JPS585648A - 超音波顕微鏡 - Google Patents
超音波顕微鏡Info
- Publication number
- JPS585648A JPS585648A JP56101226A JP10122681A JPS585648A JP S585648 A JPS585648 A JP S585648A JP 56101226 A JP56101226 A JP 56101226A JP 10122681 A JP10122681 A JP 10122681A JP S585648 A JPS585648 A JP S585648A
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- JP
- Japan
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- sample
- medium
- lens
- plate
- spherical lens
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- Pending
Links
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、球面レンズと試料間に介在する媒質の供給な
らびに排除を容易にすることを特徴とする超音波顕微鏡
に関する。
らびに排除を容易にすることを特徴とする超音波顕微鏡
に関する。
近年IGH2VC及ぶ超高周波の音波の発生検出が可能
となったので、水中で約l/Jmの音波長が実現できる
ようKなり、その結果、高い分解能の超音波顕微鏡が可
能となった。
となったので、水中で約l/Jmの音波長が実現できる
ようKなり、その結果、高い分解能の超音波顕微鏡が可
能となった。
すなわち、凹面、レンズを用いて集音ビームを作り、1
μmに及ぶ高い分解能を実現するのである。
μmに及ぶ高い分解能を実現するのである。
このような超音波顕微鏡の概略構成を第1図に本とづい
て述べる。超音波の集束及び送受は球面レンズlにより
行なっているが、その構造は円柱状の熔融f石英等を用
いた物質の一面を光学研磨し、その上に圧電薄膜(例え
ばZIIO)2を上下電極3によりはさむ、このように
サンドウィッチ構造になっている圧電薄膜2にパルス発
振器4から発生されたパルス5を印加して、超音波26
を発生させる。また、他端部は口径0.1mm−1■程
度の凹面状の半球穴が形成されており、この半球穴と試
料7との間には、超音波6を試料7に伝播させるための
媒質(例えば水)8が満されている。
て述べる。超音波の集束及び送受は球面レンズlにより
行なっているが、その構造は円柱状の熔融f石英等を用
いた物質の一面を光学研磨し、その上に圧電薄膜(例え
ばZIIO)2を上下電極3によりはさむ、このように
サンドウィッチ構造になっている圧電薄膜2にパルス発
振器4から発生されたパルス5を印加して、超音波26
を発生させる。また、他端部は口径0.1mm−1■程
度の凹面状の半球穴が形成されており、この半球穴と試
料7との間には、超音波6を試料7に伝播させるための
媒質(例えば水)8が満されている。
圧電薄膜によって発生した超音波6は円柱の中を平面波
となって伝播する。この平面波が半球穴に達すると、石
英(音速約6000m/8)と水(音速約1500m/
’I )との音速の差により屈折作用が生じ、試料7面
上に集束した超音波6を照射することができる。
となって伝播する。この平面波が半球穴に達すると、石
英(音速約6000m/8)と水(音速約1500m/
’I )との音速の差により屈折作用が生じ、試料7面
上に集束した超音波6を照射することができる。
逆に試料7から反射されてくる超音波は球面しンズによ
り集音整相され、平面波となって圧電薄膜2に達し、こ
こでRF信号9に変換される。このRF信号9を受信器
lOで受信し、ここでダイオード検波してビデオ信号1
1に変換し、CRTディスプレイ12の入力信号として
用いる。
り集音整相され、平面波となって圧電薄膜2に達し、こ
こでRF信号9に変換される。このRF信号9を受信器
lOで受信し、ここでダイオード検波してビデオ信号1
1に変換し、CRTディスプレイ12の入力信号として
用いる。
このように構成された装置において、試料7が試料台7
′の駆動電源13によりx−y平面内で2次元に走査し
ていると試料の走査にともなう試料面からの反射の強弱
が2次元的にCRT面12に表示される。
′の駆動電源13によりx−y平面内で2次元に走査し
ていると試料の走査にともなう試料面からの反射の強弱
が2次元的にCRT面12に表示される。
試料7の走査速度は高速であるほど、一画面を形成する
時間が短時間ですみ、操作性の向上につながるが、従来
、一般に使用されている試料7の走査方法は機械的に行
なっているために走査速度も、X軸走査を数10H2X
y軸走査を約10秒で行なっている。
時間が短時間ですみ、操作性の向上につながるが、従来
、一般に使用されている試料7の走査方法は機械的に行
なっているために走査速度も、X軸走査を数10H2X
y軸走査を約10秒で行なっている。
上述の如<、”)’平面に走査している試料K、超音波
を照射し、試料から反射してくる超音波を使って画像表
面する装置において、走査範囲を変えることにより、倍
高を任意に変えることができる。すなわち、低倍率の撮
影を行なうとする場合には、試料の走査範囲を拡大する
と、超音波ビームが照射される範囲が拡まる。その領域
の信号がCRT画面上に表示されるために広視野の像と
なり、低倍率の像となる。
を照射し、試料から反射してくる超音波を使って画像表
面する装置において、走査範囲を変えることにより、倍
高を任意に変えることができる。すなわち、低倍率の撮
影を行なうとする場合には、試料の走査範囲を拡大する
と、超音波ビームが照射される範囲が拡まる。その領域
の信号がCRT画面上に表示されるために広視野の像と
なり、低倍率の像となる。
また、高倍率の撮影を行なうとする場合には前述とは逆
に走査範囲をさだめることKより、狭視野がCRT画面
上に表示されるために高倍率の儂となる。
に走査範囲をさだめることKより、狭視野がCRT画面
上に表示されるために高倍率の儂となる。
このように観察する試料は、その倍高を変えるごとに走
査範囲が変わるが、特に低倍高で観察している場合の球
面レンズ1と試料7との間に挿入されている媒質8は試
料7の動きにともなって、その界面が走査にともなって
移動するためKゆらぎを生ずる。即ち、第2図(a)は
、そのゆらぎが生じない場合であり、第2図(b)及び
(C)はそれぞれ図の矢印に走査したときのゆらぎを示
している。
査範囲が変わるが、特に低倍高で観察している場合の球
面レンズ1と試料7との間に挿入されている媒質8は試
料7の動きにともなって、その界面が走査にともなって
移動するためKゆらぎを生ずる。即ち、第2図(a)は
、そのゆらぎが生じない場合であり、第2図(b)及び
(C)はそれぞれ図の矢印に走査したときのゆらぎを示
している。
このように、走査中に媒質8がたえずゆらぐことは、球
面レンズlの凹穴面から球面波となって試料7の面上に
放射される超音波6に″大きな影響をあたえ、完全な集
束ビームを作成することがむずかしくなってくる、また
、試料7からの反射波の集音にも影響をあたえ、信号強
度の減衰の原因となる。
面レンズlの凹穴面から球面波となって試料7の面上に
放射される超音波6に″大きな影響をあたえ、完全な集
束ビームを作成することがむずかしくなってくる、また
、試料7からの反射波の集音にも影響をあたえ、信号強
度の減衰の原因となる。
本発明は、以上の点を鑑みてなされた蟻ので、試料走査
中における球面レンズと試料間に介在する媒質のゆらぎ
を防止するとともに媒質の給排水を容易にかつ確実に行
なうことを目的とする。
中における球面レンズと試料間に介在する媒質のゆらぎ
を防止するとともに媒質の給排水を容易にかつ確実に行
なうことを目的とする。
第3図(a)〜(C)は本発明に係る一実施例を示す図
である。
である。
第3図(a)は球面レンズ1の先端部を拡大し、詳細に
示したものである。球面レンズ1の先端部に補助板14
を設ける、この補助板14には微細口径のパイプ15が
とりつけてあり、このパイプの他端部はポンプ16に接
続している。
示したものである。球面レンズ1の先端部に補助板14
を設ける、この補助板14には微細口径のパイプ15が
とりつけてあり、このパイプの他端部はポンプ16に接
続している。
このように構成された球面レンズlを試料面上に近づけ
た状態においても、補助板14は試料7には接触しない
位置、すなわち、球面レンズ1の焦点距離以上離した個
所に補助板14を固定する。
た状態においても、補助板14は試料7には接触しない
位置、すなわち、球面レンズ1の焦点距離以上離した個
所に補助板14を固定する。
球面レンズ1を試料面上に設定した状態で、ポンプ16
より媒質8を供給すると、媒質8は球面レンズ1と試料
7との間では第3図の)及び(C)に示すような状態に
貯えられる。この結果、媒質8が表面張力によって作る
界面は超音波ビームの通路からかクリはなれた位置とな
るために、たとえ試料7の走査中に媒質8がゆらいだと
しても、その影響を超音波ビーム6にはあたえることが
なくなり、たえず媒質8を球面レンズ1と試料7の間に
安定して保持できる。
より媒質8を供給すると、媒質8は球面レンズ1と試料
7との間では第3図の)及び(C)に示すような状態に
貯えられる。この結果、媒質8が表面張力によって作る
界面は超音波ビームの通路からかクリはなれた位置とな
るために、たとえ試料7の走査中に媒質8がゆらいだと
しても、その影響を超音波ビーム6にはあたえることが
なくなり、たえず媒質8を球面レンズ1と試料7の間に
安定して保持できる。
以上の説明は補助板が平板の場合について述べたが、補
助板の形状は必ずしも平板でなく、わん曲したものであ
っても同一効果の期待できることは云うまでもない。
助板の形状は必ずしも平板でなく、わん曲したものであ
っても同一効果の期待できることは云うまでもない。
次に、媒質8を排除したい場合においては、ポンプ16
を動作させて排水すると、補助板14と試料7′の間に
ある媒質8は容易に排除することができる。媒質8を排
除してから、さらにポンプ16から、乾燥した空気を送
りこむことにより、観察時釦媒質8に浸されていた試料
面や球面レンズの凹穴部分は即時に乾燥してしまうため
に、はこりの耐着する問題本なくなり、長時間安定に装
置を動作させることが可能となり、本発明の実用上の効
果は大である。
を動作させて排水すると、補助板14と試料7′の間に
ある媒質8は容易に排除することができる。媒質8を排
除してから、さらにポンプ16から、乾燥した空気を送
りこむことにより、観察時釦媒質8に浸されていた試料
面や球面レンズの凹穴部分は即時に乾燥してしまうため
に、はこりの耐着する問題本なくなり、長時間安定に装
置を動作させることが可能となり、本発明の実用上の効
果は大である。
〜(C)は本発明の一実施例を説明するための図であ第
1 図 ’zz 口 第 3121
1 図 ’zz 口 第 3121
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、機械走査型超音波顕微鏡において、その球面レンズ
の先端部に補助板を配置し、該補助板と試料との間に超
音波伝播媒質を介在できるようにしたことを特徴とする
超音波顕微鏡。 2 上記補助板の一部より、超音波伝播媒質の供給およ
び排除を行なう手段を設けたことを特徴とする特許請求
の範囲第4項記載の超音波顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56101226A JPS585648A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 超音波顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56101226A JPS585648A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 超音波顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS585648A true JPS585648A (ja) | 1983-01-13 |
Family
ID=14294979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56101226A Pending JPS585648A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 超音波顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS585648A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60145195A (ja) * | 1984-01-06 | 1985-07-31 | 松下電器産業株式会社 | 衣類乾燥機 |
-
1981
- 1981-07-01 JP JP56101226A patent/JPS585648A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60145195A (ja) * | 1984-01-06 | 1985-07-31 | 松下電器産業株式会社 | 衣類乾燥機 |
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