JPS5866870A - 抵抗測定回路 - Google Patents
抵抗測定回路Info
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- JPS5866870A JPS5866870A JP16608481A JP16608481A JPS5866870A JP S5866870 A JPS5866870 A JP S5866870A JP 16608481 A JP16608481 A JP 16608481A JP 16608481 A JP16608481 A JP 16608481A JP S5866870 A JPS5866870 A JP S5866870A
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- Japan
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- resistance
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- electrode
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
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- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
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- 235000015096 spirit Nutrition 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、四端子法による接点接触抵抗回路に関するも
ので、その目的とするところは、測定誤差を減少するこ
とにある。
ので、その目的とするところは、測定誤差を減少するこ
とにある。
四端子法による接触抵抗側室は、接点を介して導通した
８個の端子に定電流を流す電流電極を当接すると共ＫＭ
端子に電圧電極を当接して両端子間の電圧降下を測定し
て接点の接触抵抗を＃ｌＩｌ走するのであるが、電流電
極の端子への当接が適当で尚接部弁の抵抗が高いと定電
流回路が正常に動作せず誤測定の原因になり、ｔた電圧
電極の当接部分Ｏ抵抗が高いと電圧電極が電気的に浮い
た状態とな秒これｔ九諷測定の原因になるものであ・り
九。
８個の端子に定電流を流す電流電極を当接すると共ＫＭ
端子に電圧電極を当接して両端子間の電圧降下を測定し
て接点の接触抵抗を＃ｌＩｌ走するのであるが、電流電
極の端子への当接が適当で尚接部弁の抵抗が高いと定電
流回路が正常に動作せず誤測定の原因になり、ｔた電圧
電極の当接部分Ｏ抵抗が高いと電圧電極が電気的に浮い
た状態とな秒これｔ九諷測定の原因になるものであ・り
九。
したがって四端子法では電極のＭＩｉ接抵抗抵抗能なか
ぎり低くすることが誤測定を防止する亀とｋなるのであ
るから、本願はこれらの当接抵抗が許審値以下であるこ
とを加味した精度の高い接点の抵抗側＊ｌＤ路を提供す
るものであって、以下本発明の実施例を第１図乃至第６
図を参照して説明する。
ぎり低くすることが誤測定を防止する亀とｋなるのであ
るから、本願はこれらの当接抵抗が許審値以下であるこ
とを加味した精度の高い接点の抵抗側＊ｌＤ路を提供す
るものであって、以下本発明の実施例を第１図乃至第６
図を参照して説明する。
すＶ＋、・イイクロスイッチ等の測定対象である有接点
の電気的スイッｆｌＯ端子２ 、ｌｋ電流電１ｉ［４，
５と電圧電ｗ６．マを夫々当接しである。
の電気的スイッｆｌＯ端子２ 、ｌｋ電流電１ｉ［４，
５と電圧電ｗ６．マを夫々当接しである。
これら電極４，６，１１．丁は、第２図に示すように、
制御回路ｕ２よ炒操作される切換スイッチ認＃口、・・
・Ｋ接続しである。電流電ＦＭ４，５社切換スイッチ四
を介して定電流回路８と導通判定回路１．自に選択的に
接続しである。ま九電圧電掘６、丁は切換スイッチνを
介して接点接触抵抗翼を測定する抵抗測定回路に選択的
に接続しである。
制御回路ｕ２よ炒操作される切換スイッチ認＃口、・・
・Ｋ接続しである。電流電ＦＭ４，５社切換スイッチ四
を介して定電流回路８と導通判定回路１．自に選択的に
接続しである。ま九電圧電掘６、丁は切換スイッチνを
介して接点接触抵抗翼を測定する抵抗測定回路に選択的
に接続しである。
そして導過判＊園賂ｕ＋ 、 ｔｓｏ導通導通留室信号
抗測定回路の測定抵抗信号および制御囲路Ｏ状態の信号
とを良否判定回路に接続してあり、導通判定信号と測定
抵抗信号とをアンドゲートに入力して良否の肴定を出力
するようｋしである。ここで抵抗測定回路９は、接点接
触抵抗Ｒ□＊測値と、ｔめ設定した判定基準となる抵抗
値であるとζろＯ設定値とを比較して、デジＪＡ／信号
化して良否判定回路にに入力するようにしてもよい。尚
導通判定回路驕として第８図に示すコンバレーＪ１４Ｏ
ンイナス端子に基準電圧を与え、デフス端子を抵抗（図
中ＭＩＫＯ）を介して検出端ｔｔｂを切換スイッチ瞠Ｖ
ｃ接続してあろうここで基準電圧を早える抵抗Ｔは数オ
ームとしているが、電気的スイッチの端子の表面処理状
態、接点接触抵抗値、測定精度噂により変動するもので
ある。
抗測定回路の測定抵抗信号および制御囲路Ｏ状態の信号
とを良否判定回路に接続してあり、導通判定信号と測定
抵抗信号とをアンドゲートに入力して良否の肴定を出力
するようｋしである。ここで抵抗測定回路９は、接点接
触抵抗Ｒ□＊測値と、ｔめ設定した判定基準となる抵抗
値であるとζろＯ設定値とを比較して、デジＪＡ／信号
化して良否判定回路にに入力するようにしてもよい。尚
導通判定回路驕として第８図に示すコンバレーＪ１４Ｏ
ンイナス端子に基準電圧を与え、デフス端子を抵抗（図
中ＭＩＫＯ）を介して検出端ｔｔｂを切換スイッチ瞠Ｖ
ｃ接続してあろうここで基準電圧を早える抵抗Ｔは数オ
ームとしているが、電気的スイッチの端子の表面処理状
態、接点接触抵抗値、測定精度噂により変動するもので
ある。
次に測定にりいて述べると、切損スイッチ臆が定電流回
路側と抵抗測′ｉ１回路側に接触してお秒、第４図に示
すように、定電流が電流電極４．６間に流れ、電圧電＠
６．フでその電圧降下を検出して抵抗測定回路９で設定
値に対し高抵抗或は低抵抗であるかのデＮＪル化信号を
発生させる。
路側と抵抗測′ｉ１回路側に接触してお秒、第４図に示
すように、定電流が電流電極４．６間に流れ、電圧電＠
６．フでその電圧降下を検出して抵抗測定回路９で設定
値に対し高抵抗或は低抵抗であるかのデＮＪル化信号を
発生させる。
次に切換スイッチ臆を導通判定回路側とアース側に切換
えると、第６図に示すように、電極の当接抵抗ｎ 、
ｒｉがアースと第８図の導通判定回路１との間に挿入さ
れるので、もし当接抵抗ｒｉ。
えると、第６図に示すように、電極の当接抵抗ｎ 、
ｒｉがアースと第８図の導通判定回路１との間に挿入さ
れるので、もし当接抵抗ｒｉ。
ｒｋが抵抗ｒよ抄も大きくなって測定誤差を生ずるよう
になったときには、コンバレーｊ１１４０デフス端子が
高電位となってコンパＶ −ＪがＨに反転し゛Ｃ１出力
端一から誤差発生の異常信号が良否判定回路鱒に入力さ
れ、先の抵抗実測値は誤差の大龜い測定値とみなすよう
判定される。もし当接抵抗ｒｉ、 ｒｋが抵抗ｒより小
さければ、良否判定回路から外部へ正常な接点接触測定
作業が行なわれ九ことが出力され、或社接点抵抗値が外
部グリンＩ中他の測定回路、検査回路と共にＣＰＵに転
送される。もし正常な測定でありて４ｈＪＩＩ抗寮測値
が不合格なら、配録され、或社外部へ電気的スイッチの
舎否遍別回路へ不合格指示が出力される。
になったときには、コンバレーｊ１１４０デフス端子が
高電位となってコンパＶ −ＪがＨに反転し゛Ｃ１出力
端一から誤差発生の異常信号が良否判定回路鱒に入力さ
れ、先の抵抗実測値は誤差の大龜い測定値とみなすよう
判定される。もし当接抵抗ｒｉ、 ｒｋが抵抗ｒより小
さければ、良否判定回路から外部へ正常な接点接触測定
作業が行なわれ九ことが出力され、或社接点抵抗値が外
部グリンＩ中他の測定回路、検査回路と共にＣＰＵに転
送される。もし正常な測定でありて４ｈＪＩＩ抗寮測値
が不合格なら、配録され、或社外部へ電気的スイッチの
舎否遍別回路へ不合格指示が出力される。
もちろん測定時の当接抵抗が高ければ、電１１Ｍ４．５
，６．丁０１！闇の汚れ除夫中電極へのリード線の断線
チェック等の保守が行なわれ、常に正常表測定が無人で
行なわれるようになされるのである。
，６．丁０１！闇の汚れ除夫中電極へのリード線の断線
チェック等の保守が行なわれ、常に正常表測定が無人で
行なわれるようになされるのである。
尚、木実施例外に、切換スイッチと制御回路Ｕを、電磁
ｑｖ−におきかえても或は半導体化してもよい。ま九接
点抵抗の設定値と実測値との比較及びデｔ）ｐル的判定
処瑠を抵抗測定回路かまたは良否判定回路のいずれに含
めてもよい、ｔた制御回路の状態を良否判定回路に入力
して、判定の信頼性を向上すると共により自動的測定を
行なえるようにしてもよい。
ｑｖ−におきかえても或は半導体化してもよい。ま九接
点抵抗の設定値と実測値との比較及びデｔ）ｐル的判定
処瑠を抵抗測定回路かまたは良否判定回路のいずれに含
めてもよい、ｔた制御回路の状態を良否判定回路に入力
して、判定の信頼性を向上すると共により自動的測定を
行なえるようにしてもよい。
以上説明したように本発明によれば、接点を介して導通
し九霊＠Ｏ端子２．８間Ｋ、一対の電流電１ｉｉ４，６
と電圧電極６．７とを各別に当接し・Ｃなる四端子によ
る抵抗測定回路において、電流電ｗ４．６に定電流回路
８を接続して端子！、８間の電圧降下を電圧電極６，７
で検出して接点接触抵抗Ｒを測定する抵抗測定回路９と
、ｌ＠Ｏ端子に当接する電流電極と電圧電極間に接続す
る電極の導通判定回路Ｉと、ＩＩＩ紀抵抗測定回路９０
信号と導通判定８回路ｌの信号とをアンド判定する良否
判定回路１０と、前記端子に当接する電極を抵抗測定回
路ｅと導通判定回路ｔｘ 、 ｔ３とに切換接続する制
御回路１１とからなる構成としており、誤差の原因とな
る電極の当接抵抗をも測定することにより測定精度を高
められ、かつ抵抗測定と当接状態の測定とを制御回路口
によ秒切換測定するようにしたから端子との当接状態を
かえないで計測でき。
し九霊＠Ｏ端子２．８間Ｋ、一対の電流電１ｉｉ４，６
と電圧電極６．７とを各別に当接し・Ｃなる四端子によ
る抵抗測定回路において、電流電ｗ４．６に定電流回路
８を接続して端子！、８間の電圧降下を電圧電極６，７
で検出して接点接触抵抗Ｒを測定する抵抗測定回路９と
、ｌ＠Ｏ端子に当接する電流電極と電圧電極間に接続す
る電極の導通判定回路Ｉと、ＩＩＩ紀抵抗測定回路９０
信号と導通判定８回路ｌの信号とをアンド判定する良否
判定回路１０と、前記端子に当接する電極を抵抗測定回
路ｅと導通判定回路ｔｘ 、 ｔ３とに切換接続する制
御回路１１とからなる構成としており、誤差の原因とな
る電極の当接抵抗をも測定することにより測定精度を高
められ、かつ抵抗測定と当接状態の測定とを制御回路口
によ秒切換測定するようにしたから端子との当接状態を
かえないで計測でき。
誤差の入る余地はないうえ能率的に行える。
そし°Ｃ１ｌ気的スイッチの接点接触抵抗測定が高精度
でしかも連続して行なえるようになりたから。
でしかも連続して行なえるようになりたから。
リレーやマイクロスイッチ等の組立工程に直接結合し゛
ｃｍ定作業が無人で行えることともな、りて、飛躍的能
率向上を得られるのである。
ｃｍ定作業が無人で行えることともな、りて、飛躍的能
率向上を得られるのである。
第１図乃至第６図は本発明の実施例を示し、第１図は正
面図、第２図、第１１は回路図、第４゜６図は測定時の
等価回路図である。 ２、ｓ：端子、４，６：電流電ｗ１６．〒：電圧電極、
８：定電流回路、９：抵抗測定囲路％１０：良否判定図
路、Ｕ：制御回路、Ｌ３：導通判定回路、ｆＬ：接点接
触抵抗。 特許出願人 根下電工株式会社 代珊人弁場士 竹 元 緻 丸 （ほか２名） 手続？甫正書（自発補り 昭和５７年 ８月２１日 特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５６年 特許層 第 １６６０８４号２、発明
の名称 抵抗測定回路 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 大阪府門真市大字門真１０４８番地
名 称（５８３）松下電工株式会社 代表者 小 林 郁４、代理人 住 所 大阪府門真市大字門真１０４８番地
５、補正の対象 （１）明細書第２頁第３行記載の「るので・・・適当で
」を次の通り補正する。 ［るのであるが、電流電極の端子への当接が適当でなく
」 （２）
面図、第２図、第１１は回路図、第４゜６図は測定時の
等価回路図である。 ２、ｓ：端子、４，６：電流電ｗ１６．〒：電圧電極、
８：定電流回路、９：抵抗測定囲路％１０：良否判定図
路、Ｕ：制御回路、Ｌ３：導通判定回路、ｆＬ：接点接
触抵抗。 特許出願人 根下電工株式会社 代珊人弁場士 竹 元 緻 丸 （ほか２名） 手続？甫正書（自発補り 昭和５７年 ８月２１日 特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５６年 特許層 第 １６６０８４号２、発明
の名称 抵抗測定回路 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 大阪府門真市大字門真１０４８番地
名 称（５８３）松下電工株式会社 代表者 小 林 郁４、代理人 住 所 大阪府門真市大字門真１０４８番地
５、補正の対象 （１）明細書第２頁第３行記載の「るので・・・適当で
」を次の通り補正する。 ［るのであるが、電流電極の端子への当接が適当でなく
」 （２）
Claims (1)
- （１） 接点を介し゛Ｃ導通した２１Ｍｌ０端子関Ｋ
、一対の電流電極と電圧電極とを各別に当接してなる四
端子による抵抗測定回路において、電流電極に定電流回
路を接続して端子間の電圧降下を電圧電極で検出して接
点接触抵抗を測定する抵抗測定回路と、ｌ＠Ｏ端子に当
接する電流電極と電圧電極間に接続する電極の導過判室
圓賂の信号とをアンド判定する良否判定回路と、前記端
子に当接する電極を抵抗１１＊回路と導過判定園路とに
切換接続する制御回路とからなる抵抗測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16608481A JPS5866870A (ja) | 1981-10-16 | 1981-10-16 | 抵抗測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16608481A JPS5866870A (ja) | 1981-10-16 | 1981-10-16 | 抵抗測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5866870A true JPS5866870A (ja) | 1983-04-21 |
| JPH0330829B2 JPH0330829B2 (ja) | 1991-05-01 |
Family
ID=15824682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16608481A Granted JPS5866870A (ja) | 1981-10-16 | 1981-10-16 | 抵抗測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5866870A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991019202A1 (en) * | 1990-05-29 | 1991-12-12 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method and system for concurrent electronic component testing and lead verification |
| CN104977469A (zh) * | 2014-04-04 | 2015-10-14 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 用于集成电路设计的测量电路和方法 |
-
1981
- 1981-10-16 JP JP16608481A patent/JPS5866870A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991019202A1 (en) * | 1990-05-29 | 1991-12-12 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method and system for concurrent electronic component testing and lead verification |
| CN104977469A (zh) * | 2014-04-04 | 2015-10-14 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 用于集成电路设计的测量电路和方法 |
| CN104977469B (zh) * | 2014-04-04 | 2018-03-23 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 用于集成电路设计的测量电路和方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0330829B2 (ja) | 1991-05-01 |
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