JPS5866865A - 信号観測装置 - Google Patents
信号観測装置Info
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- JPS5866865A JPS5866865A JP56164937A JP16493781A JPS5866865A JP S5866865 A JPS5866865 A JP S5866865A JP 56164937 A JP56164937 A JP 56164937A JP 16493781 A JP16493781 A JP 16493781A JP S5866865 A JPS5866865 A JP S5866865A
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- channel
- logical
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/25—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、一般にロジックスコープ或いはロジックアナ
ライザーと称される信号観測装置に関する。
ライザーと称される信号観測装置に関する。
この種の信号観測装置はメモIJ ’11’内蔵し、従
来のシンクロスコープ等では観測が困難とされていた多
現象のロジック信号を同時に捕えて記憶し、CRT管面
上にタイミング表示或いはステート表示するもので、デ
ィジタル機器の開発、保守及び修理に有効に用いること
ができる。
来のシンクロスコープ等では観測が困難とされていた多
現象のロジック信号を同時に捕えて記憶し、CRT管面
上にタイミング表示或いはステート表示するもので、デ
ィジタル機器の開発、保守及び修理に有効に用いること
ができる。
本出願人はこの種の信号観測装置として、先に特願昭5
1−117458号(特公昭55−34903号)Z提
案した。第1図はこれを示す。
1−117458号(特公昭55−34903号)Z提
案した。第1図はこれを示す。
第1図において、1は入力端子で被観測信号が与えられ
る。入力端子1は、複数チャンネルを同時に観測するた
めに複数個、例えば8個から成る。
る。入力端子1は、複数チャンネルを同時に観測するた
めに複数個、例えば8個から成る。
入力端子1から入力信号の供給を受けるコンパレータ2
は、比較電圧発生回路3から与えられるスレッシュホー
ルドレベルと入力信号とを比較して、2値のディジタル
信号に変換する。このコンパレータ2は各チャンネル毎
にもうけられる。コンパレータ2と同様にチャンネル毎
にもうけられるメモリ4は、コンパレータ2から出力さ
れる被観測信号を記憶する。このメモリ4には、クロッ
ク発生器6の書込みクロックで所定アドレスに被観測信
号が書込まれ、読出しクロックに基づいて繰返して読出
される。制御カウンタ5は、クロック発生器6の書込み
クロックに従ってメモリ4のアドレス指定7行なう。ま
たこの制御カウンタ5は、トリガ回路7のトリガで、ト
リガ遅延設定回路8で設定された遅延時間を経過した後
K、書込み一読出し切換信号を発生し、これをクロック
発生器6に与えて書込みクロック状態から続出しクロッ
ク状態に転換させる。なお、スイッチSWは制御カウン
タ【を外部トリガするためのスイッチである。
は、比較電圧発生回路3から与えられるスレッシュホー
ルドレベルと入力信号とを比較して、2値のディジタル
信号に変換する。このコンパレータ2は各チャンネル毎
にもうけられる。コンパレータ2と同様にチャンネル毎
にもうけられるメモリ4は、コンパレータ2から出力さ
れる被観測信号を記憶する。このメモリ4には、クロッ
ク発生器6の書込みクロックで所定アドレスに被観測信
号が書込まれ、読出しクロックに基づいて繰返して読出
される。制御カウンタ5は、クロック発生器6の書込み
クロックに従ってメモリ4のアドレス指定7行なう。ま
たこの制御カウンタ5は、トリガ回路7のトリガで、ト
リガ遅延設定回路8で設定された遅延時間を経過した後
K、書込み一読出し切換信号を発生し、これをクロック
発生器6に与えて書込みクロック状態から続出しクロッ
ク状態に転換させる。なお、スイッチSWは制御カウン
タ【を外部トリガするためのスイッチである。
10と11は各チャンネル毎にもうけられる設定スイッ
チ及びゲート回路で、第2図の構成をもつ。
チ及びゲート回路で、第2図の構成をもつ。
各設定スイッチ(10−1,10−2,・・曲1O−n
)は論理″0”、DONT CARE″×”(論理カー
1”又は0”のいずれでもよいこと、即ちそのチャンネ
ルの内容には感知しないことを示す)、論理”1”のい
ずれかを設定できる3つの論理条件選択接点を有し、論
理”0”と”1”の接点は閉成で”0”を、開成で”1
”をとる。各スイッチ(to−1、10−2、・・・・
・・1O−n)に対応する各ゲート回路(11−1,1
1−2,・・・・・・n−n)は、設定スイッチの論理
条件に従って、メモリ4の出力の極性を反転して出方す
る状態と、メモリ出方を反転しないで送る状態と、メモ
リ出方輸送らない状態tとる。AND回路12は各ゲー
ト回路(11−1゜11−2.・・・・・・1l−n)
の出方を大刀として、論理条件が満足されるメモリ4内
のデータを検出する回路である。
)は論理″0”、DONT CARE″×”(論理カー
1”又は0”のいずれでもよいこと、即ちそのチャンネ
ルの内容には感知しないことを示す)、論理”1”のい
ずれかを設定できる3つの論理条件選択接点を有し、論
理”0”と”1”の接点は閉成で”0”を、開成で”1
”をとる。各スイッチ(to−1、10−2、・・・・
・・1O−n)に対応する各ゲート回路(11−1,1
1−2,・・・・・・n−n)は、設定スイッチの論理
条件に従って、メモリ4の出力の極性を反転して出方す
る状態と、メモリ出方を反転しないで送る状態と、メモ
リ出方輸送らない状態tとる。AND回路12は各ゲー
ト回路(11−1゜11−2.・・・・・・1l−n)
の出方を大刀として、論理条件が満足されるメモリ4内
のデータを検出する回路である。
14はチャンネルセレクタで、各メモリ4の出力が与え
られると共にスイッチ13を介してAND回路12の出
力が選択的に与えられる。15はチャンネルカウンタで
、制御カウンタ5が各メモリ4に対して最終アドレスを
指定する毎にチャンネル選択信号を発生し、これによっ
てセレクタ14が各チャンネルを選択してメモリ4の内
容を出力する。この出力とチャンネルカウンタ15の出
力とに基づいてY軸信号発生回路16から、CftT1
9にY軸信号が与えられ、X軸及びZ軸信号は制御カウ
ンタ5のカウント数に基づいて夫々の回路17と18か
ら与えられる。
られると共にスイッチ13を介してAND回路12の出
力が選択的に与えられる。15はチャンネルカウンタで
、制御カウンタ5が各メモリ4に対して最終アドレスを
指定する毎にチャンネル選択信号を発生し、これによっ
てセレクタ14が各チャンネルを選択してメモリ4の内
容を出力する。この出力とチャンネルカウンタ15の出
力とに基づいてY軸信号発生回路16から、CftT1
9にY軸信号が与えられ、X軸及びZ軸信号は制御カウ
ンタ5のカウント数に基づいて夫々の回路17と18か
ら与えられる。
以上の如き構成の信号観測装置において、8チヤンネル
を例に被観測信号が与えられるものとすれば、各入力信
号は各コンパレータ2でスレ;シュホールドレベルと比
較され1”又は0”の論理信号に変換された後、書込み
クロック毎にサンプリングされて8チャンネル同時に各
メモリ4に記憶される。メモリの書込み終了はトリガ回
路7で制御され、回路7のトリガによって書込みモード
から読出しモードになり、各メモリの内容が続出される
。この際、スイッチ13が接点aに選定されていればC
RT管面上には、第3図Aに示すごとく、8チヤンネル
のデータが並列的に表示される。
を例に被観測信号が与えられるものとすれば、各入力信
号は各コンパレータ2でスレ;シュホールドレベルと比
較され1”又は0”の論理信号に変換された後、書込み
クロック毎にサンプリングされて8チャンネル同時に各
メモリ4に記憶される。メモリの書込み終了はトリガ回
路7で制御され、回路7のトリガによって書込みモード
から読出しモードになり、各メモリの内容が続出される
。この際、スイッチ13が接点aに選定されていればC
RT管面上には、第3図Aに示すごとく、8チヤンネル
のデータが並列的に表示される。
第3図Aの表示状態において、スイッチ13を接点すに
選定して各設定スイッチ(10−1,10−2,・・・
・・・10− n )により各チャンネルに論理条件Z
設定すれば、例えばチャンネル(1)と(3)に夫々論
理“1”、他のチャンネルをDONT CARE”X″
とすれば、第3図Bに示すように、第8番目のチャンネ
ル表示に代えて論理条件を満足する波形がタイムチャー
トとして表示される。
選定して各設定スイッチ(10−1,10−2,・・・
・・・10− n )により各チャンネルに論理条件Z
設定すれば、例えばチャンネル(1)と(3)に夫々論
理“1”、他のチャンネルをDONT CARE”X″
とすれば、第3図Bに示すように、第8番目のチャンネ
ル表示に代えて論理条件を満足する波形がタイムチャー
トとして表示される。
従って特願昭51−117458号は、被観測信号にお
ける論理条件の検索を容易にすること大であり、論理信
号の解析に非常に有用なものであるが、論理条件が3種
の状態、即ち論理′°1′′、論理″O”、EX)NT
CARJ(”x”に限られ、1”から0“への論理遷
移及び′0”から1”への論理遷移については検索でき
ないという欠点があり、ある種の用途には不イev生ず
るものであった。
ける論理条件の検索を容易にすること大であり、論理信
号の解析に非常に有用なものであるが、論理条件が3種
の状態、即ち論理′°1′′、論理″O”、EX)NT
CARJ(”x”に限られ、1”から0“への論理遷
移及び′0”から1”への論理遷移については検索でき
ないという欠点があり、ある種の用途には不イev生ず
るものであった。
本発明はこのような観点に基づいてなされたもので、従
来の論理″1”、論理頴”及びDONT CAI化”×
”に加えて1”がら”0″への論理遷移及びこの逆の遷
移を論理条件として設定することが可能な信号観測装置
の提供を目的とする。
来の論理″1”、論理頴”及びDONT CAI化”×
”に加えて1”がら”0″への論理遷移及びこの逆の遷
移を論理条件として設定することが可能な信号観測装置
の提供を目的とする。
この目的を達成するための本発明の特徴は、各チャンネ
ル毎にもうけられるコンパレータ及びメモリヲ有し、各
チャンネル毎に与えられる複数の被観測信号を各コンパ
レータを介して2値の論理信号に変換し、任意周期の書
込みクロックでサンプリングした後対応する各メモリに
開時に記憶し、所定周期の読出しクロックに従って各メ
モリの内容を並列に書込みクロックのサンプリングに対
応して読出し、もって各チャンネルの内容を同−管面に
視覚表示する信号観測装置において、論理”1”、論理
″0”、論理状態に感知しないDONT CAHg ”
x ”10”から1″への論理遷移及び”1”から1
”への論理遷移ケ論理条件としてこれらのいずれかを各
チャンネルに指定する論理条件設定手段と、各メモリの
同一のサンプリングクロックのメモリ位置におけるピッ
l”Mサーチピット列として、指定された論理条件と比
較し被サーチピット列が論理条件を満足する場合に一致
出力を与える比較検出手段とを有し、比較検出手段の出
力に従って被観測信号における論理条件を満足する位置
を各チャンネルの内容と対応させて視覚表示するごとき
信号観測装置にある。
ル毎にもうけられるコンパレータ及びメモリヲ有し、各
チャンネル毎に与えられる複数の被観測信号を各コンパ
レータを介して2値の論理信号に変換し、任意周期の書
込みクロックでサンプリングした後対応する各メモリに
開時に記憶し、所定周期の読出しクロックに従って各メ
モリの内容を並列に書込みクロックのサンプリングに対
応して読出し、もって各チャンネルの内容を同−管面に
視覚表示する信号観測装置において、論理”1”、論理
″0”、論理状態に感知しないDONT CAHg ”
x ”10”から1″への論理遷移及び”1”から1
”への論理遷移ケ論理条件としてこれらのいずれかを各
チャンネルに指定する論理条件設定手段と、各メモリの
同一のサンプリングクロックのメモリ位置におけるピッ
l”Mサーチピット列として、指定された論理条件と比
較し被サーチピット列が論理条件を満足する場合に一致
出力を与える比較検出手段とを有し、比較検出手段の出
力に従って被観測信号における論理条件を満足する位置
を各チャンネルの内容と対応させて視覚表示するごとき
信号観測装置にある。
以下図面により本発明の詳細な説明する。
第4図は本発明による信号観測装置の一実施例で、その
重要な特徴は、組合せ論理条件anとして論理+1”、
論理″0”、DONT CARg″×”、頴”から11
”への論理遷移”↑”及び”1″から”0”への論理遷
移”↓”のいずれかを指定するための論理条件設定スイ
ッチ加と、複数の観測信号の中から指定された論理条件
anを満足する位置ケ検出する条件検出回路21ヲ有す
ることにある。論理条件設定スイッチ加は各チャンネル
毎に加−1,20−2,・・・・・・加−n(nはチャ
ンネル数)としてもうけられ、各チャンネルに対し上記
5つの論理条件のうちのひとつが与えられる。各設定ス
イッチ(zo−1,20−2,・・・・・・zO−n)
にはこれに対応して条件検出回路(21−1゜21−2
、・・・・・・2l−n)がもうけられ、各チャンネ
ルのメモリ4の内容が対応し°て与えられる。各条件検
出回路(21−1,21−2,・・・・・・2l−n)
にはまた、その各々に内蔵される後述のフリップフロッ
プを1クロツク毎にクリアするためのクロック整形回路
器の出力が与えられる。クロック整形回路%は、クロッ
ク発生器6からのクロック信号を、メモリ4の出力に対
して第5図に示すごとき時間関係をもつように整形出力
する。第5図において、時間区間Tは1クロツク毎のデ
ータ読出しの区切りで/Asオーダを有し、tlはクロ
ック整形回路器の出力パルス幅、t2はデータの区切り
七回路乙の出力パルスの終了との時間幅で、t、は上記
フリップフロップをクリアするのに必要な時間幅(10
ns−10n5− ) V有し、t2は上記フリップフ
ロップのクロックに対するデータセットアッズタイム以
上の時間幅(3ns−20ns )w有する。AND回
路nは、各条件検出回路(21−1,21−2,・・・
・・・2l−n)の出力を入力として、論理条件が満足
される各メモリ4内のデータケ検出する回路である。
重要な特徴は、組合せ論理条件anとして論理+1”、
論理″0”、DONT CARg″×”、頴”から11
”への論理遷移”↑”及び”1″から”0”への論理遷
移”↓”のいずれかを指定するための論理条件設定スイ
ッチ加と、複数の観測信号の中から指定された論理条件
anを満足する位置ケ検出する条件検出回路21ヲ有す
ることにある。論理条件設定スイッチ加は各チャンネル
毎に加−1,20−2,・・・・・・加−n(nはチャ
ンネル数)としてもうけられ、各チャンネルに対し上記
5つの論理条件のうちのひとつが与えられる。各設定ス
イッチ(zo−1,20−2,・・・・・・zO−n)
にはこれに対応して条件検出回路(21−1゜21−2
、・・・・・・2l−n)がもうけられ、各チャンネ
ルのメモリ4の内容が対応し°て与えられる。各条件検
出回路(21−1,21−2,・・・・・・2l−n)
にはまた、その各々に内蔵される後述のフリップフロッ
プを1クロツク毎にクリアするためのクロック整形回路
器の出力が与えられる。クロック整形回路%は、クロッ
ク発生器6からのクロック信号を、メモリ4の出力に対
して第5図に示すごとき時間関係をもつように整形出力
する。第5図において、時間区間Tは1クロツク毎のデ
ータ読出しの区切りで/Asオーダを有し、tlはクロ
ック整形回路器の出力パルス幅、t2はデータの区切り
七回路乙の出力パルスの終了との時間幅で、t、は上記
フリップフロップをクリアするのに必要な時間幅(10
ns−10n5− ) V有し、t2は上記フリップフ
ロップのクロックに対するデータセットアッズタイム以
上の時間幅(3ns−20ns )w有する。AND回
路nは、各条件検出回路(21−1,21−2,・・・
・・・2l−n)の出力を入力として、論理条件が満足
される各メモリ4内のデータケ検出する回路である。
第6図は論理条件設定スイッチと条件検出回路の具体例
で、これらは前述したように各チャンネルに対応しても
うけられる複数の同一回路であるので、設定スイッチ2
0−1 と検出回路21−1についてのみ図示すると共
に以下に詳述する。
で、これらは前述したように各チャンネルに対応しても
うけられる複数の同一回路であるので、設定スイッチ2
0−1 と検出回路21−1についてのみ図示すると共
に以下に詳述する。
論理条件設定スイッチ加−1は、5個の論理条件6↓“
0″”×”1”↑”に対応する1対の接点(201゜2
02)と各接点を選択する連動スイッチ(81,82>
を有する。各接点6↓”0″″1”↑゛はスイッチ(s
l。
0″”×”1”↑”に対応する1対の接点(201゜2
02)と各接点を選択する連動スイッチ(81,82>
を有する。各接点6↓”0″″1”↑゛はスイッチ(s
l。
82 )のコンタクトでO″をとり、非接触では″1パ
をとる。条件検出回路21−1は、メモリ4の出方と接
点”↓”0”とを入力とするExOR211と、接点”
↓”0″と接点”1″6↑”とを入力とするNAND
211と、ExOR211の出力をインバータ215ヲ
介してクロック端子CKに入力し、負論理クリア入力端
子CLKはクロック整形回路23の出方を受入れるポジ
ティブエツジトリガ方式のDタイプフリップ7oyプ(
D−FF ) 213 ト、一方の論理接点202及び
ExOR211及びD−F’F213のQ出力とを入力
とし、接点″0”×”1”が指定された場合にExOI
L211の出力を通し、接点“↓”6↑”が指定された
場合にはD−FF213のQ出力を通すゲート回路21
4と、ゲート回路214の出力とNAND212の出力
とを入力とする負論理N0R216を有する。各検出回
路(21−1,2]−2,・・−・・21=n )の負
論理N0Ft 出力はAND回路nに与えられ、この出
力が第4図忙示すように選択スイッチ13ヲ介してチャ
ンネルセレクタ14に与えられるように構成されている
。
をとる。条件検出回路21−1は、メモリ4の出方と接
点”↓”0”とを入力とするExOR211と、接点”
↓”0″と接点”1″6↑”とを入力とするNAND
211と、ExOR211の出力をインバータ215ヲ
介してクロック端子CKに入力し、負論理クリア入力端
子CLKはクロック整形回路23の出方を受入れるポジ
ティブエツジトリガ方式のDタイプフリップ7oyプ(
D−FF ) 213 ト、一方の論理接点202及び
ExOR211及びD−F’F213のQ出力とを入力
とし、接点″0”×”1”が指定された場合にExOI
L211の出力を通し、接点“↓”6↑”が指定された
場合にはD−FF213のQ出力を通すゲート回路21
4と、ゲート回路214の出力とNAND212の出力
とを入力とする負論理N0R216を有する。各検出回
路(21−1,2]−2,・・−・・21=n )の負
論理N0Ft 出力はAND回路nに与えられ、この出
力が第4図忙示すように選択スイッチ13ヲ介してチャ
ンネルセレクタ14に与えられるように構成されている
。
上記構成で、論理条件設定スイッチ20−1が接点″0
”又は6×”又は1”のいずれかに指定されている場合
には、ExOR211の出力がゲート回路214を介し
て与えられるので第1図で述べた動作と同様であり、メ
モリ4のデータ列のうちの条件を満足するデータの検索
が行なわれ、その結果がAND回路nに与えられる。
”又は6×”又は1”のいずれかに指定されている場合
には、ExOR211の出力がゲート回路214を介し
て与えられるので第1図で述べた動作と同様であり、メ
モリ4のデータ列のうちの条件を満足するデータの検索
が行なわれ、その結果がAND回路nに与えられる。
一方、論理条件設定スイッチ20−1が接点5↓”又は
”↑”のいずれかに指定された場合には、ゲート回路2
14はゲートを切換えてD−FF213のQ出力を受入
れる。ここで、論理条件として1↓”じ1”から0”へ
の論理遷移)が指定されたとすれば、接点6↓”はレベ
ル゛0”をとるので、メモリ4のデータはExOR21
1Y同極性で通過しインバータ215で反転された後、
D−FF213のクロック端子CKに与えられる。これ
によってT)−F’F’21:LのQ出力に論理反転を
与えるので、即ちメモリ4のデータが11”から0”へ
論理遷移する。:5D−FFはその安定状態を反転して
Q出力を論理”1”から”0”レベルにする。
”↑”のいずれかに指定された場合には、ゲート回路2
14はゲートを切換えてD−FF213のQ出力を受入
れる。ここで、論理条件として1↓”じ1”から0”へ
の論理遷移)が指定されたとすれば、接点6↓”はレベ
ル゛0”をとるので、メモリ4のデータはExOR21
1Y同極性で通過しインバータ215で反転された後、
D−FF213のクロック端子CKに与えられる。これ
によってT)−F’F’21:LのQ出力に論理反転を
与えるので、即ちメモリ4のデータが11”から0”へ
論理遷移する。:5D−FFはその安定状態を反転して
Q出力を論理”1”から”0”レベルにする。
第7図は1)−FFの動作タイムチャー1示すもので、
(alはメモリ出力、(b)はD−F’F”のクロック
端子CK(7)入力、(C)はQ出力、(d)はQ出力
、(elはD−Ff”のクリア端子CLに与えられるク
ロック整形回路器の出力、げ)は負論理NOR,216
の出力である。第7図から明らかなよう、に、Q出力は
メモリ出力の論理遷移に従って反転し、ゲート回路21
4を介して負論理N0I(216に与えられる。負論理
N0R216はNAND212の出力!他方の入力とし
て第7図の(e)に示すようにQ出力の論理反転を行な
い、AND回路nに条件検出出力を与える。なお、D
−F I=’のクリア端子CLにはクロック整形回路器
の出力(9)が与えられているので、はぼ1クロック時
間経過後にクリアされてもとの状態(論理″′1”)に
もどる。即ちD−FF213は、指定した論理遷移がメ
モリ4から出力されると、その遷移が発生した時点から
ほぼ1クロック時間Q出力を反転し、論理遷移を検出す
る。
(alはメモリ出力、(b)はD−F’F”のクロック
端子CK(7)入力、(C)はQ出力、(d)はQ出力
、(elはD−Ff”のクリア端子CLに与えられるク
ロック整形回路器の出力、げ)は負論理NOR,216
の出力である。第7図から明らかなよう、に、Q出力は
メモリ出力の論理遷移に従って反転し、ゲート回路21
4を介して負論理N0I(216に与えられる。負論理
N0R216はNAND212の出力!他方の入力とし
て第7図の(e)に示すようにQ出力の論理反転を行な
い、AND回路nに条件検出出力を与える。なお、D
−F I=’のクリア端子CLにはクロック整形回路器
の出力(9)が与えられているので、はぼ1クロック時
間経過後にクリアされてもとの状態(論理″′1”)に
もどる。即ちD−FF213は、指定した論理遷移がメ
モリ4から出力されると、その遷移が発生した時点から
ほぼ1クロック時間Q出力を反転し、論理遷移を検出す
る。
以上は論理条件が6↓”の場合を説明したが、”↑”に
ついても、メモリ出力がExOR211で極性反転され
ることを除けば全(同一で、メモリ出力の”0°゛から
”1”への論理遷移に従ってD−FF213のQ出力が
反転する。
ついても、メモリ出力がExOR211で極性反転され
ることを除けば全(同一で、メモリ出力の”0°゛から
”1”への論理遷移に従ってD−FF213のQ出力が
反転する。
以上論理条件設定スイッチ20−1と条件検出出力21
−1についてのみ説明したが、その他の設定スイッチ(
20−2,・・・・・・2O−n)7び検出回路(21
−2゜・・・・・・21−n )についても同様であり
、従って各チャンネルに対応する夫々の設定スイッチ(
20−1,20−2゜・・・・・・加−n)の各々に組
合せ論理条件を与えれば、この論理条件の組合せに対応
する各チャンネル共通の位置が検出される。
−1についてのみ説明したが、その他の設定スイッチ(
20−2,・・・・・・2O−n)7び検出回路(21
−2゜・・・・・・21−n )についても同様であり
、従って各チャンネルに対応する夫々の設定スイッチ(
20−1,20−2゜・・・・・・加−n)の各々に組
合せ論理条件を与えれば、この論理条件の組合せに対応
する各チャンネル共通の位置が検出される。
例えば第8図に示されるように、CRT管面に被観測信
号が8チャンネル表示されているとする。
号が8チャンネル表示されているとする。
なお、第8番目のチャンネルが図示されていないが、第
4図の選択スイッチ13ヲ接点すに投入しているためで
ある。この表示例において、チャンネル(1)〜(8)
に論理条件anとしてan−”1−”0”、×”。
4図の選択スイッチ13ヲ接点すに投入しているためで
ある。この表示例において、チャンネル(1)〜(8)
に論理条件anとしてan−”1−”0”、×”。
”↑”、↓II 、” x”、′O”、×”を与えたと
すわば、この論理条件の組合せ?満足する各チャンネル
共通の位置が第8番目のチャンネル表示に代えて6組合
せ結果”として1ピット表示される。この場合、”組合
せ結果”の表示ピットに位置対応する各チャンネルのビ
ット列が、上記論理条件anを満足する被サーチビット
列である。なお、第8図の6データの区切り”は説明の
便宜上であって管面表示されるものではなく、表示デー
タのクロック毎の区分を表わしている。
すわば、この論理条件の組合せ?満足する各チャンネル
共通の位置が第8番目のチャンネル表示に代えて6組合
せ結果”として1ピット表示される。この場合、”組合
せ結果”の表示ピットに位置対応する各チャンネルのビ
ット列が、上記論理条件anを満足する被サーチビット
列である。なお、第8図の6データの区切り”は説明の
便宜上であって管面表示されるものではなく、表示デー
タのクロック毎の区分を表わしている。
第9−は本発明の別の実施例で、先の実施例と同一の機
能Yマイクロコンピュータシステムにより実現するもの
である。なお、第4図と同符号のものは同一物を示す。
能Yマイクロコンピュータシステムにより実現するもの
である。なお、第4図と同符号のものは同一物を示す。
図において、側は制御部で、マイクロプロセツサ301
、装置の動作に必要なプログラムの書込まれたROM3
02、メモリ4のデータ及びサーチ結果等が書込まれる
RAM303及びデコーダ等のマイクロコンピュータシ
ステムを構成するに必要なモノを含んでいるb31は論
理条件anヲ入力するキーボード、32はキーボード3
1をCPUバス40に結合するキーボードインターフェ
イス、33は各メモリ4とCPUバス40に結合するI
10ボート、34はCRT制御部、35は(、RTモニ
タ、あはクロック発生器6に書込み一読出し切換信号を
与えるI10ポートである。CPUバス40は、各セク
ションとデータの授受を行なうに必要なデータバス、ア
ドレスバス、リード制御線、ライト制御線、チップセレ
クト線等を含む。
、装置の動作に必要なプログラムの書込まれたROM3
02、メモリ4のデータ及びサーチ結果等が書込まれる
RAM303及びデコーダ等のマイクロコンピュータシ
ステムを構成するに必要なモノを含んでいるb31は論
理条件anヲ入力するキーボード、32はキーボード3
1をCPUバス40に結合するキーボードインターフェ
イス、33は各メモリ4とCPUバス40に結合するI
10ボート、34はCRT制御部、35は(、RTモニ
タ、あはクロック発生器6に書込み一読出し切換信号を
与えるI10ポートである。CPUバス40は、各セク
ションとデータの授受を行なうに必要なデータバス、ア
ドレスバス、リード制御線、ライト制御線、チップセレ
クト線等を含む。
上記構成で、入力端子lに複数の被観測信号を入力する
と、各入力信号はコンパレータ2を介して先の実施例と
同様に各メモリ4に記憶される。
と、各入力信号はコンパレータ2を介して先の実施例と
同様に各メモリ4に記憶される。
各チャンネルのメモリ4にデータが書込まれれば、I1
0ボート36から読出しモードへの切換信号が出され、
別のI10ポート33ヲ介して各メモリ4の内容がRA
M303に転送される。
0ボート36から読出しモードへの切換信号が出され、
別のI10ポート33ヲ介して各メモリ4の内容がRA
M303に転送される。
RAM303は、メモリ4のデータの外箱10図に示す
ように、サーチ結果を格納するメモリM、、組合せ論理
条件a。の実効バイト列An?格納するAレジスタ、比
較結果を格納するBレジスタ及びCレジスタ、その他の
ワークエリア、スタックエリアを有する。メモリM、は
、第11図に示すように、各クロック毎に位置対応する
各チャンネルのピットからなる被サーチピット列b1j
(l−1〜nでnはチャンネル数、j=1〜lでlはメ
モリ長)が組合せ論理条件a。の満足の有無をIII
11011で記憶する。
ように、サーチ結果を格納するメモリM、、組合せ論理
条件a。の実効バイト列An?格納するAレジスタ、比
較結果を格納するBレジスタ及びCレジスタ、その他の
ワークエリア、スタックエリアを有する。メモリM、は
、第11図に示すように、各クロック毎に位置対応する
各チャンネルのピットからなる被サーチピット列b1j
(l−1〜nでnはチャンネル数、j=1〜lでlはメ
モリ長)が組合せ論理条件a。の満足の有無をIII
11011で記憶する。
Aレジスタには、各チャンネルに指定された組合せ論理
条件anが各条件について予め定義されたバイト列An
として記憶される。
条件anが各条件について予め定義されたバイト列An
として記憶される。
一方、組合せ論理条件anがキーボード31ヲ介して各
チャンネルに対して入力されると、anY構成する各条
件は予め定められたバイト列Anにコード化されてAレ
ジスタに格納される。次に制御部30は、RAM303
内から被す−チピット列り1ヲ順次引き出し、これと組
合せ論理条件との比較を行なう。比較結果が不一致であ
ればメモリMlに0”を立て、一致した場合にはその被
サーチピット列の位置に1”を−立てる。このサーチ結
果は、CR,T制御部34ヲ介してCRTモニタあに各
チャンネルの内容と共に位置対応させて表示される。
チャンネルに対して入力されると、anY構成する各条
件は予め定められたバイト列Anにコード化されてAレ
ジスタに格納される。次に制御部30は、RAM303
内から被す−チピット列り1ヲ順次引き出し、これと組
合せ論理条件との比較を行なう。比較結果が不一致であ
ればメモリMlに0”を立て、一致した場合にはその被
サーチピット列の位置に1”を−立てる。このサーチ結
果は、CR,T制御部34ヲ介してCRTモニタあに各
チャンネルの内容と共に位置対応させて表示される。
被サーチピット列bljと組合せ論理条件anとの比較
は、次のように行なわれる。
は、次のように行なわれる。
第11図に示すような5チヤンネルを例にとり、チャン
ネル(1)〜(5)に夫々″1”0”6×”1↑”↓”
ケ論理条件として与え、組合せ論理条件anya’an
=10×↑↓とする。
ネル(1)〜(5)に夫々″1”0”6×”1↑”↓”
ケ論理条件として与え、組合せ論理条件anya’an
=10×↑↓とする。
先ず、上記anヲ満足する被サーチピット列bijをマ
クロ的に検索する。そのために、an内の↑↓を夫々1
.0に置換した組合せ条件dnヲつくる。
クロ的に検索する。そのために、an内の↑↓を夫々1
.0に置換した組合せ条件dnヲつくる。
dn−10×10
次に、DONT CAREを無視するために6×”のみ
を0にしたanx ’a’つくる。
を0にしたanx ’a’つくる。
an=11011
ここで、RAM303に移されたメモリ4の被サーチピ
ット列す、jY第11図のjにあるものとすると、b、
は次のようになる。
ット列す、jY第11図のjにあるものとすると、b、
は次のようになる。
b、j=10010
DONT CAFtEはそのチャンネルの状態?考慮し
なくともよいので、これを無視できるように<、dnと
す、j’a’ a、、”でマスクする。この結果’a”
’p + ”ijとすれば次のようになる。
なくともよいので、これを無視できるように<、dnと
す、j’a’ a、、”でマスクする。この結果’a”
’p + ”ijとすれば次のようになる。
d′n=doANDarlx−10010自=b、jA
NDarlx−1oo1゜次に、d′nとb′ijとを
比較する。
NDarlx−1oo1゜次に、d′nとb′ijとを
比較する。
dnEXORb′1j−00000
この結果、全ビットが0”であれば、被サーチピットb
ijは組合せ論理条件anケ満足することになる。条件
ar’t’満足する場合にはT3レジスタに1を、満足
しない場合にはO’&セーブする。これにより、Bレジ
スタに各被サーチピッl−bijが条件anヲ満足する
か否かが格納される。
ijは組合せ論理条件anケ満足することになる。条件
ar’t’満足する場合にはT3レジスタに1を、満足
しない場合にはO’&セーブする。これにより、Bレジ
スタに各被サーチピッl−bijが条件anヲ満足する
か否かが格納される。
しかし、これだけでは↑↓の遷移点をビット表示するこ
とはできないので、このための検索が行なわれる。先ず
、組合せ論理条件anのうちの↑↓のみン1にした条件
fn’tつくる。
とはできないので、このための検索が行なわれる。先ず
、組合せ論理条件anのうちの↑↓のみン1にした条件
fn’tつくる。
fn=00011
↑↓の遷移点を見出すために、bIjよりひとつ前の被
サーチピット列bi(j−1)をみる。
サーチピット列bi(j−1)をみる。
blj=10010
bB31) = 10001
ひとつ前の被サーチピット列との間に相違があれば、そ
のチャンネルは遷移していることになる。
のチャンネルは遷移していることになる。
1↑°゛6↓”の条件のところだけ遷移の検索をするた
め、fnです、とbi(’j−1)をマスクする。その
結果を夫々自+ b′I(j−1)とすれば次のように
なる。
め、fnです、とbi(’j−1)をマスクする。その
結果を夫々自+ b′I(j−1)とすれば次のように
なる。
b/、j=b、jAND fn=00010b’B5−
1) = bB41) AND fn= 00001次
に両者を比較する。この結果なgnとすれば次のように
なる。
1) = bB41) AND fn= 00001次
に両者を比較する。この結果なgnとすれば次のように
なる。
gn= b’1jExORbl(j−1) = 000
11これにより、ひとつ前の被サーチピット列との間で
遷移のある場合、そのチャンネルに対応するビットが”
°1”となり、従って上記例ではチャンネル(4)とチ
ャンネル(5)に条件指定された通りの遷移のあること
がわかる。次に、条件設定された遷移ビットの条件を全
て満足するかン検査jろ1こめに、fnとgnとのEx
ORをとる。その結果は条件を全て満足する場合全ビッ
ト”0”となる。全ピットが”0°゛で、このように遷
移があった場合にはCレジスタに1”を入れ、遷移がな
かった場合、即ちgnが全て60″であった場合には0
を入れる。
11これにより、ひとつ前の被サーチピット列との間で
遷移のある場合、そのチャンネルに対応するビットが”
°1”となり、従って上記例ではチャンネル(4)とチ
ャンネル(5)に条件指定された通りの遷移のあること
がわかる。次に、条件設定された遷移ビットの条件を全
て満足するかン検査jろ1こめに、fnとgnとのEx
ORをとる。その結果は条件を全て満足する場合全ビッ
ト”0”となる。全ピットが”0°゛で、このように遷
移があった場合にはCレジスタに1”を入れ、遷移がな
かった場合、即ちgnが全て60″であった場合には0
を入れる。
そして最終的に、レジスタBの内容とレジスタCの内容
とのANDをとり、AND出力がOであればメモリM、
の当該被サーチピット列b1jに対応する位置に1を入
れる。
とのANDをとり、AND出力がOであればメモリM、
の当該被サーチピット列b1jに対応する位置に1を入
れる。
以上のプロセスを全被サーチピット列す、に対して行な
い、その結果をメモIJ MI IL格納して、被サー
チピット列に時開的な対応をもたせて表示すれば、第1
1図の“組合せ結果”として示されるように、各チャン
ネルの内容に対応させて組合せ論理条件anを満足する
位置をビット表示することができる。
い、その結果をメモIJ MI IL格納して、被サー
チピット列に時開的な対応をもたせて表示すれば、第1
1図の“組合せ結果”として示されるように、各チャン
ネルの内容に対応させて組合せ論理条件anを満足する
位置をビット表示することができる。
以上説明した実施例においては組合せ結果をハイレベル
で表示したが、その他ローレベル、輝度変調、特殊なマ
ーク等、種々の表示が可能である。
で表示したが、その他ローレベル、輝度変調、特殊なマ
ーク等、種々の表示が可能である。
また、タイミング表示を例に説明したが、バイナリ或い
はヘキサデシマル等のステート表示も可能である。
はヘキサデシマル等のステート表示も可能である。
以上説明したように本発明によれば、従来の論理III
II、論理和”及びDONT CARE″×”に加えて
1”から00”への論理遷移及びこの逆の遷移な論理条
件として設定することのできる信号観測装置を提供する
ことができ、増々多様化するディジタル技術の開発及び
保守等に有効な手段を与えることができる。
II、論理和”及びDONT CARE″×”に加えて
1”から00”への論理遷移及びこの逆の遷移な論理条
件として設定することのできる信号観測装置を提供する
ことができ、増々多様化するディジタル技術の開発及び
保守等に有効な手段を与えることができる。
第1図は信号観測装置の従来例、第2図は第1図におけ
る設定スイッチ及びゲート回路の具体例、第3図A及び
第3図Bは被観測信号の表示例及びその組合せ結果の一
例を示す図、第4図は本発明による信号観測装置の一実
施例、第5図は第4図のメモリとクロック整形回路との
関係を示すタイムチャート、第6図は第4図の論理条件
設定スイッチ及び条件検出回路の具体例、第7図は第6
図のフリップフロップの動作タイムチャート、第8図は
第4図の装置による被観測信号の表示例、第9図は本発
明による信号観測装置の別の実施例、第10図は績9図
のRAMの説明図、第11図は第9図の装置により組合
せ結果を得るための説明図である。 1・・・・・・入力端子、 2・・・・^コンパレ
ータ、fパ・・・・・・メモリ、 14・・・・・・チャンネルセレクタ、19・・・・・
・C)’tT。 加・・・・・・論理条件設定スイッチ、2I・・・・・
・条件検出回路、n・・・・・・AND回路、%・・・
・・・クロック整形回路、 30・・・・・・制御部、 31・・・・・・キー
ボード特許出願人 岩崎通信機株式会社 特許出願代理人 弁理士 山 本 恵 − ¥−20 /f 尾3図A チイ・ノ木し 手続補正書(自発) 昭和57年9月27日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1、事件の表示 昭和56年特 許 願 第164937号2、発明の名
称 信号観測装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 岩崎通信機株式会社 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 明細書第加頁第8行のl’−AND出力が0で」を1”
AND出力が1で」と補正する。
る設定スイッチ及びゲート回路の具体例、第3図A及び
第3図Bは被観測信号の表示例及びその組合せ結果の一
例を示す図、第4図は本発明による信号観測装置の一実
施例、第5図は第4図のメモリとクロック整形回路との
関係を示すタイムチャート、第6図は第4図の論理条件
設定スイッチ及び条件検出回路の具体例、第7図は第6
図のフリップフロップの動作タイムチャート、第8図は
第4図の装置による被観測信号の表示例、第9図は本発
明による信号観測装置の別の実施例、第10図は績9図
のRAMの説明図、第11図は第9図の装置により組合
せ結果を得るための説明図である。 1・・・・・・入力端子、 2・・・・^コンパレ
ータ、fパ・・・・・・メモリ、 14・・・・・・チャンネルセレクタ、19・・・・・
・C)’tT。 加・・・・・・論理条件設定スイッチ、2I・・・・・
・条件検出回路、n・・・・・・AND回路、%・・・
・・・クロック整形回路、 30・・・・・・制御部、 31・・・・・・キー
ボード特許出願人 岩崎通信機株式会社 特許出願代理人 弁理士 山 本 恵 − ¥−20 /f 尾3図A チイ・ノ木し 手続補正書(自発) 昭和57年9月27日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1、事件の表示 昭和56年特 許 願 第164937号2、発明の名
称 信号観測装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 岩崎通信機株式会社 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 明細書第加頁第8行のl’−AND出力が0で」を1”
AND出力が1で」と補正する。
Claims (1)
- 各チャンネル毎にもうけられるコンパレータ及びメモリ
を有し、各チャンネル毎に与えられる複数の被観測信号
を各コンパレータを介して2値の論理信号に変換し、書
込みクロックでサンプリングした後対応する各メモリに
同時に配憶し、所定周期の読出しクロックに従って各メ
モリの内容を並列に書込みクロックのサンプリングに対
応して読出し、もって前記各チャンネルの内容を同一管
面に視覚表示する信号観測装置において、論理″′1°
゛、論理゛0”、論理状態に感知しないr)ONTCA
Rw″X”、′0”から1”への論理遷移および′1
゛から”0”への論理遷移の夫々を論理条件として、こ
れらの論理条件のいずれかを前記各チャンネルに指定す
る論理条件設定手段と、前記各メモリの同一のサンプリ
ングクロックのメモリ位置におけるビラトラ被サーチピ
ット列として、指定した前記論理条件と比較し被サーチ
ピット列が論理条件を満足する場合に一致出方を与える
比較検出手段とを有し、該比較検出手段の出方に従って
被観測信号における前記指定した論理条件を満足する位
置を各チャンネルの内容と対応させて視覚表示すること
を特徴とする信号観測装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56164937A JPS5866865A (ja) | 1981-10-17 | 1981-10-17 | 信号観測装置 |
| US06/430,678 US4525667A (en) | 1981-10-17 | 1982-09-30 | System for observing a plurality of digital signals |
| DE19823237221 DE3237221A1 (de) | 1981-10-17 | 1982-10-07 | Logikanalysator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56164937A JPS5866865A (ja) | 1981-10-17 | 1981-10-17 | 信号観測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5866865A true JPS5866865A (ja) | 1983-04-21 |
| JPS6128946B2 JPS6128946B2 (ja) | 1986-07-03 |
Family
ID=15802669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56164937A Granted JPS5866865A (ja) | 1981-10-17 | 1981-10-17 | 信号観測装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4525667A (ja) |
| JP (1) | JPS5866865A (ja) |
| DE (1) | DE3237221A1 (ja) |
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| JPS60252280A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-12 | Advantest Corp | ロジツクアナライザ |
| JPS63159768A (ja) * | 1986-12-24 | 1988-07-02 | Fuji Electric Co Ltd | 論理信号解析装置のタイミング測定装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS6185226A (ja) * | 1984-10-02 | 1986-04-30 | Diesel Kiki Co Ltd | 車輛用自動変速装置 |
| JPS6194136A (ja) * | 1984-10-15 | 1986-05-13 | Anritsu Corp | デイジタル信号処理装置 |
| US4673931A (en) * | 1985-03-18 | 1987-06-16 | Tektronix, Inc. | Waveform data display |
| EP0245915A3 (en) * | 1986-05-02 | 1989-11-29 | Tektronix, Inc. | Logic signal state and timing display |
| US4777616A (en) * | 1986-05-12 | 1988-10-11 | Outlook Technology, Inc. | Increased resolution logic analyzer using asynchronous sampling |
| DE3932081C2 (de) * | 1988-09-27 | 1999-05-20 | Roman Koller | Mehrkanal-Oszilloskop |
| US5210712A (en) * | 1990-09-29 | 1993-05-11 | Anritsu Corporation | Waveform shaping circuit and digital signal analyzing apparatus using the same |
| CN100477750C (zh) * | 2004-05-28 | 2009-04-08 | 松下电器产业株式会社 | 信号接收电路和信号输入检测电路 |
| TWI875398B (zh) * | 2023-12-22 | 2025-03-01 | 新唐科技股份有限公司 | 切換電路以及時脈供給電路 |
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Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| SU623207A1 (ru) * | 1975-03-06 | 1978-09-05 | Институт Кибернетики Ан Украинской Сср | Многоканальное устройство дл анализа распределений нестационарных случайных процессов |
| US4390837A (en) * | 1980-08-25 | 1983-06-28 | Kevin Hotvedt | Test unit for a logic circuit analyzer |
| JP5534903B2 (ja) | 2010-03-30 | 2014-07-02 | 大阪瓦斯株式会社 | コーヒー粕の処理方法 |
-
1981
- 1981-10-17 JP JP56164937A patent/JPS5866865A/ja active Granted
-
1982
- 1982-09-30 US US06/430,678 patent/US4525667A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-10-07 DE DE19823237221 patent/DE3237221A1/de active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS60252280A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-12 | Advantest Corp | ロジツクアナライザ |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3237221C2 (ja) | 1990-02-22 |
| DE3237221A1 (de) | 1983-05-05 |
| US4525667A (en) | 1985-06-25 |
| JPS6128946B2 (ja) | 1986-07-03 |
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