JPS58219432A - レンズのｍｔｆ測定機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発￥と、レンズのＭＴＦ測定機に関する。

レンズの描写性ご単に解像力だけで決まるもの２になく
、もう少し粗いパターンのコントラスト耳現性に左右さ
れる。その指標としてＭＴＦ（Ｍｏｄ−ｕｌａｔｉｏｎ
　Ｔｒａｎｓｆｅｒ　Ｆｕｎｃｔｉｏｎコントラスト減
少率レスポンス関数とも云う。）が用いられる。レンズ
のＭＴＦｉ、テストチャートに例えばスリットとして設
けられた線状パターンを被験レンズで結像させ、得られ
た線像の光強度分布を７−リエ変換することによって求
められる。通常、空間周波数２０乃至４０本／畷領域で
のＭＴＦ値を規格値と比較してレンズの良否全判定する
。

ＭＴＦ測定の基本的な構成を第１図により説明すると、
光源ランプＩＫよりスリット２を形成したチャート３を
照明し、スリット２の透過光、即ち線状パターンの出射
光を被験レンズ４によ抄結像面５に線像を、結像させ、
その各部の光強度を受光素子アレイ６で検出し、その信
号をコンピュータＣ（入力してフーリエ変換することに
よりλｉＴＦを求めるのである。チャート３上Ｋに例え
ば第２図に示す如く、中心部Ｖｃ１組、周辺部に複数組
（図の場合４隅に各１組）の半径方径及び円周方向に伸
びる１組のスリット２（黒地フィルムに透明な線として
形成される）が設けられており、結像而５には第３図に
示す如く、各スリット２に対応して受光素子アレイ６が
配設されている。これにより、レンズの中心部及び周辺
部の半径方向及び円周方向のＭＴＦ　’ｉ測測定ること
ができる。

ところで、従来一般に使用されているレンズ用ＭＴＦ測
定機では、あたかもスライドプロジェクタ−の如く、被
験レンズは光源ランプとテストチャートの前に光軸が水
平になるように取付けられその前方の結像面に垂直にス
クリーン全役け、線像の投影される位置に受光素子アレ
イが設けられているＯ その装置でｉｊ、ＭＴＦの測定は暗室内で行なわれるた
め、測定作業が行ない難く、又受光素子プレイの受光面
が暗室内にさらされているため、はこシが着き易い。受
光面にほこりが着いた場合に室内照明灯の明りで見て除
去するしかなく、自動的にほこりを検知して除去するこ
とはむつかしい。

この発明は、従来のレンズ用ＭＴＦ測定機の上述の問題
点を解決した測定操作が容易で、受光素子のほこりの付
着、劣化、断線等の異常の自動チェックが可能で測定事
故を未然に防ぎ保守点検の容易なＭＴＦ測定機を提供す
ることを目的とする。

以下、本発明をその実施例を示す図面にもとづいて詳細
に説明する。

第４図に示す本発明の実施例においては、暗箱ｌＯの下
部にプロジェクタ−１１がレンズ装着面を上に向けて設
けられている。プロジェクタ−１１はスライドプロジェ
クタ−と同様光源ランプｌの前にテストチャート３全挿
入し、その前、即ちこの場合上面に被験レンズ４が着脱
可能となっている。

暗箱１１内の天井の近傍［Ｖｉ被験レンズから出射され
た光束を下方に反射させる反射鏡１２が取付けれている
。反射鏡１２ハ被験レンズ４の画角の範囲全体に及ぶ１
枚の平面鏡としてもよいが、第４図の装置ではチャート
３のスリットの各１組に対する光束毎に別の平面鏡が取
付角度を変えて取付けられており、夫々の反射光の方向
が互いにあまり拡がらないようになっている。なお図に
は簡略化する几めスリットがチャートの四隅に一方向Ｖ
ｃ１本だけ設けられているとして画かれており、したか
って反射鏡に４枚設けられている。

各反射鏡１２で反射された夫々の光束の結像面には各ス
リットに対する線像の位置に受光素子アレイ６（１，Ｉ
ｌ、Ｉ、ｆＶｌが設けられている。

プロジェクタ−１１の近傍で暗箱１０の側壁には、被験
レンズ４の着脱及びチャートの交換、内部点検〕ための
開口１３が設けられており、この開口には完全に遮光で
きる蓋１４が開閉可能に設けられている。

暗箱ｌＯの天板には、前記の受光素子アレイ６のすべて
を照明しうる位置に螢光灯１５が設けられている。

父、暗箱ｌＯの側壁ＶＣは、プロジェクタ−１１の光源
ランプ１、上記螢光灯１５への電力供給及び受光素子ア
レイ６の出力取出しの念めコネクタ受は口１６が設けら
れている。受光素子アレイ６の出力に上記コネクタ受は
口１６に接続されたリード線を介シて図示せぬコンピュ
ータに入力される。

この装置は以上の如く構成されて１八るのでレンズのＭ
ＴＰ測定に当っては、明るい部屋の中で暗箱ＩＯの開口
１３の蓋１４ｉ開き、被験レンズ４を上向きにプロジェ
クタ−１１のレンズ取付座に装着し、蓋１４ｚ−閉じ、
光源ランプｌｉ点灯すると、あらかじめプロジェクタ−
１１にセットされているテストチャート３が照射され、
テストチャート３のスリット２を透過した光束に被験レ
ンズ４で収束されミラー１２で反射され、受光素子アレ
イ６上に線像を結像する。この線像の光強度分布にコネ
クタ１６ヲ介シてコンピュータに入力されフーリエ展開
されてＭＴＦが計算され表示又は記録される。

この装置は、以上の如く被験レンズにプロジェクタに上
向き（で取付けられるので着脱が容易である。又テスト
チャート３から受光素子アレイ６の受光面に至る光路は
反射鏡１２により折返されるので暗箱の高さを従来のＭ
ＴＦ測定装置の長さに比較゛して相当小さくすることが
できる。父、第４図に示す実施例の装置でに反射鏡１２
を１枚とせずに各スリットからの光束毎に別に取付角度
を変えて各線像４：Ｌ置が近接するように設けられてい
るので暗箱の据付面積全車さくすることができる。

受光素子アレイ６の受光面は上向きになるが、受光素子
アレイは常時密閉されている暗箱ｌＯ内に設置されてい
るので、はこりがその上に付着するおそれは比較的少い
が、上を向ｉている関係上はこりが付くことがないとは
云えない。その場合、はこりの付着を自動的に検知する
ため常時簡単に受光面の異常をチェックできるようにす
る必要がある。

この装置では天井に設けられた螢光灯１５によりこれを
チェックすることができる。第６図は受光素子アレイチ
ェックのフローチャートである０まずＭＴＦ測定用照明
系をオフし、ついで螢光灯１５を点灯し、各受光素子ア
レイの出力を読取る。その場合、４つの受光素子アレイ
Ｉ、Ｉｔ、Ｉ、ＩＶの出力分布が第５図に示す如＜１．
ｎは所定のレベルに揃い、Ｉｒ１一部の素子の出力が切
欠き状に落ち込み、ＩＶｄ全体的に出力が出なかったと
する◎この出力分布からｔ、ｎの受光素子アレイにつｉ
ては異常がなく、Ｉの受光素子アレイにはほこシが付着
して部分的に螢光灯の光が遮られ、■は回路素子、コネ
クタ等の故障等と判断される。。

父、受光素子アレイの素子数１１１０００乃至２０００
と多く、製造のばらつき等で一定光ｔｔ−照射しても出
力がばらつくのが一般的である。この場合にに暗時の暗
出力と、一定？、ω二を照射した時の明出力とを各ビッ
ト毎に記録し、補正データとして測定時に使用する方法
が考えられている１、本発明のＭＴＦ測定器では受光素
子アレイは暗箱内に設けられ、一定光量の螢光灯で照明
できるので明出力を出力させるときの光源としてこの螢
光灯を利用することが出来、測定時の光学系を変更する
事なく補正データを容易に取込むことができる。

更にこの螢光灯は装置が故障し友時の点検時や、被験レ
ンズの着脱時の照明にも利用できる。

ＭＴＦ測定中は勿論螢光灯を消して測定を行なうが本装
置では測定装置は暗箱中に収容され、測定者に暗箱外の
明るい室内で操作し、コンピュータの計算結果の読取り
、記録も非常に容易である。

測定作業が容易になるのみならず、受光素子の異常チェ
ック及び補正データの測定が簡単にできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はレンズのＭＴＦ測定の原理的構成を示す断面図
、第２図はそのテストチャートの一例を示す正面図、第
３図にその結像面の一例を示す正面図、第４図は本発明
の実施例２示す斜視図、第５図に本発明の装置による受
光素子アレイ異常チェック時の各受光素子アレイの出力
分布の一例を示す図、第６図に受光素子プレイ異常チェ
ックの７０−チャートである。 ｌ・・−光源う／プ　　　　２・−・スリット３・−・
スリットチャート　４・・−被験レンズ６・・・受光素
子アレイ　　ｌＯ・−・暗箱１１・・−プロジェクタ　
　　１２・・−反射鏡１５・・・照明灯

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｌ）暗箱内下部に、スリットチャートを光源灯の前ｉＣ
   装着でき、被験レンズｔその前に上向きに着脱可能なプ
   ロジェクタを、該暗箱内天井付近に反射鏡ｔ１該暗箱石
   下邪に上記スリットチャートのスリットの上記仮装レン
   ズ及び上記反射鏡ｖｃＺる線ｇＩを結像させる受光素子
   アレイを設は九こと全特徴とするレンズのＭＴＦ測定機
   。 ２）　上記の暗箱内部空間に面して上記の受光素子アレ
   イの全部を照明しうる位置に月明手段を設けたことを特
   徴とする特許梢求の範匪第１項に記載のＭＴＦ測定機。