JPS5857958U - 探傷装置 - Google Patents

探傷装置

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JPS5857958U
JPS5857958U JP15403481U JP15403481U JPS5857958U JP S5857958 U JPS5857958 U JP S5857958U JP 15403481 U JP15403481 U JP 15403481U JP 15403481 U JP15403481 U JP 15403481U JP S5857958 U JPS5857958 U JP S5857958U
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JP
Japan
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holder
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JP15403481U
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JPS6311649Y2 (ja
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玉田　守
中岡　栄一
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の一寥施例を示し、第１図は半裁断面図、
第２図は部分斜視図、第３図は要部を示す拡大正面図、
第４図は第３図におけるＩＶ−ＩＶ線断面図、□第５図
は第３図におけるＶ矢視図である。 Ａ・・・被検査材、Ｂ・・・圧力流体（圧縮空気）、２
・・・基体、７・・・ワンターンリング、８・・・検出
端、９・・・ホルダ、１１・・・信号変換コイル、１５
・・・流体噴射機構。　　　　　′

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 被検査材に対、して相対的に移動する基体と、この基体
    側に保持され一個所に切欠部を有した導電材製のワン、
    ターンリングと、このワンターンリングの切欠部から前
    記被検、香材の外周面に近接する位置まで延出され前記
    切欠部を電気的に接続して閉回路を形成する検出端と、
    前記ワンターンリングの外周囲に配設され高周波磁界を
    発生させて前記閉回路に高周波電流を誘発させるととも
    に前記検出端が前記被検査材の欠陥部分に対面した場合
    にインは−ダンスが変化して探傷信号を提供する信号変
    換コイルとを具備した探傷装置であって、前記基体に前
    記検出端を保持するホルダを、前記被検香材方向に進退
    自在に支持させ、このホルダを前記被検香材方向龜付勢
    す、６８社、ユ。オ　　　　。 ルダに該ホルダと前記ｉ検査材との間に圧力流体を遂時
    供給して呻ホルダを前記被検査材の表面から浮上させる
    ための流体噴出機構を設けたことを一特徴とする探傷装
    置。
JP15403481U 1981-10-15 1981-10-15 探傷装置 Granted JPS5857958U (ja)

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JP15403481U JPS5857958U (ja) 1981-10-15 1981-10-15 探傷装置

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JP15403481U JPS5857958U (ja) 1981-10-15 1981-10-15 探傷装置

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JPS5857958U true JPS5857958U (ja) 1983-04-19
JPS6311649Y2 JPS6311649Y2 (ja) 1988-04-05

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018521327A (ja) * 2015-07-28 2018-08-02 プリューフテヒニーク ディーター ブッシュ アクチェンゲゼルシャフト プローブ素子、回転頭部及び試験装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52121385A (en) * 1976-04-06 1977-10-12 Omron Tateisi Electronics Co Defect detection device

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52121385A (en) * 1976-04-06 1977-10-12 Omron Tateisi Electronics Co Defect detection device

Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018521327A (ja) * 2015-07-28 2018-08-02 プリューフテヒニーク ディーター ブッシュ アクチェンゲゼルシャフト プローブ素子、回転頭部及び試験装置

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Publication number Publication date
JPS6311649Y2 (ja) 1988-04-05

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