JPS5873012A - 薄膜ヘツド傾斜縁食刻形成法 - Google Patents

薄膜ヘツド傾斜縁食刻形成法

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JPS5873012A
JPS5873012A JP57142005A JP14200582A JPS5873012A JP S5873012 A JPS5873012 A JP S5873012A JP 57142005 A JP57142005 A JP 57142005A JP 14200582 A JP14200582 A JP 14200582A JP S5873012 A JPS5873012 A JP S5873012A
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JP
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thin film
photoresist
layer
film head
edges
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ジヨン・ランドルフ・オズボ−ン
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    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
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    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/02Local etching
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3163Fabrication methods or processes specially adapted for a particular head structure, e.g. using base layers for electroplating, using functional layers for masking, using energy or particle beams for shaping the structure or modifying the properties of the basic layers

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般に薄膜誘導変換器(thin fi1m1
11auotlマ@ transduoer)に関し、
薄膜磁気ヘッドと賛週呼ばれている変換器に関する。之
等の装置は動いている磁性記録媒体上の記録及び読み取
り磁気変換に有用である◇ 薄膜磁気ヘッドは一般に、磁性材料層が磁性材料の基材
上に付着され、然もそれらの間に伝導体層が挾まれてい
る基本構造を有する。この基材と磁性材料層は磁気回路
を構成し、その層の後端は基材に磁気的に結合され、前
端は基材から磁気的に離れていて記録用間隙を形成する
。記録のためには電流をその導電体を通して流す。
磁気読み取り及び(又は)記録用ヘットは次の本質部分
からなっていなければならない。即ち、磁気不連続部即
ち「間II (gap ) Jで、磁性「ポールピース
(pole pieo・)」 と呼ばれるその間隙の両
側上の磁気回路末端部をもつ間隙を有する磁気回路と、
その回路を取り巻き、記録及び(又は)読み取りを可能
にする為の一つ又は複数の電気的巻き線である。磁性層
上に詰め込まれるデーター密度が大きいという利点を得
るためには、上記間隙とポールぜ−スを微細な許容範囲
内に作ることが必須である。この目的の達成を助けるた
めには、磁気記録用表面に非常に近い所を動いていくポ
ールピースが真直で垂直な側壁を有するのが最も好まし
い。
磁気ヘッド組立体の間隙領域から遠い部分では真直で垂
直な側壁を有する構造を与えるのは有利ではない。例え
ば上で貫入した電気的巻き線はヘッドの本体を取り巻き
、それらの物理的一体性は真直で垂直な壁を定めなけれ
ばならないことで非常に損なわれることになるであろう
「スパッターで形成されたパーマロイ膜の傾斜付けの電
気化学的特徴(1eatrooh@m1oalム#p6
0tllat the Beveling ox ap
utt、erea permalloy ynms)J
という表題の論文〔電気化学的特徴(、r 、’m@O
troOham。
Boo、):lleotrochem、8aiena・
& Teoh、 1125 mA6.pp86’0−8
65(192B))には、スパッター形成されたパーマ
ロイ(permalloy )膜−に傾斜段のついた薄
膜磁気ヘラrの製造法が教示されている。チタンで被覆
されたパーマロイからなる二重層をIlr、804/H
,0&/HF1食刻剤で食菌し、その食刻剤中のl!?
 濃度により傾斜角が6c〜40゜の範囲にある傾斜表
面を生じさせることができることが記載されている。
薄膜ヘッドを製造する時のパーマ四イ層の縁を傾斜させ
ることができることは上記文献に教示されているように
有用であるが、はるかに商業的に重要な方法は薄膜ヘラ
r製造中、真直な縁と同様、色々な傾斜角の縁を共に生
ずることのできる方法であることがMtaされている。
例えば薄膜ヘッドのポール先端部分が厳密に再現性のあ
る割合をもち、真直な縁をもつことが重要である。なぜ
なら磁気記録用媒体の近くで飛ぶのはポール先端領域で
あり、精細に制御された真直な縁を示すべきポール先端
の部分の損傷が読み取り/記録の誤りをもたらすことに
なるからである。
従って本発明の目的はパー!pイ薄膜磁気ヘッドに真直
な縁と同様色々な傾斜を形成する方法を与えることであ
る。
本発明の他の目的は一連の化学的処理工程で薄膜ヘッド
のパーマロイ本体に真直な縁と同機種々の縁をつくる方
法を与えることである。
本発明のそれら及び他の目的は以下の記述及び付図を考
察することにより一層よく分るであろう。
本発明は薄膜ヘッドのパーマロイ(Mi−1・)本体に
真直な縁と同機種々の傾斜角の縁をつくる方法からなる
。その方法は先ずパーマロイ本体の少なくとも種々の傾
斜を示すべき領域を覆うチタン層を形成する。次にチタ
ン層とパーマ−イ本体の上にホトレジスト層を形成する
。食m後薄膜ヘツYの一部として存在しなくてもよいチ
タン層とパー Y 12イ本体のそれら領域の所のホト
レジストを除去する。次に弗酸(Tly )  と塩化
第二鉄(yeoia)を含む食刻剤で薄膜へツrを食刻
し、パーマ四イ本体のチタンとホトレジストで覆われた
領域中に種々の傾斜角の縁を形成し、パーマロイ本体の
ホシレジス)だけで覆われた領域では真直な縁を形成さ
せる。
第1図に関し、前記「スパッターで形成されたパーマロ
イ膜の傾斜付けの電気化学的特徴」という表題の論文は
、種々の傾斜した縁を形成する基礎になっているアンダ
ーカットの輪郭を理論的に教示している。特に基板4は
パーマ胃4層3を支持し、そのパーマ胃イ層にはチタン
層2とホトレジスト層1が被覆されているとして教示さ
れている。]Iν を含有する食刻剤を使用することに
より、チタン層2がパーマ四イより速く食刻されるとい
う理由だけでホトレジスト1の下にアンダーカットを生
ずる。傾斜5は弗酸食刻剤の濃度によって支配され、 チタン食刻速度 である。
この教示によれば、全ヘッド部材に亘って均一に一定し
た種々の傾斜角の壁をもつ薄膜ヘッドを生ずるであろう
。しかし前述した通り、薄膜ヘッドの製造に際し、その
ような形状は理想的なものではない。なぜならポールぎ
−スは真直な縁をもつのがよいからである。
第2a図に関し、パーマシイ層1oの平面図は四つの四
角形の部分に分けて示してあり、第2b図は食刻が行わ
れた俵の同じ層の斜視図を示している。ホトレフスト層
Tは四角形a及びbを完全に覆い、チタン層8は四角形
す及びdを完全に覆うものとして示されている。
第2a図に示された形状の物は基板にパーマロイ(N1
−F・)合金の層を適用し、そのパーマロイをスパッタ
ー又は他のよく知られた方法でチタン層により被覆する
ことにより形成することができる。チタンは大体肌08
〜0.1μmの厚さをもつのが都合よく、それはパーマ
ロイ層1o上に均一に施すことができる。次にそのチタ
ン層上にホトレジストを適用して硬化し、像状にホトレ
ジストを除去して選択的にチタンを露出させ、その保護
されていない領域を次に周知の方法により除去すること
によりチタンを除去する。第2a図に示すように、チタ
ンを四角iaとCの所で選択的に除去する。
上述の如く模様状のチタンが形成されたら、全パーマa
イ・チタン表面を再びホトレジスト7で選択的に再び被
覆し、第2a図に示すように、ホ)レジストが四角形a
とbの所だけに残っているようにする。得られた形状の
ものをl1fFとν・0!3をエチレングリコールに入
れたものからなる食刻剤で食刻する。F+!1014は
パーマロイを食刻するために与えであるのに対し、B?
はT1のみを食刻する。T1によって覆われた領域では
、■と′Ipeo工。
は両方共ホトレジスト境界の所に種々に傾斜した壁を形
成するのに用いられる。T1で覆われていない領域では
、lFe013のみがホトレジスト境界の所に真直な側
壁を形成するようにパーマロイを食刻するのに用いられ
る。
食刻処理の結果は第21図に示されている。傾斜した表
面10は第2a図の四角形す内の領域として示されてお
り、四角形aとbとの境界線に沿って移動していく障壁
表面12を有する。真直な側壁表面11は四角形c中の
保護されていないパーマロイに対する食刻剤中の10d
x3の作用の結果である。
第4図に関し、仕上げられたパーマロイ層体は真直な壁
25をもつものとして示されており、それは首状領域2
6と傾斜側壁27/l−もつ薄膜磁気ヘッドのボール先
端部の形につくることができる。之により薄膜ヘッド用
の巻き線は傾斜壁27近くの領域を限ることができ、そ
れにより加工中のみならず薄膜ヘッド使用中でもそれら
の適用及び保持を一層容易にすることができる。
第4図に示した形状物は第2a図及び第2b図に示した
原理を適用して製造できるが、第5a図及び第3b図を
参照する。特に第3a図はホトレジスト及びチタンで選
択的に被覆されたパーマ四イ本体の平面図である。四角
形eはホトレジスト13でのみ被覆されているのに対し
、四角形りはチタン15でのみ被覆されている。四角形
fはチタンとホトレジストの両方で被覆されているのに
対し、四角形gは全く被覆されていない裸のパーマロイ
領域14を示している。
第6a図は第2a図とは、チタンとホトレジストで覆わ
れた領域とホトレジストのみで覆われた領域との境界の
角度関係を描いている点で異なっている。第3a図と第
6b図とを比較することにより1真直な側壁17が傾斜
した側壁1Bと同様に予想通り形成される。しかし第2
b図の部位12で示されているように壁17と18とが
直角の関係になっているのではなく、それら二つの表面
は表面16で接続されており、その表面16は第31L
図の角θに相当する両表面間の角度関係を与えている。
ここで第3a図の裸の領域14は第3b図の除去された
領域14aに相当することに注意されたい。そのような
方法により、第4図に示したような形状のものを与える
ことができる。
実施例 スパッターしたム1=03の適当な支持体の上に、パー
 マ四イ膜をスパッターにより2.5μm の厚さニハ
ーマロイを形成することによりつくった。パーマシイ層
をつくったら、それにチタンの均一な層をスパッターで
適用することにより0.1μmの全厚さになる迄適用し
た。次にホトレジストをその表面に適用し、それを像状
に硬化し、未硬化傾城を選゛択的に除去した。次にチタ
ンをホトレジストで保護されていない領域について10
体棟%のHIF で選択的に除去し、次にホトレジスF
を完全に除去し、その結果チタン表面で部分的に覆われ
たパーマロイ本体が得られた。
更に別のホトレジストをそのバーマロ′イ・チタン部材
に適用し、再び像状に硬化し、選択的に除去し、その結
果酸る領域ではパーマロイ・チタン書ホトレジスト体、
他の領域ではパーマーイ・ホトレジスト体になっている
ものが得られた。
上述の如くしてつくった部材を約200#の1・018
を約908117のエチレングリコールに入れ、種々の
濃度のHlP  を含有させた溶液で約55〜58℃の
温度でスゾレー食刻した。パーマロイ・ホトレジスト領
域では1001Bにより、ホトレジストによって保護さ
れていない所のパーマロイが除去され、その結果その境
界に真直な縁が得られた。
パーマロイ・埜タン・ホトレジスト領域では1・014
により同じくホトレジストで保護されていない所のパー
マaイが除去されたが、HIPがその境界の所に傾斜し
た縁を与える結果になった。傾斜度は食刻剤中に存在す
るHl の濃度に依存し、第5図の関係を与えた。図か
ら分るように、得られた曲線50は傾斜角とH1濃度と
の間に明確な逆比例的関係があることを示している。
本発明を特に好ましい具体例に関して図示し且つ記述し
てきたが、形及び細部では種々の変更を本発明の範囲か
ら外れることなく加えることができることは当業者には
分るであろう。従ってここに記載された方法は単に例示
されたものに過ぎないものと考えられるべきであり、本
発明は特許請求の範囲の記載によってのみ限定さるもの
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来法により教示された種々に傾斜した側壁の
形成を示す図である。第21図はホトレジストとチタン
の被覆を適用した領域を示す平面図である。第21図は
第2a図に示したような被覆模様が食刻後にパーマロイ
表面に与える効果の斜視図である。第5a図はパーマシ
イ層面にホシレジスFとチタンの被覆を適用した被覆模
様の平面図である。第3b図は第3a図の被覆模様が7
R−Yソイ層の食刻にどのような影響を与え、種々に傾
斜した側壁と同様真直な縁のl−ル先端部を形成するこ
とになるかを示した斜視図である。第4図は本発明の方
法により形作られたポール先端及び首の部分を示す薄膜
ヘッドを示す図である。第5図ハ2001ノア・01s
を908−のエチレングリコールに溶解したものからな
る食刻剤中のHlP 濃度の関数としてパーマロイ膜の
傾斜度を示したグラフである。 10.16・・・傾斜した縁、 11.17.25・・・真直な縁。 代理人 浅 村    皓 外4名

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  薄膜ヘッドのMi−Fe体上に真直な縁と同
    様種種の傾斜した縁を製造する方法において、ム、Ni
    −lFe体上の少なくとも種々の傾斜を示す領域にT1
    層を形成し、 B、  Ti層と)ii−F・体上にホトレジスジ層を
    形成し、 0、Ti層と 1li−ν・体の、食刻後薄膜ヘッドの
    一部として保持する必要のない領域のホトレジスジを除
    去し−1 D、薄膜ヘッドをH?と1・0111  を含有する食
    刻剤で食刻し、T1と ホトレジストで覆われたNi−
    7・体の領域に種々の傾斜縁、そしてMl−ν・体のホ
    トレジストだけに覆われた領域の境界に真直ぐな縁を形
    成する、諸工程からなる薄膜ヘッドに縁を形成する方法
  2. (2)  レジスジを工程り後に除資する前記第1項に
    記載の方法。
  3. (3)ν・O1s食m剤もエチレングリコールを含有す
    る前記第1項に記載の方法。
  4. (4)  真直ぐな縁が薄膜ヘッドのボール先端域を定
    める前記第1項に記載の方法〇
  5. (5) Ti層が約肌8〜0.1μmの厚さ迄形成され
    る前記第1項に記載の方法。
JP57142005A 1981-10-16 1982-08-16 薄膜ヘツド傾斜縁食刻形成法 Pending JPS5873012A (ja)

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US311968 1981-10-16

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FR (1) FR2514926A1 (ja)
GB (1) GB2107256B (ja)
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