JPH1114320A - 寸法測定装置 - Google Patents
寸法測定装置Info
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- JPH1114320A JPH1114320A JP18736697A JP18736697A JPH1114320A JP H1114320 A JPH1114320 A JP H1114320A JP 18736697 A JP18736697 A JP 18736697A JP 18736697 A JP18736697 A JP 18736697A JP H1114320 A JPH1114320 A JP H1114320A
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- Japan
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- wire
- optical measuring
- measuring means
- light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数の光学測定手段を近接して設置すること
を可能として、線材の同一断面に近い断面の形状や寸法
を正確に測定する。 【解決手段】 光学測定手段Ｍ１は、平面光Ｌ１を線材
Ｗに対してこれを横切るように照射して線材Ｗの影像を
ＣＣＤイメージセンサ３６により捉える。光学測定手段
Ｍ１は線材Ｗの周囲に９０度角度を変えて二つ配置さ
れ、これら光学測定手段を、平面光Ｌ１，Ｌ２の厚み分
ｄだけずらして位置させて、各光学測定手段の平面光Ｌ
１，Ｌ２が互いに重ならないようにする。
を可能として、線材の同一断面に近い断面の形状や寸法
を正確に測定する。 【解決手段】 光学測定手段Ｍ１は、平面光Ｌ１を線材
Ｗに対してこれを横切るように照射して線材Ｗの影像を
ＣＣＤイメージセンサ３６により捉える。光学測定手段
Ｍ１は線材Ｗの周囲に９０度角度を変えて二つ配置さ
れ、これら光学測定手段を、平面光Ｌ１，Ｌ２の厚み分
ｄだけずらして位置させて、各光学測定手段の平面光Ｌ
１，Ｌ２が互いに重ならないようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は線材等の対象物に光
を照射してその影像を捉えることにより断面形状や外径
を測定する寸法測定装置に関する。
を照射してその影像を捉えることにより断面形状や外径
を測定する寸法測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】圧延線材の断面形状をオンラインで測定
するために、例えば特開平７−３５５１７号公報には以
下のような光学式寸法測定装置が示されている。これ
は、円板の中心に線材を通し、当該円板の板面の一方の
半径側に、発光源からの発散光を平行光に変換するため
の集光レンズを設けるとともに、他方の半径側に、上記
線材を横切った際の影を含む平行光を受光素子上に結像
させる結像レンズを設けている。本測定装置によれば、
円板を回転させて線材に対する平行光の照射角度を変え
つつ、受光素子上での影像の幅から各照射角度における
線材径を知り、これを線材の全周について行うことによ
り、その断面形状を測定することができる。
するために、例えば特開平７−３５５１７号公報には以
下のような光学式寸法測定装置が示されている。これ
は、円板の中心に線材を通し、当該円板の板面の一方の
半径側に、発光源からの発散光を平行光に変換するため
の集光レンズを設けるとともに、他方の半径側に、上記
線材を横切った際の影を含む平行光を受光素子上に結像
させる結像レンズを設けている。本測定装置によれば、
円板を回転させて線材に対する平行光の照射角度を変え
つつ、受光素子上での影像の幅から各照射角度における
線材径を知り、これを線材の全周について行うことによ
り、その断面形状を測定することができる。
【０００３】ところで、円板の回転速度を適当な範囲に
抑えつつ、高速で通過する線材の断面形状を測定するた
めに、特願平８−８２４４５号では、発光源、集光レン
ズ、結像レンズ、および受光素子から構成される光学測
定手段を円板上に角度を変えて複数設けることが提案さ
れている。例えば、図４に示すように、角度を９０度異
ならせて二つの光学測定手段Ｍ１´，Ｍ２´を設けれ
ば、円板の回転速度を同じにしても、２倍の速度で断面
形状を測定することができる。なお、図４中、３１は発
光源たる発光ダイオード、３２は集光レンズ、３５は結
像レンズ、３６は受光素子たるＣＣＤイメージセンサで
あり、黒色領域は線材Ｗによって生じる影である。
抑えつつ、高速で通過する線材の断面形状を測定するた
めに、特願平８−８２４４５号では、発光源、集光レン
ズ、結像レンズ、および受光素子から構成される光学測
定手段を円板上に角度を変えて複数設けることが提案さ
れている。例えば、図４に示すように、角度を９０度異
ならせて二つの光学測定手段Ｍ１´，Ｍ２´を設けれ
ば、円板の回転速度を同じにしても、２倍の速度で断面
形状を測定することができる。なお、図４中、３１は発
光源たる発光ダイオード、３２は集光レンズ、３５は結
像レンズ、３６は受光素子たるＣＣＤイメージセンサで
あり、黒色領域は線材Ｗによって生じる影である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のように複数の光
学測定手段Ｍ１´，Ｍ２´を設ける場合、これらを線材
Ｗの長手方向で可能な限り接近させた方が同一断面に近
い断面での外径を得ることができる。しかし、従来の光
学測定手段を互いに接近させると、図４の矢印で示すよ
うに、光学測定手段Ｍ１´の平行光が線材Ｗの表面で反
射して光学測定手段Ｍ２のＣＣＤイメージセンサ３６へ
入射し、外径測定に誤差を生じることがある。これを図
５で説明する。
学測定手段Ｍ１´，Ｍ２´を設ける場合、これらを線材
Ｗの長手方向で可能な限り接近させた方が同一断面に近
い断面での外径を得ることができる。しかし、従来の光
学測定手段を互いに接近させると、図４の矢印で示すよ
うに、光学測定手段Ｍ１´の平行光が線材Ｗの表面で反
射して光学測定手段Ｍ２のＣＣＤイメージセンサ３６へ
入射し、外径測定に誤差を生じることがある。これを図
５で説明する。
【０００５】図５はＣＣＤイメージセンサの出力信号の
経時変化を示すもので、図５（Ａ）の１スキャン内で信
号レベルが低下する領域Ｄが線材Ｗの影像に対応する部
分で、その幅Ｓｗが線材Ｗの外径に比例している。とこ
ろが、他の光学測定手段からの反射光が入光すると、図
５（Ｂ）に示すように、信号レベルが低下すべき領域Ｄ
内で、反射光により信号レベルがノイズ的に高くなる。
特に、当該領域Ｄの両端部でこのような信号レベルの上
昇を生じると、領域幅Ｓｗが変動するために正確な線材
径の測定ができない。この問題は特にステンレス系線材
のような反射率の高い線材の場合に甚だしくなる。
経時変化を示すもので、図５（Ａ）の１スキャン内で信
号レベルが低下する領域Ｄが線材Ｗの影像に対応する部
分で、その幅Ｓｗが線材Ｗの外径に比例している。とこ
ろが、他の光学測定手段からの反射光が入光すると、図
５（Ｂ）に示すように、信号レベルが低下すべき領域Ｄ
内で、反射光により信号レベルがノイズ的に高くなる。
特に、当該領域Ｄの両端部でこのような信号レベルの上
昇を生じると、領域幅Ｓｗが変動するために正確な線材
径の測定ができない。この問題は特にステンレス系線材
のような反射率の高い線材の場合に甚だしくなる。
【０００６】そこで、本発明はこのような課題を解決す
るもので、複数の光学測定手段を近接して設置すること
を可能として、対象物の同一断面に近い断面の形状を正
確に測定できるようにした寸法測定装置を提供すること
を目的とする。
るもので、複数の光学測定手段を近接して設置すること
を可能として、対象物の同一断面に近い断面の形状を正
確に測定できるようにした寸法測定装置を提供すること
を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、平面光（Ｌ１，Ｌ２）を対象物（Ｗ）
に対してこれを横切るように照射して対象物（Ｗ）の影
像を受光素子（３６）により捉える光学測定手段（Ｍ
１，Ｍ２）を、対象物（Ｗ）の周囲に角度を変えて複数
配置し、これら光学測定手段（Ｍ１，Ｍ２）を、上記平
面光（Ｌ１，Ｌ２）の厚み分（ｄ）だけずらして位置さ
せて、各光学測定手段（Ｍ１，Ｍ２）の平面光（Ｌ１，
Ｌ２）が互いに重ならないようにする。
め、本発明では、平面光（Ｌ１，Ｌ２）を対象物（Ｗ）
に対してこれを横切るように照射して対象物（Ｗ）の影
像を受光素子（３６）により捉える光学測定手段（Ｍ
１，Ｍ２）を、対象物（Ｗ）の周囲に角度を変えて複数
配置し、これら光学測定手段（Ｍ１，Ｍ２）を、上記平
面光（Ｌ１，Ｌ２）の厚み分（ｄ）だけずらして位置さ
せて、各光学測定手段（Ｍ１，Ｍ２）の平面光（Ｌ１，
Ｌ２）が互いに重ならないようにする。
【０００８】本発明においては、対象物に対して平面光
を照射するようにして、光学測定手段を上記平面光の厚
みだけずらして位置させたから、一の光学測定手段の平
面光が対象物に反射して生じる反射光が、他の光学測定
手段の平面光に混入することはなく、対象物の断面形状
を正確に測定できる。そして、円形断面の平行光を使用
する従来の装置に比して、光学測定手段の位置を互いに
近接させることができるから、対象物の同一断面に近い
断面の形状を測定することができる。
を照射するようにして、光学測定手段を上記平面光の厚
みだけずらして位置させたから、一の光学測定手段の平
面光が対象物に反射して生じる反射光が、他の光学測定
手段の平面光に混入することはなく、対象物の断面形状
を正確に測定できる。そして、円形断面の平行光を使用
する従来の装置に比して、光学測定手段の位置を互いに
近接させることができるから、対象物の同一断面に近い
断面の形状を測定することができる。
【０００９】なお、平面光は、例えば円形断面の平行光
をスリットに通す等により生成される。また、受光素子
の前方に平面光の断面形状に等しいスリットを設けれ
ば、対象物の表面で反射光が散乱されるような場合で
も、反射光の混入を確実に防止することができる。
をスリットに通す等により生成される。また、受光素子
の前方に平面光の断面形状に等しいスリットを設けれ
ば、対象物の表面で反射光が散乱されるような場合で
も、反射光の混入を確実に防止することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１に寸法測定装置の全体垂直断
面図を示す。図において、固定台１上には厚肉筒状の保
持部１１が水平姿勢で設けられ、当該保持部１１内に回
転筒２が配設されて、軸方向の二箇所に設けたベアリン
グ２１により支持されている。回転筒２の一端外周には
プーリ２２が嵌着され、このプーリ２２には図略の駆動
モータから延びるベルト２３が懸架されて回転筒２を一
定速度で回転させている。対象物たる圧延後の線材Ｗは
回転筒２の筒内中心を水平方向へ貫通している。
面図を示す。図において、固定台１上には厚肉筒状の保
持部１１が水平姿勢で設けられ、当該保持部１１内に回
転筒２が配設されて、軸方向の二箇所に設けたベアリン
グ２１により支持されている。回転筒２の一端外周には
プーリ２２が嵌着され、このプーリ２２には図略の駆動
モータから延びるベルト２３が懸架されて回転筒２を一
定速度で回転させている。対象物たる圧延後の線材Ｗは
回転筒２の筒内中心を水平方向へ貫通している。
【００１１】回転筒２の一端には、カバー２４１で覆わ
れ、中心を線材Ｗが貫通している大径の円板部２４が形
成され、その板面には図２に示すように、９０度位置を
異ならせて交差するように二つの光学測定手段Ｍ１，Ｍ
２が設けられている。各光学測定手段Ｍ１，Ｍ２はそれ
ぞれ、円板部２４の中心を通る線材Ｗに対して、当該円
板部２４の板面の一方の半径側に、発光源としての発光
ダイオード３１と、これより発する発散光を円形断面の
平行光へ変換するための集光レンズ３２と、平行光を後
述するような一定厚の平面光Ｌ１，Ｌ２にするスリット
部材３３とを有するとともに、他方の半径側には、上記
線材Ｗを横切った際に生じる影（図中の黒色領域）を含
んだ平面光Ｌ１，Ｌ２のみを通過させるスリット部材３
４と、平面光Ｌ１，Ｌ２が入射する結像レンズ３５と、
この結像レンズ３５によって受光面上に影像が生じさせ
られる受光素子としてのＣＣＤイメージセンサ３６とを
有している。なお、平面光Ｌ１，Ｌ２は線材Ｗの前後で
透明なガラス窓３７を通過している。
れ、中心を線材Ｗが貫通している大径の円板部２４が形
成され、その板面には図２に示すように、９０度位置を
異ならせて交差するように二つの光学測定手段Ｍ１，Ｍ
２が設けられている。各光学測定手段Ｍ１，Ｍ２はそれ
ぞれ、円板部２４の中心を通る線材Ｗに対して、当該円
板部２４の板面の一方の半径側に、発光源としての発光
ダイオード３１と、これより発する発散光を円形断面の
平行光へ変換するための集光レンズ３２と、平行光を後
述するような一定厚の平面光Ｌ１，Ｌ２にするスリット
部材３３とを有するとともに、他方の半径側には、上記
線材Ｗを横切った際に生じる影（図中の黒色領域）を含
んだ平面光Ｌ１，Ｌ２のみを通過させるスリット部材３
４と、平面光Ｌ１，Ｌ２が入射する結像レンズ３５と、
この結像レンズ３５によって受光面上に影像が生じさせ
られる受光素子としてのＣＣＤイメージセンサ３６とを
有している。なお、平面光Ｌ１，Ｌ２は線材Ｗの前後で
透明なガラス窓３７を通過している。
【００１２】図１において、円板部２４に対向する保持
部１１の一端には大径の歯車１２が固定されており、こ
の歯車１２の外周に小径の歯車１３が噛合している（図
２）。歯車１３は円板部２４の板面に設けた発電機３８
の回転軸の先端に取り付けられており、回転筒２、すな
わち円板部２４が回転すると、これに伴って歯車１３が
歯車１２の外周を自転しつつ移動して発電が行われる。
この発電電力は各光学測定手段Ｍ１，Ｍ２の発光ダイオ
ード３１へ供給される。
部１１の一端には大径の歯車１２が固定されており、こ
の歯車１２の外周に小径の歯車１３が噛合している（図
２）。歯車１３は円板部２４の板面に設けた発電機３８
の回転軸の先端に取り付けられており、回転筒２、すな
わち円板部２４が回転すると、これに伴って歯車１３が
歯車１２の外周を自転しつつ移動して発電が行われる。
この発電電力は各光学測定手段Ｍ１，Ｍ２の発光ダイオ
ード３１へ供給される。
【００１３】回転筒２の中間部外周には、リング板２５
が複数嵌着してあり、これらリング板２５は、保持部１
１の内周面に形成されたリング状の凹溝１４内にそれぞ
れ位置している。リング板２５の板面とこれに対向する
凹溝１４の溝面にはそれぞれコイルがプリント形成され
て（図示略）回転トランスを構成しており、この回転ト
ランスを介してＣＣＤイメージセンサ３６からの出力信
号が無接触で固定台１側へ取り出される。なお、ガラス
窓３７を設けた部分を除いて、線材Ｗの周囲には断熱管
４１，４２が設けられている。
が複数嵌着してあり、これらリング板２５は、保持部１
１の内周面に形成されたリング状の凹溝１４内にそれぞ
れ位置している。リング板２５の板面とこれに対向する
凹溝１４の溝面にはそれぞれコイルがプリント形成され
て（図示略）回転トランスを構成しており、この回転ト
ランスを介してＣＣＤイメージセンサ３６からの出力信
号が無接触で固定台１側へ取り出される。なお、ガラス
窓３７を設けた部分を除いて、線材Ｗの周囲には断熱管
４１，４２が設けられている。
【００１４】図３には光学測定手段Ｍ１の斜視図を示
す。図において、発光ダイオード３１から発せられた発
散光は集光レンズ３２によって円形断面の平行光に変換
されてスリット部材３３に入射する。スリット部材３３
には一定幅（例えば１０ｍｍ）の長方形スリット３３１
が形成されており、上記平行光はスリット３３１を通過
することによって、当該スリット３３１と同断面の一定
厚ｄの平面光Ｌ１になる。平面光Ｌ１は途中で線材Ｗを
横切り、この時生じる線材Ｗの影（図中の黒色領域）を
含んでスリット部材３４に入射する。スリット部材３４
には上記スリット部材３３と同形のスリット３４１が形
成されており、平面光Ｌ１は当該スリット３４１を通過
した後、結像レンズ３５によってＣＣＤイメージセンサ
３６の受光面上へ入射させられる。一方、光学測定手段
Ｍ２においても同様の構成で一定厚ｄの平面光Ｌ２が形
成されており、この平面光Ｌ２は図３に示すように、線
材Ｗを通過する部分で光学測定手段Ｍ１の平面光Ｌ１と
交差するとともに、本実施形態では、互いに重ならない
ように線材Ｗの長手方向へずれている。この際、各平面
光Ｌ１，Ｌ２は既述のように一定厚ｄの長方形断面をし
ているから、その厚み分だけ位置をずらすことにより両
平面光Ｌ１，Ｌ２は互いに重ならず、平面光Ｌ２の、線
材Ｗでの反射光が平面光Ｌ１に混入することが防止され
る。
す。図において、発光ダイオード３１から発せられた発
散光は集光レンズ３２によって円形断面の平行光に変換
されてスリット部材３３に入射する。スリット部材３３
には一定幅（例えば１０ｍｍ）の長方形スリット３３１
が形成されており、上記平行光はスリット３３１を通過
することによって、当該スリット３３１と同断面の一定
厚ｄの平面光Ｌ１になる。平面光Ｌ１は途中で線材Ｗを
横切り、この時生じる線材Ｗの影（図中の黒色領域）を
含んでスリット部材３４に入射する。スリット部材３４
には上記スリット部材３３と同形のスリット３４１が形
成されており、平面光Ｌ１は当該スリット３４１を通過
した後、結像レンズ３５によってＣＣＤイメージセンサ
３６の受光面上へ入射させられる。一方、光学測定手段
Ｍ２においても同様の構成で一定厚ｄの平面光Ｌ２が形
成されており、この平面光Ｌ２は図３に示すように、線
材Ｗを通過する部分で光学測定手段Ｍ１の平面光Ｌ１と
交差するとともに、本実施形態では、互いに重ならない
ように線材Ｗの長手方向へずれている。この際、各平面
光Ｌ１，Ｌ２は既述のように一定厚ｄの長方形断面をし
ているから、その厚み分だけ位置をずらすことにより両
平面光Ｌ１，Ｌ２は互いに重ならず、平面光Ｌ２の、線
材Ｗでの反射光が平面光Ｌ１に混入することが防止され
る。
【００１５】したがって、本実施形態では、両光学測定
手段Ｍ１，Ｍ２の位置を線材Ｗの長手方向へ平面光Ｌ
１，Ｌ２の厚み分ｄだけ僅かにずらすのみで、互いに他
の光学測定手段からの反射光の混入が防止され、線材径
を確実に測定することができる。このように、従来のよ
うな円形断面の平行光を使用するのに比して、本実施形
態では一定厚の平面光を使用しているから、両光学測定
手段Ｍ１，Ｍ２を接近して位置させることができ、これ
ら光学測定手段Ｍ１，Ｍ２で測定される線材径は線材Ｗ
の同一断面に近い断面のものとなって、線材Ｗの断面形
状をより正確に把握することができる。
手段Ｍ１，Ｍ２の位置を線材Ｗの長手方向へ平面光Ｌ
１，Ｌ２の厚み分ｄだけ僅かにずらすのみで、互いに他
の光学測定手段からの反射光の混入が防止され、線材径
を確実に測定することができる。このように、従来のよ
うな円形断面の平行光を使用するのに比して、本実施形
態では一定厚の平面光を使用しているから、両光学測定
手段Ｍ１，Ｍ２を接近して位置させることができ、これ
ら光学測定手段Ｍ１，Ｍ２で測定される線材径は線材Ｗ
の同一断面に近い断面のものとなって、線材Ｗの断面形
状をより正確に把握することができる。
【００１６】なお、上記実施形態において、圧延時のヒ
ケ等により通常は線材表面には種々の角度の面が形成さ
れており、反射光が散乱されるおそれがある。したがっ
て、他の光学測定手段からの反射光の入射を確実に防止
するにはスリット部材３４を設けた方が好ましい。そし
て、このスリット部材３４は可能な限り線材Ｗに近い位
置に設けた方が効果がある。
ケ等により通常は線材表面には種々の角度の面が形成さ
れており、反射光が散乱されるおそれがある。したがっ
て、他の光学測定手段からの反射光の入射を確実に防止
するにはスリット部材３４を設けた方が好ましい。そし
て、このスリット部材３４は可能な限り線材Ｗに近い位
置に設けた方が効果がある。
【００１７】平面光Ｌ１，Ｌ２を生成するには必ずしも
上記実施形態のような構成を採用する必要はなく、例え
ば、発光ダイオードを直線状に多数配置して、これら発
光ダイオードから発する発散光をシリンドリカルレンズ
で一定厚の平面光に変換するような構成としても良い。
上記実施形態のような構成を採用する必要はなく、例え
ば、発光ダイオードを直線状に多数配置して、これら発
光ダイオードから発する発散光をシリンドリカルレンズ
で一定厚の平面光に変換するような構成としても良い。
【００１８】上記実施形態では光学測定手段を二つ設け
たが、三つ以上設けることもできる。また、光学測定手
段は必ずしも回転する円板上に設けられる必要はなく、
線材の周囲に角度をおいて固定されていても良い。さら
に、対象物は線材に限られるものではない。
たが、三つ以上設けることもできる。また、光学測定手
段は必ずしも回転する円板上に設けられる必要はなく、
線材の周囲に角度をおいて固定されていても良い。さら
に、対象物は線材に限られるものではない。
【００１９】
【発明の効果】以上のように、本発明の寸法測定装置に
よれば、測定に平面光を使用したことにより、複数の光
学測定手段を近接して設置することが可能であるから、
対象物の同一断面に近い断面の外径ないし形状を正確に
測定することができる。
よれば、測定に平面光を使用したことにより、複数の光
学測定手段を近接して設置することが可能であるから、
対象物の同一断面に近い断面の外径ないし形状を正確に
測定することができる。
【図１】本発明の一実施形態を示す、寸法測定装置の全
体垂直断面図である。
体垂直断面図である。
【図２】回転筒円板部の正面図である。
【図３】光学測定手段の斜視図である。
【図４】従来の光学測定手段の概略構成図である。
【図５】ＣＣＤイメージセンサの出力信号波形図であ
る。
る。
３１…発光ダイオード、３２…集光レンズ、３３，３４
…スリット部材、３５…結像レンズ、Ｌ１，Ｌ２…平面
光、Ｍ１，Ｍ２…光学測定手段、Ｗ…線材（対象物）。
…スリット部材、３５…結像レンズ、Ｌ１，Ｌ２…平面
光、Ｍ１，Ｍ２…光学測定手段、Ｗ…線材（対象物）。
Claims (1)
- 【請求項１】 平面光を対象物に対してこれを横切るよ
うに照射して前記対象物の影像を受光素子により捉える
光学測定手段を、前記対象物の周囲に角度を変えて複数
配置し、これら光学測定手段を、前記平面光の厚み分だ
けずらして位置させて、各光学測定手段の平面光が互い
に重ならないようにしたことを特徴とする寸法測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18736697A JPH1114320A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18736697A JPH1114320A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 寸法測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1114320A true JPH1114320A (ja) | 1999-01-22 |
Family
ID=16204747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18736697A Pending JPH1114320A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1114320A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013099981A1 (ja) * | 2011-12-27 | 2013-07-04 | シーシーエス株式会社 | ライン光照射装置 |
| CN105203037A (zh) * | 2015-09-21 | 2015-12-30 | 长飞光纤光缆股份有限公司 | 一种在线测量预制棒直径的装置 |
| JP2018044812A (ja) * | 2016-09-13 | 2018-03-22 | 株式会社Ｖｒｃ | ３ｄスキャナ |
| CN108885084A (zh) * | 2016-04-01 | 2018-11-23 | 施洛伊尼格控股股份公司 | 组合传感器 |
| JP2020030126A (ja) * | 2018-08-23 | 2020-02-27 | 株式会社デンソー | 角度検出装置及び角度検出方法 |
-
1997
- 1997-06-26 JP JP18736697A patent/JPH1114320A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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