JPS5858023B2 - 超音波検査装置を調整するテスト基準体 - Google Patents
超音波検査装置を調整するテスト基準体Info
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- JPS5858023B2 JPS5858023B2 JP52092910A JP9291077A JPS5858023B2 JP S5858023 B2 JPS5858023 B2 JP S5858023B2 JP 52092910 A JP52092910 A JP 52092910A JP 9291077 A JP9291077 A JP 9291077A JP S5858023 B2 JPS5858023 B2 JP S5858023B2
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- test
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- sleeve
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H3/00—Measuring characteristics of vibrations by using a detector in a fluid
-
- G—PHYSICS
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- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V13/00—Manufacturing, calibrating, cleaning, or repairing instruments or devices covered by groups G01V1/00 – G01V11/00
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波検査装置の調整方法を実施するテスト
原器（基準体）に関する。
原器（基準体）に関する。
周知のように、材料の非破壊検査を行なう検査装置は、
試験サンプルを用いて調整される。
試験サンプルを用いて調整される。
この試験サンプルは、検査試料の寸法にあわせなければ
ならず、そのほか、試験サンプルの材料は被験体と同じ
音響技術的な特性を備えていなければならない。
ならず、そのほか、試験サンプルの材料は被験体と同じ
音響技術的な特性を備えていなければならない。
検査の種類、適用規定あるいは検査の目的に応じて、規
定の深さと、幅と、長さとを持った溝、切欠き及び（あ
るいは）穴をこの試験サンプルに設けなければならない
。
定の深さと、幅と、長さとを持った溝、切欠き及び（あ
るいは）穴をこの試験サンプルに設けなければならない
。
検査装置を調節するにあたって、このような試験サンプ
ルを使用することは、多くの場合不十分であることが判
明している。
ルを使用することは、多くの場合不十分であることが判
明している。
このことは、あらかじめ加工されていないパイプ、帯材
等から作られる試験サンプルの場合に特に当てはまる。
等から作られる試験サンプルの場合に特に当てはまる。
試験サンプルの場合に特に当てはまる。
試験サンプルのいま１つの欠点は、該試験サンプルの製
作に非常に費用と時間がかかり、また被検査物の切断面
を測定したあとではじめて、所定の試験用欠陥を設ける
ことができることである。
作に非常に費用と時間がかかり、また被検査物の切断面
を測定したあとではじめて、所定の試験用欠陥を設ける
ことができることである。
さらに、試験サンプルが重いことも欠点である。
たとえば、大径管のごとき寸法の大きい検査資料の場合
、今日の作業態様におりる試験サンプルは、調節作業を
行なうにしてはあまりにも重すぎ、クレーンや自動車の
ような補足的な補助手段を用いない限り、取扱いは不可
能である。
、今日の作業態様におりる試験サンプルは、調節作業を
行なうにしてはあまりにも重すぎ、クレーンや自動車の
ような補足的な補助手段を用いない限り、取扱いは不可
能である。
いまひとつの大きな問題は、これら試験サンプルの保管
に伴なうものである。
に伴なうものである。
しかし、本質的な欠点は、従来の方法の場合試験条件の
再現性に劣ることである。
再現性に劣ることである。
したがって、本発明の目的は、非破壊検査用検査装置を
オペレータにまったく左右されることなく、再現可能に
調節することができ、しかも簡単にかつ技術的に改善さ
れた態様で調節を行なうことができるテスト原器または
検量基準体を提供することである。
オペレータにまったく左右されることなく、再現可能に
調節することができ、しかも簡単にかつ技術的に改善さ
れた態様で調節を行なうことができるテスト原器または
検量基準体を提供することである。
上記目的を達成するため、次の特徴を有するテスト原器
または検量基準体が本発明により提案される。
または検量基準体が本発明により提案される。
即ち、円筒状のスリーブの内側に反射面を有するリフレ
クタを、該円筒状のスリーブの中に設置し、これらスリ
ーブとりフレフタを当該検量基準体の出口端の位置で傾
斜させ、前記スリーブは、複数のスリットと、前記反射
面で終っている複数の斜めの穴と、スリーブ中のりフレ
フタと向かい合った端に設けられた２つの向かい合った
直角スリットとを備えるようにしたことを特徴とするテ
スト原器または検量基準体である。
クタを、該円筒状のスリーブの中に設置し、これらスリ
ーブとりフレフタを当該検量基準体の出口端の位置で傾
斜させ、前記スリーブは、複数のスリットと、前記反射
面で終っている複数の斜めの穴と、スリーブ中のりフレ
フタと向かい合った端に設けられた２つの向かい合った
直角スリットとを備えるようにしたことを特徴とするテ
スト原器または検量基準体である。
なお、４つのスリットと４つの斜めの穴を設けるのが好
ましい。
ましい。
斜めの穴は、４５度の傾斜を有している。リフレクタを
有する本発明に係る検量基準体は、超音波検査装置を再
現可能に調節するため、前記直角スリットを用いて探触
子を収容するためのクランプ・スリーブに銃剣状に差し
込まれ、保持される。
有する本発明に係る検量基準体は、超音波検査装置を再
現可能に調節するため、前記直角スリットを用いて探触
子を収容するためのクランプ・スリーブに銃剣状に差し
込まれ、保持される。
接触媒質（水）は、長いスリットを通して検査基準体の
中に注入される。
中に注入される。
前記斜めの穴は、リフレクタの前に気泡が残留すること
を防ぐため、排気の働きをするものである。
を防ぐため、排気の働きをするものである。
前記反射面は、検査装置を調節するため、所定の超音波
信号を発生する働きをする。
信号を発生する働きをする。
リフレクタ本体の傾斜は、当該リフレクタ本体の端によ
って生じる後壁エコーを避ける働きをするものである。
って生じる後壁エコーを避ける働きをするものである。
本発明に係る検量基準体によれば、従来一般に行なわれ
ている試験サンプルを使用することなく、検査装置を調
節することが可能となる。
ている試験サンプルを使用することなく、検査装置を調
節することが可能となる。
同じ検量基準体を、すべての検査試料の測定に使用する
ことができる。
ことができる。
検査装置のいろいろな検査機能にあわせて使用されるす
べての探触子ホルダーに対して、検量基準体は１つで十
分である。
べての探触子ホルダーに対して、検量基準体は１つで十
分である。
従来の試験サンプルとは異なり、検査基準体は扱いやす
く、探触子の大きさに応じて設計される。
く、探触子の大きさに応じて設計される。
以下、本発明の実施例を図解した添付図面を参照しなが
ら、本発明の詳細な説明する。
ら、本発明の詳細な説明する。
第１図と第２図に示されている検査基準体は、スリーブ
１と、該スリーブの中に挿入されたりフレフタ２と、ス
リーブの内側に位置する反射面とから構成されている。
１と、該スリーブの中に挿入されたりフレフタ２と、ス
リーブの内側に位置する反射面とから構成されている。
スリーブ１は、複数のスリット４と複数の斜めの穴５と
を備えており、該斜めの穴５は反射面３の位置で終って
いる。
を備えており、該斜めの穴５は反射面３の位置で終って
いる。
さらに、スリーブ１は、スリーブの上縁に２つの向かい
合わせに形成された直角スリット６を備えており、検量
基準体は該直角スリットを用いて、探触子を収容するた
めのクランプ・スリーブに銃剣状に差し込まれ保持され
る。
合わせに形成された直角スリット６を備えており、検量
基準体は該直角スリットを用いて、探触子を収容するた
めのクランプ・スリーブに銃剣状に差し込まれ保持され
る。
たとえば、徴候期待範囲（ＡＥＢ）と検査感度に対する
走行時間のごとき、検査装置を調節するために必要な検
査基準体に関する検査データは、試験の目的に応じて経
験的に確認されるか、或いは検査の前に確認される。
走行時間のごとき、検査装置を調節するために必要な検
査基準体に関する検査データは、試験の目的に応じて経
験的に確認されるか、或いは検査の前に確認される。
この作業は、自然の欠陥或いは人為的に設けられた欠陥
を有するサンプルについても実施することができる。
を有するサンプルについても実施することができる。
検査に必要な測定検査データがすべて検量基準体に伝達
されると、検査装置は該検量基準体を介して使用状態に
調節される。
されると、検査装置は該検量基準体を介して使用状態に
調節される。
この調節工程は、次のように進められる。
（１）まず、検量基準体が、まっすぐに形成された測定
区間（測定平面）に置くべき探触子に差し込まれ、接触
媒質の中に浸漬される。
区間（測定平面）に置くべき探触子に差し込まれ、接触
媒質の中に浸漬される。
この場合、接触媒質（水）は、該媒質のために形成され
た検量基準体の長いスリットを通って流入し、方検量基
準体の中にあった空気は、斜めに設けられた穴５から漏
出する。
た検量基準体の長いスリットを通って流入し、方検量基
準体の中にあった空気は、斜めに設けられた穴５から漏
出する。
（２）走行時間は、反射面３の表面エコーが何回も反響
する結果を利用し、検査材料の寸法に従がって超音波電
子装置で調節される。
する結果を利用し、検査材料の寸法に従がって超音波電
子装置で調節される。
（３）引続き、徴候期待範囲（ＡＥＢ）の調節が行なわ
れるが、この場合反射面３の表面エコーが基準点として
働く。
れるが、この場合反射面３の表面エコーが基準点として
働く。
（４）これに引続き、基準エコーを用いて、必要な検査
感度または規定の検査感度に調節される。
感度または規定の検査感度に調節される。
なお、最初は試験サンプルを作成するが、該試験サンプ
ルと検量基準体との間で長期間比較を行なったあとであ
れば、当該試験サンプルを製作することは取り止めてよ
く、その後の検査装置の調節は、上記検量基準体のみに
関係して行うだけでよいことに、最後に言及しておく。
ルと検量基準体との間で長期間比較を行なったあとであ
れば、当該試験サンプルを製作することは取り止めてよ
く、その後の検査装置の調節は、上記検量基準体のみに
関係して行うだけでよいことに、最後に言及しておく。
追加の関係
本願発明は、原出願に係る特許第１１５０３６６号（特
公昭５７−４０４６３号）の発明「生産工程にある被験
体用ＵＳ−試験装置の調節方法」を実施する「超音波検
査装置を調節するテスト基準体」であるから、特許法第
３１条第１項第３号の規定に該当し、追加の関係を有す
る。
公昭５７−４０４６３号）の発明「生産工程にある被験
体用ＵＳ−試験装置の調節方法」を実施する「超音波検
査装置を調節するテスト基準体」であるから、特許法第
３１条第１項第３号の規定に該当し、追加の関係を有す
る。
第１図は、本発明に係るテスト基準体の正面図、第２図
は、第１図のテスト基準体を切断した側面図である。 １・・・・・・スリーブ、２・・・・・・リフレクタ、
３・・・・・・反射面、４・・・・・・スリット、５・
・・・・・斜めの穴、６・・・・・・直角スリット。
は、第１図のテスト基準体を切断した側面図である。 １・・・・・・スリーブ、２・・・・・・リフレクタ、
３・・・・・・反射面、４・・・・・・スリット、５・
・・・・・斜めの穴、６・・・・・・直角スリット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 超音波検査装置の調整方法を実施するテスト基準体
であって、円筒状スリーブの内側に反射面３を有するリ
フレクタ２を、該円筒状スリーブ１の中に設置し、これ
らスリーブとりフレフタを当該検量基準体の出口端の位
置で傾斜させ、前記スリーブ１は、複数のスリット４と
、反射面３で終っている複数の斜めの穴５と、スリーブ
１内のりフレフタと向かい合った端に設けられた２つの
向かい合った直角スリット６とを備えるようにしたこと
を特徴とするテスト基準体。 ２ 好ましくは、４つのスリットと４つの斜めの穴を設
けることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載のテ
スト基準体。 ３ 前記斜めの穴が、好ましくは４５度の傾斜角を有し
ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項または第
２項に記載のテスト基準体。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE000P26359820 | 1976-08-06 | ||
| DE19762635982 DE2635982C3 (de) | 1976-08-06 | 1976-08-06 | Eichnormal zum Einrichten von Ultraschall-Prüfanlagen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5320379A JPS5320379A (en) | 1978-02-24 |
| JPS5858023B2 true JPS5858023B2 (ja) | 1983-12-23 |
Family
ID=5985147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52092910A Expired JPS5858023B2 (ja) | 1976-08-06 | 1977-08-02 | 超音波検査装置を調整するテスト基準体 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5858023B2 (ja) |
| CA (1) | CA1094676A (ja) |
| DE (1) | DE2635982C3 (ja) |
| FR (1) | FR2360884A2 (ja) |
| GB (1) | GB1582874A (ja) |
| IT (1) | IT1114830B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2655364C2 (de) * | 1976-12-03 | 1986-07-10 | Mannesmann AG, 4000 Düsseldorf | Vorrichtung zur Ultraschallprüfung von UP-geschweißten Großrohren |
| DE3017900C2 (de) * | 1980-05-09 | 1982-12-16 | Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln | Verfahren zur genauen automatischen Einstellung des Fehlererwartungsbereiches von Ultraschall-Rohr-Prüfanlagen zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung nach dem Impuls-Echo-Verfahren |
| US4801894A (en) * | 1987-10-23 | 1989-01-31 | Hewlett-Packard Company | Frequency detector for frequency locked loop |
| RU2186383C2 (ru) * | 1999-04-13 | 2002-07-27 | Государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский и конструкторский институт монтажной технологии" | Образец для ультразвукового контроля (варианты) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1285993A (fr) * | 1961-01-17 | 1962-03-02 | Sncf | Cales-étalon pour appareils de contrôle à ultra-sons |
| JPS511993B1 (ja) * | 1967-03-28 | 1976-01-22 | ||
| US3677061A (en) * | 1971-02-10 | 1972-07-18 | Amsted Ind Inc | Ultrasonic test standard |
| US3908439A (en) * | 1974-09-24 | 1975-09-30 | Curtiss Wright Corp | Flat bottom reference reflectors for ultrasonic inspection |
-
1976
- 1976-08-06 DE DE19762635982 patent/DE2635982C3/de not_active Expired
-
1977
- 1977-07-11 IT IT2559577A patent/IT1114830B/it active
- 1977-07-22 GB GB3094377A patent/GB1582874A/en not_active Expired
- 1977-08-02 JP JP52092910A patent/JPS5858023B2/ja not_active Expired
- 1977-08-05 CA CA284,167A patent/CA1094676A/en not_active Expired
- 1977-08-05 FR FR7724828A patent/FR2360884A2/fr active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2635982A1 (de) | 1978-02-09 |
| DE2635982B2 (de) | 1978-05-24 |
| DE2635982C3 (de) | 1980-02-28 |
| JPS5320379A (en) | 1978-02-24 |
| GB1582874A (en) | 1981-01-14 |
| CA1094676A (en) | 1981-01-27 |
| IT1114830B (it) | 1986-01-27 |
| FR2360884A2 (fr) | 1978-03-03 |
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