JPS5848985A - 電子デイバイス基板への薄膜形成方法 - Google Patents
電子デイバイス基板への薄膜形成方法Info
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- JPS5848985A JPS5848985A JP13802481A JP13802481A JPS5848985A JP S5848985 A JPS5848985 A JP S5848985A JP 13802481 A JP13802481 A JP 13802481A JP 13802481 A JP13802481 A JP 13802481A JP S5848985 A JPS5848985 A JP S5848985A
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Landscapes
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子ディバイス基板上へ所定のパターンの薄
膜を形成する方法に関する。
膜を形成する方法に関する。
近年、半導体素子の絶縁被膜、あるいは液晶表示素子の
絶縁被膜、または配向制御膜に、無機酸化物薄膜や有様
物薄膜が使用されている。特に、液晶表示素子の場合に
は、ガラス基板上に、絶縁被膜(S10鵞膜)・無反射
コート膜(Tie。
絶縁被膜、または配向制御膜に、無機酸化物薄膜や有様
物薄膜が使用されている。特に、液晶表示素子の場合に
は、ガラス基板上に、絶縁被膜(S10鵞膜)・無反射
コート膜(Tie。
膜等)・透明導電3体膜(工TOあるいはsnow)を
順次形成したのち、二酸化硅素、ポリイミド。
順次形成したのち、二酸化硅素、ポリイミド。
シラン等の配向制御膜を形成し、その表面を布等でラビ
ングした後、゛この基i2枚で液晶を挾持して、液晶表
示素子を形成する。配向制御膜は、液晶表示素子の駆動
電圧を一定に保つためと、駆動電流を少なくするため、
できるだけ均一な膜を必要とする。一般には、500A
〜10000Aの薄膜が用いられる膜厚の均一性は、±
20%以内であることが望ましい。
ングした後、゛この基i2枚で液晶を挾持して、液晶表
示素子を形成する。配向制御膜は、液晶表示素子の駆動
電圧を一定に保つためと、駆動電流を少なくするため、
できるだけ均一な膜を必要とする。一般には、500A
〜10000Aの薄膜が用いられる膜厚の均一性は、±
20%以内であることが望ましい。
従来、このような薄膜を形成する方法として、基板を回
転し薄膜となる有機、あるいは無機化合物を含む溶液(
以下化合物溶液)を回転する基板上に滴下し、遠心力に
よる広がりにより、塗膜を形成するスピンコード法・ロ
ール円周上に細かい溝を形成し、溝中の化合物溶液を基
板上に転写し、塗膜を形成するロールコート法・化合物
溶液中に浸漬する浸漬塗り・化合物溶液を噴霧状態にし
て塗布するスプレー塗布が広く用いられる。しかし、こ
れらの方法の最大の欠点として、基板面の全域にわたっ
て塗膜が形成されてしまう。したがって、前記塗膜を適
当な加熱により薄膜を得るが、それも全域に渡ってしま
う。このような場合、たとえば、液晶表示素子用基鈑の
場合、透明導電膜の湖子群等を前記薄膜より露出させる
ためには、前記端子群に可剥性保護膜を形成し、しかる
後、前記各種塗布法を用いて薄膜形成後、可剥性保護−
膜を除去する。この場合、可剥性保護膜が基板上に凸凹
となり、均一な膜厚にならず、特に化合物溶液の表面張
力により、可剥性保護膜との境界部の膜厚が増加した。
転し薄膜となる有機、あるいは無機化合物を含む溶液(
以下化合物溶液)を回転する基板上に滴下し、遠心力に
よる広がりにより、塗膜を形成するスピンコード法・ロ
ール円周上に細かい溝を形成し、溝中の化合物溶液を基
板上に転写し、塗膜を形成するロールコート法・化合物
溶液中に浸漬する浸漬塗り・化合物溶液を噴霧状態にし
て塗布するスプレー塗布が広く用いられる。しかし、こ
れらの方法の最大の欠点として、基板面の全域にわたっ
て塗膜が形成されてしまう。したがって、前記塗膜を適
当な加熱により薄膜を得るが、それも全域に渡ってしま
う。このような場合、たとえば、液晶表示素子用基鈑の
場合、透明導電膜の湖子群等を前記薄膜より露出させる
ためには、前記端子群に可剥性保護膜を形成し、しかる
後、前記各種塗布法を用いて薄膜形成後、可剥性保護−
膜を除去する。この場合、可剥性保護膜が基板上に凸凹
となり、均一な膜厚にならず、特に化合物溶液の表面張
力により、可剥性保護膜との境界部の膜厚が増加した。
また、別の方法として、基板面に薄膜を形成した後、前
記端子群等以外の領域にフォトレジスト等のマスクを形
成し、前記マスクより露出されている薄膜を、ウェット
エツチングやドライエツチングし、しかる後に、前記マ
スクを適当な手段を用いて除去する。(以下これらの方
法をマスキング法とする。) これらは、煩雑な工程を
必要とするばかりでなく、形成された薄膜表面に多くの
薬剤・溶剤が接するため、膜質の劣化につながった。本
発明は、かかる欠点を除去するためになされたものであ
る。発明者は、一般の使用されるインクジェット方式に
着目し、均一な膜厚の薄膜を所望の形状に形成できない
か考察し穴。
記端子群等以外の領域にフォトレジスト等のマスクを形
成し、前記マスクより露出されている薄膜を、ウェット
エツチングやドライエツチングし、しかる後に、前記マ
スクを適当な手段を用いて除去する。(以下これらの方
法をマスキング法とする。) これらは、煩雑な工程を
必要とするばかりでなく、形成された薄膜表面に多くの
薬剤・溶剤が接するため、膜質の劣化につながった。本
発明は、かかる欠点を除去するためになされたものであ
る。発明者は、一般の使用されるインクジェット方式に
着目し、均一な膜厚の薄膜を所望の形状に形成できない
か考察し穴。
本発明の一実施例について説明すると、第1図。
第2図において、1は化合物溶液2を噴射するノズルで
ある。これは2枚の剛体、例えばガラス3に設けた管路
に化合物溶fi2を装入させ、ガラス端部の細管開口部
をノズル噴射口5とする。さらに、その重ねた2枚のガ
ラスの表裏両面に圧電素子4を固着させる。この圧電素
子は、10KHz〜25MHzまで振動できるようにす
る。圧電素子の縦振動により、2枚のガラスに振動が伝
わり、装入された化合物溶、液を圧縮時にノズル噴射口
5より噴射し、膨張時にタンク6より吸入するというよ
うに、繰り返しを行なう。噴射量は、化合物溶液の粘度
・比重などと振動数に相関がある。こノノズル1)j、
X軸7.Y軸8により駆動可能な駆動体9に固定させる
。fcとえば、X軸7.Y軸8にボールネジを用いパル
スモータ−10に直結シテ、ソれを回転することにより
、駆動体9が所定の位置に移動する。この駆動体9は、
最高400襲/式で移動可能である。11は塗膜を形成
すべき基板で、例えばガラス基板である。このガラス基
板は、搭載台12に真空r1!LyfIされ所定の位置
に設置される。ノズル噴射口5と基板11との距離は、
(L5〜3uにセツティングする。化合物溶液2は、外
部空気との接触機会を押えるため、タンク6中に入れら
れる。これは、化合物浴液は空気中の水分を吸入し、加
水分解を起こす場合があるためである。また粘度は、[
1,5〜100qPElと低粘度の化合物溶液にするの
が、最も良い。溶液は噴霧状の溶液がノズル噴射口5よ
り直進する噴霧状溶液球の1つ1つの径は1〜5μで、
振動数が一定するとその径も一定する。ノズル噴射口よ
り出′fc1w液は、基@11に到達して広がりを示す
。
ある。これは2枚の剛体、例えばガラス3に設けた管路
に化合物溶fi2を装入させ、ガラス端部の細管開口部
をノズル噴射口5とする。さらに、その重ねた2枚のガ
ラスの表裏両面に圧電素子4を固着させる。この圧電素
子は、10KHz〜25MHzまで振動できるようにす
る。圧電素子の縦振動により、2枚のガラスに振動が伝
わり、装入された化合物溶、液を圧縮時にノズル噴射口
5より噴射し、膨張時にタンク6より吸入するというよ
うに、繰り返しを行なう。噴射量は、化合物溶液の粘度
・比重などと振動数に相関がある。こノノズル1)j、
X軸7.Y軸8により駆動可能な駆動体9に固定させる
。fcとえば、X軸7.Y軸8にボールネジを用いパル
スモータ−10に直結シテ、ソれを回転することにより
、駆動体9が所定の位置に移動する。この駆動体9は、
最高400襲/式で移動可能である。11は塗膜を形成
すべき基板で、例えばガラス基板である。このガラス基
板は、搭載台12に真空r1!LyfIされ所定の位置
に設置される。ノズル噴射口5と基板11との距離は、
(L5〜3uにセツティングする。化合物溶液2は、外
部空気との接触機会を押えるため、タンク6中に入れら
れる。これは、化合物浴液は空気中の水分を吸入し、加
水分解を起こす場合があるためである。また粘度は、[
1,5〜100qPElと低粘度の化合物溶液にするの
が、最も良い。溶液は噴霧状の溶液がノズル噴射口5よ
り直進する噴霧状溶液球の1つ1つの径は1〜5μで、
振動数が一定するとその径も一定する。ノズル噴射口よ
り出′fc1w液は、基@11に到達して広がりを示す
。
ノズル噴射口5より、1秒間に数千から数十万個出た溶
液球は、順次基鈑に到達して塗膜131形成する。
液球は、順次基鈑に到達して塗膜131形成する。
第3図において、X軸7.y軸8の)くルスモーター1
0の駆動制御回路16.ノズルの圧電体発蚤回路15の
制御は、コンピューター14で行なう。従って、所望の
パターンを得るには、X軸7゜Y軸8啼適当に駆動させ
、ノズル1の固定された駆動体9を移動させ、それをプ
ログラミングし、それと同期させてノズル1より溶液を
噴射させる。
0の駆動制御回路16.ノズルの圧電体発蚤回路15の
制御は、コンピューター14で行なう。従って、所望の
パターンを得るには、X軸7゜Y軸8啼適当に駆動させ
、ノズル1の固定された駆動体9を移動させ、それをプ
ログラミングし、それと同期させてノズル1より溶液を
噴射させる。
このようにして、所望のパターンの塗[13を得ること
ができる。
ができる。
このような方法によれば、粘度がα5〜100cpsと
著しく低い化合物溶液を用いても、面内上5 の寸法精度道、−6−1nの範囲で15〜2μmの厚さ
の塗膜を±10%の膜厚精度で形成することができる。
著しく低い化合物溶液を用いても、面内上5 の寸法精度道、−6−1nの範囲で15〜2μmの厚さ
の塗膜を±10%の膜厚精度で形成することができる。
このようにして形成した化合物溶液の塗膜を、適当な温
度で乾燥することにより、基鈑全面に亘り膜厚精度の優
h7’c薄膜を形成できる。これは所定の元素と有機ま
たは無機の化合物を形成し、その化合物が適当な溶媒に
対して、相容性を有する場合に適用が可能であることが
わかった。特にFE型液晶表示素子の配向制御膜の材料
として、エポキシ系7ラン材と有機チタンをメタノール
あるいはエチルセロソルブなどの混合溶液(粘度0.6
〜3cPS)’を使用する。4この混合溶液をノズルよ
り間欠的に噴射することにより、端子等以外の基板面へ
塗膜形成し所定のパターンにする。
度で乾燥することにより、基鈑全面に亘り膜厚精度の優
h7’c薄膜を形成できる。これは所定の元素と有機ま
たは無機の化合物を形成し、その化合物が適当な溶媒に
対して、相容性を有する場合に適用が可能であることが
わかった。特にFE型液晶表示素子の配向制御膜の材料
として、エポキシ系7ラン材と有機チタンをメタノール
あるいはエチルセロソルブなどの混合溶液(粘度0.6
〜3cPS)’を使用する。4この混合溶液をノズルよ
り間欠的に噴射することにより、端子等以外の基板面へ
塗膜形成し所定のパターンにする。
しかるのち、遠赤外線炉にて200℃、5分間乾燥し、
薄膜を形成する。この結果、膜厚4000A、±20O
Aの薄膜が形成された。次いで綿布によりラビングし、
上下ガラス間10μに保ち、液晶注入口を除き、エポキ
シ接着剤で上下ガラス板をシールする。′FIi、晶セ
ルが形成されたのち、液晶を減圧下で浸入、シリコン系
接着剤で浸入口を封止する。このように槽底した骸晶表
示素子を観察すると、全面にわたり液晶はツイストして
いた。
薄膜を形成する。この結果、膜厚4000A、±20O
Aの薄膜が形成された。次いで綿布によりラビングし、
上下ガラス間10μに保ち、液晶注入口を除き、エポキ
シ接着剤で上下ガラス板をシールする。′FIi、晶セ
ルが形成されたのち、液晶を減圧下で浸入、シリコン系
接着剤で浸入口を封止する。このように槽底した骸晶表
示素子を観察すると、全面にわたり液晶はツイストして
いた。
前述したマスキング法により形成し窺配向制御膜を用い
た液晶表示素子は、80℃温度90%の恒温恒温槽内で
、200時間で配向劣化が生じ始めたが、本実施例によ
る配向制御膜は、250時間経過後もなお配向劣化など
の異常は観察されない。
た液晶表示素子は、80℃温度90%の恒温恒温槽内で
、200時間で配向劣化が生じ始めたが、本実施例によ
る配向制御膜は、250時間経過後もなお配向劣化など
の異常は観察されない。
この理由は、薄膜形成後、パターニングするためいろい
ろな溶液溶剤に対して薄膜表面が暴露状態となり、何ら
かの変化を生じるのに対し、本実施例は、直接パターニ
ングし次薄膜を形成し、何ら薄膜表面に変化を生じさせ
るような工程を経ないからであると推察される。
ろな溶液溶剤に対して薄膜表面が暴露状態となり、何ら
かの変化を生じるのに対し、本実施例は、直接パターニ
ングし次薄膜を形成し、何ら薄膜表面に変化を生じさせ
るような工程を経ないからであると推察される。
以上の如く、本発明による電子ディバイス基鈑への薄膜
形成方法によれば、粘度1000CPS以下の低粘度の
有機または無機化合物を含む溶液で、寸法精度良好な、
また任意のパターンを直接的に薄膜形成することが可能
になつtことで煩雑な工a?必要としなくなったこと、
コンピューターで制御可能なため、パターン変更が容易
になった。
形成方法によれば、粘度1000CPS以下の低粘度の
有機または無機化合物を含む溶液で、寸法精度良好な、
また任意のパターンを直接的に薄膜形成することが可能
になつtことで煩雑な工a?必要としなくなったこと、
コンピューターで制御可能なため、パターン変更が容易
になった。
また、透明電極付ガラス基板の透明電極材料(工TO・
5n02 etc、)を有機溶媒に溶解した溶液を、同
様な薄膜形成方法を用いれば、直接パターン化した透明
電極材料が作成可能である。
5n02 etc、)を有機溶媒に溶解した溶液を、同
様な薄膜形成方法を用いれば、直接パターン化した透明
電極材料が作成可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本実施例に用いた化合物溶液の噴射ノズル駆
簡の概念図。第2図は噴射ノズル部の概念図。第3図は
、ノズル発振回路とノズル駆動部の制御の概念図である
。 1・・・・・・ノズル 2・・・・・・薄膜となる有機あるいは無機化合物を含
む溶液 5・・・・・・ガラス 4・・・・・・圧電素
子5・・・・・・ノズル噴射口 6・・・・・・タン
ク7・・・・・・X 軸 8・・・・・
・Y 軸?・・・・・・ffliEfl体10・・・
・:・パルスモータ11・・・・・・ガラス基板 1
2・・・・・・搭載台13・・・・・・塗 膜
14・・・・・・コンピュータ15・・・・・・ノズ
ル圧電体発振回路16・・・・・・xYINlパルスモ
ータ駆動回路。 以上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 最上 務 ラ1− 丁 図 名 才 2 凹 、l−3図 手続補正書(自発) 1、事件の表示 昭和56年 特許願第158024号2 発明の名称 電子ディバイス基板への薄膜形成方法 3、補正をする者 代表取締役中村恒也 4代理人 6 補正により増加する発明の数 手 続 補 正 誉 (自発) 明細書第5頁第15行 「渡って」とめるを、「亘って」に補正する42、 明
細書第4頁第13行 「一般の」とめる金、「一般に」に補正する。 五 明細W第5頁第3行 「10KT3z」とめる−@−[10MH2Jに補正す
る。 4、 明細書第6貢第6行 「1〜5μ」とある金、「10〜100μ」に補正する
・ 5、明細書第6頁第8行 「を示す、」とあるを、「を呈す−」に補正する。 −明細書第7頁第3行 ±5 ’ ”’ru 6.、iJとめる金、「±iτ。」に補
正する。 2 明細書第7負第14行 「LL6〜5−1とろる?、「LL5〜3」に補正する
。 a #4細薔第7頁下から4行目〜5行目「5分間乾燥
し、・・・・・・形成する。」とろろを。 「5分間焼成、乾燥し、薄膜を形成する。」に補正する
・ j 明細1第7頁下か、ら2行目 「X 、 ±2o o @J ト;hbk、 「A±2
00AJに補正する。 ta #4ali8頁第7行 「温度」とろるl r湿度」に補正する。 11、明細書第9頁第5行 「(X To 118nO1ate、) J とあるを
。 r (ITO、Srs’意etc、) Jに補正する。 以上
簡の概念図。第2図は噴射ノズル部の概念図。第3図は
、ノズル発振回路とノズル駆動部の制御の概念図である
。 1・・・・・・ノズル 2・・・・・・薄膜となる有機あるいは無機化合物を含
む溶液 5・・・・・・ガラス 4・・・・・・圧電素
子5・・・・・・ノズル噴射口 6・・・・・・タン
ク7・・・・・・X 軸 8・・・・・
・Y 軸?・・・・・・ffliEfl体10・・・
・:・パルスモータ11・・・・・・ガラス基板 1
2・・・・・・搭載台13・・・・・・塗 膜
14・・・・・・コンピュータ15・・・・・・ノズ
ル圧電体発振回路16・・・・・・xYINlパルスモ
ータ駆動回路。 以上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 最上 務 ラ1− 丁 図 名 才 2 凹 、l−3図 手続補正書(自発) 1、事件の表示 昭和56年 特許願第158024号2 発明の名称 電子ディバイス基板への薄膜形成方法 3、補正をする者 代表取締役中村恒也 4代理人 6 補正により増加する発明の数 手 続 補 正 誉 (自発) 明細書第5頁第15行 「渡って」とめるを、「亘って」に補正する42、 明
細書第4頁第13行 「一般の」とめる金、「一般に」に補正する。 五 明細W第5頁第3行 「10KT3z」とめる−@−[10MH2Jに補正す
る。 4、 明細書第6貢第6行 「1〜5μ」とある金、「10〜100μ」に補正する
・ 5、明細書第6頁第8行 「を示す、」とあるを、「を呈す−」に補正する。 −明細書第7頁第3行 ±5 ’ ”’ru 6.、iJとめる金、「±iτ。」に補
正する。 2 明細書第7負第14行 「LL6〜5−1とろる?、「LL5〜3」に補正する
。 a #4細薔第7頁下から4行目〜5行目「5分間乾燥
し、・・・・・・形成する。」とろろを。 「5分間焼成、乾燥し、薄膜を形成する。」に補正する
・ j 明細1第7頁下か、ら2行目 「X 、 ±2o o @J ト;hbk、 「A±2
00AJに補正する。 ta #4ali8頁第7行 「温度」とろるl r湿度」に補正する。 11、明細書第9頁第5行 「(X To 118nO1ate、) J とあるを
。 r (ITO、Srs’意etc、) Jに補正する。 以上
Claims (3)
- (1)粘度1000C!PS以下で有機ないし無機化合
物を含む溶液をガラス、セラミック、金属又はプラスチ
ック、又はこれらの2つ以上からなる電子ディバイス基
板面にノズルより間欠的に前記溶液を噴射させ、かつ前
記ノズルと前記電子ディバイス基板を相対的に動かすこ
とにより、前記電子ディバイス基板面上に所定の形状の
塗膜を形成し、乾燥、加熱することを特徴とする電子デ
ィバイス基板への薄膜形成方法。 - (2)ノズルの噴射口と電子ディバイス基板の間隙を[
15〜3jmとした特許請求の範囲第1項記載の電子デ
ィバイス基板への薄膜形成方法。 - (3)2枚のガラス板に設けた管路に装入された浴iを
前記ガラス板に固着された圧電素子の振動により間欠的
噴射を行なうノズルを用い定特許請求の範囲第1項記載
の電子ディバイス基板への薄膜形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13802481A JPS5848985A (ja) | 1981-09-02 | 1981-09-02 | 電子デイバイス基板への薄膜形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13802481A JPS5848985A (ja) | 1981-09-02 | 1981-09-02 | 電子デイバイス基板への薄膜形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848985A true JPS5848985A (ja) | 1983-03-23 |
Family
ID=15212263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13802481A Pending JPS5848985A (ja) | 1981-09-02 | 1981-09-02 | 電子デイバイス基板への薄膜形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848985A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5488762A (en) * | 1977-12-26 | 1979-07-14 | Toppan Printing Co Ltd | Method of fabricating crt fluorescent face |
-
1981
- 1981-09-02 JP JP13802481A patent/JPS5848985A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5488762A (en) * | 1977-12-26 | 1979-07-14 | Toppan Printing Co Ltd | Method of fabricating crt fluorescent face |
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