JPS5830724B2 - 可変抵抗器の変化特性トリミング方法 - Google Patents
可変抵抗器の変化特性トリミング方法Info
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- JPS5830724B2 JPS5830724B2 JP52110190A JP11019077A JPS5830724B2 JP S5830724 B2 JPS5830724 B2 JP S5830724B2 JP 52110190 A JP52110190 A JP 52110190A JP 11019077 A JP11019077 A JP 11019077A JP S5830724 B2 JPS5830724 B2 JP S5830724B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、可変抵抗器の摺動子位置対抵抗値の関係(以
下変化特性という)をある所望の変化特性に自動的にト
リミングする方法に関するものである。
下変化特性という)をある所望の変化特性に自動的にト
リミングする方法に関するものである。
一般に工業計器、ロボット等の産業用分野における可変
抵抗器は、例えば精密ポテンショメータにおいては、回
転角度に比例して抵抗値が変化し、また高級アッテネー
タにおいては、減衰量が正しく変化することが要求され
るにもかかわらず、製造技術だけでは十分カバーし得な
い面があった。
抵抗器は、例えば精密ポテンショメータにおいては、回
転角度に比例して抵抗値が変化し、また高級アッテネー
タにおいては、減衰量が正しく変化することが要求され
るにもかかわらず、製造技術だけでは十分カバーし得な
い面があった。
そこで従来は所要の全抵抗値、変化特性を得るために、
全抵抗値をあらかじめ低く製造し、所要の全抵抗値にお
ける理論変化特性を減少変位で求めておき、摺動子を除
々に移動しその都度摺動子から得られる抵抗値を上記理
論変化特性における抵抗値になるまでカッター等でトリ
ミングする手段が用いられていた。
全抵抗値をあらかじめ低く製造し、所要の全抵抗値にお
ける理論変化特性を減少変位で求めておき、摺動子を除
々に移動しその都度摺動子から得られる抵抗値を上記理
論変化特性における抵抗値になるまでカッター等でトリ
ミングする手段が用いられていた。
このような方法では可変抵抗器の各位置における抵抗値
変化などの特性がわからないため、トリミングを行なっ
ていく途中のある位置においては、トリミングしなくて
も目標値を越えるなどの問題が生じ、許容抵抗値の範囲
内で再度目標値を設定し直してトリミングを行なうなど
極めて時間と労力がかかるものであった。
変化などの特性がわからないため、トリミングを行なっ
ていく途中のある位置においては、トリミングしなくて
も目標値を越えるなどの問題が生じ、許容抵抗値の範囲
内で再度目標値を設定し直してトリミングを行なうなど
極めて時間と労力がかかるものであった。
またこのような問題を避け、トリミングを円滑に行なう
には、トリミング前の初期変化特性が目標の特性にかな
り良く類似させることが必要であった。
には、トリミング前の初期変化特性が目標の特性にかな
り良く類似させることが必要であった。
さらに摺動子を移動させながら、摺動子位置に対応した
所のトリミングを行なうため、トリミングによる切り粉
などが摺動子に付着して悪影響を及ぼしたり、摺動子と
導体との接触面での接触抵抗が直接トリミング精度に影
響するなどの欠点があった。
所のトリミングを行なうため、トリミングによる切り粉
などが摺動子に付着して悪影響を及ぼしたり、摺動子と
導体との接触面での接触抵抗が直接トリミング精度に影
響するなどの欠点があった。
本発明はかかる欠点を除去し、高速かつ高精度で、自動
的にトリミングが行なえ、高品質な可変抵抗器を量産可
能にしたトリミング方法を提供しようとするものである
。
的にトリミングが行なえ、高品質な可変抵抗器を量産可
能にしたトリミング方法を提供しようとするものである
。
すなわちトリミングすべき可変抵抗器の変化特性を一定
の計測ステップで測定記憶し、これら記憶されたデータ
からトリミング可能な目標基準変化特性を計算し、各計
測ステップに対応した位置におけるトリミング目標値を
計算する一方、各計測ステップで得られた抵抗値の初期
変化特性からその各ステップにおけるトリミング値を求
め、その求められた清適りにトリミングした時に生ずる
不均一電流分布によりもたらされた未トリミング側の抵
抗値の変化を計算し、この抵抗値変化とそれに対応した
位置におけるトリミング目標値とからトリミング実行の
ための目標値を計算し、このトリミング実行目標値に合
わせるべくトリミングを行なうものである。
の計測ステップで測定記憶し、これら記憶されたデータ
からトリミング可能な目標基準変化特性を計算し、各計
測ステップに対応した位置におけるトリミング目標値を
計算する一方、各計測ステップで得られた抵抗値の初期
変化特性からその各ステップにおけるトリミング値を求
め、その求められた清適りにトリミングした時に生ずる
不均一電流分布によりもたらされた未トリミング側の抵
抗値の変化を計算し、この抵抗値変化とそれに対応した
位置におけるトリミング目標値とからトリミング実行の
ための目標値を計算し、このトリミング実行目標値に合
わせるべくトリミングを行なうものである。
以下図面に従って本発明の詳細な説明するが、説明を容
易にするため、被トリミング可変抵抗器は回転型ポテン
ショメータとし、変化特性は直線性(リニアリティ)の
トリミングを行なうこととして以下説明する。
易にするため、被トリミング可変抵抗器は回転型ポテン
ショメータとし、変化特性は直線性(リニアリティ)の
トリミングを行なうこととして以下説明する。
しかし、本発明はトリミング対象物がポテンショメータ
に限定されず可変抵抗器一般と考えてよく、またその形
状も回転型および直線型を問わず、また変化特性もリニ
アリティに限定されるものではない。
に限定されず可変抵抗器一般と考えてよく、またその形
状も回転型および直線型を問わず、また変化特性もリニ
アリティに限定されるものではない。
本発明の具体的な動作を説明する前に、本発明を実施す
る装置の機構部の一例について第1図に従って説明する
。
る装置の機構部の一例について第1図に従って説明する
。
第1図において、X軸、駆動部35に固定されたホルダ
ー36には擬似摺動子3とトリミング用ノズル4が適当
な間隔mをおいて、同一の高さに取付けられている。
ー36には擬似摺動子3とトリミング用ノズル4が適当
な間隔mをおいて、同一の高さに取付けられている。
今、被トリミング可変抵抗器の初期変化特性を計測する
場合には、被トリミング可変抵抗器1をセットしたθ軸
駆動部33の軸中心と、上記擬似摺動子3の回転中心が
合わされた時、上記θ軸駆動部33に回転を与えると、
通常の可変抵抗器の摺動子を回転させたと等価な関係が
得られるようになっている。
場合には、被トリミング可変抵抗器1をセットしたθ軸
駆動部33の軸中心と、上記擬似摺動子3の回転中心が
合わされた時、上記θ軸駆動部33に回転を与えると、
通常の可変抵抗器の摺動子を回転させたと等価な関係が
得られるようになっている。
トリミングを行なう場合は、X軸部動部35を(m−r
o)だけ右に移動させると被トリミング可変抵抗器1の
内周上にトリミング用ノズル4が位置することになる。
o)だけ右に移動させると被トリミング可変抵抗器1の
内周上にトリミング用ノズル4が位置することになる。
従って、この点を基準にしてトリミング用ノズル4から
砥粒噴射を行なうと同時にホルダー36が左へ移動する
様にX軸駆動部を移動するとトリミングが行なえる。
砥粒噴射を行なうと同時にホルダー36が左へ移動する
様にX軸駆動部を移動するとトリミングが行なえる。
トリミング手段には、ダイアモンドカッタとか、サンド
ブラスト(砥粒噴射によるトリミング)の他にレーザに
よるトリミングがあるが、ここではサンドブラストにつ
いて説明を行なうが、前記、トリミング用ノズル40代
りにダイアモンドカッタおよびレーザを用いても側ら変
りないことは明らかである。
ブラスト(砥粒噴射によるトリミング)の他にレーザに
よるトリミングがあるが、ここではサンドブラストにつ
いて説明を行なうが、前記、トリミング用ノズル40代
りにダイアモンドカッタおよびレーザを用いても側ら変
りないことは明らかである。
トリミングを行なった後、X軸部動部35を被トリミン
グ可変抵抗器1の内周上に復帰させた後、θ軸を一定変
位移動せしめて同様に作動させることにより順次トリミ
ングが行なえるように構成されている。
グ可変抵抗器1の内周上に復帰させた後、θ軸を一定変
位移動せしめて同様に作動させることにより順次トリミ
ングが行なえるように構成されている。
次に、第2図に従って、本発明の具体的な実施例につい
て、その動作を説明する。
て、その動作を説明する。
第2図において、該トリミングポテンショメータ1の端
子20および22に定電流源2を接続し、摺動子3を介
して端子21から摺動子の位置に対応した電圧を得る。
子20および22に定電流源2を接続し、摺動子3を介
して端子21から摺動子の位置に対応した電圧を得る。
この電圧は、リレー接点5を通してAD変換器9に入り
、ディジタル信号に変換されて、データ記憶回路10に
蓄えられるようになっている。
、ディジタル信号に変換されて、データ記憶回路10に
蓄えられるようになっている。
以下、可変抵抗の初期変化特性を計測する動作を説明す
る。
る。
初めに、摺動子3は被トリミング可変抵抗器1の始点に
位置されており、制御回路140指令によりθ軸駆動回
路8が作動し、θ軸周モータγがある定められた計測ス
テップだけ駆動させられると同時に、AD変換器9を作
動させ、計測ステップにおける端子22に現われた電圧
をディジタル変換して、データ記憶回路10に記憶する
と共に。
位置されており、制御回路140指令によりθ軸駆動回
路8が作動し、θ軸周モータγがある定められた計測ス
テップだけ駆動させられると同時に、AD変換器9を作
動させ、計測ステップにおける端子22に現われた電圧
をディジタル変換して、データ記憶回路10に記憶する
と共に。
データエリアを更新して次のデータ取得に備える3同様
に、制御回路140指令によりθ軸駆動回路8が作動し
、θ軸用モータ7が一計測ステップだけ回転が進められ
、回転角位置に対応した電圧がAD変換されデータ記憶
回路に取り込まれる。
に、制御回路140指令によりθ軸駆動回路8が作動し
、θ軸用モータ7が一計測ステップだけ回転が進められ
、回転角位置に対応した電圧がAD変換されデータ記憶
回路に取り込まれる。
以下同様に、n回にわたってθ軸を回転駆動して被トリ
ミング可変抵抗器1の終点まで摺動子位置を変えなから
AD変換およびデータ記憶回路へのデータの取り込みを
繰り返す。
ミング可変抵抗器1の終点まで摺動子位置を変えなから
AD変換およびデータ記憶回路へのデータの取り込みを
繰り返す。
第3図に各計測ステップθ1.θ2・・・・・・・・・
θ。
θ。
における初期変化特性v1.■2・・・・・・・・・V
Hを示す。
Hを示す。
計測動作が終了すると、制御回路14は最大勾配検出回
路11を作動させ、初期変化特性データのうちで電圧勾
配が最大になるV 1−Vi−11rnaxを検索する
。
路11を作動させ、初期変化特性データのうちで電圧勾
配が最大になるV 1−Vi−11rnaxを検索する
。
検索が終了すると制御回路14は目標基準特性算出回路
12を作動させ、検索されたVi−Vi−1jmaxの
勾配に対して、有効電気角の始点から終点までを直線で
結んだ線をトリミングに対する目標基準特性として計算
し、データを蓄える。
12を作動させ、検索されたVi−Vi−1jmaxの
勾配に対して、有効電気角の始点から終点までを直線で
結んだ線をトリミングに対する目標基準特性として計算
し、データを蓄える。
この直線は、初期変化特性の持つ最大勾配から求められ
ているので、有効電気角の全範囲にわたってトリミング
が可能となる特性であることは云うまでもない。
ているので、有効電気角の全範囲にわたってトリミング
が可能となる特性であることは云うまでもない。
第3図に各計測ステップθ1.θ2・・・・・・・・・
θ。
θ。
に対する目標基準特性a1゜a2・・・・・・・・・a
nを示し、anO値がトリミング後の全抵抗値に対応し
た電圧値を示すことになる。
nを示し、anO値がトリミング後の全抵抗値に対応し
た電圧値を示すことになる。
一般にトリミングとは、初期変化特性を目標基準変化特
性に一致させることであり、とりもなおさず、−計測ス
テップ間の初期変化特性の勾配(viVi−1)を目標
基準特性の勾配(aia t 1 )一定に一致させ
ることを意味している。
性に一致させることであり、とりもなおさず、−計測ス
テップ間の初期変化特性の勾配(viVi−1)を目標
基準特性の勾配(aia t 1 )一定に一致させ
ることを意味している。
すなわち、白標準特性の勾配(ai−ai 1)=一定
値Gと初期に抵抗体のその部分が持っている勾配(Vi
−vi−1)−Ei との差G−Ei =v’riだげ
トリミングしてやればよいことになる。
値Gと初期に抵抗体のその部分が持っている勾配(Vi
−vi−1)−Ei との差G−Ei =v’riだげ
トリミングしてやればよいことになる。
次に、各計測ステップに対する初期特性と目標基準特性
からトリミングのための目標f直が、トリミング目標値
算出回路13によって算出される。
からトリミングのための目標f直が、トリミング目標値
算出回路13によって算出される。
以下、トリミング動作についての説明を行なう。
トリミング動作時は、前記、機構部の所で説明したよう
に、被トリミング可変抵抗器には、トリミング用ノズル
が内周上にセットされ、擬似摺動子は、はずれた状態に
ある。
に、被トリミング可変抵抗器には、トリミング用ノズル
が内周上にセットされ、擬似摺動子は、はずれた状態に
ある。
従って、トリミングを行なって増加した抵抗値に相当す
る電圧VTは、第2図における端子22に現われ、初期
変化特性の終点の電圧vnとVTが加わった形となる。
る電圧VTは、第2図における端子22に現われ、初期
変化特性の終点の電圧vnとVTが加わった形となる。
すなわち、トリミング実行後の端子22の出力電圧は
となる。
一方、トリミングとは、第3図における初期変化特性の
一計測ステップにおける勾配(Vi−Vi−1)を目標
基準特性の勾配(a i a 1 1 )const
に一致させることを意味していることは明白であり、例
えばi=1におけるトリミングすべき量VTIは vTl−(al−O)(■1−O)−al−■1・・・
・・・(2)であるから、i=1におけるトリミング目
標値は(2)式と(1)式を考慮して、 ■n+(al Vl)・・・・・・・・・・・・・・・・・・(3)で
与えられる。
一計測ステップにおける勾配(Vi−Vi−1)を目標
基準特性の勾配(a i a 1 1 )const
に一致させることを意味していることは明白であり、例
えばi=1におけるトリミングすべき量VTIは vTl−(al−O)(■1−O)−al−■1・・・
・・・(2)であるから、i=1におけるトリミング目
標値は(2)式と(1)式を考慮して、 ■n+(al Vl)・・・・・・・・・・・・・・・・・・(3)で
与えられる。
i=1から順にトリミングが行なわれ、i−1番目まで
進行した時、可変抵抗器の端子22に表われる電圧は、 V n + (a 11 1) まで増加している。
進行した時、可変抵抗器の端子22に表われる電圧は、 V n + (a 11 1) まで増加している。
従ってi番目のトリミングに必要なトリミング目標値は
、 V、+(a4.−Vi)・・・・・・・・・・・・・・
・・・・(4)で表わされる。
、 V、+(a4.−Vi)・・・・・・・・・・・・・・
・・・・(4)で表わされる。
これがトリミング目標値算出のための一般式で、上記(
4)式は、第2図におけるトリミング目標算出回路13
で計算される。
4)式は、第2図におけるトリミング目標算出回路13
で計算される。
この(4)式のトリミング目標値は、第2図において可
変抵抗器102つの端子20,220間に現われるべき
電圧を示すものである。
変抵抗器102つの端子20,220間に現われるべき
電圧を示すものである。
そしてトリミングを行なっている位置において若し摺動
子をセットして計測するならば、可変抵抗器102つの
端子20.21の間の電圧はaiであり、も5一方の2
つの端子21,220間の電圧は■。
子をセットして計測するならば、可変抵抗器102つの
端子20.21の間の電圧はaiであり、も5一方の2
つの端子21,220間の電圧は■。
−Viとなることを示すものである。
発明者は、ここで上記の値はトリミングにより、トリミ
ングされていない抵抗体においては抵抗値変化を起こさ
ないと考えた時の値であり、実際にはトリミングにより
抵抗体の幅が狭められるため、トリミングされていない
抵抗体部分がらトリミングを行なった抵抗体部分へ電流
が流れる場合には、電流の集中が起こり、トリミングさ
れていない抵抗体部分の抵抗値が、トリミング量に関係
して変化することを見出した。
ングされていない抵抗体においては抵抗値変化を起こさ
ないと考えた時の値であり、実際にはトリミングにより
抵抗体の幅が狭められるため、トリミングされていない
抵抗体部分がらトリミングを行なった抵抗体部分へ電流
が流れる場合には、電流の集中が起こり、トリミングさ
れていない抵抗体部分の抵抗値が、トリミング量に関係
して変化することを見出した。
第3図においてトリミングがi番目まで進行したとする
と、トリミングされていない抵抗体部分の測定されるべ
き電圧はVn−V iであるが、トIJ ミンクによる
抵抗体幅が狭まる影響を受けてVn−Vi+δiとなる
のである。
と、トリミングされていない抵抗体部分の測定されるべ
き電圧はVn−V iであるが、トIJ ミンクによる
抵抗体幅が狭まる影響を受けてVn−Vi+δiとなる
のである。
したがってトリミングされた抵抗体部分の測定されるべ
き電圧は、ai−ai =bi となり、このようにしてトリミング後の変化特性は、a
l、a2・・・・・・・・・anとなるべき所が、トリ
ミング量△liに関係したずれを生じたbl、b2・・
・・・・・・・bnを示すようになる。
き電圧は、ai−ai =bi となり、このようにしてトリミング後の変化特性は、a
l、a2・・・・・・・・・anとなるべき所が、トリ
ミング量△liに関係したずれを生じたbl、b2・・
・・・・・・・bnを示すようになる。
そしてδ1/an=(Lin)i・・・・・・・・・・
・・・・・(5)はとりもなおさず端子間リニアリティ
を示す。
・・・・・(5)はとりもなおさず端子間リニアリティ
を示す。
このずれの値は、精度の良い変化特性を得るには太きす
ぎる値となるのでトリミングを実行するときの目標値は
このずれを考慮して修正してやる必要がある。
ぎる値となるのでトリミングを実行するときの目標値は
このずれを考慮して修正してやる必要がある。
すなわち、V’H+ (aiV 1 )+δi・・・・
・・・・・・・・(6)がトリミングを実行する時の目
標値となる。
・・・・・・・・(6)がトリミングを実行する時の目
標値となる。
トリミングによるずれaiの値は次のように計算される
。
。
データ記憶回路10と、最大勾配検出回路11の動作が
終了すると、1つのモデルにより最大電圧勾配(V4−
Vi 、)maxと、計測データとからトリミング量(
△li)を算出する算出回路23を作動させる。
終了すると、1つのモデルにより最大電圧勾配(V4−
Vi 、)maxと、計測データとからトリミング量(
△li)を算出する算出回路23を作動させる。
各計測ステップに対応するトリミング量算出動作が終了
すると、制御回路14は、ずれ算出回路24を作動させ
各計測ステップに対応するトリミング量△liに応じた
ずれaiを計算しデータを蓄える。
すると、制御回路14は、ずれ算出回路24を作動させ
各計測ステップに対応するトリミング量△liに応じた
ずれaiを計算しデータを蓄える。
この計算は、回転形の抵抗体において、トリミングされ
てない扇形の抵抗体の一方の電極が、トリミングするこ
とにより電極幅が縮まったと考え、この電極の幅の縮少
により不均一な電流分布が生じ、抵抗値を高くするとし
て行なうことができる。
てない扇形の抵抗体の一方の電極が、トリミングするこ
とにより電極幅が縮まったと考え、この電極の幅の縮少
により不均一な電流分布が生じ、抵抗値を高くするとし
て行なうことができる。
第4図はこのずれを計算する計算式を求める1つの過程
を示すものである。
を示すものである。
第4図aのZ平面上の扇形の図形Soは、次の変換式に
よって第4図すに示したW平面上の短形Sに等角変換す
ることができる。
よって第4図すに示したW平面上の短形Sに等角変換す
ることができる。
トリミングすることにより一方の電極幅が縮少された図
形は第4図Cに示したW平面上の図形S′と等価と考え
ると、これは第4図dに示した平面rを経て、第4図e
に示した平面H上の図形S′VC等角変換することがで
きる。
形は第4図Cに示したW平面上の図形S′と等価と考え
ると、これは第4図dに示した平面rを経て、第4図e
に示した平面H上の図形S′VC等角変換することがで
きる。
r平面からW’F面への変換は次に示すS chwar
tz −Christoffel の変換式により変
換される。
tz −Christoffel の変換式により変
換される。
ただし、0≦に2≦1またC2とC4
数、
上記の変換式を用いて計算すると、
まる前後の抵抗値比は、
は任意の定
電極幅が縮
となる。
これがずれ算出のための基本式として用いることができ
、ずれ算出回路24で計算される。
、ずれ算出回路24で計算される。
この(11)式に用いるトリミング量△li の値は、
トリミングを行なう前にあらかじめ予測せねばならない
値である。
トリミングを行なう前にあらかじめ予測せねばならない
値である。
したがってモデルを用いてあらかじめ算出しておかねば
ならない。
ならない。
このモデルの1つとして、我々は目標とする電圧勾配と
、各計測ステップにおいて得た電圧勾配との差から求め
るのが適切であることを見出した。
、各計測ステップにおいて得た電圧勾配との差から求め
るのが適切であることを見出した。
このモデルについて図を用いて述べることにする。
先に第2図を用いて説明したように、可変抵抗器1の変
化特性を摺動子位置を微少区間移動して計測すれば、第
5図aのように抵抗の直列回路と考えることができるか
ら、直列回路の中の最大抵抗Ri(MAX)を有効電気
角の全域にわたっての変化特性とすれば第5図すのよう
に すなわち△R1,△R2・・・・・・・・・△Rn抵抗
分をトリミングすることであり、これは前述した最大勾
配検出回路11により検索された(Vi ■i−] )max に一致させることと同じ意味であ
る。
化特性を摺動子位置を微少区間移動して計測すれば、第
5図aのように抵抗の直列回路と考えることができるか
ら、直列回路の中の最大抵抗Ri(MAX)を有効電気
角の全域にわたっての変化特性とすれば第5図すのよう
に すなわち△R1,△R2・・・・・・・・・△Rn抵抗
分をトリミングすることであり、これは前述した最大勾
配検出回路11により検索された(Vi ■i−] )max に一致させることと同じ意味であ
る。
この△Riおよび微少区間幅とトリミングとの関係から
トリミング量△liを次のようにして求める(第6図参
照)。
トリミング量△liを次のようにして求める(第6図参
照)。
例えば同心円回転形可変抵抗器の場合、面積抵抗率をσ
として、 ここでl。
として、 ここでl。
は導体幅、roは摺動子の回転中心(軸)から導体内周
までの距離である。
までの距離である。
このモデルにより求めた△liを用いて
△li 、あるいは△11−2との比較により、その
微細な影響を計算し修正したモデルを作ることができる
。
微細な影響を計算し修正したモデルを作ることができる
。
上記のようにして求められたずれδiは、先に算出され
たトリミング目標値と共に加算回路25に送られトリミ
ング実行のための目標値が(6)式により計算される。
たトリミング目標値と共に加算回路25に送られトリミ
ング実行のための目標値が(6)式により計算される。
このトリミング実行目標値は、DA変換器15によって
アナログ電圧に変換され、比較器16に供給される。
アナログ電圧に変換され、比較器16に供給される。
一方、比較器16のもう1つの入力は可変抵抗器の端子
22に現われた電圧がリレー接点6を通して供給されて
いる。
22に現われた電圧がリレー接点6を通して供給されて
いる。
今、i−1番目までトリミングが進行していたとすると
、可変抵抗器の端子22の電圧は、vn※※+(ai−
1−Vi 、)+δi−1であり、この電圧とi番目
のトリミング目標値Vn+(a i −Vi)+δ1
とが比較され、 となる。
、可変抵抗器の端子22の電圧は、vn※※+(ai−
1−Vi 、)+δi−1であり、この電圧とi番目
のトリミング目標値Vn+(a i −Vi)+δ1
とが比較され、 となる。
07)式は、1番目におけるトリミング量VTi を示
し、07)式が零となるまでトリミングが行なわれるこ
とになる。
し、07)式が零となるまでトリミングが行なわれるこ
とになる。
トリミングは、−計測ステップの中点の位置をトリミン
グするようになしているので、トリミング開始の指令が
制御回路14より出されるとθ軸駆動回路8は、有効電
気角の始点から一計測ステツブの−だげθ軸用モータ7
を進める。
グするようになしているので、トリミング開始の指令が
制御回路14より出されるとθ軸駆動回路8は、有効電
気角の始点から一計測ステツブの−だげθ軸用モータ7
を進める。
同時に、砥粒噴射制御回路19およびX軸駆動回路17
にも指令を出してこれを作動させ、トリミング用ノズル
4より砥粒を噴射しながらX軸周モーター8が作動して
トリミングが行なわれる。
にも指令を出してこれを作動させ、トリミング用ノズル
4より砥粒を噴射しながらX軸周モーター8が作動して
トリミングが行なわれる。
トリミング動作中は、可変抵抗器の端子22の電圧が漸
増し、トリミング目標値になるまでトリミングがなされ
る。
増し、トリミング目標値になるまでトリミングがなされ
る。
端子22の電圧とトリミング目標値の電圧とが一致する
と比較器16に出力が表われ、この出力は制御回路14
に入って、ただちに砥粒噴射制御回路19およびX軸駆
動回路17の作動を止める。
と比較器16に出力が表われ、この出力は制御回路14
に入って、ただちに砥粒噴射制御回路19およびX軸駆
動回路17の作動を止める。
次に、X軸駆動回路17は、トリミングで移動した距離
だけ戻るための指令が制御回路14より与えられると同
時にθ軸、駆動回路8にも一計測ステップ進める指令を
与えて、これらを作動させ次のトリミングに備える。
だけ戻るための指令が制御回路14より与えられると同
時にθ軸、駆動回路8にも一計測ステップ進める指令を
与えて、これらを作動させ次のトリミングに備える。
同様にステップにおけるトリミング目標値が制御回路1
40指令で出力され、この目標値に合うまでトリミング
が行なわれる。
40指令で出力され、この目標値に合うまでトリミング
が行なわれる。
このように、n回のトリミングによってトリミングは完
了する。
了する。
また、トリミング手段として、第1図に示すような、砥
粒噴射制御回路19とトリミング用ノズル4を用いてい
るが、前述のごとく、トリミング手段はダイアモンドカ
ッタおよびレーザでもよく、ダイアモンドカッタを使用
する場合は、砥粒噴射制御回路19がダイアモンドカッ
タ制御回路19に代わり、トリミング用ノズル4がダイ
アモンドカッタ4に代わる。
粒噴射制御回路19とトリミング用ノズル4を用いてい
るが、前述のごとく、トリミング手段はダイアモンドカ
ッタおよびレーザでもよく、ダイアモンドカッタを使用
する場合は、砥粒噴射制御回路19がダイアモンドカッ
タ制御回路19に代わり、トリミング用ノズル4がダイ
アモンドカッタ4に代わる。
また、レーザを使用する場合は、砥粒噴射制御回路19
が、レーザ制御回路19に変わり、トリミング用ノズル
4がレーザ発光器4に代わればよい。
が、レーザ制御回路19に変わり、トリミング用ノズル
4がレーザ発光器4に代わればよい。
上記実施例において述べたようにトリミングをすること
により、トリミング量△11に応じた不均一電流分布の
ためトリミングを実行するときの目標値をaiだげを修
正してやることにより、適切なトリミングが行なえ精度
のよい可変抵抗体を得ることができるのであるが、この
aiを計算するためのトリミング量△1.を得る別の実
施例について述べることにする。
により、トリミング量△11に応じた不均一電流分布の
ためトリミングを実行するときの目標値をaiだげを修
正してやることにより、適切なトリミングが行なえ精度
のよい可変抵抗体を得ることができるのであるが、この
aiを計算するためのトリミング量△1.を得る別の実
施例について述べることにする。
第1番目のトリミングの目標値として(4)式を用いる
。
。
この場合トリミングによる不均一電流分布の影響は01
)式を用いて見積ることができる。
)式を用いて見積ることができる。
この第1ステツプのリニアリティは(5)式で計算する
ことができるが、この値が目標とする値よりも小さい。
ことができるが、この値が目標とする値よりも小さい。
すなわち、であれば第1番目のトリミングの目標値とし
て(4)式を用いても不都合はない。
て(4)式を用いても不都合はない。
この目標値を用いてトリミングを実行すればX軸駆動回
路の動作により、この第1ステツプにおけるトリミング
量(△l pra ) 、が制御回路14により検出さ
れる。
路の動作により、この第1ステツプにおけるトリミング
量(△l pra ) 、が制御回路14により検出さ
れる。
第2ステツプのトリミング実行のための目標値としては
(6)式を用いるのであるが、この場合のδ2を計算す
べきα0式において△12 として第1ステツプにおけ
るトリミング実行量(△l pra ) 1 を用い
る。
(6)式を用いるのであるが、この場合のδ2を計算す
べきα0式において△12 として第1ステツプにおけ
るトリミング実行量(△l pra ) 1 を用い
る。
このようにして順次i番目の修正項に用いる。
トリミング量△li として前のステップにおけるトリ
ミング実行量(△1pra)i 、を用いる。
ミング実行量(△1pra)i 、を用いる。
一般的に抵抗体の微少部分の抵抗値にゆらぎがあると言
っても、このゆらぎは突然変異的なものではない。
っても、このゆらぎは突然変異的なものではない。
したがって微少部分あるいは微少幅として隣り合う微少
部分の抵抗値の差は、また非常に小さく選ぶことができ
る。
部分の抵抗値の差は、また非常に小さく選ぶことができ
る。
こうしてトリミング実行値(△1 pra ) i を
次のステップにおけるトリミング実行のための目標値を
決めるときの修正のための数値として使用して、高精度
のトリミングを行なうことができる。
次のステップにおけるトリミング実行のための目標値を
決めるときの修正のための数値として使用して、高精度
のトリミングを行なうことができる。
以上の説明で明らかなように、本発明は、初期変化特性
からトリミング可能な目標基準特性を求めているため、
トリミングしてみなげればトリミングの可能、不能がわ
からなかったり、目標値を経験的に設定する必要もなく
、さらにトリミングにおいては摺動子からトリミング量
vTを検出する方法ではないため、摺動子に及ぼす砥粒
の悪影響とか、摺動子の接触不良などの影響がないため
高精度のトリミングが達成でき、さらにトリミングは制
御ループを閉じた形で行なっているので、砥粒噴射圧力
とか砥粒密度のバラツキによる悪影響を取り除きうる大
きな特長を持つものである。
からトリミング可能な目標基準特性を求めているため、
トリミングしてみなげればトリミングの可能、不能がわ
からなかったり、目標値を経験的に設定する必要もなく
、さらにトリミングにおいては摺動子からトリミング量
vTを検出する方法ではないため、摺動子に及ぼす砥粒
の悪影響とか、摺動子の接触不良などの影響がないため
高精度のトリミングが達成でき、さらにトリミングは制
御ループを閉じた形で行なっているので、砥粒噴射圧力
とか砥粒密度のバラツキによる悪影響を取り除きうる大
きな特長を持つものである。
第1図は本発明を実施する装置における機構部の動作を
説明するための正面図、第2図は本発明を実施する装置
の一例を示すブロック図、第3図はトリミング動作を説
明するための説明図、第4図a−eはトリミングの補正
値を求めるための1つの過程を示す説明図、第5図a、
bは本発明の1つの過程を示す概念説明図、第6図は回
転型で直線型可変抵抗器のトリム量算出基準を示すため
の図である。 8・・・・・・θ軸駆動回路、9・・・・・・AD変換
器、10・・・・・・データ記憶回路、11・・・・・
・最大勾配検出回路、12・・・・・・目標基準特性算
出回路、13・・・・・・トリミング目標値算出回路、
14・・・・・・制御回路、15・・・・・・DA変換
器、16・・・・・・比較器、17・・・・・・X軸駆
動回路、19・・・・・・砥粒噴射制御回路、23・・
・・・・トIJ ミング量算出回路、24・・・・・・
ずれ算出回路、25・・・・・・トリミング実行目標値
算出回路。
説明するための正面図、第2図は本発明を実施する装置
の一例を示すブロック図、第3図はトリミング動作を説
明するための説明図、第4図a−eはトリミングの補正
値を求めるための1つの過程を示す説明図、第5図a、
bは本発明の1つの過程を示す概念説明図、第6図は回
転型で直線型可変抵抗器のトリム量算出基準を示すため
の図である。 8・・・・・・θ軸駆動回路、9・・・・・・AD変換
器、10・・・・・・データ記憶回路、11・・・・・
・最大勾配検出回路、12・・・・・・目標基準特性算
出回路、13・・・・・・トリミング目標値算出回路、
14・・・・・・制御回路、15・・・・・・DA変換
器、16・・・・・・比較器、17・・・・・・X軸駆
動回路、19・・・・・・砥粒噴射制御回路、23・・
・・・・トIJ ミング量算出回路、24・・・・・・
ずれ算出回路、25・・・・・・トリミング実行目標値
算出回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 トリミングすべき可変抵抗器の初期変化特性を一定
の計測ステップで測定し、そのデータを記憶する手段と
、上記記憶されたデータからトリミング可能な目標基準
特性を計算する手段と、上記目標基準特性から各計測ス
テップにおけるトリミング目標値を算出する手段とを持
ち、一方その各ステップにおけるトリミング値をあらか
じめ求める手段と、その求められた清適りにトリミング
した時に生ずる不均一電流分布によりもたらされた、未
1− !J ミング側の抵抗値の変化を計算する手段と
、該抵抗値変化と各計測ステップにおける該トリミング
目標値とから、トリミング実行のための目標値を算出す
る手段を持ち、該トリミング実行目標値に可変抵抗器の
両端の信号が一致するまで、トリミング手段を駆動して
トリミングを行なうことを特徴とする可変抵抗器の変化
特性トリミング方法。 2 各計測ステップで得られた初期変化特性からその各
ステップにおけるトリミング値をあらかじめ求める手段
として、各計数ステップ間の電圧勾配から求まる関数を
トリミング最終目標とし、上記関数の各ステップにおけ
る目標の電圧勾配と計測ステップにおいて得た電圧勾配
との差から計算により求めるようにした特許請求の範囲
第1項記載の可変抵抗器の変化特性トリミング方法。 3 各ステップにおけるトリミング値をあらかじめ求め
る手段として、一つ前のステップにおけるトリミング実
行値を用いるようにした特許請求の範囲第1項記載の可
変抵抗器の変化特性トリミング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52110190A JPS5830724B2 (ja) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | 可変抵抗器の変化特性トリミング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52110190A JPS5830724B2 (ja) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | 可変抵抗器の変化特性トリミング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5443559A JPS5443559A (en) | 1979-04-06 |
| JPS5830724B2 true JPS5830724B2 (ja) | 1983-07-01 |
Family
ID=14529318
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52110190A Expired JPS5830724B2 (ja) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | 可変抵抗器の変化特性トリミング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5830724B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61208A (ja) * | 1984-06-13 | 1986-01-06 | Central Glass Co Ltd | 含フツ素重合体の製造方法 |
-
1977
- 1977-09-12 JP JP52110190A patent/JPS5830724B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5443559A (en) | 1979-04-06 |
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