JPS5827066A - 電気測定用プロ−ブ - Google Patents
電気測定用プロ−ブInfo
- Publication number
- JPS5827066A JPS5827066A JP57128305A JP12830582A JPS5827066A JP S5827066 A JPS5827066 A JP S5827066A JP 57128305 A JP57128305 A JP 57128305A JP 12830582 A JP12830582 A JP 12830582A JP S5827066 A JPS5827066 A JP S5827066A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- tip
- pair
- glove
- conductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 9
- 241001417534 Lutjanidae Species 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 229930091051 Arenine Natural products 0.000 description 1
- 241000277331 Salmonidae Species 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 239000012858 resilient material Substances 0.000 description 1
- 235000011888 snacks Nutrition 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06788—Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
- H01R11/11—End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
- H01R11/18—End pieces terminating in a probe
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はグローブ、Ｉｆ＃に導線又は素子のリード線を
把持する丸めに１対の調整可能なグローブ・チップを有
する小蓋の電気測定用デ四−ツに関する。
把持する丸めに１対の調整可能なグローブ・チップを有
する小蓋の電気測定用デ四−ツに関する。
成る種の回路では、表示装置に同時に複数の信号を表示
させる必要がある。これは、複数の信号間のタイ２ング
関係が意味をもつ情報と１ｋｂ論−場信号の場合に特に
癲てはまる。オシロスコーｌ又はｖ：１シツク・アナラ
イプの様な多チヤンネル表示装置線、複数ＯＩｌ定プロ
ーブが装着され九プローブ・４ツドと共に通常使用する
。この目的のために使用する一般的デロープは、従来の
普通の用過の電気測定用プローブと比較して小型化され
ていゐ、しかし、グローブが接続される小型回路と比較
すると、このグローブはまだかなり大きい、更に、従来
のグローブは、ばねで偏倚されえかぎ状部又は挟持部の
様な、プローを本体に比例して小蓋化され九従来のグロ
ーブ・チップを使用している。これらの従来のグローブ
・テップは、チェアル。インライン・Δツケーｙ（ＤＩ
Ｐ）集積回路の様な高密度回路では、接続及び＊ｊはず
しが困難である−りｔｊｌ、目的の導−に接触すると同
時に隣接する導線又状リード線がグローブ・チップで接
触してしまい、短絡を生じ、１個又はそれ以上の高価な
回路素子Ｋｌｋ命的損傷をもたらす結果になる。
させる必要がある。これは、複数の信号間のタイ２ング
関係が意味をもつ情報と１ｋｂ論−場信号の場合に特に
癲てはまる。オシロスコーｌ又はｖ：１シツク・アナラ
イプの様な多チヤンネル表示装置線、複数ＯＩｌ定プロ
ーブが装着され九プローブ・４ツドと共に通常使用する
。この目的のために使用する一般的デロープは、従来の
普通の用過の電気測定用プローブと比較して小型化され
ていゐ、しかし、グローブが接続される小型回路と比較
すると、このグローブはまだかなり大きい、更に、従来
のグローブは、ばねで偏倚されえかぎ状部又は挟持部の
様な、プローを本体に比例して小蓋化され九従来のグロ
ーブ・チップを使用している。これらの従来のグローブ
・テップは、チェアル。インライン・Δツケーｙ（ＤＩ
Ｐ）集積回路の様な高密度回路では、接続及び＊ｊはず
しが困難である−りｔｊｌ、目的の導−に接触すると同
時に隣接する導線又状リード線がグローブ・チップで接
触してしまい、短絡を生じ、１個又はそれ以上の高価な
回路素子Ｋｌｋ命的損傷をもたらす結果になる。
本発明によれば、小ＩＩｆローｆｄ導線又は素子のリー
ＰＩＩＩを把持する九めに回転可能な伸長し九１対のチ
ップ電極を有する。１対のチップ電極は互いに離間され
、各々はグローブ本体の長軸に対して略直角に曲げられ
ている。そして両チップ電極は、開放位置では、互いに
略平行である・これらは、導線を捕まえて、それを把持
する閉鎖位置を形成するように互いの方向に９０’回転
する。！ローｆ本体とチップ電極の間でグロー！・チッ
プに弾性部材即ちスナッ／々−を設けることにょシ、把
持動作が完全になる。チップ電極が閉鎖位置に回転する
前に導線又は素子のリード線を実際に弾性部材に向って
押圧する０弾性部材及び回転チップ電極の組合わせによ
る効果は−、導線又は素子のり−Ｐ＠ｆｃｆａ−ｆを接
続するが又は取〕はずす際及びデローツを実際に接続し
ている間に、過って回路を短絡することを回避できるこ
とである。
ＰＩＩＩを把持する九めに回転可能な伸長し九１対のチ
ップ電極を有する。１対のチップ電極は互いに離間され
、各々はグローブ本体の長軸に対して略直角に曲げられ
ている。そして両チップ電極は、開放位置では、互いに
略平行である・これらは、導線を捕まえて、それを把持
する閉鎖位置を形成するように互いの方向に９０’回転
する。！ローｆ本体とチップ電極の間でグロー！・チッ
プに弾性部材即ちスナッ／々−を設けることにょシ、把
持動作が完全になる。チップ電極が閉鎖位置に回転する
前に導線又は素子のリード線を実際に弾性部材に向って
押圧する０弾性部材及び回転チップ電極の組合わせによ
る効果は−、導線又は素子のり−Ｐ＠ｆｃｆａ−ｆを接
続するが又は取〕はずす際及びデローツを実際に接続し
ている間に、過って回路を短絡することを回避できるこ
とである。
本実−の一実施例では、回転操作手段即ちチップ電極を
回転させゐ部分は、！ローブ・チッｌの棒状導電部分に
形成し九カム・アームと係合する傾斜カム面を含む移動
筒状部材であ）、筒状部材が長手方向でチップ電極に向
って一動する間に、カム・アームを互いに内側に回転さ
せる。筒状部材を引いて元の状態にすると、カム・アー
ムは互いに外側に回転する。
回転させゐ部分は、！ローブ・チッｌの棒状導電部分に
形成し九カム・アームと係合する傾斜カム面を含む移動
筒状部材であ）、筒状部材が長手方向でチップ電極に向
って一動する間に、カム・アームを互いに内側に回転さ
せる。筒状部材を引いて元の状態にすると、カム・アー
ムは互いに外側に回転する。
他の実施例では、１個のプラスチック製本体は、一体と
なった蝶番にょシ分離された、固定部分及びレノ４一部
分を含む、２個の電極は固定部分を通って長手方向に伸
び、し／ヤ一部分で終端する。電極の蝶番に近い部分は
わずかく角度がつけられ、レバ一部分内に設けた細長い
孔に嵌合する各電極のレノ脅−・アームとなる。ここで
は、し／皆一部分が回転操作手段とな）しΔ一部分を！
ローブの長手方向の中心軸から離すと、し／ｆ−・７−
ムはそれと共に動き、チップを互いに内′側に回転させ
る。
なった蝶番にょシ分離された、固定部分及びレノ４一部
分を含む、２個の電極は固定部分を通って長手方向に伸
び、し／ヤ一部分で終端する。電極の蝶番に近い部分は
わずかく角度がつけられ、レバ一部分内に設けた細長い
孔に嵌合する各電極のレノ脅−・アームとなる。ここで
は、し／皆一部分が回転操作手段とな）しΔ一部分を！
ローブの長手方向の中心軸から離すと、し／ｆ−・７−
ムはそれと共に動き、チップを互いに内′側に回転させ
る。
！ローブ本体を軽量なプラスチツタで構成し、半インチ
以下の長さにすれば、導線又は素子のリード線を把持す
る極めて軽量な小型のデローデになる。
以下の長さにすれば、導線又は素子のリード線を把持す
る極めて軽量な小型のデローデになる。
従って本発明の目的は、導線又は素子のリード線を把持
する丸め１対の回転可能なチップ電極を有する小型の電
気測定用デローツを提供することである。
する丸め１対の回転可能なチップ電極を有する小型の電
気測定用デローツを提供することである。
本発明の他の目的は、隣接する導体への接触によシ回路
を短絡することなく、回路に接続し又は回路から取りａ
ずすことができる電気測定用グローブを提供することで
ある。
を短絡することなく、回路に接続し又は回路から取りａ
ずすことができる電気測定用グローブを提供することで
ある。
本発明の他の目的は、容易に接続でき又は取〕はずせる
小型の電気測定用デローデを提供することである。
小型の電気測定用デローデを提供することである。
本発明の他の目的は、把持用チップを有すゐ新規な電気
測定用デ四−ツを提供することである。
測定用デ四−ツを提供することである。
本発明の他の目的及び効果は、添付図を参照して行う以
下の説明よシ尚業者には明らかとなろう。
下の説明よシ尚業者には明らかとなろう。
第１，２及び３図は、導線又は素子のリード線を一把持
するように構成した本発明の一実施例を示ｔデーーブ・
チップは夫々チップ電極（至）、（６）棒状導電部分ｍ
、ａ！１及びカム・アーム（財）及び（１）を含む。遊
端部及び旋回端一部を有す石１対の伸長した回転可能チ
ッｌ電Ｉｉ榊及び（２）は、旋回端部で離間した関係で
絶縁性本体α◆から伸び、本体の長軸に対して略直角に
配置されている０本体ａ◆はプラスチックの様な適蟲な
非導電性材料で形成してよい、一対の細長い中空孔榊及
び（２）を！ロープ本体（ロ）の長軸に対し七各々平行
に設け、！ロープ・チップの棒状導電部分軸及び＠を中
空孔（ロ）及びに）内に配置する。カム・アーム＠及び
（ハ）を夫々棒状導電部分（ホ）及び＠に形成し、カム
・アーム（財）及び（至）は本体α峰の開口（至）及び
（至）から集めする。開口（至）及び（至）は、衝撃障
害減少用の絶縁材料でカム・アーム（財）及び（ホ）を
覆える程度の大きさにしなければいけない、更に、開口
（至）及び０ＩＯ端部は、棒状導電部分■及び（２）の
長手方向の動き門防ぐために上層が下層よシ突き出た衝
止面を形成する。
するように構成した本発明の一実施例を示ｔデーーブ・
チップは夫々チップ電極（至）、（６）棒状導電部分ｍ
、ａ！１及びカム・アーム（財）及び（１）を含む。遊
端部及び旋回端一部を有す石１対の伸長した回転可能チ
ッｌ電Ｉｉ榊及び（２）は、旋回端部で離間した関係で
絶縁性本体α◆から伸び、本体の長軸に対して略直角に
配置されている０本体ａ◆はプラスチックの様な適蟲な
非導電性材料で形成してよい、一対の細長い中空孔榊及
び（２）を！ロープ本体（ロ）の長軸に対し七各々平行
に設け、！ロープ・チップの棒状導電部分軸及び＠を中
空孔（ロ）及びに）内に配置する。カム・アーム＠及び
（ハ）を夫々棒状導電部分（ホ）及び＠に形成し、カム
・アーム（財）及び（至）は本体α峰の開口（至）及び
（至）から集めする。開口（至）及び（至）は、衝撃障
害減少用の絶縁材料でカム・アーム（財）及び（ホ）を
覆える程度の大きさにしなければいけない、更に、開口
（至）及び０ＩＯ端部は、棒状導電部分■及び（２）の
長手方向の動き門防ぐために上層が下層よシ突き出た衝
止面を形成する。
移動制御部材即ち筒状部材（至）は、望遠鏡状に本体ａ
◆に装着され、１対の溝状開口軸及び（至）を有する。
◆に装着され、１対の溝状開口軸及び（至）を有する。
この溝状開口（ロ）及び（２）杜、それらの前方端で互
いに向い合い、その後方で互いの方向に螺旋状に形成さ
れる。カム・アーム（ハ）及び（至）は溝状開口（ロ）
及び（至）に嵌合し、筒状部材に）は、！費−ゾを開放
及び閉鎖位置にするためにチップ電極（至）及び（ロ）
を同時に９０″回転させる操作機構を形成する。筒状部
材（２）が第１図に示す復帰状１１にあると、カム・ア
ーム（財）及び（至）は溝状開口軸及び（至）の前方端
に位置し、チップ電極（イ）及び（２）は互いに平行で
ある。
いに向い合い、その後方で互いの方向に螺旋状に形成さ
れる。カム・アーム（ハ）及び（至）は溝状開口（ロ）
及び（至）に嵌合し、筒状部材に）は、！費−ゾを開放
及び閉鎖位置にするためにチップ電極（至）及び（ロ）
を同時に９０″回転させる操作機構を形成する。筒状部
材（２）が第１図に示す復帰状１１にあると、カム・ア
ーム（財）及び（至）は溝状開口軸及び（至）の前方端
に位置し、チップ電極（イ）及び（２）は互いに平行で
ある。
筒状部材（２）を前方に移動させる間、カム・アーム（
財）及び（至）線溝状開口（ロ）及び（至）の縁の傾斜
力五面に嵌会し、筒状部材（ロ）がチップ電極の方向に
移動すゐにつれて互いに内側に回転し、電極（転）及び
（６）は同時Ｋ ９０＠回転し、第２図に示す様な把持
位置になる。
財）及び（至）線溝状開口（ロ）及び（至）の縁の傾斜
力五面に嵌会し、筒状部材（ロ）がチップ電極の方向に
移動すゐにつれて互いに内側に回転し、電極（転）及び
（６）は同時Ｋ ９０＠回転し、第２図に示す様な把持
位置になる。
弾性部材即ちスナツパ−一は、本体α◆とチップ電極韓
及び（ロ）の間に配置され、把持動作を完全にす為、チ
ップ電極が第２図に示す様に閉鎖位置にあ名と、把持さ
れた導線懐、スナツパーーに向って押圧されるので、ス
ナツ／量−一は変形する。しかし、スナツΔ−に）は永
久に変形したｉまでは表く、軟質プラスチック又はｆム
の様な弾性材料で作られているので、チップ電極が開く
と、初めの状態に弾力的に戻る。
及び（ロ）の間に配置され、把持動作を完全にす為、チ
ップ電極が第２図に示す様に閉鎖位置にあ名と、把持さ
れた導線懐、スナツパーーに向って押圧されるので、ス
ナツ／量−一は変形する。しかし、スナツΔ−に）は永
久に変形したｉまでは表く、軟質プラスチック又はｆム
の様な弾性材料で作られているので、チップ電極が開く
と、初めの状態に弾力的に戻る。
第３図は詳細な構造を示すための、筒状部材（至）及び
本体α◆の部分切欠図である。チッグ電＠（転）及び（
２）と、棒状導電部分（ホ）及び（２）と、カム・アー
ム（財）及び（至）とを有する完全なプローブ・チップ
構体は、一本の鋼線から形成でき、製造において簡単且
つ安価である。そして、図に示す様にケープルーの中心
導！Ｉ−と電気的に接触する。
本体α◆の部分切欠図である。チッグ電＠（転）及び（
２）と、棒状導電部分（ホ）及び（２）と、カム・アー
ム（財）及び（至）とを有する完全なプローブ・チップ
構体は、一本の鋼線から形成でき、製造において簡単且
つ安価である。そして、図に示す様にケープルーの中心
導！Ｉ−と電気的に接触する。
本発明による電気測定用プローブの第２実施例を第４、
第５及び第６図に示す。第４図はプローブの平面図、第
５及び第６図は夫々閉鎖位置及び開放位置にある側面図
である。一体となった蝶番−によシ分離された固定部分
−及びレバー（財）で構成されたデ四−デ本体員は、プ
ラスチックの様な非導電性材料で一体に形成される。扁
平な導電部材−は、フェルール即ち接続補強用金属管■
に取付けられ、！ロープ本体固定部分＃！４に挿入され
も絶縁された導線−を７エルール■内に挿入し、はんだ
付又はクリンプの様な従来の方法で取付は本しノ量−一
は閉鎖位置で７エルール曽に嵌合し、プローブを固定す
るように構成する。
第５及び第６図に示す。第４図はプローブの平面図、第
５及び第６図は夫々閉鎖位置及び開放位置にある側面図
である。一体となった蝶番−によシ分離された固定部分
−及びレバー（財）で構成されたデ四−デ本体員は、プ
ラスチックの様な非導電性材料で一体に形成される。扁
平な導電部材−は、フェルール即ち接続補強用金属管■
に取付けられ、！ロープ本体固定部分＃！４に挿入され
も絶縁された導線−を７エルール■内に挿入し、はんだ
付又はクリンプの様な従来の方法で取付は本しノ量−一
は閉鎖位置で７エルール曽に嵌合し、プローブを固定す
るように構成する。
鋼線を曲げて、チップ電極−及び四と、棒状導電部分（
２）及びぐ◆と、し／ｆ一部■及び（至）とを形成した
１対の回転可能なプローブ・チップ軸、−を本体部分輪
内に配置し、しｐ＋一部（ハ）及び（至）をレバー軸内
の孔■及び−に、嵌め込む。プローブ・チップ−及び輪
は、扁平な導電板−と電気的に接触すム上述した様に、
弾性スナツパーーを１０一ブ本体−の固定部分−とチッ
グ電極岐及び（至）の間に設けて、把持動作を容易にす
る。
２）及びぐ◆と、し／ｆ一部■及び（至）とを形成した
１対の回転可能なプローブ・チップ軸、−を本体部分輪
内に配置し、しｐ＋一部（ハ）及び（至）をレバー軸内
の孔■及び−に、嵌め込む。プローブ・チップ−及び輪
は、扁平な導電板−と電気的に接触すム上述した様に、
弾性スナツパーーを１０一ブ本体−の固定部分−とチッ
グ電極岐及び（至）の間に設けて、把持動作を容易にす
る。
第６図に示す様に、プローブ本体−の長細からレバー−
を離脱させると、チップ電極−及゛び（至）は開、数位
置に回転する。１対の突起■及び（至）は、２個のチッ
プ電極−及び（ハ）が互いに平行となる開放位置で当接
する。レバーｆ４にプローブ本体−の軸に戻すと、チッ
プ電極−及び（至）は互いの方向に９０’回転し、プロ
ーｆＦｉ、第４図及び第５図に示す様に閉鎖位置になる
。レバー−内の細長い孔軸の先端は、フェルール曽より
も少し狭く、プローブの閉鎖位置において、しｚ４−の
嵌合作用による固定を行う。
を離脱させると、チップ電極−及゛び（至）は開、数位
置に回転する。１対の突起■及び（至）は、２個のチッ
プ電極−及び（ハ）が互いに平行となる開放位置で当接
する。レバーｆ４にプローブ本体−の軸に戻すと、チッ
プ電極−及び（至）は互いの方向に９０’回転し、プロ
ーｆＦｉ、第４図及び第５図に示す様に閉鎖位置になる
。レバー−内の細長い孔軸の先端は、フェルール曽より
も少し狭く、プローブの閉鎖位置において、しｚ４−の
嵌合作用による固定を行う。
以上本発明による好適な実施例についてのみ詳述し九が
、本発明の要旨を逸脱することなく変形及び変更を成し
得ることは当業者にとって明らかである。
、本発明の要旨を逸脱することなく変形及び変更を成し
得ることは当業者にとって明らかである。
第１及び第２図は夫々開放及び閉鎖位置にある本発明に
よる電気測定用プローブの一実施例を示す斜視図、第３
図は第１及び第２図のプローブの一部切欠図、第４図は
本発明による電気測定用プローブの他の実施例の平面図
、＃Ｉ５及び第６図は夫々閉鎖及び開放位置にある第４
図のプローブの側面図である。 図中において、り◆及び鱒は絶縁性本体、（至）、（２
）。 （財）及び（ロ）、（２）、＠の夫々による構成並びに
−及び−はプローブ・チップ、（至）及び−は回転操作
手段である。
よる電気測定用プローブの一実施例を示す斜視図、第３
図は第１及び第２図のプローブの一部切欠図、第４図は
本発明による電気測定用プローブの他の実施例の平面図
、＃Ｉ５及び第６図は夫々閉鎖及び開放位置にある第４
図のプローブの側面図である。 図中において、り◆及び鱒は絶縁性本体、（至）、（２
）。 （財）及び（ロ）、（２）、＠の夫々による構成並びに
−及び−はプローブ・チップ、（至）及び−は回転操作
手段である。
Claims (1)
- 絶縁性本体と：該絶縁性本体に回転可能に取付けられ、
上記絶縁性本体よシ屈曲して突出した先′端部を有する
１対のグローブ・チップと、該１対のグローブ・チップ
を同時に回転させ、上記先端部を開放位置又は閉鎖位置
にする回転操作手段とを具え九ことを特徴とする電気測
定用プローブ・
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/286,447 US4491788A (en) | 1981-07-27 | 1981-07-27 | Miniature electrical probe |
| US286447 | 1988-12-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5827066A true JPS5827066A (ja) | 1983-02-17 |
| JPS6341497B2 JPS6341497B2 (ja) | 1988-08-17 |
Family
ID=23098648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57128305A Granted JPS5827066A (ja) | 1981-07-27 | 1982-07-22 | 電気測定用プロ−ブ |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4491788A (ja) |
| JP (1) | JPS5827066A (ja) |
| CA (1) | CA1196960A (ja) |
| DE (1) | DE3228059A1 (ja) |
| FR (1) | FR2510263A1 (ja) |
| GB (1) | GB2103027B (ja) |
| NL (1) | NL8202612A (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4812745A (en) * | 1987-05-29 | 1989-03-14 | Teradyne, Inc. | Probe for testing electronic components |
| DE3803270A1 (de) * | 1988-02-04 | 1989-08-17 | Buehler Ag Geb | Sensorkonstruktion |
| US5032787A (en) * | 1989-11-03 | 1991-07-16 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Electrical test probe having rotational control of the probe shaft |
| USD347187S (en) | 1992-02-20 | 1994-05-24 | Shu-Hui Chou | Electric test pen |
| AU121313S (en) | 1993-04-07 | 1994-08-18 | Mod Tap W Corp | A wire inserter tool |
| US5512840A (en) * | 1994-01-28 | 1996-04-30 | Nogaki; Paul V. | Electrical test clips for slotted and Phillips screw heads |
| USD354923S (en) | 1994-01-31 | 1995-01-31 | Tektronix, Inc. | Probing head for an electrical test probe |
| DE19652271C2 (de) * | 1996-02-24 | 1998-04-09 | Herbert Amrhein | Kontaktklemme |
| US6252391B1 (en) * | 1998-08-28 | 2001-06-26 | International Business Machines Corporation | High frequency probe |
| JP4071629B2 (ja) * | 2000-12-22 | 2008-04-02 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブカートリッジアッセンブリ―並びに多プローブアッセンブリー |
| US7262614B1 (en) | 2005-02-10 | 2007-08-28 | Lecroy Corporation | Planar on edge probing tip with flex |
| US7321234B2 (en) * | 2003-12-18 | 2008-01-22 | Lecroy Corporation | Resistive test probe tips and applications therefor |
| US9404940B1 (en) | 2006-01-06 | 2016-08-02 | Teledyne Lecroy, Inc. | Compensating probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes |
| US9140724B1 (en) | 2006-01-06 | 2015-09-22 | Lecroy Corporation | Compensating resistance probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes |
| US7671613B1 (en) * | 2006-01-06 | 2010-03-02 | Lecroy Corporation | Probing blade conductive connector for use with an electrical test probe |
| JP5826760B2 (ja) | 2009-11-27 | 2015-12-02 | ハイジトロン, インク.Hysitron, Inc. | ミクロ電気機械ヒータ |
| US8631687B2 (en) | 2010-04-19 | 2014-01-21 | Hysitron, Inc. | Indenter assembly |
| CN102478591A (zh) * | 2010-11-24 | 2012-05-30 | 富泰华工业（深圳）有限公司 | 测试笔 |
| WO2013074623A1 (en) | 2011-11-14 | 2013-05-23 | Roger Schmitz | Probe tip heating assembly |
| US9804072B2 (en) | 2011-11-28 | 2017-10-31 | Hysitron, Inc. | High temperature heating system |
| WO2013187972A1 (en) | 2012-06-13 | 2013-12-19 | Schmitz Roger William | Environmental conditioning assembly for use in mechanical testing at micron or nano-scales |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT211427B (de) * | 1957-01-29 | 1960-10-10 | Ernoe Reich | Mit einem Anzeigegerät ausgerüsteter Meßwandler |
| CH420314A (de) * | 1964-11-20 | 1966-09-15 | Duerrenwaechter Werner | Kontaktabgreifklemme |
| GB1177379A (en) * | 1967-11-23 | 1970-01-14 | Futters London Ltd | Improvements in and relating to Electric Probes or Testing Devices |
| US4001679A (en) * | 1975-02-19 | 1977-01-04 | Cargile William P | Wedge action electrical test probe |
| DE2514755A1 (de) * | 1975-04-04 | 1976-10-14 | Werner Riess | Druckpruefspitzen fuer ic's |
| US4139817A (en) * | 1976-09-13 | 1979-02-13 | Tektronix, Inc. | Impedance-switching connector |
-
1981
- 1981-07-27 US US06/286,447 patent/US4491788A/en not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-06-09 CA CA000404772A patent/CA1196960A/en not_active Expired
- 1982-06-22 GB GB08218077A patent/GB2103027B/en not_active Expired
- 1982-06-28 NL NL8202612A patent/NL8202612A/nl not_active Application Discontinuation
- 1982-07-22 JP JP57128305A patent/JPS5827066A/ja active Granted
- 1982-07-26 FR FR8212991A patent/FR2510263A1/fr active Granted
- 1982-07-27 DE DE19823228059 patent/DE3228059A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2103027B (en) | 1985-02-13 |
| JPS6341497B2 (ja) | 1988-08-17 |
| GB2103027A (en) | 1983-02-09 |
| FR2510263B1 (ja) | 1985-03-22 |
| DE3228059A1 (de) | 1983-02-10 |
| CA1196960A (en) | 1985-11-19 |
| FR2510263A1 (fr) | 1983-01-28 |
| US4491788A (en) | 1985-01-01 |
| NL8202612A (nl) | 1983-02-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6341497B2 (ja) | ||
| US4057313A (en) | Test clip | |
| US4597622A (en) | Electrical connector for electrical circuit test probe and connector | |
| US4659987A (en) | Electrical circuit test probe and connector | |
| JPH0257675B2 (ja) | ||
| EP0563234B1 (en) | Testing clip and circuit board contacting method | |
| US3963316A (en) | Electrical connector for a printed circuit board | |
| US2516657A (en) | Electric test probe | |
| US2438350A (en) | Test probe | |
| JP2007533974A5 (ja) | ||
| JP3165066B2 (ja) | 管状ばねを持つ弾性コネクタ | |
| US5184065A (en) | Twist lock probe tip | |
| GB1316072A (en) | Foetal scalp electrodes | |
| TW201232934A (en) | Connecting terminal | |
| US4812745A (en) | Probe for testing electronic components | |
| US2429039A (en) | Implement for welding or the like | |
| JP2664350B2 (ja) | 端子ネジ接続用クリップ | |
| US3995131A (en) | Switch mounting for marking instrument | |
| JPH0342377Y2 (ja) | ||
| JPH0514216Y2 (ja) | ||
| JP2804427B2 (ja) | 電流供給コンタクト・プローブ | |
| JPS60170209A (ja) | 可変抵抗器及び開閉器の結合体 | |
| US3348190A (en) | Test clip | |
| US4891586A (en) | IC grabber probe | |
| US1749702A (en) | Electric swivel |