JPS60181640A - 工業用放射線断層撮影方法 - Google Patents
工業用放射線断層撮影方法Info
- Publication number
- JPS60181640A JPS60181640A JP59037458A JP3745884A JPS60181640A JP S60181640 A JPS60181640 A JP S60181640A JP 59037458 A JP59037458 A JP 59037458A JP 3745884 A JP3745884 A JP 3745884A JP S60181640 A JPS60181640 A JP S60181640A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- sample
- tomography
- image
- iron
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は放射線を用いた、工業用を目的とした断層撮
影方法に関するものである。
影方法に関するものである。
（従来技術）
最近、放射１ｔ＃（Ｘ線など）を用いた断層撮影法（Ｃ
Ｔ 、 Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｚｅｄ Ｔｏ、ｍｏｇｒａ
ｐｈｙ）が有−及し、該装置が病院などに投餌され、医
療に多大の貢献をしている。この方法は、Ｘ線やｒｆｕ
などの放射線を、工業用の対象試料に、多方向から照射
し、透過放射線量をそれぞれ検出して電算機に結果を送
シ込み、電算機処理して、該試料の断層写真を撮影する
方法である。また、この方法は従来できなかった外部か
らの人体内部！！祭を可能にしておシ、医療には不可欠
の装置となっていて頭部専用。
Ｔ 、 Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｚｅｄ Ｔｏ、ｍｏｇｒａ
ｐｈｙ）が有−及し、該装置が病院などに投餌され、医
療に多大の貢献をしている。この方法は、Ｘ線やｒｆｕ
などの放射線を、工業用の対象試料に、多方向から照射
し、透過放射線量をそれぞれ検出して電算機に結果を送
シ込み、電算機処理して、該試料の断層写真を撮影する
方法である。また、この方法は従来できなかった外部か
らの人体内部！！祭を可能にしておシ、医療には不可欠
の装置となっていて頭部専用。
全身用などの人体専用装置が市販されているが、一般工
業用目的においては余端や金属化合物など、人体撮影に
使用しているようなエネルギーの弱いＸ線では透過しな
い試料が対象となる場合が多くて、現在はとんど開発さ
れていない。それに代って産業においてはＸ線やγ線な
どの放射線による透過試験がよ〈実施されている。しか
し、この方法は人体胸部撮影のように放射線源を対象の
前におき、対象の後にフィルムをおいて撮影するので、
断面像はとれない。
業用目的においては余端や金属化合物など、人体撮影に
使用しているようなエネルギーの弱いＸ線では透過しな
い試料が対象となる場合が多くて、現在はとんど開発さ
れていない。それに代って産業においてはＸ線やγ線な
どの放射線による透過試験がよ〈実施されている。しか
し、この方法は人体胸部撮影のように放射線源を対象の
前におき、対象の後にフィルムをおいて撮影するので、
断面像はとれない。
しかし、ごく最近になって金属や金屑化合物の内部を非
破壊、非接触で観察１分析したいという要望が高まシ、
工学用の放射線断層撮影装置が希望され、例えば特開昭
５７−６７８４６号、同５７−７６４４３号等の発明が
開示されている。この方法は非破壊、非接触状態、しか
も短時間で観察分析を行うことができるという利点があ
る。
破壊、非接触で観察１分析したいという要望が高まシ、
工学用の放射線断層撮影装置が希望され、例えば特開昭
５７−６７８４６号、同５７−７６４４３号等の発明が
開示されている。この方法は非破壊、非接触状態、しか
も短時間で観察分析を行うことができるという利点があ
る。
しかし放射線断層撮影法を用いて、放射線の透過性の悪
い試料を撮影する場合、偽像（一般にアーチファクトと
いわれておシ放射線状が多い）が現われて断層写真を不
鮮明化するという問題点がある。この偽像は後述する断
層撮影法の像再構成の行い方に起因するものである。こ
の偽像は、試料にはなく、断層写真において一定形状（
％に直線状が多い）をもって現われ、多く出現する場合
には真の像が全く隠れて見えなくなる場合もある。
い試料を撮影する場合、偽像（一般にアーチファクトと
いわれておシ放射線状が多い）が現われて断層写真を不
鮮明化するという問題点がある。この偽像は後述する断
層撮影法の像再構成の行い方に起因するものである。こ
の偽像は、試料にはなく、断層写真において一定形状（
％に直線状が多い）をもって現われ、多く出現する場合
には真の像が全く隠れて見えなくなる場合もある。
偽像は上記のように像再構成の方法に起因するので、突
起部が多い試料や、放射６１Ｍ過性の程度が違いすぎる
部分が多い試料に多く発生する。々お、放射ｆｆＲ断層
撮像方法においてはＣＴ値として放射線透過性の程度を
示すのが一般的であシ、次式で示される。
起部が多い試料や、放射６１Ｍ過性の程度が違いすぎる
部分が多い試料に多く発生する。々お、放射ｆｆＲ断層
撮像方法においてはＣＴ値として放射線透過性の程度を
示すのが一般的であシ、次式で示される。
とべでμ８は試料の対象部位のＸ線の吸収係数、μ７は
水のＸ線の吸収係数、Ｋは常Ｖで通常■（は１０００、
水のＣＴ値は０１空気のＣＴ値は−１０００である。
水のＸ線の吸収係数、Ｋは常Ｖで通常■（は１０００、
水のＣＴ値は０１空気のＣＴ値は−１０００である。
医療用放射線断層撮影装置の対象である人体はそもそも
ＣＴ値は小さく、比較的高い骨でもＣＴ値は＋１０００
でありまた全体に丸味を帯びており突起部は少い。これ
に反して各種工業用試料の放射線断層撮影の場合の試料
はＣＴ値が高く、例えば鉄の場合＋７０００ 、アルミ
ニウムで＋２５ｏＯ位であシ、シかも角状など突起物が
あることが多い。
ＣＴ値は小さく、比較的高い骨でもＣＴ値は＋１０００
でありまた全体に丸味を帯びており突起部は少い。これ
に反して各種工業用試料の放射線断層撮影の場合の試料
はＣＴ値が高く、例えば鉄の場合＋７０００ 、アルミ
ニウムで＋２５ｏＯ位であシ、シかも角状など突起物が
あることが多い。
従って偽像が発生する機会が極めて多い。そもそも工業
的目的において放射線による断層撮影を行う目的は、そ
の内部の解析にあシ、儀像の発生が多くなると、その目
的を達成することができないので、この問題は非常に重
要である。ところが従来、工業用の目的に使用される放
射線断層撮影方法において適確な偽像防止対策を図った
ものは未だ提案されていない。
的目的において放射線による断層撮影を行う目的は、そ
の内部の解析にあシ、儀像の発生が多くなると、その目
的を達成することができないので、この問題は非常に重
要である。ところが従来、工業用の目的に使用される放
射線断層撮影方法において適確な偽像防止対策を図った
ものは未だ提案されていない。
（発明の目的）
本発明は、工業用を目的とした放射線による断層撮影方
法において偽像の発生を防止することを目的とするもの
である。
法において偽像の発生を防止することを目的とするもの
である。
（発明の構成、作用）
すなわち本発明は、試料の周辺に、該試料と放射線吸収
の程度が近い物ｙ４．を配置して断層撮影を行うことを
植゛徴とするものである。以下図面により本発明の詳細
な説明する。第１図（ａ）は本発明方法によって撮影し
ようとする試料の平面図、第１図中）は第１図（ａ）の
ＡＡ線による縦断側面図で１は試料で、ガラス等の容器
３内に試験体２を収容し、その周囲に試験体２と放射線
透過性が同一またげはは等しい物質の粉末４を充填して
形成される。
の程度が近い物ｙ４．を配置して断層撮影を行うことを
植゛徴とするものである。以下図面により本発明の詳細
な説明する。第１図（ａ）は本発明方法によって撮影し
ようとする試料の平面図、第１図中）は第１図（ａ）の
ＡＡ線による縦断側面図で１は試料で、ガラス等の容器
３内に試験体２を収容し、その周囲に試験体２と放射線
透過性が同一またげはは等しい物質の粉末４を充填して
形成される。
例えば試験体２が鉄塊の場合には鉄粉を使用するが、放
射線透過性の程度が鉄と近いニッケルあるいはクロムで
もよい。またこの試料１は断層撮影の際、回動させるの
で試験体２が動かないようにすることが必要で’） Ｅ
ｌ 、そのため、試験体２を粉末４と一体のまま樹脂で
固めてもよい（この場合は容器は必要がない）。また試
験体と同種の物質の板に試験体が嵌合する凹陥部を設け
、試験体を嵌込んでもよく、さらにはビニール袋等に試
験体と同種の物質の粉末を入れ、この袋を試験体の周囲
に巻付けてもよい。
射線透過性の程度が鉄と近いニッケルあるいはクロムで
もよい。またこの試料１は断層撮影の際、回動させるの
で試験体２が動かないようにすることが必要で’） Ｅ
ｌ 、そのため、試験体２を粉末４と一体のまま樹脂で
固めてもよい（この場合は容器は必要がない）。また試
験体と同種の物質の板に試験体が嵌合する凹陥部を設け
、試験体を嵌込んでもよく、さらにはビニール袋等に試
験体と同種の物質の粉末を入れ、この袋を試験体の周囲
に巻付けてもよい。
第２図は本発明方法による断層撮影、の原理を示すもの
で放射線照射装Ｍ８から試料１に対して放射線ビーム１
１を放射し、試料１を透過し減衰した放射線を放射線検
出器９によシ検出する。すなわち試料１の断面５の断層
写真を撮影するには、走査始点７．７から断面５を含む
走査面６に沿って放射線照射装置８と放射線検出器９を
一対として移動させ、移動中に試料１を透過した放射線
量を連続的に検出する。なおこのとき放射線照射装Ｗ８
としては例えば４２０ＫＶの高圧Ｘ＃を直径０゜器とし
てはＢＧＯ（ＢｉとＧｅの酸化物）等を使用する。第３
図は本発明方法の実例を示すもので放射線検出器９の検
出値ａおよび放射線照射装置８から放射される放射線量
を直接検出する放射線検出器１０の検出値すとは増幅器
１２およびアナログディジタル変換器１３を経てコンビ
ーータ１４のバッファメモリー１５に入力され、検出値
ａとｂとの比が第２図に示す走査始点７から放射線検出
器９の移動距離と対応して記録される。すなわち走査方
向に沿った透過放射線の強度分布が記憶される。バッフ
ァメモリー１５に記憶された信号は中央処理装置１６に
おいて試料１０は５１面５に逆投影されるように演算処
理される。例えば第４図（ａ）に示すように検出された
強１ｆｆ、Ｉは走査方向Ｓに対してｒＭ角方向に沿い断
面５上に強度工に比例して一様に配分される。との配分
された値は画像が再構成されたときの画像の製法を表わ
すものでディスプレイ装置２２に表示される。
で放射線照射装Ｍ８から試料１に対して放射線ビーム１
１を放射し、試料１を透過し減衰した放射線を放射線検
出器９によシ検出する。すなわち試料１の断面５の断層
写真を撮影するには、走査始点７．７から断面５を含む
走査面６に沿って放射線照射装置８と放射線検出器９を
一対として移動させ、移動中に試料１を透過した放射線
量を連続的に検出する。なおこのとき放射線照射装Ｗ８
としては例えば４２０ＫＶの高圧Ｘ＃を直径０゜器とし
てはＢＧＯ（ＢｉとＧｅの酸化物）等を使用する。第３
図は本発明方法の実例を示すもので放射線検出器９の検
出値ａおよび放射線照射装置８から放射される放射線量
を直接検出する放射線検出器１０の検出値すとは増幅器
１２およびアナログディジタル変換器１３を経てコンビ
ーータ１４のバッファメモリー１５に入力され、検出値
ａとｂとの比が第２図に示す走査始点７から放射線検出
器９の移動距離と対応して記録される。すなわち走査方
向に沿った透過放射線の強度分布が記憶される。バッフ
ァメモリー１５に記憶された信号は中央処理装置１６に
おいて試料１０は５１面５に逆投影されるように演算処
理される。例えば第４図（ａ）に示すように検出された
強１ｆｆ、Ｉは走査方向Ｓに対してｒＭ角方向に沿い断
面５上に強度工に比例して一様に配分される。との配分
された値は画像が再構成されたときの画像の製法を表わ
すものでディスプレイ装置２２に表示される。
このようにして断面５について１回目の走査が終了する
と放射線照射装置８と放射線検出器９を断面５０面で試
料１を中心に回動し、試料１に対し再び前記の放射線の
走査を行う。以俊この操作を繰返し、第４図（ａ） （
ｂ） （ｃ）に示すような逆投影像を得る。さらにこれ
らの逆投影像を中央処理装ｆｉ１６において演算処理に
よし重ね合わせ、王メモＩＪ１８に記憶する。ｌね合わ
されて再構成された像を第５図に模式的に示す。試料１
の断面５において放射線透過性が異る他成分が存在する
と、その位置に他成分像Ｇが生ずる。走査回数は少くと
も３回以上が必要であシ、鮮明な像を得るためには３０
回以上の走査を行うことが望ましい。画像は例えば５１
２ Ｘ ５１２の画素によ多構成され、それぞれの画素
は計算された透過放射線歇の多少に比例したグレイスケ
ールで表示される。また主メモリ１８には二次元配置の
番地にそれぞれの＠地（ｆｃ対応する画素が記憶される
。なお１画素と試料１の断面との対応は例えば０．１
ｔａｎ Ｘ ０．１ ｔｏである。主メモリ１８に記憶
された画像は読出装置１９により読出されディジタル・
アナログ変換器２０によりアナログ信号に変換され、さ
らに増幅器２１を経てディスプレイ装置２２に表示され
る。なおコンピュータ１４における演舞処理はプログラ
ムストア１７から読出されたプログラムに従って実行さ
れる。
と放射線照射装置８と放射線検出器９を断面５０面で試
料１を中心に回動し、試料１に対し再び前記の放射線の
走査を行う。以俊この操作を繰返し、第４図（ａ） （
ｂ） （ｃ）に示すような逆投影像を得る。さらにこれ
らの逆投影像を中央処理装ｆｉ１６において演算処理に
よし重ね合わせ、王メモＩＪ１８に記憶する。ｌね合わ
されて再構成された像を第５図に模式的に示す。試料１
の断面５において放射線透過性が異る他成分が存在する
と、その位置に他成分像Ｇが生ずる。走査回数は少くと
も３回以上が必要であシ、鮮明な像を得るためには３０
回以上の走査を行うことが望ましい。画像は例えば５１
２ Ｘ ５１２の画素によ多構成され、それぞれの画素
は計算された透過放射線歇の多少に比例したグレイスケ
ールで表示される。また主メモリ１８には二次元配置の
番地にそれぞれの＠地（ｆｃ対応する画素が記憶される
。なお１画素と試料１の断面との対応は例えば０．１
ｔａｎ Ｘ ０．１ ｔｏである。主メモリ１８に記憶
された画像は読出装置１９により読出されディジタル・
アナログ変換器２０によりアナログ信号に変換され、さ
らに増幅器２１を経てディスプレイ装置２２に表示され
る。なおコンピュータ１４における演舞処理はプログラ
ムストア１７から読出されたプログラムに従って実行さ
れる。
次にディスプレイ装博°２２に表示された画像を撮影し
、撮影された画像を公知の画像解析装置に入れ、各画素
毎の放射線透過量を例えば１６段階にレベル分けし、試
料のマトリックスに相当する放射線透過量をもつ画素と
、目的とする成分（２つ以上でもよい）に相当する放射
線透過量をもつ画素とに分け、それぞれの画素を数える
。このとき目的とする成分の分析は目的とする成分に相
当するＸ線透過−計をもつ画素数と、画素総数の比（面
積率になる）に基いて行う。
、撮影された画像を公知の画像解析装置に入れ、各画素
毎の放射線透過量を例えば１６段階にレベル分けし、試
料のマトリックスに相当する放射線透過量をもつ画素と
、目的とする成分（２つ以上でもよい）に相当する放射
線透過量をもつ画素とに分け、それぞれの画素を数える
。このとき目的とする成分の分析は目的とする成分に相
当するＸ線透過−計をもつ画素数と、画素総数の比（面
積率になる）に基いて行う。
なお試料の断層の撮影に際しては、上記の説明の他、放
射線ビームを狭いファン状にし、複数の検出器を用いて
放射線透過量を測定したシ、あるいは広いファン状放射
線と３００個以上の多数の検出器列を組合せ、回転運動
のみで試料に放射線を走査する方法、さらには６００個
以上の多数個の検出器を全円周に並べ、放射線のみを回
転させる方法等、任意の方法を使用することができ、こ
れらは何れも本発明の範囲に含まれるものである。
射線ビームを狭いファン状にし、複数の検出器を用いて
放射線透過量を測定したシ、あるいは広いファン状放射
線と３００個以上の多数の検出器列を組合せ、回転運動
のみで試料に放射線を走査する方法、さらには６００個
以上の多数個の検出器を全円周に並べ、放射線のみを回
転させる方法等、任意の方法を使用することができ、こ
れらは何れも本発明の範囲に含まれるものである。
（実施例）
次に本発明の実施例を示す。
試料として鉄塊（１５１ｗｍＸ ２０＋ｍＸ ４０ｍｓ
）をガラス容器（外径５０勧内径４８ｗｎ高さ５０
ｍ ）に収容し、その周囲に純鉄粉末（１００メツシー
）を充填した。放射線照射装置として高圧Ｘ紳断層撮影
装置（Ｘ線源４２０ＫＶ、３ｍＡ）を用い、放射線検出
器としてＢＧＯを用いた。試料を６°回転させ、その都
度Ｘ線走査を行い３１回実施した。スライス幅は０．５
ｔｔｒｍ 、所要時間は１０分、ディスプレイ装置の
画素数は２４０ Ｘ ２４０ 、空間分解能は０、２
ｍであった。撮影した写真の模擬図を第７図に示す。こ
の結果から明らかなように本発明方法によれば偽像は見
られず鮮明な断層写真が得られ、内部解析を正確に行う
ことができた。なお試料内の黒点部分は試料内に介在す
る酸化物である。因みに第６図は、上記の場合と同様の
装置を用い偽像対策を行わず立方体状の鉄塊の断層を観
察しだ例を示すもので、四隅から多数の線状の偽像が現
われ内部観察が妨けられることがわかる。
）をガラス容器（外径５０勧内径４８ｗｎ高さ５０
ｍ ）に収容し、その周囲に純鉄粉末（１００メツシー
）を充填した。放射線照射装置として高圧Ｘ紳断層撮影
装置（Ｘ線源４２０ＫＶ、３ｍＡ）を用い、放射線検出
器としてＢＧＯを用いた。試料を６°回転させ、その都
度Ｘ線走査を行い３１回実施した。スライス幅は０．５
ｔｔｒｍ 、所要時間は１０分、ディスプレイ装置の
画素数は２４０ Ｘ ２４０ 、空間分解能は０、２
ｍであった。撮影した写真の模擬図を第７図に示す。こ
の結果から明らかなように本発明方法によれば偽像は見
られず鮮明な断層写真が得られ、内部解析を正確に行う
ことができた。なお試料内の黒点部分は試料内に介在す
る酸化物である。因みに第６図は、上記の場合と同様の
装置を用い偽像対策を行わず立方体状の鉄塊の断層を観
察しだ例を示すもので、四隅から多数の線状の偽像が現
われ内部観察が妨けられることがわかる。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は偽像の発生がなく鮮明な断
層撮影を行うことができ、その効果は大きい０
層撮影を行うことができ、その効果は大きい０
第１図（ａ）は本発明方法に用いる試料の平面図、第１
図（ｂ）は第１図（ａ）におけるＡＡ線による縦断１！
１面図、第２図は本発明方法の原μ）！を示す説明図、
第３図は本発明方法の実例を示す説、明図、第４図は本
発明方法における画像の再構成法の一例を示す説明図、
第５図は第４図に示す再構成法によって画像が構成され
る摩理を示す説明図、第６図は従来法による断層撮影の
実例を示す図、第７図は本発明方法によシ撮影した断層
写真を模擬した図である。 １：試別 ２：試験体 ３：容器 ４：粉末５：断面
６：走査面 ７：走査始点 ８：放射線照射装置 ９：
放射線検出器 １０：放射線検出Ｒｉ：１１：放射線ビ
ーム １２：増幅器 １３：アナログ・ディジタル変換
器 １４：コンピュータ １５：バッファメモリー １
６：中央処理装Ｐ１ １７：プログラムストア １８：
主メモリ１９：読出装置 ２０：ディジタルアナログ変
換器 ２１：増幅器 ２２：ディスプレイ装置第１図 （ｄ） 第２図 第３図 第４図
図（ｂ）は第１図（ａ）におけるＡＡ線による縦断１！
１面図、第２図は本発明方法の原μ）！を示す説明図、
第３図は本発明方法の実例を示す説、明図、第４図は本
発明方法における画像の再構成法の一例を示す説明図、
第５図は第４図に示す再構成法によって画像が構成され
る摩理を示す説明図、第６図は従来法による断層撮影の
実例を示す図、第７図は本発明方法によシ撮影した断層
写真を模擬した図である。 １：試別 ２：試験体 ３：容器 ４：粉末５：断面
６：走査面 ７：走査始点 ８：放射線照射装置 ９：
放射線検出器 １０：放射線検出Ｒｉ：１１：放射線ビ
ーム １２：増幅器 １３：アナログ・ディジタル変換
器 １４：コンピュータ １５：バッファメモリー １
６：中央処理装Ｐ１ １７：プログラムストア １８：
主メモリ１９：読出装置 ２０：ディジタルアナログ変
換器 ２１：増幅器 ２２：ディスプレイ装置第１図 （ｄ） 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- 放射線を用いた、工業用を目的とした断層撮影方法にお
いて、対象試料と放射線透過性の程度が近い物質を、該
試料周辺に配置することを特徴とする工業用放射線断層
撮影方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037458A JPS60181640A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 工業用放射線断層撮影方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037458A JPS60181640A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 工業用放射線断層撮影方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60181640A true JPS60181640A (ja) | 1985-09-17 |
Family
ID=12498077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59037458A Pending JPS60181640A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 工業用放射線断層撮影方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60181640A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0588664A3 (en) * | 1992-09-18 | 1995-09-13 | Halliburton Co | Sample core stabilization |
| JP2008119020A (ja) * | 2006-11-08 | 2008-05-29 | Rigaku Corp | 検出値較正方法、ｘ線ｃｔ装置、較正用ファントムおよび保持具 |
| US9706973B2 (en) | 2012-08-30 | 2017-07-18 | Toshiba Medical Systems Corporation | Medical image processing apparatus and X-ray computed tomography apparatus |
| US12510495B2 (en) | 2022-12-14 | 2025-12-30 | Rolls-Royce Plc | Method of scanning a component embedded in a granular material using computed tomography |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5547841A (en) * | 1978-09-30 | 1980-04-05 | Shimadzu Corp | Computer tomograph camera |
| JPS5589736A (en) * | 1973-06-05 | 1980-07-07 | Emi Ltd | Object checker using transmissive radioactive beam |
| JPS5776442A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-13 | Nippon Steel Corp | Testing apparatus of transmission ofradiant ray |
| JPS5776444A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-13 | Nippon Steel Corp | Testing method for refractories |
| JPS5776443A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-13 | Nippon Steel Corp | Testing method for transmission od radiant ray of metallic material |
| JPS59221643A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-13 | Toshiba Corp | セラミツクス物品の検査法 |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP59037458A patent/JPS60181640A/ja active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5589736A (en) * | 1973-06-05 | 1980-07-07 | Emi Ltd | Object checker using transmissive radioactive beam |
| JPS5547841A (en) * | 1978-09-30 | 1980-04-05 | Shimadzu Corp | Computer tomograph camera |
| JPS5776442A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-13 | Nippon Steel Corp | Testing apparatus of transmission ofradiant ray |
| JPS5776444A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-13 | Nippon Steel Corp | Testing method for refractories |
| JPS5776443A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-13 | Nippon Steel Corp | Testing method for transmission od radiant ray of metallic material |
| JPS59221643A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-13 | Toshiba Corp | セラミツクス物品の検査法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0588664A3 (en) * | 1992-09-18 | 1995-09-13 | Halliburton Co | Sample core stabilization |
| JP2008119020A (ja) * | 2006-11-08 | 2008-05-29 | Rigaku Corp | 検出値較正方法、ｘ線ｃｔ装置、較正用ファントムおよび保持具 |
| US9706973B2 (en) | 2012-08-30 | 2017-07-18 | Toshiba Medical Systems Corporation | Medical image processing apparatus and X-ray computed tomography apparatus |
| US12510495B2 (en) | 2022-12-14 | 2025-12-30 | Rolls-Royce Plc | Method of scanning a component embedded in a granular material using computed tomography |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5221394B2 (ja) | ラドンデータから画像関数を再構成する方法 | |
| CN101489486B (zh) | 基于散射辐射分数的x-射线探测器增益校准 | |
| US7372935B2 (en) | Method for minimizing image artifacts and medical imaging system | |
| US6435714B1 (en) | X-ray diagnostic device | |
| US7561659B2 (en) | Method for reconstructing a local high resolution X-ray CT image and apparatus for reconstructing a local high resolution X-ray CT image | |
| US7526065B2 (en) | Volumetric X-ray imaging system with automatic image resolution enhancement | |
| CN103096802B (zh) | X射线ct装置 | |
| US7961927B2 (en) | Optimal conversion of 3D image sets between different spaces | |
| JPH02109546A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置を用いた診断装置 | |
| CN100466979C (zh) | 具按系统角拍摄系统的断层造影设备和确定系统角的方法 | |
| JP3897925B2 (ja) | コーンビームｃｔ装置 | |
| Goodenough et al. | Development of a phantom for evaluation and assurance of image quality in CT scanning | |
| RU93032495A (ru) | Вычислительный томограф | |
| JPS60181640A (ja) | 工業用放射線断層撮影方法 | |
| JPH1164248A (ja) | 内容物識別装置および内容物識別方法 | |
| JPH08168487A (ja) | Ｘ線断層像撮像方法および装置 | |
| US20090060124A1 (en) | Energy resolved computer tomography | |
| JPS60181639A (ja) | 放射線による産業用試料の断層撮影方法 | |
| JP2008519975A (ja) | エネルギー分解コンピュータ断層撮影 | |
| Cacak et al. | Performance evaluation of a fourth-generation computed tomography (CT) scanner | |
| Araghian et al. | Implementation of the neutron computed tomography by means of Filtered-back Projection algorithm in Tehran Research Reactor | |
| JPS58161853A (ja) | 管の放射線透過試験方法 | |
| JPH1128203A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPS61226022A (ja) | 画像処理装置 | |
| Baba et al. | Ellipsoid scan: chest cone-beam CT with a large ellipsoidal view field using a 16-in. x-ray image intensifier |