JPS5855807A - 電子銃位置測定方法 - Google Patents
電子銃位置測定方法Info
- Publication number
- JPS5855807A JPS5855807A JP15511981A JP15511981A JPS5855807A JP S5855807 A JPS5855807 A JP S5855807A JP 15511981 A JP15511981 A JP 15511981A JP 15511981 A JP15511981 A JP 15511981A JP S5855807 A JPS5855807 A JP S5855807A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron gun
- contact displacement
- distance
- output
- displacement
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
- G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は陰極線管の電子銃封止後において、陰極線管の
ネック部中心軸と電子銃中心軸との誤差を測定する電子
銃位置測定方法に関する。
ネック部中心軸と電子銃中心軸との誤差を測定する電子
銃位置測定方法に関する。
一般に、カラ糧偉管において、電子銃の位置精度が不良
な場合には、電子ビームの軌道が大きくずれ、画質の低
下をもたらす。
な場合には、電子ビームの軌道が大きくずれ、画質の低
下をもたらす。
従来、カラー受像管の電子銃封止後におけるカラー受儂
管ネッタ部中心軸と電子銃中心軸の位置測定は以下のよ
うにして行なわれていた。
管ネッタ部中心軸と電子銃中心軸の位置測定は以下のよ
うにして行なわれていた。
即ち、第１図に示すように、カラー受像管を固定した状
態において、距離に対する出力が同一感度の２個の非接
触変位計１，２をカラー受儂管ネック部３外方に対向し
て夫々取付板４．５によ）固定する。この場合、各非接
触変位計１゜２と、カラー受像管の中心軸＃までの夫々
の距＃Ｃ及びＣ’＃ｉＣ＝ Ｃ／となるように機械的寸
法で出しておく。而して、電子銃１がカラー受儂管ネッ
ク部３内の所定の位置に挿入された状態で、各非接触変
位計１．２で非接触変位計１，２と電子銃７の外径まで
の距離Ａ及びＢを測定する。
態において、距離に対する出力が同一感度の２個の非接
触変位計１，２をカラー受儂管ネック部３外方に対向し
て夫々取付板４．５によ）固定する。この場合、各非接
触変位計１゜２と、カラー受像管の中心軸＃までの夫々
の距＃Ｃ及びＣ’＃ｉＣ＝ Ｃ／となるように機械的寸
法で出しておく。而して、電子銃１がカラー受儂管ネッ
ク部３内の所定の位置に挿入された状態で、各非接触変
位計１．２で非接触変位計１，２と電子銃７の外径まで
の距離Ａ及びＢを測定する。
而して、非接触変位計１の出力Ｐ１と非接触変位計２の
出力Ｐ３を求め、Ｐｉ −ｐｍに相当する距離を距離−
出力特性曲線の校正カーブからもとめることにより、電
子銃１のカラー受像管の中心軸Ｃに対するずれ量を知る
ことができる。
出力Ｐ３を求め、Ｐｉ −ｐｍに相当する距離を距離−
出力特性曲線の校正カーブからもとめることにより、電
子銃１のカラー受像管の中心軸Ｃに対するずれ量を知る
ことができる。
しかしながら、このように一対の非接触変位針を使用す
る方法においては、各々の非接触変位計の出力と距離と
の出力特性（リニアリティ）を同一に調整する必要があ
るが、この非接触変位計の出力特性が変動し易く、温度
等の要因によ如ゆつ〈ル変動するので絶えず調整する必
要があった。
る方法においては、各々の非接触変位計の出力と距離と
の出力特性（リニアリティ）を同一に調整する必要があ
るが、この非接触変位計の出力特性が変動し易く、温度
等の要因によ如ゆつ〈ル変動するので絶えず調整する必
要があった。
本発明は上記の事情に鑑みてなされた屯ので、１個の非
接触変位針を使用し、リニアリティ等の出力特性が変動
してもそのたびに校正することなく電子銃位置を正確に
測定し得る電子銃位置測定方法を提供することを目的と
する。
接触変位針を使用し、リニアリティ等の出力特性が変動
してもそのたびに校正することなく電子銃位置を正確に
測定し得る電子銃位置測定方法を提供することを目的と
する。
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
即ち、第２図は本発明の一実施例を示し、電子銃１１を
カラー受像管ネック部１２に封入したカラー受像管は固
定される。このカラー受像管の下部にはカラー受像管の
中心軸１３を回転軸とする回転装置１４が設けられ、こ
の回転装置１４には回転板１５が設けられる。
カラー受像管ネック部１２に封入したカラー受像管は固
定される。このカラー受像管の下部にはカラー受像管の
中心軸１３を回転軸とする回転装置１４が設けられ、こ
の回転装置１４には回転板１５が設けられる。
この回転板１５上にはスライドテーブル１６が設けられ
、このスライドテーブル１６は回転板１５の回転中心方
向へスライドできるように構成され、かつスライドテー
ブル１＃にはＶイク鴛メータ１７が設けられて、スライ
ドテーブル１６の移動量を測定できるようになっている
。
、このスライドテーブル１６は回転板１５の回転中心方
向へスライドできるように構成され、かつスライドテー
ブル１＃にはＶイク鴛メータ１７が設けられて、スライ
ドテーブル１６の移動量を測定できるようになっている
。
前記スライドテーブル１６上には取付具１８を介して非
接触変位計１９がカラー受像管不ツタ部１２外方に対向
して設けられる。この場合、非接触変位計１９とカラー
受像管の中心軸１３までの距離Ｃを機械的寸法で出して
おく。而して、非接触変位計１９で非接触変位計１９と
電子銃１１の外径までの距離Ａを測定し、その時の出力
電圧ｖｌを求める。
接触変位計１９がカラー受像管不ツタ部１２外方に対向
して設けられる。この場合、非接触変位計１９とカラー
受像管の中心軸１３までの距離Ｃを機械的寸法で出して
おく。而して、非接触変位計１９で非接触変位計１９と
電子銃１１の外径までの距離Ａを測定し、その時の出力
電圧ｖｌを求める。
次に、回転装置１４の回転板１５を回転して非接触変位
計１９を１８０°回転する（第２図の２点鎖線で示す位
置）。この場合、回転装置１４の回転軸とカラー受像管
の中心軸１３が同一軸上にあるため、１８０°回転援の
非接触変位計１９′とカラー受像管の中心軸１３までの
距離Ｃ′はｃ’−ｃとなる。而して、１８０°回転した
状態の非接触変位計１９′で非接触変位計Ｊ ９’と電
子銃１１の外径までの距離Ｂを測定し、その時の出力電
圧ｖ３を求め、この電圧Ｖ、が電圧ｖ１と同一値なるよ
うに非接触変位計１９′をスライドテーブル１６で移動
し、その時の移動量をマイクロメータ１ｒで測定する。
計１９を１８０°回転する（第２図の２点鎖線で示す位
置）。この場合、回転装置１４の回転軸とカラー受像管
の中心軸１３が同一軸上にあるため、１８０°回転援の
非接触変位計１９′とカラー受像管の中心軸１３までの
距離Ｃ′はｃ’−ｃとなる。而して、１８０°回転した
状態の非接触変位計１９′で非接触変位計Ｊ ９’と電
子銃１１の外径までの距離Ｂを測定し、その時の出力電
圧ｖ３を求め、この電圧Ｖ、が電圧ｖ１と同一値なるよ
うに非接触変位計１９′をスライドテーブル１６で移動
し、その時の移動量をマイクロメータ１ｒで測定する。
このマイクロメータ１２で測定した移動量が電子銃１１
のカラー受像管の中心軸１３に対するずれ量となる。
のカラー受像管の中心軸１３に対するずれ量となる。
このように、１個の非接触変位計１９を使用し、この非
接触変位計１９をスライドさせて出力電圧が同一となる
間に移動する距離を読みとる方法であるため、リニアリ
ティ等の出力特性が変動しても、そのたびに校正するこ
となく電子銃位置の測定が可能である。
接触変位計１９をスライドさせて出力電圧が同一となる
間に移動する距離を読みとる方法であるため、リニアリ
ティ等の出力特性が変動しても、そのたびに校正するこ
となく電子銃位置の測定が可能である。
なお、前記非接触変位計は第３図に示すように、トラン
スデユーサ２３とエレクトロニクス部２４から成ってい
る。このエレクトロニクス部２４はオツシレータデイモ
ジュレータから構成され、又、前記トランスデユーサ２
ＳはインＣ−ダンスブリッジ回路であり、ＩＭＨｚのキ
ャリアシグナルによって励磁され、トランスデユーサ２
３内の２つのコイル２５．２６がブリッジの２つのアー
ムを構成している。１ ｋｍｚのキャリアシグナルによ
るブリッジ出力はコイルインピーダンスによって決めら
れ、コイルインピーダンス、特にアクティブコイル２６
のインピーダンスは被測定物であるターグツ）Ｊ７によ
って決められる。その結果、ＩＭＨ！のブリッジ出力は
整調され、リニアライズされて、測定器のアナログ出力
Ｖとなる。そしてこれはターグット２ｒの変位に応じて
逆賛化する。例えば測定器の出力Ｖは通常最小変位（最
大距離）に対して１０１００Ｏ，最大変位（最小距離）
に対してＯｍＶである。トランスデユーサ２Ｓとターグ
ット２ｒの間にはＩ ＭＨｚの磁場Ｈが存在する。
スデユーサ２３とエレクトロニクス部２４から成ってい
る。このエレクトロニクス部２４はオツシレータデイモ
ジュレータから構成され、又、前記トランスデユーサ２
ＳはインＣ−ダンスブリッジ回路であり、ＩＭＨｚのキ
ャリアシグナルによって励磁され、トランスデユーサ２
３内の２つのコイル２５．２６がブリッジの２つのアー
ムを構成している。１ ｋｍｚのキャリアシグナルによ
るブリッジ出力はコイルインピーダンスによって決めら
れ、コイルインピーダンス、特にアクティブコイル２６
のインピーダンスは被測定物であるターグツ）Ｊ７によ
って決められる。その結果、ＩＭＨ！のブリッジ出力は
整調され、リニアライズされて、測定器のアナログ出力
Ｖとなる。そしてこれはターグット２ｒの変位に応じて
逆賛化する。例えば測定器の出力Ｖは通常最小変位（最
大距離）に対して１０１００Ｏ，最大変位（最小距離）
に対してＯｍＶである。トランスデユーサ２Ｓとターグ
ット２ｒの間にはＩ ＭＨｚの磁場Ｈが存在する。
以上述べたように本発明によれば１個の非接触変位計を
使用し、リニアリティ等の出力特性゛が変動してもその
たびに校正することなく電子銃位置を正確に測定できる
電子銃位置測定方法を提供することができる。
使用し、リニアリティ等の出力特性゛が変動してもその
たびに校正することなく電子銃位置を正確に測定できる
電子銃位置測定方法を提供することができる。
第１図は従来の電子銃位置測定装置を示す構成説明図、
第２図は本発明に係る電子銃位置測定装置の一例を示す
構成説明図、第３図は本発明に用いる非接触変位計の一
例を示す構成説明図である。 １１−電子銃、１２・−カラー受倫管ネック部、１４・
一回転装置、１５・・・回転板、１６−スライトテーブ
ル、１１−マイク四メータ、１９・−非接触変位針。
第２図は本発明に係る電子銃位置測定装置の一例を示す
構成説明図、第３図は本発明に用いる非接触変位計の一
例を示す構成説明図である。 １１−電子銃、１２・−カラー受倫管ネック部、１４・
一回転装置、１５・・・回転板、１６−スライトテーブ
ル、１１−マイク四メータ、１９・−非接触変位針。
Claims (1)
- 電子銃を有するカラー受像管を固定し、このカラー受倫
管ネッタ部外方に対向して非接触変位計を配置し、この
非接触変位計に電子銃の外径との距離に対応した第１の
出力を求め、その後、前記非接触変位針を前記カラー受
像管の中心軸を中心に１８０°回転した後、非接触変位
針と電子銃の外径との距離に対応した第２の出力を求め
、この第２の出力が前記第１の出力と同一値になるよう
に非接触変位計を移動してその移動量を測定することを
特徴とする電子銃位置測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15511981A JPS5855807A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 電子銃位置測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15511981A JPS5855807A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 電子銃位置測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5855807A true JPS5855807A (ja) | 1983-04-02 |
Family
ID=15598983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15511981A Pending JPS5855807A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 電子銃位置測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5855807A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5245955A (en) * | 1975-10-08 | 1977-04-12 | Toshiba Corp | Method for measuring characteristics of round test piece without any c ontact |
-
1981
- 1981-09-30 JP JP15511981A patent/JPS5855807A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5245955A (en) * | 1975-10-08 | 1977-04-12 | Toshiba Corp | Method for measuring characteristics of round test piece without any c ontact |
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