JPS5856432B2 - 試験装置用試験片取付けジグ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ベースプレートを備え、このベースプレート
上に、２個の試料片拘束用クランプを移動自在に対向配
置した試験装置用の試料片取付ジグに関するものである
。

試験装置における試料片拘束用の機械的ジグは多くの構
造が知られ、例えばくさび形締付は具、及び二個の締付
板寸たはクランプを備えたジグが知ら力、これらのクラ
ンプは相互にネジで締付けられ、試料片はこれらのクラ
ンプの中間に拘束される。

この様なジグの一種においては、両方のクランプは弾性
ステーを介して、ベースプレー）Ｋ連接されている。

このベースプレートは試験装置の締付はヘッドに固着さ
れてい亀例えばねじで締付けられている。

両方のクランプの間隔はそのステ一連結（ハ）故に実際
士一定であるから、厚さの相違する各種試料に対しては
中間プレー）または添板を使用しなければならない。

故に、この種のジグは、特に一定寸法の試料片について
のみ使用される。

試料片寸法の無段変更は不可能である。他の公知のジグ
においては、試料片拘束用クランプは上記と異る方法で
ベースブレード上に配置されている。

例えば、ベースプレートのみそ大の中に導入されたネジ
をもってベースプレート上に固定されている。

この構造によれば、試料寸法は無段変更できるのである
が、１つの試料片の取付に際して両方いクランプをベー
スプレートから解除して、新たに設置しなければならな
い。

これはめんどうであり、寸た時間を要する。

その上、６立て取付を実施し、従って試料片に対して精
密な定心把持を実施しなければならない場合には、特別
の注意を払わなければならない。

本発明の目的は、従来技術の上述の欠点を除去した試験
装置にｐける試料片取付ジグを提供するにある。

この取付ジグは特に操作が容易である事、試料寸法の無
段変更が可能である事が必要であり、その際、クランプ
とベースプレートの間の応力の損失が防止される事、昔
た試料に対する定心強力把持を保証するものでなければ
ならない。

本発明によれば、クランプとその固着機素がスライダ層
を介してベースプレートに連結され、またこのクランプ
に対し螺合することなく貫通するように、クランプ案内
／拘束／解除用スピンドルが配置される事により、上記
の課題が解決される。

本発明の解決法により、公知のジグ構造に対して多くの
利点が得られる。

クランプ乃至はその固着機素とベースプレートとの間に
特殊スライダ層を配置する事により、クランプをベース
プレートに固定した固定機素を予め解除する事なく、ベ
ースプレート上においてクランプを移動させる事が可能
となる。

このスライダ層は非常に低い摩擦係数を示す。

この故に、引張り試験において必要とされるクランプ／
ベースプレー１間応力に釦いてさえも、クランプ固定ね
じな緩める事なく、ベースプレート上においてクランプ
を移動させる事が可能である。

もう１つの利点は、例えば引張／圧縮荷重によって横方
向拡張の生じる場合に、拘束個所に試料を定位した際、
この試料の拘束確実性が少しも本質的に影響されない事
である。

これは、試料をクランプ間に拘束する応力要素の弾性の
故にクランプが自動的に事後定位されるからである。

斗たこのクランプに対し螺合することなしにスピンドル
を配置した事により、試料を定心拘束する事が簡単に可
能となるので、試料に対する偏心的強力把持が防止され
る。

更に、最も簡単な場合には、クランプ間に試料を拘束゛
し、同時にこれらクランプの定心的案内を実施するには
、単一の応力要素、即とスピンドルだけで十分であると
いう利点がある。

本発明の特許請求の範囲第２項に記載の構造により、試
料の定心拘束の為のクランプ案内機構い製造が容易とな
り、試料片取付ジグの構造が簡単となり、寸たその製作
費が低減される。

上記のスライダ層としては、ベースプレー）ｔたはクラ
ンプに対して配設可能の、ボリア□ドまたはＰＴＥＥな
とのプラスチック層を使用する事が合理的である。

これらの層は、高圧縮応力に際して、特にすぐれた耐摩
性を示す。

本発明の他の好寸しい実施態様においては、試料をクラ
ンプに拘束する為の追加的クランプねじなスピンドルに
近接して配置する。

これにより、拘束力と、従って伝達可能の試験応力とを
本質的に向上させる事ができる。

本発明の有利な実施態様として、スピンドル及び／オタ
は追加クランプねじがバネを介してクランプに対して作
用する様にする。

この場合、バネはサラバネ芽たはサラバネ束体として製
造する事が好オしい。

この構造により、試験に際して締付個所でい試料片断面
積の変動が著しい場合でも、拘束力を一定に保持する事
ができる。

この場合、小容積Ｖサラバネで高いバネ応力を得る事が
できる。

以下本発明を図面に示す実施例について更に詳細に説明
する。

試験装置に訃いては、通常、二個のジグが備えられ、こ
れらのジグは試験装置の拘束ヘッドに増付けらねる。

試料の両端は上記のジグの中に捕捉され拘束される。

一般に、一方のジグは試験装置の荷重装置と連結され、
他方０ジグは、試験装置の固定部、例えばフレームに対
して、多くの場合、応力測定装置を介して、連結される
。

この様にして、試験装置から被験構造物へ所望の荷重が
上記のジグを介して伝達される。

第１図に示す耶付ジグは、図示されていない試験装置の
フレームｉたは荷重装置１上に取付けられている。

例えば長方形のベースプレート２が。適当な方法で、例
えばボルト３によって、荷重装置１に対して固着されて
いるが、この場合、ベースプレート用の図示されていな
い心出し装置を備える事ができる。

プラスチックから成るスライダ層４，４′がベースプレ
ート２の上に形成されている。

このプラスチックとしては、例えばポリイミド及びポリ
テトラフルオルエチレン（ＰＴＦＥ）が考えられる。

しかし、高い耐摩性と共に低い摩擦係数を有する他の適
当なプラスチック曾たはスライダ層に適した他の適邑な
材料を使用する事ができる。

これらのスライダ層４，４’（７’ｌ上に、クランプ５
，５′が固定ねじ６によってベースプレート２と連結さ
れている。

各クランプに備えられる固定ねじの数は、本増付ジクな
通して加えられる応力の大きさによって決定される。

これらのクランプ５，５′に対して締付板ｉｓ、ｉｓ’
が増付けられ、これらの締付板によって試料１６が把
持され拘束される。

筐たクランプ５，５′は直接に試料１６を把持する事が
できる。

試料が拘束された後、この試料１６に対して１両頭矢印
Ｆで示された試験応力を加える事ができる。

固定ねじ６は、ベースプレート２の縦方向みぞ穴８の中
に挿通され、クランプを押す際に横方向に同時に移動す
る事ができる。

固定ねじ６とともにベースプレート２を挾持するボルト
頭部１と尚接スるベースプレート面の上に、スライダ層
９が備えられている。

このスライダ層の故に、クランプの横方向移動に際して
、ボルト頭部７はクランプそのものと同様に軽く移動す
る事ができる。

この場合、ボルト頭部７に座金１０を配設する事ができ
る。

ホ付ジグ０固定ねじ６の総数と初応力は、一方において
、所望の試験応力を加える事を可能にし、他方において
、初応力下においてもクランプの横方向移動を可能にす
る様に選定される。

上記のスライダ層が低摩擦係数を示すのであるから、こ
れらの両方の要件を満す事ができる。

捷たスライダ面は、ベースプレートの上ではすく、クラ
ンプ上に配置する事ができる。

ベースプレート２に対して案内ブロック２０が固着され
ている。

この案内ブロック２０は内面ねじ山２１（案内ねじ山）
を備え、その中に、外面ねじ山２１′を備えたスピンド
ル２２が係合してる。

このスピンドル２２の一端には、図において左側に配置
されたクランプ５の駆動部材２３．２３’が備えられて
いる。

その場合、駆動部材２３はスピンドル設置用頭部として
作られ、例えば６辺を備える事ができる。

駆動部材２３′は拘束解除の為に使用され、適当な方法
で、例えば止め部材を介して、スピンドルのねじ山上に
国定されている。

スピンドル２２の外側末端には、案内ねじ山２１と同方
向ねじて、しかもねじ山２１′の二倍のピッチを有し、
かつねじ山２１′より小径の外側ねじ山２４′が備えら
れている。

この外側ねじ山２４′は、クランプ５′に増付けられた
止めナット２５内部の内側ねじ山２４の中に係合してい
る。

上述の如きスピンドルとスピンドルねじ山の構造の故に
、試料１６をクランプ５，５′に把持する場合には、駆
動部材２３を介してスピンドル２２を回動することによ
り、止めナツト２５とともにクランプ５′が試料１６に
接する左方向へ移動する。

一方、案内ブロック２０に係合するねじ山２１゜２１′
によりクランプ５，５′は相対的に右方向に移動し、こ
の右方向移動量は、ねじ山２４ 、２４’のピッチがね
じ山２１，２１’のピッチの二倍であることからクラン
プ５′（ハ）移動量の１／２となり、試料１６を自動的
に定心把持する。

すなわち、クランプ５の右方向へい移動量とクランプ５
′の左方向への移動量は相互に等しくなる。

各クランプ５，５′の内部にはサラばね束体２６．２６
’が配置され、スピンドル２２はその内部に挿通されて
いる。

上記の駆動部材２３と止めナツト２５はこれらのサラば
ね束体に浩接している。

この故に、スピンドル２２は、各クランプ５．５′に対
して直接に作用するのでなく、サラばね束体２６，２６
’を介して作用する。

この故に、テスト中の試料拘束個所の試料ｌ！ｆＩｆｆ
ｉが変化しても耶付ジグの応力は十分に均一となる。

止めナツト２５はクランプ５′に図示しない止めねじに
より皿ばね２６′のばね圧に抗して取付けし、スピンド
ルねじ山２４′を螺着する。

この様にして、サラばね束体白圧縮が生じうる。

拘束解除に際して、クランプ５′から止めナツト２５の
固定用の図示しない止めねじをホリはずして止めナツト
２５を皿ばね２６′の弛緩方向に回動後、この皿ばね２
６′の弛緩外を残して再度前記止めねじでこの止めナツ
ト２５をクランプ５′に仮止めし、スピンドル２２によ
るクランプ５．５’ ｆｌ解放を補助する。

従って、止めナツト２５は、反対側いクランプ駆動部材
２３．２３’と同様の機能を果す。

小応力に際しては、試料の緊張の為にはスピンドル２２
だけで十分である。

より大きい応力が必要な場合、試料の拘束のため、スピ
ンドル２２に隣接して、クランプ５，５′に付加的にク
ランプねじ２７を備える事ができる。

これらのクランプねじはスピンドル２２と同様に、サラ
ばね捷たはバネ束体を介在させてクランプ５，５′と結
合□れ、クランプの反対側に配置された対応の止めナツ
ト２８の中に係合させる事ができる。

この場合、追加クランプねじ２７とスピンドル２２に対
して共通の止めナツトを備える事ができる。

なお、この追加クランプねじ２７はクランプ５，５′と
の貫通取付けに際し、案内ブロック２０に相邑するガイ
ドは不要である。

第２図は、第１図に図示された耶付ジグの側面を示す。

この場合特に、追加クランプねじ２７の可能な配置法が
見られる。

これらの追加クランプねじ２１はサラバネ乃至バネ束体
２６“を介して、クランプ５に作用する。

第２図の番号は第１図の場合と同様の部品を示す。

以上説明したように、本発明は、試料拘束用クランプに
移動用ねじ加工を不要とする簡単な構成で、試料寸法の
無段変更による対応を容易にするとともに、このクラン
プ内に設けたばねにより試験中の試料断面積変動による
把持滑りを防止することができ、さらにクランプ移動用
スピンドルとベースプレートの案内ブロックとの保合に
より試料を自動的に定心へ把持することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による試料片取付はジグの断面図、捷た
第２図はその側面図である。 １・・・・・・Ｅ験装ｆｉフレーム、２・・・・・・ベ
ースプレート、４・・・・・・スライダ層、５，５′
・・・・・・クランプ、６・・・・・・固定ねム ８・
・・・・・みぞ穴、９・・・・・・スライダ層、１６・
・・・・・試料片、２０・・・・・・東向ブロック、２
１．２１’、２４，２４’・・・・・・ねじ山、２２・
・・・・・スピンドル、２３，２３’・・・・・・駆動
部材、２５・・・・・・止めナツト、２６．２６’、２
６“・・・・・・サラバネ束体、２７・・・・・・クラ
ンプねじ、２８・・・・・・止めナツト。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ベースプレートを備え、このベースプレート上に２
   個の試料片取付用クランプが移動自在に対向配置される
   ようにした試験装置用試料片取付はジグにトいて、前記
   の両クランプ５５′に設けたクランプ用固定ねじ６をベ
   ースプレート２の縦方向みぞ穴８内に挿通してベースプ
   レート２を挾持するようにし、クランプ５，５′および
   固定ねじ６はそれぞれスライダ層４４′ ９を介してベ
   ースプレート２と接合しており、上記の両クランプ５５
   ′には両クランプ５，５′に対し相対移動し得るように
   スピンドル２２を挿通し、このスピンドル２２は、ベー
   スプレート２上の案内ブロック２０の中を、ねじ山２１
   ．２１’によって案内され、上記スピンドル２２の一端
   は、上記案内ねじ山２１２１′の二倍のピンチを有する
   ねじ山２４′を備えて、一方のクランプ５′に着脱自在
   に設けた止めナンド２５に螺合し、オた上記スピンドル
   ２２ （Ｄ他端ハ他方のクランプ５用駆動部材２３．２
   ３’を備え、上記スピンドル２２の回動により前記クラ
   ンプ５５′を定心的に案内するようにしたことを特徴と
   する試験装置用試料片取付はジグ。 ２ スピンドル２２の近傍に、試料片１６拘束用追加ク
   ランプねじ２γがクランプ５，５′に配設されている事
   を特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の試料片取付
   はジグ。 ３ スピンドル２２及び／または上記追カロクランプね
   じ２７は、バネ２６２６’２σ′を介してクランプ５，
   ５′に作用する事を特徴とする特許請求の範囲第１項に
   記載の試料片取付はジグ。 ４ 上記のバネ２６乃至２６Ｉ′はサラバネまたはサラ
   バネ束体として形成される事を特徴とする特許請求の範
   囲第３項に記載の試料片取付はジグ。