JPS58500815A - 光フアイバ干渉計 - Google Patents
光フアイバ干渉計Info
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- JPS58500815A JPS58500815A JP57502117A JP50211782A JPS58500815A JP S58500815 A JPS58500815 A JP S58500815A JP 57502117 A JP57502117 A JP 57502117A JP 50211782 A JP50211782 A JP 50211782A JP S58500815 A JPS58500815 A JP S58500815A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の名称
光ファイバ干渉針
発明の背景
本発明紘光学干渉針、よ)詳しく言うと光ファイバを利用して多数O光路を干渉
計自身の中に自重るようKtりて−る装置に調する。
干渉針は、光を利用して正確な一定を行なう装置である。かかるーj!に鯰、非
電に小11な距−OmWgか62つ01−〇一定1′e1140%amある。干
渉計atえ、屈折率OIM定、lN!画変形OIl定、表面の小さな超音液振動
O橢定に用いるしとが′Cきる。
これ壕で、構造O異亀ゐ幾りかO干−針が知られてiる。一層馬知11!構造O
干か針として、レイリー干渉針、マイケルスフ恒鳳干参針、7アプトーペp干渉
針、及びマツハ・ツェーンメー干−計がある。これらO干−針紘一ずれも空気路
をjNjlして党を光源から最後O干−ターrットに伝送するもOである。温度
又は圧力O馬部釣′&羨化によゐji11I響−気O変動によ)、**と基準路
o11thIIc@を為光路に髄−変化が婆人畜れる。これ6o位@O変動によ
)、ノイズが干渉針に入)干−針O感j[7IA低下す為ことになる。
発明の目的
本11110a−鉱、周■蓼−気0羨励による影畳を最少限度に抑える一造O干
渉針を提供することKある。
本発明01101M#i、光フアイバ導波路を利用して種々の党−を導入す為よ
うkしえ干渉針を提供することKある。
本*w4e束c別01釣は、lll1lヲあ壇〉必要とせず、容易1’CI!用
する仁とかできる光7テイΔ干渉針を提供するととにある。
上記し九目釣紘単なる例示である。従って、本発明otoiitt、い■釣と1
il益#i轟県看にとりて容易に鳳解できる40であゐ。本発明o11m1al
1京O範−によりてOみ定められるものである。
発明の概要
上記目的は他O利点とともに本実@によりて達成される。光7アイパ尋皺路を利
用して内部0ビームを干渉計04”K伝送する装置がIII供されている。本偽
明O−0*施儒においては、$110光7アイパがソースビーム(@@l1rI
b−)を干渉ターゲット(intwf@rmm ta可1)に直振這ぶ。第20
党ファイバが一定しようとする画へソースビームを崗妙る。Hso光7アイ/4
が一定しようとする画から反射光を受叶、ζ0反射光を干渉ターグツ卜へ送る。
干渉ターry ) #1m10光7アイdが直接這ぷソースビームと菖80光7
アイパが受けて$送する反射−ターン(rdle*t1−μtmrm ) 0調
龜であるフリンジパターン(friψ−1tuns )を表示する。干渉計に内
Jl!される光ファイバはいずれ−1−じIIIIK@されるOて、周St■気
O変動は無視される。
本発明O別O実論例において社、基準ビーム(rd@…w hem )が絡10
党7アイバ尋波路の出力頁での後方反射(im@k rdl・@il・1)によ
p得られる。かかる反射は、ガラスと空気OII折率011によ〉自然Kjlる
。
反射は、部分反射層を7テイパ011mK配置することによ〉高められる。第1
0光ビームが基準ファイバ(y會1@re−・f lhr )から出力される光
を検査しようとする画から反射させ、次[7テイパO中へ戻すように反射させる
ことにより得られる。これら2つO干渉ビームは、エネ#イーを両者岡のエパネ
セ/ト結合を介して検出光ファイバ導波路に移送する。
図面の記載
第1図は本発明の一の実施例を示す概略図である。
第2図は本発明の別の実施例を示す概略図である。
第3図は本発明の別の実施例を示す概略図である。
第4図は本発明の更に別の実施例を示す概略図である。
好ましい実施例の記載
以下、本発明を図面を参照して説明するが、同じ素子には4!rIIIを通じて
同じ参照番号が付されている。本明細書において使用されて−h「党尋腋路」(
〜ptl鶴1−1−s4@”)あるh絋「光フアイバ導波路J (” flb*
r・pa1m四轡−−1)1にる一部、マイクI11#ILとX−とO関にあ夛
紫外領域、WIIl1gA域及び赤外領域を會む電畿スペクトルO光部分(・p
tieal紳rti@m )にある電磁線をコアークラy rj+1界爾で内面
反射して伝送するように;ア部材と該コアを同心的に@囲するクツッrインダ郁
材とを有するfラス伝送−を言う40である。
本発明O■々O爽施例を示す111画に基づいて説明すると、第1図拡干渉針1
0(l概略図である。レーデOような単色光源であるOが好ましい光1112が
光のビーム14を焦点レンズl@烏及び111t hK#JFjる。焦点レンJ
Ie&iビーム140平行党路を広くするOK使用する。光拡2つの光フアイバ
導波路18と200方−に向妙られる。光ファイバ導波路18#i入ってくる平
行ビーム14をコアによシ伝送しかつビームをl122に放射して基準ビームと
する。光導波路2(4また光Oビーム14を愛社てビームをコアによル伝送し、
一定しようとする画24にビームを放射する0画24について行なおうとするこ
とができる調定〇一つに、面振動(smrfa*・マ1brati・n)がある
。光導波路2Gから放射され九光26は画24に価突し、雨から反射する。反射
光!@紘光導波路NICK入る。轟業看にとって明らかなように、実際に絋、反
射光280うち極く少量OもOが光導献路310に入る。光導波as o&!反
射光28をコアによル伝送し、反射光を1122に放射する。
光導波路201及び30t!、光S波路18と平行になるように光導液路111
+KM行して配置されている。光導波路l$と10からIiK款射される2つO
放射ビームによ〉、東240IN振動O閤黴として変動する干渉パターンが生ず
る。基準ビーム14と一定しようとする藺からO反射信号28#i党7アイパ導
#IL路によ〉伝送されるから、干渉計10社周scy*動に対し感応しにくく
なりている。これによ)、従来O干渉計において、空気路を進む光が生ずる周I
IO振動による変動が奥買上除去される。
JI2WIAは本実−ojles論例を示す一〇であルカ、ζOI!論例O干参
計干渉紘2つO光7アイパ導皺路34とs6を備えている。単色光all!が党
Oビーム14を光7アイ/f34に崗叶る。光7アイパ340コアs5が光エネ
ルギを光7アイd340鴫部38へ伝送する。光ファイバ340画311rO4
i方反射(backrdl・5ties)Kよ)党7アイΔ導掖路34内に基準
ビームが入る。かかる反射は、ガラスコアと空気と01折皐O相違によ〉自然に
起ζるOである。後方反射紘、部分反射層を光フアイバ導波路3401am38
に配置することによ)高まる。光7テイパ導皺路36は有限長りの部分で光ファ
イバ導[1134Km!I!され、工Δネセント錬紬合が光7742m40コア
35と光フチ4パ360H74@とam−rco有隈長L0し1分#Cお−て生
ずるようにしている。有員量0党エネルイが党7y4I4340Ij88と党7
アイA160IiN42を通過して一定しようとするli!4に放射される。画
24からO反射光Oうちある量040がaSSと4!からそれぞれ党ファイバ3
4と36に入る。90反射光は、以下に述べるように、上記した後方反射による
基準ビームと一緒になる。光7アイパ導波路36内で党7アイパのコア40に工
Δネセント結合される後方反射による結合信号と1124からO反射信号は、光
ファイバ40に帖って伝送畜れ、分析装置44が愛社る。装置44が愛社先光エ
ネルギは、l1i240画振動OII数として強度が変わる0党7テイパ36社
干渉計3!O検出脚を構威する。本尭−Oζ0**例もまた、基準信号と反射光
とが岡じ光7アイパ導皺路を違って伝わるので、jlilH1ljl&の変動に
対して実質上感応しない。また、2つ0フアイバ岡O工Δネセン)##金作用に
より、光路閾Oモーシ胃ン感度(−4im *@i+5itil+ity )に
より生ずる位1ノイ、Ieが除去される。更にま九、干渉計自体oN@t*合も
必要で紘なくなる。
gsg#i本発WA本実O爽施例を示すが、この実施例も2つC)jt 7 T
イΔ導皺路46と48を備えている。
単色光11i12ti党Oビーム14を光ファイバ導液路46へ放射する。光フ
ァイバ46の=750が光エネルギを光7テイΔ導液路460端画52へ伝送す
る。
光ファイバ導液路46と48は、皺光ファイバ導皺路O端部に近くない長11L
o部分でエバネセント腋麟會が起こるようKJIL?Iして配設されて−ゐ、こ
れにより、光7アイパ導皺路460光7アイパ導捩路端部s2と光7 y 4−
8 皺1114 IIO光7 y 4 ハ尋を絡端1154m、一定しようとす
る画240上方でそれぞれO向きを自由に羨えることができる。11方反射によ
る基準信号とWI24かも反射される検出信号とが組合わさりて、第**に示す
1IjliflK調してl!明し−kOと同様な態様で作用する。
第4■紘本発fIO更KIRO*施例を示すが、この実施例に祉2つO光7アイ
パ導皺路56と58がある。
単色光Ill!紘光ファイバ導波路56に自重て党Oビーム14を放射する。光
ファイバ導液路S@と光7アイパ尋波路s8紘、有員長LO@分でエバネセント
艙会が生ずるように11列している。ζ01lI施例ては、光は光7アイバ導皺
路560画60から出て、光ファイバ導波路S@le妙を過って戻ってくる。従
って、光ファイバ導液路56Gコア6!をMりて戻りてくる信号は、***から
01方反射信号と画24からO反射信号0X2Fからなる結合信号を這ぶ。ζO
紬合信考紘次に、光ファイA5gのコア64にエバネセント皺結合される。徴収
体66が光7アイΔ58〇−亀に配設されていて、光7アイパ58における反射
を除去するようにしている。次に、艙合信4#は党7アイパ尋款路58から検出
装置即ち分析装置44に放射される。かかる構成の干渉計鉱、画24から反射さ
れる党atが満足のいく調定1r−タを得るOK充分傘惣直Oものである場合に
使用される。
本Il@紘、スペクト羨分析あるい&i狭い蕾域074ルタ処璽を行なう仁とな
(,5XIO″″7センチO羨位を一定するOK充分な感度を有することがわか
り九。
1O−9セ/チOオーダーの変位はストクトル分析を利用すれげ容品に検出する
ことができる。
以上、本発明を好ましい実施例について説明して自たが、本−側寄O記載に基づ
いて修正と変更を行なうことができる40である。従って、本ll―紘、かかる
修正と変更が請求O範■に會重れゐ鳩舎に社これら修正と変更の全てを含むもの
eToる。
国際調査報告
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光エネルギーと、 長さが有限で111の端部と第2の端部とを有し前記党エネルギ源からO光を前 記第1の端部から導入して前記II2のmstで伝送しかつ前記第2の端部が光 の少なくとも一部を前記第1の端11に向性て後方へ内面反射するとと−に前記 党O残ヤを放射するようになっている第10党ファイバ導波路と、 長さが有限で第1と第20耀部とt有する第20党ファイバ導波路とを備え、 前記第1と#!2の光7アイΔ導波路はそれぞれのコア間で所定の長さの部分に 亘りてエバネセント波結合が生ずるように並列して配設されており、前記放射さ れ友光が測定しようとする画に衝突して獣面から反射し、前記画からの前記反射 jtの少なくとも一部が前記第1o党ファイバの前記第20端部に入って前記第 1の光フアイバ導波路内で前記内面反射しえ光と結合することにより光の情報波 を形成し、前記光の情報波が前記第20党ファイバ導波路に工Δネセント結含さ れて前記第20光フアイΔ導波路の前記第2の一部に伝送されるように前記第1 0党ファイバの前記第2の端部は前記−に対して離隔していることを4I像とす る測定lIO変位を測定する良めO干渉計・1 前記第2の光フアイバ導波路内 でOF3面後方反射を防止するように前記第20光ツアイΔ導波IIom13、 前記第10光フアイバ導波路の前記第2の端部には内面反射の程度を高めるよう に所定量の反射体が取付ゆられていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載 の干渉針。 4、前記第2の光フアイバ導波路の前記第1の端部は前記−j定面からの反射光 の少なくとも−at受けるように前記1iK対して離隔していることを特徴とす る請求OII囲第1項に記載の干渉針。 5、前記光の情報波を前記第2の光フアイバ導波路の前記第2の端部から受する 検出手段を備えていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の干渉針。 6、光エネルギ源と、 長さが有限で第1の端部と第2のmsとを有し前記元エネルギ源からの光を前記 [1q)1111部から導入して前記第2の端部まで伝送しかつ前記第2のl1 11sが光の少なくとも一部を前記第1の端IIK向けて後方へ内面反射すると ともに前記光の残りを放射するようになっている第1の光フアイバ導波路と、 長さが有限で第1と第2の端部とを有する第2の光ファイバ導S!路とを備え、 前記第1と第20党ファイバ導波路はそれぞれのコア間で所定の長さの部分に亘 ってエバネセント波結合が生ずるように並列して配設されてお夛、前記第1の光 7アイバ0NIIII配第2のgmsは前記放射光が前記一定面と衝突して反射 するように前記面に対して離隔しておpl 前記橢定面からの反射光O少なくとも一部を前記第2の光フアイバ導波路の第1 の端部から導入して前記第2の光ファイバ導液路O前記第2の端部へ向けて伝送 し、前記第20党ファイバの受性た信号かエバネセント波結合によ)結合する前 記第10光フアイバの飾配内函反射信号と結合して光O情報IIILを形成しか つ腋光の情報波を前記@2の光ファイバ導波路Om記lI20端郁に伝送するよ うに前記第20党ファイバO帥記第1の地部は前記測定面に対して離隔している ことを1#像とする橢定面の変位tie+定するための干渉計。 7、回向KIIIして記載されかつWAWUに示されている過シの光フアイバ干 渉針。
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| US06/266,773 US4380394A (en) | 1981-05-26 | 1981-05-26 | Fiber optic interferometer |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (5)
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