JPS5842686B2 - デイジタル保護継電器の点検方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電力系統の保護をディジタル量によるデータ処
理により行なうディジタル保護継電器の不良を監視する
ディジタル保護継電器の点検方式従来、電力系統の保護
を行なうアナログ保護継電器の点検は、模擬送電線より
得た電流、電圧を入力としてしゃ断器へのトリップ出力
をロックして行なうことが一般である。

一方電力系統の保護を行なうディジタル保護継電器の点
検ではトリップ出力をロックして行なうことはもちろん
可能であるが、トリップ出力をロックすることなく、入
力データと点検データを同時に入力することによって点
検を行なうことが考えられている。

次に前記ディジタル保護継電器の点検方法の原理を第１
図を用いて説明する。

第１図は従来のディジタル保護継電器の点検方式の一例
を示し、同図において１は入力データと点検データとが
供給されるディジタル保護継電器、２は整定変更部、３
は現在使用中の整定値を格納するメモリ回路であって、
メモリ回路３に格納される整定値は整定変更部２によっ
て任意に変更される。

また４は点検用の既知の演算結果を格納するメモリ回路
、５は比較回路、６は警報回路である。

このような構成のもとに、ディジタル保護継電器１には
、送電線路より得られた電流、電圧をアナログ、ディジ
タル変換して得られるディジタル入力データと、ディジ
タル保護継電器１の点検に用いられる既知のディジタル
データ（点検データ）が入力される。

保護継電器１はこれら２つのデータすなわち入力データ
と点検データについて所定の演算を行なうのであるが、
その演算の様子を第４図のタイムチャートに示す。

第４図でＴｓはサンプリング間隔、■は入力データによ
り演算を行なう部分、■は点検データにより演算を行な
う部分であ°る。

これらの演算は保護継電器１においてメモリ回路３に格
納された整定値Ｋを用いて行なわれる。

ディジタル保護継電器１は第４鴎における■での演算の
結果しゃ断指令を出すべきときは電力系統におけるしゃ
断器のトリップ出力として送出される。

またディジタル保護継電器１は第４図における■での演
算結果は比較回路５に出力され比較回路５はその出力と
メモリ回路４に格納された既知の結果とを比較し、それ
らが不一致なら警報回路６に出力を出し警報を発する。

このような点検方法によると、次のような問題が生じる
。

これについて第２図５〜ｅの例で説明する。

第２図ａ ”−’ ｅは距離継電器のインピーダンス平
面上の特性を表したもので、０はオーム要素、Ｍはモー
要素を表し、各々斜線部分がその動作範囲である。

以下、例としてオーム要素の点検を考える。

いま、第２図ａのような整定の時、インピーダンス平面
上で点■〜■にあたるような点検データをディジタル保
護継電器１に入力し、オーム要素に対する出力が点の、
［Ｆ］こ対しては動作、点■。

■に対しては不動作であることを比較回路５にて判定す
る。

ところが、いま整定か第２図すのように変わったとする
と、オーム要素に対する出力が点■、■。

■に対しては動作、点■に対しては不動作というふうに
比較回路５における判定が変わる。

故に比較回路５に入力されるメモリ回路４の内容を第１
図の点線で示す如く整定変更部２の整定変更出力にもと
づき変更しなければならない。

また点検データか■〜■の４種類とすると、モー要素は
動作、オーム要素は不動作といった点に対する点検はで
きない。

たとえば第２図ａでは■がこれに当る。これを可能にす
るには第２図Ｃに示すように新しく■′に対応するよう
な点検データを増す必要がある。

そこで整定かどのように変わっても、このようなきめ細
かな点検をなすには、第２図ｄに示すように■〜■のよ
うな多くの点に対応する点検データが必要となる。

また第２図ｄではオーム要素に対する出力が■〜■に対
しては動作、■〜■に対しては不動作であるが、整定か
第２図ｅのように変わるとオーム要素に対する出力が■
〜■に対しては動作、■〜■に対しては不動作といった
ふうに比較回路５における判定が変わるので、メモリ回
路４の内容を第１図の点線で示す如く整定変更部２の整
定変更出力にもとづいて変更しなければならない。

このような点検方式によると点検データについての演算
においても通常保護演算のときと同様メモリ回路３の整
定値Ｋを用いているので、点検データがぼう大な量必要
となり、またそれに対応した出力を格納するメモリ回路
４の内容も整定変更のたびに変更せねばならないという
不都合が生ずる。

そこで本発明はこのような問題点を解決するためになさ
れたもので、すなわち、電力系統から得られる交流のア
ナログ量をディジタル量に変換し、このディジタル量を
計算機で演算し、電力系統の保護を行なうディジタル保
護継電器の不良を監視するディジタル保護継電器の点検
方式において、前記交流のアナログ量をディジタル量に
変換するさいの一定のサンプリング周期内に少なくとも
前記ディジタル保護継電器に既知の点検用ディジタルデ
ータを入力し、その点検用ディジタルデータについて既
知の点検用整定値を用いて所定の演算を行ない、その演
算結果を既知の演算結果と比較することにより、ディジ
タル保護継電器の不良を監視するディジタル保護継電器
の点検方式を提供しようとするもので、以下実施例を用
いて説明する。

第３図は本発明によるディジタル保護継電器の点検方式
の一実施例を示し、第１図と同じものあるいは同じ機能
を有するものには同符号を用いる。

同図において１は点検用の既知の整定値Ｋｏを格納する
メモリ回路、８はメモリ回路３の出力（整定値Ｋ）とメ
モリ回路１の出力（整定値Ｋｏ）とを切換える整定値の
切り替え回路である。

ディジタル保護継電器１には、送電線路より得られた電
流、電圧をアナログ、ディジタル変換して得られるディ
ジタル入力データとこのディジタル保護継電器１の点検
に用いられる既知のディジタルデータ（点検データ）と
が入力される。

ディジタル保護継電器１はそれら２つのデニタについて
演算を行なうの７あるが、その様子を第４図のタイムチ
ャートに示す。

すなわち、第４図工での演算はメモリ回路３に格納され
た現在使用中の整定値Ｋを用いて行なわれ、第４図■で
の演算はメモリ回路１に格納された既知の整定値Ｋｏを
用いて行なわれる。

ディジタル保護継電器１が通常の保護演算を終った時点
でディジタル保護継電器１からの指令により切り替え回
路８は、その整定値切り替えを行なう。

このようにディジタル保護継電器１が第４図Ｈの演算を
行なう際、メモリ回路１からの既知の整定値を用いるこ
とによって、その結果も既知の一定のものとなる。

故に整定変更に伴って、メモリ回路４の内容を変更する
必要はないし、また点検データがぼう大になることもな
い。

以上のディジタル保護継電器の点検方式によると、整定
値にの格納されるメモリ回路３の点検はできないが、そ
れはまた別の方法で、たとえばメモリ回路をディジタル
保護継電器１と整定変更部２とに各々設けそれらの不一
致を検出するといった方法で行なえば信頼性の高い点検
となる。

上記本実施例においては、電力系統から得られる交流の
アナログ量をディジタル量に変換し、このディジタル量
を計算機で演算し、電力系統の保護を行なうディジタル
保護継電器の不良を監視するディジタル保護継電器の点
検方式において、前記交流のアナログ量をディジタル量
に変換するさいの一定のサンプリング周期内に、通常保
護演算（第４図工で示す時間の演算）の他に前記ディジ
タル保護継電器に既知の点検用ディジタルデータを入力
し、その点検用ディジタルデータについて既知の点検用
整定値を用いて所定の演算（第４図■で示す時間の演算
）を行ない、その演算結果を既知の演算結果と比較する
ことにより、ディジタル保護継電器の不良を監視するデ
ィジタル保護継電器の点検方式について説明したけれど
も、本発明はこれに限定されることなく、上記本実施例
における前記一定のサンプリング周期内に、通常保護演
算を行なわず、第４図Ｔｓで示す時間に既知のディジタ
ルデータ（点検データ）、既知の点検用整定値による点
検のみを行なうようにしたディジタル保護継電器の点検
方式でもよいことはもちろんである。

上述したように本発明によるディジタル保護継電器の点
検方式を用いれば、ディジタル保護継電器点検の際の整
定値としては別個のメモリ回路１に格納されている点検
用の既知の整定値Ｋｏを用いるので、現在使用中の整定
値変更があってもディジタル保護継電器の点検の際、そ
の整定変更に伴なって、メモリ回路４の内容、すなわち
メモリ回路４に格納されている点検用の既知の演算結果
を変更する必要はないし、またぼう大な点検データを必
要とせずに電力系統保護のためのディジタル保護継電器
の不良を監視することができるなどの効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のディジタル保護継電器の点検方式の一例
を示す構成図、第２図ａ−ｅは距離継電器のインピーダ
ンス平面上の特性図、第３図は本発明によるディジタル
保護継電器の点検方式の一実施例を示す構成図、第４図
はディジタル保護継電器のタイムチャートであって、図
中１はディジタル保護継電器、２は整定変更部、３は現
在使用中の整定値を格納するメモリ回路、４は点検用の
既知の演算結果を格納するメモリ回路、５は比較回路、
６は警報回路、１は点検用の既知の整定値を格納するメ
モリ回路、８は整定値の切り替え回路を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 電力系統から得られる交流のアナログ量をディジタ
   ル量に変換し、このディジタル量を計算機で演算し、電
   力系統の保護を行なうディジタル保護継電器の不良を監
   視するディジタル保護継電器の点検方式において、前記
   交流のアナログ量をディジタル量に変換するさいの一定
   のサンプリング周期内に少なくとも前記ディジタル保護
   継電器に既知の点検用ディジタルデータを入力し、その
   点検用ディジタルデータについて既知の点検用整定値を
   用いて所定の演算を行ない、前記ディジタル保護継電器
   から取り出されたその演算結果を既知の点検用演算結果
   と比較することにより、ディジタル保護継電器の不良を
   監視するディジタル保護継電器の点検方式。