JPS5871442A - 検びん装置 - Google Patents
検びん装置Info
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- JPS5871442A JPS5871442A JP16968781A JP16968781A JPS5871442A JP S5871442 A JPS5871442 A JP S5871442A JP 16968781 A JP16968781 A JP 16968781A JP 16968781 A JP16968781 A JP 16968781A JP S5871442 A JPS5871442 A JP S5871442A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9009—Non-optical constructional details affecting optical inspection, e.g. cleaning mechanisms for optical parts, vibration reduction
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検びん装置に関する。
びん詰めラインにおける洗浄後の空びん検査は最近自動
化が進み、びんの底面検査、びんの口火は検査、残水検
査勢は機械化されているが、びんの表面積の８０〜９０
％を占めるびんの側面検査は種々の提案がなされてい
るにもかかわらず、装置が大型化し高価となる、びんの
搬送が不安定となる、レイアウトが長くなる等の問題点
のために１いずれも実用化されていない。
化が進み、びんの底面検査、びんの口火は検査、残水検
査勢は機械化されているが、びんの表面積の８０〜９０
％を占めるびんの側面検査は種々の提案がなされてい
るにもかかわらず、装置が大型化し高価となる、びんの
搬送が不安定となる、レイアウトが長くなる等の問題点
のために１いずれも実用化されていない。
例えば、まず、第１因子面図、第２図部分拡大縦断面図
に示すものは、ターン、）ＴＲ上の各ヘッドにびんロペ
ルＢＢ、びん台ＢＳ、内面鏡ＩＭ受光素子ＬＤが配置さ
れ、スクリュー８Ｃおよび入口スターホイール８Ｆによ
シ搬送されたびんＢＴがターン、 トＴＲ上で回転し、
内面鏡ＩＭがカムによシ昇降し、びんＢＴ側面の光源Ｌ
Ｓから拡散板ＤＰを介して拡散された光が内面鏡ＩＭを
通って受光素子ＬＤに入り、瞬間の視野ＶＦは、第３図
側面図に示すように、小さいが、びんＢＴが回転しなが
ら内面鏡ＩＭが昇降するので全面をらせん状に走査し、
異物があると光量が、第４図線図に示すように、変化す
ることを利用するものであるが、装置が大型、高価であ
シ、メンテナンスに手間がかかる欠点がある。
に示すものは、ターン、）ＴＲ上の各ヘッドにびんロペ
ルＢＢ、びん台ＢＳ、内面鏡ＩＭ受光素子ＬＤが配置さ
れ、スクリュー８Ｃおよび入口スターホイール８Ｆによ
シ搬送されたびんＢＴがターン、 トＴＲ上で回転し、
内面鏡ＩＭがカムによシ昇降し、びんＢＴ側面の光源Ｌ
Ｓから拡散板ＤＰを介して拡散された光が内面鏡ＩＭを
通って受光素子ＬＤに入り、瞬間の視野ＶＦは、第３図
側面図に示すように、小さいが、びんＢＴが回転しなが
ら内面鏡ＩＭが昇降するので全面をらせん状に走査し、
異物があると光量が、第４図線図に示すように、変化す
ることを利用するものであるが、装置が大型、高価であ
シ、メンテナンスに手間がかかる欠点がある。
次に、第５因子面図、第６図部分拡大縦断面図に示すも
のはターレッ）ＴＲ上にびんＢＴを乗せ、びんＢＴを回
転させながら非蓄積［ＴＶカメラＴＶにてターレットＴ
Ｒの回転から信号を取出し、鋸歯状波を発生させ、第７
図に示すように、常にびんの中心線上を走査するように
水平偏向コイルを制御するものであるが、装置が大型、
高価であυ、びんロベルのサニタリ性が悪い欠点がある
・ また、第８図、第９図に示すものは、固体カメラ又はＴ
ＶカメラＴＶにてびんＢＴの側面を撮影し、びん自身の
縁部信号ＥＳを起点とする検査領域ＥＤの信号Ｓを発生
させ、その領域ＨＤにある欠陥、異物等を検査するもの
であるが、びんの中央部のみを検査する方式であるので
、びんの回転および追従装置が必要となシ、装置が大型
、高価となる欠点がある。
のはターレッ）ＴＲ上にびんＢＴを乗せ、びんＢＴを回
転させながら非蓄積［ＴＶカメラＴＶにてターレットＴ
Ｒの回転から信号を取出し、鋸歯状波を発生させ、第７
図に示すように、常にびんの中心線上を走査するように
水平偏向コイルを制御するものであるが、装置が大型、
高価であυ、びんロベルのサニタリ性が悪い欠点がある
・ また、第８図、第９図に示すものは、固体カメラ又はＴ
ＶカメラＴＶにてびんＢＴの側面を撮影し、びん自身の
縁部信号ＥＳを起点とする検査領域ＥＤの信号Ｓを発生
させ、その領域ＨＤにある欠陥、異物等を検査するもの
であるが、びんの中央部のみを検査する方式であるので
、びんの回転および追従装置が必要となシ、装置が大型
、高価となる欠点がある。
さらに、第１０図、第１１図に示すものは、スクリ、−
ＳＣにてびんＢＴの間隔を拡げ、固体カメラＣＭに反射
鏡ＲＭを介して２面の儂を写し、ＦＲＯＭに打ち込まれ
た検査領域ＥＤの検査を行なうものであるが、びんの搬
送が不安定で装置のレイアウトが長くなる欠点があシ、
また第１２図に示すものは、第１検びん位置ｌ５ＴＰで
びんＢＴの１面を検査し、第２検びん位置２ＮＤＰ ｔ
での間にびんＢＴの向きを変え他の面を検査し、第１検
びん装置、第２検びん装置が同時に働かないようにびん
のピッチをずらせたものであるが、装置が大型、高価と
なる欠点がある・ 本発明はこのような事情にＳみて提案されたもので、構
造簡単２価格低摩な検びん装置を提供することを目的と
し、ラインスキャナによシガラスびん等の胴部をその中
心線方向に走査することによシ欠陥や異物の存在を検出
するようにし九検びん装置において、被検びんの中心線
の周シの複数の位置を検出する手段と、上記複数の位置
のそれぞれに対応してあらかじめ定められた有効走査領
域信号を発生する手段とを具えたことを特徴とする。
ＳＣにてびんＢＴの間隔を拡げ、固体カメラＣＭに反射
鏡ＲＭを介して２面の儂を写し、ＦＲＯＭに打ち込まれ
た検査領域ＥＤの検査を行なうものであるが、びんの搬
送が不安定で装置のレイアウトが長くなる欠点があシ、
また第１２図に示すものは、第１検びん位置ｌ５ＴＰで
びんＢＴの１面を検査し、第２検びん位置２ＮＤＰ ｔ
での間にびんＢＴの向きを変え他の面を検査し、第１検
びん装置、第２検びん装置が同時に働かないようにびん
のピッチをずらせたものであるが、装置が大型、高価と
なる欠点がある・ 本発明はこのような事情にＳみて提案されたもので、構
造簡単２価格低摩な検びん装置を提供することを目的と
し、ラインスキャナによシガラスびん等の胴部をその中
心線方向に走査することによシ欠陥や異物の存在を検出
するようにし九検びん装置において、被検びんの中心線
の周シの複数の位置を検出する手段と、上記複数の位置
のそれぞれに対応してあらかじめ定められた有効走査領
域信号を発生する手段とを具えたことを特徴とする。
本発明の一実施例を図面について説明すると、第１３図
はその平面図、第１４図は第１３図の拡大縦断面図、第
１５図は第１４図のラインスキャナ視野と被検びんの非
検査帯との関係を示す部分拡大側面図、第１６図は第１
３図の被検ぴんとラインスキャナの視野との関係を示す
部分拡大平面図、第１７図は被検びんの・中ルス信号と
有効視野との関係を示す説明図、第１８図はスタートパ
ルス、クロックツ臂ルス、ビデオ信号を示す波形図、第
１９図はラインスキャナの検査範囲と被検びんの関係を
示す平面図、第２０図は第１４図の信号処理装置を示す
！ロック線図、第２１図は第２０図の各部の出力波形図
、第２２図は第１３図の部分拡大図、第２３図は第１４
図の部分拡大図、第２４図は第１３図の押し板とは異な
る他のびん回動手段を示す平面図である。
はその平面図、第１４図は第１３図の拡大縦断面図、第
１５図は第１４図のラインスキャナ視野と被検びんの非
検査帯との関係を示す部分拡大側面図、第１６図は第１
３図の被検ぴんとラインスキャナの視野との関係を示す
部分拡大平面図、第１７図は被検びんの・中ルス信号と
有効視野との関係を示す説明図、第１８図はスタートパ
ルス、クロックツ臂ルス、ビデオ信号を示す波形図、第
１９図はラインスキャナの検査範囲と被検びんの関係を
示す平面図、第２０図は第１４図の信号処理装置を示す
！ロック線図、第２１図は第２０図の各部の出力波形図
、第２２図は第１３図の部分拡大図、第２３図は第１４
図の部分拡大図、第２４図は第１３図の押し板とは異な
る他のびん回動手段を示す平面図である。
まず、第１３〜１４図において、１はびんを搬送するコ
ンベヤ、２は被検びんで２Ａ、２Ｂはそれぞれ検査され
ている瞬間の被検びん、ｊＡ、３Ｂはそれぞれ適宜角度
で配設され被検びん！’Ａ、ＪＢを走査するラインスキ
ャナ、４はびん２を搬送するスターホイール、５は線状
光源６からの光を拡散する拡散板、１はスターホイール
４の回転軸、８．９はそれぞれ回転軸１を枢支するベア
リング、１０は回転軸１に嵌着された大径タイ之ンググ
ーリ、１１はタイミングベルト１２で大径タイばングゾ
ーリ１０に連動する小径タイ建ンググーリ、１８．１４
はそれぞれ小径タイ建ンダゾーリ１滅を嵌着する軸１５
のベアリング、１′６は軸１５の一端に付設され九）譬
ルス発生器、１７はびんの向きを変えるための押し板、
１８はラインスキャナｊＡ。
ンベヤ、２は被検びんで２Ａ、２Ｂはそれぞれ検査され
ている瞬間の被検びん、ｊＡ、３Ｂはそれぞれ適宜角度
で配設され被検びん！’Ａ、ＪＢを走査するラインスキ
ャナ、４はびん２を搬送するスターホイール、５は線状
光源６からの光を拡散する拡散板、１はスターホイール
４の回転軸、８．９はそれぞれ回転軸１を枢支するベア
リング、１０は回転軸１に嵌着された大径タイ之ンググ
ーリ、１１はタイミングベルト１２で大径タイばングゾ
ーリ１０に連動する小径タイ建ンググーリ、１８．１４
はそれぞれ小径タイ建ンダゾーリ１滅を嵌着する軸１５
のベアリング、１′６は軸１５の一端に付設され九）譬
ルス発生器、１７はびんの向きを変えるための押し板、
１８はラインスキャナｊＡ。
３Ｂ、後記するトリガー装置１ ｊ 、７１ルス発生器
１６からの信号を受けて処理する信号処理装置である。
１６からの信号を受けて処理する信号処理装置である。
次に、第２０図において、１００に、１００Ｂはそれぞ
れパルス発生器１６からの信号の直後のラインスキャナ
ｓＡ、３Ｂのスタートノ譬ルスを取シ出すためのＡＮＤ
４回路、１′０・Ｈ）ｖ−ａ １αＪＢはそれぞれ被検
びんのびん胴下部を非検査帯とするための遅延回路、１
０２ム、１０：ｔＢはそれぞれびん胴下部の非検査帯走
査後動作してクロ、クツ４ルスのダートとして使用する
７リツ２７０ツノＦ／Ｆ １回路、１０３ムは７す、ｆ
７０．ゾＦ／Ｆ １回路１０２Ａおよびラインスキャナ
３Ａのクロックノタルスを入力するＡＮＤ１回路、１０
３Ｂはフリツノフロラ７” Ｆ／Ｆ１回路１０２Ｂおよ
びラインスキャナ３Ｂのクロックツ譬ルスを入力するＡ
ＮＤ １回路、１０４はトリガー装置１９からの信号に
よ多動作し、検査開始を指令するフリ、デるＡＮＤ ２
回路、１０６はＡＮＤｊ回路１０５の出力を記憶するフ
リッゾフロップ回路Ｆ／Ｆｌ、１０７はＡＮＤ２回路１
０５の出力を符号化するためのエンコーダ、１０８はび
んの非検査帯をあらかじめ定めるＰＲＯＭ （Ｐｒｏｇ
ｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ ）、１０９ムはＡＮＤ １
回路１０３Ａからのノ４ルス入力により出力を開始し上
記ノ４ルス入力とＦＲＯＭ １０ ＆の設定値とを比較
し上記入力ｔ４ルス数が上記設定値を越えたとき出力を
停止するカウント比較゛回路、１０９ＢはＡＭＤ１回路
１０３Ｂからのノ９ルス入力によシ出力を開始し、上記
ノｆルス入力とＦＲＯＭ１０８の設定値とを比較し上記
入力Δルス数が上記設定値を越えたとき出力を停止する
カラン・ト比較回路、１１０１．１１０Ｂはそれぞれカ
ウント比較回路１０９１．１０９Ｂからのｅ−）信号と
異物判別回路１１１人、ＩＩＩＢからの異物信号とを入
力するＡＮＤＪ回路、１１１に、ＩＩＩＢはそれぞれツ
インスキャナＪＡ、ＪＢからのビデオ信号を受は異物信
号化するための異物判別回路、１１１はＡＮＤＪ回路１
１０ム、ｌｌ０Ｂの出力を入力するＯＲ回路、１１３は
リゼクト装置を駆動するりぜクト回路である。
れパルス発生器１６からの信号の直後のラインスキャナ
ｓＡ、３Ｂのスタートノ譬ルスを取シ出すためのＡＮＤ
４回路、１′０・Ｈ）ｖ−ａ １αＪＢはそれぞれ被検
びんのびん胴下部を非検査帯とするための遅延回路、１
０２ム、１０：ｔＢはそれぞれびん胴下部の非検査帯走
査後動作してクロ、クツ４ルスのダートとして使用する
７リツ２７０ツノＦ／Ｆ １回路、１０３ムは７す、ｆ
７０．ゾＦ／Ｆ １回路１０２Ａおよびラインスキャナ
３Ａのクロックノタルスを入力するＡＮＤ１回路、１０
３Ｂはフリツノフロラ７” Ｆ／Ｆ１回路１０２Ｂおよ
びラインスキャナ３Ｂのクロックツ譬ルスを入力するＡ
ＮＤ １回路、１０４はトリガー装置１９からの信号に
よ多動作し、検査開始を指令するフリ、デるＡＮＤ ２
回路、１０６はＡＮＤｊ回路１０５の出力を記憶するフ
リッゾフロップ回路Ｆ／Ｆｌ、１０７はＡＮＤ２回路１
０５の出力を符号化するためのエンコーダ、１０８はび
んの非検査帯をあらかじめ定めるＰＲＯＭ （Ｐｒｏｇ
ｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ ）、１０９ムはＡＮＤ １
回路１０３Ａからのノ４ルス入力により出力を開始し上
記ノ４ルス入力とＦＲＯＭ １０ ＆の設定値とを比較
し上記入力ｔ４ルス数が上記設定値を越えたとき出力を
停止するカウント比較゛回路、１０９ＢはＡＭＤ１回路
１０３Ｂからのノ９ルス入力によシ出力を開始し、上記
ノｆルス入力とＦＲＯＭ１０８の設定値とを比較し上記
入力Δルス数が上記設定値を越えたとき出力を停止する
カラン・ト比較回路、１１０１．１１０Ｂはそれぞれカ
ウント比較回路１０９１．１０９Ｂからのｅ−）信号と
異物判別回路１１１人、ＩＩＩＢからの異物信号とを入
力するＡＮＤＪ回路、１１１に、ＩＩＩＢはそれぞれツ
インスキャナＪＡ、ＪＢからのビデオ信号を受は異物信
号化するための異物判別回路、１１１はＡＮＤＪ回路１
１０ム、ｌｌ０Ｂの出力を入力するＯＲ回路、１１３は
リゼクト装置を駆動するりぜクト回路である。
このような装置において、びん２がスターホイール４に
よシ検査位置Ａｆｉで運ばれると、光源６から出た光は
拡散板５によシ拡散され、被検びん２Ａを透過してライ
ンスキャナ３Ａに入る・ラインスキャナ３Ａはびんの側
面を下から上に常時走査しているので、もし被検びん２
Ａに異物等がＴｏシ、光量変化が生ずれば、これを異物
信号として信号処理装置１８にて処理する。
よシ検査位置Ａｆｉで運ばれると、光源６から出た光は
拡散板５によシ拡散され、被検びん２Ａを透過してライ
ンスキャナ３Ａに入る・ラインスキャナ３Ａはびんの側
面を下から上に常時走査しているので、もし被検びん２
Ａに異物等がＴｏシ、光量変化が生ずれば、これを異物
信号として信号処理装置１８にて処理する。
ここで、びんの側面を検査する際、第１５図に示すよう
に、びんの肉厚部Ｔ［が異物と同様の信号を発生するの
で、このような部分を非検査帯とするために、第１６図
に示すように、被検びん２Ａがラインスキャナ３Ａの視
野ＶＦに入ったとき、検査開始用トリガー装置１９から
の信号によシ、検査が開始されるが、被検びん２Ａが移
動するにつれて、びんの形状によシ決まる肉厚部の高さ
が異なるので、それに合わせて、非検査帯を変える。
に、びんの肉厚部Ｔ［が異物と同様の信号を発生するの
で、このような部分を非検査帯とするために、第１６図
に示すように、被検びん２Ａがラインスキャナ３Ａの視
野ＶＦに入ったとき、検査開始用トリガー装置１９から
の信号によシ、検査が開始されるが、被検びん２Ａが移
動するにつれて、びんの形状によシ決まる肉厚部の高さ
が異なるので、それに合わせて、非検査帯を変える。
そのために／譬ルス発生器１６が設けられておシ、スタ
ーホイール４の回転軸１よシタイミングゾーリ１０．タ
イミングベルト１２．タイミングプーリ１１．軸１５を
介して駆動され、第、１７図Ｐ１＋＋Ｐ１＋・・・に示
すように、）譬ルスを発生する。
ーホイール４の回転軸１よシタイミングゾーリ１０．タ
イミングベルト１２．タイミングプーリ１１．軸１５を
介して駆動され、第、１７図Ｐ１＋＋Ｐ１＋・・・に示
すように、）譬ルスを発生する。
被検びんｊＡ１本当シ発生する・９ルス数はびん側進行
方向分割数となシ、その上限はラインスキャナ３Ａのス
タート間隔時間とびん２ムの送シ速度によシ定ｔ＃）、
これによシタイミンググーリ１０．．．１１の比”を決
定する。
方向分割数となシ、その上限はラインスキャナ３Ａのス
タート間隔時間とびん２ムの送シ速度によシ定ｔ＃）、
これによシタイミンググーリ１０．．．１１の比”を決
定する。
ここで〜びんがスターホイール４によシ、第２２図に示
すように、Ｘからｙ−１で移動する間に、検査を終了し
なければならないので、この間にびん胴を所定の進行方
向分割にするためにノ４ルス発生器１＃から所定数のノ
譬ルスを発生させ、このために／４ルス発生器１６の軸
１５の回転数社スターホィール４０回転軸１０回転数よ
シ増速する必要がある。
すように、Ｘからｙ−１で移動する間に、検査を終了し
なければならないので、この間にびん胴を所定の進行方
向分割にするためにノ４ルス発生器１＃から所定数のノ
譬ルスを発生させ、このために／４ルス発生器１６の軸
１５の回転数社スターホィール４０回転軸１０回転数よ
シ増速する必要がある。
次に１この／４ルスを入力してびん高方向の有効区間を
決定するには、第１７図に示すように、被検びん２Ａが
Δルスｐｌの位置にあるときはラインスキャナ３Ａの有
効視野はＨｌｐＰｌのときａ Ｈ＊・・・等とする必要
があシ、第１８図線その際のラインスキャナのスタート
／４ルス、クロックツやルス、ピｒオ信号のタイオング
をびん高に対比して示し、有効視野）Ｉ、ｊＨ，−・・
は２インスキヤナのクロック／ｌルスをそれぞれカウン
トすることにより決定し、Ｈｊｌ、Ｈ，、・・・は信号
処理装置１８のＰＲＯＭ １０ ＩＩにあらかじめ設定
されている。
決定するには、第１７図に示すように、被検びん２Ａが
Δルスｐｌの位置にあるときはラインスキャナ３Ａの有
効視野はＨｌｐＰｌのときａ Ｈ＊・・・等とする必要
があシ、第１８図線その際のラインスキャナのスタート
／４ルス、クロックツやルス、ピｒオ信号のタイオング
をびん高に対比して示し、有効視野）Ｉ、ｊＨ，−・・
は２インスキヤナのクロック／ｌルスをそれぞれカウン
トすることにより決定し、Ｈｊｌ、Ｈ，、・・・は信号
処理装置１８のＰＲＯＭ １０ ＩＩにあらかじめ設定
されている。
さらに信号処理装置１８０作用を第２０図について説明
する。
する。
すなわち、同図において、びんが検査位置Ａに来てトリ
ガー装置１９が作動すると、７リツノフロツｆ Ｆ／Ｆ
２回路１０４の出力と次のＩ々ルス発生器１６の出力と
がＡＮＤ２回路１０５を経てフリツノ７０．７’ Ｆ／
’Ｆ Ｊ回路１０６およびエンコーダ１０７へ入力する
。
ガー装置１９が作動すると、７リツノフロツｆ Ｆ／Ｆ
２回路１０４の出力と次のＩ々ルス発生器１６の出力と
がＡＮＤ２回路１０５を経てフリツノ７０．７’ Ｆ／
’Ｆ Ｊ回路１０６およびエンコーダ１０７へ入力する
。
７リツグ７０ツ７’ Ｆ／ｆｆ’ ３回路１０６の出力
はラインスキャナｊＡ、３Ｂのスタート／譬ルスとそれ
ぞれＡＮＤ ４回路１００に、ＩＤ０Ｂで駒結合され、
びん下部の非検査帯を作るための遅延回路１０１に、ｌ
０ＩＢへ入力する。次に、７す、ｆフロラｆ Ｆ／ｌ’
１回路１０２人、１０１Ｂはびん胴下部非検査帯走査
にセットされ、ＡＮＤ １回路１０８１ｅ１０３Ｂへ入
力する。
はラインスキャナｊＡ、３Ｂのスタート／譬ルスとそれ
ぞれＡＮＤ ４回路１００に、ＩＤ０Ｂで駒結合され、
びん下部の非検査帯を作るための遅延回路１０１に、ｌ
０ＩＢへ入力する。次に、７す、ｆフロラｆ Ｆ／ｌ’
１回路１０２人、１０１Ｂはびん胴下部非検査帯走査
にセットされ、ＡＮＤ １回路１０８１ｅ１０３Ｂへ入
力する。
フリッｆ７０ッグＦ／Ｆ ｊ回路１０１に、１０１Ｂが
セ、）されている間のみラインスキャナＪＡ。
セ、）されている間のみラインスキャナＪＡ。
３Ｂのクリックノ譬ルスはカウントされ、カウント比較
回路１０９に、１０９Ｂはこの最初のハらり／＃ ルス
でＯＮとなシ、ＡＮＤ３回路１１０１゜１１０Ｂのダー
トをＯＮさせる。
回路１０９に、１０９Ｂはこの最初のハらり／＃ ルス
でＯＮとなシ、ＡＮＤ３回路１１０１゜１１０Ｂのダー
トをＯＮさせる。
一方、ＡＮＤ２回路１０５の出力パルスはエンコー〆１
０１にて符号化され、びん形状によシアらかじめＦＲＯ
Ｍ Ｊ ０８に設定されたびん高方向の／？ルス数を、
すなわち、びんが・９ルスＰ１の位置にあるときはＨｌ
をＩＰ、のときはＨｌを・・・呼び出し、この値がカウ
ント比較回路〆゛１σ、９Ａ。
０１にて符号化され、びん形状によシアらかじめＦＲＯ
Ｍ Ｊ ０８に設定されたびん高方向の／？ルス数を、
すなわち、びんが・９ルスＰ１の位置にあるときはＨｌ
をＩＰ、のときはＨｌを・・・呼び出し、この値がカウ
ント比較回路〆゛１σ、９Ａ。
１０９Ｂにそれぞれセットされている。
こうして、ＡＭＤ１回路１０３に、１０３Ｂからのクロ
ックノヤルスがこのセットされた値を越えると、カウン
ト比較回路１０９１．１０９ＢはそれぞれＯＦＦとなシ
、ＡＮＤＪ回路１１０に、１１０ＢのダートはＯＦＦと
な、９％ｒ−）ＯＮの間が有効検査区間と々る。
ックノヤルスがこのセットされた値を越えると、カウン
ト比較回路１０９１．１０９ＢはそれぞれＯＦＦとなシ
、ＡＮＤＪ回路１１０に、１１０ＢのダートはＯＦＦと
な、９％ｒ−）ＯＮの間が有効検査区間と々る。
ラインスキャナＪＡ、、９Ｂからのビデオ信号は異物判
定回路１１１に、１１１Ｂで異物があれば異物信号を出
すので、ＡＮＤＪ回路１１０１ｐ１１０Ｂのｆ−）がＯ
Ｎの間、異物信号はＯＲ回路１１２へ入力し、ＯＲ回路
１１２の出力はりセクト装置を駆動するリゼクト回路１
１３を作動させる。
定回路１１１に、１１１Ｂで異物があれば異物信号を出
すので、ＡＮＤＪ回路１１０１ｐ１１０Ｂのｆ−）がＯ
Ｎの間、異物信号はＯＲ回路１１２へ入力し、ＯＲ回路
１１２の出力はりセクト装置を駆動するリゼクト回路１
１３を作動させる。
叙上の各部の出力波形紘第２１図に示すタイミングチャ
ートに示すようになっている。
ートに示すようになっている。
なお、検査位置Ａで検査された被検びん２人は、検査位
置Ｂに達するまでの間に押し板１１により、下記のよう
に、びんの向きを約９０°変更する。すなわち、押し板
１１は、水平藺的に第１３図に示すように、側面的には
第２３図に示すように、配置されて、プム等の摩擦係数
の大きな材料で作られておシ、びんが転送され押し板１
１に当接すると、びんの２側には制動力が加わり、びん
は、スターホイール４によりさらに転送されるから、第
１３図に示すように、スターホイールの／”＋、ト内で
回動し、その回動角度は押え板１１のびんに対する当接
長で定まる。勿論、びんの回動手段としては、第２４図
に示すように１スターホイール４と対向するエンドレス
ベルトＥＬＢをびん２に搗接することによシ強制的にび
ん２を回動するものでもよい。
置Ｂに達するまでの間に押し板１１により、下記のよう
に、びんの向きを約９０°変更する。すなわち、押し板
１１は、水平藺的に第１３図に示すように、側面的には
第２３図に示すように、配置されて、プム等の摩擦係数
の大きな材料で作られておシ、びんが転送され押し板１
１に当接すると、びんの２側には制動力が加わり、びん
は、スターホイール４によりさらに転送されるから、第
１３図に示すように、スターホイールの／”＋、ト内で
回動し、その回動角度は押え板１１のびんに対する当接
長で定まる。勿論、びんの回動手段としては、第２４図
に示すように１スターホイール４と対向するエンドレス
ベルトＥＬＢをびん２に搗接することによシ強制的にび
ん２を回動するものでもよい。
こうしてびんの向きは約９０°変更されるので、検査位
置人での２インスキヤナ３Ａによる検査範囲は、第１９
図ハツチング部に示す範囲のみであるが、検査位置Ｂで
はラインスキャナ３Ｂによる検査範囲はラインスキャナ
３人による検査範囲と直交する方向になるので、死角を
生ずることなく検査を行なうことができる。
置人での２インスキヤナ３Ａによる検査範囲は、第１９
図ハツチング部に示す範囲のみであるが、検査位置Ｂで
はラインスキャナ３Ｂによる検査範囲はラインスキャナ
３人による検査範囲と直交する方向になるので、死角を
生ずることなく検査を行なうことができる。
このような装置によれは、びんを回動させながら、びん
の中心線に沿ってのみ検査する従来のものに比べて、び
んの向きを変更することによシ装置が小型化され、単板
のスターホイールを有するびん検査装置にも装着するこ
とが可能となシ、びんのハンドリングが著しく安定し１
ｒＴＶ又は固体面センサーを用いて検査する従来のもの
に比べて検出部カメラが安価となシ、検査領域を決定す
るメモリーが簡素化される等の卓効を奏する′。
の中心線に沿ってのみ検査する従来のものに比べて、び
んの向きを変更することによシ装置が小型化され、単板
のスターホイールを有するびん検査装置にも装着するこ
とが可能となシ、びんのハンドリングが著しく安定し１
ｒＴＶ又は固体面センサーを用いて検査する従来のもの
に比べて検出部カメラが安価となシ、検査領域を決定す
るメモリーが簡素化される等の卓効を奏する′。
要するに本発明によれば、ラインスキャナによ〕ガラス
びん等の胴部をその中心線方向に走査することによシ欠
陥や異物の存在を検出するようにした検びん装置におい
て、被検びんの中心線の周りの複数の位置を検出する手
段と、上記複数の位置のそれぞれに対応してあらかじめ
定められた有効走査領域信号を発生する手段とを具えた
ことによシ、構造簡単１価格低摩、取扱容易なびん検査
装置を得るから、本発明は産業上極めて有益なものであ
る。
びん等の胴部をその中心線方向に走査することによシ欠
陥や異物の存在を検出するようにした検びん装置におい
て、被検びんの中心線の周りの複数の位置を検出する手
段と、上記複数の位置のそれぞれに対応してあらかじめ
定められた有効走査領域信号を発生する手段とを具えた
ことによシ、構造簡単１価格低摩、取扱容易なびん検査
装置を得るから、本発明は産業上極めて有益なものであ
る。
第１図は公知の検びん装置を示す平面図、第２図は第１
図の部分拡大縦断面図、第３図は第２図のびんの側面図
、第４図は第２図による受光素子の光量を示す線図、第
５図は公知の検びん装置を示す平面図、第６図は第５図
の部分拡大縦断面図、第７図は第５図の被検びんの拡大
側面図、第８図、第９図はそれぞれ公知の検びん要領を
示す説明図、第１０図は公知の検びん装置の平面図、第
１１図は第１０図の被検びんの検査領域を示す説明図、
第１２図は公知の検びん装置を示す平面図、第１３図は
本発明の一実施例を示す平面図、第１４図は第１３図の
拡大縦断面図、第１５図は第１４図のラインスキャナ視
野と被検びんの非検査帯との関係を示す部分拡大側面図
、゛第１６図は第１３図の被検ぴんとラインスキャナの
視野との関係を示す部分拡大半面図、第１７図は被検び
んの／４ルス信号と有効視野との関係を示す説明図、第
１８図はスタートパルス、クロックツ母ルス、ピテオ信
号を示す波形図、第１９図はラインスキャナの検査範囲
と被検びんの関係を示す平面図、第２０−は第１４図の
信号処理装置を示すブロック線図、第２１図は第２０図
の各部の出方波形図、第２２図は第１３図の部分拡大図
、第２３図は１１１４図の部分拡大図、第２４図は第１
３図の押し板とは異なる他のびん回動手段を示す平面図
である。 １・−：ｒ ｙ ヘヤ、２，２ムｔ Ｊ Ｂ・・・被検
びん、３ム、ＪＢ・・・ラインスキャナ、４・・・スタ
ーホイール、５・・・拡散板、Ｃ・・・光源、７川回転
軸、８゜９・・・ベアリング、１０．１１・・・タイミ
ングベルト、１２・・・タイミングベルト、１３．１４
・・・ベアリング、１５・・・軸、１６・・・ノ９ルス
発生器、１７・・・押し板、１８・・・信号処理装置、
１９・・・トリガー装置、１００Ａ、１００Ｂ・・・Ａ
ＮＤ ４回路、１０１に、ｌ０１Ｂ・・・遅延回路、１
０２１，１０２Ｂ・・・フリッゾ７０ッゾＦ／ｆｆ’
１回路、１０３に、１０３Ｂ・・・ＡＮＤ ７回路、１
０４・・・フリッグフロッｆ Ｆ／Ｆ １回路、１０５
・・・ＡＮＤ２回路、１０６・・・フリ、ｆフ四ｙ ７
’ Ｆ／’Ｆ ３回路、１０７・・・エンコーダ、１０
８・・・ＦＲＯ′ｈ／ｉ、、１０９１．１０９Ｂ・・・
カウント比較囲路、１１０に、１１０Ｂ・・・ＡＮＤ！
回路、１１１ Ａ ＊ １１ Ｊ Ｂ・・・異物判別回
路、１１２・・・０．、Ｒ回路、１１３−９ゼクト回路
。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図
ｆ′ＩＳ２図 醋藺〜 第８図 ２９図 第１０図 第１２図 ｑ 第１３ｒ７Ｉ 第１４図 第１５図 第２２ ｉ”７Ｊ ２４図
図の部分拡大縦断面図、第３図は第２図のびんの側面図
、第４図は第２図による受光素子の光量を示す線図、第
５図は公知の検びん装置を示す平面図、第６図は第５図
の部分拡大縦断面図、第７図は第５図の被検びんの拡大
側面図、第８図、第９図はそれぞれ公知の検びん要領を
示す説明図、第１０図は公知の検びん装置の平面図、第
１１図は第１０図の被検びんの検査領域を示す説明図、
第１２図は公知の検びん装置を示す平面図、第１３図は
本発明の一実施例を示す平面図、第１４図は第１３図の
拡大縦断面図、第１５図は第１４図のラインスキャナ視
野と被検びんの非検査帯との関係を示す部分拡大側面図
、゛第１６図は第１３図の被検ぴんとラインスキャナの
視野との関係を示す部分拡大半面図、第１７図は被検び
んの／４ルス信号と有効視野との関係を示す説明図、第
１８図はスタートパルス、クロックツ母ルス、ピテオ信
号を示す波形図、第１９図はラインスキャナの検査範囲
と被検びんの関係を示す平面図、第２０−は第１４図の
信号処理装置を示すブロック線図、第２１図は第２０図
の各部の出方波形図、第２２図は第１３図の部分拡大図
、第２３図は１１１４図の部分拡大図、第２４図は第１
３図の押し板とは異なる他のびん回動手段を示す平面図
である。 １・−：ｒ ｙ ヘヤ、２，２ムｔ Ｊ Ｂ・・・被検
びん、３ム、ＪＢ・・・ラインスキャナ、４・・・スタ
ーホイール、５・・・拡散板、Ｃ・・・光源、７川回転
軸、８゜９・・・ベアリング、１０．１１・・・タイミ
ングベルト、１２・・・タイミングベルト、１３．１４
・・・ベアリング、１５・・・軸、１６・・・ノ９ルス
発生器、１７・・・押し板、１８・・・信号処理装置、
１９・・・トリガー装置、１００Ａ、１００Ｂ・・・Ａ
ＮＤ ４回路、１０１に、ｌ０１Ｂ・・・遅延回路、１
０２１，１０２Ｂ・・・フリッゾ７０ッゾＦ／ｆｆ’
１回路、１０３に、１０３Ｂ・・・ＡＮＤ ７回路、１
０４・・・フリッグフロッｆ Ｆ／Ｆ １回路、１０５
・・・ＡＮＤ２回路、１０６・・・フリ、ｆフ四ｙ ７
’ Ｆ／’Ｆ ３回路、１０７・・・エンコーダ、１０
８・・・ＦＲＯ′ｈ／ｉ、、１０９１．１０９Ｂ・・・
カウント比較囲路、１１０に、１１０Ｂ・・・ＡＮＤ！
回路、１１１ Ａ ＊ １１ Ｊ Ｂ・・・異物判別回
路、１１２・・・０．、Ｒ回路、１１３−９ゼクト回路
。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図
ｆ′ＩＳ２図 醋藺〜 第８図 ２９図 第１０図 第１２図 ｑ 第１３ｒ７Ｉ 第１４図 第１５図 第２２ ｉ”７Ｊ ２４図
Claims (1)
- ラインスキャナによシガラスびん等の胴部をその中心線
方向に走査することにょシ欠陥や異物の存在を検出する
ようにした検びん装置において、被検びんの中心線の周
シの複数の位置を検出する手段と、上記複数の位置のそ
れぞれに対応してあらかじめ定められた有効走査領域′
信号を発生する手段とを具えたことを特徴とする検びん
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16968781A JPS5871442A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 検びん装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16968781A JPS5871442A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 検びん装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5871442A true JPS5871442A (ja) | 1983-04-28 |
Family
ID=15891032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16968781A Pending JPS5871442A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 検びん装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5871442A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60213336A (ja) * | 1984-04-07 | 1985-10-25 | Sintokogio Ltd | 自硬性鋳型の造型方法 |
| JPS60223638A (ja) * | 1984-04-20 | 1985-11-08 | Sintokogio Ltd | 自硬性鋳型の造型方法 |
| JPS6466547A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-13 | Nissan Motor | Detection of surface defect |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
-
1981
- 1981-10-23 JP JP16968781A patent/JPS5871442A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60213336A (ja) * | 1984-04-07 | 1985-10-25 | Sintokogio Ltd | 自硬性鋳型の造型方法 |
| JPS60223638A (ja) * | 1984-04-20 | 1985-11-08 | Sintokogio Ltd | 自硬性鋳型の造型方法 |
| JPS6466547A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-13 | Nissan Motor | Detection of surface defect |
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