JPS584299A - Ｘ線高電圧発生装置 - Google Patents
Ｘ線高電圧発生装置Info
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- JPS584299A JPS584299A JP10266581A JP10266581A JPS584299A JP S584299 A JPS584299 A JP S584299A JP 10266581 A JP10266581 A JP 10266581A JP 10266581 A JP10266581 A JP 10266581A JP S584299 A JPS584299 A JP S584299A
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- high voltage
- stray capacitance
- ray
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/265—Measurements of current, voltage or power
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、Ｘ線高電圧装置、特にＸ＠雷電流針調囮路
の精度の向上を計ったＸ線高電圧発生装置に関するもの
である。
の精度の向上を計ったＸ線高電圧発生装置に関するもの
である。
一般番ζ、Ｘ線高電圧装置においては０通常使用するＸ
線管電圧が最高１５０にマと非常に高いため。
線管電圧が最高１５０にマと非常に高いため。
高電圧発生装置の二次巻線を２つに分けて電圧の中間点
（中性点）を接地して使用している。又Ｘ線管電流の計
測も通常この接地点に回路を設けて行なっている。
（中性点）を接地して使用している。又Ｘ線管電流の計
測も通常この接地点に回路を設けて行なっている。
一方、高電圧変圧器は通常、鉄芯上に一次巻線シーオド
板、絶縁体、二次巻線の順に同軸上に巻かれており、−
次、二次巻線間のシールド板は安全のため接地端子に接
続され、高電圧変圧器全体は油浸タンク内に収納されて
いる。したがってその構造上、二次巻線は前記シールド
板あるいは鉄心継鉄部、収納タンク等の夫々の間に浮遊
容量を持つことになる。卸ち二次巻線対接地点間の浮遊
容量が存在する。
板、絶縁体、二次巻線の順に同軸上に巻かれており、−
次、二次巻線間のシールド板は安全のため接地端子に接
続され、高電圧変圧器全体は油浸タンク内に収納されて
いる。したがってその構造上、二次巻線は前記シールド
板あるいは鉄心継鉄部、収納タンク等の夫々の間に浮遊
容量を持つことになる。卸ち二次巻線対接地点間の浮遊
容量が存在する。
このために、−次巻線に電圧を印加すると、この容量の
充放電電流が流れその値は例えば１００にマ程度の使用
嘗電圧では約ｌ鵬ム程度となる。
充放電電流が流れその値は例えば１００にマ程度の使用
嘗電圧では約ｌ鵬ム程度となる。
この電流は５通常単相装置、あるいは３相装置の場合で
高電圧側に平滑用コンデンサが接続されている装置では
、Ｘ＊＊電流計測回路に流れ込むため、測定誤差となる
。
高電圧側に平滑用コンデンサが接続されている装置では
、Ｘ＊＊電流計測回路に流れ込むため、測定誤差となる
。
第１図は従来の単相装置の高電圧変圧器の二次巻線から
対接地浮遊容量に流れる電流の経路をも含めた高電圧発
生装置の回路図である。Ｗｉ１図においてｉｍは高電圧
変圧器の一次巻線、１ｂは高電圧変圧器の分割された一
方の二次巻線、ｌｃは高電圧変圧器の分割された他方の
二次巻線、２はＸ線雷電流計測回路（伺えば抵抗］、３
は接地。
対接地浮遊容量に流れる電流の経路をも含めた高電圧発
生装置の回路図である。Ｗｉ１図においてｉｍは高電圧
変圧器の一次巻線、１ｂは高電圧変圧器の分割された一
方の二次巻線、ｌｃは高電圧変圧器の分割された他方の
二次巻線、２はＸ線雷電流計測回路（伺えば抵抗］、３
は接地。
４は二次巻線ｌｂと対地間の浮遊容量、５は二次巻線１
ｃと対地間の浮遊容量、６は高電圧盤ａ！器。
ｃと対地間の浮遊容量、６は高電圧盤ａ！器。
７はＸ線管である。
１１１１ｆｆｉにおいで、浮遊容量４に流れる電流Ｉｃ
１はＸ線雷電流計測回路２には流れないが、浮遊容量５
に流れる電流Ｉｃ２はＸ線管電流計測回路２に流れるた
め、特に透視のような小電流負荷の場合には大きな誤差
となる。
１はＸ線雷電流計測回路２には流れないが、浮遊容量５
に流れる電流Ｉｃ２はＸ線管電流計測回路２に流れるた
め、特に透視のような小電流負荷の場合には大きな誤差
となる。
１１２図は従来の高電圧変圧器の出方側に高電圧コンデ
ンサを接続した３相Ｘ線装置において、高電圧変圧器の
二次巻線対接地間浮遊容量に流れ込む電流の経路をも含
めた高電圧発生装置の回路図である。高電圧コンデンサ
はＸ線管電圧のリップル低域の目的あるいは３極Ｘ線管
を用いたパルスシネ撮影装置用のＸ線高電圧装置等に用
いられることが多い。
ンサを接続した３相Ｘ線装置において、高電圧変圧器の
二次巻線対接地間浮遊容量に流れ込む電流の経路をも含
めた高電圧発生装置の回路図である。高電圧コンデンサ
はＸ線管電圧のリップル低域の目的あるいは３極Ｘ線管
を用いたパルスシネ撮影装置用のＸ線高電圧装置等に用
いられることが多い。
第２図番こおいて、１ｍは高電圧変圧器の一次巻線、Ｉ
ｂは高電圧変圧器の分割された二次巻線の１ ！１１
ｅ ｌ Ｃは高電圧変圧器の分割された他方の二次巻
線の他の１組、２はＸ線雷電流計測回路、３は接地、４
は高電圧変圧器二次巻線ｌ ｂ （ｂ ｌ相分と対地間
の浮遊容量、５は同１ ｃ ｃＩ）１組分と対地間の浮
遊容量、６は高電圧盤１１ＥＩＩ１．７はＸ線管。
ｂは高電圧変圧器の分割された二次巻線の１ ！１１
ｅ ｌ Ｃは高電圧変圧器の分割された他方の二次巻
線の他の１組、２はＸ線雷電流計測回路、３は接地、４
は高電圧変圧器二次巻線ｌ ｂ （ｂ ｌ相分と対地間
の浮遊容量、５は同１ ｃ ｃＩ）１組分と対地間の浮
遊容量、６は高電圧盤１１ＥＩＩ１．７はＸ線管。
８．９は夫々高電圧コンデンサである。この回路におい
て、浮遊容量４に流れる電＠Ｉｃ１ａ 、Ｘｃｓｂは接
地点の関係で電流計測側路２には流れないが。
て、浮遊容量４に流れる電＠Ｉｃ１ａ 、Ｘｃｓｂは接
地点の関係で電流計測側路２には流れないが。
浮遊容量５に流れる電流Ｉｃ１ａ、Ｉｃ１ｂは電流計測
゛回路２に流れる。この場合２組の高電圧変圧器
二次巻線の出力電圧は夫々独立して全波整流されている
ため、浮遊容量に流れる電流は電源電圧の極性により流
れる経路が異なる。又、Ｘ＊＊電流計測回路に流れるＸ
線管電流（負荷電流）は直流であるが、浮遊容量全通し
て流ねる電流は交流となる。以上の説明における浮遊容
量がいかに存在するかを模式的に示したのが＠３図であ
る。１８３図では３相高電圧変圧器の１組分の巻線構造
の一例が示されている。図中、ｌ≦、ｌｌは高電圧変圧
器の一次巻線 、ｇ、ｌ、１は同二次巻線、１２’、１
３’−次、二次巻線間のシールド板であり、１組分にこ
れらが２組づつあるのは高電圧側で対地に対して正電位
側巻線と負電位側巻線を提供するためである。１０は鉄
芯、１１は収納タンクを示している。４．４．４は、二
次巻線１ｂと収納タンク１１゜シールド板ｌ感および鉄
芯ｌＯとの夫々の間に生ずる浮遊容量、 ５．５．５は
二次巻線ｌＪと収納タンクｌｌ、シールド板１５および
鉄芯ｌＯとの夫々の聞に生ずる浮遊容量を示している。
゛回路２に流れる。この場合２組の高電圧変圧器
二次巻線の出力電圧は夫々独立して全波整流されている
ため、浮遊容量に流れる電流は電源電圧の極性により流
れる経路が異なる。又、Ｘ＊＊電流計測回路に流れるＸ
線管電流（負荷電流）は直流であるが、浮遊容量全通し
て流ねる電流は交流となる。以上の説明における浮遊容
量がいかに存在するかを模式的に示したのが＠３図であ
る。１８３図では３相高電圧変圧器の１組分の巻線構造
の一例が示されている。図中、ｌ≦、ｌｌは高電圧変圧
器の一次巻線 、ｇ、ｌ、１は同二次巻線、１２’、１
３’−次、二次巻線間のシールド板であり、１組分にこ
れらが２組づつあるのは高電圧側で対地に対して正電位
側巻線と負電位側巻線を提供するためである。１０は鉄
芯、１１は収納タンクを示している。４．４．４は、二
次巻線１ｂと収納タンク１１゜シールド板ｌ感および鉄
芯ｌＯとの夫々の間に生ずる浮遊容量、 ５．５．５は
二次巻線ｌＪと収納タンクｌｌ、シールド板１５および
鉄芯ｌＯとの夫々の聞に生ずる浮遊容量を示している。
この図から明らかなように、浮遊容量は二次巻線と接地
導電体との間に広範囲に存在し、これを高電圧変圧器の
構造上の改良で取除くことはほとんど不可能である。通
常これらの浮遊容量は数百ｐＦ程度であるが、に次巻線
と対接地導電体の組立構造によって異なり、°且つ浮遊
容量４．４．４は夫々異なった値を有している。
導電体との間に広範囲に存在し、これを高電圧変圧器の
構造上の改良で取除くことはほとんど不可能である。通
常これらの浮遊容量は数百ｐＦ程度であるが、に次巻線
と対接地導電体の組立構造によって異なり、°且つ浮遊
容量４．４．４は夫々異なった値を有している。
又、Ｘ線雷電流計測回路に浮遊容量を経路して流れる電
流は高電圧コンデンサの容量値を大きくすればする程そ
の影響が大きくなり、従って管電圧の安定化の要求する
方向とは矛盾することになる。そして、Ｘ線写真撮影に
おいて特に短時間撮影での管電流最大値を測定する場合
には、この誤差が非常に問題となる。
流は高電圧コンデンサの容量値を大きくすればする程そ
の影響が大きくなり、従って管電圧の安定化の要求する
方向とは矛盾することになる。そして、Ｘ線写真撮影に
おいて特に短時間撮影での管電流最大値を測定する場合
には、この誤差が非常に問題となる。
この発明は以上に鑑み、ｘｍｔｍ流計測回路の若干の改
良により、前記浮遊容量に流れる電流がＸ線雷電流計測
回路では除去出来、従って正確な雷電流計測を可能にし
たＸ線高電圧発生装置を提供するものである。
良により、前記浮遊容量に流れる電流がＸ線雷電流計測
回路では除去出来、従って正確な雷電流計測を可能にし
たＸ線高電圧発生装置を提供するものである。
次にこの発明を第４図の実施例について説明する。＃！
４図はこの発明を実施した３相Ｘ線装置の電圧発生回路
を示すもので、高電圧変圧器の二次巻線対接地間浮遊容
量に＃Ｉれ込む電流経路もあわせて示されており、また
第２図と同一構成部品には同一符号が付されている。
４図はこの発明を実施した３相Ｘ線装置の電圧発生回路
を示すもので、高電圧変圧器の二次巻線対接地間浮遊容
量に＃Ｉれ込む電流経路もあわせて示されており、また
第２図と同一構成部品には同一符号が付されている。
１１２図と異なるところは、電流計測回路がｉ。
ｉの２つに分割されており、その接続点が接地３に接続
されていることである。
されていることである。
上記構成において、今正電位側二次巻線の１相に注目し
、電圧極性を示す・印極性に電圧が発生しているとする
と、浮遊容量４を流れる電流はＩＣＩ鳳の方向となる。
、電圧極性を示す・印極性に電圧が発生しているとする
と、浮遊容量４を流れる電流はＩＣＩ鳳の方向となる。
この時の負電位側の対応する相に注目すれば浮遊容量５
に流れる電流はＩｃ！ｂの方向となる。
に流れる電流はＩｃ！ｂの方向となる。
ところでこの種Ｘ線装置において通常平滑用に！’用す
る高電圧コンデンサは２〜１／Ｉ ＯμＦ程度であり、
浮遊容量と比較すると１０”〜ｌ Ｏ’倍程度の差があ
る。従って浮遊容量を流れる電流は、電圧の極性によっ
て経路を異にし、方向も変化する交流成分であるがその
最大値はほとんど変わらず、はぼ完全な電流分となる。
る高電圧コンデンサは２〜１／Ｉ ＯμＦ程度であり、
浮遊容量と比較すると１０”〜ｌ Ｏ’倍程度の差があ
る。従って浮遊容量を流れる電流は、電圧の極性によっ
て経路を異にし、方向も変化する交流成分であるがその
最大値はほとんど変わらず、はぼ完全な電流分となる。
即ち、高電圧コンデンサを通る経路においても、このコ
ンデンサの容量が浮遊容量に比べて格段に大きく電流値
はほとんど浮遊容量値にて決まることになる。
ンデンサの容量が浮遊容量に比べて格段に大きく電流値
はほとんど浮遊容量値にて決まることになる。
従って、 Ｉｃｌ畠＋Ｉｃ！ｂであり、且つこれらの
Ｘ線管電流計測回路２．２に流れる方向は逆になるので
接地点を基準とした２つの計測回路の出力を減算すれば
、相互に打消し合い、最終出力には現われなくなる。こ
のことは電源電圧の極性が反転した場合も同様にＩｃ５
ｂ ＋ Ｉｃｘａであるので減算回路の出力ではこの電
流分は相殺される。一方実際のＸ線管電流ＩＬは、２つ
の計測■略２，２を同方向に流れるので上記減算の結果
は和として現われ。
Ｘ線管電流計測回路２．２に流れる方向は逆になるので
接地点を基準とした２つの計測回路の出力を減算すれば
、相互に打消し合い、最終出力には現われなくなる。こ
のことは電源電圧の極性が反転した場合も同様にＩｃ５
ｂ ＋ Ｉｃｘａであるので減算回路の出力ではこの電
流分は相殺される。一方実際のＸ線管電流ＩＬは、２つ
の計測■略２，２を同方向に流れるので上記減算の結果
は和として現われ。
必要なＸＩＩ雷電流ＩＬのみが採り出せる仁とになる。
（但し、実際の計測回路は図示していない。２′。
ｉは検出部のみを示すことになる）
従って浮遊容量に影響されることなくｘｍｗ電流を計測
できることになる。
できることになる。
以上の説明では二次巻線と接地導体との間に広範囲に存
在する浮遊容量が全て等しい値を有し。
在する浮遊容量が全て等しい値を有し。
浮遊容量電流分が相殺されるものとして説明した。
・しかしながら、９４図での浮遊容量４．５は第３
図で言えば、４．４．４．および５．５．５の夫々の総
和として表現されているもので、厳密には分離して考え
ねばならない。
・しかしながら、９４図での浮遊容量４．５は第３
図で言えば、４．４．４．および５．５．５の夫々の総
和として表現されているもので、厳密には分離して考え
ねばならない。
また、高電圧変圧器の構造上第３図に示す浮遊量ｔ４′
・ｇあるいは４・５．４・５は夫々等しく作ることが出
来るが 、＋に対するｇあるいはガに対する６等は等し
く製作することは実質上困難である。
・ｇあるいは４・５．４・５は夫々等しく作ることが出
来るが 、＋に対するｇあるいはガに対する６等は等し
く製作することは実質上困難である。
したがって浮遊容量を分離して考えると第４図において
第３図に示す正電位側浮遊量４．４．４と負荷電位側浮
遊容量５．５．５とに流れる電流は互いに打消し合うこ
とになる。この場合、ａｔｒ述したように４′と斥ある
いは４と５との容量値は等しくなく、又等しく作ること
は難かしいので浮遊容量電流分は完全に打消されないこ
とになる。
第３図に示す正電位側浮遊量４．４．４と負荷電位側浮
遊容量５．５．５とに流れる電流は互いに打消し合うこ
とになる。この場合、ａｔｒ述したように４′と斥ある
いは４と５との容量値は等しくなく、又等しく作ること
は難かしいので浮遊容量電流分は完全に打消されないこ
とになる。
その結果ｌ！４図の回路構成ではｌｉ２図の従来の装置
に比し浮遊容量の影響は著しるしく改善されるものの、
浮遊容量電流分を完全に相殺することができず、浮遊容
量の差による僅かな電流が電流計測囲路に流１その分課
差となる。
に比し浮遊容量の影響は著しるしく改善されるものの、
浮遊容量電流分を完全に相殺することができず、浮遊容
量の差による僅かな電流が電流計測囲路に流１その分課
差となる。
第５図はこの点に鑑み浮遊容量電流分を完全に相殺でき
るようにした他の実施例の構成を示すもめで、１高電圧
変圧器の分割された二次巻線の正電位側巻線と負電位側
巻線の発生電圧極性が互に逆極性となる巻線構造にした
もので、他の構成は第４図と何等変わることはない。
るようにした他の実施例の構成を示すもめで、１高電圧
変圧器の分割された二次巻線の正電位側巻線と負電位側
巻線の発生電圧極性が互に逆極性となる巻線構造にした
もので、他の構成は第４図と何等変わることはない。
上記構成によりＩｃｌ員＝Ｉｃ！ｂ（Ｉｃ１ｂ＝Ｉｃｚ
ｉ ）となり、またその方向も逆であるので、接地点を
基準とした２つの電流計測回路の出力を減算すれば相互
に打消し合い、Ｘ線管電流のみが計測されることになる
。
ｉ ）となり、またその方向も逆であるので、接地点を
基準とした２つの電流計測回路の出力を減算すれば相互
に打消し合い、Ｘ線管電流のみが計測されることになる
。
ｙ７お、第４図の実施例では分割された二次巻線を同一
方向に巻回し６発生電圧極性が同一である変圧器を用い
て二次巻線の最上端の点、即ち９３図における高電圧整
流器群の正電位側電位に接続されている二次巻線ｌｂに
対するＡ点と、高電圧整流器群の負電位に接続されてい
るＢ点間電圧が低く、一般に使用されている高電圧変圧
器をそのまま使用できる利点がある。
方向に巻回し６発生電圧極性が同一である変圧器を用い
て二次巻線の最上端の点、即ち９３図における高電圧整
流器群の正電位側電位に接続されている二次巻線ｌｂに
対するＡ点と、高電圧整流器群の負電位に接続されてい
るＢ点間電圧が低く、一般に使用されている高電圧変圧
器をそのまま使用できる利点がある。
なお、第４図、第５図の実施例では高電圧変圧器の巻線
結線方法をΔＩΔ−Δとしたが、こｆＬに限定されず０
例えばΔ／／ Ｙ −Ｙ結線でもよく、更に３相変圧器
結線にて通常使用される種々の結線法Ｙ〃Δ−Δ、 Ｙ
／／Ｙ−Ｙ においてもこあ発明は適用できるもので
ある。
結線方法をΔＩΔ−Δとしたが、こｆＬに限定されず０
例えばΔ／／ Ｙ −Ｙ結線でもよく、更に３相変圧器
結線にて通常使用される種々の結線法Ｙ〃Δ−Δ、 Ｙ
／／Ｙ−Ｙ においてもこあ発明は適用できるもので
ある。
また、Δ／ｌΔ−ＹあるいはＹ／／Δ−Ｙの組合であっ
ても、よい。この場合正電位側二次巻線と負電位側二次
巻線との間に３０°の位相差が存在するので。
ても、よい。この場合正電位側二次巻線と負電位側二次
巻線との間に３０°の位相差が存在するので。
浮遊容量電流分を完全に打消し合うことはなくなるが、
第２図の従来装置に較べ１ば格段に浮遊容量による計測
誤差を低減できることは明白である。
第２図の従来装置に較べ１ば格段に浮遊容量による計測
誤差を低減できることは明白である。
又、単相装置においても第１図に示す方法ではなく正電
位側、負電位側二次巻線に夫々全波整流回路を設け、そ
の出力が加算されるように直列接続し、平滑用高電圧コ
ンデンサを接続した場合には本発明が適用出来るもので
ある。
位側、負電位側二次巻線に夫々全波整流回路を設け、そ
の出力が加算されるように直列接続し、平滑用高電圧コ
ンデンサを接続した場合には本発明が適用出来るもので
ある。
以上詳述したようにこの発明は簡単な構成で。
浮遊容量に影響されることなく、Ｘ線管電流を正確に計
測できるＸ線高電圧発生装置を提供できるものである。
測できるＸ線高電圧発生装置を提供できるものである。
第１図、第２図は、従来のＸ線装置の直電圧発生回路を
示す図、第３ｒ！ｇは、３相高電圧変圧器の１相分巻線
構造を示す略図、第４図は、この発明の一実施例の構成
を示す回路図、９５図は他の実施例の構成を示す回路図
である。 ｌａ： １次巻線ｔ’ｌｂ、ｌｅ：２次巻線２、２ ：
Ｘ線管電流計測回路、３：接地。 ４．５：浮遊容量、６：高電圧整流器、７ｚＸｌｉ管。 特許出願人 株式会帖島津製作所 代理人 弁理士 武 石 端 彦１’Ｊ１．：Ｌ 占−
’ｊ”慕／図 訃２囚 冶３図 ｙ＋。
示す図、第３ｒ！ｇは、３相高電圧変圧器の１相分巻線
構造を示す略図、第４図は、この発明の一実施例の構成
を示す回路図、９５図は他の実施例の構成を示す回路図
である。 ｌａ： １次巻線ｔ’ｌｂ、ｌｅ：２次巻線２、２ ：
Ｘ線管電流計測回路、３：接地。 ４．５：浮遊容量、６：高電圧整流器、７ｚＸｌｉ管。 特許出願人 株式会帖島津製作所 代理人 弁理士 武 石 端 彦１’Ｊ１．：Ｌ 占−
’ｊ”慕／図 訃２囚 冶３図 ｙ＋。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 閏にそれぞれ平滑用コンデンサを接続してなる高電圧発
生装置において前記負荷電流計測回路を２つに分割し、
その中間点を接地したことを特徴とするＸ線高電圧発生
装置。 （２） ２つに分けられた二次巻線が、互いＫその電圧
極性が逆極性となる巻線構造を有するものであることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸ線高電圧発生
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10266581A JPS584299A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | Ｘ線高電圧発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10266581A JPS584299A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | Ｘ線高電圧発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS584299A true JPS584299A (ja) | 1983-01-11 |
Family
ID=14333521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10266581A Pending JPS584299A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | Ｘ線高電圧発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS584299A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5639446A (en) * | 1979-09-07 | 1981-04-15 | Toyobo Co Ltd | Method for detecting reaction progress by using infrared ray spectroscope |
| JPS61271798A (ja) * | 1985-05-27 | 1986-12-02 | Toshiba Corp | Ｘ線装置 |
| JPH0626058A (ja) * | 1992-06-22 | 1994-02-01 | Kyowa Sekkei:Kk | 各種工法に利用できる不織布シートの施工法 |
-
1981
- 1981-06-30 JP JP10266581A patent/JPS584299A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5639446A (en) * | 1979-09-07 | 1981-04-15 | Toyobo Co Ltd | Method for detecting reaction progress by using infrared ray spectroscope |
| JPS61271798A (ja) * | 1985-05-27 | 1986-12-02 | Toshiba Corp | Ｘ線装置 |
| JPH0626058A (ja) * | 1992-06-22 | 1994-02-01 | Kyowa Sekkei:Kk | 各種工法に利用できる不織布シートの施工法 |
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