JPS585251Y2 - 試験用電極 - Google Patents
試験用電極Info
- Publication number
- JPS585251Y2 JPS585251Y2 JP1978042408U JP4240878U JPS585251Y2 JP S585251 Y2 JPS585251 Y2 JP S585251Y2 JP 1978042408 U JP1978042408 U JP 1978042408U JP 4240878 U JP4240878 U JP 4240878U JP S585251 Y2 JPS585251 Y2 JP S585251Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- contact spring
- tube
- current collecting
- electrode tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は電極サイズの違ったものにでも使用可能な、
絶縁抵抗、耐電圧等の試験電極に関するものである。
絶縁抵抗、耐電圧等の試験電極に関するものである。
従来チューリップコンタクトを有する開閉装置において
例えばケーブル等の絶縁抵抗又は耐電圧試験等を実施す
る場合開閉装置の可動電極を抜き取り、その後試験用電
極を挿入して微弱電流を流し、上記試験を行っていた。
例えばケーブル等の絶縁抵抗又は耐電圧試験等を実施す
る場合開閉装置の可動電極を抜き取り、その後試験用電
極を挿入して微弱電流を流し、上記試験を行っていた。
この場合例えば400A用、600A用の開閉装置に対
しては当然電流容量の差によって電極サイズに相違があ
るため各々の定格に対応する試験電極を別々に準備しな
ければならず、この試験電極を工具的に取扱う場合極め
て煩雑であった。
しては当然電流容量の差によって電極サイズに相違があ
るため各々の定格に対応する試験電極を別々に準備しな
ければならず、この試験電極を工具的に取扱う場合極め
て煩雑であった。
この考案は上記問題を一掃し、極めて簡単な構造で別定
格の電極、即ちサイズの異った電極にも共用し得る試験
用の可動電極を提供することを目的としたものである。
格の電極、即ちサイズの異った電極にも共用し得る試験
用の可動電極を提供することを目的としたものである。
以下この考案の一実施例を図について説明すると、1は
試験用電極蓋、2はこの電極蓋1の天板部にはめ込んだ
電極板、3はこの電極板2に支持固定され、電極蓋1の
中空部4に垂下した円筒状の′電極筒、5はこの電極筒
3の上端円筒内に嵌着固定されたピン受、6はこのピン
受5の上端より突出するネジ部で、このネジ部6は電極
板2に螺着されている。
試験用電極蓋、2はこの電極蓋1の天板部にはめ込んだ
電極板、3はこの電極板2に支持固定され、電極蓋1の
中空部4に垂下した円筒状の′電極筒、5はこの電極筒
3の上端円筒内に嵌着固定されたピン受、6はこのピン
受5の上端より突出するネジ部で、このネジ部6は電極
板2に螺着されている。
7はこのピン受5の下端面に穿った縦溝、8はこの縦溝
7の両側のピン受5を貫通し、縦溝7内にわたしたピン
、9はこのピン8にコイル状に数回巻いた基部9aと、
この基部9aより伸びた両脚部9bから成り、電極筒3
内に支持された略松葉状の接触バネ、10はこの接触バ
ネ9の両脚部9b下端よりやや上部を外方へ略山型に突
出せしめた集電部、11はこの集電部10下の両脚部9
b下端に形成したストッパ一部、12は上記電極筒3の
両側壁に穿った長円形の孔で、この孔12から上記接触
バネ9の集電部10が突出している。
7の両側のピン受5を貫通し、縦溝7内にわたしたピン
、9はこのピン8にコイル状に数回巻いた基部9aと、
この基部9aより伸びた両脚部9bから成り、電極筒3
内に支持された略松葉状の接触バネ、10はこの接触バ
ネ9の両脚部9b下端よりやや上部を外方へ略山型に突
出せしめた集電部、11はこの集電部10下の両脚部9
b下端に形成したストッパ一部、12は上記電極筒3の
両側壁に穿った長円形の孔で、この孔12から上記接触
バネ9の集電部10が突出している。
13は電極筒3下端の開口部である。
この考案は以上の構造であり、開閉装置のチューリップ
型固定電極14の内径が電極筒3外径とほぼ同一であれ
ば、この考案を固定電極14に装着すると、接触バネ9
は内方へすぼまるが、バネの力で集電部10先端が固定
電極14内周壁に圧接される。
型固定電極14の内径が電極筒3外径とほぼ同一であれ
ば、この考案を固定電極14に装着すると、接触バネ9
は内方へすぼまるが、バネの力で集電部10先端が固定
電極14内周壁に圧接される。
また固定電極14の内径が電極筒3外径より大きい場合
でも、両側の集電部10の先端間中より固定電極14の
内径が小さければ、この考案を固定電極14へ装着する
と、電極筒3より突出する突出する集電部10が固定電
極14内周壁に接する。
でも、両側の集電部10の先端間中より固定電極14の
内径が小さければ、この考案を固定電極14へ装着する
と、電極筒3より突出する突出する集電部10が固定電
極14内周壁に接する。
従ってこの考案は電極筒3外径直径巾(図中B)から両
側集電部10間山中図中A)までの内周直径を有する各
種径の固定電極に適用でき、各場合においても電極間の
接触が確実に行われるため、開閉装置の定格電流よりは
るかに小さな微弱電流を流す、絶縁抵抗、耐電圧等の試
験が十分行えるものである。
側集電部10間山中図中A)までの内周直径を有する各
種径の固定電極に適用でき、各場合においても電極間の
接触が確実に行われるため、開閉装置の定格電流よりは
るかに小さな微弱電流を流す、絶縁抵抗、耐電圧等の試
験が十分行えるものである。
なお上記実施例では集電的10を接触バネ9の両脚部9
bに設けているがこれを一方の脚部9bにのみ設け、電
極筒3の一側のみからこれを突出せしめたものは適用さ
れる固定電極のサイズが上記実施例より限定されるが、
同様の効果を有すること勿論である。
bに設けているがこれを一方の脚部9bにのみ設け、電
極筒3の一側のみからこれを突出せしめたものは適用さ
れる固定電極のサイズが上記実施例より限定されるが、
同様の効果を有すること勿論である。
以上の如くこの考案はケーブル等の絶縁抵抗又は耐電圧
試験に使用する開閉装置の、電流容量に対応する各種サ
イズの電極に共用できるため、試験に際しこの考案一種
を工具として用意すればよく、構造が簡単で、取扱いの
便利なものである。
試験に使用する開閉装置の、電流容量に対応する各種サ
イズの電極に共用できるため、試験に際しこの考案一種
を工具として用意すればよく、構造が簡単で、取扱いの
便利なものである。
図はこの考案の一実施例を示し、第1図はこの考案の断
面正面図、第2図はこの考案の電極筒側面断面図、第3
図はこの考案の使用状態を示す断面説明図で゛ある。 なお図中1は電極蓋、2は電極板、3は電極筒、5はピ
ン受、8はピン、9は接触バネ、10は集電部、12は
孔である。
面正面図、第2図はこの考案の電極筒側面断面図、第3
図はこの考案の使用状態を示す断面説明図で゛ある。 なお図中1は電極蓋、2は電極板、3は電極筒、5はピ
ン受、8はピン、9は接触バネ、10は集電部、12は
孔である。
Claims (1)
- 固定電極を介してケーブル等の絶縁抵抗、耐電圧等の試
験を行う試験用電極において当該固定電極に抜き差し自
在にされる可動電極の電極板2に支持せしめた電極筒3
の筒内に水平に設けたピン8に、自体の基部9aを巻き
付けて接触バネ9を支持せしめ、この接触バネ9の脚部
9bを筒内に垂下延在せしめ、かつ該脚部 bの下方自
由端側に、外方へ電極筒の先端に向かって傾斜をゆるや
かにして略山型に突出せしめた集電部10を設け、上記
電極筒3の側壁に穿った孔12より集電部10を突出せ
しめたことを特徴とする試験用電極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978042408U JPS585251Y2 (ja) | 1978-04-03 | 1978-04-03 | 試験用電極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978042408U JPS585251Y2 (ja) | 1978-04-03 | 1978-04-03 | 試験用電極 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54146271U JPS54146271U (ja) | 1979-10-11 |
| JPS585251Y2 true JPS585251Y2 (ja) | 1983-01-28 |
Family
ID=28914856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1978042408U Expired JPS585251Y2 (ja) | 1978-04-03 | 1978-04-03 | 試験用電極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS585251Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS534257U (ja) * | 1976-06-30 | 1978-01-14 |
-
1978
- 1978-04-03 JP JP1978042408U patent/JPS585251Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54146271U (ja) | 1979-10-11 |
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