JPS5857722A - 半導体磁器コンデンサの半導体磁器及びその製造方法 - Google Patents
半導体磁器コンデンサの半導体磁器及びその製造方法Info
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- JPS5857722A JPS5857722A JP15640281A JP15640281A JPS5857722A JP S5857722 A JPS5857722 A JP S5857722A JP 15640281 A JP15640281 A JP 15640281A JP 15640281 A JP15640281 A JP 15640281A JP S5857722 A JPS5857722 A JP S5857722A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、見掛は比誘電率が大きく、損失が低く、誘電
率の温度変化率が小さいチタン酸ストロンチウム系の粒
界層型(境界層型)半導体alBl磁器コンデンサ器及
びその製造方法に関するものである。
率の温度変化率が小さいチタン酸ストロンチウム系の粒
界層型(境界層型)半導体alBl磁器コンデンサ器及
びその製造方法に関するものである。
コンデンサの小型化の要求に応えるために、例えば、B
aTi0.系えん層容量型コンデンサ、BaTi0゜系
還元再酸化型コンデンサ、BaTi0.粒界絶縁型コン
デンサ、 5rTiO,米粒界層型コンデンす等が開発
されている。これ等の内の1つの8rTiO,果粒界層
型半導体g磁器コンデンサとして、特公昭55−254
89号公報に示されている8rTi(J、 、 Nb、
0.、(3eO。
aTi0.系えん層容量型コンデンサ、BaTi0゜系
還元再酸化型コンデンサ、BaTi0.粒界絶縁型コン
デンサ、 5rTiO,米粒界層型コンデンす等が開発
されている。これ等の内の1つの8rTiO,果粒界層
型半導体g磁器コンデンサとして、特公昭55−254
89号公報に示されている8rTi(J、 、 Nb、
0.、(3eO。
から成る磁器の結晶粒界にPbO1Hr 、 OB、
Ba Osを含有させてなる半導体磁器は、Hai”i
o、系半導体F7B5コンデンサとほぼ同じ見掛は比w
sx率′55000〜65.000を有し、且っ8r’
l’i0.常誘電体を使用しているため小型で損失係数
−δが小さく且つ比誘電率の温度特性も良好なコンデン
サを提供することが出来る。従って、このtB磁器コン
デンサマイラコンデンサの領域に使用することが可能に
なり、磁器コンデンサの市場が一段と拡大された。しか
し、アルi電解コ、ンデンサ、タンタルコンデンサ等の
代りに磁器コンデンサを使用するために、見掛は比誘電
率の一層の向上がg!求されている。
Ba Osを含有させてなる半導体磁器は、Hai”i
o、系半導体F7B5コンデンサとほぼ同じ見掛は比w
sx率′55000〜65.000を有し、且っ8r’
l’i0.常誘電体を使用しているため小型で損失係数
−δが小さく且つ比誘電率の温度特性も良好なコンデン
サを提供することが出来る。従って、このtB磁器コン
デンサマイラコンデンサの領域に使用することが可能に
なり、磁器コンデンサの市場が一段と拡大された。しか
し、アルi電解コ、ンデンサ、タンタルコンデンサ等の
代りに磁器コンデンサを使用するために、見掛は比誘電
率の一層の向上がg!求されている。
そこで、本発明の目的は、見掛は比誘電率の高い8rT
iO,系粒界層型半導体出器コンデンサのための磁器及
びその製造方法を提供することにある。
iO,系粒界層型半導体出器コンデンサのための磁器及
びその製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するための本願の第1番目の発明は、5
rTiO,90,68〜99.88 k葉%、Nb、0
.0.07〜5.32重量%、及びGem、 0.05
〜4.00巾賃%でlOO電量%となる組成の主成分1
00重量部と、副成分として、8iU、の重量部/Al
、(J、の重量部が1.5〜5となるように前記SjO
,0,02〜0.1O重量部及び前記AI、0.0.0
1〜0.03重量部と、な含有し、且つ半導体結晶粒界
に、PbOとHi、(1,とB。
rTiO,90,68〜99.88 k葉%、Nb、0
.0.07〜5.32重量%、及びGem、 0.05
〜4.00巾賃%でlOO電量%となる組成の主成分1
00重量部と、副成分として、8iU、の重量部/Al
、(J、の重量部が1.5〜5となるように前記SjO
,0,02〜0.1O重量部及び前記AI、0.0.0
1〜0.03重量部と、な含有し、且つ半導体結晶粒界
に、PbOとHi、(1,とB。
01 とから成る絶縁化物質を、FbU 11.0〜
58重1%、Bi、0,39.0〜86,9 重kt%
、B、U、 0.3〜3.5重量%で100重量%とな
な組成比で前記主成分と前記1ii11成分との合計1
00.il重量部対して0.3〜5 mli部含有し
ていることを%黴とする半導#磁器コンデンサの半導体
l器に係わるものである。
58重1%、Bi、0,39.0〜86,9 重kt%
、B、U、 0.3〜3.5重量%で100重量%とな
な組成比で前記主成分と前記1ii11成分との合計1
00.il重量部対して0.3〜5 mli部含有し
ていることを%黴とする半導#磁器コンデンサの半導体
l器に係わるものである。
上記本発明によれば、主成分と、副成分と、絶縁化物質
とを特定された状QK合有させることにより、−δと抵
抗率を良好に保った状態で見掛は比gw率を増大させる
ことが可能になり、例えば、見mけ比誘電率が約100
,000以上、−δが1%以下、抵抗率が1011Ω・
百以上の半導体磁器コンデンサを提供することが可能に
なる。
とを特定された状QK合有させることにより、−δと抵
抗率を良好に保った状態で見掛は比gw率を増大させる
ことが可能になり、例えば、見mけ比誘電率が約100
,000以上、−δが1%以下、抵抗率が1011Ω・
百以上の半導体磁器コンデンサを提供することが可能に
なる。
本願の第2番目の発明は、上記半導体磁器を製造する方
法に係わるものであり、PbO,Bi、0.、及びB、
0.又はこれ等を得ることが出来る物質を含むペースト
を半導体磁器の表面に塗布し、拡散することによって半
導体結晶粒界にPbO、B輸0. 、及びB、 U、を
含有させることを%轍とするものである。
法に係わるものであり、PbO,Bi、0.、及びB、
0.又はこれ等を得ることが出来る物質を含むペースト
を半導体磁器の表面に塗布し、拡散することによって半
導体結晶粒界にPbO、B輸0. 、及びB、 U、を
含有させることを%轍とするものである。
この方法によれば、所望特性の半導体磁器を容易に得る
ことが可能になる。
ことが可能になる。
ところで、上記本発明は次の憬な経緯によって完成した
。一般に、粒界層型半導体磁器コンデンサの場合、見掛
けの比誘電率(1□社)は、複雑で半導体部の結晶粒子
の大きさくUr)と粒界層の厚み(Bt)と、粒界層に
偏析する物質の比誘電率(gb)とで決定され、次式で
示される。
。一般に、粒界層型半導体磁器コンデンサの場合、見掛
けの比誘電率(1□社)は、複雑で半導体部の結晶粒子
の大きさくUr)と粒界層の厚み(Bt)と、粒界層に
偏析する物質の比誘電率(gb)とで決定され、次式で
示される。
従って、見掛は比時電車を太さくするには、半導体部の
結晶粒子を大きくすること、粒界I−の厚みを薄くする
こと、粒界層Km析するW*の比誘電率を大きくするこ
とが重要である0本願出願人等に係わる繭述の特公昭5
5−25489号公報に示されている8rTiO,系半
導体磁器コンデンサでは、粒界偏析物なりi、0.又は
PbO−B11U、−B、U、系の複合組成とすること
によって粒界層の比誘電率が大きくなり、結果として性
能良好なコンデンサが得られた。又、8rTi04系の
半導体磁器の結晶粒子を太き(する物質として、hbl
ol 、Qeolの組合せが良いことを示した。この時
の8rTiO,系半導体磁器の結晶粒子径は40〜60
μmである。尚これ以上の大きさKなるものもあるが、
小さいものも混在し、結果として、40〜60μm程度
の結晶粒子に基づく見掛けの比誘電率しか得られない。
結晶粒子を大きくすること、粒界I−の厚みを薄くする
こと、粒界層Km析するW*の比誘電率を大きくするこ
とが重要である0本願出願人等に係わる繭述の特公昭5
5−25489号公報に示されている8rTiO,系半
導体磁器コンデンサでは、粒界偏析物なりi、0.又は
PbO−B11U、−B、U、系の複合組成とすること
によって粒界層の比誘電率が大きくなり、結果として性
能良好なコンデンサが得られた。又、8rTi04系の
半導体磁器の結晶粒子を太き(する物質として、hbl
ol 、Qeolの組合せが良いことを示した。この時
の8rTiO,系半導体磁器の結晶粒子径は40〜60
μmである。尚これ以上の大きさKなるものもあるが、
小さいものも混在し、結果として、40〜60μm程度
の結晶粒子に基づく見掛けの比誘電率しか得られない。
そこで、結晶粒子な更に大きくすることについて種々の
実験及び検討を行った。その中の1つとして、ポールミ
ルで牛導体随器p料を混合する時に磁器ボーミルから混
入する微量のAl、0. 、8i0.がどのように影響
するかを検討した。従来、ボールンルで半導体磁器原料
を混合する際に、メディアの不純物としてAI、0.
、8i0.が混入することは知られており、これ等が合
計で1電量%以下であれば特性上問題ないとされていた
。しかし、本願発明者が、ゴムライニングポールを用い
て810!とAI、0.のメディアからの混入を阻止し
、令名不純物として混入されていたAt、0.とSin
、と結晶粒子との関係を調べたところ、主成分が5rT
iO,とr′Ilb。
実験及び検討を行った。その中の1つとして、ポールミ
ルで牛導体随器p料を混合する時に磁器ボーミルから混
入する微量のAl、0. 、8i0.がどのように影響
するかを検討した。従来、ボールンルで半導体磁器原料
を混合する際に、メディアの不純物としてAI、0.
、8i0.が混入することは知られており、これ等が合
計で1電量%以下であれば特性上問題ないとされていた
。しかし、本願発明者が、ゴムライニングポールを用い
て810!とAI、0.のメディアからの混入を阻止し
、令名不純物として混入されていたAt、0.とSin
、と結晶粒子との関係を調べたところ、主成分が5rT
iO,とr′Ilb。
OIとGem、とから成り、絶縁化物質がPbOとBi
Rヘヰ 0、とから成る半導体磁器に於いては、AI!Usと別
0、との間に極めて重要な関係があることが判明した。
Rヘヰ 0、とから成る半導体磁器に於いては、AI!Usと別
0、との間に極めて重要な関係があることが判明した。
即ち、8 io、/ Aj、 0.のt−m比が1.5
〜5となる範囲で且つ100重量部の主成分に対してS
in。
〜5となる範囲で且つ100重量部の主成分に対してS
in。
な0.02〜0.lO重蓋部、At、0.を0.01〜
0.03重量部の範囲で付加すれば、−一及び抵抗率を
良好に保った上で、半導体結晶粒子を大きくするための
添加物Nb、O,、Ge0tの効果を増大させる働きが
生じ、平均結晶粒径が60〜120μmになることが判
った。
0.03重量部の範囲で付加すれば、−一及び抵抗率を
良好に保った上で、半導体結晶粒子を大きくするための
添加物Nb、O,、Ge0tの効果を増大させる働きが
生じ、平均結晶粒径が60〜120μmになることが判
った。
以下、実施例について述べる。
実施例 l
工業用(’) SrT”Os (不純物として、B1、
Fe、Mn、Ca、Na、に等をsrt含有)、N b
、 U、、C1eO,、Sin。
Fe、Mn、Ca、Na、に等をsrt含有)、N b
、 U、、C1eO,、Sin。
及びAI、0.を第1表に示す組成となるように配合し
、これ等に不純物が混入することな防止するためにゴム
ライニングボール使用のゴムライニングミルで湿式混合
なし、乾燥した後、ポリビ易ルアルコールのような公知
のバインダを加え、加圧成形機にて円板状に成形し、1
00OU1時間の熱処理によりバインダを除去した後、
99%N、−1%鵬の弱還元性の雰囲気中において、1
350〜1450C,2〜4時間焼結し、大きさがそれ
ぞれ直径約gm、厚さ約Q、4 IIIの円板状半導体
磁器を作製した。
、これ等に不純物が混入することな防止するためにゴム
ライニングボール使用のゴムライニングミルで湿式混合
なし、乾燥した後、ポリビ易ルアルコールのような公知
のバインダを加え、加圧成形機にて円板状に成形し、1
00OU1時間の熱処理によりバインダを除去した後、
99%N、−1%鵬の弱還元性の雰囲気中において、1
350〜1450C,2〜4時間焼結し、大きさがそれ
ぞれ直径約gm、厚さ約Q、4 IIIの円板状半導体
磁器を作製した。
次に、これらの円板状半導体磁器の片主面忙PbO粉末
50重量%、Bi、0.粉末45重量%、B冨Os粉末
5重量%で100重量%となるように配合された絶縁化
物質に有機バインダとしてニトロセルロース及びブチル
カルピトールを加えてペーストを作製し、これを半導体
磁器イ重量約IQQmlF)に対して10重量%(11
71g)、スクリーン印刷で塗布し、酸化雰囲気中で1
150〜1300Gの範囲の一足温度で2時間焼成し、
半導体磁器粒界層に拡散し、この粒界層を絶縁体化した
。尚、ペーストの配合を絶縁化物質約80重量%、有機
バインダ約10%、溶媒約10重量%とじた。これによ
り、第1図に模式的に示す半導体結晶粒子11+と絶縁
化された粒界層(2)とから成る半導体磁器(3)が完
成した。しかる後、この半導体磁器(3)の両生面に銀
ペーストを塗布し、焼付けることによって一対のコンデ
ンサ電極+41 +51を形成し、半導体磁器コンデン
サとした。尚、PbO−B1,0.−へ〇1ベーストを
、磁器忙対してt0111%塗布して酸化Pb050重
量%、Bi!Q、 45重量%、n、o、 5重量%の
比率で磁器にこれ等が含まれない。fB磁器中於けるこ
れ等の割合は、PbOが約34.2重量%、Bi、0.
が約64.1重量%、B、0・が約1.7重量%となり
゛、100重量部の磁器中に於けるpboとB−0゜と
B、0.との合計は約1.57重量部となる。
50重量%、Bi、0.粉末45重量%、B冨Os粉末
5重量%で100重量%となるように配合された絶縁化
物質に有機バインダとしてニトロセルロース及びブチル
カルピトールを加えてペーストを作製し、これを半導体
磁器イ重量約IQQmlF)に対して10重量%(11
71g)、スクリーン印刷で塗布し、酸化雰囲気中で1
150〜1300Gの範囲の一足温度で2時間焼成し、
半導体磁器粒界層に拡散し、この粒界層を絶縁体化した
。尚、ペーストの配合を絶縁化物質約80重量%、有機
バインダ約10%、溶媒約10重量%とじた。これによ
り、第1図に模式的に示す半導体結晶粒子11+と絶縁
化された粒界層(2)とから成る半導体磁器(3)が完
成した。しかる後、この半導体磁器(3)の両生面に銀
ペーストを塗布し、焼付けることによって一対のコンデ
ンサ電極+41 +51を形成し、半導体磁器コンデン
サとした。尚、PbO−B1,0.−へ〇1ベーストを
、磁器忙対してt0111%塗布して酸化Pb050重
量%、Bi!Q、 45重量%、n、o、 5重量%の
比率で磁器にこれ等が含まれない。fB磁器中於けるこ
れ等の割合は、PbOが約34.2重量%、Bi、0.
が約64.1重量%、B、0・が約1.7重量%となり
゛、100重量部の磁器中に於けるpboとB−0゜と
B、0.との合計は約1.57重量部となる。
このよう忙して得られた各試料九ついて、見掛けの比酵
電率゛砿1.誘電体損失−δ、抵抗率ρな測定したとこ
ろ、第1表に示す結果が得られた。尚、ξと−1はl
kHzで測定し、pは直流50Vを印加して1分間経過
した後に測定した。
電率゛砿1.誘電体損失−δ、抵抗率ρな測定したとこ
ろ、第1表に示す結果が得られた。尚、ξと−1はl
kHzで測定し、pは直流50Vを印加して1分間経過
した後に測定した。
第1表に於いて、主雇辛の5rTi01とNb、0.と
QeO,との重量%の総和が100重量%である。
QeO,との重量%の総和が100重量%である。
また副成分のSin、とAI、0.とは、主成分100
重量部に対する重量部で示されている。
重量部に対する重量部で示されている。
第1表から明らかなように、本発明で特定されている範
囲に入る組成比を有する試料番号7.8゜10〜19.
21〜32.34〜36.38〜42の磁器によれば、
1が77000〜153000.mJが0.4〜0.8
%Iがl〜2X10”Ω・国となる。
囲に入る組成比を有する試料番号7.8゜10〜19.
21〜32.34〜36.38〜42の磁器によれば、
1が77000〜153000.mJが0.4〜0.8
%Iがl〜2X10”Ω・国となる。
一方、本発明の範口外である試料番号1〜6.9.20
.33.37.43〜48の磁器から明らかなように、
8tO,/AI、0.の重量比が1,5;g満範囲では
80000以上のεを得ることが出来ず、また上記比が
5を越えた範囲では、−一又はρが悪(なる、また、S
tO,が100重量部の主成分に対して0.02重量部
未満であるとCを5oooo 以・上忙することが出来
ず、またこれが0.1重量部を越すと、大きな4が得ら
れなくなる。またAI、0.が0.01重量部未満であ
ると、80000 以上のif得ることが不可能になり
、これが0.03重量部を越えると、1が5oooo以
下になる。従って、810゜及びAI、O,の好ましい
範囲は、8101 /人’tosの重量比が1.5〜5
であると共に、StO,が0.02〜0.1重量部、A
I、0.が0.01〜0.03重量部の範囲である。
.33.37.43〜48の磁器から明らかなように、
8tO,/AI、0.の重量比が1,5;g満範囲では
80000以上のεを得ることが出来ず、また上記比が
5を越えた範囲では、−一又はρが悪(なる、また、S
tO,が100重量部の主成分に対して0.02重量部
未満であるとCを5oooo 以・上忙することが出来
ず、またこれが0.1重量部を越すと、大きな4が得ら
れなくなる。またAI、0.が0.01重量部未満であ
ると、80000 以上のif得ることが不可能になり
、これが0.03重量部を越えると、1が5oooo以
下になる。従って、810゜及びAI、O,の好ましい
範囲は、8101 /人’tosの重量比が1.5〜5
であると共に、StO,が0.02〜0.1重量部、A
I、0.が0.01〜0.03重量部の範囲である。
尚本発明の範囲内の試料の比誘電率Cの温度特性は第2
図に示されるように、20Cの比誘電率を基準圧し、−
25C〜+85Uの範囲において負の温度−で+15%
以内の斜線領域、正の温度側で−15%以内の斜線領域
にすべての試料のものが入った。
図に示されるように、20Cの比誘電率を基準圧し、−
25C〜+85Uの範囲において負の温度−で+15%
以内の斜線領域、正の温度側で−15%以内の斜線領域
にすべての試料のものが入った。
実施例 2
実施例IK於けるペーストの絶縁化物質(拡散物質)と
してのPbO%B輸0.、B、0.の比率のみを第2表
に示すように変化させ、製造方法は実施例1と同一とし
て磁器コンデンサを作製し、電気的特性を測定したとこ
ろ、$2表表示示結果が得られた。
してのPbO%B輸0.、B、0.の比率のみを第2表
に示すように変化させ、製造方法は実施例1と同一とし
て磁器コンデンサを作製し、電気的特性を測定したとこ
ろ、$2表表示示結果が得られた。
この第2表の試料番号49.52.54〜57.59.
62〜66.69.71〜73.75.77〜79から
明らかなように、 PbOが32〜61重量%、Bi、
0.34〜64重量%、Bt O,が2〜10重量%の
範囲では大きな8を有し、tuna及び戸も優れている
磁器を得ることが出来る。一方、本発明の範囲外である
試料番号501,51,53.58.90.61.67
.68.70.74.76から明らかなように、pbo
、B〜08、B!0.の比が本発明の範囲外となれば所
望の特性を得ることが不可能′になる。従って、絶縁化
物質の好ましい組成比は、PbOカ32.61重IN、
Bi、OBカ34〜64重量%、Bt O,が2〜lO
重量%である。
62〜66.69.71〜73.75.77〜79から
明らかなように、 PbOが32〜61重量%、Bi、
0.34〜64重量%、Bt O,が2〜10重量%の
範囲では大きな8を有し、tuna及び戸も優れている
磁器を得ることが出来る。一方、本発明の範囲外である
試料番号501,51,53.58.90.61.67
.68.70.74.76から明らかなように、pbo
、B〜08、B!0.の比が本発明の範囲外となれば所
望の特性を得ることが不可能′になる。従って、絶縁化
物質の好ましい組成比は、PbOカ32.61重IN、
Bi、OBカ34〜64重量%、Bt O,が2〜lO
重量%である。
また、絶縁化物質の塗布量及び加熱温度及I加熱時間等
を樵々変えることによって、絶縁化物質の拡散量の異な
る磁器を作製し、所望特性が得られる磁器に於ける絶縁
化物質の拡散量を求めたところ、磁器100重景重景対
して0.3〜5重量部であった。そして、絶縁化物質の
組成比の範囲は、Pb011〜58重量%、BitO,
39〜86.9重量%、八σ、0.3〜3.5 重量
%であった。絶縁化物質が0.3重量部未満の場合及び
5重t゛部を越える場合のいずれに於いても所望の特性
を得ることが困鹸忙なる。
を樵々変えることによって、絶縁化物質の拡散量の異な
る磁器を作製し、所望特性が得られる磁器に於ける絶縁
化物質の拡散量を求めたところ、磁器100重景重景対
して0.3〜5重量部であった。そして、絶縁化物質の
組成比の範囲は、Pb011〜58重量%、BitO,
39〜86.9重量%、八σ、0.3〜3.5 重量
%であった。絶縁化物質が0.3重量部未満の場合及び
5重t゛部を越える場合のいずれに於いても所望の特性
を得ることが困鹸忙なる。
以上、本発明の実施例について述べたが、本発明はこれ
に@定されるものではなく、更に変形可能なものである
0例えば、本発明の特徴を阻害しない範囲で他の特性改
善物質を付加しても差支えない、また、PbO1Bi、
0. 、 B、(J、ρ粉末にてペーストを作製せずに
、絶縁化のための拡散加熱でPbO,B’tOs、B、
Q、に変換される物質を磁器の一方又は両方の主面に塗
布して、最終的に磁器の中にPbO,Bi、O3、八〇
、を偏在させてもよい。また、)’bO,B鴨O,、B
、 0.に変換することが出来る物質の配合物を作り、
これを例えば100OUで慎成し、PbO−Bi、01
− B、01の組成物を作り、これを粉砕した粉末でペ
ーストを作って塗布してもヨイ。マf、−1最初の原料
を5rTiU、、 Nb、O,、(jet、、 Sin
、、 AI、U、、PbO,Hi、0.、B、03等と
せずに、これ等を得るための物質を原料としてもよい。
に@定されるものではなく、更に変形可能なものである
0例えば、本発明の特徴を阻害しない範囲で他の特性改
善物質を付加しても差支えない、また、PbO1Bi、
0. 、 B、(J、ρ粉末にてペーストを作製せずに
、絶縁化のための拡散加熱でPbO,B’tOs、B、
Q、に変換される物質を磁器の一方又は両方の主面に塗
布して、最終的に磁器の中にPbO,Bi、O3、八〇
、を偏在させてもよい。また、)’bO,B鴨O,、B
、 0.に変換することが出来る物質の配合物を作り、
これを例えば100OUで慎成し、PbO−Bi、01
− B、01の組成物を作り、これを粉砕した粉末でペ
ーストを作って塗布してもヨイ。マf、−1最初の原料
を5rTiU、、 Nb、O,、(jet、、 Sin
、、 AI、U、、PbO,Hi、0.、B、03等と
せずに、これ等を得るための物質を原料としてもよい。
例えば5rTiO,を炭酸ストロンチウムと酸化チタン
とから得るようにしてもよい。またゴムライニングボー
ルに限らずに、Sin、とAI、0. とが不純納物
として混入する恐れのない他の容器を使用して主成分と
副成分との原料を混合するようにしてもよい。
とから得るようにしてもよい。またゴムライニングボー
ルに限らずに、Sin、とAI、0. とが不純納物
として混入する恐れのない他の容器を使用して主成分と
副成分との原料を混合するようにしてもよい。
第1図は本発明の実施例に係わるff15j’ンデンサ
を模式的に示す断面図、第2図は温度変化九対する比誘
電率の変化率を示す%性図である。 尚図面釦用いられている符号に於いて、il+は粒子、
(2)は粒界層、(3)は磁器、(41151は電極で
ある。 代理人 高野副次 第2図 ヒト 手続補正書(自発) 昭和57年11月1日 特許庁長官 若杉相夫 殿 】111件の表示 昭和56 年 特 許 願第156402号2、発明
の名称 牛導体ffl器コンデンサの半導体3、 M□
、、、第4□ O及びその製造方法事件との関係
出 麺 人 4 代 理 人 5、 補正命令のロイ十 自 発 6、 補正により増力lける発明の数 7、補正の対象 8 補正の内容 別紙の造り。 III 明細書の特許請求の範囲を別紙の通りに補正
する。 121 #4細置薬12員纂4行の「バインダ約10
Jの彼に「重量」を加入する。 (3) 明flIF@12員第1θ行〜第13向軍5
行の「尚、)’bO−fN、0.−・・・・・・となる
。」を次の文章に補正する。 「向上記ペースト中のPbU、Bi、(Jl及びBi1
2は上記焼成時における蒸発等のために半纏体直−中に
全部拡散せず、一部のみが拡散する。即ち、各成分の拡
散量は半導体6器の組成によって異なり、本実施例の組
成のkIi器に於ける宅布當に対する拡散量の割合は、
pboで6.16〜14.36 Nの範囲。 B輸Osで12.82〜29.91 %の範囲、B、(
J、で3、θ〜7.2 %f)範囲である。健って、W
da中に於ける各成分の拡散Ilkは、100重1部
のa5に対して、PbUが0.308〜0.718重蓋
部、B輸す。 が0,577〜1.346重量部、Bi08が0.01
5〜0.036 束量部となる。そして、100重重
部のmuK対するrboとHi、OsとB、0.の合計
拡散量は0.9〜2.1 束量部となる。」 2、特許請求の範囲 fil 8rTiO,90,68〜99,68 J[
置部と+Nb。 0、0.07〜5.32 重量%トGeO,o、os
〜4,00重1%とで100重t%となる主成分10
0叡重部、 8i0. 0.02〜0.101ts、AI、U、
0.01〜0.03 fil部、重重部は、8i
U、の重重部/A1,0.の重1都が1.5を)し、更
に、)’bo 11.Q〜5sIIL量九と旧、0゜3
9.0〜86.9重量’8ト1%Om o、a 〜3.
5 束量%とで100重I X K’なる比率で剖d己
Pbt)と前記Hi、U、と前記B、0.とを台上し、
前記FbOと創紀Hi宏0.と前記B、0.との合It
tIA輩部がMiJ紀生成成分と前記S i(J、とS
IJ at A 1 * L)sとの合1qi100重
を部に対して0.3〜54を部とされていることを特獄
とするコンデンサ相半導体磁器。 t21 Sr’l’i(J、 90.68〜99.
68嵐量%とNb。 U、0.07〜5.32411%とGeO,0,05〜
4,00獣196とでlOO叡販%となる主成分100
ム量部、 Sin、 0.02〜0.101を都、AI、(
J、 0.01〜0.03電j1部、から成る半得
体出器倉作製する工程と、前記牛導体磁器の少なくとも
一万の主面にPb。 又は加熱処理によってPbOになる物質と、 Bi、0
゜又は加熱処理によってBi、u、ecなる@買と、鵬
O3又は加熱処理によってB、0. Kなる物質とを)
’bOK換算して32〜61重量%、Hi、U、に侯鼻
して34〜64重量%、B、0畠に換算して2〜10m
[11%で100重量%となるような比で含むベース)
l、m起生導体a器100重量部に対して1〜15惠t
sm布し、しかる後加熱処理することによって前記半導
体tB器の結晶粒界K PbU%Hi、U、、及びB雪
Osを拡散させる工程と、 を含む半導体i器の製造方法。
を模式的に示す断面図、第2図は温度変化九対する比誘
電率の変化率を示す%性図である。 尚図面釦用いられている符号に於いて、il+は粒子、
(2)は粒界層、(3)は磁器、(41151は電極で
ある。 代理人 高野副次 第2図 ヒト 手続補正書(自発) 昭和57年11月1日 特許庁長官 若杉相夫 殿 】111件の表示 昭和56 年 特 許 願第156402号2、発明
の名称 牛導体ffl器コンデンサの半導体3、 M□
、、、第4□ O及びその製造方法事件との関係
出 麺 人 4 代 理 人 5、 補正命令のロイ十 自 発 6、 補正により増力lける発明の数 7、補正の対象 8 補正の内容 別紙の造り。 III 明細書の特許請求の範囲を別紙の通りに補正
する。 121 #4細置薬12員纂4行の「バインダ約10
Jの彼に「重量」を加入する。 (3) 明flIF@12員第1θ行〜第13向軍5
行の「尚、)’bO−fN、0.−・・・・・・となる
。」を次の文章に補正する。 「向上記ペースト中のPbU、Bi、(Jl及びBi1
2は上記焼成時における蒸発等のために半纏体直−中に
全部拡散せず、一部のみが拡散する。即ち、各成分の拡
散量は半導体6器の組成によって異なり、本実施例の組
成のkIi器に於ける宅布當に対する拡散量の割合は、
pboで6.16〜14.36 Nの範囲。 B輸Osで12.82〜29.91 %の範囲、B、(
J、で3、θ〜7.2 %f)範囲である。健って、W
da中に於ける各成分の拡散Ilkは、100重1部
のa5に対して、PbUが0.308〜0.718重蓋
部、B輸す。 が0,577〜1.346重量部、Bi08が0.01
5〜0.036 束量部となる。そして、100重重
部のmuK対するrboとHi、OsとB、0.の合計
拡散量は0.9〜2.1 束量部となる。」 2、特許請求の範囲 fil 8rTiO,90,68〜99,68 J[
置部と+Nb。 0、0.07〜5.32 重量%トGeO,o、os
〜4,00重1%とで100重t%となる主成分10
0叡重部、 8i0. 0.02〜0.101ts、AI、U、
0.01〜0.03 fil部、重重部は、8i
U、の重重部/A1,0.の重1都が1.5を)し、更
に、)’bo 11.Q〜5sIIL量九と旧、0゜3
9.0〜86.9重量’8ト1%Om o、a 〜3.
5 束量%とで100重I X K’なる比率で剖d己
Pbt)と前記Hi、U、と前記B、0.とを台上し、
前記FbOと創紀Hi宏0.と前記B、0.との合It
tIA輩部がMiJ紀生成成分と前記S i(J、とS
IJ at A 1 * L)sとの合1qi100重
を部に対して0.3〜54を部とされていることを特獄
とするコンデンサ相半導体磁器。 t21 Sr’l’i(J、 90.68〜99.
68嵐量%とNb。 U、0.07〜5.32411%とGeO,0,05〜
4,00獣196とでlOO叡販%となる主成分100
ム量部、 Sin、 0.02〜0.101を都、AI、(
J、 0.01〜0.03電j1部、から成る半得
体出器倉作製する工程と、前記牛導体磁器の少なくとも
一万の主面にPb。 又は加熱処理によってPbOになる物質と、 Bi、0
゜又は加熱処理によってBi、u、ecなる@買と、鵬
O3又は加熱処理によってB、0. Kなる物質とを)
’bOK換算して32〜61重量%、Hi、U、に侯鼻
して34〜64重量%、B、0畠に換算して2〜10m
[11%で100重量%となるような比で含むベース)
l、m起生導体a器100重量部に対して1〜15惠t
sm布し、しかる後加熱処理することによって前記半導
体tB器の結晶粒界K PbU%Hi、U、、及びB雪
Osを拡散させる工程と、 を含む半導体i器の製造方法。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 11J 5rTiOa 90.68〜99.88
mm X、 Nbt’s 0−07〜5.32重量%、
及びQeO,0,05〜4.001tXで100重量%
となる組成のl主成分!001倉部と、副成分どして8
40.の重量部/ AII O,の重量部が1.5〜5
となるように前記5i(J、 0.02〜0.10重量
部及び前記部0,0.01−0.03 @ @部と、を
含有し、且つ半導体結晶粒界に、PbOとHi、U。 とBtoeとから成る絶縁化物質を、)’b011,0
〜58重普%、Bi、0.39.0〜86.91 t%
、H,0,0,3〜3.5重量%で100fijlXと
なる組成比でM+J紀主成分と前記副成分との合計10
0重景部に対して0.3〜5 重量部含有していること
を特徴とする半導体磁器コンデンサの半導体磁器。 (215rTiO,90,68〜99.88重量%、N
b、0,0.α7〜5.32重量%、及びGem、 0
.05〜4.001量%で100重普%となる組成の生
成分100重鎗部と、副成分として、Sin、の重量部
/AJ、0.の重量部が1.5〜5となるように前記8
iU、 0.02〜0.10重量部及び前記AI、0.
0.01〜0.03重量部と、を含有する半導体磁器を
作製すること、 前記半導体磁器の少なくとも一方の主面忙、半導体結晶
粒界の絶縁化物質として、PbO又は加熱処理によって
PbOになる物質と、Bi、0.又は加熱処理によって
Bi、OjKなる物質と、B、Oa又は加熱処理によっ
てB、 0.にな・る物質とを)’b032〜61重量
%、B轟!O畠34〜64重量%、B、(J、2〜lO
重量%で100重量%となるような比で含むペーストを
、前記半導体磁器100]ifi部九対して1〜15重
量部塗布し、しかる後加熱処理することkよって前記半
導体磁器の結晶粒界にPbO,Bi、0.、及びB!0
.を拡散させること、 から成る半導体磁器の製造方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15640281A JPS5857722A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 半導体磁器コンデンサの半導体磁器及びその製造方法 |
| EP82108979A EP0076456B1 (en) | 1981-10-01 | 1982-09-28 | Dielectric ceramic materials with insulated boundaries between crystal grains, and process for preparation |
| DE8282108979T DE3274734D1 (en) | 1981-10-01 | 1982-09-28 | Dielectric ceramic materials with insulated boundaries between crystal grains, and process for preparation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15640281A JPS5857722A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 半導体磁器コンデンサの半導体磁器及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5857722A true JPS5857722A (ja) | 1983-04-06 |
| JPS6248367B2 JPS6248367B2 (ja) | 1987-10-13 |
Family
ID=15626949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15640281A Granted JPS5857722A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 半導体磁器コンデンサの半導体磁器及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5857722A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63199895U (ja) * | 1987-06-13 | 1988-12-22 |
-
1981
- 1981-10-01 JP JP15640281A patent/JPS5857722A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6248367B2 (ja) | 1987-10-13 |
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