JPS5857791B2 - 自動細目パタ−ン照合システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 １ 発明の分野 この発明はパターン識別システムに関するものであり、
かつ特に、一実施例において、未識別指紋の細目（ｍｉ
ｎｕｔｉａ ：指紋印象における隆線の端点と分岐点と
から抽出される特徴）パターンが複数個の既知の基準指
紋の任意のもののパターンと一致するかどうかを自動的
に決定する細目パターン識別システムに関するものであ
る。

２ 先行技術の説明 法律施行官庁、保安、信用取引などの分野において正確
にかつ自動的に指紋識別または確認の必要性が時と共に
増大している。

多くの異なる形式の自動的システムが、これらの分野に
おいて指紋または他のパターンを識別するために提案さ
れていた。

自動指紋識別システムの第１の形式は、それらの指紋パ
ターン間の照合の度合を決定する目的で、指紋パターン
の全体的なまたは包括的な形式に主として基づいている
。

光学的なまたはホログラフィのパターン照合に基づく殆
んどのシステムはこの第１の形式に含まれる。

これらのシステムはすべての基本的指紋パターン特性ま
たは細部に対して感応性が悪くかつしたがって任意の合
理的な、許容可能な指紋照合性能に対してかなり高い数
の偽照合を発生する。

この第１形式のシステムの例がアメリカ合衆国特許番号
第３２００７０１号、第３２９２１４９号、第３５１１
５７１号、第３５３２４２６号、第３６１４７３７号、
第３６１９０６０号、第３６２２９８９号、第３７０４
９４９号、第３７４３４２１号、および第３７８１１１
３号に述べられている。

自動指紋識別システムの第２の形式は、主として、指紋
パターンの局部的特性または詳細、たとえば、指紋しん
の近辺の成る微妙な差のエンコード化に基づいている。

この第２形式のシステムの例が、アメリカ合衆国特許番
号第３，５８４，９５８号および第３，６９４．２４
唾に述べられている。

こイ１らの２個の特許の各々において、個六の指紋を横
ぎる対応する輪郭の基準線を形成するために予め定めら
れる輪郭の基準開口にマスクが設けられる。

この基準線６Ｊ１いくつかの明確な数の場所で指紋を編
成する線を交差して交差の領域を規定する。

これらの交差の領域は個人に対する識別カードのための
異なる幅の並列なコード線のための基礎を形成する。

個人の順次的な識別は、識別カードのコード線と、カー
ドが用いられるときにとられる個人の指紋とを比較する
ことによってなされる。

この第２の形式の指紋識別システムは、信頼性良く反復
することできない局部的領域に大きな強勢を置くという
点において不十分である。

自動指紋識別システムの第３の形式は、細目を用いない
指紋パターンおよび局部的指紋特性の全体的な形式の結
合に基づいている。

指紋の細目は、指紋から抽出されることができる微細な
細部を含む。

その局部的特徴に対する細目を用いないシステムは、そ
の局部的な調査において細部の欠如を受ける。

この第３の形式の例は、アメリカ合衆国特許番号第２，
９５２，１８１号、第３，５６６，３５４号、第３．７
７１，１２４号および第３，８８２，４６２号に見出さ
れる。

これらの特許の各々は特徴づけられる情報として、隆線
および周波数測定からなる連鎖的に繋がれた局部情報を
用いる。

このような流れを局部領域へ分散させることは、純粋に
全体的なアプローチよりは優れているが、たとえば、指
紋の隆線の端点および分岐点から抽出される細目に関連
する独特なものを有しない。

他の例において、アメリカ合衆国特許番号第３７１６３
０１号が全体相関技術に関連するものであり、擬似局部
装飾は中央領域の回りの１またはそれ以上の情報バンド
からなる。

純粋に全体的な相関に基づく改良に近づく一方、この特
許は細目アプローチを特徴とする特な記述に対する可能
性を有しない。

自動指紋識別システムの第４の形式は、指紋パターンの
全体の形式の組合せに基づし）でおりかつ局部指紋特徴
として細目を用いて０）る。

この第４形式の一例がアメリカ合衆国特許番号第３，５
８２．８８ 晧に見られる。

この特許の第５回路は、「予め定められる順序で点を結
合するまっすぐな側面を有する閉じられた図」を形成す
るように、一群の細目（「特徴点」と名付けられる）を
用いている。

この特許の第６回路は、予め定められた数のそのような
閉じられた図が２個のパターンに対して共通であるとき
、既知のパターンと未知のパターンとの一致を示す。

この特許は、数個の欠点を提示する。

１つの欠点または問題は、まっすぐな側面を有する閉じ
られた図が誤または偽細目によって発生されることがで
きないかまたは実質的に変更されるかであるということ
である。

もう１つの欠点は、未知および既知のパターンの類似性
がこの特許において、この表作成における歪みの効果を
特別に考慮することなく「予め選択された数の図が共通
である」か否かを一覧表にすることによって決定される
ということである。

そのような欠点は指紋識別を危うくするかまたは妨げる
かもしれない。

この第４形式のもう１つの例が、ＪＡｕｔｏｍａｔｅｄ
Ｆｉｎｇｅｒｐｒｉｎｔ Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏ
ｎ Ｊ （Ｊ、Ｈ，Ｗｅｇｓｔｅｉｎ。

ＮＢＳ 「Ｎａｔｉｏｎａｌ Ｂｕｒｅａｕ ｏｆ ５
ｔａｎｄａｒｄｓ Ｊ Ｔｅｃｈ−ｎｉｃａｌ Ｎｏｔ
ｅ ５３８ 、 ＳＤ Ｃａｔａｌｏｇ ＮＯ、Ｃ１３
。

４６ 、５３８ 、Ｕ、 Ｓ 、Ｇｏｖｅｒｎｍｅｎｔ
ＰｒｉｎｔｉｎｇＯｆｆｉｃｅ、Ｗａｓｈｉｎｇｔｏ
ｎ、Ｄ、Ｃ，、Ａｕｇｕｓｔ １９７０ 、 ）に述べ
られる。

この刊行物において、特別な局部領域を用いることなく
全指紋に対する細目データを用いるＮＢＳシステムが述
べられている。

その結果、発生される類似点数が歪みに対して相対的に
感応する。

このＮＢＳシステムはまた、照合前に未知および既知の
細目アレイの整列を必要とする。

このように、指紋の偽の、誤ったまたは歪んだ細目また
は誤整列が、指紋の照合における誤りに対する機会を増
大することになる。

上述のシステムの多くのものは、指紋識別を遂行すべき
装置で識別されるように、指が比較的接近した配向を必
要とする。

上述のシステムは、比較されている指紋の近隣細目の相
対的情報ベクトルＲＩＶエンコード化および分析を行な
って１個の指紋の各々およびすべての小さな近隣細目、
またはＲＩＶがいかにして他の指紋の各々およびすべて
の小さな領域と照合するかをなんら決定するものではな
い。

上述のシステムは、全体的な絵を得るように３次元空間
で伺らすべでのこれらの中間的なＲＩＶ比較結果を考慮
していない。

発明の概要 自動システムがこの発明の基本的概念を示すために例示
される。

このシステムは、未識別指紋が基準ファイルの既知の指
紋の任意のものと一致するかどうかを順次的に決定する
。

好ましい実施例において、各指紋からの各細目はその相
対的位置および配向によって記述され、かつ相対的情報
ベクトル（ＲＩＶ）フォーマットで選択的にエンコード
化される各ＲＩＶは、近接する包囲細目のすぐ近隣の細
目の詳細な記述である。

未識別指紋の各ＲＩＶは既知の指紋の各々におけるｆＬ
Ｉ Ｖのすべてと順次比較される。

この比較動作において照合点数が、比較されている他の
ＲＩＶの細目と照合する１個のＲＩＶの細目の数から決
定される。

比較されている指紋の対から発生される、照合点数のセ
ットは、比較されている対の指紋間の類似性の度合を表
わす最終的な点数を発生する点数プロセサによって全体
的にまたは総合的な観点から分析される。

この発明の実施例は、指紋を生じる細目パターンを照合
するための自動システムに向けられるけれども、指紋は
、自動的に照合される多くの形式のパターンの一例にす
ぎないということは明らかである。

たとえば、スピーチおよび他の音声パターン、並びに地
理的地図作成、構造解析および波形研究と共に発生され
る輪郭パターンを含む多数の形式の輪郭パターンが、独
特に表わされかつＲＩＶフォーマットにエンコード化さ
れかつここで述べられるように処理される。

この発明の目的は、相対情報ベクトル形式のフォーマッ
トへエンコード化されるという特徴によってパターンが
独特に表わされるところではとこでも用いられることが
できる自動細目照合器を提供することである。

この発明のもう１つの目的は、通常遭遇する予期される
指紋変形に対して無感応である自動統計的細目パターン
照合器を提供することである。

この発明のもう１つの目的は、細目パターンの水平−垂
直位置および角度配向に無感応な自動細目パターン照合
器を提供することである。

この発明のもう１つの目的は、２個の部分的な指紋から
抽出されるデータの照合を行なうことができる自動細目
パターン照合器を提供することである。

この発明のもう１つの目的は、伸ばされた指紋において
通常遭遇する皮膚の引張りによる歪みおよびインキにじ
み変形に無感応である照合点数または結果を発生するこ
とができる自動指紋照合器を提供することである。

この発明のもう１つの目的は、比較されている２個の指
紋からの細目データのかたまりを選択的に用いて２個の
指紋が一致するかどうかを決定する自動指紋照合器を提
供することである。

この発明のもう１つの目的は、その動作において相対的
情報ベクトルアルゴリズムを用いかつ局部対全体領域の
特徴を有する異なる統計的歪みを利用する自動指紋照合
器を提供することである。

この発明のさらに他の目的は、各相対的情報ベクトルが
像の局部特徴から抽出される２個の像の照合を発生する
ための自動システムを提供することである。

この発明のこれらのおよび他の目的、特徴および利点な
らびにこの発明自体は、同一参照数字が数個の図面を通
じて同一または相当する部分を示す添付図面と共に考慮
して以下の詳細な説明に照らして当業者にとってより明
らかとなろう。

好ましい実症例の説明 図面に示されている、細目パターン照合器システムの基
本的機能は、２個のパターン（この場合、指紋パターン
）を選択的に取出しかつそれらが１つのかつ同じ指から
生じたかどうかを結論するために用いられる類似性の量
に関する測定を自動的に決定するということである。

一般に、この細目パターン照合器システムは、未知の指
紋Ａ（ＦＰ−Ａ）の各車さな領域（近隣細目または細目
のかたまり）を、比較的大きな基準指紋ファイル（図示
せず）にストアされた既知のまたは前に識別された指紋
の各指紋（たとえば、指紋ＢまたはＦＰＢ）の各車さな
領域と選択的に照合または比較する。

この態様で、システムは、指紋Ａを残した人の同一性が
、既知の基準ファイル内にあるかどうかを決定すること
ができる。

図面が詳細に議論される前に、指紋識別およびこの発明
のいくつかの基本的原理が、この発明の概念を明確にす
るために今議論されよう。

指紋は線のパターンである。

人間の観察者のために、これらの線パターンを多数の分
類へ類別することは便利でありかつ、事実、人間が分類
分けをする仕事に対して責任を負うところでは指紋分類
システムの基礎が形成された。

これらの一般的なパターンの緒特性だけでは、個人を独
特に表わさない。

指紋はこれらの線のパターンに加えてもう１つの独特な
識別できる組の特徴を有する。

これらの「線」は永久に続かないがしかし度々非常に明
確な始端／終端を有するので、この特徴が生じる。

さらに、これらの線は度々文字Ｙがそうであるのと全く
同じように２個の線に分れる。

これらの線の終端、始端、および分れ（「分岐」 ）が
指紋パターンの最も普通の細目、または精細に詳細に説
明される記述のあるものである。

他の細目はパターンの点、島、湖、三つ又または他の微
細な細部構造から抽出されることができる。

それらが現われる、指紋のこれらの細目の相対的位置お
よび線の相対的方向は、指紋を独特に識別する１組の特
徴を形成する。

そのため、原理的に細目読出機械がしなければならない
ことは、それが細目を発見するまで指紋の各々のかつす
べての線を追跡し、かつそれからその細目の座標および
角度を単に記録することだけである。

そのような指紋細目読出装置は当該技術分野においてよ
く知られておりかつ、たとえば、アメリカ合衆国特許番
号第３，６１１，２９０号および第３，６９９，５１９
号の各々に教示されている。

これらのアメリカ合衆国特許に教示されるように、指紋
の各々の細目は、その細目の場所および配向を集合的に
規定する３個のコンポーネントまたはパラメータを有す
る。

これらのパラメータは直角座標系のＸおよびＹ配置およ
びその座標系における細目の配向の角度θである。

一旦指紋の細目の各々のパラメータ（ｘ−ｙ座標および
配向角θ）が抽出されると、同じ指の２個の指紋を照合
することは、最適な適合を捜しながら地図化（座標系に
関して２次元像を作成すること、またはそのように２次
元の座標系によってデータをプロットすることを言う。

）された細目の他の組（他の指紋に相当する）を通して
地図化された細目（１つの指紋に相当する）の１つの組
を摺動することと幾分似ている。

実際には、多くの複雑さが図面に入ってくる。

皮膚は伸びることができ、かつ、したがって、同じ指の
２個の指紋は、指紋跡が作られたときに用いられた指を
特に握ったり、捻またりすることに基づいて全く異なっ
たものとして評価されることかできる。

より明確に説明すると、同じ指からの２個の指紋は決し
て完全に一致しない、なぜならば、たとえば、偽の、誤
りの、または歪められた細目があるかもしれないからで
ある。

「偽の細団は、指には存在しないが、しかし乏しい指紋
跡（あまりにも軽く、あまりにも不鮮明な、あまりにも
重く、または油のついた、汚れた、または傷のついた指
によって生じるなど）のために、または傷跡ができた、
または壊れた隆線領域のために、指紋に表われる細目で
ある。

これらの偽の細目は典型的な指紋に見られる５０−２０
０細目に加イつる。

誤りの細目は汚された、インク付は不足のまたはインク
付は過ぎのプリントに起因するのである。

歪められた細目は皮膚の伸びおよび捻りにおける変形に
基づくものである。

皮膚の伸張性のこの多くの複雑さから結論されることが
できる１つのアプローチは、そのような相対的な伸びに
さらされた全体の指紋を照合する代りに、１個の指紋の
小さな領域または区分だけが他の指紋の小さな領域に対
して照合されるべきであるということである。

逆のアプローチは、もしも照合されている２個の指紋の
全体の特徴が考慮されなかったならば小領域アプローチ
は限られたウェイトしか有しないという考えに基づいて
、規定されないアプローチが小領域アプローチの代りに
用いられるということを要求する。

しかしながら、２個のアプローチは矛盾するものではな
く、互いに相客れるものである。

この発明においてとられた基本的アプローチは、たとえ
同じ指の２個の指紋が完全に一致しなくても、もしもこ
れらの２個の指紋の細目パターンが十分に接近していれ
ば、それらは互いに一致しているものとして考えられる
ことができるということである。

この理由のために、指紋が照合しているということが言
われることができるために２個の指紋の包括的な全体的
照合がある。

その結果、この発明の指紋照合器の実施例は、他の指紋
の各各のかつすべての小さな領域がいかにして他の指紋
の各々のかつすべての小さな領域と一致するかを自動的
に決定しかつそれから異なる空間（時間領域対周波数領
域のようなあるもの）に、これらの全ての中間的な結果
を一緒に置いて全体的な絵を得るように実現される。

この手段によって、この発明の指紋照合器シスラムは、
比較されている２個の指紋が照合を構成するのに十分に
類似しているかいないかを自動的に決定する。

１個の指紋の各々の小さな領域は「相対的情報ベクトル
」またはＲＩＶと呼ばれる。

ＲＩＶは照合されるべき指紋の各細目ごとに発生され、
かつそのＲＩＶは本質的にその細目のすぐ近隣の詳細な
説明である。

ＲＩＶが発生されるための細目はそのＲＩＶに対して「
基準」または「中心」細目と呼ばれる。

より詳細に説明すると、ＲＩＶは、そのＲＩＶの中心細
目に関して指紋の多数の細目の各々のものに対して相対
的位置（ｒ、φ）および方向（△θ）を記述する。

この相対的位置の３個のパラメータｒ、φおよびΔθは
以下のように規定される。

ｒ２−そのＲＩＶの中心細目とｉ番目の近隣（ここに、
近隣とは興味ある成る１つの中心細目のまわりの任意の
またはすべての方向におけるすぐそばの包囲細目または
次に生じる特徴を指す。

以下この明細書において同じ意味で用いる。

）細目との間の距離。

φ・−中心細目の尾部（ここに尾部とは、分岐点的に包
囲されまたは挟まれた、かつ第４図の矢印の投影で示さ
れるように角θで配向された、隆線の端点から離れた分
岐点の方向を指す。

以下この明細書において同じ）およびそのＲＩＶＯ１番
目の近隣細目の場所間の角度。

△θ、＝中心細目の尾部の角度（θ。

）およびｉ番目の近隣細目の尾部の角度（θ、）間の差
。

上述の定義にしたがって、第１番目の近隣細目のＲＩＶ
パラメータｒ−、φ、および△θ、か座標（Ｘｏ、ｙＣ
２θ。

）を有する中心細目に対して第１図に示されている。

上述の教示に応じて、この発明の概括されたブロックダ
イヤグラムが手段１１および１３を含むものとして第２
図に示されている。

手段１１は第１および第２の指紋の細目に応答して、第
１および第２の指紋の近隣細目間の照合および座標変位
の近さを表わす複数個の近隣比較信号を選択的に発生す
る。

手段１３は近隣比較信号に応答して第１および第２の指
紋の照合および相対的座標変位の相対的近さを表わす出
力信号を発生する。

手段１１はさらに手段１５および１７に分けられること
ができる。

手段１５は第１および第２の指紋の細目に応答して、第
１および第２の指紋の細目の各々ごとに近くの包囲細目
の詳細な近隣記述を選択的に発生する。

手段１７は第１および第２の指紋の詳細な近隣記述に選
択的に応答して、第２の指紋の各近隣細目に関して第１
の指紋の各近隣細目間の照合および座標変位の近さを表
わす複数個の近隣比較信号を発生する。

第２図の上述の議論に関連して述べたように、この発明
は第１および第２の指紋（ＡおよびＢ）の細目に応答す
る。

この発明がより詳細に議論される前に、指紋の細目がい
かにして発生されるかに基づいて簡単な説明を提示する
。

上述したように、各細目のＸ−Ｙ座標および配向角度θ
は、アメリカ合衆国特許番号第３，６１１，２９０号に
述べられるような指紋細目読取器から本来抽出されるこ
とができる。

アメリカ合衆国特許番号第３，６１１，２９０’ｊ’ｌ
ＪＤ指紋細目読取器は、典型的なラスクパターンで指紋
の増分的位置または場所、または回転エレメントを循環
的にスキャンすることによって指紋の細目を検出する。

そのようなラスクパターンは、たとえば、Ｘ方向に６０
０の増分およびＹ方向に５００の増分を有する３ ００
，０００増分場所を含むことができる。

第３図に部分的に示されるように、この指紋細目読取器
においては、スキャンのＸおよびＹ座標の増分位置また
は場所がＸおよびＹカウンタ（７３および７５）によっ
て発生され、他方カウンタ７２がスキャンの角度配向を
与える。

カウンタ（７３，７５および７２）の出力はそれぞれに
Ｘ、Ｙおよびθレジスタ（６０，６１，および６２）の
入力へ与えられる。

細目が判定論理回路５によって検出されるたび毎に、そ
の細目のための関連のＸ、Ｙおよびθ指紋細目データが
レジスタ（６０，６１および６２）から読み出される。

第４図に示されるように、この指紋細目読取器は、各検
出された細目のＸおよびＹ座標並びに角度配向θを発生
することによって検出された細目の相対的位置を識別す
る。

この発明と両立することができるようにするために、ア
メリカ合衆国特許番号第３，６１１，２９０号の指紋細
目読取器が容易に修正されて、Ｘ、Ｙ。

θフォーマットの指紋細目データと同様に、処理されて
いる未知の指紋Ａ（ＦＰ−Ａ）の細目の数および信号（
開始ＦＰ−Ｂ）を与えて既知の基準指紋Ｂ （ＦＰ−Ｂ
）を順次的に処理し始める。

この議論の目的で、指紋Ｂ（ＦＰ−Ｂ）を比較的大きな
基準指紋ファイル（図示せず）にストアされた既知の指
紋の任意のものであるとし、その指紋は、この発明の教
示に従がって、所望通りの最良の全体指紋識別照合のた
めに、未知の指紋Ａ（ＦＰ−Ａ）と個別的または順次的
に照合または比較されることができる。

アメリカ合衆国特許番号第３，６１１，２９０号の指紋
細目読取器のそのような修正は第３図の残りの部分に示
されている。

第３図に示されるように、カウンタ（７３および７５）
のＸおよびＹ出力はＡＮＤゲート１９および２１の両方
に各々与えられる。

ＡＮＤゲート１９は、未知の指紋Ａのスキャンの開始の
際に、ＸおよびＹカウンタ（７３および７５）のカウン
トが両方ともゼロのとき「スキャン開始」信号を発生す
るように実現される。

他方’、ＡＮＤゲート２１は、カウンタ（７３および７
５）のカウントがそれぞれに、６００および５００であ
るとき、「スキャン終了」信号を発生するように実現さ
れる。

スキャン信号の開始が細目カウンタ２３をゼロカウント
へリセットし、かつフリップフロップ２５をセットし、
その結果ＱおよびＱの側がそれぞれにランダムアクセス
メモｌＪＲＡＭ２７の書込みサイクルおよび０状態信号
を始動して、ゲート２９は、細目カウンタ２３の内容が
ゲート２９を介して読み出されるのを妨げることを不能
化する。

細目カウンタ２３の出力カウントは書込みアドレスとし
てＲＡＭ２７で用いられる。

細目が判定論理回路５によって検出されるたび毎に、細
目カウンタ２３はｌだけ増分される。

なぜならばＸ、Ｙおよびθ指紋細目データがレジスタ（
６０，６１および６２）から読み出されかつカウンタ２
３のカウントによって示される関連のアドレス場所でＲ
ＡＭ２７にストアされるからである。

細目に対する指紋のスキャンが終了するとき、すなわち
Ｘ＝６００およびＹ＝ ５００のときＡＮＤゲート２１
からのスキャン信号の終了がフリップフロップ２５をリ
セットしてＲＡＭ２７の書込みサイクルを終了させかつ
ゲート２９を能動化して細目カウンタ２３の内容を外へ
出す。

細目カウンタ２３の出力は、スキャンされた指紋Ａ内で
検出された細目の数（またはＦＰ−Ａ細目番号）を表わ
す２進数である。

ＡＮＤゲート２１からのスキャン信号の終了はまたフリ
ップフロップ３１をセットし、そのためその１状態Ｑ側
はＲＡＭ２７において読出しサイクルを始動しかつＡＮ
Ｄゲート３３を能動化してＣ４クロックパルスをアドレ
スカウンタ３５へ通してカウントされる。

アドレスカウンタ３５の出力カウントは読出しアドレス
としてＲＡＭ２７で用いられる。

この手段によって指紋Ａの細目のＸ。Ｙ、θ細目データ
（またはＦＰ−Ａ細目データ）は、カウンタ３５がＣ４
クロックをカウントするときｓ Ｃ４クロック速度でＲ
ＡＭ２７から読出される。

カウンタ３５のカウントはＦＰ−Ａ細目番号（ゲート２
９から）に等しくなるとき、コンパレータ３７はフリッ
プフロップ３１をリセットするように信号を発生する。

０状態ヘリセツトされているとき、フリップフロップ３
１のＱ側はＦｔＡＭ２７の読出しサイクルを終了させか
つＡＮＤゲート３３を不能化し、他方、フリップフロッ
プ３１の１状態６側はアドレスカウンタ３５を０カウン
トにリセットしてかつ指紋Ｂの処理を開始する。

この点で、同時に出願された同時係属中のアメリカ合衆
国特許出願連続番号第７２２，２４４号（特願昭５２−
１０７６７３号に対応する）：ＵＳＰ４．１５１，５１
２号）の「自動パターン処理システム」は、上述のもの
とは異なり、かつさらにこの発明の細目パターン照合器
を用いる細目検出器システムを提供しているということ
もまた注目されるべきである。

それゆえに、前述のアメリカ合衆国特許出願連続番号第
７２２，２４４号（特願昭５２−１０７６７３号に対応
する）：ＵＳＰ４，１５１，５１２号）を参照すること
によってここに援用する。

この好ましい実施例において議論される動作は、順次プ
ロセサとして提示される。

もしも多数のファイルｒＢＪ指紋か未知の指紋Ａと比較
されるべきであれば、プロセサの各々の部分をたえず用
いるパイプライン構造が用いられてもよいということが
知られている。

順次動作は低速度または低容量処理要求のために好まし
いものであるはずでありかつ提示を明確にするためにも
好ましくあるべきである。

金策５図を参照して、指紋細目パターン照合器の発明の
好ましい実施例のより詳細なブロックダイヤグラムが示
される。

第５図に示されるように、この指紋照合器は基本的には
データコンバータ３９、照合コンパレータ４１および点
数プロセサ４３からなる。

基本的に（１、データコンバータ３９は、未知の指紋Ａ
（ＦＰ−Ａ）および既知または基準指紋Ｂ（ＦＰ−Ｂ）
からの入力細目データ（Ｘ、Ｙ、θフォーマット）を相
対的情報ベクトル（ＲＩＶ）フォーマットに変換する。

照合コンパレータ４１は未知のまたは未識別の指紋Ａの
各ＲＩＶと既知の指紋Ｂの各ＲＩＶとを比較しかつ各Ｒ
ＩＶの対の比較に対する照合点数を発生してそのＲＩＶ
の対の照合の近さを表示する。

点数プロセサ４３は全体的な観点からＲＩＶ照合点数の
組を解析しかつ、比較されている２個の指紋間の類似性
の度合を量的に表示する最終的な点数を発生する。

データコンバータ３９は、第３図の修正された指紋細目
読取器からスキャン開始およびＦＰ−Ｂ開始信号、未知
の指紋Ａ（ＦＰ−Ａ）の入力のＦＰ−Ａ細目番号および
ＦＰ−Ａ細目データ（Ｘ。

Ｙ、θフォーマット）を選択的に受ける。

コンバータ３９はまた、前に読出されかつストアされた
細目の数および既知の指紋Ｂの細目データ（またはＦＰ
−Ｂ細目番号およびＦＰ−Ｂ細目データ）を選択的に受
ける。

モードＡ／Ｂフリップフロップ４５の手段によって、入
力指紋ＡおよびＢのＦＰ−ＡおよびＦＰ−Ｂ細目データ
（これらは後で比較されるべきものである）が、関連の
記憶回路にそれぞれにストアされる前に時分割多重化さ
れかつＲＩＶエンコード化される。

最初にデータコンバータ３９はスキャン開始信号を受け
、そのスキャン開始信号はモードＡ／Ｂフリップフロッ
プ４５をセットして１状態モ一ド信号出力を発生して、
入力および出力マルチプレクサ４７および４９ならびに
ゲート５１を能動化して動作の指紋Ａモードで作動する
。

この数字１状態モード出力はまたインバータ５３によっ
て反転されて指紋Ａモードの動作の間ゲート５５を不能
化する。

指紋Ａモードの動作において、ＦＰ−Ａ細目番号はレジ
スタ５７に直接ストアされ、他方指紋ＡのＦＰ−Ａ細目
データＸ、Ｙ、θおよびＦＰ−Ａ細目番号が入力マルチ
プレクサ４７を通過してかつそれぞれにＲＩＶエンコー
ダ５９およびタイミングおよび制御回路８３（後で説明
される）へそれぞれに与えられる。

ＲＩＶエンコーダ５９は基本的には、その細目に関して
各細目およびそれらの相対的場所および配向のため最も
近い近隣を決定する機能を威す。

この機能を成す前に、エンコーダ５９はＦＰ−Ａ細目デ
ータを相対的情報ベクトル（ＲＩＶ）フォーマットまた
はｒ、φおよび△θ（第１図で前に説明された）に変換
する。

ｒ。θおよび△θの値はすべての他の細目に関して各細
目のためのエンコーダ５９によって並列に発生される。

ＲＩＶエンコーダ５９はまたそれが発生する各ＲＩＶに
おける細目の数（またはＦｔＩＶ細目番号）を決定する
。

第１図に示されるように、値ｒおよびφは相対的な場所
を表示しかつ値△θは中心細目に関して近隣細目の相対
的配向を表す。

ＲＩＶフォーマット化された結果は各細目のまわりのＲ
ＩＶ近隣の決定のためｒのしきい値を用いる。

＠（中心の）細目およびその関連のＦｔＩＶならびにそ
の関連のＲＩＶにおける細目の数（またはＲＩＶ細目番
号）を含み、しきい値弁別されたＲＩＶエンコード化さ
れた情報信号（ＲＩＶ−Ａｉｎｆｏ、 ） は、ＲＩＶ
エンコーダ５９から、出力マルチプレクサ４９を介して
指紋Ａ（ＦＰ−Ａ）ＲＩＶ情報記憶回路６１の入力へ通
される。

前記記憶回路６１はランダムアクセスメモリであっても
よい。

スキャン開始信号はまたアドレスカウンタ６３をＯＲゲ
ート６５を経由してゼロカウントへリセットされる。

リセットされているときアドレスカウンタ６３はＣ４ク
ロックをカウントし始めて、ゲート５１および５５へ与
えられる出力アドレスを順次的に発生する。

ゲート５１だけが指紋Ａモードの動作の間能動化される
ので、カウンタ６３からのアドレスはゲート５１を介し
て記憶回路６１へ通過する。

このように、マルチプレクサ４９から（７）ＦＰ−Ａ
ＦＬＩＶ情報信号が、指紋Ａモードの動作の間記憶回
路６１のアドレス指定された場所に選択的にストアされ
る。

Ｆ Ｐ−ＡＭ目データがエンコータ′５９によってＲＩ
Ｖエンコード化されかつ回路６１にストアされたあと、
開始ＦＰ−Ｂ信号が受信される（第３図から）。

開始ＦＰ−Ｂ信号はモードＡ／Ｂフリップフロップ４５
をリセットしてＯ状態モード信号出力を発生する。

フリップフロップ４５のこの０状態モ一ド信号出力はゲ
ート５１を不能化し、他方マルチプレクサ４７および４
９を能動化して指紋Ｂモードの動作で作動する。

同時に、インバータ５３によるフリップフロップ４５の
０状態モ一ド信号出力の反転によって、ゲート５５もま
た指紋Ｂモードの動作で作動可能になる。

指紋Ｂモードの動作において、細目データによって表示
される指紋の前に読み出されたファイルからのＦＰ−Ｂ
細目番号が直接レジスタ６６にストアされ、他方、ＦＰ
−Ｂ細目データＸ、Ｙ、θおよびＦＰ−Ｂ細目番号が入
力マルチプレクサ４７を通過されかつそれぞれにＲＩＶ
エンコーダ５９およびタイミングおよび制御回路８３へ
与えられる。

エンコーダ５９は、Ｘ、Ｙ、θフォーマット化されたＦ
Ｐ−Ｂ細目データを、指紋Ａに関するそれと同様に、し
きい値弁別されたＲＩＶエンコード化情報信号ＲＩ Ｖ
−Ｂ １ｎｆｏ、’）ｔＣ変換する。

ＲＩＶ−Ｂ情報信号はそのとき出力マルチプレクサ４９
を介して回路６１に類似の指紋Ｂ（ＦＰ−Ｂ）ＲＩＶ情
報記憶回路６７の入力へ通過される。

（以下に説明される第６Ａ図からの）「指紋終了（以下
プリント終了と称す）Ｊ ＥＯＰ信号がＯＲゲート６５
を通過されてアドレスカウンタ６３をゼロカウントにリ
セットする。

リセットされるときカウンタ６３はＣ４クロックをカウ
ントし始めて、再び出力アドレスを順次的に発生してゲ
ート５１および５５へ与える。

ゲート５５だけが指紋Ｂモードの動作の間能動化される
ので、カウンタ６３からのアドレスはゲート５５を通過
して記憶回路６７へ入る。

このように、マルチプレクサ４９からの指紋ＢのＲＩＶ
情報信号が指紋Ｂモードの動作の間記憶回路６７のアド
レス指定された場所に選択的にストアされる。

ＡおよびＢ指紋がエンコーダ５９によってＲＩＶ情報信
号フォーマットに変換されかづ記憶回路６１および６７
に配置されたあとは、照合器システムの残りのものによ
ってＡおよびＢ指紋（ＦＰ−ＡおよびＦＰ−Ｂ）のすべ
てのさらに他の信号処理はＥ（ＩＶ情報信号フォーマッ
トで行なわれる。

この好ましい実施例の動作の順次的モードにおいて、基
準ファイルからの後続のＦＰ−Ｂは、第２７図によって
の全照合処理の完了まで待たなければならず、かつその
時点で議論される。

次の動作は照合コンパレータ４１によって遂行される。

基本的には、照合コンパレータ４１は、未識別または未
知の指紋Ａの各Ｅ（ＩＶと既知の基準指紋Ｂの各ＲＩＶ
とを選択的に比較しかつ各ＲＩＶの対の比較に対するＲ
ＩＶ照合点数を発生する。

与えられた時間に発生されるＥｔＩＶ照合点数の大きさ
は、その与えられた時間に比較される２個のＲＩＶ間の
照合の近さを表示する。

Ｃ４およびＣ５クロック、レジスタ５７および６６の出
力、および制御信号ＣＭＡ、ＮＭＡ。

ＥＯＰおよび「ＲＩＶ照合および一覧表化」（説明され
る）が照合コンパレータ４１のＲＩＶセレクク６９へ与
えられる。

これらの入力信号に応答して、ＲＩ Ｖ−ＩＺレクタ６
９はＲＩＶ−ＡおヨヒＲＩＶ−Ｂ読み出しアドレスを記
憶回路６１および６７へそれぞれに供給する。

これらの読み出しアドレスは選択的にＲＩＶ−Ａおよび
ＲＩＶ−Ｂ情報信号を能動化して記憶回路６１および６
７から読み出されかつ中心細目比較回路７１へ与えられ
る。

そのアドレス指定シーケンスにおいて、ＲＩＶセレクタ
６９は指紋Ａから第１のＲＩＶ情報信号（第１のＲＩＶ
−Ａおよびその関連の第１の中心細目および第１のＲＩ
Ｖ細目番号）を選択しかつそれから指紋ＢからのＲＩＶ
情報信号（ＲＩＶおよびそれらの関連の中心細目ならび
にＲＩＶの細目の関連の数）のすべてをある一時に順次
的に選択する。

指紋Ａからの第１のＲＩＶが指紋ＢのＲＩＶの各々と照
合コンパレータ４１で比較されたあと、指紋Ａの第２の
ＲＩＶが指紋ＢのＲＩＶの各々と比較され、以下同様に
繰り返される。

この態様で、指紋ＡおよびＢの間のＲＩＶのすべての対
が比較される。

照合コンパレータ４１はそれに与えられるＲＩＶＡおよ
びＲＩＶ−Ｂ情報信号に基づいて２個の異なる比較を行
う。

第１の比較は、ＲＩＶの各々の対に関連の中心細目に基
づいて中心細目比較回路７１によって行われる。

比較回路７１は指紋ＡおよびＢの２個のＲＩＶの中心細
目のパラメータＸ 、Ｙ 、θを互いに比較する。

比較回路７１は、ＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂの中心細
目の各々のパラメータＸ 、Ｙ 、θが、それらの
２個のＦｔＩＶをさらに比較するためにその出力へ与え
る前に接近度テストを満足するということを必要とする
。

より詳細に説明すると、比較されている２個のＲＩＶの
中心細目間のＸ座標差、Ｙ座標差または配向角度θの差
が充分に小さくなければ、そのＲＩＶの対はそれ以上の
比較を拒否される、なぜならば予備的な全体の基準（中
心細目に基づく）が、ＲＩＶの対が一致しそうにないと
いうことを表示するからである。

上述のアドレス指定シーケンスによって、ＲＩＶセレク
タ６９は、回路７１によってもう１つの中心細目比較を
するため記憶回路６１および６７からのもう１つのＲＩ
Ｖの対およびその関連の中心細目を選択する。

ＡおよびＢ指紋からのＲＩＶの対の中心細目のそれぞれ
のパラメータの差Ｘ。

Ａ−ＸｏＢ、ＹｏＡ−ＹｏＢ、θいθ。

Ｂ）が、−りするらしいということを表示するのにすべ
てが充分に小さいとき、そのＲＩＶの対（およびその対
の各ＲＩＶにおける細目の数）が第２の比較のためにＲ
ＩＶ比較回路７３へ通される。

比較回路７３は、指紋ＡのＲＩＶの中心細目の各近隣（
’ｒ ｔφおよび△θのＲＩＶフォーマット）と指紋Ｂ
のＲＩＶの中心細目の各近隣とを比較し、かつ比較され
ている２個の指紋からの各ＲＩＶの対のための別々のＲ
ＩＶ照合点数ＳＡＢを計算してそのＲＩＶの対に対する
照合の近さを表示する。

基本的には、この照合点数は、ＲＩＶ−Ａの各細目のた
めの相対的座標とＲＩＶ−Ｈにおける各細目の相対的座
標とを比較することによってＲＩＶＢの「片方」を見い
出すＲＩＶ−Ａの細目の数から計算される。

その結果、各ＲＩＶ照合点数は、指紋ＡおよびＢからの
ＲＩＶの対の細目パターンが同じ指によって発生された
確率に対して量的に関連する。

ＲＩｖ−Ａ（ＸｏＡ、ＹＯＡおよびθＣＡ）の各中心細
目およびＲＩＶ−Ｂ（ＸｏＢ、ＹｏＢおよびθ。

Ｂ）のその関連の中心細目もまた、照合コンパレータ４
１の座標変換回路７５へ与えられる。

座標変換回路７５はＲＩＶ−ＡおよびＢの中心細目の角
変位または回転ΔθＡＢを発生するとともに、たとえば
、そのとき比較されているＲＩＶの対の中心細目の３個
の異なる角回転に対する座標変位の３個の異なる組を発
生する。

中心細目の各入力の対ならびにコンパレータ回路７３か
らの１状態の「Ｄ選択（Ｓｅｌｅｃｔ Ｄ） Ｊ ｔ
ｒ Ｅ選択（Ｓｅｌｅｃｔ Ｅ）Ｊまたは「Ｆ選択（
Ｓｅｌｅｃｔ Ｆ ）Ｊ 信号に応答して、回路７５は
出力座標変位（△ＸＡＢおよぶΔＹＡＢ）として典型的
な３個の組の座標の１つを選択する。

△ＸＡＢ、△ＹＡＢおよび△θＡＢの変位信号は点数プ
ロセサ４３の点数ゲート７７へ与えられて、いかに多く
の指紋ＡのＲＩＶの座標が指紋Ｂの関連のＦｔＩＶの座
標に関して変位されかつ回転されなければならないかを
表示し、その結果ＡおよびＢ指紋の中心細目および近隣
細目が照合する。

この動作のために、△Ｘ、△Ｙおよび△θはそれぞれに
、ＡおよびＢ指紋の中心細目の２個の座標系の相対的水
平および垂直変位および角変位または回転を表わす。

ＲＩＶ比較回路７３からのＦｔＩＶ照合点数ＳＡＢが点
数プロセサ４３の点数ゲートγ７へ与えられる。

点数プロセサ４３は、全体的な観点から指紋ＡおよびＢ
のＲＩＶ照合点数の組を解析し、かつ、それらの２個の
指紋間の類似性の度合を量的に表示する最終的な点数を
発生する。

充分に高いＲＩＶ照合点数ＳＡＢによって点数ゲート７
７が「ストア」信号を発生し、この信号は照合点数Ｓ
およびその変位信号△Ｘ 、△Ｙ および△θＡ
ＢＡＢ ＡＢ を能動化して点数ゲート７７から通過されかつ３次元の
ヒストグラムまたは点数リストレジスタ７９にストアさ
れる。

このヒストグラム１９の照合点数の位置は、照合されて
いる２個のＲＩＶの中心細目の座標間の差（△Ｘ、△Ｙ
、Δθ）から得られる。

あとで議論されるように、△ＸＡＢ＝ＸＡｃ−Ｘ
、△Ｙ ＝Ｙ −Ｙ 、およびＣ △θＡＢ＝”ＡＣ−θＢｅであり、ここにおいて、サブ
スクリプトＡＣはＲＩＶ−Ａの中心細目を表わし、サブ
スクリプトＢＣはＦｔＩＶ−Ｈの中心細目を表わし、か
つサブスクリプトＡＢはＦｔＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ
間の差（ｘ、ｙまたはθ）を表わす。

点数リストレジスタ７９は、照合コンパレータ４１およ
び点数ゲート７７の座標を満足するＲＩＶの各対に対す
る（比較されている２個の指紋間の）２個の座標系の照
合点数Ｓ、および変位△Ｘ、、△Ｙ、、△θ、を含み、
ここにｉ＝１から１９２までのＲＩＶの対の比較である
。

指紋ＡおよびＢのＲＩＶのすべての対が比較されかつ点
数ゲート７７からの照合点数および位置データのすべて
が点数リストア９へ入れられたとき、ヒストグラムが完
成される。

ヒストグラムの完成後、 ｒＧｃＡ開始」 （全コヒー
レンジ分析）信号が全コヒーレンジアナライザ８１を能
動化して点数リストを能動化してそのデータ内容を読み
出してアナライザ８１へ与える。

全体的なコヒーレンジアナライザ８１は、点数リストア
９によって表わされるΔＸ、△Ｙおよび△θ全空間おけ
る最も密な点を表現する目的で、△Ｘ、△Ｙおよび△θ
全空間３次元のヒストグラムを遂行する。

コヒーレンジアナライザ８１は、照合点数のすべてが、
指紋ＡおよびＢの指紋パターンのコヒーレンジが破壊さ
れないような態様でともに加えられるということを保証
する。

アナライザ８１は、上述したように、比較されている２
個の指紋間の類似性の度合を量的に表示する最終点数を
発生する。

この最終点数は、照合されたＲＩＶＯ数の関数であり、
ＲＩｖがいかにうまく照合したか、かつそれらの相対的
並進および回転がいかに密にグループ化したかの関数で
ある。

アナライザ８１はまたそれらの指紋の最も良い照合のた
めＡおよびＢ指紋の２個の座標系の相対変位△Ｘ、△Ｙ
、△θを発生する。

その分析が完了するとき、アナライザ８１は「ＧＣＡの
終わり」信号を発生する。

タイミングおよび制御回路８３は、次の入力制御信号を
選択的に受ける。

すなわち、その入力制御信号は、電源オン（あとで説明
される）、スキャン開始（第３図）、スキャン終了（第
３図）、ＦＰ−Ｂ開始（第３図）、ファイルから次のＦ
Ｐ−Ｂを得る（説明される）、ＧＣＡの終了（全体的な
コヒーレンジ分析）（第２７図）、および入力マルチプ
レクサ４７からのＦＰ−細目番号である。

これらの入力制御信号に応答して、タイミングおよび制
御回路８３が、Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４およびＣ５クロ
ックパルスを近似的に予め選択された周波数で与え、そ
れとともに、中心細目アドレスｃＭＡｓ近隣細目アトＩ
／スＮＭＡ、新ＲＩＶ。

プリント終了ＥＯＰおよびＧＣＡ開始制御信号を与えて
、第５図のシステムのためのタイミング動作を制御する
。

Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４およびＣ３の周波数は、Ｃ１＝
２Ｃ２＝１６Ｃ３−３，０７２Ｃ４＝５８９．８２４Ｃ
６のように予め選択される。

第５図のシステムの動作が今、残りの図面を参照するこ
とによってさらに詳細に説明される。

第６Ａ図および第６Ｂ図は、組み合わせて、第５図のタ
イミングおよび制御回路８３のブロックダイアグラムを
与える。

第６Ａ図が最初に議論される。

第６Ａ図において、クロック発生器およびカウントダウ
ン回路（図示せず）を含むことができるタイミングパル
ス発生器８５は、Ｃ１，Ｃ２゜Ｃ３，Ｃ４およびＣ５ク
ロックパルスを発生する。

「可能化」信号（第６Ｂ図）は発生器８５を能動化して
これらのＣ１・・・Ｃ５クロックパルスの発生を開始す
る。

この「可能化」信号は「スキャン終ｎ信号（第３図）の
ときに発生され、それは未知のＦＰ−Ａが読み出された
あとに発生し、かつ「ファイルから次のＦＰ−Ｂを得る
」信号（第６Ｂ図）が発生されるときに発生する。

後読の「可能化」信号が受信されない限り、ＪＧＣＡの
終了」信号（第２７図）は発生器８５を不能化して、そ
れがＣ１・・・・・・Ｃ５クロックパルスを発生するの
を妨げる。

Ｃ５クロックパルスは中心細目カウンタ８１によってカ
ウントされて８ビット幅中心細目アドレスＣＭＡを発生
する。

Ｃ５クロックパルスよりも１９２倍大きい周波数を有す
るＣ４クロックパルスが、近隣細目カウンタ８９によっ
てカウントされて８ビット幅の近隣細目アドレスＮＭＡ
を発生する。

中心細目アドレスＣＭＡと指紋内容１９２またはそれ以
上の細目のための近隣細目アドレスＮＭＡとの関係は第
７図により明確に示される。

この図示において、Ｃ５クロックによって増分されるカ
ウンタ８７は、１９１Ｃ，クロックパルス期間の間合カ
ウントを保持する。

これは、ＮＭＡ力ＣＭＡに等しいままであるのを許容さ
れないが、しかしＮＭＡ＝ＣＭＡになるとすぐに１だけ
増分されるという事実に基づくものである（あとで説明
される）。

それゆえに、第１図に示されるように、カウンタ８７の
各ＣＭＡカウントの間、カウンタ８９は効果的に、その
ＣＭＡカウントに等しいＮＭＡカウントをスキップする
、なぜならば中心細目のＲＩＶはその中心細目を含まな
いからである。

このように、カウンタ８７がＣＭＡ＝１（または０００
００００１ ）を発生している時間期間の間に、カウン
タ８９が効果的に、２ないし１９２（または０００００
０１０ないし１１００００００）のＮＭＡを発生しかつ
１のそのカウントをスキップする。

同様に、カウンタ８７がＣＭＡ＝２を発生している間の
時間期間の間、カウンタ８９はＮＭＡ＝１を発生し、効
果的に２のカウントをスキップし、かつ３ないし１９２
のＮＭＡを発生する。

この動作は、カウンタ８７が１ないし１９２のＣＭＡを
発生するとき続く。

カウンタ８γがＣＭＡ＝１９２を発生している時間期間
の間、カウンタ８９は１ないし１９１のＮＭＡを発生す
る。

第７図は指紋内容１９２またはそれ以上の細目に対する
ＣＭＡとＮＭＡとの関係を示しているが、指紋の細目番
号（ＦＰ細目数）が１９２以下でもよい。

第６Ａ図に戻って再び参照すると、ＲＩＶがカウンタ８
７の各カウントまたはＣＭＡＯ間に発生される。

指紋のＲＩＶのすべてが発生されたあと、「プリント終
了ｊ ＥＯＰ信号の立上がり縁が、次の指紋のためカウ
ンタ８７をリセットするために用いられる。

入力指紋の細目のすべてが処理されたあとで発生される
、この「プリント終了」信号は、２個の作動的条件のい
ずれかのもとに発生される。

すなわち、指紋が少なくとも１９２個の細目または１９
２以下の細目を含むとき、発生される。

これらの２個の作動的条件は本質的に、「プリント終了
」信号の発生を開始するために第６Ａ図の異なる回路を
必要としかつ、したがって、態別に議論されよう。

指紋が１９２またはそれ以上の細目を含むときに「プリ
ント終了」信号を発生するために、ＣＭＡおよびＮＭＡ
カウントは１６−人力ＡＮＤゲート９１へともに与えら
れる。

ＡＮＤゲート９１は、選択的に反転される入力と反転さ
れない入力とを有し、そのためそれは、もしもＣＭＡ＝
１９２およびＮＭＡ＝１９１ならば、１状態信号を発生
しかつＯＲゲート９３を介して遅延回路９５へ与える。

遅延回路９５はこの１状態信号を１個のＣ４クロックパ
ルス期間の間遅延として１９１のＮＭＡを能動化して完
了され、その１９１のＮＭＡはＣＭＡ＝１９２である時
間期間の間発生される。

遅延回路９５の出力は「プリント終了」信号である。

指紋のための１９２の細目上限はこの説明の目的のため
に任意的に選ばれていたということをこのとき注目され
るべきである。

この発明のシステムは指紋のための任意の所望の細目上
限で実現されることができるということも理解されるべ
きである。

指紋の細目の数（ＦＰ細目番号）が１９２以下であると
き、付加的回路が「プリント終了」信号を発生するため
に要求される。

この動作のために、そのときに処理されている指紋の細
目番号の２進数は入力マルチプレクサ４７（第５図）か
ら中心細目コンパレータ９７および減算器９９へ与えら
れる。

もしもカウンタ８７のカウントＣＭＡ＝処理されている
指紋のＦＰ細目番号、であれば、コンパレータ９７は１
状態信号を発生しかつＡＮＤゲート１０１の第１人力へ
与える。

減算器９９は指紋のＦＰ細目番号から１を減算しかつそ
の差をコンパレータ１０３へ与える。

カウンタ８９からのＮＭＡカウントはまたこの差（ＦＰ
細目番号マイナス１）と比較するためのコンパレータ１
０３へ与エラレる。

ＮＭＡ＝ＦＰ細目番号マイナス１のとき、コンパレータ
１０３はｌ状態信号を発生しかつこの信号をＡＮＤゲー
ト１０１ｎ第２第２ヘカえる。

コンパレータ９７の出力によって前に能動化されていた
ＡＮＤゲート１０１は、コンパレータ１０３の出力をＯ
Ｒゲート９３を介して遅延回路９５へ通す。

１個のＩ Ｃ４クロックパルス期間後に、「プリント終
了Ｊ ＥＯＰ信号が遅延回路９５の出力に発生される。

このように、 「プリント終了」信号は、処理されてい
る指紋に１９２またはそれ以上の細目があるときＡＮＤ
ゲート９１から抽出されかつ指紋に１９２以下の細目が
あるときはＡＮＤゲート１０１から抽出される。

「プリント終了」信号が、ＮＭＡ＝ＣＭＡ−１のときの
時間の開始後１個のＣ４クロックパルス期間を常に発生
するということに注目されたい。

ＲＩＶがカウンタ８７の各ＣＭＡカウントの間発生され
るということが思い出されるべきである。

各ＲＩＶの終了するとき、「次のＲＩ ＶＪ信号が次の
ＲＩＶのためカウンタ８９をリセットするように発生さ
れる。

この１次のＲＩＶＪ信号は、ＮＭＡ＝ＦＰ細目番号また
は１９２（どちらが少なくても）後に１個のＣ４クロッ
クパルス期間を発生し、または「プリント終了」信号が
発生されたときに発生される。

これらの３個の作動的な条件の各々は別々に説明されよ
う。

ＮＭＡ＝ＦＰ細目番号後に１個のＣ４クロックパルス期
間「次のＲＩＶＪ信号を発生する際に、カウンタ８９か
らのＮＭＡカウントは近隣の細目コンパレータ１０５へ
与えられる。

コンパレーク１０５は１状態信号を発生しかつこの信号
をＯＲゲート１０７を介して遅延回路１０９へ与える。

遅延回路１０９は１個のＣ４クロックパルス期間の間こ
の１状態信号を遅延して、指紋のＦＰ細目番号と等しい
ＮＭＡカウントを完成する。

遅延回路１０９の出力は「次のＲ，ＩＶＪ信号としてＯ
Ｒアゲ−１１を介して与えられる。

指紋が１９２またはそれ以上の細目を含もときに１次の
ＲＩＶＪ信号を発生する際に、ＮＩ’Ｖ［Ａに対する１
９２の細目上限は、上述されたように、任意に選択され
る。

この場合、ＮＭＡカウントは８−人力ＡＮＤゲート１１
３へ与えられ、このゲ゛−Ｎ１３はその２個の最上位ビ
ット入力を除いて反転される他のすべての入力を有する
。

ＮＭＡ１９２のとき、ＡＮＤゲート１１３は１状態信号
を発生しかつこの信号をＯＲゲート１０７を介して遅延
回路１０９へ与える。

１９２のＮＭＡカウントが完成された後、遅延回路１０
９は１状態信号を「次のＲＩＶＪ信号としてＯＲゲート
１１１を介して与える。

１つの指紋の完了時に、「プリント終了」信号もまた、
次の指紋の第１のＲＩＶのための「次のＲＩＶ」信号と
してＯＲゲート１１１を介して与えられる。

それゆえに次のようなことが解せられる。

すなわち、処理されている指紋に１９２以下の細目があ
るとき、「次のＲＩ ｖＪ倍信号コンパレータ１０５か
ら最初に抽出され、処理されている指紋に１９２以上の
細目があるとき「次のＲＩＶＩ信号がＡＮＤゲート１１
３から最初に抽出され、かつ次の指紋の第１のＲＩＶの
ための「次のＲＩＶｊ信号が遅延回路９５から最初に抽
出される。

各１次のＲＩＶＪ信号の立上がり縁はカウンタ８９をゼ
ロカウントにリセットし、そのため次のＦｔＩＶは第５
図のシステムによって発生されることができる。

「次のＲＩＶｊ信号のタイミングは、１９２個の細目を
含む指紋の各ＲＩＶの開始に対して第７図に示されてい
る。

特に、第７図の波形１１５の「次のＲＩＶＪ信号を参照
されたい。

前述したように、ＲＩＶは指紋の各細目のために発生さ
れかつ本質的にその細目のすぐ近隣の群細な記述である
。

さらに、ＲＩＶが発生された細目はそのＲＩＶに対する
中心細目である。

それゆえに、中心細目のＲＩＶはその中心細目を含まな
い。

ＲＩＶの中心細目がそのＲＩＶに含まれないようにする
ために、コンパレータ１１７はタイミングおよび制御回
路８３に含まれる。

基本的にはコンパレータ１１７は中心細目アドレスＣＭ
Ａと近隣細目アドレスＮＭＡとを比較する。

ＮＭＡＣＭＡになるとすぐに、コンパレータ１１７は即
座に１１だけ増分」信号を発生し、この信号は近隣細目
カウンタ８９へ与えられて、それによってカウンタ８９
がそのカウントを１だけ増分する。

この態様で、近隣細目アドレスが中心細目アドレスに等
しくなるようには決して許容されない。

したがって、細目のＲＩＶはその細目を含むことができ
ない。

今、第６Ｂ図を参照して、第５図のタイミングおよび制
御回路８３の第２の部分が議論されよう。

指紋細目パターン照合器システムがまず動作に入れられ
るとき（当業者に自明であるので図示せず欠「電源オン
」信号がＯＲゲート９４を介して与えられて「待ち」フ
リップフロップ９６をセットする。

さらに、この「電源オン」信号は、それぞれにＯＲゲー
ト１００Ａ、１０４Ａ、１１２Ａ。

１１６Ａおよび１２２Ａを介してフリップフロップ１０
０，１０４，１１２，１１６および１２２をリセットす
ることによって、第６Ａ図および第６Ｂ図のタイミング
および制御回路８３の適正なタイミングシーケンスを開
始する。

「待ち」フリップフロップ９６の出力はＡＮＤゲ゛−ト
９８の下方入力を能動化する。

したがってフリップフロップ９６は、第３図に示される
ように、新ＦＰ−ＡがＡＮＤゲート１９（第３図）の出
力からの「スキャン開始」信号によって開始されるまで
「待ち」モードの動作にある。

「スキャン開始」信号はＦＰ−Ａ細目の検出およびＲＡ
Ｍ２７（第３図）への記憶を始動するということが思い
出されよう。

「スキャン開始」信号は能動化されたＡＮＤゲート９８
を介して与えられてＪＦＰ−Ａをロード」フリップフロ
ップ１００をセットしかつフリップフロップ９６をリセ
ットして「待ち」モードの動作を終了する。

セットされるとき、 「ｐｐ−Ａをロードする」フリッ
プフロップ１００の出力はＡＮＤゲ゛−ト１０２の下方
入力を能動化する。

フリップフロップ１００はこのようにＦＰ−Ａの細目の
全てが検出されかつＲＡＭ２７（第３図）ヘスドアされ
るときの時間期間の間「ｐｐ−Ａをロードする」モード
の動作にある。

ＦＰ−Ａの細目の全てがＲＡＭ２７にストアされたとき
、「スキャン終了」信号がこの時間期間の終る時に発生
するということが思い出されよう。

ＡＮＤゲート２１（第３図）の出力からの「スキャン終
了」信号はＲＡＭ２７（第３図）をＦＰ−ＡのＲＩＶエ
ンコードのためのデータコンバータ３９（第５図）へ読
み出すのを開始するということがさらに思い出されよう
。

「スキャン終了」信号は能動化されたＡＮＤゲート１０
２を介して与えられて、 「ＲＩｖ−エンコードＦＰ−
Ａｌフリップフロップ１０４をセットしかつＯＥ（ゲー
ト１００Ａを介してフリップフロップ１００をリセット
し、その結果ｒｐｐ−Ａをロードする」モードの動作を
終了させる。

さらに、能動化されたＡＮＤゲート１０２を介して与え
られた「スキャン終了」信号は「可能化」信号としてＯ
Ｒゲート１０６を介して通さ羽て、Ｃ１・・・Ｃ。

クロックパルスを発生するようにタイミングパルス発生
器８５（第６Ａ図）を能動化する。

セットされるとき、「ＲＩＶ−エンコーダＦＰ−Ａ」フ
リップフロップ１０４の出力はＡＮＤゲ゛−ト１０８の
下方入力を能動化する。

フリップフロップ１０４はこのように、ＲＡＭ２７（第
３図）のＦＰ−Ａ細目データ内容全てがＲＩＶエンコー
ドのため読み出されている時間期間の間、 ＪＲＩＶエ
ンコードＦＰ−ＡＪモードの動作にある。

ＲＡＭ２７の内容が読み出されたとき、コンパレータ３
７（第３図）はＪｐｐ−Ｂ開始」信号の発生を開始する
ということが思い出されよう。

「ＦＰ−Ｂ開始」信号がＦＰ−Ｂ細目データ（および情
報）を能動化してＢ指紋ファイル（図示せず）から読み
出されかつデータコンバータ３９（第５図）によってＲ
Ｉｖエンコード化されるということも思い出されよう。

ｌ’−Ｆｐ−Ｂ開始」信号はまた能動化されたＡＮＤゲ
ート１０８およびＯＲゲート１１０を介して直列的に与
えられて、 ［ＩＶ−エンコードＦＰ−ＢＪフリップフ
ロップ１１２をセットしかつＯＲゲート１０４Ａを介し
てフリップフロップ１０４をリセットし［Ｉｖ−エンコ
−ドＦＰ−Ｂｊモードの動作を終了させる。

セットされるとき、 「ＲＩＶ−エンコードＦＰ−ＢＪ
フリップフロップ１１２の出力はＡＮＤゲ−Ｎ１４の下
方入力を能動化する。

フリップフロップ１１２はこのように、指紋ＢのＦＰ−
Ｂ細目データの全てがデータコンバータ３９ （第５図
）によってＲＩＶエンコード化されているときの時間期
間の間、 ［［Ｖ−エンコードＦ Ｐ −ＢＪモードの
動作にある。

ＦＰ−ＢのＲＩＶエンコード化が終るとき、プリント終
了ＥＯＰ信号が遅延回路９５（第６Ａ図）の出力に発生
される。

このＥＯＰ信号はＡＮＤゲート１１４および１２０へ与
えられる。

しかしながら、ＡＮＤゲート１１４だけがこのＥＯＰ信
号の時間の間能動化される。

このＥＯＰ信号は能動化されたＡＮＤゲート１１４を介
して与えられて、「ＲＩｖ照合および一覧表化」フリッ
プフロップ１１６をセットしかつＯＲゲート１１２Ａに
よってフリップフロップ１１２をリセットし、その結果
「ＲＩｖエンコードＦＰＢＪモードの動作を終了させる
。

セットされるとき、「ＲＩＶ照合および一覧表化」フリ
ップフロップ１１６の出力は「ＲＩＶ照合および一覧表
化」信号となり、この信号はＲＩＶセレクタ６９（第１
８図）へ与えられて、照合コンパレータ４１（第５図）
を能動化して指紋ＡおよびＢのＲＩＶ ＡおよびＢの
全てを照合しかつ一覧表化する。

この「ＲＩｖ照合および一覧表化信号はまた遅延回路１
１８を介して通されて、ＡＮＤゲート１２０の下方入力
を能動化する。

遅延回路１１８の遅延、は、ＦＰ−Ｂ（７）ＲＩ Ｖ−
ｒ−ンコード化の終了の結果生じるＥＯＰ信号の終った
後まで、ＡＮＤゲート１２０の下方入力を禁止するのに
充分な任意の遅延（例えば、１個のＣ４クロック期間）
であってもよい。

フリップフロップ１１６はこのように、指紋ＡおよびＢ
のＲＩＶＡおよびＢの全てが照合かつ一覧表化されてい
るときの時間期間の間、ＪＲＩＶ照合および一覧表化」
モードの動作にある。

発生される次のＥＯＰパルス（第６Ａ図）はｒＧｃＡ開
始」 （全体的なコヒーレンジ分析）パルスとして能動
化されたＡＮＤゲート１２０を介して与えられる。

この「ＯＣＡ開始」パルスは全体的なコヒーレンジアナ
ライザ８１（第２６図）へ与えられて、ストアリストレ
ジスタ７９にストアされた点数および変位信号の全体的
なコヒーレンジ分析を始める。

この次のＥＯＰパルスが生じるときまでには指紋Ａおよ
びＢのＲＩＶ ＡおよびＢの全てが照合されてしまう
。

その結果、この「ＧＣＡ開始」パルスは、「ＲＩｖ照合
および一覧表化」モードの動作を終了させる目的で、Ｏ
Ｒゲート１１６Ａを介してフリップフロップ１１６をリ
セットするために用いられる。

回路８１がその分析を完了したとき、それはＯＲゲート
１２２Ａを介して「ＯＣＡ終了」信号を与えて、フリッ
プフロップ１２２をリセットし、フリップフロップ１２
２の動作の全体的コヒーレンジ分析モードを終了させる
。

この「ＧＣＡ終０信号はまたＯＲゲート９４を介して与
えられてフリップフロップ９６をセットしかつフリップ
フロップ９６を「待ち」モードの動作へ戻す。

さらに、この「ＧＣＡ終了」信号は、タイミングパルス
発生器８５（第６Ａ図）を不能化してそれがＣ１・・・
Ｃ５クロックパルスを発生するのを妨げるように用いら
れる。

この指紋細目パターン照合器がその一部であるところの
より高いオーダーシステム（図示せず）を思慮すると、
「ファイルから次のＦＰ−Ｂを得る」信号が発生され
る。

この「ファイルから次のＦＰ−Ｂを得る」信号は「可能
化」信号としてＯＲゲート１０６を介して与えられて発
生器８５（ｇ６Ａ図）を能動化しＣ１・・・Ｃ５クロッ
クパルスを再び発生し始める。

さらに、この「ファイルから次のＦＰ−Ｂを得る」信号
はＯＲゲート１１０を介して与えられてフリップフロッ
プ１１２をセットしＴ 「ＲＩ Ｖ−：ｒ−７コー ト
ＦＰ−ＢＪ モー トの動作へ戻す。

フリップフロップ１００および１０４はセットされる必
要がない、なぜならばＦＰ−Ａは既にロードされており
かっＲＩＶ−エンコード化されているからである。

それゆえにこの動作は新ＦＰ−Ａをバイパスしかつ比較
のためもう１つのＦＰ−Ｂを選択する。

後続の動作は前に述べられたものと同じである。

第５図のＲＩＶエンコーダ５９は第８図を参照すること
によって、より充分に説明されよう。

適正なタイミング目的のために、与えられた時間に処理
されている指紋の細目の各々のＸ、Ｙ、θフォーマット
化されたＦＰ細目データ（第５図のマルチプレクサ４７
から）は、ＦＰ細目データが、例えは記憶容量が１９２
Ｘ２４ビツトであるものとして示されているランダムア
クセスメモリＲＡＭ１２３にストアされるまで、入力バ
ッファ１２１へ選択的に与えられる。

ＲＡＭ１２３は１９２個の細目をストアし、各細目は２
４ビット幅であり、かつＸ、Ｙおよびθパラメータの各
々は８ビツトまたは１バイト幅である。

タイミングおよび制御回路８３（第５図および第６Ａ図
）から（７）ＣＭＡおよびＮＭＡはＲＩＶ（７）発生の
際にＦｔＡＭ１２３によって用いられる。

各ＣＭＡ時間に、ＲＡＭ１２３の関連のＣＭＡ場所にス
トアされた細目はＲＡＭ１２３から読み出されかつ中心
細目レジスタ１２５にストアされる。

レジスタ１２５は関連のＲＩＶかたまりの中心細目ＣＭ
（Ｘｏ、Ｙｏ、θ。

）として各アドレス指定された細目を受けて決定される
。

「次のＲＩＶＪパルス（第６Ａ図から）は遅延回路１２
６によってＩＣ１クロック期間遅延される。

この遅延された「次のＲＩＶＪ信号はレジスタ１２５の
中心細目ＣＭを能動化して中心細目（ＣＭ）および近隣
レジスタ１２７にまたストアされる。

レジスタ１２７はまた９個の他の信号Ｆｔ１− Ｒ，を
ストアするように記憶領域を有し、これらの９個の信号
Ｒ１Ｒ０は中心細目ＣＭの近隣細目であってもよく、な
くてもよい。

これらのＩＲｊで示す信号の記憶領域の各々は、ｒ、φ
および６０部分から成る。

遅延回路１２６からの遅延された「次のＲＩ ＶＪパル
スはまたその中心細目からの半径方向距離を増分する順
序で中心細目の各に１ｖの近隣細目を指標するための半
径方向順序分類器１２９を能動化してレジスタ１２７の
ｒ記憶部ｒ１ ｒｇの全てを初期設定し、そのためｒ
１ｒ９値の全てが、例えば３１に等しくなる。

さらに、レジスタ１２５にストアされるパラメータＸ
、Ｙ およびθ。

は、それぞれに減算器１３Ｌ１３３および１３５へ与え
られる。

中上・細目パラメータＸ 、Ｙ およびθ がそれ
ぞれにレジスタ１２５から減算器１３１，１３３および
１３５へ与えられている時間毎の間に、中心細目を除い
て、ＲＡＭ１２３にストアされた細目の全てのＸ、、Ｙ
、およびθ、パラメータはＮＭＡ時間にＲＡＭ１２３の
ＮＭＡ場所から順次読み出される。

上の場合、以下の説明と同じように、ｉ＝ｏ。

１．２・・・であって、１９２よりも小さく、または与
えられた時間に処理されている指紋ＦＰの細目番号とし
よう。

中心細目パラメータＸ 、Ｙ 、θ はそれぞれに
、減算器１３１，１３３および１３５のこれらのＸ、、
Ｙ、およびθ、パラメータ（例えば、Ｘｌ、 Ｙ、 、
θ１：・・・；Ｘｌ、２．Ｙｌ、２．θ１，２であり、
中心細目のそれらを含む）から減算される。

任意の与えられた時間に選択される各中心細目に対して
、ＲＡＭ１２３の全ての他の細目はその中心細目ｌご関
して計算されて、水平変位△Ｘ、、垂直変位△Ｙ、およ
び角変位△θ、を発生する。

ここに、△Ｘ、＝Ｘ、−Ｘ、△Ｙ 、 −Ｙ 、 −Ｙ
および１Ｇ △θ、＝θ、−θ である。

変位ΔＸ、およびΔＹ、はｒ発生器１３γへ与えられて
中心細目と各近隣細目との間の放射方向の距離ｒを計算
する。

発生器１３７は、放射方向の距離ｒｉを計算するために
、方程式 変位△Ｘ、および△Ｙ、ならびにθ は、φ発白
！ 止器１３９へ与えられて中心細目の尾部または配向と、
その中心細目の近隣細目の各々との間の角度φ、を計算
する。

発生器１３９は、角度φ、を計算するために、方程式 ＲＩＶに含まれる中心細目の近隣の数は最大半径方向の
距離ＲＴまたは上限Ｎ のいずれかであってより制限
的なほうによって制、限されることができる。

この議論の目的で、最大半径方向距離ＲＴが第８図で選
択されて、中心細目に関連の近隣細目の数を制限する。

その結果、中心細目からの近隣細目の半径距離ｒ −’
（ｒ発生器１３７から）の各々は、最大近隣コンパレ
ータ１４１へ順次的に与えられ、そのコンパレータ１４
１では、そのｒ、は、最大半径方向の距離のしきい値Ｒ
Ｔと内部的に比較される。

最大近隣コンパレータ１４１は、中心細目の最大半径距
離ＲＴの範囲内にどの近隣細目があるのかの決定を行な
う。

以下の説明の目的のために、最大半径方向距離しきい値
ＲＴの値を３０に等しいとしよう。

３０のしきい値ＲＴを越さない半径方向距離ｒｉの各々
によってコンパレータ１４１はパルス１４３を発生して
レジスター２７を能動化し同時にその半径方向距離ｒ、
に関連の新近隣細目Ｒ０のパラメータｒ−。

φ、、△θ、をストアする。

任意の前にストアされた近隣細目はＲ１−Ｆｔ８に含ま
れる。

前述したように、近隣細目Ｒのパラメータまたは値ｒ、
。

φ・、Δθ、はそれぞれに、発生器１３７および１ １３９ならびに減算器１３５から特定的に抽出される。

ｒ、φおよび△θのこれらの値は、全ての他の細目に関
して各中心細目に示されるように順次的に発生される。

ｒ、およびφ、は中心細目に関して接近した細目の位置
を規定し、他力、値△θ、は中心・細目に関して接近し
た細目の方向を■ 規定する。

コンパレータ１４１からのパルス１４３はまた半径方向
順序分類器１２９を能動化してレジスター２７から信号
Ｒ１−Ｒ９を選択的に指標し、中心細目ＣＭ（Ｘ 、
Ｙ 、θ ）からのその相対距離に従って前に分類さ
れかつストアされた信号Ｒ１Ｒ８の間で新しい近隣細目
Ｒ０を選択的に分類し、かつ中心細目ＣＭからのそれら
の相対的半径方向距離に従ってこれらの９個の信号の全
てをレジスター２７へ戻して選択的に再ストアする。

信号Ｒ，−Ｒ９のｒ） ｒｇの各々が３１の値に初期
設定されたので、３０またはそれ以下のｒ値を有する第
１の新近隣細目がＲ１場所に位置決めされる。

同様な態様で、全ての後続の近隣細目は、それらのそれ
ぞれの半径方向の距離に従って、３１へ初期設定された
ｒ値を有するＲを対応的に置き換える。

各ＣＭＡ期間の範囲内で、Ｘ、、Ｙ、、θ、細目の全て
が関連の中心細目Ｘ 、Ｙ 、θ に対して計算さ
れて、その中心細目に関して近隣細目に対して相対的位
置（ｒ、、φ、、△θ、フォーマット）を決定する。

各ＣＭＡ期間が終るまで、半径方向順序分類器１２９は
処理されている指紋の中心細目に対するｒ−、φ、、△
θ、フォーマットで最も接近した半径方向に分類された
、近隣細目を決定する。

半径方向距離しきい値ＲＴ内に含まれる中心細目の近隣
細目の数はＯからそれ以上に変化することができる。

しかしながら、上述したようにレジスター２７はＲ信号
として９個以上の近隣細目をストアしないように任意的
に実現されている。

３０またはそれ以下のｒ値を有する、レジスタ１２γの
それらのＲ信号のみが、ｒｌ、φ、。

△θ、フォーマットで近隣の、半径方向に分類された細
目であり、そのフォーマットは究極的には、その時にレ
ジスタ１２７にストアされている関連の中心細目のＲＩ
Ｖ近隣を形成する。

新Ｒ９（このＲ９は、興味ある中心細目の近傍また近隣
内にある第９番目の細目に関連する、かつ半径方向の距
離のしきい値ＲＴ内にある第９番目で最大の半径距離を
指す。

）が各新パルス１４３の時に発生される（および続いて
半径方向に分類される）ので、Ｒｏは必らずしも中心細
目ＣＭへ最も接近した第９番目の近隣細目でなくてもよ
い。

例えば、Ｒ９は３１に等しいｒ値を有する前に初期設定
されたＲ信号のなおも１個であることができる。

この理由のために、中心細目ＣＭおよび８個の信号Ｒ，
−Ｒ８だけがさらに処理するために出力回路１４５へ写
えられる。

ＣＭおよびＲ１−Ｒ８が「次のＲＩＶＪパルスの時に出
力回路１４５へ与えられるということが注目されるべき
である。

遅延された「次のＲＩＶＪパルス（遅延回路１２６から
）が新ＣＭおよびｒｌ−ｒｇの初期設定された値を能動
化してレジスタ１２γにストアされる前に、このタイミ
ング構成はＣＭおよびＲ１−Ｒ８データを能動化してレ
ジスタ１２７からアクセスされる。

出力回路１４５は、内部で、３０の予め選択されたしき
い値に対して信号Ｒ，−Ｒ８のｒ値の各々をしきい値弁
別する。

このように、半径方向の値ｒがコンパレータ１４１のし
きい値テスト（すなわち、ｒ、＝３０またはそれ以下）
をパスしたＲ１−Ｒ８のそれらの信号のみが、関連の中
心細目ＣＭのＲＩＶ近隣内に含むため、最も接近した近
隣細目として出力回路１４５によって発生される。

中心細目ＣＭおよびそのＣＭのＥｔＩＶはその出力回路
１４５の出力へ通される。

ｒ、φ、△θフォーマントの最も接近したまたは近隣細
目の０から８までのＥｔＩＶは出力回路１４５によって
発生されるということがわかる。

例えば、もしもＲ１−Ｒ８のｒ値が全て３１、全て３０
またはそれ以下、または３１と３０またはそれ以下との
間で混っているものであれば、ＲＩＶには、それぞれに
、０，８または１−７の近隣細目間がある。

ＲＩＶの細目の数はＯから８まで変わることができるの
で、出力回路１４５内には、Ｅ（ＩＶエンコーダ５９に
よって発生されている各ＲＩＶの細目の数（ＲＩＶ細目
番号）を決定する手段が含まれる。

異なるＲＩＶが各ＣＭＡカウントまたは期間の間に発生
される。

それゆえ、ＣＭＡ期間開始は新［（ＩＶに対する新中心
細目の開始を表示しかつまた前のＲＩＶの終了を表示す
る。

各ＲＩＶが終了した後、そのＲＩＶおよびそれに関連し
た中心細目、並びにそのＲＩＶの細目の数は、出力マル
チプレクサ４９（第５図）によって時分割多重化され力
）つＥ（ＩＶ記憶回路６１および６７（第５図）の関連
の１つにストアされる。

ＲＩＶがいかに抽出されるかの理解をさらに助けるため
に、第９図、第１０図、第１１図および第１２図が今説
明される。

この議論の限られた目的のために、第３図に説明される
ような、修正された指紋細目読取器は、指紋のそのラス
クパターンスキャンの間、第９図に示されるように、１
１個のみの細目を検出したと想定する。

数１−１１は１１個の細目が検出された順序を示し、円
の内側の点は細目を示し、かつ円からの尾部は細目の角
配向を示す。

ＲＩＶは指紋の全ての細目ごとに計算され、かつその中
心細目のＲＩＶに含まれる中心細目近隣の数が最大半径
距離ＲＴによって制限されるということが思い出されよ
う。

前に示したように、最大近隣コンパレータ１４１（第８
図）は、第９図に示される細目の各々の最大半径距離Ｒ
Ｔ内にある近隣細目を決定する機能を行なう。

第１０図は、最大半径距離ＲＴに対する中心細目のＲＩ
Ｖを取り巻く円形領域を示す。

第１０図の外側の円の周辺内に存在する任意の細目は中
心細目に対するＲＩＶ近隣を形成する。

概念的には、第１０図の長軸ＲＴは、例えば、細目１−
８の各各の軸（尾部）に沿って順次的に重ねられるとき
、細目１−８のためのＲＩＶ近隣が第１１図に示される
ように得られる。

特に、第１１図は細目１−８のためのＲＩＶ近隣を示す
ものであり、細目１−８の各々はその特有の１（ＩＶ近
隣の中心細目であり、かつ第１０図の長軸に沿って標準
規則の場所に配向される。

この態様で、第１０図で外側の円の周辺内に含まれる関
連の近隣細目１−１１はその関連の中心細目のためのＲ
ＩＶを形成する。

より特定的に説明すると、細目１に対するＲＩＶ（相対
的情報ベクトル）は細目３を含み；細目２に対するＲＩ
Ｖは細目４を含み；細目３に対するＲＩＶは細目１およ
び７を含み；細目４に対するＲＩＶは細目２，６および
８を含み：ＭＢ目５１ご対するＦｔＩＶは細目６および
９を含み；細目６に対するＲＩＶは細目４，５，９およ
び１１を含み；細目７に対するＲＩＶは細目３，８およ
び１０を含み；かつ細目８に対す６ＲＩＶは細目４，７
゜１０および１１を含む。

それゆえに、各々のＦｔＩＶ近隣は、細目１−８の関連
の１個に対する近隣の情報ベクトルまたはディスクリブ
タである。

ＲＩＶが、ただ１個の細目に対して得られるのに代って
、指紋の細目の各々に対して得られる１つの理由は、ど
の細目が見えなくなっているかまたはある「細目」が偽
であるかどうかを決定することができないからである。

半径方向順序分類器１２９（第８図）は、関連の中心細
目からの半径方向距離を増大する順序で第１１図の各Ｒ
ＩＶの細目を指標する機能を行なう。

第９図の細目４に対するＲＩＶの半径方向に順序づけら
れて分類された例が第１２図に示される。

金策１３図を参照して、第８図の半径方向順序分類器１
２９、中心細目および近隣細目レジスタ１２１ならびに
出力回路１４５の簡略化されたブロックダイヤグラムが
示される。

半径方向順序分類器１２９はゲート回路および位置決定
回路１５３から戒り、他方出力回路１４５はしきい値回
路１５５および数決定回路１５７から成る。

前述したように、各遅延した「次のＦｔＩＶｌパルス（
遅延回路１２６から、第８図）の時に、異なる中心細目
ＣＭがレジスタ１２７ヘロードされ、他方レジスタ１２
７の信号Ｒ１−Ｒ９のｒ値の全てがゲート回路１５１を
介して３１の値に初期設定される。

その時からＣＭＡ期間の終るまで、コンパレータ１４１
（第８図）のしきい値テストに適合するｒ値を有する近
隣細目が順次的にレジスタ１２７ヘロードされる。

新近隣細目Ｒ９がレジスタ１２７にストアされた後、位
置決定回路１５３は順次的にアクセスしかつＲ９とＲ８
とを比較し、Ｒ８とＲ７とを比較し・・・・・・Ｒ２と
Ｒ１とを比較し、ならびに、順次的にＲ信号のこれらの
対をレジスタ１２７へ戻して再ストアする。

Ｒ信号の各比較された対は、ゲート回路１５１を介して
与えられかつレジスタ１２γへ戻って再ストアされる前
に、回路１５３によって半径方向に分類される。

レジスタ１２７にストアされる、中心細目ＣＭおよびＲ
１−Ｒ８信号は、出力回路１４５のしきい値開路１５５
の入力へ与えられる。

しかしながら、「次のＲＩＶＪ信号（第６Ａ図）が生じ
る前に、それらがしきい値開路１５５によって処理され
ない。

ＲＩＶの近隣細目の全てが検出された後発生される「次
のＲＩＶＪ信号は、しきい値開路１５５を能動化してレ
ジスタ１２７から信号Ｒ１−Ｆｔ８信号を受ける。

信号Ｒ１−Ｒ８のあるものは中心細目の近隣細目ではな
くて、むしろ最初に初期設定された信号であるかもしれ
ないので、しきい値開路１５５は３０に等しいしきい値
信号で信号Ｒｓ Ｒ５０ｒ値の各々をしきい値弁別す
る。

それゆえにこのしきい値開路１５５は、ｒ値が最初に３
１へ初期設定された任意のＲ信号を阻止する。

このしきい値テストを通過するＲ１− Ｒ８信号の残り
のものは中心細目ＣＭのＲＩＶに近隣細目を含む。

このＲＩＶおよびその関連の中心細目ＣＭはしきい値開
路１５５の出力へ与えられる。

しきい値開路１５５はまた信号（このしきい値弁別動作
から発生される）を数決定回路１５７へ通して、回路１
５７を能動化しＲＩＶの細目の数（ＲＩＶＥ目番号）を
表わす信号を発生する。

ＲＩＶおよびその関連の中心細目ＣＭ、並びにＲＩＶ細
目番号は出力回路１４５から出力マルチプレクサ４９（
第５図）へ並列に与えられる。

第１４図は第１３図の半径方向順序分類器１２９のゲー
ト回路１５１および中心細目および第１３図の近隣細目
レジスタ１２７のより詳細なブロックダイヤグラムを示
す。

ゲート回路１５１はゲート１５９およびＯＲゲート回路
１６１−１６９から成り、他方、レジスタ１２７はゲー
ト１７１および１７３ならびに保持レジスタ１１５およ
び１８１−１８９から成る。

この説明の目的のために、ＯＲゲート回路１６１−１６
９の各々は（後続のＯＲゲート回路も同様）まとまった
２４個のＯＲゲートから成り、かつ保持レジスタ１７５
および１８１−１８９の各々は、それぞれに、Ｘ 。

Ｙ 、θ およびｒ、、φ、、Δθ、の場所に情報をス
トアするために３バイトまたは２４ビット幅である。

遅延された「次のＲＩＶｊ信号（第８図の遅延回路１２
６から）はゲート１５９を能動化して保持レジスター８
１−１８９のｒ−（またはｒｌｒｇ）場所に記憶するた
めゲート回路１６１−１６９の各々を介して３１の定数
を通す。

この遅延された「次のＲＩＶＪ信号はまたゲート１７１
を能動化して、中心細目Ｘ 、Ｙ 、θ （これは
中心細目レジスター２５（第８図）にストアされる）を
保持レジスター７５のＸ 、Ｙ 、θの場所にスト
アされるように許容する。

近隣細目がコンパレータ１４１（第８図）によって検出
される任意の与えられたＣＭＡ期間（第６Ａ図）内の時
間毎に、コンパレータ１４１はパルス１４３を発生する
。

パルス１４３の前縁はゲート１７３を能動化して、新し
い近隣細目ｒ−。

φ、、△θ、が保持レジスター７３のｒｇ ）θ９゜△
θ９の場所にストアされるようにする。

パルス１４３はまた位置決定回路１５３（第１３図の半
径方向順序分類器１２９にある）へ与えられ、この回路
１５３は第１５図を参照することによって今説明されよ
う。

第１６図の波形はまた、回路１５３の動作説明の際に役
に立つように説明されよう。

第１５図の位置決定回路１５３に示されるように、パル
ス１４３（第８図）はインデックスまたは減分カウンタ
ー９１のリセット入力へ与えられ、ＯＲゲート１９３を
介してフリップフロップ１９５のりセット入力へ与えら
れ、かつインバーター９７を介してフリップフロップ１
９９のセット入力へ与えられる。

さらに、レジスター ２７ （第１４図）からの信号Ｒ
９−Ｒ２およびＲ８−Ｒ，がそれぞれに比較マルチプレ
クサ２０１および２０３の入力へ与えられる。

パルス１４３の前縁はインデックスカウンタ１９１をＯ
のカウントにリセットしかつフリップフロップ１９５を
リセットしてゲート２０５および２０１を不能化する。

不能化されているとき、ゲート２０５および２０７は、
マルチプレクサ２０１および２０３の出力がＲ（Ｒカウ
ンＣ＋１ ドブラス１）およびＲ（Ｒカウント）レジスタ２０９お
よび２１１へそれぞれ与えられるのを妨げる。

反転されたパルス１４３の反転後縁がフリップフロップ
１９９をセットしフリップフロップ１９９のＱ出力に波
形２１３を発生する。

波形２１３はＣ２クロック２１７と共にＡＮＤゲート２
１５へ与えられて直列の８個のクロック２１９を発生す
る。

クロック２１９の最初のものの前縁はフリップフロップ
１９５をセットして出力波形２２１を発生し、この出力
波形２２１はゲート２０５および２０７を能動化してマ
ルチプレクサ２０１および２０３の出力をレジスタ２０
９および２１１の入力へそれぞれ通す。

第１のクロック２１９によってまた、インデックスカウ
ンタ１９１はその出力アドレスカウントをＯから８まで
変化する。

後続のクロック２１９によってカウンタ１９１はその出
力アドレスカウントを８から１まで減分する。

カウンタ１９１からの８，７・・・１のアドレスカウン
トは順次的に比較マルチプレクサ２０３へ与えられかつ
アダー２２３へ与えられる。

アダー２２３は２進１を各アドレスカウントへ加えて、
カウンタ１９１からのアドレスに１を加えたものに等し
い数を発生しかつその数を比較マルチプレクサ２０１へ
与える。

このように、カウンタ１９１は８，７・・・１のアドレ
スカウントを発生するので、マルチプレクサ２０１およ
び２０３は順次的に、ゲート２０５および２０７を介し
てレジスタ２０９および２１１０入力へそれぞれに与え
るための・信号Ｒ９Ｊ Ｒ８・・・Ｒ２およびＲ８，Ｒ
７・・・Ｒ１を選択する。

クロック２１９はまたインバータ２２５によって反転さ
れてクロック２２７を発生しかつこのクロック２２７を
ＡＮＤゲート２２９へ与える。

波形２２１およびＣ１クロック２３１はまたＡＮＤゲー
ト２２９へ与えられる。

ＡＮＤゲート２２９への入力波形２２１．２２７および
２３１を調査することによって、その入力の３個がすべ
て２進ｌ状態にあるたびごとにＡＮＤゲート２２９は１
状態出力２３３を発生するということが見られる。

ＡＮＤゲート２２９のこれらの１状態出力２３３は、カ
ウンタ１９１の出力アドレスカウントが定常化されたあ
とに生じ、この出力２３３はレジスタ２０９および２１
１を能動化して多重化された信号Ｒ９ｔ Ｒ８・・・Ｒ
２およびＲｓ ｔ Ｒ７・・・Ｒ１をそれぞれに並列に
順次的にクロックする。

カウンタ１９１の谷出力アドレスカウントはコンパレー
タ２３５で１の定数と比較される。

カウンタ１９１がそのアドレスカウントを１のカウント
へ減分されるとき、コンパレータ２３５は遅延回路２３
７へ与えられる信号を発生する。

１Ｃ２クロック期間の遅延後、遅延回路２３７の出力信
号はフリップフロップ１９９をリセットとして波形２１
３を終了させかつＡＮＤゲート２１５を不能化し、それ
によって任意のそれ以上のＣ２クロックがカウンタ１９
１によってカウントされるのを妨げる。

遅延回路２３７の出力はまた、ＯＲゲート１９３を介し
て、フリップフロップ１９５をリセットして波形２２１
を終了させ、それによってゲート２０５，２０７および
２２９を不能化する。

これによってマルチプレクサ２０１および２０３の出力
はレジスタ２０９および２１１の入力へ与えられない。

さらに、ＡＮＤゲート２２９の不能化によって、ＡＮＤ
ゲート２２９はレジスタ２０９および２１１ヘクロツク
を与えない。

インデックスカウンタ１９１が８，７・・・１のアドレ
スカウントを発生している時間期間の間、マルチプレク
サ２０１および２０３の出力（Ｒ９，Ｒ８・・・Ｒ２お
よびＲ８） Ｒ７・・・Ｒ１、それぞれ）がそれぞれに
レジスタ２０９および２１１へ与えられる。

レジスタ２０９および２１１にストアされたＲ信号のｒ
（半径方向距離）コンポーネントがコンパレータ２３５
でともに比較されてどの”ｒに４−ｘまたはｒ ）がよ
り太きいかを決定する。

もしもｒ Ｃ＋１ （これはレジスタ２０９にストアさ
れる）がｒ （これはレジスタ２１１にストアさｎる）
よりも小さければ、コンパレータ２３５はｌ状態信号を
発生して、信号Ｒ６＋１およびＲが取り換えられなけれ
ばならないということ、または逆の順序でレジスタ１２
７（第１４図）へ戻って再ストアされなければならない
ということを示す。

さもなくば、コンパレータ２３５はＯ状態信号を発生し
てＲ６＋１およびＲが取り換えられるべきでないという
ことを表示する。

コンパレータ２３５の２進状態出力が直接にゲ−）２３
７および２３９へ与えられ、同様に、ゲート２４３およ
び２４５へ与えられる前にインバータ２４１によって反
転される。

コンパレータの出力が１状態または「取り換え」信号（
第１５図のコンパレータ２３５からの２状態論理出力を
指す）であるとき、ゲート２３７および２３９だけが能
動化される。

他方、コンパレータの出力が０状態または「取り換え」
（取り換えない）信号であるとき、ゲート２４３および
２４５だけが能動化される。

アダー２２３からのアドレスはゲート２３７および２４
３へ与えられ、他方インデックスカウンター９１からの
アドレスはゲート２３９および２４５へ与えられる。

ゲート２３７および２４５の出力はＯＲゲート回路２４
１へ与えられる。

同じ態様で、ゲ゛−ト２３９および２４３の出力はＯＲ
ゲート回路２４９へ与えられる。

ＯＲゲート回路２４７および２４９の出力はそれぞれに
アドレスをストアマルチプレクサ２５１および２５３へ
供給する。

レジスタ２１１および２０９からのＲおよびＲ６＋１信
号もまたマルチプレクサ２５１および２５３へ与えられ
る。

ＯＲゲート回路２４７および２４９からのアドレスに応
答して、マルチプレクサ２５１および２５３はそれぞれ
、レジスター２７（第１４図）の保持レジスタの関連の
対に再記憶するためＯＲゲート回路１６１１６９の選択
された対を介してＲおよびＲ８＋１信号を与える。

半径方向順序分類器１２９の機能は、その中心細目から
の半径方向距離を増分する順序で中心細目ＣＭの各１（
ＩＶの近隣細目を指標することであるということが思い
出されよう。

半径方向順序分類器１２９のこの全体の機能をより十分
に説明するために、動作的な例が第１４図、第１５図お
よび第１６図を参照していま説明されよう。

レジスター２７の値ｒｌ−ｒ９が最後の「次のＲＩＶＪ
パルス（第６Ａ図）の時間に３１へ初期設定されたので
５個の近隣細目が検出されかつ半径方向に分類されたと
想定する。

その結果ｒ１ｒ０、すなわち、レジスター２７（第１４
図）の保持レジスター８１−１８９にストアされた信号
Ｒ１−Ｒ９の半径方向に分類された距離は、それぞれに
１６．１８，１９，２０，２３，３１．３１゜３１およ
び３１に等しい。

最終的に、中心細目ＣＭの新しい近隣細目Ｒ０が検出さ
れ、かつ信号Ｒ０の半径方向の距離ｒ９が２１になると
想定する。

その結果パルス１４３（第８図）はこの新しい近隣細目
Ｒ９を能動化して保持レジスター８９にストアされかつ
インデックスカウンター９１をＯにリセットする。

このように、この新しいＲ０信号は古いＲ０信号と置き
換わる。

（このＲ，データ信号の置き換わりは、２組のデータ信
号の交換または再順序づけまたは再分類またはライキン
グに関係し、そしてそこでは、後のもの（旧Ｒｏ ）
と先のものとが比較されかつ先のものが旧Ｒ９の半径よ
りも大きい半径ＲＩＶを有することがわかり、その場合
、２個のデータセットは相対的ランク順序アドレスを置
き換えまたは交換する。

そのような再ランキングは、すべてのデータセットの中
心細目からの関連の半径または距離にしたがって適当に
再ランクづけされるまで続く。

）したがって、このとき信号Ｒ１−Ｆｔ、のｒｌ−ｒ９
の値はそれぞれに、１６，１８，１９，２０，２３，３
１．３１゜３１および２１に等しい。

Ｒｏが保持レジスタ１８９にストアされたあと、パルス
１４３の反転された後縁はフリップフロップ１９９をセ
ットしてＡＮＤゲート２１５を能動化し８個のＣ２クロ
ック２１９の流れをカウントされるようにインデックス
カウンタ１９１へ通す。

ＡＮＤゲート２１５からの第１のクロック２１９によっ
て、インデックスカウンタ１９１は８のアドレスカウン
トを発生する。

その結果、比較マルチプレクサ２０１および２０３はそ
れぞれに新しい近隣細目Ｒ０および信号Ｒ８を選択しか
つそれをそれぞれにレジスタ２０９および２１１にスト
アするためゲート２０５および２０７を介して与える。

信号Ｒ０およびＲ８のｒ９およびｒ８の値はコンパレー
タ２３５で比較される。

ｒｇ＝２１およびｒＢ＝３１であると想定されたので、
コンパレータ２３５は１状態「取り換え」出力を発生す
る。

この１状態取り換え出力はゲート２３７および２３９を
能動化してそれぞれにアダー２２３およびカウンタ１９
１からのアドレスをＯＲゲート回路２４７および２４９
を介して、それぞれにストアマルチプレクサ２５１およ
び２５３へ通す。

このようにマルチプレクサ２５１はＲ９アドレスライン
上の外でＲ８信号を％ ＯＩ（ゲート回路１６９を介し
てかつ保持レジスタ１８９へ与える。

同時に、マルチプレクサ２５３はそのＲ８アドレスライ
ン上の外でＲ０信号を、ＯＲゲート回路１６８を介して
かつ保持レジスタ１８８へ与える。

それゆえに、保持レジスタ１８９および１８８から多重
化されたＲ９およびＲ８信号が取り換えられて、Ｒｏお
よびＲ８が保持レジスタ１８８および１８９へ戻ってそ
れぞれに多重化されるということが見られる。

前に示したように、保持レジスタ１８１−１８９にスト
アされる信号はそれぞれＲ１およびＲｏである。

このように、古いＲｏおよびＲ８信号はそれぞれに、取
りかえられたあと新しいＲ８およびＲ９信号となる。

その結果、第１のクロック２１９期間が終わるとき、Ｒ
１−Ｒ９信号のｒ１ｒ９の値は１６，１８，１９，２０
，２３゜３１．３１．２１、および３１である。

第２のクロック２１９によってインデックスカウンタ１
９１はそのカウントを７へ減分する。

その結果、比較マルチプレクサ２０１および２０３は、
レジスタ２０９および２１１にそれぞれ記憶するため、
それぞれに保持レジスタ１８８および１８７からのＲ８
およびＲ７信号を選択する。

信号Ｒ８およびＲ７のｒ８およびｒ７の値（２１および
３１）によってコンパレータ２３５は、それぞれに保持
レジスタ１８７および１８８にストアされているＲ８お
よびＲ７を続いて生じる１状態「取り換え」信号を発生
する。

このように、第２のクロック２１９期間が終わるとき、
そのときのＲ１Ｒ０信号のｒｌ−ｒ９の値は、それぞれ
に、１６゜１８．１９，２０，２３，３１．２１．３１
および３１である。

同様に第４のクロック２１９によってカウンタ１９１は
そのカウントを５に減分し、それは第４のクロック２１
９期間が終わるとき、それぞれに１６，１８，１９，２
０，２１．２３゜３１．３１および３１に等しいＲ１−
Ｒ９信号のｒ１ｒ９の値を、順次、生じる。

第５番目のクロック２１９期間の間に、アダー２２３の
アドレスは５でありかつインデックスカウンタ１９１の
アドレスは４である。

このときｒ５＝２１およびｒ、＝２０である。

それゆえに、コンパレータ２３５は、ゲート２３７およ
び２３９を不能化する数字０状態取り換え信号を発生し
、他方このＯ状態域り換え信号の反転はゲート２４３お
よび２４５を能動化する。

その結果、インデックスカウンタ１９１のアドレスは回
路２４５および２４７を介して与えられてマルチプレク
サ２５１を能動化し、それが多重化された保持レジスタ
１８４へ戻ってＲ４信号を再ストアし始める。

同時に、アダー２２３のアドレスは回路２４３および２
４９を介して与えられてマルチプレクサ２５３を能動化
して、それが多重化された保持レジスタ１８５へ戻って
Ｒ６信号の再ストアを開始する。

第５クロック２９５０期間が終わるとき、Ｒ１Ｒ０信号
のｒｌ−ｒ９の値がそれぞれに１６ 、１８゜１９．２
０，２１．２３，３１．３１および３１に等しいままで
ある、なぜならばもつとも新しい近隣細目は、中心細目
からの半径方向距離を増大する順序で半径方向に分類さ
れていたからである。

同様な態様で、後続の第６．第７および第８のクロック
２１９の各々はこれらの半径方向に分類された信号Ｒ１
−Ｒ９の順序に影響を与えない。

中心細目ＣＭおよび信号Ｒ１−Ｒ８はレジスタ１２７（
第１４図）から出力回路１４５へ与えられる。

出力回路１４５のブロックダイヤグラムは第１７図に示
されており、それはいま説明されよつ０ 第１７図に示されるように、出力回路１４５はしきい値
開路２６１および数決定回路２６３からなる。

しきい値開路２６１は本質的に、入力Ｒ１−Ｒ８信号の
それらのものを阻止または除去し、その人力ＲＩ Ｒ
８信号は、まだ３１の値に初期設定されたｒの値を有す
る。

この手段によって、半径方向の値ｒ１がコンパレータ１
４１（第８図）のしきい値テストをパスした。

Ｒ１−Ｒ８のそれらの信号だけが、入力中心細目ＣＭの
ＦｔＩＶ内の近隣細目としてしきい値開路２６１によっ
て発生される。

数決定回路２６３はしきい値開路２６１からの信号を利
用して、しきい値開路２６１によって発生されているＦ
ｔＩＶの近隣細目の数（ＥｔＩＶ細目番号）を決定する
。

回路２６１および２６３の各々は別々に以下により詳細
に説明される。

半径方向に分類された信号Ｆｔ１− Ｒ８のｒｌ ｒ
Ｂコンポーネントはしきい値開路２６１内でそれぞれに
ゲート２７１−２７８の入力へ与えられる。

「次のＲＩＶＪ信号（第６Ａ図）はまたゲート２７１−
２７８へ与えられるとともに、フリップフロップ２７９
のセット入力へ与えられる。

１次のＲＩＶＪｃｚＲＩＶの完了時に発生される（第６
Ａ図）のタイミングおよび制御回路８３によって）とい
うことがこのときに思い出されるべきである。

このときまでに、レジスタ１２７（第１４図）からの中
心細目ＣＭおよび最終Ｒ１−Ｒ８データが定常化される
、なぜならばＲＩＶの近隣細目のすべてが検出されたか
らである。

「仄のＲＩ ＶＪ倍信号ゲート２７１−２７８を能動化
して、それぞれに値ｒｌ ｒＢをしきい値コンパレー
タ２８１−２８８へ通し、そこでは、値ｒ１ ｒＢの
各々が３０のしきい値に対して比較される。

しきい値コンパレータ２８１−２８８の各谷は、そのｒ
入力の値が３０のしきい値を越さなければ１状態しきい
値出力Ｔを発生するように構成される。

もしそうでなければ、しきい値コンパレータはＯ状態し
きい値出力を発生する。

「次のＲＩＶ信号」によってセットされた、フリップフ
ロップ２７９の出力は、ＡＮＤゲ゛−ト２９１−２９８
を能動化してコンパレータ２８１２８８の出力Ｔ１−Ｔ
８をゲ゛−ト３０１−３０８へ通す。

また、レジスタ１２７（第１４図）からのＲ１−Ｒ８信
号がゲート３０１−３０８へ与えられる。

１状態出力である。コンパレータ２８１−２８８０Ｔ１
−Ｔ８出力のそれらは、ゲート３０１−３０８の関連の
ものを能動化して、関連の中心細目ＣＭのＲＩＶを形成
する近隣細目として半径方向に分類されたＲ１−Ｒ８信
号の対応するものを外へ通す。

このように、まだ３１の初期設定値にあるｒコンポーネ
ント値を有する任意のＲ信号によってその関連のしきい
値コンパレータが０状態しきい値出力Ｔを発生し、それ
は順次その関連のゲートがそのＲ信号を通すのを妨げる
ということが理解されよう。

ＡＮＤゲート２９１−２９８からのＴ１−Ｔ８Ｌ／きい
値出力のすべてはまたＮＯＲゲート３１１およびＯＲゲ
ート３１３へ与えられる。

Ｔ１−Ｔ８の任意の出力が１状態信号であれば、ＯＲゲ
ート３１３は信号を発生してゲート３１５を能動化し中
心細目ＣＭをその出力へ通す。

他方、もしもＴ１−Ｔ８出力のすべてがＯ状態信号であ
れば、ＮＯＲゲート３１１は１状態信号をＡＮＤゲート
の第１の入力へ与える。

ゲート２９１−２９８のようなＡＮＤゲート３１７は、
「次のＲＩｖ」信号ニヨってセットされたフリップフロ
ップ２７９の出力によって能動化された。

それゆえに、ＮＯＲゲート３１１の「１」状態出力は３
１１およびＯＲゲート３１３を介して通過してゲート３
１５を能動化し中心細目ＣＭをその出力へ通す。

したがって、たとえそのＣＭのＲＩＶの近隣細目の数（
ＦｔＩＶ細目番号）が最大８から最小Ｏまで変化するこ
とができたとしても、ＲＩＶの中心細目ＣＭは常に発生
されるということが見られる。

ゲート２９１−２９８および３１７を能動化したフリッ
プフロップ２７９の出力は、遅延回路３１９がフリップ
フロップ２７９をリセットして直接的にゲート２９１−
２９８および３１７を不能化しかつ間接的にゲート３０
１−３０８および３１５を不能化する前に、遅延回路３
１９によって１個のＣ１クロックパルス期間遅延される
。

ＡＮＤゲ゛−ト２９１−２９８がしきい値出力Ｔ１Ｔ８
を発生するようにフリップフロップ２７９によって能動
化される時間の間に、出力Ｔ１−Ｔ８は数決定回路２６
３のＡＮＤゲート３２１−３２８へそれぞれに与えられ
る。

さらに、出力Ｔ２−Ｔ８の否定、すなわちＴ２−Ｔ８が
それぞれにＡＮＤゲ−）３２１−３２７へ与え（れる。

この構成では、ゲート３２１−３２８の１個だけが１状
態出力を発生し、かつその１個のゲートが、しきい値回
路２６１によって発生されているＲＩＶの近隣細目の数
を表示する。

ＡＮＤゲート３２１−３２８のＯまたは１状態出力はゲ
ー）３３１−３３８の入力へ与えられる。

また、４−ビット２進数１−８は、それぞれにゲート３
３１−３３８へ与えられる。

ゲート３３１３３８の各々は４−ビット出力を発生し、
これはｏ（ｏｏｏｏ）であってもよい。

これらのゲート３３１−３３８の各々からの４ビツトは
それぞれにＯＲゲート３４１−３４４へ与えられ、最下
位および最上位ビットはそれぞれにＯＲゲート３４１お
よび３４４へ与えられる。

１状態出力を発生する、ＡＮＤゲート３２１−３２８の
その１個のゲートだけが、ゲート３３１−３３８のその
関連のものを能動化して順に、その関連の入力４−ビッ
ト２進数をＯＲゲート３４１−３４４へ与える。

それは、これらの４個のＯＲゲート３４１−３４４の集
合的４−ビット２進出力であり、この集合的４−ビット
２進出力は、しきい値回路２６１によって発生されるＲ
ＩＶの近隣細目の数（ＦｔＩＶ細目番号）を含む。

数決定回路２６３の動作は以下の例においてさらに説明
されよう。

第１の例において、もしもｒ１＝３０またはそれ以下で
あり、かつＴ２ ｒｇが各々３１に等しければ、Ｔ１
−１およびＴ２−Ｔ８が各々０に等しい。

この場合、ＡＮＤゲート３２１だけが１状態出力を発生
し、これはゲート３３１を能動化して２進１（０００１
）の４ビツトをＯＲゲート３４１−３４４へそれぞれ通
す。

したがって、ＯＲゲート３４１−３４４はそれぞれに出
力ビット０，０゜Ｏおよび１を発生して、ＲＩＶのＲＩ
Ｖ細目番号が１（０００１）であることを表示する。

第２の例において、もしもｒｌ−Ｔ５が各々３０または
それ以下に等しく、かつＴ６−ｒｇが各々３１に等しけ
れば、Ｔ１−Ｔ５は各々１に等しく、かつＴ６−Ｔ８は
各々Ｏに等しい。

Ｔ１−Ｔ５は各々１に等しいので、Ｔ１−Ｔ５は各々Ｏ
に等しくかつＡＮＤゲート３２１−３２４は不能化され
る。

Ｔ６−Ｔ８は各々Ｏに等しいので、ＡＮＤゲート３２６
３２８は同様に不能化される。

ＡＮＤゲート３２５だけが能動化される。

なぜならばＴ５およびＴ６の両方が１に等しいからであ
る。

ＡＮＤゲ−）３２５の１状態出力はゲート３３５を能動
化して、その２進５（０１０１）入力の４ビツトヲそれ
ぞれＯＲゲート３４１−３４４を介して通して、ＲＩＶ
（７）ＲＩＶ細目番号が５（０１０１）であることを表
示する。

最後に、第３の例において、ｒｌｒ３が各々Ｏに等しけ
れば、ゲート３２１−３２８のすべては不能化されかつ
ＯＲゲート３４１−３４４は集合的にｏｏｏｏの出力を
発生して、中心細目ＣＭに対するＲＩＶには何の近隣細
目もないということを表示する。

中心細目ＣＭ、その中心細目のＲＩＶ、およびＦｔＩＶ
のＲＩＶ細目番号はすべてＦｔＩＶエンコーダ５９の出
力回路１４５から並列に、前述したようにさらに処理す
るための出力マルチプレクサ４９（第５図）へ与えられ
る。

いま第１８図を参照して、第５図のＲＩＶセレクタ６９
、ならびにＦＰ−ＢおよびＦＰ−ＡＲＩＶ情報記憶回路
６７および６１のブロックダイヤグラムが示される。

ＦｔＩＶは指紋の細目の各各のためＲＩＶエンコーダ５
９（第５図）によって発生されるということが思い出さ
れよう。

この議論の目的のために、指紋ＡにはＭ個の細目および
指紋ＢにはＮ個の細目があると想定しよう。

したがって、回路６１のＦｔＩＶ−Ａ情報信号は指紋Ａ
ＲＩＶＩないしＭおよびそれらのＲＩＶのＭ個の中
心細目ＣＭ１−ＣＭＭを含むとともにそれらのＲＩＶの
各々のＲＩＶ細目番号を含む。

同様な態様で、回路６７のＲＩＶ−Ｂ情報信号は、指紋
Ｂ ＲＩＶＩないしＮおよびそれらのＲＩＶのＮ個の
中心細目ＣＭ１−ＣＭＮを含むとともに、それらのＲＩ
Ｖの各々のＲＩＶ細目番号を含む。

数Ｍは数Ｎに等しくなる必要はないが、ＭまたはＮのい
ずれかは１９２よりも大きくない。

指紋Ａの端点に生じるＥＯＰ信号はフリップフロップ３
６５をセットしてＡＮＤゲート３６７の第１人力を能動
化する。

Ｃ４クロックがＡＮＤゲ−）３６７の第２の入力へ与え
られる。

しかしながら、これらのＣ４クロックはＡＮＤゲート３
６１を通過するのを妨げられる、なぜならばＡＮＤゲ−
４３６７の第３の入力はこのときＯ状態にあるからであ
る。

（なぜならば第６Ｂ図からの１状態ＪＲＩＶ照合および
一覧表化」信号が伺も存在しないからである。

）ＦＰ−ＢがＦｔＩＶエンコード化されたあとに生じる
ＥＯＰ信号はＪＲＩＶ照合および一覧表化」信号を発生
するということが思い出されよう（第６Ｂ図に基づく議
論を参照）。

この「ＲＩＶ照合および一覧表化」信号はいまＡＮＤゲ
ート３６７を能動化して、Ｃ４クロックを読み出しアド
レスカウンタ３６９ヘパスしてカウントされる。

Ｃ４クロックをカウントする際、カウンタ３６９は１な
いしＮのＲＩＶ−Ｂ読み出しアドレスまたはアドレスカ
ウントを発生する。

これらのアドレスカウントに応答して、記憶回路６７は
、中心細目比較回路７１（第５図または第１９図）へ付
与するため指紋ＢのＲＩＶ−Ｂ情報信号１−Ｎの各々を
順次的にアクセスする。

カウンタ３６９からのアドレスカウントはまたコンパレ
ータ３７１内でＦＰ−Ｂ細目番号（レジスタ３５９）と
比較されかつコンパレータ３７３内で１９２の定数と比
較される。

もしＮが１９１またはそれ以下であれば、コンパレータ
３１１は、カウンタ３６９のアドレスカウントがＮに等
しくなるとき１状態信号を発生する。

他方、もしもＮが１９２またはそれ以上であれば、コン
パレータ３７３は、カウンタ３６９のアドレスカウント
が１９２に等しくなるとき１状態信号を発生する。

コンパレータ３７１および３７３のいずれかが１状態信
号を発生するとき、その１状態信号は０Ｒ３７５および
遅延回路３７７を介して直列に与えられる。

遅延回路３７７の出力はこれからは「Ｎ」信号を通して
示される。

この「Ｎ」信号は、記憶回路６７の指紋ＢのＮ（または
１９２）個のＲＩＶ−Ｂ情報信号のすべてが順次的に比
較回路７１（第５図）へ与えられたときに生じる。

遅延回路３７７の遅延は１個のＣ４クロック期間に等し
い。

これによって、記憶回路６７の最後のＲＩＶＢ情報信号
が、カウンタ３６９がリセットされる前に全Ｃ４クロッ
ク期間回路７１へ与えられることができる。

遅延回路３７７からのＮ信号はカウンタ３６９をＯのア
ドレスカウントにリセットし、■だけ読み出しアドレス
カウンタ３７９を増分し、かつＡＮＤゲート３８１（あ
とで説明される）へ与えられる。

カウンタ３６９がＯのカウントにリセットされるたびご
とに、カウンタ３γ９は１だけそのカウントを増分して
、異なるＲＩＶ−Ａ読み出しアドレスまたはアドレスカ
ウントを発生する。

この態様で、カウンタ３７９は１ないしＭまでのアドレ
スカウントを発生する。

これらのアドレスカウントに応答して、記憶回路６１は
、中心細目比較回路７１（第５図または第１９図）へ付
与するため指紋ＡのＲＩＶ−Ａ情報信号１−Ｍの各々を
順次的にアクセスする。

上述したように、回路６７のＮ個のＲＩＶ情報信号のす
べてが回路１１へ順次的に与えられたあとごとに、カウ
ンタ３７９は１だけそのアドレスカウントを増分する。

このように、指紋ＡのＭ個のＲＩＶ情報信号の１つが回
路６１から回路７１へ与えられている時間の各期間の間
に、回路６７のＲＩＶ情報信号のすべては順次的に回路
７１へ与えられる。

カウンタ３７９のアドレスカウントはまたコンパレータ
３８３内でＦＰ−Ａ細目番号（レジスタ３５５から）と
比較されかつコンパレータ３８５内で１９２の定数と比
較される。

もしもＭが１９１またはそれ以下であれば、コンパレー
タ３８３は、カウンタ３７９のアドレスカウントがＭに
等しくなるとき、１状態信号を発生する。

他方、もしＭが１９２またはそれ以上であれば、コンパ
レータ３８５は、カウンタ３７９のアドレスカウントが
１９２に等しくなるときｌ状態信号を発生する。

コンパレータ３８３および３８５のいずれかが１状態信
号を発生するとき、その１状態信号はＯＲゲート３８７
を介して与えられてフリップフロップ３８９をセットし
、「Ｍ」信号出力を発生する。

この「Ｍ」信号は、指紋ＡのＭ番目（または多くて１９
２番目）のＲＩＶ−Ａ情報信号が回路６１から回路７１
（第５図）へ与えられているときの時間期間の始めに生
じる。

フリップフロップ３８９からのＮ信号はＡＮＤゲート３
８１を能動化するために用いられる。

前に述べたように、Ｎ個のＲＩＶ−Ｂ情報信号のすべて
は、Ｍ番目のＲＩＶ−Ａ情報信号が回路６１からアクセ
スされているときの時間期間の間に回路６７から順次的
にアクセスされる。

ＲＩＶ−Ｂ情報信号のすべてが回路６７からアクセスさ
れたとき、Ｎ信号が発生されかつ能動化されたＡＮＤゲ
ート３８１を介して与えられる。

ＡＮＤゲート３８１の出力は「プリント対の終了１信号
であり、この信号は、ＡおよびＢ指紋の対におけるＲＩ
Ｖ情報信号の対の組み合わせのすべてが比較回路７１（
第５図）へ与えられたということを表示する。

このプリント対終了信号は、フリップフロップ３６５お
よびカウンタ３６９をリセットするＮ信号とタイミング
が一致して発生される。

プリント対の終了信号はカウンタ３７９を１のカウント
にリセットし、かつフリップフロップ３８９をリセット
してＮ信号を終了させる。

Ｎ信号の終了はＡＮＤゲート３８１を不能化し、それに
よってプリント対の終了信号を終らせる。

ＲＩＶセレクタ６９はいま静止状態にあり、フリップフ
ロップ３６５および３８９ならびにカウンタ３６９およ
び３７９のすべてがリセット状態にある。

もう１つのＢ指紋が基準指紋ファイルから取り出されて
指紋Ａと比較されるまで、またはもう１つの指紋Ａが指
紋ファイルからの１またはそれ以上の指紋と比較される
べきであるまで、ＲＩＶセレクタ６９はこの静止状態の
ままである。

異なる指紋Ａが識別されるべきであるとき、その動作は
上述したものと同様である。

もう１つのＢ指紋が基準指紋ファイルから取り出される
とき、それはデータコンバータ３９（第５図）によって
最初に処理され、ＥＯＰ信号はフリップフロップ３６５
をセットしてＲＩＶ−Ａおよび新しいＲＩＶ−Ｂ情報信
号の上述の選択的アクセス動作を開始する。

記憶回路６１および６７からのＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ
−Ｂ情報信号は中心細目比較回路７１（第５図）へ与え
られる。

比較回路１１はいま、第１９図に示される比較回路７１
のブロックダイヤグラムを参照することによってより十
分に述べられよう。

谷ＲＩＶ情報信号は中心細目Ｘ 、Ｙ 、θＣＣＣ からなり、その中心細目のＲＩＶおよびそのＲＩＶのＲ
ＩＶ細目番号によって従属される。

任意の与えられた時間に、ＲＩＶ−Ａの中心細目のパラ
メータをＸ Ｙ、θ として示され、かＯＡ’
ＣＡ ＣＡ つＲＩＶ−Ｈの中心細目のパラメータをＸ。

Ｂ。Ｙ 、θ として示されるとする。

ＸｏＢ、ＹｏＢＯＢ Ｃ！Ｂ およびθ。

おの値はそれぞれに、減算器４０１゜４０３および４０
５の値Ｘ。

Ａ、ＹｏＡおよびθ。

いから減算される。信号ΔＸ、△Ｙおよび△θは、それ
ぞれに減算器４０Ｌ４０３および４０５の出力に発生さ
れ、これらの信号は関連のパラメータの差の絶対的な大
きさを表わす。

より特定的に説明すると、△Ｘ、△Ｙ、およびΔθはそ
れぞれに、与えられた時間に比較されているＲＩＶ
ＡおよびＢの中心細目間のＸおよびＹ変位ならびに角変
位または配向θを表わす。

これらの減算を達成するために、減算器４０１，４０３
および４０５は従来の２の補数構成に実現されてもよい
。

２個の中心細目間のΔＸ、△Ｙ１および△θ変位はそれ
ぞれに、△Ｘ、△Ｙおよび△θ変位コンパレータ４０７
，４０９および４１１の予め選択されたしきい値Ｔｘ、
ＴＹおよびＴθと比較される。

各コンパレータは関連の変位入力の大きさが関連のしき
い値以上にならないとき１状態出力を発生するように構
成される。

しきい値Ｔｘ、ＴＹおよびＴθは、たとえば、３５０ユ
ニツト、３５０ユニツトおよび３００をそれぞれに表わ
すように選択されてもよく、ここに、各ユニットは２ミ
ルに等しい。

しかしながら、しきい値Ｔｘ、ＴＹおよびＴθの値は所
望動作の形式に適するように予め選択されてもよい。

コンパレータ４０７，４０９および４１１の出力はＡＮ
Ｄゲート４１３へ与えられる。

ＡＮＤゲート４１３は、Ｘ墜標差（ΔＸ）がＴ よりも
小さく、Ｙｌｉ標差（△Ｙ）がＴＹよりも小さく、かつ
配向角θ差（△θ）がＴθより小さいとき、１状態出力
信号を発生することができるだけである。

ＡＮＤゲート４１３からの１状態出力はそれゆえに、Ｒ
ＩＶ ＡおよびＢの中心細目のパラメータがすべて互
いに十分に接近したときのみ発生される。

ＡＮＤゲート４１３からの１状態出力はフリップフロッ
プ４１５をセットして「ＲＩＶ比較開始」信号を発生し
、この信号はゲート４１７および４１９を能動化して、
ＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−ＢならびにそれらのＲＩＶの
それぞれのＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ細目番号を、第
２のまたはＲＩＶ比較テストのためＦｔＩＶ比較回路（
第２０図）へ通す。

フリップフロップ４１５からの「ＲＩｖ比較開始」信号
はまたＲＩＶ比較回路７３へ与えられる。

ＡＮＤケート４１３の出力が１状態から０状態へ戻つＣ
変化するとき（成功した中心細目比較の終わるとき）、
そのＯ状態信号はインバータ４２１によって反転されて
フリップフロップ４１５をリセットし、それは順に「Ｒ
Ｉｖ比較開始」信号を終わらせかつゲート４１７および
４１９を不能化する。

ＥｔＩＶ ＡおよびＢの中心細目のパラメータのすべ
てが互いに十分に接近しなければ、ゲート４１７および
４１９は不能化されたままでありかつ、ＲＩＶＡおよび
Ｂ（そのときに比較されている中心細目のもの）ならび
にそれらのＲＩＶのＦｔＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ細目
番号はそれによってＲＩＶ比較回路７３へ与えられるの
を妨げられる。

ゲート４１９および４２１の各々は複数個の２−人力Ａ
ＮＤゲート（図示せず）からなり、その第１の入力はフ
リップフロップ４１５（セットされるとき）の出力によ
って共通に能動化されて、第２の入力へそれぞれ与えら
れる関連のＲＩＶ（およびその関連のＲＩＶのＲＩＶ細
目番号）のビットを並列に、個別的に通す。

いま、第２０図を参照して、ＲＩＶコンパレータ回路７
３のブロックダイヤグラムが示される。

ＦｔＩＶ ＡおよびＢ、 「ＲＩＶ比較開始」信号
、およびＦｔＩＶ−ＡおよびＲ，ＩＶ−Ｂ細目番号信号
がすべて中心細目比較回路７１（第１９図）から受けら
れる。

基本的には、ＲＩＶ比較回路７１の機能は、ＲＩＶ−Ａ
およびＲＩＶ−Ｂ間の類似性または照合の度合いを示す
ＲＩＶ照合点数（ＳＡＢ）を発生することである。

「ＲＩｖ比較開始」信号はＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ
記憶回路４３１および４３３を能動化して、ＲＩＶ−Ａ
およびＲＩＶ−Ｂをそれぞれに並列ストアする。

比較回路４１３および４３３の各各は％ｒｔφ、△θフ
ォーマットで８個までの近隣細目をそれぞれにストアす
るためのまとまった８個の保持レジスタ（図示せず）か
らなることができる。

また、各々の保持レジスタは、近隣細目のｒ、φおよび
△θ部分をそれぞれにストアするため３個の継続的８−
ビット幅レジスタ部分（図示せず）を有することができ
る。

ＪＲＩＶ比較開始」信号はまた制御回路４３５を能動化
してＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ細目番号をストアする
。

記憶回路４３１のＲＩＶ−Ａの近隣細目の各々はＲＩＶ
−Ａマルチプレクサ４３７の入力へ並列に与えられる。

同様に、記憶回路４３３のＦＬＡＹ−Ｂの近隣細目の各
々はＲＩＶ−Ｂマルチプレクサ４３９の入力へ並列に与
えられる。

「ＲＩＶ比較開始−１信号並びにＲＩＶ−ＡおよびＲＩ
Ｖ−Ｂ細目番号信号に応答して、制御回路４３５は、各
ＲＩＶ−Ａアドレスの時間の間に４−ビットＲＩＶ−Ｂ
アドレスのシーケンスと同様に、４−ビットＲＩＶ−Ａ
アドレスのシーケンスを発生する。

ＲＩＶ−Ａアドレスはマルチプレクサ４３７を能動化し
てＥ（ＩＶ−Ａの近隣細目の各々を順次的に多重化して
出し、かつＲＩＶ−Ｂアドレスはマルチプレクサ４３９
を能動比してＲＩＶ−Ｈの近隣細目の各々を順次的に多
重化して出す。

しかしながら、ＲＩＶ−Ｂアドレスの同じシーケンスが
各異なるＲＩＶ−Ａアドレスの間に発生される。

たとえば、ＲＩＶ−Ａには５個の近隣細目がありかつＲ
ＩＶ−Ｈには７個の近隣細目があると想定する。

この場合、５個のＦＬＩＶ−Ａ７ｔ’し７１．（０００
１０１０１）および７個ノＦｔＩ Ｖ−Ｂ７’ トレス
（０００１−０１１１）がある。

０００１の第１（７） ＲＩ Ｖ−Ａ７ トＬ’スｆ７
）間に、ＲＩＶ−Ａ（７）第１の細目はＲＩＶ−Ａマル
チプレクサ４３７の出力へ多重化され、かつＲＩＶ−Ｂ
の細目のすべての７個はＲＩＶ−Ｂ７ｔ’レス０００１
−０１１１によってＲＩＶ−Ｂマルチプレクサ４３９か
ら順次的に多重化される。

同様な態様で、０１０１の第５番目のＲＩｖ−Ａアドレ
スの間に、ＲＩＶ−Ａの第５番目の細目がマルチプレク
サ４３７の出力へ多重化され、かつすべての７個のＥｔ
ＩＶ−Ｈの細目はＲＩＶ−Ｂアドレス０００１−０１１
１によってマルチプレクサ４３９から順次的に多重化さ
れる。

この方法で、ＲＩＶ−Ａの各々のエンコード化された近
隣細目は、ｆ’ｔＩＶ−Ｂのエンコード化された近隣細
目のシーケンスの各々に対して順次的に比較されること
ができる。

任意の与えられた時間に、マルチプレクサ４３７から多
重化されている近隣細目の部分をｒφ および△θいで
表わされかつマルチプレクサ４３７から多重化されてい
る近隣細目の部分をｒ φ および△θ８によって表
わされるとしＢ’ Ｂ よう。

ＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂのこれらの２個の近隣細目
間のφ、または△φの加護照合は、減算器４４１におい
てφ８をφアから減算することによって得られる。

同様に、半径方向の誤照合△ｒは減算器４４３において
ｒＢをｒＡから減算することによって得られる。

最後に、θ、または△θにおける加護照合は、減算器４
４５においてθ３をθいから減算することによって得ら
れる。

加護照合信号△φおよびしきい値角制限信号Ｔφがコン
パレータ４４７．４４９および４５１の各々に与えられ
る。

さらに、正（１）、零（０）および負０△φ角度バイア
スが、それぞれに、コンパレータ４４７，４４９および
４５１へ与えられる。

これらの記号の＋、０および一角度バイアスは、２進数
であり、その２進数はそれぞれに、たとえば、＋８．４
°、０°および−８，４°の回転の近似的な角度を表わ
して、３個の異なる範囲のＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ
間のφにおける加護照合の大きさをテストする。

約＋８．４°、０°および−８，４°のこれらの角度バ
イアスを表わす、２進数は、以下の態様で抽出されるこ
とができる。

１バイト、または８ビツトの２５６個の異なる２進数が
、円の３６０°の周りで２５６個の異なる角度を表わす
ために用いられることができる。

それゆえに、そのバイトにおける６０ 隣接２進数の間には、角度の、１度（約１．４ツがある
。

その結果、６ （０００００１１０）。ｏ （ｏｏｏｏ
ｏｏｏｏ ）および２５０（１１１１１０１０）の２進
数が、約＋８．４°、０１および−８，４°の角度バイ
アスをそれぞれ表わし、１１１１１０１０は０００００
１１０の２の補数である。

コンパレータ４４７および４５１の各々は、関連の入力
角度バイアスと加護照合△φの代数総和の絶対値がしき
い値角度制限信号Ｔφに等しいかまたはそれ以下である
とき１状態出力を発生するように構成される。

同様に、コンパレータ４４９は、△φの絶対値がＴφ以
下のとき１状態出力を発生するように構成される。

たとえば、Ｔφ４．２°、＋φバイアスー＋８．４°、
０φバイアス−Ｏｏ、および−φバイアス＝ −８，４
°と想定する。

したがって、もし△φが−４，２°から−１２，６°の
範囲内にあれば、コンパレータ４４７は１状態出力を発
生する、なぜならば１△φ＋８．４°１≦４．２°であ
るからである。

同様に、もしも△φが−４，２°と＋４，２°の間の範
囲内にあれば、コンパレータ４４９は１状態出力を発生
する、なぜならば１△φ１〈４．２°であるからである
。

最後に、もしもΔφが＋４．２°から＋１２．６°の範
囲内にあれば、コンパレータ４５１は１状態出力を発生
する、なぜならば△φ−８，４°ｌ＜４．．２°である
からである。

φにおける加護照合に基づいて、多くても、これらのコ
ンパレータ４４７．４４９および４５１の１個だけが任
意の与えられた時間に１状態出力を発生することができ
る。

しかしながら、比較されている近隣細目の対は互に関し
て極端に回転されそのため△φがコンパレータ４４７，
４４９および４５１のすべての制限範囲の外側にあると
いうこともまた明らかとなるべきである。

それゆえに、これらのコンパレータは伺ら１状態出力を
発生しない。

たとえば、上述の例において、Δφは＋１３°または一
１３°の加護照合を表わす。

半径方向の誤照合△ｒはコンパレータ４５３内で予め選
択された、半径方向の誤照合しきい値限度Ｔ と比較さ
れる。

コンパレータ４５３は、もし△ｒがＴ に対する値に等
しいかまたはそれ以下であれば１状態出力を発生するだ
けである。

加護照合△θ信号およびしきい値角度制限信号Ｔθはコ
ンパレータ４５５，４５７および４５９の各々に与えら
れる。

さらに、＋、Ｏおよび△θ角度バイアスはそれぞれにコ
ンパレータ４５５゜４５７および４５９へ与えられる。

コンパレータ４５５．４５７、および４５９の構造およ
び動作は上述のコンパレーク４４７．４４９および４５
１のそれらと類似するものであり、かつしたがってそれ
以上は説明しない。

さかのぼって考えると、７個のコンパレータ４４７．４
４９，４５１．４５３，４５５，４５７および４５９は
基本的には３個のコンパレータグループを含み、それら
の３個のコンパレータグループは、近隣細目の対の、か
つしたがって比較されているＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−
Ｂの角回転の制限の３個の異なる組にそれぞれ関連する
。

第１のコンパレータグループはコンパレータ４４７゜４
５３および４５５からなり、そのグループは走出）バイ
アスＡＮＤゲート４６１の入力へ与えられる出力を有す
る。

第２のコンパレータグループはコンパレータ４４９．４
５３および４５７からなり、このグループは、零（０）
バイアスＡＮＤゲート４６３の入力へ与えられる出力を
有する。

第３のコンパレータグループはコンパレーク４５１゜４
５３および４５９からなり、このグループは、負０バイ
アスＡＮＤゲート４６５の入力へ与えられる出力を有す
る。

（２個の半径ｒＡおよびｒＢ間の半径誤照合△ｒが予め
選択されたしきい値Ｔ の範囲内にあるか否かを丁度決
定する）コンパレータ４５３の出力が、３個のコンパレ
ータグループの各々に共通に含まれるということが注目
されるべきである。

したがって、コンパレータ４５３の出力はＡＮＤゲート
４６１，４６３および４６５の各々に与えられる。

ＡＮＤゲート４６１．４６３および４６５の各各の残り
の２人力は、＋、０または一角度バイアスであり、それ
らはφおよびθの細目の対の角回転に関するものである
。

比較されているＲＩＶ ＡおよびＢが互いに関連して
回転されていれば、それらのＲＩＶ内の近隣細目をまた
互いに関連して回転される。

もしも比較されている近隣細目の対の加護照合△φおよ
び△θならびに半径誤照合△ｒがコンパレークの上述の
グループの１つの制限範囲内にすべてあれば、コンパレ
ータの関連のグループは１状態出力を発生して、ＡＮＤ
ゲート４６１，４６３および４６５の関連のものを能動
化して１状態出力を発生する。

たとえば、もしもＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂからの細
目の比較される対の△φ、△ｒおよび△θ誤照合信号が
第１のコンパレータグループの＋バイアス範囲またはし
きい値制限内にあれば（すなわち、１Δφ＋△φバイア
ス１≦Ｔ △ 〈φ、ｒ− Ｔ １および１△θ＋△θバイアス１≦Ｔθ）、コンパ
レータ４４７，４５３および４５５は１状態出力信号を
発生してＡＮＤゲート４６１を能動化し、■状態出力を
発生する。

同様な態様で、ｆｔＩＶ−Ａの各細目はＲＩＶ−Ｂの細
目の各々と比較されて、出力を発生するようにＡＮＤゲ
ート４６１．４６３および４６５の１個を生ずるかもし
くは何にも生じない。

ＡＮＤゲート４６１，４６３および４６５の１状態出力
は、＋バイアス、Ｏバイアスおよび一バイアス点数アキ
ュームレータ４６７．４６９および４７１の内容に加え
られる。

これらの点数アキュームレータ４６７．４６９および４
１１の各々は、「［（Ｉ Ｖ比較開始」信号によって最
初に零カウントへリセットされる４−ビットカウンタで
ある。

それゆえに、ＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂからの近隣細
目の対が比較されたとき、これらの点数アキュームレー
タの各々はその中にＯないし８の数を有することができ
る。

換言すれば、０の累積された点数は、近隣細目のどれも
照合しなかったことを意味する。

同様に、８の累積点数はＲＩＶ−Ａの８個の細目のすべ
てがＦｔＩＶ−Ｈの８個の細目のすべてと一致したこと
を意味する。

もしも、前に与えられたように、ＲＩＶ−Ａに５個の細
目がありかつＲＩＶ−Ｂに７個の細目があれば、５が、
アキュームレータの任意のものが有することができる最
も高い累積点数である。

これは、ＲＩＶ−Ａの５個の細目の各々がＲＩＶ−Ｈの
照合している細目を見つけたことを示す。

最後に、最小および最大間の中間点数もまた累積される
ことができる。

それゆえに、ＲＩＶ−ＡおよびＢからの近隣細目の可能
な対のすべての比較が終わるとき、アキュームレータ４
６７．４６９および４γ１の１つが、最も大きいまたは
最大累積点数を含む。

ＲＩ Ｖ−Ａｃ！： ＲＩ Ｖ−Ｂとが最も密に整列す
るように要求されるコンパレータグループ４４７゜４５
３．４５５，４４９，４５３，４５７；および４５１，
４５３，４５９の＋８．４°（＋バイアス）Ｏｏ（０バ
イアス）および−８，４°（−バイアス）のどれか１つ
によって、アキュームレータ４６７゜４６９および４７
１の関連のものがその最大累積点数を発生する。

アキュームレータ４６７．４６９および４１１の４−ビ
ット幅内容または累積点数り、ＥおよびＦｌをそれぞれ
Ｄｉ Ｄ４ｊＥＩ Ｅ４およびＦ１Ｆ４として表示
されるものとする。

これらのアキュームレータ４６７．４６９および４７１
の累積点数は最大点数セレクタ４７３に並列に与えられ
る。

ＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂの近隣細目の可能な対ｉｘ
ｊのすべてが比較された後に、制御回路４３５は「最大
点数選択」信号を発生する。

この「最大点数選択」信号に応答して、セレクタ４７３
は内部で、１状態「Ｄ選択」 、「Ｅ選択」または「Ｆ
選択」信号（後で説明される）を発生して、そのときに
アキュームレータ４６７．４６９および４７１の出力（
Ｄ、ＥおよびＦ）から最大累積点数を選択する。

最大選択された点数はセレクタ４７３の出力にＲＩＶ照
合点数ＳＡＢとして発生され、これは、比較されたＲＩ
Ｖの対（ＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ）に対する照合の
近さを量的に示す。

さらに、１状ＬＩＤ選択」 、「Ｅ選奴または「Ｆ選択
」信号が座標変換回路７５（第２４図）へ与えられて、
そのときに比較されているＲＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂ
の対の間の相対的座標変位および角配向を決定する。

第２１図を全参照して、第２０図の制御回路４３５のブ
ロックダイヤグラムが今説明される。

ＲＩＶ比較開始信号はレジスタ４８１および４８３を能
動化してそれぞれにＲＩＶ−ＢおよびＲＩＶ−Ａ細目番
号を並列ストアする。

さらに、ＲＩＶ比較開始信号はＯＲゲート４８５を介し
て与えられて、ＲＩＶ−Ｂカウンタ４８７をＯのカウン
トにリセットし、かつまたＯＲゲート４８９を介して与
えられてＲＩＶ−Ａカウンタ４９１を０のカウントにリ
セットする。

カウンタ４８１および４９１のカウントは、マルチプレ
クサ４３９および４３７（第２０図）へ与えられる。

ＲＩＶ−ＢおよびＲＩＶ−Ａアドレスである。

カウンタ４８７および４９１はＯカウントにリセットさ
れる、なぜならば、ＲＩＶはＯの近隣細目を有するとい
うことが思い出されるからである。

最後に、ＲＩＶ比較開始信号は遅延回路４９３を介して
与えられてフリップフロップ４９５をセットして、ＡＮ
Ｄゲート４９７を能動化してＣ１クロックをＲＩＶ−Ｂ
カウンタ４８７へ通す。

遅延回路４９３の遅延時間は、たとえば、ＦｔＩＶ−Ａ
およびＦｔＩＶ−Ｂ細目番号がレジスタ４８１および４
８３にストアされかつカウンタ４８１および４９１の各
々は、ＡＮＤゲート４９７が能動化されてＣ１クロック
を通過するまえにＯのカウントにリセットされるのに十
分な時間を許容するように、１個のＣ１クロック期間で
ある。

ＡＮＤゲート４９７からのＣ１クロ゛シクに応答して、
カウンタ４８７は、マルチプレクサ４３９（第２０図）
へ与えられるＲＩＶ−Ｂアドレスを発生するようにその
カウントを増分し始める。

カウンタ４８７からのこれらのＲＩＶ−ＢアドレスはＢ
コンパレータ４９９内でレジスタ４８１にストアされた
ＦｔＩＶ−Ｂ細目番号と比較される。

ＲＩＶ−ＢアドレスがＲＩＶ−Ｂ細目番号に等しくなる
とき、コンパレータ４９９は１状態出力を発生する。

コンパレータ４９９のこの出力は、それがＦｔＩＶ−Ａ
カウンタ４９１をＯのカウントから１のカウントへ増分
する前に遅延回路５０１によって１個のＣ１クロック期
間遅延される。

遅延回路５０１の出力はまたＯＲゲート４８５を介して
与えられてＲＩＶ−Ｂカウンタ４８７をＯのカウントへ
リセットする。

このように、ＲＩＶ−Ａカウンタ４９１がＯのＲＩＶ−
Ａアドレスを発生している時間の間に、ＲＩＶ−Ｂカウ
ンタ４８７はＯからＦｔＩＶ−Ｂ細目番号までのＦｔＩ
Ｖ−Ｂアドレスのシーケンスを発生する。

上述の動作によって、ＦｔＩＶ−Ｂカウンタ４８７はＣ
１クロックをカウントして、０からＲＩＶ−Ｂ細目番号
までのＲＩＶ−Ｂアドレスのシーケンスを周期的に発生
する。

ＲＩＶ−ＢアドレスがＲＩＶ−Ｂ細目数に等しくなるた
び毎に、コンパレータ４９９は、ＲＩｖ−Ｂカウンタ４
８７を０のカウントにリセットにリセットし、かつＲＩ
Ｖ−Ａカウンタ４９１を次のＲＩＶ−Ａアドレスへ増分
するために用いられる前に、遅延回路５０１によって遅
延される出力を発生する。

この態様で、ＦｔＩＶ−Ａアドレスが発生される。

前に説明したように、これらのＲＩＶ−Ａアドレスはマ
ルチプレクサ４３７（第２０図）へ与えられる。

さらに、カウンタ４９１からのこれらのＲＩＶ−Ａアド
レスはＡコンパレータ５０３へ与えられる。

アダー５０５はレジスタ４８３から（７）ＲＩＶ−Ａ細
目数に１の定数で総和しかつその結果の総和（ＲＩＶ−
Ａ細目番号子ｌ）をコンパレータ５０３へ与える。

カウンタ４９１からのＲＩＶ−ＡアドレスがＲＩＶ−Ａ
細目番号に等しい時間の間に、ＲＩＶ−Ｂアドレスのシ
ーケンスのすべてがカウンタ４８７によって発生された
後、遅延回路５０１の出力は再びカウンタ４９１のカウ
ントを１だけ増分する。

カウンタ４９１からのＲＩＶ−Ａアドレスがアダー５０
５からの総和（ＲＩＶ−Ａ細目番号＋１）に等しくなる
のはこのときである。

結果として、コンパレータ５０３は、最大点数セレクタ
４７３（第２０図）へ与えられる１最大点数選択」信号
を発生する。

また、この「最大点数セレクタはフリップフロップ４９
５をリセットしてＡＮＤゲート４９７を不能化し、その
結果例のそれ以上のＣ１クロックもＲＩＶ−Ｂカウンタ
４８７へ通されない。

さらに、［最大点数選択」信号はＯＲゲート４８９を介
して与えられてカウンタ４９１をＯのカウントにリセッ
トしかつ「最大点数選択」信号を終わらせる。

このときに、カウンタ４８７および４９１の両方は０カ
ウントにリセットされかつＯのＲＩＶ−ＢおよびＲＩＶ
−Ａアドレスを発生している。

カウンタ４８７および４９１の両方は、次の「Ｒ工ｖ比
較開始」信号によって制御回路４３５が上述の動作を繰
り返すまで、０カウントにリセットされたままである。

最大点数セレクタ４７３のブロックダイヤグラムは第２
２図を参照することによって全議論される。

コンパレータ４６７．４６９および４７１のＤｌ−Ｄ４
． Ｅｌ−Ｅ４およびＦｌ−Ｆ４出力を、それぞれに、
Ｄ、ＥおよびＦ信号として示そう。

これらのり、ＥおよびＦ信号のすべてはゲート回路５０
９の入力へ与えられる。

また、第２２図に示されるように、コンパレータ５１１
はＤおよびＥ信号を比較し、コンパレータ５１３はＥお
よびＦ信号を比較し、かつコンパレータ５１５はＤおよ
びＦ信号を比較する。

もしもＤ≧Ｅであれば、コンパレータ５１１は１状態出
力を発生する。

同様な態様で、Ｅ≧Ｆであれば、コンパレータ５１３は
１状態出力を発生する。

同様に、Ｄ≧Ｆであれば、コンパレータ５１５は１状態
出力を発生する。

コンパレータ５１１および５１５の出力はＡＮＤゲート
５１７へ与えられる。

コンパレータ５１１および５１３の出力はそれぞれにＡ
ＮＤゲ”−ト５１９の反転および非反転入力へ与えられ
る。

コンパレータ５１３および５１５の出力はＡＮＤゲート
５２１の反転入力へ与えられる。

これらのＡＮＤゲート５１７，５１９および５２１の信
号出力は、すべてゲート回路５０９へ与えられ、かつそ
れらの信号出力はそれぞれに「Ｄ選択Ｊ ｒＥ選択」
および１Ｆ選択」として示される。

しかしながら、任意の与えられた時間に、「Ｄ選択」
。

「Ｅ選択」および「Ｆ選択」信号の１個だけが２進１状
態条件にあり、他の２個の信号はＯ状態条件にある。

もしもＤ≧ＥおよびＤ≧Ｆであれば、ＡＮＤゲート５１
７は１状態「Ｄ選択」信号を発生して、Ｄ信号が最も大
きい信号であるということを表わす。

１状態「Ｄ選択」信号はゲート回路５０９を能動化して
、出力ＲＩＶ照合点数信号ＳＡＢとしてＤ信号を選択す
る。

もしもＥ≧ＦおよびＥ≧Ｄであれば、ＡＮＤゲート５１
９は１状態「Ｅ選択」信号を発生して、Ｅ信号が最も大
きい信号であるということを表わす。

ｌ状態「Ｅ選択」信号はゲート回路５０９を能動化して
Ｅ信号を出力ＲＩＶ照合点数信号として選択する。

Ｆ≧ＥおよびＦ≧Ｄであれば、ＡＮＤゲート５２１は１
状態「Ｆ選択」信号を発生して、Ｆ信号が最も大きい信
号であるということを表わす。

１状態「Ｆ選択」信号はゲート回路５０９を能動化して
Ｆ信号を出力ＲＩＶ照合点数信号として選択する。

前に示したように、ＲＩＶ照合点数信号ＳＡＢは点数ゲ
ート７７（第５図）へ与えられる。

ゲート回路５０９の動作は、第２３図に示されるそのブ
ロックダイヤグラムを参照することによって説明される
。

＋バイアス点数アキュームレータ４６γ（第２０図）か
らのＤｌ−Ｄ４ビットはそれぞれにひとまとまりのＡＮ
Ｄゲート５３１−５３４の下方入力へ与えられる。

ＡＮＤゲート５１７（第２２図）からの「Ｄ選択」信号
はＡＮＤゲート５３１−５３４の上方入力へ与えられる
。

１状態「Ｄ選択１信号はＡＮＤゲート５３１−５３４を
能動化して、ＲＩＶ照合点数信号としてＯＲゲート５３
５−５３８を介してＤｌ−Ｄ４ビットを通過する。

同様な態様で、Ｏバイアス点数アキュームレータ４６９
（第２０図）からのＥｌ−Ｅ４ビットはそれぞれにひと
まとまりのＡＮＤゲート５４１−５４４の下方入力へ与
えられる。

ＡＮＤゲート５１９（第２２図）から「Ｅ選択」信号は
ＡＮＤゲー）５４１−５４４の上方入力へ与えられる。

ｌ状態「Ｅ選択」信号はＡＮＤゲート５４１−５４４を
能動化して、ＲＩＶ照合点数信号としてＯＲゲート５３
５−５３８を介してＥｌ−Ｅ４ビットを通す。

同様に、−バイアス点数アキュームレータ４７１（第２
０図）からのＦｌ−Ｆ４ビットはそれぞれにひとまとま
りのＡＮＤゲート５５１−５５４の下方入力へ与えられ
る。

ＡＮＤゲーｔ−５２１（第２２図）からの「Ｆ選択」信
号はＡＮＤゲート５５１−５５４の上方入力へ与えられ
る。

ｌ状態「Ｆ選択」信号はＡＮＤゲート５５１−５５４を
能動化してＲＩＶ照合点数信号としてＯＲゲート５３５
−５３８を介してＦｌ−Ｆ４ビットを通す。

このように、１状態条件にある、「Ｄ選択」 。

「Ｅ選択」および「Ｆ選択」信号のその１つは、どのま
とまりのＡＮＤゲート５３１−５３４゜５４１−５４４
および５５１−５５４が選択されてもＲＩＶ照合点数Ｓ
ＡＢとして点数アキュームレータ４６７．４６９および
４７１（第２０図）の出力の関連のものを外へ通すかを
決定する。

今、第２４図を参照して、座標変換回路７５（第５図）
のブロックダイヤグラムが示される。

示されるように、回路７５は座標変換器５６１゜５６３
および５６５、ゲート回路５６７および５６９、ならび
に減算器５７１からなる。

ＦＬＩＶ−ＡおよびＲＩＶ−Ｂの中心細目の各々のＸお
よびＹｌｉ標（ＸｏＡ、ＹｏＡおよびＸＣＢ’ＹｏＢ）
が座標変換器５６１．５６３および５６５の各々へ与え
られる。

これらのＸ。Ａ、ＹｏＡ、ＸｏＢおよびＹ 入力に応答
してかつ内部で発生される定数５ｉｎ（△θ）およびＣ
Ｏ５（△θ）に応答して、変換器５６Ｌ５６３および５
６５の各々は△Ｘおよび△Ｙに対する以下の従来の座標
変換式を展開する。

しかしながら、異なる角度または加護照合（△θ）が変
換器５６１，５６３および５６５の各々において用いら
れて異なる５ｉｎｅおよびｃｏｓ ｉｎｅ関数を発生す
る。

△θ３．△θｂおよびΔθ を、これらの５ｉｎｅおよ
びｃｏｓｉｎｅ関数を発生するように変換器５６１゜５
６３および５６５においてそれぞれ用いられるものとし
て、ここに△θ −＋８．４°、△θ、−〇〇およびΔ
θ −−８，４℃ある。

これらの角度△θ 、△θｂ、△θ は、第２０図のＲ
ＩＶコンパレータ回路のコンパレータ４５５，４５７お
よび４５９でそれぞれ与えられた＋△θバイアス。

ＯΔθバイアスおよび一Δθバイアス角度に相当する。

異なるΔθ角度が５ｉｎｅおよび。

ｏｓｉｎｅ関数の発生の際に変換器によって用いられる
ので、変換器５６１のＸおよびＹｌｉ標変位出力を△Ｘ
および△Ｙ として示されよう。

同様に変換器５６３および５６５のＸおよびＹ％標変位
出力を△Ｘ６ｔ△Ｙ、および△Ｘ 、△Ｙｏとしてそれ
ぞれ示されよう。

この方法で、３個の異なる組の電標変位が、その時間に
比較されているＲＩＶの対の中心細目の３個の異なる角
度または角回転（△θ 。

△θ６．△θ。

）のため発生される。しかしながら、第２０図の上述の
説明において、大きさの異なる角度、数または大きさお
よび数の両方が用いられることができ、それは第２０図
の構造の対応する修正を必要とするということが注目さ
れるべきである。

たとえばもしも５個の異なる角度（または角回転）が用
いられれば、関連の回路を有する５個の異なるコンパレ
ータグループが第２０図に要求されかつ５個の異なる座
標変換器が第２４図の座標変換回路７５に要求される。

Ｘ座標変位△Ｘ 、ΔＸ、および△Ｘ がゲート回路５
６７へ与えられ、他方Ｙ１ｍ標変位△Ｙ 。

△Ｙ、および△Ｙｏがゲート回路５６９へ与えられる。

これらのゲート回路５６７および５６９は第２３図に示
されるゲート回路５０９に構造および動作において類似
しかつ、したがって、これ以上の説明はしない。

コンパレータ回路１３（第２２図）からの１状態「Ｄ選
択」 、「Ｅ選択」または「Ｆ選択」信号に応答して、
ゲート回路５６７および５６９は出力基標変位信号、△
Ｘ および△Ｙ として座標変位信号の関連の対を
選択する。

たとえば、「Ｄ選択」信号が１状態条件にあるとき、△
Ｘおよび△Ｙ が出力△Ｘ および△ＹＡＢ信号ａ
ＡＢ として選択される。

同様に、■状態「Ｅ選択」信号はゲート回路５６７およ
び５６９を能動化して０°座座標値△Ｘ および△Ｙｂ
を選択する。

同様す に、１状態「Ｆ選択」信号はゲート回路５６７および５
６９を能動化して−８，４°坐標変位△Ｘ および△Ｙ
を選択する。

ＲＩＶ ＡおよびＢの中心細目の配向角度θおよびθ
。

８間の配向角度差△θＡＢは、減算器５７１においてθ
。

８をθ。いから減算することによって得られる。

この方法で、次の第３の座標変換式が導かれる。

座標変換の動作は変換器５６１に戻って参照することに
よってより詳細に説明される。

乗算器５７３は入力信号Ｙ。

Ｂおよび５ｉｎ（△θ ）を乗算して積信号Ｙ。

Ｂｓ１ｎ（△θａ）を発生する。もう１つの乗算器５７
５は入力信号Ｘ。

Ｂおよびｃｏｓ （△θ ）を一緒に乗算して、積信号
Ｘｃｏｓ （△θ ）を発生する。

組合わせまたは総和回路５７γ内で、積信号Ｘ。

Ｂ ｃｏｓ （△θ ）が入力信号Ｘ。

Ａおよび積信号Ｙ。Ｂｓ１ｎ （△θａ）の総和から減
算されて、Ｘ座標変位信号△Ｘ を発生し、その値は式
（１）によって与えられる。

同様に、乗算器５７９は入力信号Ｙ。

Ｂおよびｃｏｓ（△θ ）を一緒に乗算して、積信号Ｙ
。

Ｂｃｏｓ（△θ ）を発生し、他方乗算器５８１は入力
信号Ｘ。

Ｂおよびｓｉｎ （△θ ）を乗算して積信号ＸｃＢＳ
ｉｎ（△θ ）を発生する。

組合わせ器５８３内で、積信号Ｙ ｃ Ｂ ＣＯ３（△
θ ）とＸ Ｃ！ Ｂ ｓｉｎ （Δθ ）との総和が
入力信号Ｙ から減算されてＹ座標変位信号△Ｙ を
発生し、その値は上の式（２）によって与えられる。

角度△θ が座標変換器５６１において＋８．４゜に等
しく設定されたとき、値△Ｘ およびΔＹａがそれぞれ
に以下の式（４）および（５）によって与えられる。

同様に、△θ、が座標変換器５６３において００に等し
く設定されるとき、値△Ｘ、および△Ｙ。

がそれぞれに以下の式（６）および（７）によって与え
られる。

最後に、△θ が座標変換器５６５において一８．４°
に等しく設定されるとき、値△Ｘ および△Ｙ が以下
の式（８）および（９）によってそれぞれ与えられる。

ＸおよびＹ座標変位△ＸＡＢおよび△ＹＡＢならびに配
向角度変位△θＡＢは、互いに比較されるＲＩＶ Ａ
およびＢの中心細目を整列するように必要とされる電標
系変換を表わす。

これらの変位信号△Ｘ △Ｙ および△θＡＢが
点ＡＢｊ ＡＢ 数ゲート７７（第５図）に与えられ、それは第２５図を
参照することによって説明される。

第２５図に示されるように、座標変換回路７５（第２４
図）からの変位信号△ＸＡＢ、ΔＹＡＢおよび△θＡＢ
ならびに照合コンパレータ４１（第５図）（７）ＲＩＶ
比較回路７３（第２０図）からのＲＩＶ照合点数信号Ｓ
ＡＢがそれぞれに遅延回路５８１−５８４を介して共通
なゲート５８７へ並列に与えられる。

遅延回路５８１−５８４の各々の遅延時間はたとえば、
１個のＣ１クロック期間である。

ゲート５８７は４個の入力信号のため４個のまとまった
または複数個の２−人力ＡＮＤゲート（図示せず）から
なることができ、各入力信号のビットは関連のまとまり
におけるＡＮＤゲートの第１の入力へ与えられる。

比較回路７３（第２０図）からの信号ＳＡＢはまたコン
パレータ５８９においてしきい値信号Ｔ と比較さ
れる。

照合点数ＳＡ８は、ＲＩＶＡＢ −Ｂの仲間を見つけるＲＩＶ−Ａの細目の数から計算さ
れるということが思い出されるべきである。

しきい値信号Ｔ の振幅は、ＲＩＶ−ＡおよＳＡＢ びＢの２個またはそれ以上の近隣細目が、照合点数を、
ＳＡＢが信号Ｔ３ＡＢよりも振幅が大きくなる前に照合
しなければならないように予め選択されている。

Ｓ がしきい値信号Ｔ３ＡＢよりＡＢ も大きければ、コンパレータ５８９はフリップフロップ
５９１をセットするように出力を発生する。

セットされるとき、フリップフロップ５９１はゲ−１５
８７におけるＡＮＤゲートのすべての第２の入力のすべ
てを能動化して、△Ｘ ＡＢ 、ΔＹＡＢ。

△θＡＢおよびＳＡＢ信号をそこに記憶するため点数リ
ストレジスタ７９（第５図）へ通す。

フリップフロップ５９１の出力はまた遅延回路５９３に
よって適当に遅延され、そのあとでそれはフリップフロ
ップ５９１をリセットしてゲート５８７におけるＡＮＤ
ゲートのすべてを不能化する。

遅延回路５９３の遅延時間は、たとえば、ゲート５８７
がその４個の出力を発生するのに十分な時間を与えるよ
うに２個のＣ１クロック期間に等しくすることができる
。

ＲＩＶ照合点数ＳＡＢの振幅がしきい値信号Ｔ３ＡＢと
等しいかまたはそれ以下であれば、フリップフロップ５
９１はリセット状態のままでありかつゲート５８７は、
照合コンパレータ４１（第５図）の出力を点数リストレ
ジスタ７９（第５図）へ通過するのを妨げられる。

金策２６図を参照して、点数リストレジスタ７９および
第５図の全体的なコヒーレンジアナライザ８１のブロッ
クダイアダラムが示される。

「ストア」信号が点数ゲート７７（第２５図）によって
発生されるたびごとに、関連のＲＩＶ照合点数ＳＡＢな
らびに変位信号△ＸＡＢ、△”ＡＢおよび△θＡＢが点
数ゲート７７を介して通されかつ点数リストレジスタ７
９に並列ストアされる。

点数リストレジスタ７９は照合コンパレータ４１（第５
図）および点数ゲート７７（第５図）の条件を満足する
ＲＩＶ ＡおよびＢの各対に対する２個の座標系（比
較されている２個の指紋間）の照合点数Ｓ、および関連
の変位（△Ｘｉ、△Ｙｉ。

△θ ）を含み、ここにｉ ＝ １ないしＮのＲＩＶの
対比較である。

この記述のためにＮは１９２までの数であることができ
る。

原理的に１９２２のような点数が生じるが、この好まし
い実症例は、典型的な用途においては大多数のＲＩＶの
対比較は「ストア」信号を与えないということを認めて
いる。

したがって、点数リストレジスタ７９の１９２個の位置
だけでこれらの点数をバッファストアするのに十分であ
る。

点数リストレジスタ７９の内容（Ｓｌ、△Ｘ１．△Ｙ１
．△θ１ないしＳ △Ｘ △Ｙ 、△θ、）が全体
的なコヒーレンジアナライザ８１のマルチプレクサ６０
１０入力へ並列に与えられる。

アナライザ８１の全体の機能は、点数リストレジスタ７
９にストアされた照合点数および変位データの△Ｘ、△
Ｙ、△θ空間に最も密な領域を場所決めすることである
。

この△Ｘ、△Ｙ、△θ空間に関して、各々の△Ｘ、△Ｙ
、△θエントリは、この結果が抽出されるＲＩＶの対の
２個の座標系のＸｔＹ座標変位および角回転を表わすと
いうことが前に述べられた。

全体的なコヒーレンジアナライザ８１がいかにしてレジ
スタ７９の内容の△Ｘ、△Ｙ、△θ空間に最も密な領域
を場所決めするかの理解を助けるために、△Ｘ、△Ｙ、
△θ空間コンポーネントをそれぞれに立方体の３個の直
交軸によって表わされるものとする。

立方体の△Ｘ、△ＹおよびΔθ軸の各々は２５６ユニツ
ト長さとする。

△Ｘおよび△Ｙ軸の各々に沿って２５６個のユニットを
３２ユニツトの各々の８セクシヨンに分割し、かつΔθ
軸に沿って２５６個のユニットを２ユニツトの各々の１
２８セクシヨンに分割する。

その結果、立方体は８１９２個のサブブロック（８×８
Ｘ１２８）に分割され、各サブブロックは△Ｘ方向に３
２個のユニット長さであり、△Ｙ方向に３２ユニツト幅
であり、かつ△θ力方向２ユニット深さである。

インデックスおよび制御回路６０３は「スト力信号をカ
ウントしてストアリストレジスター９にストアされる重
要なＲＩＶ照合点数Ｓ、の数を決■ 定する。

重要なＲＩＶ照合点数Ｓ、およびそれらの関連の変位△
Ｘ、、△Ｙ、、△θ、のすべてが１ １
ルジスター９にストアされたあと、
タイミングおよび制御回路８３（第５図）からのＪＧＣ
Ａ開妙信号がインデックスおよび制御回路６０３へ与え
られる。

「ＧＣＡ開始」信号はインデックスおよび制御回路６０
３を能動化してマルチプレクサアドレス１−Ｎをマルチ
プレクサ６０１へ順次的に与え始める。

１−Ｎアドレスの各々に応答して、マルチプレクサ６０
１はそれぞれにＳ、、△Ｘ、。

■ △Ｙ、および△θ、コンポーネント（レジスタ７９から
のアドレス指定されたエントリのもの）をアキュームレ
ータ６０５ならびに△Ｘ、△ＹおよびΔθインバウンド
（ｉｎ −ｂｏｕｎｄ ）検出器またはコンパレータ６
０６−６０８へ与える。

回路６０３が１−Ｎマルチプレクサアドレスのすべてを
発生している時間の各期間の間に、回路６０３はまた△
Ｘ、△Ｙ、Δθ空間における以下の下のＬおよび上のし
変位り限界の８１９２組の１個を発生する、すなわちＬ
ａＸＤおよびＵ△ＸＤ。

Ｌ△ＹＤおよびＵΔＹＤ、ＬΔθＤおよノ沁０ ］）で
ある。

△Ｘ、△Ｙおよび△θ変位限界（ＬａＸＤおよびＵΔＸ
Ｄ；ＬΔＹＤおよびＵΔＹＤ；Ｌ△θＤおよびＵ△θＤ
）はそれぞれに検出器６０６−６０８へ与えられる。

検出器６０６−６０８の各々は、もしも△Ｘ、。

△Ｙ、および△θ、コンポーネントの関連のもの１
１ の値が関連の上のおよび下の変位限界の間にあり、また
はその上の変位限界に等しければ、１状態出力を発生す
るように実現される。

たとえば、６４および９６の△Ｙ変位限界では、検出器
６０７は、９６は含むが６４は含まない範囲６５−９６
内の任意の値に等しい各△Ｙ、信号のため１状態出力を
発生する。

変位限界の８１９２組の各々は、前述の立方体における
８１９２個のサブブロックの関連の１つに対する限界ま
たは境界に相当する。

たとえば、回路６０３は以下のような△Ｘ（ＬａＸＤお
よびＵ△ＸＤ）および△Ｙ（ＬΔＹＤおよびＵ△ＹＤ）
の谷々における下のおよび上の変位限界を発生すること
かできる、すなわちＯおよび３２，３２および６４，６
４および９６，９６および１２８゜１２８および１６０
，１６０および１９２，１９２および２２４、ならびに
２２４および２５６である。

同様に、回路６０３は、Ｏおよび２，２および４，４お
よび６．・・・２５４および２５６のΔθ（Ｌ△θＤお
よびＵ△θＤ）における下および上の変位限界を発生す
ることができる。

サブブロックに対する△Ｘ、△Ｙ、△θ変位限界の８１
９２組の１つが検出器６０６−６０８に与えられる時間
の期間の間に、レジスター９にストアされるＮ組の座標
のすべて（△Ｘ、、△Ｙ、。

Δθ、）が順次的に検出器６０６−６０８の外へ多重化
される。

このように、検出器６０６−６０８は、Ｎ組の△Ｘ、、
△Ｙ、、△θ、座標の任意のものがそのときに調査され
ているサブブロック内にあるかどうかを決定する。

もしも点数Ｓ、の座標（△Ｘ、、△Ｙ、、△θ、）が調
査されているサブブロック内にあれば、検出器６０６−
６０８のすべでは１状態信号を発生し、この状態信号は
ＡＮＤゲート６１１によってＡＮＤゲート処理されてア
キュームレータ６０５を能動化して、それらの座標に関
連の点数Ｓ、をその内容に加える。

レジスタ−９ＯＮ個のエントリ（Ｓ、、△Ｘ、。

１ １ ΔＹ、、Δθ、）のすべてが処理されたあと、インデッ
クスおよび制御回路６０３は「サブブロック終了」信号
を発生する。

「サブブロック終了」信号はＡＮＤゲート６１５の下方
入力へ与えられ、かつまた、それぞれにＴＣ，およびＩ
Ｃ，クロック期間の遅延時間を有する遅延回路６１７稜
よび６１９の入力へ与えられる。

このとき、アキュムレータ６０５の累積された総計（ま
たは現在の照合点数）が、調査された△Ｘ、△Ｙ、△θ
空間のそのサブブロックにおける指紋ＡおよびＢの間の
照合の度合を表わす。

アキュムレータ６０５からの現在の照合点数は、レジス
タ６２３にストアされる「最も高い前のサブブロック照
合点数」とコンパレータ６２１で比較される。

アキュムレータ６０５およびレジスタ６２３からの照合
点数はまたマルチプレクサ６２５へ与えられる。

もしも、「サブブロック終了」信号の時間に、アキュム
レータ６０５からの現在の照合点数はレジスタ６２３か
らの最も高い前の照合点数よりも高ケレば、コンパレー
タ６２１は能動化されたＡＮＤゲート６１５を介して１
状態信号を与えてマルチプレクサ６２５を能動化し、現
在の照合点数をレジスタ６２３の入力へ与える。

逆に、レジスタ６２３の出力がアキュムレータ６０５の
出力よりも高ければ、コンパレータ６２１はＯ状態出力
を発生する。

この場合、ＡＮＤゲート６１５の結果的に生じるＯ状態
出力によって、マルチプレクサ６２５は最も高い前の照
合点数をレジスタ６２３の入力へ与える。

ＡＮＤゲート６１５からのｌ状態出力はまた△Ｘ、ΔＹ
および△θレジスタ６２７．６２８および６２９を能動
化して、その時に調査されているサブブロックのＬ△Ｘ
Ｄ、Ｌ△ＹＤおよびＬΔθＤＩ！標を今それぞれにスト
アすることによって、前のサブブロックの前にストアさ
れたＬ△ＸＤ、Ｌ△ＹＤおよびＬ△θＤ坐標を電標える
。

ＨＣＩクロック期間の遅延後、遅延回路６１７は「サブ
ブロック終了」信号をレジスタ６２３へ与える。

このときまでにレジスタ６２３への照合点数入力が定常
化される。

遅延回路６１７からのこの遅延された「サブブロック終
了」信号はレジスタ６２３を能動化してマルチプレクサ
６２５の照合点数出力をストアする。

ＩＣ１クロック期間の遅延後、遅延回路６１９はＯＲゲ
ート６３１を介して「サブブロック終Ｈ信号を与えてア
キュムレータ６０５をＯカウントにリセットする。

上述の動作は８１９２回行なわれる。

このように、点数リストレジスター９の座標エントリ（
ΔＸ、、ΔＹ、、△θ、）のすべてが、典型的な立方体
の８１９２個のサブブロックの各々にいかに多くのもの
があるかを決定するために調査される。

立方体の８１９２個のサブブロックを介してのこれらの
８１９２個の通過が終るとき、インデックスおよび制御
回路６０３はｒａｃＡの終了」信号を発生する。

このｌ’−０ＣＡ終了」信号はＯＲゲート６３１を介し
て通過してアキュムレータ６０５を０カウントにリセッ
トし、かつゲート６０３−６３６を能動化してシステム
出力としてレジスタ６２３および６２７−６２９の内容
をそれぞれ通す。

ゲート６３３は最終照合点数Ｓ、を発生し、この点数Ｓ
Ｆは２個の指紋ＡおよびＢ間の照合の度合を示す。

ゲート６３４−６３６はそれぞれに△Ｘ２．△Ｙ２．△
θ、を発生し、これらは、指紋間の最も良い照合を発生
するＡおよびＢ指紋電標系の相対変位である。

「ＧＣＡの終了」信号は、たとえば、ＩＣ１クロック期
間遅延回路６３９によって適当に遅延され、そのあとで
、その信号は、その信号の対の比較を終らせる目的でレ
ジスタ６２３をＯカウントにリセットする。

Ｎ（Ｎ一点数リストレジスタ７９のエントリの数）は、
占有され、またはアキュムレータ６０５において照合点
数を発生する、立方体における８１９２個のサブブロッ
クの最大数であるということがこのときに指摘されるべ
きである。

さらに、△Ｘ、ΔＹ、Δθ空間におけるこの分散は、指
紋ＡおよびＢが全体的に非類似であれば生じるのみであ
る。

他方、指紋ＡおよびＢ間の完全な一致の場合は、レジス
タ７９のエントリのすべてが△Ｘ。

△Ｙ、△θ空間の同じサブブロック内に場所決めされる
。

しかしながら、たとえ２個の指紋が同じ指紋から抽出さ
れたとしても偽の、誤りの、または歪められた細目は、
△Ｘ、△Ｙ、△θ空間においてサブブロックの数似上に
レジスタ７９のエントリの分散を生じる。

この理由のために、第２６図の全体的なコヒーレンジア
ナライザ８１は、上述したように、レジスタ７９のエン
トリの△Ｘ。

△Ｙ、Δθ空間の最も密な領域を場所決めすることによ
って、最終照合点数を決定する。

金策２１図を参照して、インデックスおよび制御回路６
０３（第２６図）のブロックダイアグラムが示される。

最初に、フリップフロップ６５１がリセット状態にあり
かつカウンタ６５３は０カウントにリセットされている
。

そのリセット状態において、フリップフロップ６５１の
Ｑ側はＡＮＤゲート６５５を能動化してカウントされる
べきカウンタ６５３へ「ストア」パルスを通す。

「ストア」信号のすべてがカウントされたあと、「ＧＣ
Ａ開始」信号はカウンタ６５γをＯＲゲート６５９を介
してＯカウントにリセットしかつ直接にカウンタ６６１
をＯカウントにリセットする。

さらに、「ＧＣＡ開始」信号はフリップフロップ６５１
をセットしてＡＮＤゲート６５５を不能化しかつＡＮＤ
ゲー１６６１を能動化する。

能動化されるとき、ＡＮＤゲート６６１はＣ１クロック
をカウントされるべきカウンタ６５７へ通す。

カウンタ６５７がＣ１クロックをカウントするたびこと
に、それは異なるマルチプレクサアドレスを発生しかつ
それをマルチプレクサ６０１（第２６図）へ与える。

マルチプレクサアドレスはまたコンパレータ６６３でカ
ウンタ６５３の出力「ストア」カウントと比較される。

マルチプレクサアドレスがカウンタ６５３によって力９
ントされる「ストア」信号の数に等しくなるとき、コン
パレータ６６１は１状態出力を発生する。

コンパレータ６６３の出力を受けた後１／２Ｃ１クロッ
ク期間、遅延回路６６５は「サブブロック終了」信号を
発生する。

これによって、「サブブロックの終了」信号がＯＲゲー
ト６５９を介して与えられてカウンタ６５７をゼロカウ
ントにリセットする前に、カウンタ６５７がマルチプレ
クサアドレスの全てを発生することができる。

さらに、 「サブブロック終了」信号はカウンタ６６１
を１だけ増分する。

それゆえに、カウンタ６５７は、「サブブロック終了」
信号によってゼロにリセットされる前に１ないしＮのマ
ルチプレクサアドレスを発生し、かつそれからこの動作
を循環的に繰り返す。

１３−ビットカウンタであることができるカウンタ６６
１は、１ないし８１９２の出力カウントを発生する目的
で「サブブロックの終了」信号をカウントする。

各出力１３−ビットカウントの最初の３ビツトはリード
オンリメモリＲＯＭ６６７へ与えられて８個の１６−ピ
ッドワードの１つを選択し、このワードは、△Ｘインバ
ウンド検出器６０６（第２６図）へ与えられる下のおよ
び上の△Ｘ変位限界を確立する。

各出力１３−ビットカウントの次の３ビツトはＲＯＭ６
（５８へ与えられて、８個の１６−ピッドワードの１個
を選択し、このワードは△Ｙインバウンド検出器６０７
（第２６図）へ与えられる下のおよび上のΔＹ変位限界
を確立する。

最後に、各出力１３−ビットカウントの最後の７ビツト
はＲＯＭ６６９へ与えられて１２８個の１６−ピッドワ
ードの１個を選択し、このワードは△θインバウンド検
出器６６８へ与えられる下のおよび上の△θ変位限界を
確立する。

この態様で、ΔＸ、△Ｙ、△θ空間の前に説明された座
標が典型的な立方体の８１９２個のサブブロックの各々
に対して決定される。

８１９２のカウントに到達するとき、カウンタ６６１は
「８１９２をカウント」信号を発生し、この信号は遅延
回路６７１へ与えられる。

「８１９２をカウント」信号を受けた後の１個のＣ１ク
ロック期間、遅延回路６７１は「全体的なコヒーレンジ
分析の終了Ｊ（ＧＣＡ終了）信号を発生し、この回路６
７１はフリップフロップ６５１をリセットしかつカウン
タ６５３をゼロカウントにリセットする。

この「ＯＣＡ終了」信号はまた、出力信号としこ利用す
ることができて、ＲＩＶ照合器が１個のコンポーネント
である全体的なシステムの最終的照合点数Ｓ、の使用を
許容し、かつこの「ＧＣＡ終了」信号は「待」フリップ
フロップ９６（第６Ｂ図）をセットして、第６Ｂ図に示
されるように、新しい未知のＦＰ−Ａを準備するか、ま
たは第６Ｂ図におけるフリップフロップ１１２をセット
することによって比較のためファイルから付加的なＦＰ
−Ｂ’を読み出すために選ばれても良い全体的システム
まで制御判定をゆだねるかのいずれかである。

インデックスおよび制御回路６０３は、もう１つの指紋
の対の比較が後続的に、カウンタ６５３によってカウン
トされるべき「ストア」パルスを発生するまで、動作の
この静止状態のままである。

示された実症例に開示されたように、この発明は２個の
指紋が、１個の指紋の細目の各々のおよび全ての局部領
域（ＲＩＶフォーマットで記述される）がいかにしても
う１つの指紋の細目の各々のかつ全ての局部領域と照合
するかを自動的に決定し、かつ２個の指紋間の照合の度
合いの全体的な絵を得る目的でこれらの中間的な結果の
全てを一緒に３次元塵標空間に置くことによって、互い
に照合するか否かを自動的に決定するためのシステムを
提供する。

指紋細目パターン照合器に関して顕著な特徴が例示され
かつ説明されたが、この発明は一般に任意の細目パター
ン照合の応用に適応することができるということが理解
されるべきである。

基本的には、この発明のＲＩＶ照合アルゴリズムは２個
のパターンの間の類似性の数値測定を発生するように意
図されており、そこでは、各パターンは１組の細目によ
って記述されておりかつ細目はその位置および配向によ
って記述される。

これらの細目は比較されるべきパターンの重要な反復自
在な特徴として非常に幅広く規定されることができる。

たとえば、航空景色における道路、建物、交叉点、丘、
山、湖、記念碑などであり、または指紋パターンにおけ
る隆線終端、島、点、分岐、三方向分岐、などである。

この発明のＲＩＶ照合アルゴリズムは、照合されるべき
パターンがある重要な歪みおよび変形を受けるとき特に
有益である。

たとえば、細目の数が雲の多い（航空景色）またはイン
キのつけすぎ（指紋）の結果変化し；細目の相対的位置
がそれぞれの変形（航空景色）または回転押しつけ（指
紋）の結果変化し；かつ偽の特徴が、雨、雪、など（航
空景色）または複数の痕跡（指紋）に起因する雑音汚染
によって表われる。

これらの条件のもとで、ＲＩＶアプローチは、比較的幅
広い度合の変形に堪えてなおも、比較されるべきパター
ン間の類似性の度合いを測定することができる。

それゆえに、前掲の特許請求の範囲に記載されたこの発
明の精神および範囲内でそのような修正がなされること
ができるということは当業者にとって明らかであろう。

【図面の簡単な説明】 第１図は、座標Ｘ 、Ｙ 、θ を有する中心細目
の近隣細目のための相対情報ベクトルパラメータをｒ、
φおよび△θを示す。 第２図はこの発明の指紋細目パターン照合器の好ましい
実施例の包括化されたブロックダイヤグラムである。 第３図はこの発明と両立することができるように修正さ
れた指紋細目読取器を示す。 第４図はいかにして細目が識別されるかを示す。 第５図はこの発明の好ましい実施例の詳細なブロックダ
イヤグラムである。 第６Ａ図は第５図のタイミングおよび制御回路の第１の
部分のブロックダイヤグラムである。 第６Ｂ図は第５図のタイミングおよび制御回路の第２の
部分のブロックダイヤグラムである。 第７図は第６Ａ図および第６Ｂ図のタイミングおよび制
御回路の動作説明に用いるタイミングチャートを示す。 第８図は第５図のＲＩＶエンコーダのブロックダイヤグ
ラムである。 第９図、第１０図、第１１図および第１２図は第８図の
ＲＩＶエンコーダの動作説明に用いる細目およびＲＩＶ
パターンを示す。 第１３図は第８図の半径方向順序分類器、中心細目およ
び近隣細目レジスタ、ならびに出力回路の簡略化された
ブロックダイヤグラムである。 第１４図は第１３図のゲート回路ならびに中心細目およ
び近隣細目レジスタのブロックダイヤグラムである。 第１５図は第１３図に示される半径方向順序分類器の位
置決定回路のブロックダイヤグラムである。 第１６図は第１５図の位置決定回路の動作説明に用いる
波形を示す。 第１７図は第１３図の出力回路のブロックダイヤグラム
である。 第１８図は第５図のＲＩＶセレクタのブロックダイヤグ
ラムである。 第１９図は第５図の中心細目比較回路のブロックダイヤ
グラムである。 第２０図は第５図のＲＩＶ比較回路のブロックダイヤグ
ラムである。 第２１図は第２０図の制御回路のブロックダイヤグラム
である。 第２２図は第２０図の最大点数セレクタのブロックダイ
ヤグラムである。 第２３図は第２２図のゲート回路のブロックダイヤグラ
ムである。 第２４図は第５図の座標変換回路のブロックダイヤグラ
ムである。 第２５図は第５図の点数ゲートのブロックダイヤグラム
である。 第２６図は第５図の全体的なコヒーレンジアナライザの
ブロックダイヤグラムである。 第２７図は第２６図のインデックスおよび制御回路のブ
ロックダイヤグラムである。 図において、３９はデータコンバータ、４１は照合コン
パレータ、４３は点数プロセサ、２７はランダムアクセ
スメモリ、２３は細目カウンタ、３５はアドレスカウン
タ、３７はコンパレータを示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 第１および第２のパターンの細目に応答して、前記
   第１および第２のパターンの近隣細目間の照合ならびに
   座標および配向変位の近さを表わす複数個の近隣比較信
   号を選択的に発生するための手段と、 前記複数個の近隣比較信号に応答して、前記第１および
   第２のパターン間の照合の相対的近さを表わす出力信号
   を発生するための手段とを備え、前記近隣比較信号を選
   択的に発生するための手段は、 前記第１および第２のパターンの細目に応答して、前記
   第１および第２のパターンの細目の各々のため近くの包
   囲細目の詳細な近隣記述を選択的に発生するための手段
   と、 前記第１および第２のパターンの前記詳細な近隣記述に
   選択的に応答して前記複数個の近隣比較信号を発生する
   ための手段とを含む、自動細目パターン照合システム。 ２ 前記出力信号を発生するための手段は、それらのパ
   ターン間の最もよい照合のため前記第１および第２のパ
   ターン間の相対的座標および配向変位を決定するための
   手段を含む、特許請求の範囲第１項記載のシステム。 ３ 第１および第２の細目パターンの細目に応答して、
   前記第１および第２の細目パターンの各細目を包囲する
   近くの細目の近隣細目の詳細な近隣記述を選択的に発生
   するための手段と、 前記第１および第２の細目パターンの詳細な近隣細目に
   選択的に応答して、前記第２の細目パターンの各近隣細
   目に関して前記第１の細目パターンの各近隣細目間の照
   合ならびに座標および配向変位の近さを表わす複数個の
   近隣比較信号を発生するための手段と、 近隣比較信号に応答して第１および第２の細目パターン
   間の照合の相対的近さを表わす出力信号を発生する手段
   とを備えた、自動細目パターン照合システム。 ４ 第１および第２の指紋の細目に応答して、前記第１
   および第２の指紋の近隣細目間の照合ならびに座標およ
   び配向変位の近さをあられす複数個の近隣比較信号を選
   択的に発生するための手段と、前記複数個の近隣比較信
   号に応答して前記第１および第２の指紋間の照合の相対
   的近さを表わす出力信号を発生するための手段とを備え
   た、自動指紋照合システム。 ５ 前記近隣比較信号発生手段は、 前記第１および第２の指紋の細目に応答して、前記第１
   および第２の指紋の細目の各々のため近くの包囲細目の
   詳細な近隣記述を選択的に発生するための手段と、 前記第１および第２の指紋の詳細な近隣記述に選択的に
   応答して前記複数個の近隣比較信号を発生するための手
   段とを備えた、特許請求の範囲第４項記載のシステム。 ６ 第１および第２の指紋の細目に応答して、前記第１
   および第２の指紋における各細目を包囲する近くの細目
   の近隣細目の詳細な近隣記述を選択的に発生するための
   手段と、 前記第１および第２の指紋の詳細な近隣記述に選択的に
   応答して、前記第２の指紋の各近隣細目に関して前記第
   １の指紋の各近隣細目間の照合ならびに座標変位の近さ
   を表わす複数個の近隣比較信号を発生するための手段と
   、 前記近隣比較信号に応答して、前記第１および第２の指
   紋間の照合の相対的近さを表わす出力信号を発生するた
   めの手段とを備えた、自動指紋照ロノスアム。