JPS584863B2 - 通話路試験方式 - Google Patents
通話路試験方式Info
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- JPS584863B2 JPS584863B2 JP52012498A JP1249877A JPS584863B2 JP S584863 B2 JPS584863 B2 JP S584863B2 JP 52012498 A JP52012498 A JP 52012498A JP 1249877 A JP1249877 A JP 1249877A JP S584863 B2 JPS584863 B2 JP S584863B2
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- H04Q—SELECTING
- H04Q3/00—Selecting arrangements
- H04Q3/0008—Selecting arrangements using relay selectors in the switching stages
- H04Q3/0012—Selecting arrangements using relay selectors in the switching stages in which the relays are arranged in a matrix configuration
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、通話電流による自己保持機能がある半導体ス
イッチング素子を用いた空間分割形通話路の正常性を確
認するための試験方式に関するものである。
イッチング素子を用いた空間分割形通話路の正常性を確
認するための試験方式に関するものである。
交換機の通話路には、機械スイッチを用いた電磁機械式
通話路の他に、通話電流による自己保持機能がある半導
体スイッチ素子（例えばサイリスタ）を用いた電子式通
話路がある。
通話路の他に、通話電流による自己保持機能がある半導
体スイッチ素子（例えばサイリスタ）を用いた電子式通
話路がある。
この電子式通話路は軽重、小形、高速性等、前者の電磁
機械式通話路と比較して優れた長所を有している。
機械式通話路と比較して優れた長所を有している。
一方、前記電子式通話路では、スイッチ素子の通話電流
による自己保持機能を利用している為、その保持電流（
一般に数１０μＡ〜数ｍＡ）以下の時には通話ルートが
開放するため、微小電流で試験を行なう場合などに特別
の工夫が必要な他に、保守運用面でも機械スイッチと比
較して低耐圧、低電流容量のために障害発生率も高くな
ることが予想され、保守運用面で常時あるいは定期的に
全通話路を短時間で試験可能な構成にしておくことが望
ましいのである。
による自己保持機能を利用している為、その保持電流（
一般に数１０μＡ〜数ｍＡ）以下の時には通話ルートが
開放するため、微小電流で試験を行なう場合などに特別
の工夫が必要な他に、保守運用面でも機械スイッチと比
較して低耐圧、低電流容量のために障害発生率も高くな
ることが予想され、保守運用面で常時あるいは定期的に
全通話路を短時間で試験可能な構成にしておくことが望
ましいのである。
従来、電磁機械式通話路の試験方式としては、第１図お
よび第２図に示す方法があった。
よび第２図に示す方法があった。
第１図はクロスバ交換機の通話路試験方式の一例を示し
、同図に於で、ＳＵＢは加入者電話機、ＬＣは加入者回
路、Ｌは加入者が発呼したことを検出するためのリレー
、ｃｏは加入者回路を切り離すためのリレーＣＯ（図中
省略）の接点、ＬＬＮ，ＴＬＮは通話路ネットワーク、
ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４，ｃ１〜ｃ４は通話路スイッチ
の接点、Ａ，Ｂは一対の通話線、Ｃは通話線と対をなす
制御線、ＴＲＫはトランク回路、ｂは制御線Ｃに地気を
送出するためトランク回路内に配置されたリレーＢ（図
中省略）の接点、Ｗ，Ｘ，Ｙ，Ｚ，ＣＯＮＡ，ＣＯＮＢ
は通話路試験用の電流検出リレー、ｔは通話路試験時の
切替え制御用のリレーＴ（図中省略）の接点、Ｂ，Ｅは
直流電源である。
、同図に於で、ＳＵＢは加入者電話機、ＬＣは加入者回
路、Ｌは加入者が発呼したことを検出するためのリレー
、ｃｏは加入者回路を切り離すためのリレーＣＯ（図中
省略）の接点、ＬＬＮ，ＴＬＮは通話路ネットワーク、
ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４，ｃ１〜ｃ４は通話路スイッチ
の接点、Ａ，Ｂは一対の通話線、Ｃは通話線と対をなす
制御線、ＴＲＫはトランク回路、ｂは制御線Ｃに地気を
送出するためトランク回路内に配置されたリレーＢ（図
中省略）の接点、Ｗ，Ｘ，Ｙ，Ｚ，ＣＯＮＡ，ＣＯＮＢ
は通話路試験用の電流検出リレー、ｔは通話路試験時の
切替え制御用のリレーＴ（図中省略）の接点、Ｂ，Ｅは
直流電源である。
第１図の方法は次の様なものである。
通話路スイッチの接点ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４，Ｃ１〜
Ｃ４を駆動の後、通常はトランク回路ＴＲＫから接点ｂ
を経て制御線Ｃに送出される地気を電流検出リレーｗ，
ｘ，ｙ，ｚで検出することにより、接点ｃ１〜ｃ４が閉
成されたことを確認するものである。
Ｃ４を駆動の後、通常はトランク回路ＴＲＫから接点ｂ
を経て制御線Ｃに送出される地気を電流検出リレーｗ，
ｘ，ｙ，ｚで検出することにより、接点ｃ１〜ｃ４が閉
成されたことを確認するものである。
ここで接点ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４は各々、例えば接点
ａ１，ｂ１は接点ｃ１と同一のクロスバスイツチのコイ
ルを駆動することにより動作することから、接点ｃ１〜
ｃ４が正常に閉成されたことを確認することで接点ａ１
〜ａ４，ｂ１〜ｂ４も正常に動作したものと見なし、通
話線Ａ，Ｂも含めた通話路試験としている。
ａ１，ｂ１は接点ｃ１と同一のクロスバスイツチのコイ
ルを駆動することにより動作することから、接点ｃ１〜
ｃ４が正常に閉成されたことを確認することで接点ａ１
〜ａ４，ｂ１〜ｂ４も正常に動作したものと見なし、通
話線Ａ，Ｂも含めた通話路試験としている。
一方、トランク回路ＴＲＫが通話路ネットワークＴＬＮ
の特定端子に収容されている場合は、前記の制御線Ｃの
閉成確認の他に切替え制御用のリレーを動作させ、その
接点ｔにより通話線Ａ，Ｂを検出リレーＣＯＮＡ，ＣＯ
ＮＢに直接引き込み、直流電源Ｂ，Ｅにより通話路の接
点ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４を経て加入者電話機ＳＵＢの
ループまたはコンデンサ、あるいは加入者回路ＬＣのい
ずれかに電流が流れＣＯＮＡ，ＣＯＮＢが動作すること
を確認することにより、通話線Ａ，Ｂを含めた通話路試
験を行なっている。
の特定端子に収容されている場合は、前記の制御線Ｃの
閉成確認の他に切替え制御用のリレーを動作させ、その
接点ｔにより通話線Ａ，Ｂを検出リレーＣＯＮＡ，ＣＯ
ＮＢに直接引き込み、直流電源Ｂ，Ｅにより通話路の接
点ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４を経て加入者電話機ＳＵＢの
ループまたはコンデンサ、あるいは加入者回路ＬＣのい
ずれかに電流が流れＣＯＮＡ，ＣＯＮＢが動作すること
を確認することにより、通話線Ａ，Ｂを含めた通話路試
験を行なっている。
第１図の様な方法では、通常は制御線Ｃのみの試験によ
り通話線Ａ，Ｂも良好と見なしており、試験が確実に行
なわれていない。
り通話線Ａ，Ｂも良好と見なしており、試験が確実に行
なわれていない。
また、これを救済するために、通話路ネットヲークＴＬ
Ｎの特定端子への接続時のみに通話線Ａ，Ｂの試験を行
なったとしても、特定端子以外の通話路接点でａ４）ｂ
４に位置する接点の試験が出来ない。
Ｎの特定端子への接続時のみに通話線Ａ，Ｂの試験を行
なったとしても、特定端子以外の通話路接点でａ４）ｂ
４に位置する接点の試験が出来ない。
また、第１図による通話線Ａ，Ｂの試験方法では、試験
回路に加入者線、加入者電話機ＳＵＢを含むため、試験
結果が不良となった場合、必ずしも、交換機の通話路の
接点ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４の障害とばかりはいえない
。
回路に加入者線、加入者電話機ＳＵＢを含むため、試験
結果が不良となった場合、必ずしも、交換機の通話路の
接点ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４の障害とばかりはいえない
。
等の欠点があった。第２図は従来行なわれていた電子交
換機の通話路試験の一例を示すものである。
換機の通話路試験の一例を示すものである。
同図に於て、Ｓはトランク回路ＴＲＫ内の制御リレーＳ
（図中省略）の接点、ＡＯはループ電流検出用のリレー
であり、その他の記号は第１図で使用したものと同一で
ある。
（図中省略）の接点、ＡＯはループ電流検出用のリレー
であり、その他の記号は第１図で使用したものと同一で
ある。
この例では、通話路スイッチの接点ａ１〜ａ４，ｂ１〜
ｂ４を駆動の後、トランク回路ＴＲＫ内の直流電源Ｅよ
り、トランク回路ＴＲＫ内のりレーＡＯ，接点Ｓ，そし
て通話路の接点ａ１〜ａ４，加入者線を経て加入者電話
機ＳＵＢへ至り、加入者線、接点ｂ１〜ｂ４、接点Ｓ、
リレーＡＯを経て地気へ戻るループに電流が流れ、トラ
ンク回路ＴＲＫ内のループ電流検出用のリレーＡＯが動
作することを確認することにより、通話路試験を行なう
ものである。
ｂ４を駆動の後、トランク回路ＴＲＫ内の直流電源Ｅよ
り、トランク回路ＴＲＫ内のりレーＡＯ，接点Ｓ，そし
て通話路の接点ａ１〜ａ４，加入者線を経て加入者電話
機ＳＵＢへ至り、加入者線、接点ｂ１〜ｂ４、接点Ｓ、
リレーＡＯを経て地気へ戻るループに電流が流れ、トラ
ンク回路ＴＲＫ内のループ電流検出用のリレーＡＯが動
作することを確認することにより、通話路試験を行なう
ものである。
第２図に示す様な方法では第１図の通話線Ａ，Ｂの試験
方法と比較すると、通話線Ａ，Ｂを直接試験しているこ
と、総ての通話路接点を試験可能である点では改善され
ているが、試験回路に加入者線と加入者電話機ＳＵＢを
含んでいる点では第１１図と同様の欠点を有すると共に
、加入者側の条件をループのみとしているため、着信接
続時の様に加入者電話機ＳＵＢのループがない場合は通
話路試験が出来ないという欠点があった。
方法と比較すると、通話線Ａ，Ｂを直接試験しているこ
と、総ての通話路接点を試験可能である点では改善され
ているが、試験回路に加入者線と加入者電話機ＳＵＢを
含んでいる点では第１１図と同様の欠点を有すると共に
、加入者側の条件をループのみとしているため、着信接
続時の様に加入者電話機ＳＵＢのループがない場合は通
話路試験が出来ないという欠点があった。
また、以上説明したのは何れも通話路スイッチ接点とし
てクロスバスイツチの様な動作速度の遅い機械的に閉成
が保持される機械接点が使用されている交換機の通話路
試験方式であり、試験を行なうのはもっぱら交換機に発
呼、着呼が発生した際の呼処理に伴う通話路設定動作中
に限られていた。
てクロスバスイツチの様な動作速度の遅い機械的に閉成
が保持される機械接点が使用されている交換機の通話路
試験方式であり、試験を行なうのはもっぱら交換機に発
呼、着呼が発生した際の呼処理に伴う通話路設定動作中
に限られていた。
次に、通話路ネットワークに通話電流による自己保持機
能を持つ半導体スイッチ素子を用いた場合について、第
３図を用いて説明する。
能を持つ半導体スイッチ素子を用いた場合について、第
３図を用いて説明する。
同図において、試験ルートを形成する順序として、まず
被試験ルートとしてトランク回路ＴＲＫから加入者電話
機ＳＵＢに至るルートを閉成した後、検出回路ＤＥＴへ
引込むルートａ５，ｂ５とａ８，ｂ８の間を閉成して３
者接続を行なう。
被試験ルートとしてトランク回路ＴＲＫから加入者電話
機ＳＵＢに至るルートを閉成した後、検出回路ＤＥＴへ
引込むルートａ５，ｂ５とａ８，ｂ８の間を閉成して３
者接続を行なう。
その後、ａ９，ｂ９のスイッチにて加入者電話機ＳＵＢ
を切り離す制御を行なう必要がある。
を切り離す制御を行なう必要がある。
また、別の方法では、ａ９ｂ９を解放状態としておいて
、トランク回路ＴＲＫから検出回路ＤＥＴに至るルート
ａ４，ｂ４・・・ａ１，ｂ１−ａ５，ｂ５・・・ａ８，
ｂ８を同時に駆動して閉成する必要がある。
、トランク回路ＴＲＫから検出回路ＤＥＴに至るルート
ａ４，ｂ４・・・ａ１，ｂ１−ａ５，ｂ５・・・ａ８，
ｂ８を同時に駆動して閉成する必要がある。
前者の方法ではａｇ，ｂｇのスイッチが必要なこと、通
話路ネットワークＬＬＮ，ＴＬＮの試験のために加入者
線に電流を流す必要がある等の欠点がある。
話路ネットワークＬＬＮ，ＴＬＮの試験のために加入者
線に電流を流す必要がある等の欠点がある。
又、後者の方法では、折返し接続する２ルートを同時刻
に駆動しなければ通話電流による自己保持が実現しない
ため２つの独立なスイッチ駆動装置を設ける等の特別な
工夫が必要となる等の欠点がある。
に駆動しなければ通話電流による自己保持が実現しない
ため２つの独立なスイッチ駆動装置を設ける等の特別な
工夫が必要となる等の欠点がある。
以上、説明のように、第３図に示した構成では、第１図
、第２図で示した電磁機械式通話路と対象とした試験方
式をそのまま適用することは出来ず、更に、通話電流に
よる自己保持機能を持つ半導体スイッチの性質を通話ル
ートの保持に利用しているから加入者線路の絶縁試験に
おける保持電流（数１０μＡ〜数ｍＡ）以下の微小な電
流で閉路を形成する必要がある場合のために特別な工夫
を必要とする制約がある等の問題を有する。
、第２図で示した電磁機械式通話路と対象とした試験方
式をそのまま適用することは出来ず、更に、通話電流に
よる自己保持機能を持つ半導体スイッチの性質を通話ル
ートの保持に利用しているから加入者線路の絶縁試験に
おける保持電流（数１０μＡ〜数ｍＡ）以下の微小な電
流で閉路を形成する必要がある場合のために特別な工夫
を必要とする制約がある等の問題を有する。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであって、
効果的な通話路の試験方式を提供するもので、通話路ネ
ットワークの入側および出側の各各に対してその総ての
出入線に対して選択的に接続可能な試験用スイッチネッ
トワークを各々設け、加入者線試験の場合には、両試験
用スイッチネットワークの間をバイパスリンクで接続し
て微少電流でも閉成可能な試験路を形成し、また通話路
試験の場合は、任意の通話線を何れか一方の試験用スイ
ッチネットワークを経て標準電源に、他方の試験用スイ
ッチネットワークを経て検出回路に引き込み、通話路ス
イッチを経て流れる電流の有無を検出することにより試
験スイッチを加入者線試験と共用して通話路試験を行な
うもので、これによって前述の如き欠点を除去し、総て
の通話路に対しその通話路スイッチの正常性を直接に、
また加入者線、加入者電話機の状態および呼処理制御動
作とは無関係に確認可能としたものである。
効果的な通話路の試験方式を提供するもので、通話路ネ
ットワークの入側および出側の各各に対してその総ての
出入線に対して選択的に接続可能な試験用スイッチネッ
トワークを各々設け、加入者線試験の場合には、両試験
用スイッチネットワークの間をバイパスリンクで接続し
て微少電流でも閉成可能な試験路を形成し、また通話路
試験の場合は、任意の通話線を何れか一方の試験用スイ
ッチネットワークを経て標準電源に、他方の試験用スイ
ッチネットワークを経て検出回路に引き込み、通話路ス
イッチを経て流れる電流の有無を検出することにより試
験スイッチを加入者線試験と共用して通話路試験を行な
うもので、これによって前述の如き欠点を除去し、総て
の通話路に対しその通話路スイッチの正常性を直接に、
また加入者線、加入者電話機の状態および呼処理制御動
作とは無関係に確認可能としたものである。
以下実施例に従って詳細に説明する。
第４図は本発明の一実施例の構成を示す接続図である。
第４図に於て、ＳＵＢ１〜ＳＵＢｍは複数の加入者電話
機、ＴＳＷ１，ＴＳＷ２は各々第１と第２の試験用スイ
ッチネットワーク、ｔａ１〜ｔａｍ，ｔｂ１〜ｔｂｎは
第１と第２の試験用スイッチネットワークＴＳＷ１，Ｔ
ＳＷ２の試験スイッチの接点、ｅは保護抵抗ｒ、直流電
源Ｅで構成される標準電源、ＬＬＮ，ＴＬＮは通話路ネ
ットワーク、ａ１１〜ａ４１，ｂ１１〜ｂ４１，ａ１ｍ
〜ａ４ｍ，ｂ１ｍ〜ｂ４ｍは通話路スイッチの接点、Ｄ
ＥＴは通話線の各線に対する電流検出回路ＤＥＴＡ，Ｄ
ＥＴＢ，直流電源Ｅ１，Ｅ２等で構成される検出回路、
Ａ１，Ｂ１〜Ａｎ，Ｂｎは複数の通話線ＴＲＫ１〜ＴＲ
Ｋｎは複数のトランク回路、ｓはトランク回路ＴＲＫ内
の制御リレーＳ（図中省略）の接点、ｌａ，ｌｂはバイ
パスリンク、ｃｈ１，ｃｈ２は切替接点であって通常の
場合には切替接点ｃｈ１，ｃｈ２を図示の状態にしてお
くことでバイパスリンクｌａ，ｌｂを加入者線路試験の
目的で使用し、通話路試験時には切替接点ｃｈ１，ｃｈ
２を動作させてバイパスリンクｌａ，ｌｂを切断し、そ
の加入者側を標準電源ｅへ、トランク側を検出回路ＤＥ
Ｔへ接続する。
機、ＴＳＷ１，ＴＳＷ２は各々第１と第２の試験用スイ
ッチネットワーク、ｔａ１〜ｔａｍ，ｔｂ１〜ｔｂｎは
第１と第２の試験用スイッチネットワークＴＳＷ１，Ｔ
ＳＷ２の試験スイッチの接点、ｅは保護抵抗ｒ、直流電
源Ｅで構成される標準電源、ＬＬＮ，ＴＬＮは通話路ネ
ットワーク、ａ１１〜ａ４１，ｂ１１〜ｂ４１，ａ１ｍ
〜ａ４ｍ，ｂ１ｍ〜ｂ４ｍは通話路スイッチの接点、Ｄ
ＥＴは通話線の各線に対する電流検出回路ＤＥＴＡ，Ｄ
ＥＴＢ，直流電源Ｅ１，Ｅ２等で構成される検出回路、
Ａ１，Ｂ１〜Ａｎ，Ｂｎは複数の通話線ＴＲＫ１〜ＴＲ
Ｋｎは複数のトランク回路、ｓはトランク回路ＴＲＫ内
の制御リレーＳ（図中省略）の接点、ｌａ，ｌｂはバイ
パスリンク、ｃｈ１，ｃｈ２は切替接点であって通常の
場合には切替接点ｃｈ１，ｃｈ２を図示の状態にしてお
くことでバイパスリンクｌａ，ｌｂを加入者線路試験の
目的で使用し、通話路試験時には切替接点ｃｈ１，ｃｈ
２を動作させてバイパスリンクｌａ，ｌｂを切断し、そ
の加入者側を標準電源ｅへ、トランク側を検出回路ＤＥ
Ｔへ接続する。
次に、このように構成された通話路試験方式について第
４図を用いて説明する。
４図を用いて説明する。
加入者線路試験の場合は、任意の被試験加入者線に対し
て微少電流を通電可能なスイッチ素子（例えばリレー接
点、記憶回路つきの電子スイッチ）で構成される試験用
スイッチネットワークＴＳＷ１，ＴＳＷ２を選択的に駆
動して試験トランク（例えばＴＲＫ１）からバイパスリ
ンクを経由して試験ルートを閉成する。
て微少電流を通電可能なスイッチ素子（例えばリレー接
点、記憶回路つきの電子スイッチ）で構成される試験用
スイッチネットワークＴＳＷ１，ＴＳＷ２を選択的に駆
動して試験トランク（例えばＴＲＫ１）からバイパスリ
ンクを経由して試験ルートを閉成する。
この後、加入者線と試験トランクの間で各種の試験を行
なうのである。
なうのである。
次に、通話路試験の場合について説明する。
加入者電話機ＳＵＢ１とトランク回路ＴＲＫ１を接続す
る通話路を被試験通話路としてその試験を行なうものと
する。
る通話路を被試験通話路としてその試験を行なうものと
する。
先ず通話路スイッチの接点ａ１１，ａ２１，ａ３１，ａ
４１およびｂｌｌ，ｂ２１，ｂ３１，ｂ４１を駆動し、
その後に試験スイッチの接点ｔａ１， ｔｂ １を駆動
する。
４１およびｂｌｌ，ｂ２１，ｂ３１，ｂ４１を駆動し、
その後に試験スイッチの接点ｔａ１， ｔｂ １を駆動
する。
ここで、試験用スイッチネットワークＴＳＷ１，ＴＳＷ
２はその試験スイッチの接点ｔａ１〜ｔａｍ，ｔｂ１〜
ｔｂｎを開閉し、切替スイッチｃｈ１，ｃｈ２を動作さ
せることによってバイパスリンクを切り離し、標準電源
ｅを各加入者線へ、また検出回路ＤＥＴを各トランク回
路ＴＲＫ１〜ＴＲＫｎへ夫々選択的に接続するものであ
る。
２はその試験スイッチの接点ｔａ１〜ｔａｍ，ｔｂ１〜
ｔｂｎを開閉し、切替スイッチｃｈ１，ｃｈ２を動作さ
せることによってバイパスリンクを切り離し、標準電源
ｅを各加入者線へ、また検出回路ＤＥＴを各トランク回
路ＴＲＫ１〜ＴＲＫｎへ夫々選択的に接続するものであ
る。
従って、この状態でトランク回路ＴＲＫ１内の制御リレ
ーの通常閉じている接点Ｓが開くように制御すれば、通
話線Ａ１に関しては、直流電源Ｅ一保護抵抗ｒ−試験ス
イッチの接点ｔａ１−通話路スイッチの接点ａｌｌ，ａ
２１，ａ３１，ａ４１−試験スイッチの接点ｔｂ１−電
流検出回路ＤＥＴＡ−直流電源Ｅ１の経路で流れる電流
の有無を、電流検出回路ＤＥＴＡで識別し、電流が流れ
ていれば試験良好とし、流れなければ試験不良とする。
ーの通常閉じている接点Ｓが開くように制御すれば、通
話線Ａ１に関しては、直流電源Ｅ一保護抵抗ｒ−試験ス
イッチの接点ｔａ１−通話路スイッチの接点ａｌｌ，ａ
２１，ａ３１，ａ４１−試験スイッチの接点ｔｂ１−電
流検出回路ＤＥＴＡ−直流電源Ｅ１の経路で流れる電流
の有無を、電流検出回路ＤＥＴＡで識別し、電流が流れ
ていれば試験良好とし、流れなければ試験不良とする。
同様に通話線Ｂ１に関しても直流電源Ｅ２と地気の間で
、地気−試験スイッチの接点ｔａｌ−通話路スイッチの
接点ｂ１１，ｂ２１，ｂ３１，ｂ４１−試験スイッチの
接点ｔｂ１−直流電源Ｅ２の経路で流れる電流の有無を
、電流検出回路ＤＥＴＢで識別し、電流が流れていれば
試験良好とし、流れなければ試験不良とする。
、地気−試験スイッチの接点ｔａｌ−通話路スイッチの
接点ｂ１１，ｂ２１，ｂ３１，ｂ４１−試験スイッチの
接点ｔｂ１−直流電源Ｅ２の経路で流れる電流の有無を
、電流検出回路ＤＥＴＢで識別し、電流が流れていれば
試験良好とし、流れなければ試験不良とする。
以上、加入者電話機ＳＵＢ１とトランク回路ＴＲＫ１を
接続する通話路の試験について述べたが、他の通話路に
ついても同様な方法で試験可能である。
接続する通話路の試験について述べたが、他の通話路に
ついても同様な方法で試験可能である。
また、第４図に於で標準電源ｅとしての直流電源Ｅと保
護抵抗ｒの値を加入者回路と等価なものとし、検出回路
ＤＥＴ側の直流電源Ｅｌ，Ｅ２を第４図に示す極性とし
ておくことにより、加入者電話機ＳＵＢ１がループの場
合は、通話線Ａに関しては地気−直流電源Ｅ１間、通話
線Ｂに関しては地気−直流電源Ｅ２間に流れる電流によ
り検出可能であり、また加入者回路が接続されている場
合は、前述の通話線Ａ１，Ｂ１の試験の場合と同様に動
作する。
護抵抗ｒの値を加入者回路と等価なものとし、検出回路
ＤＥＴ側の直流電源Ｅｌ，Ｅ２を第４図に示す極性とし
ておくことにより、加入者電話機ＳＵＢ１がループの場
合は、通話線Ａに関しては地気−直流電源Ｅ１間、通話
線Ｂに関しては地気−直流電源Ｅ２間に流れる電流によ
り検出可能であり、また加入者回路が接続されている場
合は、前述の通話線Ａ１，Ｂ１の試験の場合と同様に動
作する。
以上説明したように、第４図の実施例では、試験用スイ
ッチネットワークＴＳＷ１，ＴＳＷ２により、総ての通
話線が引き込み可能であるから、総ての通話路接点を直
接試験することが出来る。
ッチネットワークＴＳＷ１，ＴＳＷ２により、総ての通
話線が引き込み可能であるから、総ての通話路接点を直
接試験することが出来る。
また、標準電源ｅとしての直流電源Ｅの電圧、保護，抵
抗ｒの値および検出回路ＤＥＴ側の直流電源Ｅ１，Ｅ２
の電圧を適当の値に設定することにより、加入者電話機
ＳＵＢ１〜ＳＵＢｍ、加入者回路の状態に無関係に通話
路ネットワークＬＬＮ，ＴＬＮの試験が可能となる利点
がある。
抗ｒの値および検出回路ＤＥＴ側の直流電源Ｅ１，Ｅ２
の電圧を適当の値に設定することにより、加入者電話機
ＳＵＢ１〜ＳＵＢｍ、加入者回路の状態に無関係に通話
路ネットワークＬＬＮ，ＴＬＮの試験が可能となる利点
がある。
また、試験スイツチの接点に電子接点が使用される場合
は、その高速性を生かして空きトランク回路と空き加入
者を接続する総ての通話路の試験を呼処理制御動作とは
独立して短時間内で行なうことも可能となる利点がある
。
は、その高速性を生かして空きトランク回路と空き加入
者を接続する総ての通話路の試験を呼処理制御動作とは
独立して短時間内で行なうことも可能となる利点がある
。
以上、詳細に説明したように本発明によれば、交換機の
通話路スイッチの正常性を総ての接続路について、加入
者電話機、加入者線の状態に影響されることなく、呼処
理制御動作とは独立に入手を介さずに試験可能である。
通話路スイッチの正常性を総ての接続路について、加入
者電話機、加入者線の状態に影響されることなく、呼処
理制御動作とは独立に入手を介さずに試験可能である。
また、加入者線路試験用のスイッチネットワークと通話
路試験用のネットワークを共用したことにより通話電流
による自己保持機能を持つ半導体スイッチを用いた通話
路において複雑な制御と特別な切り離しスイッチを用い
ずに詳細な試験を可能にしたのであり、更に、動作時間
に高速性を有する電子接点を試験用スイッチに使用した
場合、あるいは遠隔集線装置の通話路の様に比較的小規
模な通話路ネットワークに適用した場合、特に効果が大
である等、優れた効果が期待できるのである。
路試験用のネットワークを共用したことにより通話電流
による自己保持機能を持つ半導体スイッチを用いた通話
路において複雑な制御と特別な切り離しスイッチを用い
ずに詳細な試験を可能にしたのであり、更に、動作時間
に高速性を有する電子接点を試験用スイッチに使用した
場合、あるいは遠隔集線装置の通話路の様に比較的小規
模な通話路ネットワークに適用した場合、特に効果が大
である等、優れた効果が期待できるのである。
第１図、第２図および第３図は従来の通話路方式の構成
図、第４図は本発明に係る通話路試験方式の一実施例を
示す構成図である。 ＳＵＢ，ＳＵＢ１〜ＳＵＢｍ；加入者電話機、ＬＣ；加
入者回路、ＬＬＮ，ＴＬＮ；通話路ネットワーク、ａ１
〜ａ９，ｂ１〜ｂ９，ｃ１〜ｃ４，ａ１１〜ａ４１，ｂ
１１〜ｂ４１，ａ１ｍ〜ａ４ｍ，ｂ１ｍ〜ｂ４ｍ；通話
路スイッチ、Ａ，Ａ１，Ａｎ，Ｂ，Ｂ１，Ｂｎ；通話線
、Ｃ；制御線、Ｗ，Ｘ，Ｙ，Ｚ，ＣＯＮＡ，ＣＯＮＢ；
電流検出リレー、ＴＲＫ、ＴＲＫ１〜ＴＲＫｎ；トラン
ク回路、Ｅ，Ｅ１，Ｅ２；直流電源、ｔ：切替リレーの
接点、ＣＯ，ｂ，ｓ；制御リレーの接点、Ｌ；発呼検出
リレー、ＡＯ；ループ電流検出用のリレー、ＴＳＷ１，
ＴＳＷ２；試験用スイッチネットワーク、ｔａ１〜ｔａ
ｍ，ｔｂ１〜ｔｂｎ；試験スイッチの接点、ＤＥＴ；検
出回路、ＤＥＴＡ，ＤＥＴＢ；電流検出回路、ｅ；標準
電源、ｃｈ；切替接点、ｒ；保護抵抗、ｌａ，ｌｂ；バ
イパスリンク。
図、第４図は本発明に係る通話路試験方式の一実施例を
示す構成図である。 ＳＵＢ，ＳＵＢ１〜ＳＵＢｍ；加入者電話機、ＬＣ；加
入者回路、ＬＬＮ，ＴＬＮ；通話路ネットワーク、ａ１
〜ａ９，ｂ１〜ｂ９，ｃ１〜ｃ４，ａ１１〜ａ４１，ｂ
１１〜ｂ４１，ａ１ｍ〜ａ４ｍ，ｂ１ｍ〜ｂ４ｍ；通話
路スイッチ、Ａ，Ａ１，Ａｎ，Ｂ，Ｂ１，Ｂｎ；通話線
、Ｃ；制御線、Ｗ，Ｘ，Ｙ，Ｚ，ＣＯＮＡ，ＣＯＮＢ；
電流検出リレー、ＴＲＫ、ＴＲＫ１〜ＴＲＫｎ；トラン
ク回路、Ｅ，Ｅ１，Ｅ２；直流電源、ｔ：切替リレーの
接点、ＣＯ，ｂ，ｓ；制御リレーの接点、Ｌ；発呼検出
リレー、ＡＯ；ループ電流検出用のリレー、ＴＳＷ１，
ＴＳＷ２；試験用スイッチネットワーク、ｔａ１〜ｔａ
ｍ，ｔｂ１〜ｔｂｎ；試験スイッチの接点、ＤＥＴ；検
出回路、ＤＥＴＡ，ＤＥＴＢ；電流検出回路、ｅ；標準
電源、ｃｈ；切替接点、ｒ；保護抵抗、ｌａ，ｌｂ；バ
イパスリンク。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 通話電流による自己保持機能を備えた半導体スイッ
チング素子を用いた空間分割形交換機における通話路の
試験において、 加入者試験用バイパスリンクを通話路ネットワークの総
ての入線および出線に対して選択的に接続可能となるよ
うに第１および第２の試験用スイッチネットワークを介
して接続し、更に、該加入者試験用バイパスリンクに檜
準電源と検出回路を前記第１および第２の試験用スイツ
チネットワークに接続可能なように第１と第２の切替ス
イッチを挿入して成り、 前記両試験用スイッチネットワークと両切替スイッチを
制御することにより、加入者線の試験の際には通話路ネ
ットワークの出線から加入者試験用バイパスリンクを介
して通話路ネットワークの入線に至る試験ルートを形成
し、通話路の試験の際には被試験通話路ネットワークの
入線と出線に標準電源と検出回路とを接続して流れる電
流を検出する試験ルートを形成し、 試験用スイッチネットワークを加入者線と通話路の試験
に共用することを特徴とする通話路試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52012498A JPS584863B2 (ja) | 1977-02-09 | 1977-02-09 | 通話路試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52012498A JPS584863B2 (ja) | 1977-02-09 | 1977-02-09 | 通話路試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5398709A JPS5398709A (en) | 1978-08-29 |
| JPS584863B2 true JPS584863B2 (ja) | 1983-01-28 |
Family
ID=11807027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52012498A Expired JPS584863B2 (ja) | 1977-02-09 | 1977-02-09 | 通話路試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS584863B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62153480U (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 | ||
| JPS62153479U (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5895459A (ja) * | 1981-12-02 | 1983-06-07 | Nec Corp | クロスポイント障害検出方式 |
| US4540857A (en) * | 1982-01-22 | 1985-09-10 | Communications Test Design, Inc. | Circuit testing of telephone grids or the like |
| JPS58163201A (ja) * | 1982-03-19 | 1983-09-28 | Hitachi Ltd | 車両用自動試験装置 |
| US4670897A (en) * | 1983-08-04 | 1987-06-02 | Communications Test Design, Inc. | Circuit testing of telephone grids or the like |
-
1977
- 1977-02-09 JP JP52012498A patent/JPS584863B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62153480U (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 | ||
| JPS62153479U (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5398709A (en) | 1978-08-29 |
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