JPH0475443B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、測定器に関するものである。

在来の測定器の多くは、或特定の項目の測定を
対象として構成されている。例えば、ハイトゲー
ジやダイヤルゲージの場合には主として高さを、
ノギスやマイクロメータ等の場合には幅や径を、
深さゲージの場合には孔の深さのみをそれぞれ測
定対象としている。

このように、各項目毎に測定に当つて用いられ
る測定器が異なる結果、各種の測定項目を有する
ワークの測定に当つては、多種の測定器を用意し
ておくことが必要となる。

一方、多項目の測定が可能なものとして、三次
元測定機が知られている。しかしながら、このも
のは、固定されたワークに対して接触子を三次元
的に移動させる機構を必要とする関係から、大型
化しかつ高価となる上、接触子を測定項目に応じ
て交換する必要がある。

本発明の目的は、簡単な構造でもつて多種の項
目の測定が可能な測定器を提供することにある。

そのため、本発明では、互いに直交する第１載
置面および第２載置面を有するブロツクと、この
ブロツクに前記第１載置面と直交する方向へ移動
可能に設けられた移動部材と、この移動部材に取
付けられ前記第１載置面と平行でかつ被測定物に
対して当接される当接面を有する当接部材と、前
記ブロツクの前記第１載置面および第２載置面を
除く面に設けられ前記移動部材を移動させる操作
ハンドルと、前記ブロツクの前記第１載置面およ
び第２載置面を除く面に設けられ前記移動部材の
移動変位量を表示する表示器と、を具備した構成
としている。

測定に当たつて、操作ハンドルを操作すれば、
移動部材が第１載置面に対して直交する方向へ移
動し、その移動変位量が表示器に表示される。例
えば、当接部材の当接面が第１載置面と同一平面
に位置した状態を移動変位量の原点とすれば、表
示器には第１載置面から当接部材の当接面までの
距離が表示される。

従つて、ブロツクの第１載置面を被測定物を載
置した定盤上あるいは被測定物の基準面上に載置
した状態で測定を行えば、移動部材が第１載置面
に対して直交する方向へ移動するので、つまり定
盤や被測定物の基準面に対して直交する上下方向
へ移動するので、被測定物の高さ方向の厚み、段
差、溝深さなどを測定することができる（第３図
および第４図参照）。

また、ブロツクの第２載置面を被測定物を載置
した定盤上に載置した状態で測定を行えば、第１
載置面が定盤表面に対して直角に起立した状態と
なり、その第１載置面に対して直交する方向へ移
動部材が移動するので、つまり移動部材が定盤表
面と平行な方向へ移動するので、被測定物の水平
方向の厚み、段差、溝深さなどを測定することが
できる（第５図および第６図参照）。

要するに、ブロツクの第１載置面および第２載
置面を定盤や被測定物上に載置すれば、測定器の
姿勢が変化し、移動部材の移動方向が例えば上下
方向から水平方向へ変換されるので、これにより
上記目的を達成することができる。

以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明
する。

第１図は本実施例の測定器の外観を、第２図は
その断面をそれぞれ示している。これらの図にお
いて、ブロツク１は、縦、横、高さがそれぞれ異
なる直方体形状に形成されている。ブロツク１の
底面１Ｆと背面１Ｅとは、互いに直交する第１載
置面および第２載置面とされている。またブロツ
ク１の上面１Ａには、周面つまり正面１Ｂ、両側
面１Ｃ，１Ｄおよび背面１Ｅに対してそれぞれ平
行な２つの案内孔２Ａ，２Ｂが底面１Ｆへ向つて
開口されている。両案内孔２Ａ，２Ｂには、移動
部材としての摺動軸３Ａ，３Ｂがそれぞれ摺動自
在に嵌挿されている。つまり、第１載置面である
底面１Ｆと直交する方向へ移動自在に設けられて
いる。一方の摺動軸３Ａにはその一側長手方向に
沿つてラツク４が形成されているとともに、両摺
動軸３Ａ，３Ｂの上端にねじ５を介して当接部材
としてのスクライバ６が着脱自在に取付けられて
いる。スクライバ６は、前記摺動軸３Ａ，３Ｂと
平行な角柱状の支柱６Ａの上端に角柱状の取付部
６Ｂが、下端に先端が鋭角をなしかつ底面に前記
ブロツク１の底面１Ｆと平行な当接面を有する当
接刃６Ｃがそれぞれ逆方向へ向つて直角に設けら
れている。前記取付部６Ｂには、その中央に前記
摺動軸３Ａの上端に嵌合、係止される孔７が、そ
の両側方向へ向つて前記両摺動軸３Ａ，３Ｂの軸
間距離はなれた位置に前記摺動軸３Ｂに選択的に
嵌合される孔８がそれぞれ形成されている。ま
た、前記支柱６Ａには、その正面側に保持部材９
を介して比較的細径の測定軸１０が前記摺動軸３
Ａ，３Ｂの移動方向へ向つて移動自在に、かつロ
ツクつまみ１１により任意の位置に固定可能に設
けられている。

また、前記ブロツク１の正面１Ｂには、その下
部に前記摺動軸３Ａを案内孔２Ａに沿つて移動さ
せる移動機構２１が、上部に前記摺動軸３Ａの移
動変位量つまりスクライバ６の移動変位量を表示
する表示器としてのダイヤルゲージ４１がそれぞ
れ設けられている。前記移動機構２１は、前記ブ
ロツク１の正面１Ｂに蓋板２２によつて閉塞され
た凹部２３が形成され、この凹部２３の内部に、
前記摺動軸３Ａのラツク４に噛合された歯車２
４、この歯車２４に中間歯車２５を介して噛合さ
れた歯車２６がそれぞれ回動自在に収納されてい
る。前記歯車２４の中心には、前記蓋板２２に形
成された挿入孔２７を通じて前記ブロツク１の正
面１Ｂへ開口する角孔２８が形成されている。ま
た、前記歯車２６の軸２９には、前記凹部２３の
側壁に回動自在に支持されたかさ歯車３１と互い
に噛合するかさ歯車３０が固定されている。かさ
歯車３１の中心には、前記ブロツク１の側面１Ｄ
に開口された挿入孔３２と一致して角孔３３が形
成されている。この角孔３３と前記角孔２８とに
は、前記挿入孔３２，２７に選択的に挿入された
操作ハンドルとしての操作つまみ３４の軸３５が
係合されるようになつている。

また、前記ダイヤルゲージ４１は、前記摺動軸
３Ａのラツク４に歯車４２が噛合され、その歯車
４２の軸４３に指針４４が固定され、この指針４
４の角度がダイヤル４５によつて読み取れるよう
になつている。従つて、移動機構２１によつて摺
動軸３Ａが移動されると、その摺動軸３Ａのラツ
ク４に噛合された歯車４２を介して指針４４が回
動するため、指針４４に対応するダイヤル４５の
値から摺動軸３Ａの移動変位量つまりスクライバ
６の移動変位量を読み取ることができる。

次に、本実施例の作用を説明する。いま、第１
図および第２図の状態において、操作つまみ３４
を回動操作すると、かさ歯車３１，３０、歯車２
６，２５を介して歯車２４が回動される。する
と、歯車２４にラツク４を介して噛合された摺動
軸３Ａが案内孔２Ａに沿つて移動されるため、ス
クライバ６も同時に移動される。このとき、摺動
軸３Ａが移動すると、歯車４２が回動され、その
歯車４２の回動に伴つて指針４４が回動される結
果、指針４４に対応するダイヤル４５の目盛から
摺動軸３Ａの移動変位量、つまりスクライバ６の
移動変位量を読み取ることができる。従つて、ス
クライバ６の当接刃６Ｃの当接面或いは測定軸１
０の先端当接面を、定盤や被測定物の基準面に当
接させた後、操作つまみ３４の回動操作によつて
スクライバ６および測定軸１０を移動させ、その
スクライバ６および測定軸１０を被測定物の測定
面に当接させれば、基準面から測定面までの寸法
をダイヤルゲージ４１によつて読み取ることがで
きる。

そこで、次に本測定器の使用方法を説明する。
まず、ブロツク１の底面１Ｆを基準面となる定盤
または被測定物をセツトした場合には、上下方向
（Ｚ方向）の寸法を測定することができる。例え
ば、第３図に示すように、定盤Ａにブロツク１の
底面１Ｆをセツトし、そのスクライバ６を被測定
物Ｗの測定面W₁，W₂に当接させると、定盤Ａの
基準面から各測定面W₁，W₂までの高さH₁，H₂
を測定することができる。また、第４図に示すよ
うに、被測定物Ｗの基準面W₀にブロツク１の底
面１Ｆをセツトし、その測定軸１０の下端を被測
定物Ｗの縦孔の底面W₃に当接させると、被測定
物Ｗの基準面W₀から縦孔の底面W₃までの深さ
H₃を測定することができる。この場合には、予
めスクライバ６を上昇させ、測定軸１０を下降さ
せてその先端が被測定物Ｗの基準面W₀に当接し
た位置でスクライバ６に固定した後、測定軸１０
の下端を被測定物Ｗの縦孔の底面W₃に当接させ
る。

また、ブロツク１の背面１Ｅを基準面となる定
盤または被測定物にセツトした場合には、水平方
向（Ｘ方向またはＹ方向）の寸法を測定すること
ができる。例えば、第５図に示すように、定盤Ａ
にブロツク１の背面１Ｅをセツトし、そのスクラ
イバ６を、定盤Ａに対して基準面となる垂直な壁
面A₁から被測定物Ｗの測定面W₄へ当接させる
と、被測定物Ｗの幅や厚みT₁を測定することが
できる。また、第６図のようにすると、被測定物
Ｗの水平孔の深さH₄を測定することができる。

更に、上述した上下または水平方向の作動を利
用すれば、被測定物Ｗの穴の内径を測定できると
ともに、スクライバ６によつて直交方向のけがき
作業を行うことができる。

一方、操作つまみ３４を挿入孔３２から挿入孔
２７へ差し換え、その操作つまみ３４の回動操作
によつて歯車２４を回動させるようにすると、ブ
ロツク１と側面１Ｄを利用することができる。こ
の場合、第７図に示す如く、定盤Ａにブロツク１
の側面１Ｄをセツトすると、スクライバ６の高さ
が第５図の状態つまりブロツク１の背面１Ｅを定
盤Ａにセツトした状態より高くなるため、被測定
物Ｗの測定面W₆が高い場合であつてもその幅や
厚みT₂を測定することができる。

更に、両摺動軸３Ａ，３Ｂに対して、スクライ
バ６をはずした後、そのスクライバ６を第８図の
ように取付けると、ブロツク１の正面１Ａに対し
てスクライバ６の当接刃６Ｃを反対側へ位置させ
ることができる。従つて、被測定物Ｗとブロツク
１との位置関係によつて勝手違いが生じても、ス
クライバ６を反転させることにより、支障なく作
業ができる。

従つて、本実施例によれば、直方体形状のブロ
ツク１に、その正面１Ｂ、両側面１Ｃ，１Ｄおよ
び背面１Ｅと平行な方向へ一対の摺動軸３Ａ，３
Ｂを移動自在に設け、この一対の摺動軸３Ａ，３
Ｂにスクライバ６を取付けるとともに、ブロツク
１の側面１Ｄに摺動軸３Ａを移動させる操作つま
み３４を、正面１Ｂに摺動軸３Ａの移動変位量を
検出するダイヤルゲージ４１をそれぞれ設けたの
で、ブロツク１の底面１Ｆを定盤や被測定物Ｗに
載せると、上下方向（Ｚ方向）の寸法例えば被測
定物Ｗの高さ寸法等の測定およびけがき作業がで
き、またブロツク１の背面１Ｅを定盤Ａや被測定
物Ｗに載せて測定を行うと、水平方向（Ｘ方向ま
たはＹ方向）の寸法例えば被測定物Ｗの幅や厚み
寸法等の測定およびけがき作業ができるほか、上
下または水平方向の測定を利用して孔の内径を測
定することができる。

また、スクライバ６に、測定軸１０を摺動軸３
Ａ，３Ｂの移動方向へ移動自在に設けたので、こ
の測定軸１０を利用して縦孔および水平孔の深さ
を測定することができる。

また、操作つまみ３４を、ブロツク１の側面１
Ｄ側および正面１Ｂ側のいずれにも選択的に差し
換えられるようにしたので、例えば操作つまみ３
４がブロツク１の側面１Ｄ側にあると、被測定物
Ｗその他の作業条件によつて操作しずらい場合で
も、操作つまみ３４をブロツク１の正面１Ｂ側へ
差し換えるだけで、容易に作業することができ
る。しかも、操作つまみ３４がブロツク１の正面
１Ｂ側へ差し換えられると、側面１Ｄをも利用し
て測定を行える利点がある。この場合、ブロツク
１の縦、横、高さがそれぞれ異なつているため、
ブロツク１の背面１Ｅを基準面に載せた場合と側
面１Ｄを基準面に載せた場合とで、スクライバ６
および測定軸１０の高さ位置が異なるため、被測
定物Ｗの測定面の高さ位置が異なつていてもそれ
ぞれ測定できる。

更に、スクライバ６を摺動軸３Ａ，３Ｂに対し
て180度反転した状態に取付けられるようにした
ので、ブロツク１の正面１Ｂの左右側にスクライ
バ６を選択的に位置させることができ、従つて勝
手違いによつて作業しずらい場合でも、スクライ
バ６を反転するだけで支障なく作業することがで
きる。このほか、スクライバ６および測定軸１０
が被測定物Ｗの測定面までとどかないような場合
には、ブロツクゲージを利用することにより、ス
クライバ６および測定軸１０のストロークの不足
を補うことができる。

なお、実施に当つて、ブロツク１は、直方体に
限らず、例えば立方体、多角柱等少なくとも互い
に直交する２つの平面を有するものであれば、い
ずれの形態であつてもよい。また、操作つまみ３
４は、ブロツク１の正面１Ｂおよび一方の側面１
Ｄのみならず、ブロツク１の全ての面に対して着
脱自在に構成されれば、被測定物Ｗその他の作業
条件によつて操作性が制限されない効果がある。
更に、上記実施例において、スクライバ６を反転
させると、測定軸１０がスクライバ６の裏面に位
置するため、つまりブロツク１の正面１Ｂからみ
た場合スクライバ６の裏側に測定軸１０がかくれ
るため、スクライバ６の背面側にも測定軸１０を
摺動自在に保持する保持部材９を設けておけば、
上記難点を解決することができる。

以上の通り、本発明によれば、簡単な構成でも
つて多種の測定項目の測定が可能な測定器を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示すもので、第１図は
その外観を示す斜視図、第２図はその一部を切欠
いた正面図、第３図ないし第８図は測定方法を示
す説明図である。 １……ブロツク、１Ｆ……第１載置面としての
底面、１Ｅ……第２載置面としての背面、３Ａ，
３Ｂ……移動部材としての摺動軸、６……当接部
材としてのスクライバ、１０……当接部材として
の測定軸、３４……操作ハンドルとしての操作つ
まみ、４１……表示器としてのダイヤルゲージ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 互いに直交する第１載置面および第２載置面
   を有するブロツクと、 このブロツクに前記第１載置面と直交する方向
   へ移動可能に設けられた移動部材と、 この移動部材に取付けられ前記第１載置面と平
   行でかつ被測定物に対して当接される当接面を有
   する当接部材と、 前記ブロツクの前記第１載置面および第２載置
   面を除く面に設けられ前記移動部材を移動させる
   操作ハンドルと、 前記ブロツクの前記第１載置面および第２載置
   面を除く面に設けられ前記移動部材の移動変位量
   を表示する表示器と、 を具備したことを特徴とする測定器。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の測定器におい
   て、前記ブロツクは、直方体形状に形成されてい
   ることを特徴とする測定器。 ３ 特許請求の範囲第１項または第２項記載の測
   定器において、前記当接部材は、前記移動部材の
   一端に設けられたスクライバであることを特徴と
   する測定器。 ４ 特許請求の範囲第１項または第２項記載の測
   定器において、前記当接部材は、前記移動部材に
   その移動部材の移動方向へ移動可能に設けられた
   測定軸であることを特徴とする測定器。 ５ 特許請求の範囲第１項ないし第４項のいずれ
   かに記載の測定器において、前記操作ハンドル
   は、前記ブロツクの複数の面に対してそれぞれ着
   脱自在に構成されていることを特徴とする測定
   器。