JPS5848236A - 光学ヘツド - Google Patents
光学ヘツドInfo
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- JPS5848236A JPS5848236A JP56146541A JP14654181A JPS5848236A JP S5848236 A JPS5848236 A JP S5848236A JP 56146541 A JP56146541 A JP 56146541A JP 14654181 A JP14654181 A JP 14654181A JP S5848236 A JPS5848236 A JP S5848236A
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- light
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- optical
- layer
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、たとえば光ディスク、ビデイオディスク等の
情報記憶媒体に集光したレーデ−光を照射するヒとによ
シ少くとも情報を読取ることが可能な再生ないしは記録
再生装置勢に適用し得ゐ光”学へ、ドに関する。
情報記憶媒体に集光したレーデ−光を照射するヒとによ
シ少くとも情報を読取ることが可能な再生ないしは記録
再生装置勢に適用し得ゐ光”学へ、ドに関する。
一般に、光ディスク、Ｖディオディスク等の情報記憶媒
体の記録層ないしは光反射層としての情報形成層の所に
集光したレーザー光のビームウェスト（最も絞れた部分
）が来るように焦点の調節を行なう方法として、記録層
ないしは光反射層としての情報形成層上でのレーザー光
の焦点ぼけを検知して、この検知信号により対物レンズ
を移動させて焦点を合せるようにしている。
体の記録層ないしは光反射層としての情報形成層の所に
集光したレーザー光のビームウェスト（最も絞れた部分
）が来るように焦点の調節を行なう方法として、記録層
ないしは光反射層としての情報形成層上でのレーザー光
の焦点ぼけを検知して、この検知信号により対物レンズ
を移動させて焦点を合せるようにしている。
従来、記録層ないしは光反射層としての情報形成層上で
のレーデ−光の焦点はけを検知する方法の代表的なもの
として、情報記憶媒体の情報形成層から反射して対物レ
ンズを通過し九レーザー光の反射光路上に凸レンズから
なる検知系光学レンズおよび検知部がたとえば同心円的
に複数に分割された光検出−を順次配置し、光検出器に
照射されたときのレーデ−光のスーットサイｆ（面積）
番検知する方法がある。
のレーデ−光の焦点はけを検知する方法の代表的なもの
として、情報記憶媒体の情報形成層から反射して対物レ
ンズを通過し九レーザー光の反射光路上に凸レンズから
なる検知系光学レンズおよび検知部がたとえば同心円的
に複数に分割された光検出−を順次配置し、光検出器に
照射されたときのレーデ−光のスーットサイｆ（面積）
番検知する方法がある。
しかしながら、情報記録媒体の記録層ないしは光反射層
としての情報形成層のｌ！面に微細な凹凸がある場合に
は、そヒから反射したレーザー光には回折が生じ、光検
出器上でのスポ、）の中に回折ノ譬ターンが現われる。
としての情報形成層のｌ！面に微細な凹凸がある場合に
は、そヒから反射したレーザー光には回折が生じ、光検
出器上でのスポ、）の中に回折ノ譬ターンが現われる。
厳密に言えｄこの回折／４ターンは一般に対称形をして
いない。
いない。
そのため、この回折パターンの影響によシ焦点がばけて
いるようにＷＡ−）て検知してしまうことがある。
いるようにＷＡ−）て検知してしまうことがある。
本発明は、上記事情にもとづきなされたもので、その目
的とするとζろは、情報記憶媒体の記録層ないしは光反
射層としての情報形成層の。
的とするとζろは、情報記憶媒体の記録層ないしは光反
射層としての情報形成層の。
表面のトラ、キングガイドなどの黴細な凹凸に−る８Ｉ
折の影響を受けにくく焦点はけを確実に ゛検出するこ
とができ、安定した焦点埋は調節が行ｔ９Ａｅ、ｉＩよ
うにした光学ヘッドを提供しようとするものである。
折の影響を受けにくく焦点はけを確実に ゛検出するこ
とができ、安定した焦点埋は調節が行ｔ９Ａｅ、ｉＩよ
うにした光学ヘッドを提供しようとするものである。
以下、本発明をｔＩＩｃ１図〜館４図に示す一実施例を
参照して説明する。第１図社光デイスクないしはビデイ
オディスクを情報記憶媒体とし、半導体レーデ−を光学
へ、ＰＫ用いた情報記銀・再生義装置を示し、図中１は
媒体駆動装置２によって回転駆動畜れる情報記憶媒体で
、ｓＢζｏｔ＋ｎｉｔ配憶媒体１０片爾配憶媒体１ワい
へ，ド移動機構によシ情報記憶媒体１の生機方向（第１
図において前後方向）に往復動自在な光学ヘッドである
。
参照して説明する。第１図社光デイスクないしはビデイ
オディスクを情報記憶媒体とし、半導体レーデ−を光学
へ、ＰＫ用いた情報記銀・再生義装置を示し、図中１は
媒体駆動装置２によって回転駆動畜れる情報記憶媒体で
、ｓＢζｏｔ＋ｎｉｔ配憶媒体１０片爾配憶媒体１ワい
へ，ド移動機構によシ情報記憶媒体１の生機方向（第１
図において前後方向）に往復動自在な光学ヘッドである
。
上記情報記憶媒体１は、円板状に成形され、そＯ片面Ｋ
Ｅ鍮層ないＣは光反射層としての情報形成！ｍ４が形成
された２枚の透明基板５．５を、上記情報形成層４．４
が互いに内側になる状態かつ情報形成層４，４の相互対
向面間に空間部が形成されるよう内外ス４−ｗ−ｔｌ，
および外側スペーサ１を介在させた状態で貼食せ九もの
であシ、情報形成層４が形成され九箇所には後述するＦ
う，キングガイドが、また、その中央部に紘回転中心孔
（図示しない）が形成されている。
Ｅ鍮層ないＣは光反射層としての情報形成！ｍ４が形成
された２枚の透明基板５．５を、上記情報形成層４．４
が互いに内側になる状態かつ情報形成層４，４の相互対
向面間に空間部が形成されるよう内外ス４−ｗ−ｔｌ，
および外側スペーサ１を介在させた状態で貼食せ九もの
であシ、情報形成層４が形成され九箇所には後述するＦ
う，キングガイドが、また、その中央部に紘回転中心孔
（図示しない）が形成されている。
また、この情報記憶媒体１を回転駆動する媒体駆動装置
２は、図示しない一一タの駆動軸と一体の回転軸８と、
この回転軸８に嵌着され駆動軸８の軸心線に対して直角
な水平支持面を有し情報記憶媒体１の中央部下面を支承
する回転支持体９−と、上記回転軸８の上端部に装着さ
れる押え具１０とを有している。そして、情報記憶媒体
１の回転中心孔を回転軸８に嵌合させ径方向の位置決め
を行なうとともに回転支持体９と押え八１０とで情報記
憶゛媒体ｌの中央部を挾持して面方向の動きを規制する
構成となっている。
２は、図示しない一一タの駆動軸と一体の回転軸８と、
この回転軸８に嵌着され駆動軸８の軸心線に対して直角
な水平支持面を有し情報記憶媒体１の中央部下面を支承
する回転支持体９−と、上記回転軸８の上端部に装着さ
れる押え具１０とを有している。そして、情報記憶媒体
１の回転中心孔を回転軸８に嵌合させ径方向の位置決め
を行なうとともに回転支持体９と押え八１０とで情報記
憶゛媒体ｌの中央部を挾持して面方向の動きを規制する
構成となっている。
また、光学へ，ド３はつぎのような構成となっている。
すなわち、光学へ，ド３内には光ぜ一部とじてのレーデ
−光１１を水平方向に発振する半導体レーデ−発振器１
２が設け．−られてお〉、この半導体レーデ−発振器１
２の横方向にはカッｌりンダレンｆ１３、および偏光ビ
ームスプリ、り１５が順次配置されている。さらに、偏
光ビームスプリッタ１５の上方に紘λ／４板１＃、およ
び対物レンズ１１が順次配置されている。また、偏光ビ
ームスグリツタ１５の下方にはハーフミラ−１８が４５
度の角度に配置されておシ・、偏光ビームスグリツタ１
５を通過した光を２分割して読取シ用光学系１＃と焦点
埋は検知用光学系２０に振分妙るようになりている。上
記読取シ用光学系１９はハーフミラ−１８の横方向に順
次配置されたレンｆ２１および読取シ用光検出器２２を
有した構成となっている。
−光１１を水平方向に発振する半導体レーデ−発振器１
２が設け．−られてお〉、この半導体レーデ−発振器１
２の横方向にはカッｌりンダレンｆ１３、および偏光ビ
ームスプリ、り１５が順次配置されている。さらに、偏
光ビームスプリッタ１５の上方に紘λ／４板１＃、およ
び対物レンズ１１が順次配置されている。また、偏光ビ
ームスグリツタ１５の下方にはハーフミラ−１８が４５
度の角度に配置されておシ・、偏光ビームスグリツタ１
５を通過した光を２分割して読取シ用光学系１＃と焦点
埋は検知用光学系２０に振分妙るようになりている。上
記読取シ用光学系１９はハーフミラ−１８の横方向に順
次配置されたレンｆ２１および読取シ用光検出器２２を
有した構成となっている。
また、焦点ぼけ検知用光学系２０は、ハーフミラ−１１
８０下方ＫＪ［次装置された光軸の中心からずれた位置
にある一部の光のみを抜出す光抜出し部材としてナイフ
ウェッジからなる纏光板２３、検知系光学レンｆ２４、
ミラー２６、およびミラー２５の横方向に、上下方向２
分割された第１、第２の光検出セルフ ６ ｍ 、２１
１ｂを有する光検出器２Ｃを有し、さらに、纏光板２３
の前段に光の通過範囲を制限して、上記情報形成層４上
のｄター／に対する７−リエノターンの高次の項を遮光
する光通過制限部材）１を配置した構成となりでいる。
８０下方ＫＪ［次装置された光軸の中心からずれた位置
にある一部の光のみを抜出す光抜出し部材としてナイフ
ウェッジからなる纏光板２３、検知系光学レンｆ２４、
ミラー２６、およびミラー２５の横方向に、上下方向２
分割された第１、第２の光検出セルフ ６ ｍ 、２１
１ｂを有する光検出器２Ｃを有し、さらに、纏光板２３
の前段に光の通過範囲を制限して、上記情報形成層４上
のｄター／に対する７−リエノターンの高次の項を遮光
する光通過制限部材）１を配置した構成となりでいる。
また、上記光通過制限部材２１は透光部としての孔２＃
ａを有した透光板２＃からなシ、上記透光部としての孔
２８ａのサイズは焦点誤差信号の割分いを測定した測定
結果によシ良好な信号特性が得られる寸法、すなわち反
射光路の途中でのビームサイｆａの０．４〜０．９５部
に設定されている。
ａを有した透光板２＃からなシ、上記透光部としての孔
２８ａのサイズは焦点誤差信号の割分いを測定した測定
結果によシ良好な信号特性が得られる寸法、すなわち反
射光路の途中でのビームサイｆａの０．４〜０．９５部
に設定されている。
また、光検出器２６は情報形成層４の存在する位置と集
光したレーデ−光１１のビームウェストの位置とが一致
しているときの情報形成層４に対するレンｌ？！４の光
学的結偉位置に設けられている。
光したレーデ−光１１のビームウェストの位置とが一致
しているときの情報形成層４に対するレンｌ？！４の光
学的結偉位置に設けられている。
なお、２＃社対物レンズｘｒを上下方向（すなわち情報
記憶媒体１の下間に接離する方向）に移動宴せる一イメ
コイル型フォーカスモータ等のレンを駆動−置である。
記憶媒体１の下間に接離する方向）に移動宴せる一イメ
コイル型フォーカスモータ等のレンを駆動−置である。
しかして、半導体レーデ−発振器１２から発振し九レー
デー光１１は力、プリングレンズ１１によ〉平行光にな
シ、その後偏光？−ムスデリ、り１５で上方に偏光され
る。この偏光され九光はλ／４板１＃を通過することに
よシ直線偏光光が°円偏光になりたのち対物レンｆｌｆ
ｌによ）情報記憶媒体１上の記録層ないしは光反射層と
しての情報形成層４に集光される。
デー光１１は力、プリングレンズ１１によ〉平行光にな
シ、その後偏光？−ムスデリ、り１５で上方に偏光され
る。この偏光され九光はλ／４板１＃を通過することに
よシ直線偏光光が°円偏光になりたのち対物レンｆｌｆ
ｌによ）情報記憶媒体１上の記録層ないしは光反射層と
しての情報形成層４に集光される。
このとき、情報形成層４が記録層である場合にはレーデ
−光１１の照射エネルイーを所定値以上とすることくよ
シ情報形成層４にぜ、ト（穴）の形成等の状態変化が起
こシ、情報の記憶が行なわれるととに゛なる。
−光１１の照射エネルイーを所定値以上とすることくよ
シ情報形成層４にぜ、ト（穴）の形成等の状態変化が起
こシ、情報の記憶が行なわれるととに゛なる。
一方、情報形成層４からの反射光は／λＡ７板１＃で円
偏光から直線偏光となシ、この光拡偏光ビームス！リッ
タ１５内を直進して下方に抜け、ハーフミラ−１８を通
過して焦点埋は検知用光学系２０に導びかれる。ζζで
、後述するように情報形成層４上でのレーデ−光１１ｂ
焦点埋けが光検出器２Ｃの第１、第２の光検出セル２６
ｍ、１６ｂでの光検出量の差によって検知される。すな
わち、第１図に示すように偏光ビームスプリ、り１５を
通過し九螢の反射光路の途中に光軸に関して非対称、す
なわち光軸の中心からずれた位置にある光の一部１ ’
１ ｍのみを光抜出し部材としての遮光板２３抜出し、
検知系光学レンズ２４を通した後、ζシー２５で方向を
変えて光検出セルｘ６に当てるようにし九場合、情報形
成層４上のレーデ−光１１の焦の配置方向（上下方向）
に移動する。
偏光から直線偏光となシ、この光拡偏光ビームス！リッ
タ１５内を直進して下方に抜け、ハーフミラ−１８を通
過して焦点埋は検知用光学系２０に導びかれる。ζζで
、後述するように情報形成層４上でのレーデ−光１１ｂ
焦点埋けが光検出器２Ｃの第１、第２の光検出セル２６
ｍ、１６ｂでの光検出量の差によって検知される。すな
わち、第１図に示すように偏光ビームスプリ、り１５を
通過し九螢の反射光路の途中に光軸に関して非対称、す
なわち光軸の中心からずれた位置にある光の一部１ ’
１ ｍのみを光抜出し部材としての遮光板２３抜出し、
検知系光学レンズ２４を通した後、ζシー２５で方向を
変えて光検出セルｘ６に当てるようにし九場合、情報形
成層４上のレーデ−光１１の焦の配置方向（上下方向）
に移動する。
ζ′のことを第２図０、（ロ）、Ｇ−１に示す原理図を
参照して説明する。すなわち、第２図０）で示すように
情報形成層４に対してレーザー光１１の焦点が合ってい
る場合に社対物レンズ１７を通りた反射光は光軸と平行
となシ、遮光板２３を通りた光１１＆ｅ）♂−ムスｘｌ
−、ト１１ｍ’は第１の光検出セル２６ａと第２の光検
出セル２６ｂとの境にある。とζろが、第２図に）で示
すように情報形成層４と対物レンズ１１とが接近しすぎ
て焦点が合わない場合には対物レンズ１１を通った反射
光は光軸から徐々に離れるよう外方に広がシ、膣光１［
ｚ３を通った光１１ａのビームス−ｙ ） １１ ｍ’
は上方に位置する第１の検出セル２６ａよに尚る。また
、これとは逆に第２図（うで示すように情報形成層４と
対物レンズ１１とが離れすぎて焦点が合わない場合には
対物レンｆｌ’ｉを通り九反射光は光軸に徐々に近づく
よう内方に絞られ良状態となシ、遮光板ｊＪを通りた光
１１＊Ｏビームスーット１１１′は下方に位置する第２
の検出セル２６１Ｉ上に尚ることになる。
参照して説明する。すなわち、第２図０）で示すように
情報形成層４に対してレーザー光１１の焦点が合ってい
る場合に社対物レンズ１７を通りた反射光は光軸と平行
となシ、遮光板２３を通りた光１１＆ｅ）♂−ムスｘｌ
−、ト１１ｍ’は第１の光検出セル２６ａと第２の光検
出セル２６ｂとの境にある。とζろが、第２図に）で示
すように情報形成層４と対物レンズ１１とが接近しすぎ
て焦点が合わない場合には対物レンズ１１を通った反射
光は光軸から徐々に離れるよう外方に広がシ、膣光１［
ｚ３を通った光１１ａのビームス−ｙ ） １１ ｍ’
は上方に位置する第１の検出セル２６ａよに尚る。また
、これとは逆に第２図（うで示すように情報形成層４と
対物レンズ１１とが離れすぎて焦点が合わない場合には
対物レンｆｌ’ｉを通り九反射光は光軸に徐々に近づく
よう内方に絞られ良状態となシ、遮光板ｊＪを通りた光
１１＊Ｏビームスーット１１１′は下方に位置する第２
の検出セル２６１Ｉ上に尚ることになる。
したがって、情報形成層４と対物レンズ１１との間隔が
ある一定に保たれて焦点が合っている場合には、第１、
第２の光検出セル２＃ａ。
ある一定に保たれて焦点が合っている場合には、第１、
第２の光検出セル２＃ａ。
２６１１の光検出量はともに零もしくは同レベルになシ
、情報形成層４と対物レンｆｉｒとが接近して焦点ぼけ
が生じる場合には第１の光検出セル２６ａの出力レベル
が大きく、また、逆に離れて焦点はけが生じる場合には
第２の光検出セルＪ６ｂの出力レベルが大きくなる。
、情報形成層４と対物レンｆｉｒとが接近して焦点ぼけ
が生じる場合には第１の光検出セル２６ａの出力レベル
が大きく、また、逆に離れて焦点はけが生じる場合には
第２の光検出セルＪ６ｂの出力レベルが大きくなる。
このとき、光検出器２６が情報形成層４め存在する位置
と集光したレーザー光１１のＶ−ムウエストの位置とが
一致しているときの情報形成層４に対する光学的結像位
置に設けたから、情報記憶媒体１もしくは対物レンズ１
１が傾いて対物レンｆｌｒを通過した光の輝度の高い部
分の角度ずれが生じたとしても、光検出器２＃に当る位
置がずれるようなととがない。なお、光学的結像位置と
光検出器２６とをずらして配置し良場合にはビームス’
ｙ）ＪＪ＆’が広がるため輝度の高い部分の角度ずれが
生じた場合には、焦点が合りていたとしでも輝度の高い
部分の位置がずれるため、あたかもぜ−ムス４．ト１１
ｍ’そのものの位置がずれ良ものとして誤検出される
ことがある。
と集光したレーザー光１１のＶ−ムウエストの位置とが
一致しているときの情報形成層４に対する光学的結像位
置に設けたから、情報記憶媒体１もしくは対物レンズ１
１が傾いて対物レンｆｌｒを通過した光の輝度の高い部
分の角度ずれが生じたとしても、光検出器２＃に当る位
置がずれるようなととがない。なお、光学的結像位置と
光検出器２６とをずらして配置し良場合にはビームス’
ｙ）ＪＪ＆’が広がるため輝度の高い部分の角度ずれが
生じた場合には、焦点が合りていたとしでも輝度の高い
部分の位置がずれるため、あたかもぜ−ムス４．ト１１
ｍ’そのものの位置がずれ良ものとして誤検出される
ことがある。
一方、第３図に示すように第１、第２の光検出セル１１
１ｇ、２６ｂの出力信号は差増巾回路Ｓ＃を介して駆動
回路ｊＩＫ入力され、し２：ｅ駆動回路２＃を介して対
物レン：ｅ１１が焦点が合う方向に移動される。
１ｇ、２６ｂの出力信号は差増巾回路Ｓ＃を介して駆動
回路ｊＩＫ入力され、し２：ｅ駆動回路２＃を介して対
物レン：ｅ１１が焦点が合う方向に移動される。
このようにして、情報記憶媒体１のりねシ等による焦点
埋けが自動的に補正されることになる。
埋けが自動的に補正されることになる。
なお、′情報形成層４からの反射光１１は対物レンズ１
’ＩＯ後方で、そのノ譬ターンの周波数成分に分かれる
。すなわち、第４図０で示す情報形成層４上のΔターン
形状が第４図（口１）、（町）、（口ｓ）Ｋ示すように
光軸に近い方が低周波、外側に行くにりれて順次高周波
となるように周液数成分に分かれる。
’ＩＯ後方で、そのノ譬ターンの周波数成分に分かれる
。すなわち、第４図０で示す情報形成層４上のΔターン
形状が第４図（口１）、（町）、（口ｓ）Ｋ示すように
光軸に近い方が低周波、外側に行くにりれて順次高周波
となるように周液数成分に分かれる。
一方、ζ０反射光１１は光通過制限部材２１として−の
履光板ＺａＯ透光部ＩＩＩａを通る際にフーリ、ノ譬タ
ーンの高次の項すなわち第４図（口Ｓ）で示すような高
岡液成分社−光され、再度偉を結んだとき第４図ｆうに
示すように情報形成層４上の・リーン（第４図（（）Ｋ
示す）に対して角のなり丸みを帯びた／４ターンになる
。そのため、光検出器２６上で□ｒ−ムスポット１１１
′内の結像ｚ？ターンの影響による焦点誤差信号の量を
減らせる。
履光板ＺａＯ透光部ＩＩＩａを通る際にフーリ、ノ譬タ
ーンの高次の項すなわち第４図（口Ｓ）で示すような高
岡液成分社−光され、再度偉を結んだとき第４図ｆうに
示すように情報形成層４上の・リーン（第４図（（）Ｋ
示す）に対して角のなり丸みを帯びた／４ターンになる
。そのため、光検出器２６上で□ｒ−ムスポット１１１
′内の結像ｚ？ターンの影響による焦点誤差信号の量を
減らせる。
また、光通過制限部材２１を配置したこ゛とによシ、検
出系光学レンｆ２４を通過するレーデ−光１１＆の実質
的なビームサイズを小さくすることによ）レンｙ！：１
４による球面収差の割合いを減らし、光検出器２６上で
のビームス−２） Ｉ Ｊ Ｉ＆’が小さくな）、ビー
ムスＩ、ドＩ１ｍ’の移動検知が確実に行なえる。
出系光学レンｆ２４を通過するレーデ−光１１＆の実質
的なビームサイズを小さくすることによ）レンｙ！：１
４による球面収差の割合いを減らし、光検出器２６上で
のビームス−２） Ｉ Ｊ Ｉ＆’が小さくな）、ビー
ムスＩ、ドＩ１ｍ’の移動検知が確実に行なえる。
また、対物レンズ１１の外側を通過したシあるいは周辺
の工、デによシ回折した光は予定外（例えば外側）の方
向へ進行することがあり、これが検出系光学レン！２４
通過後に光検出器２６上で誤差信号を生む原因となるが
、これらの光は光通過制限部材２１を配置し九ことによ
シ遮光され悪影響を与えることがない。
の工、デによシ回折した光は予定外（例えば外側）の方
向へ進行することがあり、これが検出系光学レン！２４
通過後に光検出器２６上で誤差信号を生む原因となるが
、これらの光は光通過制限部材２１を配置し九ことによ
シ遮光され悪影響を与えることがない。
一方、情報形成層４ｆｌＣ’、 ） （穴）あるいは凹
凸形状で形成された情報の読取〕は、偏光ビームスプリ
、り１５を過シ、ハーフ１？−ＩＩＩで反射され先光を
レン：ｅ２１を介して読取シ用光検出器ｚｚＰｃ導びい
て行なうことになる。
凸形状で形成された情報の読取〕は、偏光ビームスプリ
、り１５を過シ、ハーフ１？−ＩＩＩで反射され先光を
レン：ｅ２１を介して読取シ用光検出器ｚｚＰｃ導びい
て行なうことになる。
なお、上述の一実施例において、光軸からずれ九位置に
ある一部の光のみを抜出す光抜出部材としてナイフウェ
、デを用いたが、透光部を有した遮光板を用いてもよく
、さらには反射光路の光軸−の中心からずれた位置にン
ツー、プリズム等を配置して光軸からずれた位置にある
一部Ｏ光のみを抜出すようにしてもよい。
ある一部の光のみを抜出す光抜出部材としてナイフウェ
、デを用いたが、透光部を有した遮光板を用いてもよく
、さらには反射光路の光軸−の中心からずれた位置にン
ツー、プリズム等を配置して光軸からずれた位置にある
一部Ｏ光のみを抜出すようにしてもよい。
また、光通過制限部材２１を光抜出部材２３の前段に配
置するようにしたが、これに限らず）光抜出部材２Ｓの
後段、すなわち光抜出部材２Ｊと検知系光学レンぎ２４
との間、あるいは検知系光学レンズ２４と光検出器２６
との間に配置ス、るようＫしてもよく、要は情報形成層
４に対して十分遠れた位置であれば良い。
置するようにしたが、これに限らず）光抜出部材２Ｓの
後段、すなわち光抜出部材２Ｊと検知系光学レンぎ２４
との間、あるいは検知系光学レンズ２４と光検出器２６
との間に配置ス、るようＫしてもよく、要は情報形成層
４に対して十分遠れた位置であれば良い。
その他、本実ｇｌｌａ本発明の要旨を変えない範囲で種
々変形実施可能なヒとは勿論である。
々変形実施可能なヒとは勿論である。
本実明線、以上説−したように１情報記憶媒体の記録層
ないし線光反射層としてＯ情報形成層から反射して対物
レンズを通過した光Ｃ−ムＯ反射光路の途中にとの光軸
に関して非対称に抜出す光抜出部材およびこＯ光抜出部
材によ〉抜出され先光を検知する光検出器を設け、抜出
された光の光検出器上でのＣ−ムス４．トの移動を検出
するととＫよシ情報形成層に対する光♂−ムの焦点埋け
を検知するもので、上記光抜出部材の前段または後段に
光の通過範囲を制限する光通過制限部材を設け、上記情
報形成層上のノ臂ターンに対するフーリエ−臂ターンの
高次０項を遮光するようにしたことを特徴とする光学へ
、ドにある。したがって、従来のようにス４、トサイｔ
の変化によシ焦点ぼけを検出するものに比べ、情報記憶
媒体Ｏ記録層ないしは光反射層としての情報形成層の表
面Ｏ微細な凹凸から生じる回折の影響を受けにくく焦点
はけを確実に検出することができる。また、光の移動方
向についてのみ光検出器の位置合わせを行なうだけで良
い丸め、光学系組立時の調整が非常に容易になるととも
に先の移動方向以外の方向への光検出器の移動に対して
は光学系として社寛容であるので熱等による光学系全体
のずれに対しても安定度が喪い。さらに、光の通過範囲
を制＠ｆる光通過制限部材を設は情報形成層上の／譬タ
ーンに対するフーリエノ母ターンの高次０項を遮光する
ようＫしたから、再度像を結んだとき角のない丸みを帯
び九ノ臂ターンとなシ光検出器上でＯビームスｌット内
の結儂・臂ターンの影響による焦点誤差信号の景を減ら
せるといった効果ををする。
ないし線光反射層としてＯ情報形成層から反射して対物
レンズを通過した光Ｃ−ムＯ反射光路の途中にとの光軸
に関して非対称に抜出す光抜出部材およびこＯ光抜出部
材によ〉抜出され先光を検知する光検出器を設け、抜出
された光の光検出器上でのＣ−ムス４．トの移動を検出
するととＫよシ情報形成層に対する光♂−ムの焦点埋け
を検知するもので、上記光抜出部材の前段または後段に
光の通過範囲を制限する光通過制限部材を設け、上記情
報形成層上のノ臂ターンに対するフーリエ−臂ターンの
高次０項を遮光するようにしたことを特徴とする光学へ
、ドにある。したがって、従来のようにス４、トサイｔ
の変化によシ焦点ぼけを検出するものに比べ、情報記憶
媒体Ｏ記録層ないしは光反射層としての情報形成層の表
面Ｏ微細な凹凸から生じる回折の影響を受けにくく焦点
はけを確実に検出することができる。また、光の移動方
向についてのみ光検出器の位置合わせを行なうだけで良
い丸め、光学系組立時の調整が非常に容易になるととも
に先の移動方向以外の方向への光検出器の移動に対して
は光学系として社寛容であるので熱等による光学系全体
のずれに対しても安定度が喪い。さらに、光の通過範囲
を制＠ｆる光通過制限部材を設は情報形成層上の／譬タ
ーンに対するフーリエノ母ターンの高次０項を遮光する
ようＫしたから、再度像を結んだとき角のない丸みを帯
び九ノ臂ターンとなシ光検出器上でＯビームスｌット内
の結儂・臂ターンの影響による焦点誤差信号の景を減ら
せるといった効果ををする。
図面は本発明の一実施例を示すもので、第１図は本発明
の一実施例を適用した情報記録・再生装置の概略的構成
図、第２図（へ）、（→、０は本発明の一実施例による
焦点ぼけ検知の原理を説明する丸めの説明図、第３図は
焦点ぼけ自動調節用駆動系を示す説明図、第４図Ｎ）、
ｆＯ）、ｆ−１は情報形成層上のノ！ターン、ζｏｉａ
ターンの周波数成分、および光検出器上’ｔ’ ｔ）
ｊｌターン形状を示すための説明図である。 １−・情報記憶媒体、Ｊ−・・光学へ、ド、４・・・記
録層ないしは光反射層としての情報形成層、１１・・・
光ビーム（レーデ−光）、１ｒ・・・対物レンズ、２０
・・・焦点はけ検知用光学系、２３・・・光抜出し部材
（！Ｉ光板）、ｊ ＃−・・光検出器、２１・・・光通
過制限部材。 出願＾代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第４図 １１ １ １ １ 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 特願昭５６−１４６５４１号 ２、発明の名称 光学ヘッド ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （３０７）東京芝浦電気株式会社 ４、代理人 昭和５７年７月２７日 ７、°稲正の内容 （１１明細書、ＩＪ１２頁１３〜１４行目「第４図（口
、）、（口、）、（口、）に示す」とあるのを「第４図
（口Ｊ 、 （／１、−に示す」と訂正する。 （２） 同じく、第１２頁下から１行目「（口、）」と
あるのを「に）」と訂正する。 （３１同じく、第１３頁１行目「第４図０９」とあるの
を「第４図（ホ）」と訂正する。 （４） 同じく、第１６頁下から１行目「第４図（イ
ｌ（ｏ＞ 、 （／１は」とあるのを「第４図（イＪ
、 （ｃ４．←１゜に）、（ホ）」と訂正する。 （５） 図面の第４図中、符号「（口、）、（口、）
、（口、）、（ハ）」とあるのを、別紙図面−二朱記す
る通りｒ （ＣＦＪ 、 （／１ 、に）、−」と訂正
する。 第４図 １ １
の一実施例を適用した情報記録・再生装置の概略的構成
図、第２図（へ）、（→、０は本発明の一実施例による
焦点ぼけ検知の原理を説明する丸めの説明図、第３図は
焦点ぼけ自動調節用駆動系を示す説明図、第４図Ｎ）、
ｆＯ）、ｆ−１は情報形成層上のノ！ターン、ζｏｉａ
ターンの周波数成分、および光検出器上’ｔ’ ｔ）
ｊｌターン形状を示すための説明図である。 １−・情報記憶媒体、Ｊ−・・光学へ、ド、４・・・記
録層ないしは光反射層としての情報形成層、１１・・・
光ビーム（レーデ−光）、１ｒ・・・対物レンズ、２０
・・・焦点はけ検知用光学系、２３・・・光抜出し部材
（！Ｉ光板）、ｊ ＃−・・光検出器、２１・・・光通
過制限部材。 出願＾代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第４図 １１ １ １ １ 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 特願昭５６−１４６５４１号 ２、発明の名称 光学ヘッド ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （３０７）東京芝浦電気株式会社 ４、代理人 昭和５７年７月２７日 ７、°稲正の内容 （１１明細書、ＩＪ１２頁１３〜１４行目「第４図（口
、）、（口、）、（口、）に示す」とあるのを「第４図
（口Ｊ 、 （／１、−に示す」と訂正する。 （２） 同じく、第１２頁下から１行目「（口、）」と
あるのを「に）」と訂正する。 （３１同じく、第１３頁１行目「第４図０９」とあるの
を「第４図（ホ）」と訂正する。 （４） 同じく、第１６頁下から１行目「第４図（イ
ｌ（ｏ＞ 、 （／１は」とあるのを「第４図（イＪ
、 （ｃ４．←１゜に）、（ホ）」と訂正する。 （５） 図面の第４図中、符号「（口、）、（口、）
、（口、）、（ハ）」とあるのを、別紙図面−二朱記す
る通りｒ （ＣＦＪ 、 （／１ 、に）、−」と訂正
する。 第４図 １ １
Claims (3)
- （１） 情報記憶媒体の記録層ないしは光反射層とし
ての情報形成層から反射して対物レンｋを通過した光ビ
ームの反射光路の途中にこの光軸に関して非対称に抜出
す光抜出部材およびこの光抜出部材によ〉抜出された光
を検知する光検出器を設け、抜出された光の光検出器上
でのび−ムスポ、トの移動を検出することにより情報形
成層に対する光Ｖ−ムの焦点ばけを検知するもので、上
記光抜出部材０１１ＪＲまた紘後段に光の通過範囲を制
限する光通過制限部材を設け、上記情報形成層上のΔタ
ーンに対するフーリ。 Δターンの高次の項を遮光するようにしたことを特徴と
する光学ヘッド。 - （２） 光通過制限部材は透光部を有した遮光板から
なることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学
ヘッド。 - （３） 透光部のサイｔを反射光路の途中でのビーム
サイ、ｆ４り０．４〜０．９５倍に設定し九ことを特徴
とする特許請求の範囲第２項記載の光学ヘラＰ・
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56146541A JPS5848236A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光学ヘツド |
| DE8282105430T DE3280232D1 (de) | 1981-06-22 | 1982-06-21 | Optischer kopf. |
| EP82105430A EP0068390B1 (en) | 1981-06-22 | 1982-06-21 | An optical head |
| US06/390,775 US4517666A (en) | 1981-06-22 | 1982-06-21 | Optical head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56146541A JPS5848236A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光学ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848236A true JPS5848236A (ja) | 1983-03-22 |
Family
ID=15409979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56146541A Pending JPS5848236A (ja) | 1981-06-22 | 1981-09-17 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848236A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60119643A (ja) * | 1983-12-01 | 1985-06-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光検出器 |
| JPS6095994U (ja) * | 1983-12-06 | 1985-06-29 | 株式会社東洋工機 | 空気工具用洗浄装置 |
| JPS63148430A (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘツドの焦点検出装置 |
-
1981
- 1981-09-17 JP JP56146541A patent/JPS5848236A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60119643A (ja) * | 1983-12-01 | 1985-06-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光検出器 |
| JPS6095994U (ja) * | 1983-12-06 | 1985-06-29 | 株式会社東洋工機 | 空気工具用洗浄装置 |
| JPS63148430A (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘツドの焦点検出装置 |
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