基板表面によく密着し得るの
で、セラミックの表面粗さは問題とならない。
は融液の場合は、マンガン原子又は微結晶はセラミック
の表面粗さよりはるかに小さく、族4.スパッタリング
、溶射のままでセラミック基板表面によく密着し得るの
で、セラミックの表面粗さは問題とならない。
□
(5)図面及び実施例の説明
第1図は本発明の実施例で用いられた金属化法の説明図
で1例えば炭化けい素セラミック1と。
で1例えば炭化けい素セラミック1と。
銅箔2の間にマンガン−銅合金の7g33をはさみ。
これ金銅ブロック5.5′間にはさんで、治具4゜4′
により卯圧し、尚周波コイル6でゼラεツク1と合金箔
3及び銅箔2を加熱する。
により卯圧し、尚周波コイル6でゼラεツク1と合金箔
3及び銅箔2を加熱する。
ゝ第2図(a)、 (b)、 (C)は、第1図のよう
にして得だ銅箔付きセラミックにおける銅箔のはく離強
さ測定試料の作り方及び測定法を示す。図(a)のよう
に。
にして得だ銅箔付きセラミックにおける銅箔のはく離強
さ測定試料の作り方及び測定法を示す。図(a)のよう
に。
銅箔12のついたセフミンク11の中間に切り込与スリ
ット17を彰戎し、これ全図(b)のように銅箔12側
に折り曲げ1図(C)のように治具18゜18′で固定
して矢印の方間に引張り、は<11tU*さを水めた。
ット17を彰戎し、これ全図(b)のように銅箔12側
に折り曲げ1図(C)のように治具18゜18′で固定
して矢印の方間に引張り、は<11tU*さを水めた。
第3図(a)、(b)は、従来のペーストを用いた半導
体装置及び本発明の盆4化セラミック基板を半導体装置
に適用した例を示す。この例は半導体素子とセラミック
基板とのIUIO熱抵抗を測定するために1乍られたも
のである。図(a)において、厚キ0.6闇の炭化けい
素基板21の上に、モリブデン−マンガンペースト全a
mプて金属化ノー20全杉成し。
体装置及び本発明の盆4化セラミック基板を半導体装置
に適用した例を示す。この例は半導体素子とセラミック
基板とのIUIO熱抵抗を測定するために1乍られたも
のである。図(a)において、厚キ0.6闇の炭化けい
素基板21の上に、モリブデン−マンガンペースト全a
mプて金属化ノー20全杉成し。
その上にはんだぬれ1生のあるニッケル膜24(厚さ0
.5μm)を電気めっきで形成した。
.5μm)を電気めっきで形成した。
そしてはんだ22でシリコンダイオード23を接着した
。
。
図(b)において、マンガン含有金属化ノー24と銅箔
25(厚さ50μm)が直接接合しており、図(a)の
ようなニッケル膜は必要でない。他の構成は図(a)と
同じである。
25(厚さ50μm)が直接接合しており、図(a)の
ようなニッケル膜は必要でない。他の構成は図(a)と
同じである。
第4図は、第2図の測定法で得られた鋼箔のはく離嘲さ
と、マンガンー鋼合金中のマンガン含量との関係金示す
もので、マンガン含量が25%以上になると、はく離強
度が5 Kg /cmを越し、30%以上になると、は
く離強度は著しく高くなり、35%以上になると、鋼箔
で破断するようになる。
と、マンガンー鋼合金中のマンガン含量との関係金示す
もので、マンガン含量が25%以上になると、はく離強
度が5 Kg /cmを越し、30%以上になると、は
く離強度は著しく高くなり、35%以上になると、鋼箔
で破断するようになる。
第5図は、マンガンを蒸着したときの金属化処理温度と
引張り強さとの関係を示す。金嘱化温度が600C以上
で充分な接合gi贋が得られ、約700C〜約1000
Cの間では、金−化膜では破断が起らなくなる。
引張り強さとの関係を示す。金嘱化温度が600C以上
で充分な接合gi贋が得られ、約700C〜約1000
Cの間では、金−化膜では破断が起らなくなる。
第6図は、マンガン−銅合金及びマンガン−ニッケル合
金を蒸着したときのマンガン含有1と引張り強さとの関
係を示す。図によって明らかなように、マンガン含有譬
が20%を越すと引張り強きが高くなり、約25%を越
すと金属化膜では破断しなくなる。
金を蒸着したときのマンガン含有1と引張り強さとの関
係を示す。図によって明らかなように、マンガン含有譬
が20%を越すと引張り強きが高くなり、約25%を越
すと金属化膜では破断しなくなる。
゛第7図は%第2図に示す方法で測定した囮属化(接合
も同時)温度とはく離強さとの関係を示す。
も同時)温度とはく離強さとの関係を示す。
第8図は1本発明によって金属化した基也の表面状態を
リーク電流で示したものである。曲線35は、金属化膜
の一部をエツチングで除去したまま(純水に浸漬洗治)
で、2つの電極部を形成して、その電極部間に電圧をか
けて、電lt!部間の表面リーク電流を測定したもので
ある。
リーク電流で示したものである。曲線35は、金属化膜
の一部をエツチングで除去したまま(純水に浸漬洗治)
で、2つの電極部を形成して、その電極部間に電圧をか
けて、電lt!部間の表面リーク電流を測定したもので
ある。
曲線36は、上記のようにして得た試料の霧出表面をア
セトン中で超音波洗浄したもの1曲線37は露出表IT
LIをサンドブラストで研摩したものについて示す。測
定はいずれも20Cで行われた。
セトン中で超音波洗浄したもの1曲線37は露出表IT
LIをサンドブラストで研摩したものについて示す。測
定はいずれも20Cで行われた。
比較のため、公知のモリブデシーマンガンペーストを、
電極形状に印刷焼付け(1550c)して得た材料につ
いて、リーク電流を測定したところ。
電極形状に印刷焼付け(1550c)して得た材料につ
いて、リーク電流を測定したところ。
50Vで約10−’(A)、100OV−?’約10−
’(A)であり1本発明の場合より皆しく大きい。
’(A)であり1本発明の場合より皆しく大きい。
本発明の場合は、全面に金属化膜?形成し、その一部全
エッチングして露出して測定したものであり、比較例の
ように電極部のみに金属化膜を形成すれば、−着リーク
電流が小さくなる。モリブデンペーストの場合、焼付温
度が高いので、モリブデンやマンガンの蒸発が起り%更
にそれらの拡敵が起るので、セラミック基板の表面状態
を悪くするのである。
エッチングして露出して測定したものであり、比較例の
ように電極部のみに金属化膜を形成すれば、−着リーク
電流が小さくなる。モリブデンペーストの場合、焼付温
度が高いので、モリブデンやマンガンの蒸発が起り%更
にそれらの拡敵が起るので、セラミック基板の表面状態
を悪くするのである。
第9図は1本発明によって得た金属化セラミックの耐熱
性試験結果を示し、600pにD1熱しても金属化膜の
特性は低下していない。なお加熱条YPは、真空中(1
0−’ torr )で1時間保持である。
性試験結果を示し、600pにD1熱しても金属化膜の
特性は低下していない。なお加熱条YPは、真空中(1
0−’ torr )で1時間保持である。
子属化はマンガン−銅合金を用い%860cで銅?6を
接合した。
接合した。
実施例1
2重量%のBe0i添加して焼結した炭化けい素焼給体
から、厚さ1.5 m %縦、横各15問、表面粗さ5
μmの試料を10個作った。この試料に厚さ25μmの
マンガン−銅合金箔(マンガン含有f1〜60重菫%)
及び厚さ100μmの銅箔ケ直ね、第1図の装置岬を用
いて0.05 K9/醪2の圧力を加え、昼t、、i波
加熱で合金箔の重点に加熱した。加圧は、加熱及び冷7
.1JL7′)間かIffていた。
から、厚さ1.5 m %縦、横各15問、表面粗さ5
μmの試料を10個作った。この試料に厚さ25μmの
マンガン−銅合金箔(マンガン含有f1〜60重菫%)
及び厚さ100μmの銅箔ケ直ね、第1図の装置岬を用
いて0.05 K9/醪2の圧力を加え、昼t、、i波
加熱で合金箔の重点に加熱した。加圧は、加熱及び冷7
.1JL7′)間かIffていた。
′加熱速度を1(1,00C/分とし、マンガン−′M
台並の融液が形成される温度全治共4,4′間の距離変
化によって検出した。マンガン−銅合戴箔が#融した後
約1秒間その温度に保持してからカoPAを停止し、自
然冷却した。
台並の融液が形成される温度全治共4,4′間の距離変
化によって検出した。マンガン−銅合戴箔が#融した後
約1秒間その温度に保持してからカoPAを停止し、自
然冷却した。
加熱中は、試料周辺にアルゴンガスを吹き付は金属の酸
化を防止した。
化を防止した。
−たん融液となったマンガン−も−j合金ン」冷/4]
後も接合面に残留しているが、一部接合+*iに切出さ
れていた。その排出部の〜1成は、マンガン−@b釜の
組成とほぼ同じであるが、わずかにシリコ/が検出され
た。
後も接合面に残留しているが、一部接合+*iに切出さ
れていた。その排出部の〜1成は、マンガン−@b釜の
組成とほぼ同じであるが、わずかにシリコ/が検出され
た。
第3図は、上d己のようにして得た試料のけ〈離強さと
マンガン−′h4111合省のマンガン會有菫との関係
を示す。測定にあたっては第2図(a)、 (b)、
(C)の方法がとられた。
マンガン−′h4111合省のマンガン會有菫との関係
を示す。測定にあたっては第2図(a)、 (b)、
(C)の方法がとられた。
はく離試衰で、銅箔で破断した試料の炭化けい累と釜属
化ノーとの界面゛を観察した。炭化けい素表閣から金属
層(金、*化l−及び銅箔1m)′Jkエツチングで除
去し、その霧出表面をSA徽鏡で観察した結果、炭化け
い素表面には侵食されたような微小な凹凸が形成されて
いた。このことからも、炭化けい素とマンガンとが反応
したことが推定される。
化ノーとの界面゛を観察した。炭化けい素表閣から金属
層(金、*化l−及び銅箔1m)′Jkエツチングで除
去し、その霧出表面をSA徽鏡で観察した結果、炭化け
い素表面には侵食されたような微小な凹凸が形成されて
いた。このことからも、炭化けい素とマンガンとが反応
したことが推定される。
実施例2
実施例1と同様な方法で、厚さ50μmの37.8、t
t%マンガン−銅合金箔及び100μmの銅箔を1々の
温度で炭化けい累に接合した。
t%マンガン−銅合金箔及び100μmの銅箔を1々の
温度で炭化けい累に接合した。
こうして得た試料につき、はく離強さを測定して第7図
の結果を得た。第71ン4の結果によれば、上記組成の
マンガン−銅合金箔を用いた場合。
の結果を得た。第71ン4の結果によれば、上記組成の
マンガン−銅合金箔を用いた場合。
860〜900tl’の接合温度が適していることがわ
かる。
かる。
加熱時14は1〜10秒で十分であり、温度が高すぎた
り%00熱時間が長ずき゛るとシリコンと、マンガンの
反応が過剰になり、かえってはく離強さが減少する。
り%00熱時間が長ずき゛るとシリコンと、マンガンの
反応が過剰になり、かえってはく離強さが減少する。
lJO圧はマンガン−銅合金の1欣がセラミンク表1月
1でよく広がり、かつ密着するのに必要で、カロLL力
Qよ0,0IKy/咽! 、1.u上、lF、q/降2
以F1狩に0、01〜0.5 Kg/ 711J1”が
好ましい。1関度のrJa圧をす途と、セラミックに損
傷を与えることがある。
1でよく広がり、かつ密着するのに必要で、カロLL力
Qよ0,0IKy/咽! 、1.u上、lF、q/降2
以F1狩に0、01〜0.5 Kg/ 711J1”が
好ましい。1関度のrJa圧をす途と、セラミックに損
傷を与えることがある。
実施例3
2重蓋%B e (1入り炭化けい未焼結体(表面粗さ
2μm)、アルミナ焼結体(表面粗さ3μm )及び窒
化けい未焼結体(表面粗さ3μm)に、以下に示す種々
の金属化及び接合を何なった。
2μm)、アルミナ焼結体(表面粗さ3μm )及び窒
化けい未焼結体(表面粗さ3μm)に、以下に示す種々
の金属化及び接合を何なった。
(11厚さsoμmの37.5 %? 7ガ7 Wy
A8!i箔と厚さ100μl1lO鋼箔父は50μI1
1のニッケル箔全実施ψ1」2と同様にして螢嬌化及び
接合を行なった。
A8!i箔と厚さ100μl1lO鋼箔父は50μI1
1のニッケル箔全実施ψ1」2と同様にして螢嬌化及び
接合を行なった。
(2+ 厚さ50μmの60%マンガン−ニッケル合
金箔と厚さ100μm+7)−箔又は50μmσ)ニッ
ケル箔の金y4化文び接合。温度はto18c。
金箔と厚さ100μm+7)−箔又は50μmσ)ニッ
ケル箔の金y4化文び接合。温度はto18c。
1・1
JJO圧は0.05 K? / van ”。 、。
(3)厚さ50μm1】の42,5%マンガン−チタン
合金箔と厚さ100μnlの@箔又は50μrnのニッ
ケル′W3を用いた金属化及び接合。加熱温度は117
5C,加圧は0.05に7/陣2゜(4)マンガンを′
JL仝#着で2.5μ汀lの厚ざに形成して700Cで
金属化処理をし、−1−の上に電気めっきで2μmの銅
又はニッケル箔全実施し。
合金箔と厚さ100μnlの@箔又は50μrnのニッ
ケル′W3を用いた金属化及び接合。加熱温度は117
5C,加圧は0.05に7/陣2゜(4)マンガンを′
JL仝#着で2.5μ汀lの厚ざに形成して700Cで
金属化処理をし、−1−の上に電気めっきで2μmの銅
又はニッケル箔全実施し。
/JO熱して両者を接合させた。
(5137,5%マンガン−銅合金を真空魚屑し。
700Cで金属化処理をし、その上に銅又はニッケルめ
っきをして力ロ熱接合した。
っきをして力ロ熱接合した。
(6)平均粒径20μm及び2μm以下のマンガン粉を
ニトロセルロースと酢酸ブチル・琵合吻に分散してペー
ストラ作り、Aクリーン法でセラミック表面に印刷、焼
付け(合雀化)シ、その上に銅又はニッケルめっきをし
て、加熱し両者を接合した。
ニトロセルロースと酢酸ブチル・琵合吻に分散してペー
ストラ作り、Aクリーン法でセラミック表面に印刷、焼
付け(合雀化)シ、その上に銅又はニッケルめっきをし
て、加熱し両者を接合した。
(7)平均粒径2μm以下の37.8%マンガン−銅合
金粉及び平均粒径2μm以下のマンガン粉と銅粉の混8
−9勿〃・らAA己(6)のようにしてペーストを作り
、金属化、接合をした。
金粉及び平均粒径2μm以下のマンガン粉と銅粉の混8
−9勿〃・らAA己(6)のようにしてペーストを作り
、金属化、接合をした。
上記のようにして作成した試料につき、金属化膜(マン
ガン含有金属層)及びその上に形成した蓋−j−の性*
i−侠査した。そJ見11米金第1衣にまとめて示す□ 第 1 衣 表において、被接言行“なし”は曾属化模(マンガン含
有合金I−の状轢全評価するため1.tli接合材を接
合しなかったものである。そのため、d逗ン白を用いた
揚台は、 /JD比する手段として、マンガ/−鋼合釡
にぬれない治具で加圧した。
ガン含有金属層)及びその上に形成した蓋−j−の性*
i−侠査した。そJ見11米金第1衣にまとめて示す□ 第 1 衣 表において、被接言行“なし”は曾属化模(マンガン含
有合金I−の状轢全評価するため1.tli接合材を接
合しなかったものである。そのため、d逗ン白を用いた
揚台は、 /JD比する手段として、マンガ/−鋼合釡
にぬれない治具で加圧した。
表において、″なし″の場合、◎は平滑で密着力の強い
金属化膜が得られたもの、○は密着力のやや低いもの、
Δは平滑千がやや劣り密着力も低いもの、×は平滑性、
密着力がともに劣るものである。被接合材を用いた場合
、◎は接合強度が著しく高く、はく離試験で被接合材で
破断したもの。
金属化膜が得られたもの、○は密着力のやや低いもの、
Δは平滑千がやや劣り密着力も低いもの、×は平滑性、
密着力がともに劣るものである。被接合材を用いた場合
、◎は接合強度が著しく高く、はく離試験で被接合材で
破断したもの。
○は接合強度の高いもの、△は接合強度が低いもの、×
は接合強度が著しく低いものである。
は接合強度が著しく低いものである。
実施例4
5重蓋%のBeOを含む炭化けい未焼結体く表面粗さ2
μm)の表面に、電子ビーム蒸発法で厚さ2μmのマン
ガン膜會形収し、これを真空中で第5図に示す温度で金
属化処理をした。71D熱時間は153〜]−のる。金
属化処理後、電気めっきで厚さ5入mのニラ・−ル膜を
形成した。次いで、これi70QCで10分間加熱して
ニッケル膜とマンガン層を拡散接合した。
μm)の表面に、電子ビーム蒸発法で厚さ2μmのマン
ガン膜會形収し、これを真空中で第5図に示す温度で金
属化処理をした。71D熱時間は153〜]−のる。金
属化処理後、電気めっきで厚さ5入mのニラ・−ル膜を
形成した。次いで、これi70QCで10分間加熱して
ニッケル膜とマンガン層を拡散接合した。
このようにして得たメタライズII!と炭化けい素基体
間の接着力(結合力)を評価するために、厚さ200μ
mの銅ン西乞−検3mX横31の[閉4★分だけニッケ
ル膜にはんだ付けし%残りの鋼箔の部分を引きLげて、
引張り強度を求めた。その結束をよ5図に示す。第5図
によれば、金属化処理温度が650〜100OCではん
だI−で破断が生じることがわかる。
間の接着力(結合力)を評価するために、厚さ200μ
mの銅ン西乞−検3mX横31の[閉4★分だけニッケ
ル膜にはんだ付けし%残りの鋼箔の部分を引きLげて、
引張り強度を求めた。その結束をよ5図に示す。第5図
によれば、金属化処理温度が650〜100OCではん
だI−で破断が生じることがわかる。
実施例5
2這瀘%の窒化アルミニウム全添加した炭化けい素焼粘
体(表面粗さ2μm)の表面VC厚さ′2..5μ口】
のマンガン−網台♀及びマンガン−ニッケル合金を真空
蒸着し、?′にいでこれをA空中で700Cに1分間8
0熱して炭化けい素とマンガンとを反応させた。
体(表面粗さ2μm)の表面VC厚さ′2..5μ口】
のマンガン−網台♀及びマンガン−ニッケル合金を真空
蒸着し、?′にいでこれをA空中で700Cに1分間8
0熱して炭化けい素とマンガンとを反応させた。
次いで上記金属化1−の上に厚さ5μmのニッケル膜を
形成し、700Cで10分間加熱して拡散接合した。こ
のようにして得た試料の引張り強要を実施例4と同様に
測定して第6図の結果をmた。
形成し、700Cで10分間加熱して拡散接合した。こ
のようにして得た試料の引張り強要を実施例4と同様に
測定して第6図の結果をmた。
マンガン−銅又はマンガンーニンケル蒸4に中のマンガ
ン含有曾が20重着%になると、引張り強蜜が6に91
扶ととなり、25重装置以上になると。
ン含有曾が20重着%になると、引張り強蜜が6に91
扶ととなり、25重装置以上になると。
金属化膜では破断しなくなる。
′−J!施例6
実例62で得た試料のうち、860Cで金属化処理を行
なったものについて、金属化膜(マンガン含有金属1−
及び鋼箔)の一部をエツチング除去し、tmとなるべき
2つの金属化膜(銅1−付き)倉残して、炭化けい素セ
ラミックの表面状態(電気特性)を測定して第8図の結
果を得た。図中の曲線35,36.37は既に説明した
が、従来のモリブデン−マンガンベース)を用いた場合
(50Vで10−@A、1000Vfl O−”A)c
!:比べると一本発明の場合はセラミック表面の劣化が
はるかに少ない。
なったものについて、金属化膜(マンガン含有金属1−
及び鋼箔)の一部をエツチング除去し、tmとなるべき
2つの金属化膜(銅1−付き)倉残して、炭化けい素セ
ラミックの表面状態(電気特性)を測定して第8図の結
果を得た。図中の曲線35,36.37は既に説明した
が、従来のモリブデン−マンガンベース)を用いた場合
(50Vで10−@A、1000Vfl O−”A)c
!:比べると一本発明の場合はセラミック表面の劣化が
はるかに少ない。
実施列7
実施例2で得た試料を第9図に示す温度に1時間再カロ
熱した。その結果5600Cまでは、金属化膜の接着力
低下は認められず、650Cでもわずかしか接着力が低
下しない。
熱した。その結果5600Cまでは、金属化膜の接着力
低下は認められず、650Cでもわずかしか接着力が低
下しない。
また、−50C’〜+1500で1000回の熱サイク
ル試験をしたが、はく離強度の低下はなかつた。
ル試験をしたが、はく離強度の低下はなかつた。
実施例8
実施例2で得た試料を用いて、第3図(b)に示す試料
及び従来のモリブデン−マンガンベース)k用いて第3
図(a)に示す比較試料を作った。各試料の寸法等は先
に説明した通りである。
及び従来のモリブデン−マンガンベース)k用いて第3
図(a)に示す比較試料を作った。各試料の寸法等は先
に説明した通りである。
上記試料音用いて、初期の熱抵抗及び−50C〜+15
0Cで1000回の熱サイクル後の熱抵抗を測定したと
ころ1次の結果を得た。
0Cで1000回の熱サイクル後の熱抵抗を測定したと
ころ1次の結果を得た。
なお、熱抵抗は、ダイオードz3とはんだ1−22の接
合面における温度TIと、炭化けい素セラミンクの下側
表面温vT、との差を、ダイオードの発熱mQで除して
求めた( ’r、−’I’m/Q)。
合面における温度TIと、炭化けい素セラミンクの下側
表面温vT、との差を、ダイオードの発熱mQで除して
求めた( ’r、−’I’m/Q)。
(6)発明の詳細
な説明したように1本発明によれば、比較的1八温、題
詩111で良好な金属化処理が6える。その結果、セラ
ミック基体そのものに対する4P影響も少なくなり、セ
ラミックの特注低下又は変化が少なく、さらに熱経済性
もよくなる。
詩111で良好な金属化処理が6える。その結果、セラ
ミック基体そのものに対する4P影響も少なくなり、セ
ラミックの特注低下又は変化が少なく、さらに熱経済性
もよくなる。
第1図は1本発明の実施例に用いられた金属化処理装置
の概略一部断面図、第2図(a)、 (b)は、はく1
ia5遣さ試験の試験片の作製法を説明する斜視図。 −A2図(C)は、はく離試験法を説明する概略図であ
り、第3図は本発明の実施例で作られた半導体装瀘の断
面図で、(荀は比較試料、(b)は発明試料全示し、第
4図はマンガン−鋼合金中のマンガン含有瞳と、或li
%漠のはく離強との関係を示すグラフ。 第5図はマンガン蒸着膜の熱処理温度と尉属化膜の引5
長し強さとの関係を示すグラフ、第6図は77ガ’
g合金蒸7#映及びマンガン−ニッケル合金蒸4膜のマ
ンガン含有址と釡@膜の引張り強さとの関係ヲ示すグラ
フ、第7図はマンガン−嗣合i名を用いた金属化処理の
は度とはく離強さとの関係を示すグラフ、第8図は本発
明により得られた試料のセラミック徒体の表面状性をリ
ーク電流で測定して得られたグラフ、及び第9図は1本
発明により得られた試料の熱劣化試績結筆を示すグラフ
でめる。 1・・・セラミック、2・・・鋼箔、3・・・マンガン
−調合金箔、4・・・治具、5・・・鋼ブロック%6・
・・尚周波コイル、22・・・はんだ%23・・・ダイ
オード、24・・・ニッケル膜%20・・・モリブデン
金稿化[,21・・・炭化けい素セラミック、25・・
・鋼箔、26・・・マンrj、く:、’)。 Jf7412J ハマ)、量 rす]戸44ノ 金j飄Yむりπff温バ1 (℃〕 膚〉 乙 l≧] 昂H腑費を稚%) ぞ7月 W *部/fF / ’C) 第 2M
の概略一部断面図、第2図(a)、 (b)は、はく1
ia5遣さ試験の試験片の作製法を説明する斜視図。 −A2図(C)は、はく離試験法を説明する概略図であ
り、第3図は本発明の実施例で作られた半導体装瀘の断
面図で、(荀は比較試料、(b)は発明試料全示し、第
4図はマンガン−鋼合金中のマンガン含有瞳と、或li
%漠のはく離強との関係を示すグラフ。 第5図はマンガン蒸着膜の熱処理温度と尉属化膜の引5
長し強さとの関係を示すグラフ、第6図は77ガ’
g合金蒸7#映及びマンガン−ニッケル合金蒸4膜のマ
ンガン含有址と釡@膜の引張り強さとの関係ヲ示すグラ
フ、第7図はマンガン−嗣合i名を用いた金属化処理の
は度とはく離強さとの関係を示すグラフ、第8図は本発
明により得られた試料のセラミック徒体の表面状性をリ
ーク電流で測定して得られたグラフ、及び第9図は1本
発明により得られた試料の熱劣化試績結筆を示すグラフ
でめる。 1・・・セラミック、2・・・鋼箔、3・・・マンガン
−調合金箔、4・・・治具、5・・・鋼ブロック%6・
・・尚周波コイル、22・・・はんだ%23・・・ダイ
オード、24・・・ニッケル膜%20・・・モリブデン
金稿化[,21・・・炭化けい素セラミック、25・・
・鋼箔、26・・・マンrj、く:、’)。 Jf7412J ハマ)、量 rす]戸44ノ 金j飄Yむりπff温バ1 (℃〕 膚〉 乙 l≧] 昂H腑費を稚%) ぞ7月 W *部/fF / ’C) 第 2M
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 マンガンの融点より低い温度でマンガンとt″1
い素との反応を起し得るけい素化合物金言有する焼結セ
ラミックの所望表面に、マンガン含有金属層を形成し、
該金属層をマンガンの融点より低い温度に加熱してマン
ガンとけい素との結合反応を行わせる方法であって、上
記マンガン含有金属層を上記結合反応に先立って上記セ
ラミック表面に緊密に密着させ、上記けい素化合物とマ
ンガンとrマンガンの融点より低い温度で反応させるこ
とを特徴とする焼結セラミックの金属化法。 2 上記マンガン官有金属層がマンガン又はマンガン合
金あるいはマンガンと他の金属との混合物の蒸着膜、ス
パッタリング膜又はプラズマ溶射膜であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の焼結セラミックの金属
化法。 3、上記マンガン含有金属層がマンガンと銅、ニッケル
又はチタンとの台金融液層であってかつその融6ノーが
他の部材を介して上記セラミックの表面に加圧、密着さ
れていることを特徴とする特Iト11f4末の範囲第1
項記載の焼結セラミンクの金属化法。 4、上記マンガン含有金属j−が上記・焼結セラミック
の衣面粗さよりも小さい粒径を有するマンガン粉、マン
ガンと銅、ニッケル又はチタンとの合金粉、わるいはマ
ンガン粉と銅粉、ニッケル粉又はチタン粉との混合物を
含むペースト全セラミックの表面に乍布し焼付けて得ら
れたものである%許請求の範囲第1項記載の焼結セラミ
ンクの金属化法。 5、 セラミックは炭化けい素焼粘体又は酸化けい素含
有アルミナ焼結体である%許en求の範囲第1項ないし
第4項のいずれかに記載の焼結セラミックの金属化法。 6、上記マンガン合金が、マンガン25〜45重置%と
銅との合金、マンガン50〜70重曽%とニッケルとの
合金又はマンガン42〜43重t%とチタンとの合金で
ある時WF請求の範囲第3項又は第4項記載の焼結セラ
ミックの金属化法。 7.炭化けい素セラミックの所望表面に、マンガン全2
5〜45重せ’/i’l言み残銅からなる台筐、マレガ
ン金50〜70重曽%宮み残ニッケルからなる合金又は
マンガンを42〜43重1%よみ残チタンからなる合金
の箔を載置し1次いで該第を001〜/m”以上の加圧
下で上記合金の融も以上でマンガンの融点以下の温度に
加熱し浴融させて液状の金属層を形成し、炭化けい素と
マンガンの結合反応を(fわせて金属化j−を形成する
ことケ特徴とする特許請求の範囲第3項記載の焼4.3
セラミックの金属化法。 8、結合させるべき金部材料又はセラミック材料を上記
金属化層上に載置して加圧下で加熱して結付反応を行わ
Cる特♂1・請3(の範囲第7項記載の金属化法。 1 9、焼結された酸化アルミニウムのr)r 望表+釦に
。 マンガン金属ノー又はマンガンと他の金属との混合金属
層を真空蒸庸又はスパッタリングにより形成し1次いで
これをマンガンとアルミナ中の酸化けい素との結合反応
全行わせるに充分な温度に加熱することを特徴とする特
許、tIIl水の範囲第1項記載の焼結セラミックの金
属化法。 10、炭化けい素セラミックの所望表面に、マンガンを
25〜45重量%含み残部銅からなる合金。 マンガン′fr:50〜70重蓋%含み残部ニッケルか
らなる合金又はマンガンを42〜43重量%含み残部チ
タンからなる合金の箔ならびに銅、ニッケル又はチタン
の箔又は板を載置し1次いで該第を0.01〜/震1以
上の加圧下で上記合金の融点以上でマンガンの融点以下
の温度に加熱して溶融させ、液状のマンガン含有金属層
を形成し、炭化けい素とマンガンとの結合反応及び上記
消量又は箔と板との結合全行わせることを特徴とする特
許請求の範囲第3項記載の焼結セラミックの金属化法。 11、 マンガン含有金属層を金属化熱処理した後。 該雀属化層上に銅又はニッケルの金属層を形成すること
を特徴とする特許請求の範囲第2項記載の焼結セラミッ
クの金属化法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8542382A JPS58204885A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 焼結セラミツクの金属化法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8542382A JPS58204885A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 焼結セラミツクの金属化法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58204885A true JPS58204885A (ja) | 1983-11-29 |
| JPS6230158B2 JPS6230158B2 (ja) | 1987-06-30 |
Family
ID=13858407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8542382A Granted JPS58204885A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 焼結セラミツクの金属化法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58204885A (ja) |
-
1982
- 1982-05-19 JP JP8542382A patent/JPS58204885A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6230158B2 (ja) | 1987-06-30 |
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