JPS584194A - 正確時間追跡線発生方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ディスプレイ装置に関し、更に詳細には、高
価な精度の高い電気素子を使用しないでディスプレイに
文字又は線を正確に発生させる方法及び装置に関する。

従来、（筆記ｊ／４−４−）ディスプレイに線を発生さ
せることが、各座標軸で遅延線積分器があとに続く正確
なデジタル−アナログ（Ｄ／Ａ　）コンバータで純に沿
って連続する点を定めることによって行なわれた１、約
３ＭＨｚの高変換速度で動作する正確な１６ビツ）Ｄ／
Ａコンバータは、連続する点による限定を移り変わる［
グリッチＪ　（ｇｌｉｔｃｈ）を含む連続するレベルに
よる限定に変換する。特別のグリッチ分離回路が実質上
このグリッチのすべてを除去して、タップ付遅延線積分
器に供給する。この積分器が大きなステップを一連の小
さなステップに分割して、あらい周波数成分を約６０Ｍ
Ｈｚに引き上げる。高周波数のあらさを除去するため低
周波フィルタが使用され、所望の平滑な電圧波形を発生
する。しかし、この高精度のＤ／Ａコンバータ及びグリ
ッチ分離回路は比較的高価である。

従来における他の方法は、精度の低いＤ／Ａコンバータ
を用い、１つのＤ／Ａコンバータがディスプレイ・スク
リーン上のあらゆるところへのスタート位置を規定する
のに使用され、もう一つのＤ／Ａコンバータがアナログ
積分器へ供給するのに使用されてそのスタート位置に比
例した所望な線を発生する。これら２つの波形が加算さ
れて、Ｘ又はＹ偏向増幅器に最終出力を形成する。更に
、これらのオープン・ループ装置においては；高価な精
度の高い素子が一般に使用されて素子の経年変化や温度
の影響による線の変動を最小限に抑えている。それでも
、基準位１１Ｄ／Ａコンバータによって規定される位置
とＤ／Ａ積分器によって規定される位置との相互作用は
、高周波で調節を継続することになり、ディスプレイの
位置−線調節の効率を低下させることになる。

本発明は、高い位置の精度を達成するため、誤差訂正フ
ィート９バツク・ループを有するディスプレイ線発生方
法及び装置を開示する。発生装置は、文字又は線の基準
位置をディスプレイに発生する装置と、文字又は線を形
成するためディスプレイに文字スロープ又は線スロープ
を発生する装置と、特定の初期位置及び特定の最終位置
に関する期間に亘ってディスプレイ上の移動ビームを試
験及び訂正する装置と、から成る。基準位置発生装置及
びスロープ発生装置の出力は加算増幅器に結合して、デ
ィスプレイのための座標軸毎の偏向波形を供給する。ス
ロープ発生装置は、経年変化及び・々ラメータ変動によ
る構成要素の変動を補償するための電気的可変・耐うメ
ータ装置を有する積分装置から成る。好適実施例におい
ては、電気的可変パラメータ装置は可変抵抗から成る。

ビーム位置試験及び訂正装置は、基準位置発生装置及び
スロープ発生装置の出力から電気的可変・ξラメータ装
置へのフィート９パツク装置から成る。フィート９バツ
ク装置は、文字又は線のスロープ発生装置において電気
的可変ノξラメータ装置の調節を行う。更に、ゲイン・
スイッチが線又は文字の大きさを調節する。

本発明は、更に、文字又は線の基準位置をディスプレイ
に発生する装置と、文字又は線を形成するためディスプ
レイに文字スロープ又は線スロープを発生する装置と、
線又は文字の大きさを調節するゲイン装置と、軸上の偏
向波形成分信号で周期的位置試験を所定の期間に行うコ
ンパレータと、コンパレータによる時間誤差量を判定す
る検出装置と、この検出装置によって判定された誤差蓋
に基いてスロープ発生装置を調節するフィードバック装
置と、を開示する。検出装置はロード可能カウンタから
成り、位置試験のための一定時間を決定する。

本発明は、また、文字又は線の基準位置をディスプレイ
に発生させ、文字又は線を形成するためディスプレイに
文字スロープ又は線スロープを発生させ、基準位置と文
字又は線のスロープを増幅器で加算してディスプレイの
ための座標軸毎の偏向波形を供給し、ディスプレイに対
し座標軸上の偏向波形成分信号で周期的位置試験を所定
の期間に亘って行ない、この位置試験から時間誤差量を
判定し、この誤差量に基いてフィードバック装置によっ
てスロープ発生装置を調節する、ステップから成る、デ
ィスプレイ装置の正確時間追跡線発生方法を開示する。

文字スロープ又は線スロープを発生するステップは、フ
ィート９バツク装置によって制御される電気的可変パラ
メータ装置からの一定電流を積分することから成る。周
期的に位置試験を行うステップは、特定の初期位置と特
定の最終位置に関する所定の期間に亘ってディスプレイ
上のビームを移動させることから成る。

本発明を以下実施例に従って詳細に説明する。

第１図を参照すると、本発明による正確時間追　７跡線
発生器が示される。発生されるべき線は２点を結ぶ線で
あったり、または、文字を形成する線である。基準位置
データ２０入力は典型的には１１ビツトのデジタル・ワ
ードで基準位置レジスタ１０に供給され、その出力はデ
ジタル−アナログ（Ｄ／Ａ　’）コンバータ１２によっ
て基準位置電圧信号１２８に変換される。基準位置電圧
１２８は表示されるべき線又は文字に対し陰極線管（Ｃ
ＲＴ　）ディスプレイ上の１つの座標軸のスタート位置
を決定する。

スロープ・レジスタ１４は、ディスプレイ・プロセッサ
（図示せず、しかし当業者に周知）から文字スロープ乙
のデータ・ワード又は線スロープ８のデータ・ワード９
を受け、各データ・ワードは典型的には１２ビツトで文
字の線要素のスロープ又は線のスロープを特定する。ス
ロープ・レジスタ１４の出力はＤ／Ａコンバータに接続
され、そのＤ／Ａコンバータは選定されたスロープ電流
を電気的可変パラメータ装置１８に供給する。本発明に
オイては、電気的可変パラメータ装置はフィードバック
回路網４７に応答する可変抵抗から成る。積分増幅器２
６は電気的可変パラメータ装置１８を介して一定電流を
受け、所望の線又は文字のスロープを発生する。所望の
スロープを決定する一定電流の連続的積分は、段階状に
ならないで線を発生することができる。積分増幅器２６
に亘って接続される消去スイッチ２２は、積分器出力を
ニュートラル状態にして、基準位置を決定する加算され
た全電圧出力を積分が開始する迄変化させないようＫし
ている。積分増幅器２６の出力はゲイン・スイッチ２８
に接続され、該スイッチは前述のディスプレイ・プロセ
ッサがらの文字−線モード制御信号４によって制御され
、そして表示されるべき線又は文字の大きさを調節する
。加算″増幅器３０社、基準位置電圧信号及び線スロー
プ電圧信号２９を受けて、偏向回路信号４８として座標
軸位置波形を発生する。

基準位置電圧１２８及び線スロープ電圧２９はまた、コ
ンパレータ３２に与えられ、該コンパレータは、制御装
置６６、誤差検出器４ｏ及びフィードバック回路網４７
と共に本発明の試験機能を供給してスロープ発生回路の
精度を維持する。試験動作は表示リレツシュ間隔につき
１回乃至数回生じる。

第１図及び第２図を参照して、本発明の試験動作を説明
すると次のような逐次峠方法で行なわれる。

ｆｌＪ　　初期基準位置デジタル・ワードが基準位置レ
ジスタ１０にディスプレイ・プロセッサによってロート
９される。

（２）特別の試験スロープ・デジタル・ワードがスロー
プ・レジスタ１４にロードされる。

（３）特別のカウントがロート９可能カウンタ６６・に
ディスプレイ・プロセッサからのロート９・カウンタ時
間人力５０によってロードされる。

（４）　　Ｄ／Ａコンバータが初期基準位置デジタル・
ワードを初期基準位置電圧（Ｖ、）に変換する。

ｆ５）　　ｔ　ｔＭ、　Ｄ／Ａコンバータ１６が試験ス
ロープ・デジタル・ワードを積分増幅器２６０人力のた
めの一定電流に変換する。

（６）積分増幅器２６が電流Ｄ／Ａコンバータ１６から
の一定電流の積分を開始する。

（７）線スロープ電圧出力２９が初期基準位置電圧１２
８（Ｖ、）に等しいとコンパレータ・−６２が判定した
とき、ロート９可能カウンタ６６が一定時間間隔（Ｔ）
の計数を開始する。

（８）基準位置レジスタ１０が最終基準位置電圧に変換
するため最終基準位置電圧ワードで再ロードされる。

（９）コンパレータ３２が線スロープ電圧２９と最終基
準位置電圧１２　Ｂ　（ＶＦ）とが等しいと判定すると
、それを誤差検出器４０に指示する。

Ｃｌ０）　　誤差検出器４０がフィードバック回路網４
７にノ々ルスを供給し、該回路網が、最終基準位置電圧
（ＶＦ）がコンパレータ３２によって指示されるとき始
動してロード可能カウンタ６６のオアパーフロー迄続行
する。ロード可能カウンタ６６にロードされたその特別
のカウントは、初期位置電圧（ｖｒＬ）と最終位置電圧
（ＶＦ）との推移に応じた線スロープ電圧２９に対し最
悪の場合の時間よりも長い時間となるように選定される
。誤差パルスはフィードバック回路網４７に与えられて
電気的可変パラメータ装置１Ｂを調節し、該パラメータ
装置は線スロープ電圧２９を所望の正確値にするよ、う
にスロープ積分増幅器２６を制御する。

ここで第６図を参照すると、第１図の波形発生器２０の
詳細回路が示される。基準位置レジスタ１０は、基準位
置レジスタ・ロード・パルス２４４によってデータ・バ
スト６６からロードされる。

スロープ・レジスタ１４はスロープ・レジスタ・ロート
９・パルス２４２によってデータ・バス１３６からロー
ドされる。電気的可変パラメータ装置１８はフィードバ
ック路に電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）９２を有する
増幅器９６から成る。フィードバック回路網４７からの
ループ制御電圧信号２５２はＦＥＴ　９２のダイナミッ
ク抵抗を変化させ、該ＦＥＴ　９２は次に抵抗９５によ
って積分増幅器２６に供給される電流を変化させる。積
分増幅器２６のフィート９バツク路のコンデンサ２４は
積分（器）電圧１５２を発生するスロープ積分を行う。

積分電圧１３２は、加算増幅器３０の基準位置電圧１２
８と結合して、ディスプレイ装置の１つの座標軸の゛た
めの偏向回路信号４８に対する座標軸位置波形を発生す
る。同じ線発生器は第１図に示すようにディスプレイ装
置の他の座標軸のために使用される。積分増幅器２６の
出力が積分の開始前に変化しないことを保証するために
、そうでなければ位置を決める加算電圧出力を変えてし
まうので、消去スイッチ２２が積分増幅器ン６に接続さ
れる。この消去スイッチ２２は２つのＦＥＴ　８２及び
８４から成り、該ＦＥＴは、バイアス段１０４及び１１
８、トランスレータ１１０゜及び出力スイッチ１１２か
ら成る消去スイッチ・ト９ライバ１３０によって、非常
に抵抗の低い状態（ターン・オン）か非常に抵抗の高い
状態（ターン・オフ）のいずれかで作動する。

第４図を参照すると、高周波クロック３８は、４０ＭＨ
ｚクロック発生器１７８から成り、該発生器は正確時間
追跡線発生器の内部タイミングを供給スる。コンパレー
タ３２は、線スロープ電圧２９と基準位置電圧１２８と
の差を連続的に感知し、第１図に示すように制御ロジッ
ク３４及び誤差検出器４０に信号を供給する。コン・々
レータ６２の出力は、第１スレツシヨルド制御信号２７
４がフリップ・フロップ１７４のクリア人力を解除した
後、線スロープが第２図に示すように初期基準位置電圧
（Ｖｌ）と等しくなったとき、フリップ・フロップ１７
４をトリガする。フリップ・フロップ１７４の出力は、
ディスプレイ・プロセッサからデータ・バス１３６を介
してカウンタ３６にカウンタ・ロード制御信号２７８に
よって最初ロートゝされたカウントによって決定された
一定時間間隔の間、ロード可能カウンタ３６に計数を開
始させる。ロード可能カウンタは４つの４ビツト・カウ
ンタ１８６．１８８，１９０及び１９２がら成る。計数
時間の長さは、時間誤差量を表わす可変パルス幅を有す
る誤差検出器４ｏの出方を常に正の信号となるようＫ、
線スロープ電圧２９が最終基準位置電圧（ＶＦ）に達す
る実際の時間よりも長（設定される。加えられたカウン
ト時間は後で第１図及び第５図に示すようにループ・フ
ィルタ４４内で除去される。

第２スレッショルド９制御信号２７６は）１１ツゾ・フ
ロップ１７６のクリア人力を解除し、該左１ツブ・フロ
ップはコンパレータ３２からの出方を待って、次の４０
　ＭＨｚりけツク・パルス２０２でセットされる。フリ
ップ・フロップ１７６０セツトは誤差検出器２０−４の
出方信号を高（正）レヘルニスル。誤差検出器信号２０
４のパルス幅は試験動作中の時間誤差の量を決定する。

ロード可能カウンタ３６がオーバーフローすると、フリ
ップ・７０ツブ１９６は高周波クロ′ツク３８から受け
る次のクロック・パルスでセットとし、出方を高レベル
にしてＮＡＮＤゲート１９８出カスイカスイッチ態にし
て誤差検出器信号２０４を終止する。

第５図を参照すると、第１図のフィードバック回路網４
７０回路は、アナログ誤差フィルタ及びゲイン装置２５
４、ループ・フィルタ４４、及び積分器４６から成る。

誤差検出器４ｏからの誤差検出器信号；２　Ｄ　４はフ
ィードバンク回路網への唯一の人力である。

ドライバ２０６は、抵抗、２０８とダイオード２１０と
の接続点にグランド９又はオープンを供給するスイッチ
として作用する。誤差検出器信号２０４が高電圧レベル
にあるとき、ドライバは前記接続点にオープン回路を供
給して、＋１５■電源から送られる電流を抵抗２０８及
びダイオード２１０を介してコンデンサ２１８に供給す
る。この電流は典型的には１００　ミＩ＋アンペア程度
である。誤差検出器信号２０４に高レベルがないとき（
これは大部分の時間である）、ドライバ２０６は、抵抗
２０８及びダイオード２１０の接続点にグランド９を供
給してダイオード２１０を逆バイアスにする。その結果
、抵抗２２０と並列の抵抗２１２．２１４及び２１６か
ら成る放電路は、抵抗２０８の値の数百倍の抵抗となり
、コンデンサ２１８によって供給されるうちの一部分が
漏れ電流となる。従って、反復される誤差パルスがコン
デンサ２１８間の電圧を積分された充電電流と放電電流
とが平衡するまで上昇させる。その結果の平均電圧ゲイ
ンは、約前記全放電路抵抗を抵抗２０８の値で割った比
である。

ループ・フィルタ４４はフィート９パツク回路網４７の
過渡特性の制御手段を提供する。コンデンサ２２２は、
抵抗２２４によってゲイン・減衰が制限される積分作用
を行う。コンデンサ２２２と抵抗２２４との組合せの結
果としてのフィルタは、ループ過渡応答及びスタビリテ
イの達成のためのトリミング機構を供給する。抵抗２３
４はループ・ゲイン調節を行う。抵抗２２８及び２６２
との組合せで、第４図に示すようにロート９可能カウン
タ６６において故意に導入した超過遅延を補償するため
に必要な電圧注入を行う。この遅延は、デジタル誤差検
出器１９３によって正の誤差だけが生じることを保証す
るために導入され、それによってアナログ誤差フィルタ
及びゲイン回路２５４において負の電流ドライバの必要
性を除去している。その結果、ループ・フィルタ４４へ
の入力電圧は、抵抗２６０によって与えられる電圧注入
からアナログ誤差フィルタ及びゲイン回路２５４によっ
て生じる電圧を引いたものとなる。この結果人力は正味
誤差となる。

積分器４６は誤差出力電圧を累積するために設けられる
。線発生器パラメータの長期シフトはループ過渡応答中
の積分器出力での誤差信号の累積によって補償される。

誤差検出器人力２０４での正味誤差に対して次に必要な
ことは、過渡期間後に除去されることである。このよう
に、微小の誤差オフセットは、線発生器における長期間
のパラメータ変動の結果である。抵抗２４６は、第１図
及び第６図に示す電気的可変パラメータ１８の特性に符
合するようにＤＣバイアスを与える。積分器４６のルー
プ制御電圧信１号２５２は、第６図に示す電気的可変パ
ラメータ回路１８を変化させてフイービバック制御を行
う。

第４図に示す高周波クロック６８及び幾つかの制御ロジ
ックに加えて、制御ロジック６４の残りの部分が第６図
に示される。これまで述べた試験動作はディスプレイ・
リフレッシュ間隔中に生じるので、リフレッシュ開始信
号２０９は試験制御クロック２１１と共に制御ロジック
動作を開始し、このクロックは４ＱＭＨｚよりも非常に
低い速度でタイミング間隔を規定するためにカウント・
ダウン・クロックとしてディスプレイ・プロセッサによ
って発生される。試験制御クロック２１１特性は、本実
施例では約ｉＭＨｚのスピード容量を設定する積分器消
去スイッチ２２及び基準位置Ｄ／Ａコンバータ１２によ
って決定される。前述した制御ロジック６４によって発
生される信号は積分器消去電圧制御信号２４０、スロー
プ・レジスタ・ロード・パルス２４２、基準位置レジス
タ・ロード・・ξシス２４４．第１及び第２スレツシヨ
ルド制御信号２７４及び２７６及びカウンタ・ロード制
御信号２７８である。

以上１本発明の実施例について説明したが、本発明の範
囲内で他の多くの変更及び修正が可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のブロック図である。 第２図は、所定の期間における位置試験中の試験スロー
プのグラフである。 第３図は、第１図の波形発生器２０の回路図で、電気的
可変パラメータ装置１８．積分増幅器２６、消去スイッ
チ２２．及び消去スイッチ・ドライメ１３０を示す。 第４図は、第１図に示すコンパレータ６２．高周波クロ
ック３８、ロート８可能カウンタ６６、誤差検出器４０
の一部のデジタル誤差検出器１９３の回路図である。 第５図は、アナログ誤差フィルタ及びゲイン回路２５４
、ループ・フィルタ４４、及び積分器４６の回路図であ
る。 第６図は、第１図に示す制御ロジック３４の回路図であ
る。 特許出願人　　レイセオン・カンパニーＭ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）　　文字又は線の基準位置をディスプレイに発生
   させ、 前記文字又は線を形成するためディスプレイに文字スロ
   ープ又は線スロープを発生させ、前記基準位置と前記文
   字又は線のスロープを増幅器で加算してディスプレイの
   ための座標軸毎の偏向波形を供給し、 ディスプレイに対し座標軸上の偏向波形成分信号で周期
   的位置試験を所定の期間に亘って行ない、 前記位置試験からの時間誤差量を判定し、前記誤差量に
   基いてフィードバック手段によって前記スロープを発生
   する手段を調節する。 ステップから構成される、ディスプレイ装置の正確時間
   追跡線発生方法。 （２）前記文字スロープ又は線スロープを発生させるス
   テップが、電気的可変パラメータ装置からの一定電流を
   積分することから成るところの特許請求の範囲第（１）
   項記載の方法。 （３）前記電気的可変パラメータ装置・が可変抵抗装置
   から成るところの特許請求の範囲第（２）項記載の方法
   。 （４）前記電気的可変パラメータ装置が前記フィードバ
   ック手段によって制御されるところの特許請求の範囲第
   （２）項記載の方法。 （５）前記周期的位置試験を行うステップが、特定の初
   期位置と特定の最終位置に関する所定の期間に亘って前
   記ディスプレイ上のビームを移動させることからなると
   ころの特許請求の範囲第（１１項記載の方法。 （６）文字又は線の基準位置をディスプレイに発生する
   装置と、 前記文字又は線を形成するためディスプレイに文字スロ
   ープ又は線スロープを発生させる装置と、 特定の初期位置及び特定の最終位置に関する期間に亘っ
   てディスプレイ上の移動ビームを試験及び訂正する装置
   と、 から構成される、ディスプレイ装置の正確時間追跡線発
   生装置。 （７）前記基準位置発生装置及び前記スロープ発生装置
   の出力が加算増幅器に結合してディスプレイのための座
   標軸毎の偏向波形を供給するところの特許請求の範囲第
   （６）項記載の装置。 （８）前記スロープ発生装置が積分装置から成るところ
   の特許請求の範囲第（６）項記載の装置。 （９）前記積分装置が成分変動を補償するための電気的
   可変パラメータ装置から成るところの特許請求の範囲第
   （８）項記載の装置。 顛　前記電気的可変パラメータ装置が可変抵抗装置から
   成るところの特許請求の範囲第（９）項記載の装置。 ０１１　　前記ビーム位置の試験及び訂正装置が、前記
   基準位置発生装置及び前記スロープ発生装置の出力から
   前記電気的可変・ξラメータ装置へのフィードバック装
   置から成るところの特許請求の範囲第（９）項記載の装
   置。 （１２）　　前記フィードバック装置が、前記スロープ
   発生装置における前記電気的可変パラメータ装置を調節
   するところの特許請求の範囲第０１）項記載の装置。