JPS5873340A - 断層像撮像装置 - Google Patents
断層像撮像装置Info
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- JPS5873340A JPS5873340A JP56169993A JP16999381A JPS5873340A JP S5873340 A JPS5873340 A JP S5873340A JP 56169993 A JP56169993 A JP 56169993A JP 16999381 A JP16999381 A JP 16999381A JP S5873340 A JPS5873340 A JP S5873340A
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Links
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、扇状の発散Ｘ線束と多素子検出器を用い物体
の１断面の像を、その断面の各方向からの射影像を計測
し、再生する装置に関する。
の１断面の像を、その断面の各方向からの射影像を計測
し、再生する装置に関する。
周知のごとく、この扇状の発散Ｘ線束と多素子検出器を
用い射影像ｔ−ｆｔ＃Ｊする装置においては、多素子検
出系の各素子間に特性差があると環状の雑音が発生する
。そこで、通常、被検体計測以前て人体のＸ線吸収特性
に類似した水１あるいはアクリル、ポリエチレンなどの
一様な円板を視野内に置き、これを計測し計測Ｘ線強度
を補正データとする。その後この円板を取シ除き、被検
体を計測し、このＸ？ｓ強度のデータ全上述の補正デー
タで割る事により観測データ１に補正する。ところで、
このような補正方法は、腹部においては有効であるが被
検体が骨を多く含むような頭部においてはめまシ有効で
ない、この理由は骨のＸ線吸収特性と補正データ取得に
用いられる水、アクリル、ポリエチレンなどの物質との
Ｘ線吸収特性に差がある九めである。第１図に２０ ｋ
ｅｙ 〜ｌ Ｑ ＯｋｅＶＫおける４種類の物質のＸ線
吸収特性を示す。同図に示されるごとく骨（曲線■）の
Ｘ線吸収特性は水（曲線■）あるいはアクリル（曲線■
）ボリエｆＶ７ （曲線■）に比べ４Ｑ（ｋｅｙ） 〜
ｓ。
用い射影像ｔ−ｆｔ＃Ｊする装置においては、多素子検
出系の各素子間に特性差があると環状の雑音が発生する
。そこで、通常、被検体計測以前て人体のＸ線吸収特性
に類似した水１あるいはアクリル、ポリエチレンなどの
一様な円板を視野内に置き、これを計測し計測Ｘ線強度
を補正データとする。その後この円板を取シ除き、被検
体を計測し、このＸ？ｓ強度のデータ全上述の補正デー
タで割る事により観測データ１に補正する。ところで、
このような補正方法は、腹部においては有効であるが被
検体が骨を多く含むような頭部においてはめまシ有効で
ない、この理由は骨のＸ線吸収特性と補正データ取得に
用いられる水、アクリル、ポリエチレンなどの物質との
Ｘ線吸収特性に差がある九めである。第１図に２０ ｋ
ｅｙ 〜ｌ Ｑ ＯｋｅＶＫおける４種類の物質のＸ線
吸収特性を示す。同図に示されるごとく骨（曲線■）の
Ｘ線吸収特性は水（曲線■）あるいはアクリル（曲線■
）ボリエｆＶ７ （曲線■）に比べ４Ｑ（ｋｅｙ） 〜
ｓ。
（ｋｅｙ ）における入射Ｘ線エネルギーに対する変化
率が異なることがわかる。したがって、補正データ取り
込み時においては、被検体計測時と入射ＸＩＩｊ！強度
のみでなく、入射Ｘ線エネルギースペクトル金も合致さ
せなければならない。しかし、従来性なわれている方法
は、すべて入射Ｘ線強ｍｌについての補正のみであった
。
率が異なることがわかる。したがって、補正データ取り
込み時においては、被検体計測時と入射ＸＩＩｊ！強度
のみでなく、入射Ｘ線エネルギースペクトル金も合致さ
せなければならない。しかし、従来性なわれている方法
は、すべて入射Ｘ線強ｍｌについての補正のみであった
。
多素子検出器の感度差を補正する場合、被検体に骨を多
く含ひょうな頭部においては、通常用いられる補正物質
と骨とのＸ線吸収係数の入射Ｘ線エネルギー依存性のち
がいによシ補正が極めてむずかしい。
く含ひょうな頭部においては、通常用いられる補正物質
と骨とのＸ線吸収係数の入射Ｘ線エネルギー依存性のち
がいによシ補正が極めてむずかしい。
すなわち、通常用いられる補正物質では、検出器の入射
Ｘ線強度依存性を補正するのみで、入射Ｘ線エネルギー
スペクトル依存性を補正することはできない。
Ｘ線強度依存性を補正するのみで、入射Ｘ線エネルギー
スペクトル依存性を補正することはできない。
本発明においては、骨に近いＸ線吸収係数の入射Ｘ線エ
ネルギー依存性を持つ物質により補正データを得ること
によシ、入射Ｘ線エネルギースペクトルを補正データ取
り込み時と被検体計測時において合致させ、検出器の入
射Ｘ線エネルギースペクトル依存性をも補正し、頭部計
測における多素子検出器の感度差補正の精度向上を目的
としたものである。
ネルギー依存性を持つ物質により補正データを得ること
によシ、入射Ｘ線エネルギースペクトルを補正データ取
り込み時と被検体計測時において合致させ、検出器の入
射Ｘ線エネルギースペクトル依存性をも補正し、頭部計
測における多素子検出器の感度差補正の精度向上を目的
としたものである。
以下、本発明を実施例を参照して詳細に説明する。第２
図は本発明の一実施例を示す図であり、１はＸ線管球、
５はこれによるファン状のＸ線ビーム、２はＸ線ビーム
の扇の弧にそって配置され友多素子検出器である。２に
よって計測され友データはＡＤ変換器６によってＡＤ変
換され、メモリー７に格納され之後、計算機８により補
正演算をされ、再びメモリーに格納される。各角度の補
正後データから再び計算機８により像再生演算を行ない
結果金ディスプレイ９に表示する。本発明においては補
正データ取シ込み時に、第１図（ａ）で示されるごとく
、人体頭部と大きさの類似した、アクリル、水ｔｅはポ
リエチレンなどの円板状物体とともに４で示されるＸ線
吸収係数の入射Ｘ線エネルギーに対する４ ０ （ｋｅ
ｙ） 〜８０ （ｋｅｙ）における変化率の絶対値がア
クリルより大きい物質（例えばチタン、塩化カルシウム
）を透過したデータを補正データとレーＣメモリー７に
取り込む。
図は本発明の一実施例を示す図であり、１はＸ線管球、
５はこれによるファン状のＸ線ビーム、２はＸ線ビーム
の扇の弧にそって配置され友多素子検出器である。２に
よって計測され友データはＡＤ変換器６によってＡＤ変
換され、メモリー７に格納され之後、計算機８により補
正演算をされ、再びメモリーに格納される。各角度の補
正後データから再び計算機８により像再生演算を行ない
結果金ディスプレイ９に表示する。本発明においては補
正データ取シ込み時に、第１図（ａ）で示されるごとく
、人体頭部と大きさの類似した、アクリル、水ｔｅはポ
リエチレンなどの円板状物体とともに４で示されるＸ線
吸収係数の入射Ｘ線エネルギーに対する４ ０ （ｋｅ
ｙ） 〜８０ （ｋｅｙ）における変化率の絶対値がア
クリルより大きい物質（例えばチタン、塩化カルシウム
）を透過したデータを補正データとレーＣメモリー７に
取り込む。
次にａｌ１図（ｂ）に示されるごとく、被検体６を計測
しこのデータを前述の補正データで計算機８を用いて割
ることにより補正を行ない、補正後データをメモリー７
に格納する０このようにして電波検体が骨を多く含む頭
部計測時においてデータ補正の効果をより高めることが
できる。
しこのデータを前述の補正データで計算機８を用いて割
ることにより補正を行ない、補正後データをメモリー７
に格納する０このようにして電波検体が骨を多く含む頭
部計測時においてデータ補正の効果をより高めることが
できる。
第１図は骨、水、アクリル、ポリエチＶ／のＸ線吸収係
数の入射Ｘ線エネルギー依存性、 ｆＩＩ２因は本発明
の一実施例の構成を示す図、第３図は補正データ嘔シ込
み時とデータ計測時の装置の概略葛１図 入ＨＸむ（エネルキ゛−
数の入射Ｘ線エネルギー依存性、 ｆＩＩ２因は本発明
の一実施例の構成を示す図、第３図は補正データ嘔シ込
み時とデータ計測時の装置の概略葛１図 入ＨＸむ（エネルキ゛−
Claims (1)
- １、被検体の射影像を多方面から計測し、断層像を撮像
する装置において、被検体計測に先だってＸｌ１Ｉ吸収
係数の入射Ｘ線エネルギー依存性を表−ｂｆ曲線の４０
ｋｅｖ〜８ Ｑ ｋｅｙにおける入射Ｘ線エネルギー
に対するＸ線吸収係数の平均変化率の絶対傭がアクリル
のそれより大きな物質をＸ線源、検出器間に設置し、こ
の物質を透過しｔＸ線による検出器出力をデータとして
計測しておき、被検体計測時にはこの物質を取り去って
計測し、この被検体計測データを上述の物質計測データ
を用いて補正することを特徴とする断層像撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56169993A JPS5873340A (ja) | 1981-10-26 | 1981-10-26 | 断層像撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56169993A JPS5873340A (ja) | 1981-10-26 | 1981-10-26 | 断層像撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5873340A true JPS5873340A (ja) | 1983-05-02 |
Family
ID=15896598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56169993A Pending JPS5873340A (ja) | 1981-10-26 | 1981-10-26 | 断層像撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5873340A (ja) |
-
1981
- 1981-10-26 JP JP56169993A patent/JPS5873340A/ja active Pending
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