JPS5870147A - 発光分光分析装置 - Google Patents
発光分光分析装置Info
- Publication number
- JPS5870147A JPS5870147A JP56169854A JP16985481A JPS5870147A JP S5870147 A JPS5870147 A JP S5870147A JP 56169854 A JP56169854 A JP 56169854A JP 16985481 A JP16985481 A JP 16985481A JP S5870147 A JPS5870147 A JP S5870147A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- made incidence
- value
- spectrum
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- Prior art date
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- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、発光スペクトルのように、測定しようとする
元素を含む試料のアーク放電またはスパーク放電などに
よって発生する輝線スペクトルを、プリズムまたは回折
格子などの分光器によって各々の波長のスペクトル線に
分離し、写真乾板また − は光電子増倍管などに投射し、そのスペクトルによって
分析を行う発光分光分析装置に関する。
元素を含む試料のアーク放電またはスパーク放電などに
よって発生する輝線スペクトルを、プリズムまたは回折
格子などの分光器によって各々の波長のスペクトル線に
分離し、写真乾板また − は光電子増倍管などに投射し、そのスペクトルによって
分析を行う発光分光分析装置に関する。
この種の装置においては、アーク放電またはスパーク放
電などによって得られる光源と９分光器。
電などによって得られる光源と９分光器。
写真乾板などの検出器を適正に配置することにより、乾
板上に波長順に多くの輝線スペクトルが得られる。この
露光された写真乾板を現像すれば、乾板上には波長順の
スペクトル線群が得られる。
板上に波長順に多くの輝線スペクトルが得られる。この
露光された写真乾板を現像すれば、乾板上には波長順の
スペクトル線群が得られる。
測定しようとする元素は、特有の波長の輝線をもち、こ
のスペクトル線の波長により元素の同定を行うことがで
き、スペクトル線の強度、即ち乾板の黒化度により元素
の含有量を知ることができる。
のスペクトル線の波長により元素の同定を行うことがで
き、スペクトル線の強度、即ち乾板の黒化度により元素
の含有量を知ることができる。
従来、この発光分光分析における分析試料の写真乾板上
への撮影は、すべて手動で行われており、各種分析試料
の組成の違い、放電の難易度、補助電極中の分析すべき
粉末試料成分の放電カラムへの不連続な導入、または放
電中の正極および負極の放電点の移動などの現象による
露光量の変動などについては、発光スタンドの移動９分
析者の経験による放電時間の長短の調節などにより、分
析３７− 装置の入口スリットに入射する光量を一定化する方法で
対応していた。
への撮影は、すべて手動で行われており、各種分析試料
の組成の違い、放電の難易度、補助電極中の分析すべき
粉末試料成分の放電カラムへの不連続な導入、または放
電中の正極および負極の放電点の移動などの現象による
露光量の変動などについては、発光スタンドの移動９分
析者の経験による放電時間の長短の調節などにより、分
析３７− 装置の入口スリットに入射する光量を一定化する方法で
対応していた。
しかし、このような方法では、同時または異なった時刻
において、主成分を同じくする分析試料の相互間に不純
物として含有される元素の存在量の比較を行う場合、分
析感度９分析精度などの分析条件を同一にして比較を行
うために、各々の試料の主成分である元素のスペクトル
線の黒化度を同一化することが必要であるにもがかわら
ず、すべて手動で分析者の経験、技術などに依存するた
め、実際には乾板上の分析試料の主成分のスペクトル線
の黒化度を同一にすることは非常に困難であったＯ 本発明は、発光分光分析装置を用いて分析試料のスペク
トル線を撮影するにあ、たって、発光スタンド中で発生
し、分光器の入口スリット中へ入射した光のうちで、分
光され写真乾板上に入射するスペクトルのうち必要な輝
線スペクトルを示す光のｔ’ｔモニタし、光量モニタ系
においである一定の光量が得られたとき発光スタンド中
の放電を停止させようとするものである。特に試料構成
元素以外の元素にもとづくスペクトルを除くためのフィ
ルタを、モニタの光学系に入れることを特徴としている
。
において、主成分を同じくする分析試料の相互間に不純
物として含有される元素の存在量の比較を行う場合、分
析感度９分析精度などの分析条件を同一にして比較を行
うために、各々の試料の主成分である元素のスペクトル
線の黒化度を同一化することが必要であるにもがかわら
ず、すべて手動で分析者の経験、技術などに依存するた
め、実際には乾板上の分析試料の主成分のスペクトル線
の黒化度を同一にすることは非常に困難であったＯ 本発明は、発光分光分析装置を用いて分析試料のスペク
トル線を撮影するにあ、たって、発光スタンド中で発生
し、分光器の入口スリット中へ入射した光のうちで、分
光され写真乾板上に入射するスペクトルのうち必要な輝
線スペクトルを示す光のｔ’ｔモニタし、光量モニタ系
においである一定の光量が得られたとき発光スタンド中
の放電を停止させようとするものである。特に試料構成
元素以外の元素にもとづくスペクトルを除くためのフィ
ルタを、モニタの光学系に入れることを特徴としている
。
通常の場合、ガラスや岩石などの固体粉末試料をアーク
励起で発光させる場合、炭素補助電極を用いることが一
般的であるが、この補助電極の炭素と空気中の窒素がア
ークアラム中で反応し強力なＣＮバンドスペクトルを発
する。そして、このＣＮバンドスペクトルをもモニタ系
で測定してしまうと、試料からの発光を有効にモニタす
ることができず、測定結果の信頼性を著しく損なうこと
にみる。本発明によれば、このような不都合を生じるこ
とがない。
励起で発光させる場合、炭素補助電極を用いることが一
般的であるが、この補助電極の炭素と空気中の窒素がア
ークアラム中で反応し強力なＣＮバンドスペクトルを発
する。そして、このＣＮバンドスペクトルをもモニタ系
で測定してしまうと、試料からの発光を有効にモニタす
ることができず、測定結果の信頼性を著しく損なうこと
にみる。本発明によれば、このような不都合を生じるこ
とがない。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
図において、光源１から分光器２中へ、入口スリット３
を通って入射した光はノ・−７ミラー４により２分割さ
れ、一部はコリメタ−ミラー、回折格子、カメラミラー
、写真乾板などよりな′る分光系５に入射する。他方、
ハーフミラ−４からスリット６を通り、補助電極に使用
する炭素棒にもとづ（ＣＮバンドスペクトルをカントす
るフィルタ７を通った光は、光電子増倍管８に入射する
。ここで光端から電気量への変換が行われ、後に続くア
ンプ９により増幅され、積分器１０で積分される。積分
器１０での積分値は、パネルメータ１１に表示されると
ともに、所望の光端を所期値として設定したアナログコ
ンパレータ１２へ送られ所１υｊ値と比較される。所期
値と同等の値が得られたら、コントロールユニット１３
へ信号が送られ、リレー１４が働いて、発光源の電源１
６が停止する０ このように、本発明では、光量モニタ系を用いることに
より、分光系へ入射する光端を一定にすることができる
。特に、金属試料ではなく、岩石やガラスなどの不純物
や偏析が多く、分別蒸発の著しい固体粉末試料の分析を
行うにあたり、この光量モニタ系を用いれば、試料の特
定の元素のスペクトルだけではない全発光スペクトルの
時間変動を均一化して全光量を揃えることができる。
を通って入射した光はノ・−７ミラー４により２分割さ
れ、一部はコリメタ−ミラー、回折格子、カメラミラー
、写真乾板などよりな′る分光系５に入射する。他方、
ハーフミラ−４からスリット６を通り、補助電極に使用
する炭素棒にもとづ（ＣＮバンドスペクトルをカントす
るフィルタ７を通った光は、光電子増倍管８に入射する
。ここで光端から電気量への変換が行われ、後に続くア
ンプ９により増幅され、積分器１０で積分される。積分
器１０での積分値は、パネルメータ１１に表示されると
ともに、所望の光端を所期値として設定したアナログコ
ンパレータ１２へ送られ所１υｊ値と比較される。所期
値と同等の値が得られたら、コントロールユニット１３
へ信号が送られ、リレー１４が働いて、発光源の電源１
６が停止する０ このように、本発明では、光量モニタ系を用いることに
より、分光系へ入射する光端を一定にすることができる
。特に、金属試料ではなく、岩石やガラスなどの不純物
や偏析が多く、分別蒸発の著しい固体粉末試料の分析を
行うにあたり、この光量モニタ系を用いれば、試料の特
定の元素のスペクトルだけではない全発光スペクトルの
時間変動を均一化して全光量を揃えることができる。
また、ＣＮバンドスペクトルのカットフィルタを光量モ
ニタ系に設置し゛であるので、分析試料のスペクトルで
はない炭素補助電極のスペクトルを一モニタするという
不都合が起こらない。
ニタ系に設置し゛であるので、分析試料のスペクトルで
はない炭素補助電極のスペクトルを一モニタするという
不都合が起こらない。
以上のように、本発明によれば、従来問題とされていた
各種の分析試料の組成の違い、放電の難易妾、粉末試料
成分の放電カラムへの不連続な導入、または放電中の正
極および負極の放電点の移動などによる露光量の変動を
解決することができる。よって、分析精度などの分析条
件を飛躍的に向上させ、また常に一定の水準に保持する
ことができる。これにより、発光分光分析法の信頼性は
大幅に向上する。また分析者の技術の高低にも依存する
ことはなくなり、・誰が分析を行っても同様の結果を得
ることができるので、効率的な発光分析装置の使用が可
能になる。また分析業務の能率が向上し、その結果の信
頼性も、飛躍的に同上するＯ
各種の分析試料の組成の違い、放電の難易妾、粉末試料
成分の放電カラムへの不連続な導入、または放電中の正
極および負極の放電点の移動などによる露光量の変動を
解決することができる。よって、分析精度などの分析条
件を飛躍的に向上させ、また常に一定の水準に保持する
ことができる。これにより、発光分光分析法の信頼性は
大幅に向上する。また分析者の技術の高低にも依存する
ことはなくなり、・誰が分析を行っても同様の結果を得
ることができるので、効率的な発光分析装置の使用が可
能になる。また分析業務の能率が向上し、その結果の信
頼性も、飛躍的に同上するＯ
７ ・°−゛
図面は本発明による発光分光分析装置のブロック図であ
る。 １・・・・・・光源、２・・・・・・分光器、３・・・
・・・入口スリット、４・・・・・・ハーフミラ−１６
・−・・・・分光系、６・・・・・・スリット、７・・
・・・・ＣＮバンドカットフィルタ、８・・・・・・光
電子増倍管、９・・・・・・アンプ、１０・・−・・・
積分器、１１・・・・・・パネルメータ、１２・・・・
・・アナログコンパレータ、１３・・・・コントロール
ユニット、１４・・・・・・すＬ／−１１５・・・・・
・発光電源。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名２７
る。 １・・・・・・光源、２・・・・・・分光器、３・・・
・・・入口スリット、４・・・・・・ハーフミラ−１６
・−・・・・分光系、６・・・・・・スリット、７・・
・・・・ＣＮバンドカットフィルタ、８・・・・・・光
電子増倍管、９・・・・・・アンプ、１０・・−・・・
積分器、１１・・・・・・パネルメータ、１２・・・・
・・アナログコンパレータ、１３・・・・コントロール
ユニット、１４・・・・・・すＬ／−１１５・・・・・
・発光電源。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名２７
Claims (1)
- 発光源と、発光源よシの発光スペクトルを各々の波長ス
ペクトル線に分離する分光器と、前記発光源と前記分光
器の間に配置され、前記発光源よりの光量を２分するハ
ーフミラ−と、前記ハーフミラ−により２分された一方
の光が含む不要スペクトルを除去するフィルタと、前記
フィルタよりの光量が一定値に達したことを検知し信号
を発生する光量検知手段と、前記光量検知手段よりの信
号により前記発光源よりの発光を停止させる発光停止手
段を有する発光分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56169854A JPS5870147A (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56169854A JPS5870147A (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 発光分光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5870147A true JPS5870147A (ja) | 1983-04-26 |
Family
ID=15894164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56169854A Pending JPS5870147A (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 発光分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5870147A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102608104A (zh) * | 2011-09-06 | 2012-07-25 | 北京瑞利分析仪器有限公司 | 交、直流电弧与凹面光栅分光系统结合的直读光谱仪 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5311084A (en) * | 1976-07-16 | 1978-02-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Light emitting spectrochemical analysis apparatus |
| JPS54121197A (en) * | 1978-03-13 | 1979-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Emission spectrochemical analytical apparatus |
-
1981
- 1981-10-22 JP JP56169854A patent/JPS5870147A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5311084A (en) * | 1976-07-16 | 1978-02-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Light emitting spectrochemical analysis apparatus |
| JPS54121197A (en) * | 1978-03-13 | 1979-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Emission spectrochemical analytical apparatus |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102608104A (zh) * | 2011-09-06 | 2012-07-25 | 北京瑞利分析仪器有限公司 | 交、直流电弧与凹面光栅分光系统结合的直读光谱仪 |
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