JPS58218601A - 測定器 - Google Patents

測定器

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JPS58218601A
JPS58218601A JP10168382A JP10168382A JPS58218601A JP S58218601 A JPS58218601 A JP S58218601A JP 10168382 A JP10168382 A JP 10168382A JP 10168382 A JP10168382 A JP 10168382A JP S58218601 A JPS58218601 A JP S58218601A
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JP
Japan
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scriber
measuring
block
measured
shaft
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JP10168382A
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JPH0475443B2 (ja
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Masao Nakahara
中原 将夫
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B5/06Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B5/061Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness height gauges

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、測定器に関するものである。
在来の測定器の多くけ、或特定の項目の測定を対象とし
て構成されている。例えば、ハイドデージやダイヤルデ
ージの場合には主として高さを、ノイズやマイクロメー
タ等の場合には幅や径を、深さゲージの場合には孔の深
さのみをそれぞれ測定対象としている〇 このように、各項目毎に測定に当って用いられる測定器
が異なる結果、各種の測定項目を有するワークの測定に
尚っでは、多種の測定器を用意しておくことが必要とな
る。
一方、多項目の測定が可能なものとして、三次元測定機
が知られている。しかしながら、このものは、固定され
たワークに対して接触子を三次元的に移動させる機構を
必要とする関係から、大型化しかつ高価となる上、接触
子を測定項目に応じて交換する必要がある。
本発明の目的は、簡単な構造でもって多種の項目の測定
が可能な測定器を提供することにある。
そのため、本発明では、互いに直交する平面を有するゾ
ロツクに、その−の平面と平行な方向へ移動部材を移動
自在に設け、この移動部材に被測定物に当接される当接
部材を取付けるとともに、前記移動部材をブロックの−
の平面と平行な方向へ移動させる操作ハンドルおよび移
動部材の移動変位置を検出する変位検出器を設け、前記
ブロックの互いに直交する平面を定盤または被測定物に
セットすることにより、測定器の姿勢を変化させ、つま
り移動部材の移動方向を例えば上下方向から水平方向へ
変換し、これにより上記目的を達成しようとするもので
ある。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本実施例の測定器の外観を、第2図はその断面
をそれぞれ示している。これらの図において、ブロック
1は、縦、横、高さがそれぞれ異なる直方体形状に形成
されている。ブロック1の上面1Aには、周面つまりI
E百18、両側面1C11Dおよび背面I E 4C?
Jしてそれぞれ平行な2つの案内孔2A、 2EIが底
面1Fへ内って開口されている。両案内孔2A+2Bに
は、移動部材としての摺動軸3A、3Bがそれぞれ摺動
自在に嵌挿されている。一方の摺動軸3Aにはその一側
長手方向に沿ってラック4が形成されているとともに、
両種動軸3A、3Bの−L端にねじ5t−介して当接部
材としてのスクライバ6が着脱自在に取付けられている
。スクライバ6は、前記摺動軸3A、 3Elと平行な
角柱状の支柱6Aの上端に角柱状の取付部6Bが、下端
に先端が鋭角をなした当接刃6Cがそれぞれ逆方向へ向
って直角に設けられている。前記取付部6Bには、−1
−の中央に前記摺動軸3Aの上着 端に嵌合、係止される孔Tが、その両側方向へ向って前
記両種動軸3A+3Bの軸間距離はなれた位置に前記摺
動軸3Bに選択的に嵌合される孔8がそれぞれ形成され
ている。また、前記支柱6Aには、その正面側に保持部
材9を介して比較的細径の測定軸10が前記摺動軸3A
、3Bの移動方向へ向って移動自在に、かつロックつま
み11により任意の位置に固定可能に設けられている。
また、前記ブロック1の正面1Bには、その下部に前記
摺動軸3Aを案内孔2Aに沿って移動させる移動機構2
1が、上部に前記摺動軸3Aの移動変位量つまりスクラ
イバ6の移動変位量を検出する変位検出器としてのダイ
ヤルデージ41がそれぞれ設けられている。前記移動機
構21は、前記ブロック1の正面1Bに蓋板22によっ
て閉塞された凹部23が形成され、この凹部23の内部
に、前記摺動軸3Aのラック4に噛合された歯車24、
この歯車24に中間歯車25を介して噛合された歯車2
6がそれぞれ回動自在に収納されている。前記歯車24
の中心には、前記蓋板22に形成された挿入孔27を通
じて前記ブロック1の正面1Bへ開口する角孔28が形
成されている。
また、前記歯車26の軸29には、前記凹部23の側壁
に回動自在に支持されたかさ歯車31と互いに噛合する
かさ歯車30が固定されている0かさ歯車31の中心に
目、前記ブロック1の側面10に開口された挿入孔32
と一致して角孔33が形成されている。この角孔33と
前記角孔2Bとには、前記挿入孔32.27に選択的に
挿入された操作ハンドルとしての操作つまみ34の軸3
5が係合されるようになっている。
また、前記ダイヤルケ9−ジ41は、前記摺動軸3Aの
ラック4に歯車42が噛合され、その歯車42の軸43
に指針44が固定され、この指針44の角度がダイヤル
45によって読み取れるようになっている。従って、移
動機構21によって摺動軸3Aが移動されると、その摺
動軸3Aのラック4に噛合された歯車42t−介して指
針44が回動するため、指針44に対応するダイヤル4
5の値から摺動軸3Aの移動変位1つまりスクライバ6
の移動費位置を読み取ることができる。
次に、本実施例の作用を説明する。いま、第1図および
@2図の状態において、操作つまみ34を回動操作する
と、かさ歯車31,30、歯車26゜25を介して歯車
24が回動される。すると、歯車24にラック4を介し
て噛合された摺動軸3Aが案内孔2Aに沿って移動され
るため、スクライバ6も同時に移動される。このとき、
摺動軸3Aが移動すると、歯車42が回動され、その歯
車42の回動に伴って指針44が回動される結果、指針
44に対応するダイヤル45の目盛から摺動軸3Aの移
動変位量、つまりスクライバ6の移動変位量を読み取る
ことができる。従って、スクライバ6の当接刃6Cの測
定面或いは測定軸10の先熾を、定盤や被測定物の基準
面に当接させた後、操作つまみ34の回動操作によって
スクライバ6および測定軸10を移動させ、そのスクラ
イバ6および測定軸10を被測定物の測定面に当接させ
れば、基準面から測定面までの寸法をダイヤルデージ4
1によって読み取ることができる。
そこで、次に本測定器の使用方法を説明する。
まず、ブロック1の底面1Fを基準面となる定盤または
被測定物にセットした場合には、上下方向(2方向)の
寸法を測定することができる。例えば、第3図に示すよ
うに、中盤Aにゾロツク1の底面1Fをセットし、その
スクライバ6を被測定物Wの測>p面Wl、W2に当接
させると、定盤Aの基準面から各測定面W1.W2まで
の高さHl、H2を測定することができる0また、第4
図に示すように、被測定物Wの基準面Woにブロック1
の底FkJIFをセットし、その測定軸10の下端を被
測定物Wの縦孔の底面W3に当接さ11ると、被測定物
Wの基準面W。から縦孔の底面W3までの深さH3す測
定することができる。この場合には、予めスクライバ6
を上昇させ、測定軸10をド降させてその先端が被測定
物Wの基準面W1に当接した位置でスクライバ6に固定
した後、測申軸10の下端を被測定物Wの縦孔の底面W
3に当接させる。
また、ブロック1の背面1Eを基準面となる定盤または
被測定物にセットした場合には、水平方向(X方向また
はY方向)の寸法を測定すること   “ができる。例
えば、第5図に示すように、定盤Aにブロック1の背面
1Eをセットし、そのスクライバ6を、定盤Aに対して
基準面となる垂直な壁面A1から被測定物Wの測定面W
4へ当接させると、被測定物Wの幅や厚みT1を測定す
ることができる。
また、第6図のようにすると、被測定物Wの水平孔の深
さH4を測定することができる。
更に、上述した上下または水平方向の作動を利用すれば
、被測定物Wの穴の内径を測定できるとともに、スクラ
イバ6によって直交方向のけかき作業を行うことができ
る。
一方、操作つまみ34を挿入孔32から挿入孔27へ差
し換え、その操作つまみ34の回動操作によって歯車2
4を回動させるようにすると、ブロック1の側面10を
利用することができる0この場合、第7図に示す如く、
中盤Aにゾロツク1の側面1Dをセットすると、スクラ
イバ6の高さが第5図の状態つまりブロック1の背面1
Eを定盤Aにセットした状態より高くなるため、被測定
物Wの測定面W6が高い場合であってもその幅や厚みT
2を測定することができる。
更に、両槽動軸3A、3Bに対して、スクライバ6をは
ずした後、そのスクライバ6を第8図のように取付ける
と、ブロック1の正面1Aに対してスクライバ6の尚接
方6Cな反対側へ位置させることができる。従って、被
測定物Wとブロック1との位置関係によって勝手違いが
生じても、スクライバ6を反転させることにより、支障
なく作業ができる。
従って、本実施例によれば、直方体形状のブロック1に
、その正面1B1両側面1c、1oおよび背面1Eと平
行な方向へ一対の摺動軸3A、3Bを移動自在に設け、
この一対の摺動軸3A、3Bにスクライバ6を取付ける
とともに、ブロック1の側面1Dに摺動軸3Aを移動さ
せる操作つまみ34を、正面1Bに摺動軸3Aの移動変
位量を検出するダイヤルデージ41をそれすれ設けたの
で、ブロック1の底面IFt−迦盤や被測定物Wに載せ
ると、上下方向(2方向)の寸法例えば被測定物Wの高
さ寸法等の測定およびけがき作業ができ、またブロック
1の背mIEを定盤Aや被測定物Wに載せて測定を行う
と、水平方向(X方向またはY方向)の寸法例えば被測
定物Wの幅や厚み寸法等の測定およびけがき作業ができ
るほか、上下または水平方向の測定を利用して孔の内径
を測定することができる。
また、スクライバ6に、測定軸10を摺動軸3A、3B
の移動方向へ移動自在に設けたので、この測定軸10を
利用して縦孔および水平孔の深さを測定することができ
る。
また、操作つまみ34を、ブロック1の側面10側およ
び正面1B側のいずれにも選択的に差し換え・られるよ
うにしたので、例えば操作つまみ34がブロック1の1
■而10側にあると、被測定物Wその他の作業条件によ
って操作しずらい場合でも、操作つまみ34をブロック
1の正面1B側へ差し換えるだけで、容易に作業するこ
とができる。しかも、操作つまみ34がブロック1の正
面1B側へ差し換えられると、側面10をも利用して測
定を行える利点がある。この場合、グロック1の縦横、
高さがそれぞれ異なっているため、ブロック1の背面1
Eを基準面に載せた場合と側面10を基準面に載せた場
合とで、スクライバ6および測定軸10の高さ位置が異
なるため、被測定物Wの測定面の高さ位置が異なってい
てもそれぞれ測定できる。
更に、スクライバ6t−摺動軸3A、3Bに対して18
0度反転した状態に取付けられるようにしたので、ゾロ
ツク1の正面1Bの左右側にスクライバ6を選択的に位
IKさせることができ、従って勝手違いによって作業し
4″らい場合でも、スクライバ6を反転するだけで支障
なく作業することができる。このほか、スクライバ6お
よび測定軸10が被測定物Wの測Si!面までとどかな
いような場合には、グロックデージを利用することによ
り、スクライバ6および測定軸10のストロークの不足
を補うことができる。
なお、実施に当って、ブロック1は、直方体に限らず、
例えば立方体、多角柱等巾なくとも互いに直交する2つ
の平面を有するものであれば、い  ゝずれの形態であ
ってもよい。また、操作つまみ34は、ブロック1の正
面IBおよび一方の側面10のみならず、ブロック1の
全ての面に対して着脱自在に構成されれば、被測定物W
その他の作業条件によって操作性が制限されない効果が
ある。更に、上記実施例において、スクライバ6を反転
させると、測定軸10がスクライバ6の裏面に位置する
ため、つまりブロック1の正面1Bからみた場合スクラ
イバ6の裏側に測定軸10がかくれるため、不クライバ
6の背面側にも測定軸10を摺動自在に保持する保持部
材9を設けておけば、上記難点を解決することができる
以上の通り、本発明によれば、簡単な構成でもつで多種
の測定項目の測定が可能な測定器を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示すもので、第1図はその外観
を示す斜視図、第2図はその一部を切欠いた正面図、第
3図ないし第8図は測定方法を示・す説明図である。 1・・・ブロック、 3^13B・・・移動部材としての摺動軸・6°°°当
接部劇としてのスクライバ、10・・・当接部材として
の測定軸、 34・・・操作ハンドルとしての操作つまみ、41°°
°変位測定器としてのダイヤルデージ。 代理人 弁理士 木 下 實 三

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)互いに直交する平面を有するブロックと、このブ
    ロックに前記−の平面と平行な方向へ移動可能に設けら
    れた移動部材と、この移動部材に取付けられ被測定物に
    対して当接される当接部材と、前記移動部材を移動させ
    る操作ノ・ンドルと、前記移動部材の移動変位量を検出
    する変位検出器とを具備したことを特徴とする測定器。 (2、特許請求の範囲第1項において、前記ゾiツクは
    、直方体形状に構成されていることを特徴とする測定器
    。 (8)特許請求の範囲第1項または第2項において、前
    配当接部材は、前記移動部材の一熾に設けられたスクラ
    イバであることを特徴とする測定器。 (4)特許請求の範囲第1項または第2項において、前
    配当接部材は、前記移動部材にその移動部材の移動方向
    へ移動可能に設けられた測定軸であることを特徴とする
    測定器。 (5)特許請求の範囲第1項ないし第4項のいずれかに
    おいて、前記操作ノ・ンドルは、前記ブロックの複数の
    平面に対してそれぞれ着脱自在に構成されていることを
    特徴とする測定器。
JP10168382A 1982-06-14 1982-06-14 測定器 Granted JPS58218601A (ja)

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JPH0475443B2 JPH0475443B2 (ja) 1992-11-30

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