JPS5826522B2 - テ−プ厚計測装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は例えばテープレコーダに使用される磁気テー
プのテープ厚を計測する装置に関する。

例えばカセットテープでは記録時間の規格として例えば
往復１２０分の記録ができるＣｌ２Ｏ、往復９０分のＣ
９０、往復６０分のＣ６０等が表示されている。

従ってこれらの表示を見れば記録できる時間が解るよう
になっている。

ところでＣｌ２Ｏ、Ｃ９０、Ｃ６０等の規格から外れた
カセットもある。

この規格外のカセットは主に記録済のテープとして市販
される場合が主でありその規格の表示はない。

然し乍ら一応Ｃ４６、Ｃ４５、Ｃ３０等とする規格に類
別されている。

従って規格が表示されないカセットを装着し記録又は再
生成は巻戻し等の操作をしたときテープレコーダにおい
てその規格を判別し表示を行うことができると便利であ
る。

これらの規格を判別するにはテープ厚を計測すればよい
ことは知られている。

この発明の目的は例えばこのようなカセットテープの規
格をテープレコーダに装着した状態で判別することがで
きるテープ厚計測装置を提供するにある。

この発明では巻取リールの任意のテープ半径を起点にし
たテープの巻取数をＮ１、供給側リールの任意のテープ
半径を起点にしたテープの巻取数をＮ２、巻取側リール
の任意のテープ位置における定速送り時の周期をＴ１、
供給側リールの任意のテープ位置における定速送り時の
周期をＴ２、テープの定速走行速度をＶ、円周率をπと
したと“ ゝ・Ｔ・−ゝ・Ｔ・を演算してテープ厚りを
求き−・ π Ｎｉ＋川 めるように横取するものである。

先ずこの演算式によってテープ厚りが求められる理由に
ついて説明する。

第１図に各符号の定義を示す。

第１図において１は巻取リール、２は供給リールである
。

これら巻取リール１及び供給リール２のリールハブの半
径なＲ８、巻取リール１に巻取られたテープの巻胴の半
径をＲ１、供給リール２側のテープ巻胴の半径をＲ２、
テープの全長を１、定速送り時のテープ速度をＶ、テー
プ厚をｈとし、テープ速度がＶのとき時間ｔｒ後の巻取
リール１側のテープの巻胴の半径なＲ１、そのときの供
給リール２側の巻胴の半径をＲ７とするとテープ巻胴の
面積の変化の関係から ・なる関係式が得られる。

また巻胴の直径の変化は の関係にある。

ここでＮ１は巻取リール１のテープ巻胴の任意の直径を
起点としたテープ巻取数、Ｎ２は供給リール２のテープ
巻胴の任意の直径を起点としたテープ巻取数。

この（１）式と（２）式とから が得られる。

ここで （ＴＩ、Ｔ２はテープ巻胴が半径Ｒ１，Ｒ２のときの定
速送り時の巻取り−ル１と供給リール２の周期秒） （３）式と（４）式により半径Ｒについて消去し、ｈに
ついて解くと が得られる。

結局定速送り時のテープ速度Ｖと巻取リール１のテープ
巻胴の任意の直径を起点としたテープ巻取数Ｎ１ と供
給リール２のテープ巻胴の任意の直径を起点としたテー
プ巻取数Ｎ２と、テープ巻胴の半径がＲ１とＲ２の位置
でテープ速度がＶのときの巻取リール１と供給リール２
０回転周期Ｔ３、Ｔ２が解ればテープの厚みｈを求める
ことができる。

よって例えば成るカセットを使用するに先だってそのカ
セットを装着した状態で先ず定速送り状態で周期Ｔ１と
Ｔ２を実測し、その後巻取リール１側の巻取数が成る一
定の数に達するまでテープを送りそのときの供給リール
２の巻取数（実際はテープ総出数）Ｎ２を計測しその各
計測値から第５式を演算すればテープ厚りを算出するこ
とができ、テープの規格例えばＣ−１２０，Ｃ−９０、
Ｃ−６０等の規格を知ることができる。

第２図はテープ巻取数Ｎ１、Ｎ２及びリール軸の回転周
期Ｔ１、Ｔ２を検出してテープ厚りを算出しカセットの
規格を表示させるための具体的実施例を示す。

第２図において３及び４は巻取リール軸と供給リール軸
の回転を検出する検出器である。

この検出器３及び４は例えば光学的な受光素子或はリー
ドスイッチ、ホール素子等の感磁性素子等が利用できる
。

検出器３及び４からは例えばリール軸が１回転する毎に
１個の割合でパルス信号が得られるものとする。

これらの検出信号は必要に応じて増幅器５及び６にて所
要のレベルにまで増幅し、フリップフロップ７と８に供
給する。

フリップフロップ７と８からリール軸が１回転する毎に
「ｌ」論理と「０」論理を繰返す矩形波信号が得られる
。

この矩形波信号をアンドゲート９と１０に供給しアンド
ゲート９と１０においてパルス発生器１１から出力され
る例えばＩＫＨｚ 程度の周波数のパルスをゲートし、
そのゲート出力をカウンタ１２と１３に供給し巻取側と
供給側のリール軸がテープ速度Ｖのときに１回転する間
カウンタ１２と１３で成る一定の周波数のパルスを計数
し、その計数値をマイクロプロセッサ１４に周期Ｔ１と
Ｔ２として取込む。

マイクロプロセッサ１４は周知のように中央処理装置Ｃ
ＰＵと、リードオンリーメモリＲＯＭと、ランダムアク
セスメモリＲＡＭ等を有し、カウンタ１２と１３で計数
した周期Ｔ１とＴ２に対応した計数値を例えばランダム
アクセスメモ！ＪＲＡＭに記憶する。

周期ＴＩとＴ２の計測が完了するとマイクロプロセッサ
１４からの指令によりテープレコーダのテープ移送速度
が切換られて例えば早送り状態にされ、フリップフロッ
プ７と８の出力をマイクロプロセッサ１４に読込んでテ
ープの巻取数Ｎ６、Ｎ２が計測される。

例えば巻取リール１のテープ巻取数Ｎ、が予めマイクロ
プロセッサ１４に設定した数に達すると、このときの供
給リール２のテープ繰出回数Ｎ２を取込む。

ＴＩ、Ｔ２とＮ１、Ｎ２及び定速送り時のテープ速度例
えばｖ ＝ ４．７５ ｃｍ／ ｓｅｃと、π−３，１
４とにより第５式をマイクロプロセッサ１４内で演算し
、その演算結果をデコーダ１５にて規格表示信号に変換
し表示器１６にＣｌ２Ｏ、Ｃ９０、Ｃ６０等の表示を行
わせる。

従って始めの１回転だけ定速駆動しリール１と２の回転
周期Ｔ１とＴ２を計数し、その後テープを早送り或は巻
戻し等の高速に切換えてＮ１、Ｎ２を計数すれば短時間
に多くのＮ１、Ｎ２を計数することができ、それだけ精
度の高い計測ができる。

以上説明したようにこの発明によればカセット式テープ
レコーダにおいて、未知の規格のテープを装着してもそ
の規格を表示することができるから始端から終端までの
記録又は再生時間を知ることができ便利である。

向上述ではテープレコーダのテープ厚を測定する場合を
例示して説明したが、その他のテープ状態例えば８ミリ
フイルム等の厚さを計測することにも利用でき、テープ
レコーダのテープ厚測定だけに限られるものではない。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に用いる演算式の各符号を説明するた
めのテープレコーダの平面図、第２図はこの発明の一実
施例を示す系統図である。 １：巻取リール、２：供給リール、３：巻取リールの回
転を検出する検知器、４：供給リールの回転を検出する
検知器、１２：巻取リールの回転周期を検出する手段、
１３：供給リールの回転周期を検出する手段、１４：Ｎ
１、Ｎ２を計数する手段を含む演算機能を持つマイクロ
プロセッサ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 Ｉ Ａ、テープが定速走行速度■で移送されている状
   態で巻取側リールの任意のテープ位置における巻取側リ
   ールの回転周期Ｔ、を検出する第１検出手段と、 Ｂ、この第１検出手段が周期Ｔ１を測定している状態に
   おいて供給側リールの回転周期Ｔ２を検出する第２検出
   手段と、 Ｃ，テープが任意の速度で移送されている状態で巻取側
   リール又は供給側リールの任意のテープ半径を起点に巻
   取側リール又は供給側リールの回転数が所定値Ｎ１ に
   達することを検出する第３検出手段と、 Ｄ、上記第３検出手段が巻取側リール又は供給側リール
   の回転数が所定値Ｎ１に達するまでの時間他方のリール
   の回転数Ｎ２を検出する第４検出手段と、 Ｅ、これら第１乃至第４検出手段により検出した値Ｔ１
   、Ｔ２、Ｎ１、Ｎ２とテープの定速走行速度Ｖと、円周
   率πにより Ｖ Ｎ、Ｔ・−ゝ・Ｔ・ヶ演算１、−ｒ−７”厚ｈｆ
   、ｃπ Ｎ２”＋Ｎ１” 求める演算手段と、 から成るテープ厚計測装置。