JPS587545A - 分析装置 - Google Patents
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- JPS587545A JPS587545A JP56105647A JP10564781A JPS587545A JP S587545 A JPS587545 A JP S587545A JP 56105647 A JP56105647 A JP 56105647A JP 10564781 A JP10564781 A JP 10564781A JP S587545 A JPS587545 A JP S587545A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
-
- G—PHYSICS
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、分析装置に関し、特に光学フィルタを機械的
に交換する必要がない光電比色分析装置の受!msに関
するものである。
に交換する必要がない光電比色分析装置の受!msに関
するものである。
従来の光電゛比色分析wi筺の概要を第1図に基づいて
説明すると、スネークチェンlによって運ばレタサンプ
ル容器コは、A地点においてサンプル分注器Jによりノ
ズルダを介してサンプル容11コ内のサンプルが吸引さ
れ、その吸引されたサンプルは、サンプル分注器Jから
反応容器!に移される。反応容−jは順次搬送され、B
、0地点で試薬分注6a 、 tにより@/およびI!
λ試mt+デが分注されサンプルに反応する。反応容1
1jがD点に達したとき、このD点で、光学フィルタ装
着円板ノ0、光学フィルタ装着円板駆動用ステッピング
モータl/、光源12および受光素子13からなる比色
計l参によO反応容器内の反応液を所定波長1゜で比色
測定するようにしている。
説明すると、スネークチェンlによって運ばレタサンプ
ル容器コは、A地点においてサンプル分注器Jによりノ
ズルダを介してサンプル容11コ内のサンプルが吸引さ
れ、その吸引されたサンプルは、サンプル分注器Jから
反応容器!に移される。反応容−jは順次搬送され、B
、0地点で試薬分注6a 、 tにより@/およびI!
λ試mt+デが分注されサンプルに反応する。反応容1
1jがD点に達したとき、このD点で、光学フィルタ装
着円板ノ0、光学フィルタ装着円板駆動用ステッピング
モータl/、光源12および受光素子13からなる比色
計l参によO反応容器内の反応液を所定波長1゜で比色
測定するようにしている。
比色濶定にあたり、多項目灘電を行なう・ときは通常量
の測定項目に最適な分光特性の光学フイ〃りを通電する
ようにしており、そのために光学フィル#装着円板10
には、その円周に沿って1ν輸・・・・1nの寵歇萩長
のフィルタrts着し、ステッピングモータl/により
光学フィル#装着円板な回転駆動して任意の波長フィル
タを選択していた。
の測定項目に最適な分光特性の光学フイ〃りを通電する
ようにしており、そのために光学フィル#装着円板10
には、その円周に沿って1ν輸・・・・1nの寵歇萩長
のフィルタrts着し、ステッピングモータl/により
光学フィル#装着円板な回転駆動して任意の波長フィル
タを選択していた。
上述の如き光学フィルタを機械的に選択するようにした
充電比色針の一点は、つぎのとおりである0 (1)光学フィルタの切り換えは、1IIIlli的駆
動機構によっているので、駆動時間が必要であり、実際
に測定する時間にその駆動時間が加わるため、処理時間
が長くなる。
充電比色針の一点は、つぎのとおりである0 (1)光学フィルタの切り換えは、1IIIlli的駆
動機構によっているので、駆動時間が必要であり、実際
に測定する時間にその駆動時間が加わるため、処理時間
が長くなる。
(2)光学フィルタの切り換えに駆動機構を必要とする
ので大型となる0 (8) 2波長測定の場合、切り換え時間が、単波長
測定の場合の2倍必要である。
ので大型となる0 (8) 2波長測定の場合、切り換え時間が、単波長
測定の場合の2倍必要である。
(4)光学フィルタは、光路上に確実に挿入させる必要
があるので、光学フィルタ切換駆動機構として高精度の
ものが要求される。
があるので、光学フィルタ切換駆動機構として高精度の
ものが要求される。
(6) 上記(4)の位置決めを確実にするため、光
学フィルタの径に余裕を持たせる必要があり、そのため
光学フィルタ装着円板に装着できる光学フィルタの枚数
に限度がある。
学フィルタの径に余裕を持たせる必要があり、そのため
光学フィルタ装着円板に装着できる光学フィルタの枚数
に限度がある。
本発明は、上述のIlgき一点を解消すべく、光学供し
ようとするものであって、被溜室物に光束を照射し、そ
の透過光もしくは反射光を受光素子により受光し、その
出力を演算処理して藷果を出力する分析装置において、
平面的に配列した分光特性の興なる複数の光学フィルタ
のそれぞれに対し、受光素子と静電誘導トランジスタと
により構成したI[Wkの光電変換素子の各受光面を密
着して対向させてなるイメージセンサによって、前記透
過光もしく番i反射党を受光し、測定項目に応じて所望
の前記光学フィルタに対応する前記光電変換孝子e選択
し、その選択された光電変換素子より光電変換出力信号
を得ることを特徴とするものである。
ようとするものであって、被溜室物に光束を照射し、そ
の透過光もしくは反射光を受光素子により受光し、その
出力を演算処理して藷果を出力する分析装置において、
平面的に配列した分光特性の興なる複数の光学フィルタ
のそれぞれに対し、受光素子と静電誘導トランジスタと
により構成したI[Wkの光電変換素子の各受光面を密
着して対向させてなるイメージセンサによって、前記透
過光もしく番i反射党を受光し、測定項目に応じて所望
の前記光学フィルタに対応する前記光電変換孝子e選択
し、その選択された光電変換素子より光電変換出力信号
を得ることを特徴とするものである。
以下WJ面に基づいて本発明を詳記する。
第2図は、本発明におけるイメージセンtの構成の一例
を示す実施例であり、ム図は光入射側からみた平面図、
B図はそのa −a’線における晰−図である。
を示す実施例であり、ム図は光入射側からみた平面図、
B図はそのa −a’線における晰−図である。
光入射側は、分光特性が異なる多種鎖の短ざ〈状光学フ
ィルタλ0.λ8・・・・1nを―lIさせて平面状に
配列しである0その背面には、1個もしくは慣数個の受
光素子と静電誘導トランジスタにより構成した光電変換
素子(以下単にj8I?素子」という)D工、D2・・
・・Dnが、短ざく状光学フィルタλ、。
ィルタλ0.λ8・・・・1nを―lIさせて平面状に
配列しである0その背面には、1個もしくは慣数個の受
光素子と静電誘導トランジスタにより構成した光電変換
素子(以下単にj8I?素子」という)D工、D2・・
・・Dnが、短ざく状光学フィルタλ、。
1□・・・・稲ニ沿い、かつ受光面を対117ぎせて密
着させである。すなわち、前記BIT嵩子D工りDよ・
・・・鮎のそれぞれは、前記短ざく状光学フィルタ幅の
整数倍にほば等しい一辺を有し、このようなりIT素子
列の受光面に、短ざく状光学フィルタをその幅方向が一
致するように貼り合わせた構成となっている。なお、l
jはBIT素子D工りD2・・・・Dnを形成した半導
体基板である◇ 前記SIT嵩子D工りD2・・・・Dnは、正方形に限
定されるものではなく、光学フィルタと同形状の短ざく
状であっても差支えなく、その寸法も隣接する短ざく状
光学フィルタの領域を侵ざないII囲のものであればよ
い0また、一つの短ざく状光学フィルタの幅方向に複数
個の8I’I’素子を配列してもよく、図示の実施例で
は、一つの短ざく状光学フイNりの幅方向に二つの受光
素子をもつBIT素子を装置した例を示している。なお
、受光素子と静電誘導トランジスタを一体化した゛この
穂のBIT素子は肩知であり、たとえば株式会社工業調
査金昭和お年1月1日発行、月刊軸結「電子材料」lデ
I/年7月号<WX巻l!1号)第U〜a頁および第1
JO頁にFIRのSITイメージセンサを本発明におけ
るSXT素子として用いればよい。このような81?イ
メージセンナの特徴は、ランダムな読出しができること
、非被壌読出しができること、感度が非常に高いことな
どである。
着させである。すなわち、前記BIT嵩子D工りDよ・
・・・鮎のそれぞれは、前記短ざく状光学フィルタ幅の
整数倍にほば等しい一辺を有し、このようなりIT素子
列の受光面に、短ざく状光学フィルタをその幅方向が一
致するように貼り合わせた構成となっている。なお、l
jはBIT素子D工りD2・・・・Dnを形成した半導
体基板である◇ 前記SIT嵩子D工りD2・・・・Dnは、正方形に限
定されるものではなく、光学フィルタと同形状の短ざく
状であっても差支えなく、その寸法も隣接する短ざく状
光学フィルタの領域を侵ざないII囲のものであればよ
い0また、一つの短ざく状光学フィルタの幅方向に複数
個の8I’I’素子を配列してもよく、図示の実施例で
は、一つの短ざく状光学フイNりの幅方向に二つの受光
素子をもつBIT素子を装置した例を示している。なお
、受光素子と静電誘導トランジスタを一体化した゛この
穂のBIT素子は肩知であり、たとえば株式会社工業調
査金昭和お年1月1日発行、月刊軸結「電子材料」lデ
I/年7月号<WX巻l!1号)第U〜a頁および第1
JO頁にFIRのSITイメージセンサを本発明におけ
るSXT素子として用いればよい。このような81?イ
メージセンナの特徴は、ランダムな読出しができること
、非被壌読出しができること、感度が非常に高いことな
どである。
上述の実施例におけるイメージセンサ14は、811’
素子がマトリックス状に配列しであるので、各S工T素
子により受光した光電置換出力は、X。
素子がマトリックス状に配列しであるので、各S工T素
子により受光した光電置換出力は、X。
Yアドレス方向の指定により独立に読み出すことができ
る。
る。
以上のように構成したイメージセンサ14を@/図に/
Jで示した受光素子の位置に、短ざく状光拳フィルタの
長ぎ方向が第3図に示したように反応容@J個を7組と
する反応容@77に対しはft1l直となる関係に配設
し、図示しない光源からの光束。
Jで示した受光素子の位置に、短ざく状光拳フィルタの
長ぎ方向が第3図に示したように反応容@J個を7組と
する反応容@77に対しはft1l直となる関係に配設
し、図示しない光源からの光束。
IIで直接照射する。
光源から光束/Iは、反応容器/7を透過後、短ざく状
光学フィルタλ0.λ2・・・・楡を通り、それら短ざ
く状光学フィルタλ λ ・・・・λ。の背面に受1
2 光面を接して配列したBIT素子に到達する。その結果
、SI’l’素子のそれぞれには、それらBIT素子の
受光面に密接配置した光学フィルタを通過した光強度に
応じて電荷が蓄積される。
光学フィルタλ0.λ2・・・・楡を通り、それら短ざ
く状光学フィルタλ λ ・・・・λ。の背面に受1
2 光面を接して配列したBIT素子に到達する。その結果
、SI’l’素子のそれぞれには、それらBIT素子の
受光面に密接配置した光学フィルタを通過した光強度に
応じて電荷が蓄積される。
すなわち、BIT素子を構成する静11−導トランジス
タには、電荷の蓄積効果があるので、81T素子に入射
する光束の受光時間を長くすることにより受光感度は増
大する。
タには、電荷の蓄積効果があるので、81T素子に入射
する光束の受光時間を長くすることにより受光感度は増
大する。
測定項目によって使用する光の波長が決まっているから
、測定項目に応じた所望の波長に対応する短ざく状元学
フィルタに受光面を接する8Iτ素子を、アドレス指定
により選択して出力させ、これを従来と同様に演算回路
に導いて結果を求めればよい。また二つの波長を用いて
測定する場合は、それぞれの波長に対応する短ざく状光
学フィルタに受光[Iを当接するBIT素子をアドレス
指定して・選択し、−当する二つのSIT素子から出力
ぎせればよい。
、測定項目に応じた所望の波長に対応する短ざく状元学
フィルタに受光面を接する8Iτ素子を、アドレス指定
により選択して出力させ、これを従来と同様に演算回路
に導いて結果を求めればよい。また二つの波長を用いて
測定する場合は、それぞれの波長に対応する短ざく状光
学フィルタに受光[Iを当接するBIT素子をアドレス
指定して・選択し、−当する二つのSIT素子から出力
ぎせればよい。
@J図は、本発明におけるイメージセンサ16の他の実
施例の構成を示したものである。すなわち、この実施例
においては、波長が異なる僕数の、たとえば1辺が7M
四方のほぼ正方形の光学フィルタλ0,1.・・・・λ
。を、同一波長のものがamせざるよう図示のように不
規則に配列し、各光学フィルタに対応してその背面に受
光面がその光学フィルタに対向するように、SI’r素
子のl偏もしくは複数個の受光素子を位置させたもので
ある。
施例の構成を示したものである。すなわち、この実施例
においては、波長が異なる僕数の、たとえば1辺が7M
四方のほぼ正方形の光学フィルタλ0,1.・・・・λ
。を、同一波長のものがamせざるよう図示のように不
規則に配列し、各光学フィルタに対応してその背面に受
光面がその光学フィルタに対向するように、SI’r素
子のl偏もしくは複数個の受光素子を位置させたもので
ある。
このように構成しかイメージセンf /4を用いてサン
プルを二波長測定する場合、測定項目によって決まる・
波長に対応するたとえば斜m部で示す光学フィルタλ2
.λ3に対向する二つのBIT素子からだけ出力を選択
的に取り出して、周知のIl[s装置に導き、同一波長
の光学フィルタによる出力信号の平均値を測定値とする
両各光学フィルタ輸。
プルを二波長測定する場合、測定項目によって決まる・
波長に対応するたとえば斜m部で示す光学フィルタλ2
.λ3に対向する二つのBIT素子からだけ出力を選択
的に取り出して、周知のIl[s装置に導き、同一波長
の光学フィルタによる出力信号の平均値を測定値とする
両各光学フィルタ輸。
λ3による測定値の差を求めればよい。このように、不
Il1則に配置した同一波長の光学フィルタにより多数
の測定点から出力を得るようにすれば、光源の光束むら
、容器の局部的な汚れや傷などによる測定−差な解消す
ることができる。
Il1則に配置した同一波長の光学フィルタにより多数
の測定点から出力を得るようにすれば、光源の光束むら
、容器の局部的な汚れや傷などによる測定−差な解消す
ることができる。
第5図は、本発明装置を生化学分析装置に適用する場合
の本発明装置におけるイメージセンサ16の配蓋例を示
したものである。
の本発明装置におけるイメージセンサ16の配蓋例を示
したものである。
ターンテーブルlツが、矢印〃で示したように反時計方
向に回吸するものとすると、I「の地点舎ら3個を1組
とする反応容器がターンテーブル/9に一供給され、■
および璽の地点で試薬分注され、■−・“/、II−コ
、 F/−J 、 f−参の各地点で、これらの地点に
配置した本発明装置におけるイメージセンサ/4 、
/6’ 、 /4’・・・・により、反応過程における
反応液濃度を比色し、モニタすると同時に反応初速度お
よびエンドlインドを測定するようにしている。各イメ
ージセンサ/4.It’、/≦j 、 /4#に入射す
る測定光は、ターンテーブル/9の中心部に7個の光源
Jからの光束を各イメージセンサ/6 、 /A’ 、
/4’ 、/4’に対応して設けた各光学系n、n’
、22’、n’により平行光束にし、それらイメージセ
ンナ/4 、 /4 ’ 、/4’ 。
向に回吸するものとすると、I「の地点舎ら3個を1組
とする反応容器がターンテーブル/9に一供給され、■
および璽の地点で試薬分注され、■−・“/、II−コ
、 F/−J 、 f−参の各地点で、これらの地点に
配置した本発明装置におけるイメージセンサ/4 、
/6’ 、 /4’・・・・により、反応過程における
反応液濃度を比色し、モニタすると同時に反応初速度お
よびエンドlインドを測定するようにしている。各イメ
ージセンサ/4.It’、/≦j 、 /4#に入射す
る測定光は、ターンテーブル/9の中心部に7個の光源
Jからの光束を各イメージセンサ/6 、 /A’ 、
/4’ 、/4’に対応して設けた各光学系n、n’
、22’、n’により平行光束にし、それらイメージセ
ンナ/4 、 /4 ’ 、/4’ 。
/4’ )前rIJに到達した反応容@ /7 、 /
7’ 、 /7’、 /7’ ノ透過光となるよう構成
されている。各イメージセンサ/4 、 /4’ 、
/6’ 、/6=からはざきの実施例で説明したように
、測定項目に応じて所望の光学フィルタに対応した信号
を選択して取り出し、従来と同じ手法により演算処理し
、任意の出力装置に出力させればよい。
7’ 、 /7’、 /7’ ノ透過光となるよう構成
されている。各イメージセンサ/4 、 /4’ 、
/6’ 、/6=からはざきの実施例で説明したように
、測定項目に応じて所望の光学フィルタに対応した信号
を選択して取り出し、従来と同じ手法により演算処理し
、任意の出力装置に出力させればよい。
第6vAは、本発明装置におけるイメージセンサ14
、 /4’に光源Iからの光束を分配する他の実施例の
構成の概略図である。すなわち、イメージセンサ/6
、74″は、円対称に配置した反応@@/7./’I’
に対応して配置しである。光Illツからの光束は、回
転ミラーnとその回転ミラーJに一体に組み込んだ光学
系1とからなる回jセラーw4置Bにより、各反応容器
n 、 /7’を介して各イメージセンサ/4 。
、 /4’に光源Iからの光束を分配する他の実施例の
構成の概略図である。すなわち、イメージセンサ/6
、74″は、円対称に配置した反応@@/7./’I’
に対応して配置しである。光Illツからの光束は、回
転ミラーnとその回転ミラーJに一体に組み込んだ光学
系1とからなる回jセラーw4置Bにより、各反応容器
n 、 /7’を介して各イメージセンサ/4 。
/4’に分配されるようにしたものである◇なお、ムは
前記回@之う−を駆動するためのモータである。
前記回@之う−を駆動するためのモータである。
第3図および第4図のように多数配置したイメージセン
サ/6 、 /4’・・・・における所定波長の選択お
よび、その選択された光学フィルタに対応するSI?素
子の出力の取り込みは、117図に示したように測定者
により操作される入出力装置lからの指令により演算装
置dにより行なわれる。取り込んだ前記各イメージセン
サ/6 、 /4’からの出力は、−たんランダム・ア
クセス・メモリ?に入れられ、前記演算装置コにより必
要な所定の演算処理した後、前記入出力St直重中のプ
リンタ、陰極線管表示装置等に出力させるようにしてい
る。
サ/6 、 /4’・・・・における所定波長の選択お
よび、その選択された光学フィルタに対応するSI?素
子の出力の取り込みは、117図に示したように測定者
により操作される入出力装置lからの指令により演算装
置dにより行なわれる。取り込んだ前記各イメージセン
サ/6 、 /4’からの出力は、−たんランダム・ア
クセス・メモリ?に入れられ、前記演算装置コにより必
要な所定の演算処理した後、前記入出力St直重中のプ
リンタ、陰極線管表示装置等に出力させるようにしてい
る。
以上のように本発明は、平面的に配列した分光特性の興
なる複数の光学フィルタのそれぞれに対し、複数のS工
〒素子の各受光面を密接対向させてなるイメージセンナ
によって、反応容量の透過光もしくは反射光を受光する
ようにし、測定項目に応じて所定光学フィルタに対応し
た前記SIT素子の出力を選択的に取り出すようにした
ものであるから、従来装置におけるが如き光学フィルタ
交換用の人力機構がない。従ってこれに起因する故障は
皆無となり・取り扱いも簡単になるばかりではなく、測
定時間を大幅に短縮しつる〇 また、本発明装置におけるイメージセンサは前。
なる複数の光学フィルタのそれぞれに対し、複数のS工
〒素子の各受光面を密接対向させてなるイメージセンナ
によって、反応容量の透過光もしくは反射光を受光する
ようにし、測定項目に応じて所定光学フィルタに対応し
た前記SIT素子の出力を選択的に取り出すようにした
ものであるから、従来装置におけるが如き光学フィルタ
交換用の人力機構がない。従ってこれに起因する故障は
皆無となり・取り扱いも簡単になるばかりではなく、測
定時間を大幅に短縮しつる〇 また、本発明装置におけるイメージセンサは前。
成されているので、そのSIT素子の蓄槓効呆により高
感度化し得うるのみならず、集積化も容易であるので、
小型化上極めて有利である。しかもSIτ禦子の性質上
、その出力を非破壊的に読み出しつるので、反応の進行
状態をモニタTることができ、最適の瞬時で測定データ
を取り込むことができる。ざらにランダムアクセスが可
能であるので、必要な波長に対応した原子を選択的に読
み出すことができ、測定時間の短縮、信号処理の部品化
ができる。また、WIlj図の如き構成のものに陰極線
管表示装置を併用することによって、反応初速度および
エンドざインドを含む反応曲線を表示きせることも可能
である噂の効果を有する。
感度化し得うるのみならず、集積化も容易であるので、
小型化上極めて有利である。しかもSIτ禦子の性質上
、その出力を非破壊的に読み出しつるので、反応の進行
状態をモニタTることができ、最適の瞬時で測定データ
を取り込むことができる。ざらにランダムアクセスが可
能であるので、必要な波長に対応した原子を選択的に読
み出すことができ、測定時間の短縮、信号処理の部品化
ができる。また、WIlj図の如き構成のものに陰極線
管表示装置を併用することによって、反応初速度および
エンドざインドを含む反応曲線を表示きせることも可能
である噂の効果を有する。
11/181、従来rz党s比色分析装置ノa*m明図
、第2図は本発明におけるイメージセンサの実施例の一
例の構成図、第Jglは本発明におけるイメージセンず
と反応容器の配置関係説明図、嬉ダ図は本発明における
イメージセンサの他の実施例の構成についての説明図、
sr図は本発明におけるイメージセンサを実際の生化学
分析装置に組み込んだ場合の実施例の概念的構成図、1
14図は本発明の他の実施例を示す概念的構成図である
。 ム、〜嶺・・・光学フィルタ、D工〜Dn・・・受光素
子と静電誘導トランジスタからなる光電変換素子、/j
・・・基板、16 、 /6’ 、 /4’ 、 1/
・・・イメージセンナ、/7 、 /7’ 、/7’
、 /7’・・・反応容器、it・・帝光束、lデ・・
・ターンf −”f k、1・・・光源、# 、 22
’、 22’、 ff’、7−・・光学系、#−11転
ミラー、B・・・回&ミラー装置、ふ・・・モータ、l
・・・入出力装置、d・・・演算装置、j・・・ランダ
ム・アクセス・メモリ。
、第2図は本発明におけるイメージセンサの実施例の一
例の構成図、第Jglは本発明におけるイメージセンず
と反応容器の配置関係説明図、嬉ダ図は本発明における
イメージセンサの他の実施例の構成についての説明図、
sr図は本発明におけるイメージセンサを実際の生化学
分析装置に組み込んだ場合の実施例の概念的構成図、1
14図は本発明の他の実施例を示す概念的構成図である
。 ム、〜嶺・・・光学フィルタ、D工〜Dn・・・受光素
子と静電誘導トランジスタからなる光電変換素子、/j
・・・基板、16 、 /6’ 、 /4’ 、 1/
・・・イメージセンナ、/7 、 /7’ 、/7’
、 /7’・・・反応容器、it・・帝光束、lデ・・
・ターンf −”f k、1・・・光源、# 、 22
’、 22’、 ff’、7−・・光学系、#−11転
ミラー、B・・・回&ミラー装置、ふ・・・モータ、l
・・・入出力装置、d・・・演算装置、j・・・ランダ
ム・アクセス・メモリ。
Claims (1)
- Ll!1瀾定物に光束を照射し、その透過光もしくは反
射光を受光素子により受光し、その出力を演算処理して
結果を出力する分析装置において、平面的に配列した分
光特性の興なる複数の光学フィルタのそれでれに対し、
受光素子と静電誘導Fテンジスタとにより構成した複数
の光電変換素子の各受光面を**対向させてなるイメー
ジセンナによって、前記透過光もしくは反射光を受光し
、溜室項目に応じて所望の前記光学フィルタに対応する
前記光電変換素子を選択し、その選択された光電変換素
子より光電変換出力偏量を得ることを特徴とする分析装
置0
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105647A JPS587545A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 分析装置 |
| US06/395,630 US4484817A (en) | 1981-07-08 | 1982-07-06 | Colorimetric chemical analyzing apparatus |
| DE19823225610 DE3225610A1 (de) | 1981-07-08 | 1982-07-08 | Chemische analysiervorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105647A JPS587545A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS587545A true JPS587545A (ja) | 1983-01-17 |
| JPH0159541B2 JPH0159541B2 (ja) | 1989-12-18 |
Family
ID=14413242
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56105647A Granted JPS587545A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 分析装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4484817A (ja) |
| JP (1) | JPS587545A (ja) |
| DE (1) | DE3225610A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004531742A (ja) * | 2001-06-28 | 2004-10-14 | オンデオ ナルコ カンパニー | 鏡映蛍光光度計 |
| JP2022133528A (ja) * | 2021-03-02 | 2022-09-14 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
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|---|---|---|---|---|
| US4729658A (en) * | 1986-06-05 | 1988-03-08 | The Perkin-Elmer Corporation | Very wide spectral coverage grating spectrometer |
| US4784488A (en) * | 1986-08-27 | 1988-11-15 | Laser Precision Corporation | Modular radiation transmission apparatus for spectrometers |
| CH673534A5 (ja) * | 1987-10-19 | 1990-03-15 | Tecan Ag | |
| US4971447A (en) * | 1988-03-17 | 1990-11-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for measuring concentration of chemical substances |
| US5204922A (en) * | 1991-10-22 | 1993-04-20 | Puritan-Bennett Corporation | Optical signal channel selector |
| FI982005L (fi) * | 1998-09-17 | 2000-03-18 | Wallac Oy | Näytteiden kuvantamislaite |
| EP1752758A1 (en) * | 2005-08-09 | 2007-02-14 | Roche Diagnostics GmbH | Photometric in plane detection using a rotatable disc |
| EP2021773B1 (en) * | 2006-04-19 | 2015-03-25 | IT-IS International Ltd | Reaction monitoring method and apparatus |
| US20090297401A1 (en) * | 2006-06-28 | 2009-12-03 | Rgb Technologies Ab | Sensor kit and a system for detecting an analyte in a test environment |
| JP2011149885A (ja) * | 2010-01-25 | 2011-08-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| CN113376106B (zh) * | 2021-06-04 | 2022-07-19 | 深圳技术大学 | 酒精度的测量方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3426211A (en) * | 1965-10-21 | 1969-02-04 | Honeywell Inc | Refractometers |
| CH558962A (de) * | 1973-06-01 | 1975-02-14 | Landis & Gyr Ag | Vorrichtung zum vergleich der spektralen remission oder transmission eines prueflings und eines standards. |
| US3869212A (en) * | 1973-08-02 | 1975-03-04 | Nasa | Spectrometer integrated with a facsimile camera |
| JPS5255578A (en) * | 1975-10-31 | 1977-05-07 | Hitachi Ltd | Analyzing apparatus |
| US4054389A (en) * | 1976-09-23 | 1977-10-18 | International Business Machines Corporation | Spectrophotometer with photodiode array |
| DE2823514A1 (de) * | 1978-05-30 | 1979-12-06 | Fleischer Johannes | Spektralapparat |
| DE2938844A1 (de) * | 1979-09-26 | 1981-04-23 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur auswertung optischer spektren |
-
1981
- 1981-07-08 JP JP56105647A patent/JPS587545A/ja active Granted
-
1982
- 1982-07-06 US US06/395,630 patent/US4484817A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-07-08 DE DE19823225610 patent/DE3225610A1/de active Granted
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2004531742A (ja) * | 2001-06-28 | 2004-10-14 | オンデオ ナルコ カンパニー | 鏡映蛍光光度計 |
| JP2011047949A (ja) * | 2001-06-28 | 2011-03-10 | Nalco Co | 鏡映蛍光光度計 |
| JP2022133528A (ja) * | 2021-03-02 | 2022-09-14 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
| US12416569B2 (en) | 2021-03-02 | 2025-09-16 | Canon Medical Systems Corporation | Automatic analyzing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3225610A1 (de) | 1983-02-03 |
| US4484817A (en) | 1984-11-27 |
| JPH0159541B2 (ja) | 1989-12-18 |
| DE3225610C2 (ja) | 1989-07-13 |
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