JPS5839932A - 光沢計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は光沢計測装置Ｋｌｌするものである口従来の
光沢計測装置は、ＪＩＳに規格されているように第１ｆ
ｆｉＫ示す被検査面Ｓの法線に対して４５度の照射角度
で投光しうるように配置した投光手段ｌと、被検査面Ｓ
での前記照射光の正反射光を受光する受光素子２とで構
成され、一定設光光量に対し得られる受光光量から被検
査面Ｓの光沢を計測するようにしたものである０ この光沢計Ｉｌｌ装置は、被検査面Ｓの凹凸状態に方向
性がなく、どの方向からの照射に対１ても同一受光ｑ＃
−を呈する場合にはその測定結果は有効であるが、菖２
隅に示すような木材３の表面のように導管３１・・・の
存在−より凹凸状ｌｌＫ方向性を有する被検査面では、
導管３ａ−：・の走行方向に対して自車７方向“１９照
光する１ＩＥ３図＾？場合と・導管３ａ°゛の走行方向
すよシ照簿する苧図＠９場せとでは測定結果に大きな差
が生じ、正確な測定を行うことができないロセして、こ
のような方向性ｔＶする被検査面は、前記木材表面に限
ら一ヘアライン加工された金属表面など実際の測定対象
として無数に存在するため、このような方向性を有する
被検査面に対しても正確な調定結果が得られる光沢針１
１義置の開発は、精度の高い光沢計測を行ううえで不可
欠である０ したがって、この発明の目的は、方向性を有する被検査
面の光沢測定についても正確に行うことのできる光沢針
側装置を提供することである０この発明の一実施例ｔ−
第４図に示す。すなわち、この光沢針側装置社、被検査
面Ｓに対し垂直に光ビームを照射する投光器４と、前記
投光器４０光軸５上で前記投光器４と被検査ＷＪＳの閲
に配設され前記光軸５を回転中心として回転し前記投光
器４から照射された光ビームを前記光軸５に対し所定の
放射角度に反射する平面鏡６と、前記光軸５と自己の軸
心とが一致するように前記平面鏡６の少し下方に配置さ
れ自己の内周鏡面７ａで前記平面鏡６からの反射光を受
は被検査面Ｓの所定点Ｐ（前記光軸５が被検査１ｉｉＳ
と交わる点〕に向け４５度の角度で入射するように反射
させるとともに。

被検査面Ｓ上の点Ｐでの反射光を自己の内周鏡面７ｍ（
前記平面鏡６からの反射光を受ける面域に対し１８０度
の周角度で対向する面域）で受は前記平面鏡６の背面側
に向けて反射する円環状ミラー７　（ｆ−１１ミラー）
と、前記平面鏡６の背面に固定され前記平面鏡６に従動
回転して、前記円環状ミラー７を介して入光する被検査
面Ｓ上の点Ｐでの反射光を受光する受光素子８とを備え
、前記平面鏡６と受光素子８とは自己の細心を前記光軸
５に揃えて配置した円筒回転軸９の下端部に固定すると
ともに、通電環路１０ｇ、１０ｍ−を上面に有するロー
タｌＯを前記円筒回転軸９の上部に周設して、被検査面
上の点Ｐでの反射光量に対応して得られる前記受光素子
８の出力を前記ａ−夕１０の過電環路１０ａ、１０ａ　
ｆｃｆｆｌｌ接させたブラシ１１１ｉ−介して電圧信号
として得るようにしたものである口前記受光素子８と前
記ロータ１０の通電環路１０ｍ、１０ｍとは前記円筒回
転軸９に沿って配設される通電ｍ（図示せず〕を介して
接続している◎ＩＬ前記前記円転回転軸９−タ（図示せ
ず）により所定回転速度で回転駆動するようにしている
口 仁の光沢計測装置の動作を第５図の概略図および第６図
の波形図に基づき次に説明するＯ投光器４から光ビーム
１２’ｊ−照射□しなから前−円筒回転軸９を回転させ
ると、光ビーム１２は所定の傾斜角度に設定された前記
平面鏡６で前記光軸５に対して所定の放射角度−で反射
するとともに、七の反射方向は前記円筒回転軸９０同転
に伴５を中心にして刻々とａＷＩＩＩ変位する０平面鏡
６からの反射光１２鳳は前記円環状ミラー７の内周鏡面
７ｍで受けられ、被検査ＷＪＳの前記に向けて４５変の
角度で入射 するように反射され、同時に被検査ｉＩＳの点Ｐでの反
射光１２ｍ’は、前記平面鏡Ｓからの反射光１２ｉを受
叶暮前記円環状＜７−７の内周鏡面７１０所１８０度６
周角度で対向する内周鏡面 ７ａの他両域で受けられて、その反射光１２ａ’ａ前記
千厘鏡６の背面に固定された受光素子８に受光゛は前−
′平面鏡６の回転に伴な れ（これに伴ない前記円環状ミ２ −７の平面鏡６からの反射光１２ｍの受光面域および被
検査面Ｓからの反射光１２ａ′の受光面域は刻々と回動
変位する）、被検査面Ｓの点Ｐへの３６０度全方位にわ
たる入射光１２ＪＩＫ対する正反射光１２ｍ’の光量を
前記受光素子８が＃Ｉ６図に示すように電圧出力として
連続的に出力し、ロータ１０．ブラシ１１を経て一定さ
れる口 ＪＩ６図に示す電圧出力の波形において、電圧レヘＡ／
　カ１８０　Ｍｌの周期で高低汞化しているのは、前記
被検査面ＳＫへアライン華導管などによる凹゛凸状態の
方向性を示すもので、電圧レベ゛ルの低い部分すなわ□
ち反射光量の少ない部分は投受光が被検査１ｉＩＳの凹
凸条に対し励直方向から行われている部分に相当し、逆
に電圧レミルの高い部分は投受光方向が凹凸条の走行方
向に揃っている場合に相当している０ このように構成したため、被検査面Ｓでの投受光ｔ−３
６０Ｒ全方位にわたって行ｉ、全方位の受光凹凸状態に
方向性がある場合でも、前記受光素子８の全方位にわた
る電圧出力データを平均化してその平均値で光沢度合１
＊定したシ、また前記電圧出力の最低レベルおよび最高
レベルを所定基準値と比較するなどの処理を行うことに
より、被検査面Ｓの正確な光沢測定を行う仁とができる
０また、被検査面Ｓがヘアライン加工し次金属面のよう
な場合で、ヘアラインと交差する方向に傷が存在する場
合には、ヘア２インに対して垂直な方向から投受光が行
われる電圧出力の低い部分（ＩＩ７図囚ＫＴ工て示す）
Ｋｍ記傷に対応する信号Ｃが見られるので、この信号Ｃ
を検出することによｐ被検査面Ｓの傷検出装置としても
利用することができる。

なお、このような傷の検出においては、傷に対応する信
号Ｃの発生域であるヘアライン九対して喬直な方向から
投受光が行われる区間ＴＩＫ同期する１ｌＩＩｔ７Ｗｉ
＠に示すようなゲート信号を発するゲート回路を用いて
、前記受光素子８の電圧出力のうち傷に対応する信号Ｃ
の発生域ＴよのみをＩＩＬ９出し、これを微分回ｊｌに
人力するなどして薦７図（Ｑに示すように前記傷に対応
する信号Ｃ′をピックアップし、その検出を容易に精度
よく行うことも可能である。

前記実施例では、前記円環状ミラー７の内周鏡＠７ｍは
凹面仕上けとして、入射される光ビームを被検査ＮＳへ
の照射の際に効果的に収束させるようにしているが、特
にそのような収束を必要としない場合には、前記内周鏡
面７ａは平面仕上げとしてもよい。

この発明の他の実施例を第８図に示す。すなわち、この
光沢計測装置は、前記実施例における投光器４′として
Ｈ＠−Ｎｅレーザ（赤色）とＡｒレーザ（育色）を混合
した光ビーム１３を照射するものを用いるとともに、前
記実施例における平面鏡６に替えて前記光ビーム１３を
Ａｒレーザ１３ａとＨｅ−Ｎｅレーザ１３ｂとに分光し
て投光器４′の光軸５′に対してそれぞれ異なる所定放
射角度で放射させるプリズム１４を配設する６方１円環
状ミラーとして。

前記Ａｒレーザ１３ｍを反射する第１円環状イラー１５
と前記Ｈｅ−Ｎｅレーザ１３ｂｔ反射するＩｓ２円環円
環ラミ２６とを被検査ＷｉＳの上方に重合配置し、被検
査面Ｓの所定点Ｐよ１１円環状ミラー１５で反射して入
光するＡｒレーザ１３ｍの反射光１３ｍ’を受光する菖
ｌ受光素子８−とＪＩ２円環状ミラー１６で反射して入
光するＨｅ−Ｎｅレーザ１３ｂの反射光１３ｂ’を受光
する第２受光素子８′ｂとを、前記プリズム１４に並設
して、２種類の異なる光により、それぞれ被検査面Ｓに
対する投受光角度を異ならせて光沢測定を全方位にわた
って行うようにしたものである◎ 前記第１　、＠２受光素子８’ａ　＋　ａ’ｂの入光部
には、それぞれ入光波長の異なるフィルタ１７ａ、１７
ｂＱｉｅ−Ｎｅレーザを受光するＭ２受光素子８’ｂＫ
つ−ては６３２．８ｎｍフィルタｔａｒレーザを受光す
るＭ１受光素子８′ａについては５１４．０ｎｍフィル
タ）ｔ−被着して、２つの光が混入することがないよう
にしている◎ 前記投光器４′は、被検査面Ｓに対して珈直方向にＡｒ
レーザ１３ｍを照射するＪ１１投光部４’ａと、前記ｓ
１投光部４−の光軸に対し直角に光軸を設定してＨｅ−
Ｎ＠レーザ１３ｂを照射するＪＩＥ２投光部４’ｂと、
前記第１投光部４’ａの光軸上に配置され前記第２投光
部４’ｂの照光を前記ａｌｌ投光部４’ａの光軸に揃え
て第１投光部４’ａの照光と混合するダイクロイックミ
ラー４′ｃとで構成している◎ そのほかの構成は前記実施例と同様である。

仁のように構成し次ため、この光沢計測装置を用いて被
検査面Ｓの傷検知を行う場合に、２種類の照光により同
時に投受光角度の異なる２つの測定を行うことができ、
１つの投受光角度による測定で社発見できないような深
さの異なる傷についても容易に検出でき、精度の高い傷
検知を行うことができる。

そのほかの効果は前記実施例と同様である。

以上のように、この発明の光沢計測装置は、被検°査う
面ｆ＋（′対（、Ｌｌ−暑・直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段、と＝皺１検２簀面ＩＩの、・
間に配設され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前
記光ビームを光軸に対して所定放射角度に放射する放射
手段と、前記光軸に軸心を揃え−て１．讐検−査・、育
、の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段から
の放射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査
面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前記放射手段配
設置ｇ１に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一
体的に設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環収電
２−を介して入光する被検査面での反射光を受光し被検
査面の反射光量に相当する出力を得る受光素子とを備え
たものである友め、被検査面に対する投受光測定を全方
向にわたって行うことができ、ヘアラインなど表面の凹
凸状態に方向性を有する徽検査ＷｉＫ対しても極めて精
度の高い光沢測定を行うことができるという効果を有す
る。

【図面の簡単な説明】

Ｊ１１図は従来の光沢計測装置による光沢計測の説明図
、第２図は木材ＩＩＷ！ｉの光沢針ＷＪを示す斜視図、
第３図囚、（２）は被検査面の凹凸状態に方向性のある
場合の光沢計測を示す説明図、第４図は仁の発明の一実
施例を示す斜視図、ＩＩＥｓｍはその動作を示す概略図
、嬉６１１１はその受光素子の電圧出力を示す波形図　
＄１７図囚ないしくＱはそれぞれ傷検知の場合の波形図
、９８図はこの発明の他の実施例を示す概略図である０ ４．４′・・・投光器、５．５’・・・光軸、６・・・
平面鏡（放射手段）、７・・・円環状ミラー、８・・・
受光素子、８−・・・第１受光素−子、８’ｂ・・・Ｊ
１２受光素子、９・・・円筒回転軸、１０・・・ロータ
、　１０ｍ・・・通電環路、１１・・・ブラシ、１４・
・・プリズム（放射手段）、１５・・・第１円環状さ２
−１１６・・・＃Ｉ２円環状ミラー、Ｓ・・・被検査面 第４図 第８図 手続補正書（自発） の表示 和５６年　特許願第１３９３００万 の名称 沢計測装置 をする者 事件との関係　　出願人 住　所　大阪府門真市大字門真１０４８番地名　称　（
５８３）松下電、工株式会社代表者　　　神　　Ａｉｒ
　　　善　　−理　　人 自発補正 ６、補■ ７、補Ｊ−１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 被顎渣１に（一対・」し７喬直に光ビームを照射する投
   光手段と、前記投光手段と一囃違円１の−・関・に配設
   され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前記光ビー
   ムを光軸に対して所定放射角度に放射する放射手段と、
   前記光軸に輪心を揃、え゛てネ＠−査（藺。 の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段からＯ
   薦射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査面
   での反射光を１己の内周鏡面で受けて前記放射手段配設
   部に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一体的に
   設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環状＜１−１
   介して入光する被検査面での反射光を受光し被検車面の
   反射光量に相蟲する出力を得る受光素子とを備えた光沢
   計測装置。　　、