JPS5826253A - 金属表面のコ−テイングを検査する方法および装置 - Google Patents
金属表面のコ−テイングを検査する方法および装置Info
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- JPS5826253A JPS5826253A JP57129516A JP12951682A JPS5826253A JP S5826253 A JPS5826253 A JP S5826253A JP 57129516 A JP57129516 A JP 57129516A JP 12951682 A JP12951682 A JP 12951682A JP S5826253 A JPS5826253 A JP S5826253A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/342—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、金属表面のコーティングを検査する方法お
よび装置に関するものである。
よび装置に関するものである。
金属容器のコーティングを検査する方法とそれを実行す
る装置は、知られている。今までに知られている技術で
は、上記金属容器の内壁は二重にコーティングされてい
る。そのように二重にコーティングする目的は、その表
面のコーティングを確実にかつ完全に子るためである。
る装置は、知られている。今までに知られている技術で
は、上記金属容器の内壁は二重にコーティングされてい
る。そのように二重にコーティングする目的は、その表
面のコーティングを確実にかつ完全に子るためである。
しかしながら、−重のコーティングの代わりに二重にコ
ーティングすることは、不利益である。というのは、二
番目のコーティングが別工程で行なわれ、コストの増加
を伴い、そのうえ、より多くの材料がコーティングのた
めに使用される。そのために、二重コーティングよりも
むしろ二重コーティングを用いる方が、かなり節約でき
ることは、明白である。
ーティングすることは、不利益である。というのは、二
番目のコーティングが別工程で行なわれ、コストの増加
を伴い、そのうえ、より多くの材料がコーティングのた
めに使用される。そのために、二重コーティングよりも
むしろ二重コーティングを用いる方が、かなり節約でき
ることは、明白である。
しかしながら、“他方では、−重コーティングを行うと
きの欠点もしくはそのコーティングを行うために用いる
装置の障害が、許すことのできない生産の低下を生じさ
せる。
きの欠点もしくはそのコーティングを行うために用いる
装置の障害が、許すことのできない生産の低下を生じさ
せる。
前述に関しては、金属容器のコーティングを検査する時
に、今ま、での慣例と対比して、ランダムな検査を実行
するどころか、全部の容器がコーティングの塗布につい
て検査されなければならない。
に、今ま、での慣例と対比して、ランダムな検査を実行
するどころか、全部の容器がコーティングの塗布につい
て検査されなければならない。
上記のことに関連して、本発明は、以下の方法と装置を
提供することを目的としている。それは、全体として非
常に確実な方法でかつとくに速い速度で、生産ラインか
ら連続的に放出されてくる全ての金属物体が、それにさ
れたコーティングの特性について検査されうる。
提供することを目的としている。それは、全体として非
常に確実な方法でかつとくに速い速度で、生産ラインか
ら連続的に放出されてくる全ての金属物体が、それにさ
れたコーティングの特性について検査されうる。
この目的を達成するために、上記発明は、ある種の方法
を提案する。それは、検査される表面が、電磁放射線に
さらされ、そして、反射された放射線の量が測定され、
上記表面に入射した量と比較される。むしろ、本発明を
具現する方法は、２つの監視部材が用いられるというこ
とに特徴づけられる。上記監視部材のうちの１つは、直
接、放射線を受け、他のものは検査される表面から反射
した放射線を受けて、監視部材の百出力信号がお互いに
比較されるということに特徴づけられている。
を提案する。それは、検査される表面が、電磁放射線に
さらされ、そして、反射された放射線の量が測定され、
上記表面に入射した量と比較される。むしろ、本発明を
具現する方法は、２つの監視部材が用いられるというこ
とに特徴づけられる。上記監視部材のうちの１つは、直
接、放射線を受け、他のものは検査される表面から反射
した放射線を受けて、監視部材の百出力信号がお互いに
比較されるということに特徴づけられている。
非常に満足な結果が、検査される表面が放射線にさらさ
れたときに得られる。その放射線を、コーティングがか
なりの範囲で吸収できる。
れたときに得られる。その放射線を、コーティングがか
なりの範囲で吸収できる。
上記発明によれば、コーティングが透明のラッカーで形
成され、電磁放射線の波長スペクトルが主に８５０ ｎ
ｍ以下に単独に広がる方法を使用するのが好ましＩ／′
１゜ 上記発明を具現する方法を実行′ｒる装置は、放射線源
と、検査される表面によって反射された放射線を測定す
るための監視部材と、該監視部材の出力信号と上記表面
に入射した放射線の量を表わす第２信号とを比較するた
めの手段とによって特徴づけられる。例えば、放射線源
によって分配された放射線の量と上記第２信号の分配量
を測定するための第２監視部材を備えている。
成され、電磁放射線の波長スペクトルが主に８５０ ｎ
ｍ以下に単独に広がる方法を使用するのが好ましＩ／′
１゜ 上記発明を具現する方法を実行′ｒる装置は、放射線源
と、検査される表面によって反射された放射線を測定す
るための監視部材と、該監視部材の出力信号と上記表面
に入射した放射線の量を表わす第２信号とを比較するた
めの手段とによって特徴づけられる。例えば、放射線源
によって分配された放射線の量と上記第２信号の分配量
を測定するための第２監視部材を備えている。
上記発明に従゛う装置の好ましい実施態様は、放射線源
に沿って検査される表面を有する物体を連続的に通過さ
せる輸送手段と、比較手段で制御するように連結した排
出部材とを含んでいる。
に沿って検査される表面を有する物体を連続的に通過さ
せる輸送手段と、比較手段で制御するように連結した排
出部材とを含んでいる。
できる限り最も精密に識別するために、発明を具現する
装置は、放射線源と検査される表面との間に配列さ・れ
たフィルターを含んでいる。上記フィルターは、使用さ
れる範囲の波長を有する放射線を通過させる一方、放射
線源によって放射された放射線より長い波長の範囲の放
射線および干渉をおこす放射線を抑制する。
装置は、放射線源と検査される表面との間に配列さ・れ
たフィルターを含んでいる。上記フィルターは、使用さ
れる範囲の波長を有する放射線を通過させる一方、放射
線源によって放射された放射線より長い波長の範囲の放
射線および干渉をおこす放射線を抑制する。
このようにして、コーティングの吸収特性に用いられる
波長の最適の適応性は、確保されている。
波長の最適の適応性は、確保されている。
上記放射線源は、少なくとも一つのガス放電管、好まし
くは三相電源の異なる相に夫々接続される３種のガス放
電管を含んでいる。そのような三相の回路ば、放射され
た放射線の均一性に優れたものであり、一方、それにも
かかわらず、全ての三つのガス放電管は交流によって給
電される間は、寿命がくるまで高い導電性を有する。
くは三相電源の異なる相に夫々接続される３種のガス放
電管を含んでいる。そのような三相の回路ば、放射され
た放射線の均一性に優れたものであり、一方、それにも
かかわらず、全ての三つのガス放電管は交流によって給
電される間は、寿命がくるまで高い導電性を有する。
上記各放電管は、例えば、水素、キセノンや水銀蒸気で
満たされている。後者の場合には、前述のフィルターは
２５８．７ｎｍを越える波長を抑制するように設計され
る。そのような構成では、以下のことが保証される。す
なわち、特に透明なラッカーが強い吸収力を示す２５
Ｂ、７ ｎｍの重要な水銀線は、ラッカーの吸収力の高
くないスペクトル成分の存在により、誤った指示各行な
う危険性を伴なうことなく、最も効果的に作用すること
ができる。
満たされている。後者の場合には、前述のフィルターは
２５８．７ｎｍを越える波長を抑制するように設計され
る。そのような構成では、以下のことが保証される。す
なわち、特に透明なラッカーが強い吸収力を示す２５
Ｂ、７ ｎｍの重要な水銀線は、ラッカーの吸収力の高
くないスペクトル成分の存在により、誤った指示各行な
う危険性を伴なうことなく、最も効果的に作用すること
ができる。
上述した場合には、２つの監視部材が使われている。す
なわち、１つは検査される表面によって反射された放射
線を測定するためのものであり、１つは上記表面に入射
された放射線の総量を測定するためのものである。上記
２つの監視部材はなるべくなら熱電対がよい。このよう
にして、認否基準が長期間、不変であることが充分に確
保されている。上記熱電対のために上記監視部材が配さ
れた所の両側に銅板が用いられている。
なわち、１つは検査される表面によって反射された放射
線を測定するためのものであり、１つは上記表面に入射
された放射線の総量を測定するためのものである。上記
２つの監視部材はなるべくなら熱電対がよい。このよう
にして、認否基準が長期間、不変であることが充分に確
保されている。上記熱電対のために上記監視部材が配さ
れた所の両側に銅板が用いられている。
少なくとも第１監視部材の位置は、調節できるようにす
るのが好ましい。これは、例えば、金属の容器の底から
反射される放射線の感度と容器の円筒壁から反射される
放射線の感度とを釣り合わせられるようにするためであ
る。
るのが好ましい。これは、例えば、金属の容器の底から
反射される放射線の感度と容器の円筒壁から反射される
放射線の感度とを釣り合わせられるようにするためであ
る。
以下に、本発明を図示の実施例に基づき具体的に説明す
る。
る。
第１図は、すずめつきされた鉄の容器の輸送装置ｌを示
している。上記容器のうちの１つは参照番号２で明示さ
れている。上記輸送装置１は、コンベヤーベルト３、磁
気帯状棒材４と案内用帯状棒材５，６とからなっている
。その輸送方向は。
している。上記容器のうちの１つは参照番号２で明示さ
れている。上記輸送装置１は、コンベヤーベルト３、磁
気帯状棒材４と案内用帯状棒材５，６とからなっている
。その輸送方向は。
矢印７で指示されている。
・・ウジング８は１反射板９の下に３本の管状の水銀灯
１０，１１．１２を含み、該水銀灯は、矢印１８で示さ
れた方向に放射線をグロスモード（ｇｒｏｓｓｏ ｍｏ
ｄｏ ）で放射する。
１０，１１．１２を含み、該水銀灯は、矢印１８で示さ
れた方向に放射線をグロスモード（ｇｒｏｓｓｏ ｍｏ
ｄｏ ）で放射する。
上記ランプ１０，１１．１２によって発された放射線の
一部は、石英窓１４を通して上記容器２の内部に入射さ
れる。矢印２５によって示されるように、容器２の内部
から反射された放射線は、石英窓１４と第１帯域ろ波器
１５を通して、銅板１６上に配列された第１監視部材１
７に入射される。
一部は、石英窓１４を通して上記容器２の内部に入射さ
れる。矢印２５によって示されるように、容器２の内部
から反射された放射線は、石英窓１４と第１帯域ろ波器
１５を通して、銅板１６上に配列された第１監視部材１
７に入射される。
さらに進んだ放射線の一部は、開口調整板１８と第２帯
域ろ波器１９を通り、そして、上記銅板１６の他側に配
列された第２監視部材２０に入射する。
域ろ波器１９を通り、そして、上記銅板１６の他側に配
列された第２監視部材２０に入射する。
上記水銀灯１０，１１．１２は、線スペクトルをもつ放
射線を放つ。この線スペクトルには、水銀の圧力を正確
に選択することにより、２５８．７ｎｍの柁長の線が非
常に強烈に描き出される。上記帯域ろ波器１５と１９は
、より大きな波長のスペクトルの成分を削除するように
作られている。
射線を放つ。この線スペクトルには、水銀の圧力を正確
に選択することにより、２５８．７ｎｍの柁長の線が非
常に強烈に描き出される。上記帯域ろ波器１５と１９は
、より大きな波長のスペクトルの成分を削除するように
作られている。
上記開口調整板１８は、処理されていないかんをチェッ
クする場合に、第２監視部材２０の出力信号に相当する
基準値と第１監視部材１７の出力信号とを最適に釣り合
わせるために使用される。
クする場合に、第２監視部材２０の出力信号に相当する
基準値と第１監視部材１７の出力信号とを最適に釣り合
わせるために使用される。
第２図において、最後に言及された設備の詳細が、第１
図よりもより明確に表わされていることに気がつくだろ
う。
図よりもより明確に表わされていることに気がつくだろ
う。
検査される容器２の存在と正しい位置を検査するために
、２つの検出部材２６．２７が備えられている。上記検
出部材２６は、輸送方向７に見ればわかるように、検出
部材２７の前であって、該検出部材２７よりも高い位置
に位置している。」二記部材２６と２７との間に高さの
差を設けたので、容器がどのようにひつくりかえってい
ても検出す２ことができる。縦方向に置き換えることに
よって、容器２の通過速度が測定できる。図示しない手
段により、これらのデータに基づいて、概略的に示す排
出装置２８は、不良な容器を排除するために適正時に作
動でき、容器を、矢印２９の方向へのプランジャ３０の
移動によって、矢印３４で示された方向に側壁３２の開
口３１を通り溝−３３から排出する。
、２つの検出部材２６．２７が備えられている。上記検
出部材２６は、輸送方向７に見ればわかるように、検出
部材２７の前であって、該検出部材２７よりも高い位置
に位置している。」二記部材２６と２７との間に高さの
差を設けたので、容器がどのようにひつくりかえってい
ても検出す２ことができる。縦方向に置き換えることに
よって、容器２の通過速度が測定できる。図示しない手
段により、これらのデータに基づいて、概略的に示す排
出装置２８は、不良な容器を排除するために適正時に作
動でき、容器を、矢印２９の方向へのプランジャ３０の
移動によって、矢印３４で示された方向に側壁３２の開
口３１を通り溝−３３から排出する。
上記検出部材２６と２７からの信号だけでなく、コーテ
ィングの存在を示す監視部材１７と２０から出される信
号に基づき、上記排出装置２８が作動する。上記２つの
監視部材は、上記２つの部材の出力信号を比較する手段
に連結されている。もし、上記手段（図示せず）によっ
て比較することにより、上記第１監視部材１７の出力信
号が、上記容器２の不適当なコーティングに相当する非
常に高い値を有するということが見つけられるならば、
上記検出部材２６と２７との間の縦方向の距離によって
決定されるある時間経過後、上記排出装置２８が駆動用
信号を受けとる。そのため、不良の容器が上記溝３３を
通って排出される。
ィングの存在を示す監視部材１７と２０から出される信
号に基づき、上記排出装置２８が作動する。上記２つの
監視部材は、上記２つの部材の出力信号を比較する手段
に連結されている。もし、上記手段（図示せず）によっ
て比較することにより、上記第１監視部材１７の出力信
号が、上記容器２の不適当なコーティングに相当する非
常に高い値を有するということが見つけられるならば、
上記検出部材２６と２７との間の縦方向の距離によって
決定されるある時間経過後、上記排出装置２８が駆動用
信号を受けとる。そのため、不良の容器が上記溝３３を
通って排出される。
良品の容器は第８の検出部材３５のそばを通過し、その
第８検出部材は良品の容器の数をカウントするのに役だ
たせることかできる。
第８検出部材は良品の容器の数をカウントするのに役だ
たせることかできる。
上記コンベヤーベルト３は、ブロック３７の溝３６内で
案内されることが示されている。上記・・ウジング８は
、検出部材２６，２７，８５、排出装置２８と案内用帯
状棒材５と６と同様に、後壁３８に固定されている。
案内されることが示されている。上記・・ウジング８は
、検出部材２６，２７，８５、排出装置２８と案内用帯
状棒材５と６と同様に、後壁３８に固定されている。
第３図は、切れ目のない連続した曲線によって。
入射した放射線の波長の関数として、透明なラッカにつ
いてのパーセンテージで表された反射率を示している。
いてのパーセンテージで表された反射率を示している。
断続的な曲線は、未処理の表面の反射率を示しでいる。
上記連続曲線から、８５０ ｎｍ以下の波長の吸収は、
かなりの値を有することから明らかにわかる。すなわち
、反射率は１００％よりも相当に低い。上記グラフから
、最良の場合には約２７０ ｔｙＢの波長が用いられる
ことが明白である。水銀蒸気放電管は２５８．７７Ｌｍ
の線を有する放射線を放射する。この波長のものに対す
る反射率もまた非常に低く、つまり、約１７％であるこ
とをこのグラフが示している。このため、水銀灯を使う
のが好ましい。この水銀灯の水銀蒸気圧は、上記スペク
） ／Ｌ／線が最適の相対強さを有するように選択され
ている。上記水銀灯は、一般市場では殺菌灯として利用
されている。
かなりの値を有することから明らかにわかる。すなわち
、反射率は１００％よりも相当に低い。上記グラフから
、最良の場合には約２７０ ｔｙＢの波長が用いられる
ことが明白である。水銀蒸気放電管は２５８．７７Ｌｍ
の線を有する放射線を放射する。この波長のものに対す
る反射率もまた非常に低く、つまり、約１７％であるこ
とをこのグラフが示している。このため、水銀灯を使う
のが好ましい。この水銀灯の水銀蒸気圧は、上記スペク
） ／Ｌ／線が最適の相対強さを有するように選択され
ている。上記水銀灯は、一般市場では殺菌灯として利用
されている。
上記第８図は、例として限界値を矢印３９によって示し
ており、この値を超えたものは、欠陥であるということ
が排出装置２８に知らされる。上記限界値はここでは約
２５％に選択されている。
ており、この値を超えたものは、欠陥であるということ
が排出装置２８に知らされる。上記限界値はここでは約
２５％に選択されている。
８５０ ｎｍ以下の範囲の波長では、未処理の金属表面
の反射は、実質−Ｆ１００％である。
の反射は、実質−Ｆ１００％である。
上記監視部材と検出部材からの信号を処理する方法は、
随意に選べることは明白であろう。例えば、マイクロ・
コンピュータを用いることが推測できる。後者の場合に
は、マイクロ・コンピュータの配憶スペースが、生産系
列もしくは他の同種のもの等の一日のデータを収集する
ために用いられる。さらに、例えば、限界値３９を使用
するこ゛とによって、反射レベルの分類が行なえる。
随意に選べることは明白であろう。例えば、マイクロ・
コンピュータを用いることが推測できる。後者の場合に
は、マイクロ・コンピュータの配憶スペースが、生産系
列もしくは他の同種のもの等の一日のデータを収集する
ために用いられる。さらに、例えば、限界値３９を使用
するこ゛とによって、反射レベルの分類が行なえる。
さらにまた、第１図に示されたものとは異なる他の輸送
手段が用いられうるということが指摘される。もし、ア
ルミニウムかんが用いられるならば、十分に凹凸のある
コンベヤーベルトを使って、上記かんを自重によって位
置を保持するようにできる。
手段が用いられうるということが指摘される。もし、ア
ルミニウムかんが用いられるならば、十分に凹凸のある
コンベヤーベルトを使って、上記かんを自重によって位
置を保持するようにできる。
明らかに、多数の変形が本発明の範囲内に内在している
。
。
第１図は本発明を具現する装置の部分斜視図、第２図は
本発明を具現する装置の詳細な断面図、第３図は透明な
ラッカ一層の反射率と未処理の金属の反射率を使用され
た放射線の波長に対して記したグラフを示す図である。 １・・・輸送装置、１０．１１．１２・・・水銀灯、１
５．１９・・・帯域ろ波器、１７．２０・・・監視部材
、２８・・・排出装置。 特許出願人 ）７ツセン・エン・ドレイペルーベルブリ
ファ・ナームローズ・ペンノットジャツブ 代理人弁理士青山 葆ほか２名 ＦＩＧ、３ ｊｌ：Ｉ …１
ｌ−−ｆ昭和５７＃９月９ 日 特許庁畏 官 殿 ｌ 事件の表示 昭和５７年特許願第 １２９５１６ 号２発明の
名称 金属表面のコーティングを検査する方法および装置３、
補正をする者 事件との関係 特許出願人 別紙の通り。
本発明を具現する装置の詳細な断面図、第３図は透明な
ラッカ一層の反射率と未処理の金属の反射率を使用され
た放射線の波長に対して記したグラフを示す図である。 １・・・輸送装置、１０．１１．１２・・・水銀灯、１
５．１９・・・帯域ろ波器、１７．２０・・・監視部材
、２８・・・排出装置。 特許出願人 ）７ツセン・エン・ドレイペルーベルブリ
ファ・ナームローズ・ペンノットジャツブ 代理人弁理士青山 葆ほか２名 ＦＩＧ、３ ｊｌ：Ｉ …１
ｌ−−ｆ昭和５７＃９月９ 日 特許庁畏 官 殿 ｌ 事件の表示 昭和５７年特許願第 １２９５１６ 号２発明の
名称 金属表面のコーティングを検査する方法および装置３、
補正をする者 事件との関係 特許出願人 別紙の通り。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）検査される表面が電磁放射線にさらされると共に
、反射された放射線の暇が測定されて、上記表面に入射
した放射線の量と比較されるようにしたことを特徴とす
る金属表面のコーティングを検査する方法。 （２）１つは直接に放射線を受けとり他の１つは検査さ
れる上記表面を経由して放射線を受けとる２つの監視部
材が用いられると共に、該監視部材の百出力信号が相互
に比較されるようにしたことを特徴とする特許請求の範
囲第１項に記載の金属表面のコーティングを検査する方
法。 （３）上記検査される表面力ζ上記コルティングが感知
できるほどの吸収力を有する放射線にさらされるように
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項もしくは第
２項に記載の金属表面・のコーチインクを検査する方法
。 （４）上記コーティングが透明なラッカーであると共に
、上記電磁放射線の波長スペクトルが３５０ ｎｍ以下
に略単独に広がるようにしたことを特徴とする特許請求
の範囲第１項乃至第３項のいずれかに記載の金属表面の
コーティングを検査する方法。 （５）放射線源と、上記検査される表面で反射された放
射線を測定するための監視部材と、該監視部材の出力信
号と上記表面に入射された放射線の量を表わす第２信号
とを比較するための手段とを備えたことを特徴とする金
属表面のコーティングを検査する装置。 （６）上記放射線源によって分配された放射線の量と上
記第２信号の値を測定するための第２監視部材を備えた
ことを特徴とする特許請求の範囲第５項に記載の金属表
面のコーティングを検査する装置。 （７）検査される表面を有する物体を連続的に通過させ
るための輸送手段と、上記比較手段で制御されるように
連結された排出部材を備えたことを特徴とする特許請求
の範囲第５項もしくは第６項に記載の金属表面のコーテ
ィングを検査する装置。 （８）上記放射線源と検査される上記表面との間に配さ
れて、相当な範囲の波長の放射線を抑圧する一方使用さ
れる範囲の波長の放射線を通過させ、上記放射線源によ
って放射された放射線の波長と他の放射線を通過させる
フィルターを備えたことを特徴とする特許請求の範囲第
５項乃至第７項のいずれかに記載の金属表面のコーティ
ングを検査する装置。 （９）上記放射線源が少なくとも１つのガス放電管を備
えたことを特徴とする特許請求の範囲第５項乃至第８項
のいずれ、かに記載の金属表面のコーティングを検査す
る装置。 （１０） 上記ガス放電管の少なくとも一つが水銀蒸
気で満されると共に、上記フィルターが２５３゜７ ｎ
ｍを超える波長を抑圧するように設計されていることを
特徴とする特許請求の範囲第９項に記載の金属表面のコ
ーティングを検査する装置。 （１１） 上記２つの監視部材が熱電対であることを
特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の金属表面のコ
ーティングを検査する装置。 （１２） 少なくとも上記第１監視部材の位置が調節
できるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第５
項乃至第１１項のいずれかに記載の金属表面のコーティ
ングを検査する装置。 （１８） ８つのガス放電管が三相電源の異なる相に
夫々接続されたことを特徴とする特許請求の範−間第９
項に記載の金属表面のコーティングを検査する装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8103492 | 1981-07-23 | ||
| NL8103492A NL8103492A (nl) | 1981-07-23 | 1981-07-23 | Werkwijze voor het controleren van de bekleding van een metalen oppervlak, alsmede inrichting voor het uitvoeren van die werkwijze. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5826253A true JPS5826253A (ja) | 1983-02-16 |
| JPH0545909B2 JPH0545909B2 (ja) | 1993-07-12 |
Family
ID=19837842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57129516A Granted JPS5826253A (ja) | 1981-07-23 | 1982-07-23 | 金属表面のコ−テイングを検査する方法および装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4542296A (ja) |
| EP (1) | EP0071316B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5826253A (ja) |
| AT (1) | ATE26023T1 (ja) |
| DE (1) | DE3275750D1 (ja) |
| NL (1) | NL8103492A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH087145B2 (ja) * | 1986-08-04 | 1996-01-29 | 日本製紙株式会社 | コ−ト層表面の接着剤濃度の測定方法 |
| JPS63153455A (ja) * | 1986-12-18 | 1988-06-25 | Yokogawa Electric Corp | 光デイスクテストシステム |
| JPH0632186B2 (ja) * | 1987-01-09 | 1994-04-27 | 富士写真フイルム株式会社 | フロツピ−デイスク用ケ−スの検査方法 |
| EP0371643A3 (en) * | 1988-11-23 | 1991-05-29 | W.R. Grace & Co.-Conn. | Improved method and apparatus for inspecting workpieces |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US2185690A (en) * | 1938-06-30 | 1940-01-02 | Edgar Brothers Company | Instrument for measuring light reflectivity |
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| US2781477A (en) * | 1953-07-30 | 1957-02-12 | Electronics Corp America | Photoelectric control apparatus |
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| US4266878A (en) * | 1978-12-26 | 1981-05-12 | Norlin Industries, Inc. | Apparatus for measurement of soil moisture content |
| EP0047612A1 (en) * | 1980-09-04 | 1982-03-17 | Imperial Chemical Industries Plc | Apparatus for detecting flaws in internal coatings on moving open-mouth containers |
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1981
- 1981-07-23 NL NL8103492A patent/NL8103492A/nl not_active Application Discontinuation
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1982
- 1982-07-21 DE DE8282200941T patent/DE3275750D1/de not_active Expired
- 1982-07-21 EP EP82200941A patent/EP0071316B1/en not_active Expired
- 1982-07-21 AT AT82200941T patent/ATE26023T1/de not_active IP Right Cessation
- 1982-07-23 JP JP57129516A patent/JPS5826253A/ja active Granted
- 1982-07-23 US US06/401,320 patent/US4542296A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4919222A (ja) * | 1972-06-15 | 1974-02-20 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL8103492A (nl) | 1983-02-16 |
| DE3275750D1 (en) | 1987-04-23 |
| US4542296A (en) | 1985-09-17 |
| EP0071316B1 (en) | 1987-03-18 |
| JPH0545909B2 (ja) | 1993-07-12 |
| EP0071316A1 (en) | 1983-02-09 |
| ATE26023T1 (de) | 1987-04-15 |
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