JPS584297Y2 - ビ−ムレスポンスソクテイソウチ - Google Patents

ビ−ムレスポンスソクテイソウチ

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Publication number
JPS584297Y2
JPS584297Y2 JP3043075U JP3043075U JPS584297Y2 JP S584297 Y2 JPS584297 Y2 JP S584297Y2 JP 3043075 U JP3043075 U JP 3043075U JP 3043075 U JP3043075 U JP 3043075U JP S584297 Y2 JPS584297 Y2 JP S584297Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
crt
screen
sine wave
signal
Prior art date
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Expired
Application number
JP3043075U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS51112415U (ja
Inventor
本谷邦彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP3043075U priority Critical patent/JPS584297Y2/ja
Publication of JPS51112415U publication Critical patent/JPS51112415U/ja
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Publication of JPS584297Y2 publication Critical patent/JPS584297Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案はCRTのビームレスポンス測定装置に関する
ものである。
ここでいうビームレスポンスとは、印加される映像信号
に対してCRTがどの程度忠実に画像を表示することが
できるかということをあられす一種の特性で、特に、印
加される映像信号の周波数が高くなったときに画像のコ
ントラスト比が所望のコントラスト比からどの程度劣化
するかによって表現される特性である。
CRTに白レベルと黒レベルとの間で変化する一定振幅
の正弦波信号を加えて画面に白と黒の縦帯のくり返しか
らなる縞模様を表示する場合、その正弦波の周波数が低
い間は電子ビームのスポート径に対して縞模様の幅の方
が充分に広いために各々の縦帯が白と黒とに正しく表示
され、その白/黒のコントラスト比は一定になる。
つまり、白帯の明るさと黒帯の明るさとの差は一定にな
る。
ところが、正弦波の周波数が高くなってきて縞模様の幅
が電子ビームのスポット径(約1閣)に近づいてくると
、黒レベルの映像信号が加えられて本来であれば黒帯に
表示されるべき位置であっても隣接する白帯表示位置の
電子ビームの一部までが漏れて照射されるようになって
くるために完全に黒くならず明るく表示されるようにな
る。
つまりコントラスト比が劣化しはじめ、白帯の明るさと
黒帯の明るさとの差が小さくなってくる。
このコントラスト比の劣化つまり明゛度差の減少は、゛
電子ビームのフォーカス状態が悪いときや、フォーカス
は合っていても電子ビームの密度分布が広がっていて周
囲に広範囲にわたって電子が拡散しているようなときに
は低い周波数からでも発生しはじめ、また、電子ビーム
の密度分布が双峯特性のように一様でない場合には特定
の周波数で急に変化したりする。
したがって、CRTに印加する映像信号の周波数を変化
させて画面上に表示する縞模様の幅を変化させながらそ
の縞模様の白帯と黒帯とのコントラスト比つまり明度差
を検出してゆくことにより、そのCRTの電子ビームの
状態を測定することができるのである。
この電子ビームの状態はCRTの画面上の位置によって
も変化するため、それぞれの部分で測定をする必要があ
る。
ところが、縦縞模様の白帯の部分と黒帯の部分とのそれ
ぞれの明るさを検出するために検出手段の方を横方向に
移動させると異なった位置で白帯と黒帯を検出すること
によって不都合であるため、この考案では、検出手段の
方はそれぞれの測定位置で固定しておき、表示する縦縞
模様の方を左右に動かすようにしている。
さらに、検出する幅の広さもできるだけ小さくしたいた
め、CRTの螢光体ドツトの径よりも小さくするように
している。
従来のビームレスポンス測定装置の光学系を第1図に示
す。
すなわち、CRTIの像は凸レンズ2で拡大され、その
焦点面におかれたスリット3で所定の細い幅の光のみが
通過するように光束が制限されて光電子増倍管4に導か
れていた。
このように凸レンズ2を用いて像を拡大した場合、縦横
全ての方向にCRTの画面の像が拡大されることになる
このことは以下に示すような理由から測定上望ましくな
い。
以下カラーCRTの場合について説明を行う。
第2図はカラーCRTの画面に表示された正弦波映像信
号による白黒の縦縞模様のパターンを示したもので、第
3図および第4図はスリット3の面に結像された位置で
のドツト状の各々の螢光体像5とスリット開口6の関係
を示したものである。
ここで、ビームレスポンスの測定は単色で行うので、単
色の螢光体像5だけを示しである。
第2図ないし第4図においては、螢光体像5の直径をd
、ピッチをp、スリット開口6の幅をW 高さをhとし
ている。
一方、ビームレスポンスの測定に当って、光学系による
レスポンスの低下を防ぐためには、光電子倍管4に導く
光の幅を選択するためのスリット開口6の幅Wはw〈〈
dであることが望ましい。
すなわち、幅Wが大きいと縦縞模様の縦帯2本以上の光
が導かれることになって、それぞれの白帯と黒帯のみの
明度を正確に検出することができない。
また、テレビジョンにおいて、ビームは水平方向ととも
に垂直方向に走査しているが、ビームは常にCRTの定
まった位置を走査するのではなく、時間的に多少上下に
変動している。
そのため、ラスターだけの時でもスリット開口6を通過
する光量は時間的に変動することになり、測定上望まし
くない。
そこで、従来においても第4図に示すようにスリット開
口6の垂直方向には複数個の螢光体像5を含むようにし
て、それらの空間平均を取るようにしている。
すなわちh >> pであることが望ましい。しかしな
がら、従来のように光学系に凸レンズ2を用いている場
合には、dをに比してWの方を小さくするためにレンズ
2の拡大率を大きくすれば同時にpも同じ拡大率で大き
くなるため、Wが小さくhが大きいスリット3を用いな
ければならない。
ところが、通常w=20〜50μmが必要であるため、
h)、>wであるスリット3は製作上困難である。
したがって、この考案の目的は、光学系によりレスポン
スが低下することがないように水平方向の光束の通過幅
の小さいスリットを用いることができ、しかも、その場
合でも垂直方向ではスリットの長さを長くしなくても充
分な数の螢光体像の光を通過させることのできる、実施
の容易なビームレスポンス測定装置を提供することであ
る。
第5図はこの考案のビームレスポンス測定装置の一実施
例の光学系の平面図である。
すなわち、この装置では、CRTの螢光体像を拡大する
のに第1図の凸レンズ2に代えてかまぼこ形レンズ7を
垂直方向に向けて用いている。
かまぼこ形レンズ7を用いた場合、水平方向には螢光体
像5を拡大するが、垂直方向には螢光体像5を拡大しな
い。
その結果、第3図および第4図において、螢光体像5の
横幅dのみを大きく拡大して、しかも垂直方向での螢光
体像5の間隔pは拡大しないようにすることが容易とな
り、w((d、h>>pという2つの条件が満足される
スリット開口6として、その幅Wは従来と同一で、かつ
、その長さhは従来と同じ個数の螢光体像5の光を通過
させるとしても従来よりもはるかに小さくすることので
きるスリット3を使用することができることになる。
そのため、市販のスリット(h/w≦109 、w=2
0〜50μm)を用いた場合でも、光学系によるレスポ
ンスの低下なくCRTのビームレスポンスの測定が行え
る。
たとえは、画面上に螢光体像5が直径0.25TrrJ
rLでピッチが0.65mの間隔で配されているCRT
の測定をする場合であれば、レンズ2および7における
拡大率をともに3倍とした場合、−例としてのようなw
=40 ttm、 h = 4trrmのスリット開口
6を有するスリット3を用いると、かまぼこ形レンズ7
を使用すれば垂直方向への拡大率は1であるからスリッ
ト開口6から垂直方向6個分の螢光体像5の光束を通過
させることができるが、凸レンズ2を用いると垂直方向
への拡大率も3であるから2個分の光束しか通過させら
れない。
6個分の光束を通過させるためにはh二12frr!r
Lにしなければならず、これは実施困難である。
第6図はこの考案のビームレスポンス測定装置の一実施
例のブロック図である。
図において、パルス位相変調器8には同期信号発生器9
から水平同期信号(H−D)が加えられるとともにたと
えば周期が数秒程度の超低周波正弦波発生器10の出力
が加えられ、そのH−Dが超低周波正弦波発生器10で
位相変調を受ける。
パルス位相変調器8の出力は同期正弦波発生器11に加
えられ、同期正弦波発生器11ではその位相変調を受け
たH−Dに発振開始位相が同期した数b〜数脂の一定振
幅の発振出力が発生される。
すなわち、この正弦波発振出力はCRTの画面同期用の
水平同期信号に対しては数秒程度の周期で位相が変化し
、その発振周波数は同期正弦波発生器11に別途加えら
れる発振周波数制御用の可変信号により、あるいは発生
器11に設けられている発振周波数制御用の可変素子が
手動によって調整されることにより、任意に変化される
その出力がブランキング信号混合回路12において同期
信号発生器9から供給されるブランキング信号(BLK
)と混合される。
ブランキング信号混合回路12め出力は映像増幅器13
を介してCRT14のカソード15に加えられる。
第7図は映像増幅器13の出力波形を示したものである
一方、南向回路16には、同期信号発生器9からH−D
が供給されており、H−Dに同期した偏向電流を偏向ヨ
ーク17に流している。
そのため、画面上では、第2図に示すように正弦波発振
出力の映像信号によって白帯と黒帯とのくり返しからな
る縦縞模様のパターンが映出され、しかもそのパターン
は正弦波発振信号の発振開始位相が超低周波正弦波で位
相変調されているので、たとえば数秒程度の周期で左右
に移動することにより、かまぼこ状レンズ7と相対向す
る位置に白帯と黒帯とが交互に映出されることになる。
CRT14の像を第5図の光学系18で拡大し光電子増
倍管19に導く。
光電子増倍管19の出力は、第8図に示したように、フ
ィールド周期(1/60sec)の信号が超低周波信号
で振幅変調されたものとなる。
この信号は増幅器20、低域通過フィルタ21で包絡線
検波され、ペン書きレコーダ22に記録される。
このようにして得られたペン書きレコーダ22の包絡線
の振幅は、画面に表示された縦縞パターンの明部と暗部
の光出力の差すなわちコントラスト比に比例したものと
なる。
したがって、同期正弦波発振器11の周波数を順次変化
させていってCRTの画面上に映出する縦縞模様の間隔
を変化させ、その時のペン書きレコーダ22の出力信号
の振幅を測定すれば、CRTのビームレスポンスの測定
が行える。
以上のように、この考案のビームレスポンス測定装置に
よれば、光学系によるレスポンスを低下することなく容
易に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例の光学系の平面図、第2図ないし第3図
、第4図は従来例の問題点の説明図、第5図はこの考案
のビームレスポンス測定装置の一実施例の光学系の平面
図、第6図は同実施例のブロック図、第1図および第8
図はその信号波形図である。 1・・・・・・CRT、3・・・・・・スリット、4・
・・・・・光電子増倍管、7・・・・・・かまぼこ形レ
ンズ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. CRTの画面同期用の水平同期信号に対して位相が時間
    的に変化する一定振幅の正弦波信号を発生し、これを前
    記CRTに加えることにより画面上に白帯と黒帯とのく
    り返し縦縞模様でかつ時間とともに左右に移動するパタ
    ーンを映出するパターン映出用信号発生回路を設け、前
    記画面と対向させてかまぼこ形レンズを垂直方向にして
    設け、前記かまぼこ形レンズで水平方向にのみ拡大した
    前記画面の螢光体像のうち水平方向には1つの螢光体像
    の幅より充分に狭い幅でかつ垂直方向には複数個分の螢
    光体像の光束を通過させる長さのスリット開口を有する
    スリットを設け、このスリットを通過した光量を検出し
    前記白帯部分と黒帯部分との明度差を測定する手段を設
    け、前記正弦波信号の周波数を変化させてCRTのビー
    ムレスポンスを測定するようにしたことを%敵とするビ
    ームレスポンス測定装置。
JP3043075U 1975-03-06 1975-03-06 ビ−ムレスポンスソクテイソウチ Expired JPS584297Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3043075U JPS584297Y2 (ja) 1975-03-06 1975-03-06 ビ−ムレスポンスソクテイソウチ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3043075U JPS584297Y2 (ja) 1975-03-06 1975-03-06 ビ−ムレスポンスソクテイソウチ

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Publication Number Publication Date
JPS51112415U JPS51112415U (ja) 1976-09-11
JPS584297Y2 true JPS584297Y2 (ja) 1983-01-25

Family

ID=28137934

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JP3043075U Expired JPS584297Y2 (ja) 1975-03-06 1975-03-06 ビ−ムレスポンスソクテイソウチ

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