JPS5834408A - 光平面回路の製造方法 - Google Patents
光平面回路の製造方法Info
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- JPS5834408A JPS5834408A JP56132401A JP13240181A JPS5834408A JP S5834408 A JPS5834408 A JP S5834408A JP 56132401 A JP56132401 A JP 56132401A JP 13240181 A JP13240181 A JP 13240181A JP S5834408 A JPS5834408 A JP S5834408A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/28—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals
- G02B6/2804—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals forming multipart couplers without wavelength selective elements, e.g. "T" couplers, star couplers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光回路の製造方法に関するものであり、特に分
岐、合流あるいはそれらを?1X11)た合せた星形カ
プラ等の機能をもったt子向回路を(41るために、(
1) 用いて好」1穎な光回路の製造方法に係るもので釣る。
岐、合流あるいはそれらを?1X11)た合せた星形カ
プラ等の機能をもったt子向回路を(41るために、(
1) 用いて好」1穎な光回路の製造方法に係るもので釣る。
このような各種機能をトr与したいわゆる光平面回路は
、光通biや丸情報シスデム等の分野(こおける小櫂l
光回路としてイイ用である。
、光通biや丸情報シスデム等の分野(こおける小櫂l
光回路としてイイ用である。
従来のr(H平面回路の製11方法としCは、・高周波
スパッタ法、CVD法、L、・よびイオン交換法等があ
げられる。・1.l′IJ1の高周波スパッタ法は、基
板上に導波路となるべき5吻′瓜をスパッタ蒸〕aする
ものであるが、IWJ質原子が均一にかつ(イ)に績合
しにくいので、iダ乱専による伝送損失がM大する欠点
8有する。第2のCV I)法は、基板上にこのCVD
法により酸化′吻1散粒子を堆偵させ、これを加熱して
透明カラス厚i漠を形成した+k、このコア用カラス膜
t 伝えばりアクティブスパッタエツチングにより所望
のパターンとする。そしてその後に上記パターン化きれ
たコア部1モ而に上記と同様の方法でクラツドカ゛ラス
(11;\ヲ1杉成して−にi己コア部をpiうように
したものである。この方法は、蓋導波パターンが任意に
形成されるという利点を有するが、コアパターンの一■
−ツチング表面J−ft−Bちコアiζじと、り(2) ランド部との境界となる部分が凹凸を11″し、この部
分での散乱損失が増大する。また第6のイオン交換法は
埋め込み型の光・導波路σj f!)るノj法で6わり
、光づ員失はU、 [J 1 (IB / (:nl程
蛭と小す< s 泊’ji 4J1. ’Jれている方
法である。すな1つ1つこの方法は、fr基板の表面に
パターン状マスクを設け′Cr?き、基板が蕗出した部
分つまりパターンIil l−j fXl(で高屈折率
に寄与する・rオンと基板中ソ)イオンとを交換させ、
さらにその後その表面を低屈折率(こ寄与するイオンで
交換してガイド構造とするといつものである。しかし、
このイオン交換法によると、毘”4波路の断面形状は基
板表面に子育−な方向での広がりが深さ方向のそれに比
べて大キく、例えばイニ分岐を行なう場合(・こは分岐
パターンを精密に形成することが・誰かしくなる。つf
リコ−f 7部(こ相当する部分の大きさがその部分で
変化してし一土い、この分岐部での損失が増大する。
スパッタ法、CVD法、L、・よびイオン交換法等があ
げられる。・1.l′IJ1の高周波スパッタ法は、基
板上に導波路となるべき5吻′瓜をスパッタ蒸〕aする
ものであるが、IWJ質原子が均一にかつ(イ)に績合
しにくいので、iダ乱専による伝送損失がM大する欠点
8有する。第2のCV I)法は、基板上にこのCVD
法により酸化′吻1散粒子を堆偵させ、これを加熱して
透明カラス厚i漠を形成した+k、このコア用カラス膜
t 伝えばりアクティブスパッタエツチングにより所望
のパターンとする。そしてその後に上記パターン化きれ
たコア部1モ而に上記と同様の方法でクラツドカ゛ラス
(11;\ヲ1杉成して−にi己コア部をpiうように
したものである。この方法は、蓋導波パターンが任意に
形成されるという利点を有するが、コアパターンの一■
−ツチング表面J−ft−Bちコアiζじと、り(2) ランド部との境界となる部分が凹凸を11″し、この部
分での散乱損失が増大する。また第6のイオン交換法は
埋め込み型の光・導波路σj f!)るノj法で6わり
、光づ員失はU、 [J 1 (IB / (:nl程
蛭と小す< s 泊’ji 4J1. ’Jれている方
法である。すな1つ1つこの方法は、fr基板の表面に
パターン状マスクを設け′Cr?き、基板が蕗出した部
分つまりパターンIil l−j fXl(で高屈折率
に寄与する・rオンと基板中ソ)イオンとを交換させ、
さらにその後その表面を低屈折率(こ寄与するイオンで
交換してガイド構造とするといつものである。しかし、
このイオン交換法によると、毘”4波路の断面形状は基
板表面に子育−な方向での広がりが深さ方向のそれに比
べて大キく、例えばイニ分岐を行なう場合(・こは分岐
パターンを精密に形成することが・誰かしくなる。つf
リコ−f 7部(こ相当する部分の大きさがその部分で
変化してし一土い、この分岐部での損失が増大する。
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであって、
例えばガラス等の誘電体塙板−ヒの丸z4波路を形成す
る領域に相当するべ1−分、−、、II+、!イオン等
の屈折率を大きくすることに寄与するイオンで基板ガラ
ス中のイオンと交換して高屈折率1−を形成し、欠いで
−に記高]ll折率1’Jの不安部分を例えばリアクテ
ィブスパッタエツチング法等VCよりエノテノグ味云し
て所望の光導波路パターンを形成しfこ(灸、その表面
を1(イオン−)))の屈1)’i’ $を小さくする
ことに訂与4−るイオンで文映し、光導改路部の断面に
おける410Jt率が中心で向く、周辺へいくに従って
減少するという分布を6つ光導波路を刹°した光平面回
、烙<;: aJるようにしたもので1らる。本発明に
よ−って損失の小さい、°18梢度な分岐部あるいは合
流11b俣有した光平面回路が得らgる。J−なわち、
i’A文、f、ll] 4:光導波パターンを形成する
ために、エツチングにより高楯IWな形状(どした上で
、上記エツチングにより生じるエツチング而のIY&小
な凹凸による散乱ロス等の影響をなくすため、その表面
を屈折率を小さくすることに腎与するイオンで交換し、
グレーディッドな屈折率分布を有したカイト構造とする
ようにしたものである。
例えばガラス等の誘電体塙板−ヒの丸z4波路を形成す
る領域に相当するべ1−分、−、、II+、!イオン等
の屈折率を大きくすることに寄与するイオンで基板ガラ
ス中のイオンと交換して高屈折率1−を形成し、欠いで
−に記高]ll折率1’Jの不安部分を例えばリアクテ
ィブスパッタエツチング法等VCよりエノテノグ味云し
て所望の光導波路パターンを形成しfこ(灸、その表面
を1(イオン−)))の屈1)’i’ $を小さくする
ことに訂与4−るイオンで文映し、光導改路部の断面に
おける410Jt率が中心で向く、周辺へいくに従って
減少するという分布を6つ光導波路を刹°した光平面回
、烙<;: aJるようにしたもので1らる。本発明に
よ−って損失の小さい、°18梢度な分岐部あるいは合
流11b俣有した光平面回路が得らgる。J−なわち、
i’A文、f、ll] 4:光導波パターンを形成する
ために、エツチングにより高楯IWな形状(どした上で
、上記エツチングにより生じるエツチング而のIY&小
な凹凸による散乱ロス等の影響をなくすため、その表面
を屈折率を小さくすることに腎与するイオンで交換し、
グレーディッドな屈折率分布を有したカイト構造とする
ようにしたものである。
本発明(こおいて、上記基板上であってしかも光導波路
の端部にJHI折率分布型レンし部を配しておくと、こ
の/fit折率分折率分草1i型レンズて光ファイバ等
からの光線は光導波部へ効率良く墨東され、また光導波
部から出射された丸1糧は元ファイバあるいは光検出器
ヘスボット状に県東される。この屈折率分布型レンズを
用いることにより前記)し導波路構造は断面形状が多モ
ードの場合でも15〜20μ角程度で良くなる。すなわ
ち一般に光導波構造を考えると、その断面形状(寸法)
は、単一モードの場合は約10μ程iffでよいが、多
モードの場合は約50μ程度必要となる。そこで上述の
如くエツチング方法としてリアクティブスパッタエツチ
ングを用いると、エツチング速度が高々0.1μ/#で
あり、多モード用光導波路を形成するには時間がかかり
過ぎ、経済性があまり良くない。
の端部にJHI折率分布型レンし部を配しておくと、こ
の/fit折率分折率分草1i型レンズて光ファイバ等
からの光線は光導波部へ効率良く墨東され、また光導波
部から出射された丸1糧は元ファイバあるいは光検出器
ヘスボット状に県東される。この屈折率分布型レンズを
用いることにより前記)し導波路構造は断面形状が多モ
ードの場合でも15〜20μ角程度で良くなる。すなわ
ち一般に光導波構造を考えると、その断面形状(寸法)
は、単一モードの場合は約10μ程iffでよいが、多
モードの場合は約50μ程度必要となる。そこで上述の
如くエツチング方法としてリアクティブスパッタエツチ
ングを用いると、エツチング速度が高々0.1μ/#で
あり、多モード用光導波路を形成するには時間がかかり
過ぎ、経済性があまり良くない。
しかるにL記屈折率分布型レンズを配することにより、
光導波路の断面形状が小さくてもよく、上記問題を解決
することができる。
光導波路の断面形状が小さくてもよく、上記問題を解決
することができる。
以下本発明を′実施例につき図面を参照して詳細に説明
する。なおここに示す処施例は本発明を例示的に1ノー
示するものであり、本発明はこれに限定されるものでは
ない。
する。なおここに示す処施例は本発明を例示的に1ノー
示するものであり、本発明はこれに限定されるものでは
ない。
く夷細例1.>
ここでは屈折率分布型レンズを備えた場合について説明
する。第1図Aは分岐あるいは合流回路を概念的に示し
ている。すなわち本実施例の光平面回路は基板(1)−
ヒに光導波路部分(2)と光結合器としての屈折率分布
型レンズ部分(3)とを併せて形成することにより、光
ビームの入出射を効率良く容易に行なえるようにしてい
る。第1図13はレンズ部(3)とイ波路噛部(2)の
平面図(第1図Aに示す座標軸のy−z而)を示してい
る。この回路のレンズ部(3)のhll折率分布は第1
図Cに示すように、また導波路部(2)のjiTl折率
分布は第1図りに示すようになっている。
する。第1図Aは分岐あるいは合流回路を概念的に示し
ている。すなわち本実施例の光平面回路は基板(1)−
ヒに光導波路部分(2)と光結合器としての屈折率分布
型レンズ部分(3)とを併せて形成することにより、光
ビームの入出射を効率良く容易に行なえるようにしてい
る。第1図13はレンズ部(3)とイ波路噛部(2)の
平面図(第1図Aに示す座標軸のy−z而)を示してい
る。この回路のレンズ部(3)のhll折率分布は第1
図Cに示すように、また導波路部(2)のjiTl折率
分布は第1図りに示すようになっている。
次いで第2図から第6図をこ痛づいて上記回路の製漬工
程を示す。まず第2図に示すように、ガラス等の基板(
1)の表面に高周波スパッタによりTIあるいはAI等
の膜を形成し、次いで公知のフォトリソグラフィーを利
用して、レンズ部(3)および光導波路(2)の形成さ
れる位置に開口(力をイイしたマスク(6)のパターン
二ング分行なう。そしてその表面から例えば′J’e
(オン* IJ、d折率を人きくすることに寄与するイ
オン(8)でイオン交換し、第6図に示すようなレンズ
部(9)および高力+I 41?率In tlQ)を)
し成し、−ヒd己マスク(6)を泳去する。なし、ここ
で1140(7)と導波路(2)の形成域の端部とは必
「しも)妾していなくてよく、必要とする屈折重分イ1
i型レンズ(3)の部分の大きさ及びレンズ性能に応じ
て両者の間隔を1ぶことができる。チた上記開口(力は
必ずしも円形でなくてもよく、必要とする+f[t 4
’Jr率分布摩レンズ部分(3)の形状に合、1っせて
楕円形等の形状とすることができる。
程を示す。まず第2図に示すように、ガラス等の基板(
1)の表面に高周波スパッタによりTIあるいはAI等
の膜を形成し、次いで公知のフォトリソグラフィーを利
用して、レンズ部(3)および光導波路(2)の形成さ
れる位置に開口(力をイイしたマスク(6)のパターン
二ング分行なう。そしてその表面から例えば′J’e
(オン* IJ、d折率を人きくすることに寄与するイ
オン(8)でイオン交換し、第6図に示すようなレンズ
部(9)および高力+I 41?率In tlQ)を)
し成し、−ヒd己マスク(6)を泳去する。なし、ここ
で1140(7)と導波路(2)の形成域の端部とは必
「しも)妾していなくてよく、必要とする屈折重分イ1
i型レンズ(3)の部分の大きさ及びレンズ性能に応じ
て両者の間隔を1ぶことができる。チた上記開口(力は
必ずしも円形でなくてもよく、必要とする+f[t 4
’Jr率分布摩レンズ部分(3)の形状に合、1っせて
楕円形等の形状とすることができる。
次いで第4図(こ示すように一ヒ記基板表面に高周波ス
パッタ等により例えばアモルファスシリコン膜旧)を形
成し、その液Cl5rF5 ガスを用いたりアクティブ
スパッタエツチング等によりアモルファスシリコン膜旧
)をエツチングし、所望の線路状電導波路パターンとな
るようにマスク111)を形成する。
パッタ等により例えばアモルファスシリコン膜旧)を形
成し、その液Cl5rF5 ガスを用いたりアクティブ
スパッタエツチング等によりアモルファスシリコン膜旧
)をエツチングし、所望の線路状電導波路パターンとな
るようにマスク111)を形成する。
もちろんこのときレンズ形成域はマスク(11)により
所われている。その後に露出した基板長面を、今If
Lt C2F6カスを用いたりアクティブスパッタエツ
チング等Gこよりエツチングし、所望のパターン(12
1を形成する(第5図)。そして上部と同様のエツチン
グ方法でマスクを除去した鏝、さらに、上記のようにし
て得られた線路状導波パターンuりおよびレンズ部e
191の表向を、第6図に示すように屈折率を小さくす
ることに寄与するに7tどの前たなイオン(14Jでイ
オン交換させ、上記パターン化された1線路状導波路(
121をガイド構造とするとともに、レンズf<519
1 f埋め込み型とする。ここで、!■6図に示すよう
に課路状光導波路(12)の上面に細く、レンズ部に小
さいマスク(+++1を設けてむくことにより1、頷路
状−#、導波路(2)およびレンズ(31ヲともにX軸
方向(こよりグレーディッドな分布とすることができる
。
所われている。その後に露出した基板長面を、今If
Lt C2F6カスを用いたりアクティブスパッタエツ
チング等Gこよりエツチングし、所望のパターン(12
1を形成する(第5図)。そして上部と同様のエツチン
グ方法でマスクを除去した鏝、さらに、上記のようにし
て得られた線路状導波パターンuりおよびレンズ部e
191の表向を、第6図に示すように屈折率を小さくす
ることに寄与するに7tどの前たなイオン(14Jでイ
オン交換させ、上記パターン化された1線路状導波路(
121をガイド構造とするとともに、レンズf<519
1 f埋め込み型とする。ここで、!■6図に示すよう
に課路状光導波路(12)の上面に細く、レンズ部に小
さいマスク(+++1を設けてむくことにより1、頷路
状−#、導波路(2)およびレンズ(31ヲともにX軸
方向(こよりグレーディッドな分布とすることができる
。
このようにして第1図に示したような光結合器を備えた
光平面回路が得られる。第1図りに示すように、1曝路
伏光導波路(2)のX軸方向あるいはy 1qtl方向
の屈折率分布は、その中心軸から遠ざかるに従ってfi
11折率が例えば二乗近似で次第に減少して生体として
山形の分布となっている。従って第1図Bに示すように
導波路(2)内での光bA(5)は次曲に到る前に蛇行
しながら進イT シ、よつ″C凹凸企角゛するエツチン
グ向での政乱損失は少なくなる。ft、おz4!l+1
方向においては屈やf率の変化はな匹。−また、第1図
Cは屈折率分布型レンズ(3)のx +lq1方向ある
いは2輔方向の屈折率分布を示し1.七の中心軸から遠
ざかるに従って屈折率が例えば二乗近似で次第に減少し
て全体として山形の分布となっている。
光平面回路が得られる。第1図りに示すように、1曝路
伏光導波路(2)のX軸方向あるいはy 1qtl方向
の屈折率分布は、その中心軸から遠ざかるに従ってfi
11折率が例えば二乗近似で次第に減少して生体として
山形の分布となっている。従って第1図Bに示すように
導波路(2)内での光bA(5)は次曲に到る前に蛇行
しながら進イT シ、よつ″C凹凸企角゛するエツチン
グ向での政乱損失は少なくなる。ft、おz4!l+1
方向においては屈やf率の変化はな匹。−また、第1図
Cは屈折率分布型レンズ(3)のx +lq1方向ある
いは2輔方向の屈折率分布を示し1.七の中心軸から遠
ざかるに従って屈折率が例えば二乗近似で次第に減少し
て全体として山形の分布となっている。
なおy@力方向Jif(折率分布はZ tllllll
llll方間じである。
llll方間じである。
以上述べた実施例の製作工程において、上記光導波路部
分(2)及び上記屈折率分布型レンズに3)の11μ分
を基板(++の表面より深く埋め込んだり、イオン交換
時間を早めたり、あるいは屈折率外布の形状を選定する
等のために゛屯界を印加してイオン拡散処理を行なって
もよい。また、−ヒ記実権例では屈折率分布レンズは1
個しか形成していないが2個以上形成してもよい。第7
図番こ示すように、多数の屈折率分布レンズ(3)およ
び光導波路部] (21を一つの基板+11上に形成す
ることができる。なお基板(1)と光ファイバ良続用シ
リコン基板(16)とは共通基4反(1枠によって接合
されている。また尤ファイバ(1つは基板(1(号に形
成され7こV溝側に保持さ1ている。
分(2)及び上記屈折率分布型レンズに3)の11μ分
を基板(++の表面より深く埋め込んだり、イオン交換
時間を早めたり、あるいは屈折率外布の形状を選定する
等のために゛屯界を印加してイオン拡散処理を行なって
もよい。また、−ヒ記実権例では屈折率分布レンズは1
個しか形成していないが2個以上形成してもよい。第7
図番こ示すように、多数の屈折率分布レンズ(3)およ
び光導波路部] (21を一つの基板+11上に形成す
ることができる。なお基板(1)と光ファイバ良続用シ
リコン基板(16)とは共通基4反(1枠によって接合
されている。また尤ファイバ(1つは基板(1(号に形
成され7こV溝側に保持さ1ている。
このような回路において114!i々の上記屈折率分蒲
レンズ部分(3)の大きさおよびレンズ性能ヤ相対的位
置扮J−び電導波路部分(2)の形状等は前記マスクの
形状によって任意にかつ高精度に選定することができ、
東(h化01存易に行なえる。
レンズ部分(3)の大きさおよびレンズ性能ヤ相対的位
置扮J−び電導波路部分(2)の形状等は前記マスクの
形状によって任意にかつ高精度に選定することができ、
東(h化01存易に行なえる。
1試−ににV1ミベたように本実節制Gこよれば、汚明
基板m内に1(支)精度な分岐凌)るいは合流パターン
(2)が形成でき、また、前記屈折率分布型レンズ(3
)すなわち光結合器を同一基板(1)内番こ備えること
により、多モード用光分岐合流素子も安価に製作可能で
ある。
基板m内に1(支)精度な分岐凌)るいは合流パターン
(2)が形成でき、また、前記屈折率分布型レンズ(3
)すなわち光結合器を同一基板(1)内番こ備えること
により、多モード用光分岐合流素子も安価に製作可能で
ある。
〈実施例2〉
この丸1布例は単一モード光導波路を用いたY分岐回路
に194するものである。第8図Aは本実殉例のY分岐
回路を示している。この輩回路の光導波路のLl:Ir
而面14状おLび+(+1折率分布パま第8図Uiこ示
すようになっている。その製作工程は火副例1(こkけ
る勝路状光導波路の場合(第2図から第6図)と同様で
あり、まず基板(1)の表面を、らる深さまで屈折率を
大きくすることに寄与するイオンでイオン交換し、扁屈
折率層を形成する。、f−のよ(こ19(望のY分岐路
パターン用マスクをその表向に形成し、リアクティブス
パッタエツチング等(こより基板の不用部分を除去し、
冒ル((411′率な光導波路パターン(2)を形成す
る。さら(こ上記パターンの表面を今度は屈折率を小さ
くすることに寄与する新たなイオンマタは基板組成のイ
オンでイオン交換し、光ガイド構造とする。すなわち、
エツチングによって光分岐パターン(2)ヲ形成するた
めに、分岐パターンの形状が精度良く作製でき、分岐点
での損失が小さいものが得られる。さらに該パターンの
表向を後から屈折率を小さくすることに訂与するイオン
でイオン交換しガイド構造とするため、−1:記エツチ
ングによって生じるエツチング面の微小な凹凸による散
乱損失の彰響が抑イーられる。
に194するものである。第8図Aは本実殉例のY分岐
回路を示している。この輩回路の光導波路のLl:Ir
而面14状おLび+(+1折率分布パま第8図Uiこ示
すようになっている。その製作工程は火副例1(こkけ
る勝路状光導波路の場合(第2図から第6図)と同様で
あり、まず基板(1)の表面を、らる深さまで屈折率を
大きくすることに寄与するイオンでイオン交換し、扁屈
折率層を形成する。、f−のよ(こ19(望のY分岐路
パターン用マスクをその表向に形成し、リアクティブス
パッタエツチング等(こより基板の不用部分を除去し、
冒ル((411′率な光導波路パターン(2)を形成す
る。さら(こ上記パターンの表面を今度は屈折率を小さ
くすることに寄与する新たなイオンマタは基板組成のイ
オンでイオン交換し、光ガイド構造とする。すなわち、
エツチングによって光分岐パターン(2)ヲ形成するた
めに、分岐パターンの形状が精度良く作製でき、分岐点
での損失が小さいものが得られる。さらに該パターンの
表向を後から屈折率を小さくすることに訂与するイオン
でイオン交換しガイド構造とするため、−1:記エツチ
ングによって生じるエツチング面の微小な凹凸による散
乱損失の彰響が抑イーられる。
ここで上記光導波路(2)の1析面のノ1((折率分布
は第中心軸から遠ざかるに従って屈折率が例えば二来す
L似て次第に減少して全体として山形の分布となってい
る。尚、Z軸方向にはJII+折率の変化はない。
は第中心軸から遠ざかるに従って屈折率が例えば二来す
L似て次第に減少して全体として山形の分布となってい
る。尚、Z軸方向にはJII+折率の変化はない。
以」;述べたようをこ本夷倫例によれは涛明姑阪(1)
内に尚+*度な光分岐パターンが形成され、分岐損失の
きわめて小さい7分岐路が町目目となる。
内に尚+*度な光分岐パターンが形成され、分岐損失の
きわめて小さい7分岐路が町目目となる。
以上本発明を実権例につきi発明したが、本発明は光導
波路を基板材料内に形成するものであるから、物質原子
が均一かつ密に結合したものを用いることができる。よ
ってこの導波i塔内での散乱等(こよる伝送損失が少な
くなる。また光導波路をエツチング(こよって形成する
ものであるから、任意の形状の導波路パターンを精度よ
く形成することができろ。また本発明によれば、エツチ
ング後にイオン交換を行つ゛C導波路の断面か同の屈折
率分布ラグ1/−デイツドな分布としているために、導
波路内での丸線は表面に到る1油に内側に曲げられて蛇
行しながら1焦行し、よって凹凸を有するエツチング面
での散乱損失が少なくなる。また本発明によれば、力H
折−$を小さくすることに訂すするイオン交換がエツチ
ング酸に行なわルるfこめに、光導波路の可曲形状を深
さ方向にも十分な値とすることができ、分岐パターンを
も精密に形成することができるg従って本発明は分岐、
合流等の哉hシを有する光平面回路を製逍する場合に不
用なものとなる。
波路を基板材料内に形成するものであるから、物質原子
が均一かつ密に結合したものを用いることができる。よ
ってこの導波i塔内での散乱等(こよる伝送損失が少な
くなる。また光導波路をエツチング(こよって形成する
ものであるから、任意の形状の導波路パターンを精度よ
く形成することができろ。また本発明によれば、エツチ
ング後にイオン交換を行つ゛C導波路の断面か同の屈折
率分布ラグ1/−デイツドな分布としているために、導
波路内での丸線は表面に到る1油に内側に曲げられて蛇
行しながら1焦行し、よって凹凸を有するエツチング面
での散乱損失が少なくなる。また本発明によれば、力H
折−$を小さくすることに訂すするイオン交換がエツチ
ング酸に行なわルるfこめに、光導波路の可曲形状を深
さ方向にも十分な値とすることができ、分岐パターンを
も精密に形成することができるg従って本発明は分岐、
合流等の哉hシを有する光平面回路を製逍する場合に不
用なものとなる。
さらに本発明において、光導波路の端部に上記導波路を
形成する際に屈折率分布型1/ンズを形成するようにす
ると、このレンズによって光をスポット集光させること
ができろ。従って光導波路の断面形状を小さくすること
が可1jシとなり、)’1liil路を小型化すること
ができる。呼た″lt、導波、、!3の断面形状を小さ
くすることtこより、エツチング時間を短縮でき、光回
路の生産性が著しく向−1ニする。
形成する際に屈折率分布型1/ンズを形成するようにす
ると、このレンズによって光をスポット集光させること
ができろ。従って光導波路の断面形状を小さくすること
が可1jシとなり、)’1liil路を小型化すること
ができる。呼た″lt、導波、、!3の断面形状を小さ
くすることtこより、エツチング時間を短縮でき、光回
路の生産性が著しく向−1ニする。
第1図Aは本発明の第1の実権例による光平面回路の斜
視図、第1図Bは同要部拡大’F iii図、第1図C
はこの回路の集光レンズのへ1訴率分布を示すグラフ、
第1図Dはこの回路の光導波路のJifl折率分布を示
すグラフ、弟2図〜弟6図はこの芙〃℃例の工4“Aを
それぞれ示す光回路の7斜視図、第7図i.?この実権
例の変形例に係る光・芒1m回路の斜イ児図、・君8図
Aは本発明の弟2の実権例による光平面回路のが・Y視
図、第8図13はこの回路の光等波1傷の/+11折率
分布を示すグラフである。 な′fj−rlJ向に用いた符号(こおいて、(1)・
・・・・・・・・・・・・・・・・ 基板(2)・・・
・・・・・・・・・−・・・・・ 光6波路t3+
・・・・・・・・・・・・・・・・・・ JiQ折率分
布型レンズ(埋め込みレンズ)18)・・・・・−・・
・・・・・・・・ Tdイオンtl +) ・・・・
・・・・・・・・・・・・・・ エッチング用a−S+
マスク04)・・・・・・・・・・・・・・・・・ K
イオンである。 代 理 人 土 屋 勝〃
松 村 修
視図、第1図Bは同要部拡大’F iii図、第1図C
はこの回路の集光レンズのへ1訴率分布を示すグラフ、
第1図Dはこの回路の光導波路のJifl折率分布を示
すグラフ、弟2図〜弟6図はこの芙〃℃例の工4“Aを
それぞれ示す光回路の7斜視図、第7図i.?この実権
例の変形例に係る光・芒1m回路の斜イ児図、・君8図
Aは本発明の弟2の実権例による光平面回路のが・Y視
図、第8図13はこの回路の光等波1傷の/+11折率
分布を示すグラフである。 な′fj−rlJ向に用いた符号(こおいて、(1)・
・・・・・・・・・・・・・・・・ 基板(2)・・・
・・・・・・・・・−・・・・・ 光6波路t3+
・・・・・・・・・・・・・・・・・・ JiQ折率分
布型レンズ(埋め込みレンズ)18)・・・・・−・・
・・・・・・・・ Tdイオンtl +) ・・・・
・・・・・・・・・・・・・・ エッチング用a−S+
マスク04)・・・・・・・・・・・・・・・・・ K
イオンである。 代 理 人 土 屋 勝〃
松 村 修
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 基板に屈折率を大さくすることに寄!iするイオ
ンを拡散して高屈折率1−を形成し、次いで前記高屈折
率層を所望の光分岐あるいは合流バタニン等の形状とな
るようにエツチングし、tAfJ記パターンの周辺から
Jlil折率を小さくすることに寄与するイオンを拡散
することによって光導波路を11工成することを特徴と
する光平向回路の製造方法。 2、 前記光導波路を形成するに程によって、前記基板
内であって前記光導波路の轍部(こ屈厨率分布型レンズ
を形成するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載の丸・ト面回路の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56132401A JPS5834408A (ja) | 1981-08-24 | 1981-08-24 | 光平面回路の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56132401A JPS5834408A (ja) | 1981-08-24 | 1981-08-24 | 光平面回路の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5834408A true JPS5834408A (ja) | 1983-02-28 |
Family
ID=15080525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56132401A Pending JPS5834408A (ja) | 1981-08-24 | 1981-08-24 | 光平面回路の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5834408A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4575180A (en) * | 1983-08-15 | 1986-03-11 | Chang David B | Intrawaveguide fiber optic beamsplitter/coupler |
| JPS6258206A (ja) * | 1985-09-07 | 1987-03-13 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 導波路型レンズ |
| JPS6380207A (ja) * | 1986-09-24 | 1988-04-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光スタ−カプラ |
| JPS6396607A (ja) * | 1986-10-07 | 1988-04-27 | エヌ・ヴエー・フイリツプス・グリユイランペンフアブリーケン | 光学的星形カプラ |
| JPH0197907A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 光導波回路の製造方法 |
| JP2005292382A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Kazuyuki Hirao | 光学素子及びその製造方法並びに光学装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5392149A (en) * | 1977-01-24 | 1978-08-12 | Mitsubishi Electric Corp | Method of fabricating thin film light wave guide |
-
1981
- 1981-08-24 JP JP56132401A patent/JPS5834408A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5392149A (en) * | 1977-01-24 | 1978-08-12 | Mitsubishi Electric Corp | Method of fabricating thin film light wave guide |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4575180A (en) * | 1983-08-15 | 1986-03-11 | Chang David B | Intrawaveguide fiber optic beamsplitter/coupler |
| JPS6258206A (ja) * | 1985-09-07 | 1987-03-13 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 導波路型レンズ |
| JPS6380207A (ja) * | 1986-09-24 | 1988-04-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光スタ−カプラ |
| JPS6396607A (ja) * | 1986-10-07 | 1988-04-27 | エヌ・ヴエー・フイリツプス・グリユイランペンフアブリーケン | 光学的星形カプラ |
| JPH0197907A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 光導波回路の製造方法 |
| JP2005292382A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Kazuyuki Hirao | 光学素子及びその製造方法並びに光学装置 |
| US7515803B2 (en) | 2004-03-31 | 2009-04-07 | Kazuyuki Hirao | Optical element, manufacturing method thereof, and optical device |
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