JPS5876706A - ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機 - Google Patents
ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機Info
- Publication number
- JPS5876706A JPS5876706A JP17536881A JP17536881A JPS5876706A JP S5876706 A JPS5876706 A JP S5876706A JP 17536881 A JP17536881 A JP 17536881A JP 17536881 A JP17536881 A JP 17536881A JP S5876706 A JPS5876706 A JP S5876706A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- knife mark
- sliced veneer
- knife
- receiver
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Veneer Processing And Manufacture Of Plywood (AREA)
- Manufacture Of Wood Veneers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスライスの刃こぼれや異物のつまり等に１って
スライス単板表向に生じるナイフマークを検出するため
のナイフマーク検査方法及びナイフマーク検査機に関す
るものである。
スライス単板表向に生じるナイフマークを検出するため
のナイフマーク検査方法及びナイフマーク検査機に関す
るものである。
第１図は従来のナイフマーク検査機を示し、スライス単
板（１）の移送路上に、帯状の投光をスライス単板０）
に対し浅い角度で照射するように投光器（２）を配置す
るとともに、この投光器（２）からの帯状の投光がスラ
イス単板ｆ１１表面に入射する部分の直上方に、ライフ
状の受光部を有する受光器（３）を配置しである。ここ
で受光器（３）は第１スリツト板（４）とシリシトリカ
ルし：７ズ（５）と第２スリ・シトｇｉｔ６＋と光電子
増倍管のような受光素子（７）とから構成され、帯状投
光がスライス単板（１）に入射するライン状の入射部か
らの反射光がその全長に亘って受光素子（７）に入射さ
れるようにしである。かくてこの従来のナイフマーク検
査機にあっては、スライス単板（１）を順次連続的に移
送している状態で、受光器（３）により投光器（２）か
らの帯状投光のスライス却枡（１１表面での反射光を受
光し、この受光光量の変化によりナイフマークＸを検出
するのである。
板（１）の移送路上に、帯状の投光をスライス単板０）
に対し浅い角度で照射するように投光器（２）を配置す
るとともに、この投光器（２）からの帯状の投光がスラ
イス単板ｆ１１表面に入射する部分の直上方に、ライフ
状の受光部を有する受光器（３）を配置しである。ここ
で受光器（３）は第１スリツト板（４）とシリシトリカ
ルし：７ズ（５）と第２スリ・シトｇｉｔ６＋と光電子
増倍管のような受光素子（７）とから構成され、帯状投
光がスライス単板（１）に入射するライン状の入射部か
らの反射光がその全長に亘って受光素子（７）に入射さ
れるようにしである。かくてこの従来のナイフマーク検
査機にあっては、スライス単板（１）を順次連続的に移
送している状態で、受光器（３）により投光器（２）か
らの帯状投光のスライス却枡（１１表面での反射光を受
光し、この受光光量の変化によりナイフマークＸを検出
するのである。
ところがかかる従来例にあっては、第２図−）に示すよ
うな対称ｆ！断面形状ナイフマークＸの場合、同図（ｂ
）のように輝度レベルの上昇を伴う反射光が得られて適
確なナイフマークＸの検出が可能である他、第３図（ａ
）に示すよう女役光側に深い切り込みを有する断面形状
のナイフマークＸの場合も同図（ｂ）のような輝度しベ
ルの一ヒ昇があってナイフマークＸの検出ができるので
あるが、第４図（ａ）に示すような反投光側に深い切り
込みを有する断面形状のナイフマークＸの場合、同図（
ｂ）に示すように反射光の輝度しベルの−Ｆ昇が極めて
小さく、ナイフマークＸの検出が非當に困難である問題
があった。
うな対称ｆ！断面形状ナイフマークＸの場合、同図（ｂ
）のように輝度レベルの上昇を伴う反射光が得られて適
確なナイフマークＸの検出が可能である他、第３図（ａ
）に示すよう女役光側に深い切り込みを有する断面形状
のナイフマークＸの場合も同図（ｂ）のような輝度しベ
ルの一ヒ昇があってナイフマークＸの検出ができるので
あるが、第４図（ａ）に示すような反投光側に深い切り
込みを有する断面形状のナイフマークＸの場合、同図（
ｂ）に示すように反射光の輝度しベルの−Ｆ昇が極めて
小さく、ナイフマークＸの検出が非當に困難である問題
があった。
不発す］−１は上述の点に鑑みて提供したものであって
、コシベア上を流れてくるスライス単板にナイフマーク
が発生した場合、このナイフマークと同一形状のナイフ
マークを有するスライス単板が棲叡枚必らず秋いてくる
ことに一看目し、スライス単做への投光方向を交互に換
えるという容易な方法でナイフマーク発生を見逃すこと
なく確実に検出でき、しかも構造簡単で安価なナイフマ
ーク検査方法及びナイフマーク検査機を提供することを
目的さするものである。
、コシベア上を流れてくるスライス単板にナイフマーク
が発生した場合、このナイフマークと同一形状のナイフ
マークを有するスライス単板が棲叡枚必らず秋いてくる
ことに一看目し、スライス単做への投光方向を交互に換
えるという容易な方法でナイフマーク発生を見逃すこと
なく確実に検出でき、しかも構造簡単で安価なナイフマ
ーク検査方法及びナイフマーク検査機を提供することを
目的さするものである。
以下本発明の一実施例を図面により詳述する。
第５図は本発明実施例の斜視図を示し、前記第１図従来
例の装置に対し、投光器（２）からの帯状投光がスライ
ス単板ｆｔ）に入射する入射部に垂直な而を中心として
上記投光器（２）と面対称に別の投光：！：＋ （２Ａ
）を配置し、スライス単板ｆ１）移送方向の受光器（３
）に対する前方及び信号に夫々投光器（２）及び（２Ａ
）が配置されるようにし友ものであり、両投光器（２）
（２Ａ）からの帯状投光のスライス単板ｉｌ＋表面での
反射光は従来例と同一構成の単一の受光器（３）で受光
できるようにしである。かくて上記実施例にあっては、
連続して順次送られてくる各スライス単板ｉ１１に対し
上記両投光器（２）（２ａ）からの投光を交互に行うよ
うにし、この投光による反射光を受光器（３）で受光検
出してナイフマークＸの検出を行うのである。ここで一
般に一枚のスライス単板（＋）にナイフマークＸが発生
すると、これに続く次のスライス単板（１）にも同一形
状のナイフマークＸが発生するものであるから、仮にナ
イフマークＸがある一枚目のスライス単＆ｆｌ）におい
て投光器（２）又は（２ａ）からの帯状投光の投光方向
とスライス単板ｔｌ＋上のナイフマークＸの断面形状と
が合致せず、ナイフマークＸの検出ミスを生じ友場合に
おいても、次に移送されてきたスライス＊ ＆ ｉｌ）
においては投光状態の投光器（２） （２Ａ）が切り
換り、投光器（２Ａ）又は（２）からの帯状投光とナイ
フマークＸの断面形状とが合致し、ナイフマークＸの検
出を確実に行うことができるものであり、これにより実
質的に検出ミスを生じることなくナイフマークＸの発生
を適確に検知できるものである。
例の装置に対し、投光器（２）からの帯状投光がスライ
ス単板ｆｔ）に入射する入射部に垂直な而を中心として
上記投光器（２）と面対称に別の投光：！：＋ （２Ａ
）を配置し、スライス単板ｆ１）移送方向の受光器（３
）に対する前方及び信号に夫々投光器（２）及び（２Ａ
）が配置されるようにし友ものであり、両投光器（２）
（２Ａ）からの帯状投光のスライス単板ｉｌ＋表面での
反射光は従来例と同一構成の単一の受光器（３）で受光
できるようにしである。かくて上記実施例にあっては、
連続して順次送られてくる各スライス単板ｉ１１に対し
上記両投光器（２）（２ａ）からの投光を交互に行うよ
うにし、この投光による反射光を受光器（３）で受光検
出してナイフマークＸの検出を行うのである。ここで一
般に一枚のスライス単板（＋）にナイフマークＸが発生
すると、これに続く次のスライス単板（１）にも同一形
状のナイフマークＸが発生するものであるから、仮にナ
イフマークＸがある一枚目のスライス単＆ｆｌ）におい
て投光器（２）又は（２ａ）からの帯状投光の投光方向
とスライス単板ｔｌ＋上のナイフマークＸの断面形状と
が合致せず、ナイフマークＸの検出ミスを生じ友場合に
おいても、次に移送されてきたスライス＊ ＆ ｉｌ）
においては投光状態の投光器（２） （２Ａ）が切り
換り、投光器（２Ａ）又は（２）からの帯状投光とナイ
フマークＸの断面形状とが合致し、ナイフマークＸの検
出を確実に行うことができるものであり、これにより実
質的に検出ミスを生じることなくナイフマークＸの発生
を適確に検知できるものである。
不発り」は、上述のように２個の投光器を順次送られて
くるスライス単板毎に交互に投光するようにしただけで
あるから、単に投光器からの投光を交互に切り換えると
いう簡便な方法で、スライス単板の移送方向あるいは逆
移送方向に深い切り込みを有するナイフマークであって
も確実に検出できる効果を奏するものである。
くるスライス単板毎に交互に投光するようにしただけで
あるから、単に投光器からの投光を交互に切り換えると
いう簡便な方法で、スライス単板の移送方向あるいは逆
移送方向に深い切り込みを有するナイフマークであって
も確実に検出できる効果を奏するものである。
更に第２発り］にあっては、上述のように構成したもの
であるから、実質的に従来装置に１個の投光器を追加配
置するだけでナイフマークの検出ミスをなくすことがで
き、投光部のみを２個として受光器は１個で共用してい
る几め、装置の配設スペースも小さくでき、装置のコス
トも安価にできる効果を有するものである。
であるから、実質的に従来装置に１個の投光器を追加配
置するだけでナイフマークの検出ミスをなくすことがで
き、投光部のみを２個として受光器は１個で共用してい
る几め、装置の配設スペースも小さくでき、装置のコス
トも安価にできる効果を有するものである。
第１図は従来例の斜視図、第２図乃至第４図ら）（ｂ）
は夫々異なる断面形状を有するナイフマークの検出動作
を説１町するスライスｆｉｔ ’Ｉ＊の拡大断面図及び
受光器の受光輝度レベル船外し１、第５図は不発り］一
実施例のが１Ａ図であり、（１）はスライス単槽、ｆ２
１（２Ａ）は投光器、（３）は受光線、Ｘけナイフマー
クである。 代理人 弁理士 石 １）長 七
は夫々異なる断面形状を有するナイフマークの検出動作
を説１町するスライスｆｉｔ ’Ｉ＊の拡大断面図及び
受光器の受光輝度レベル船外し１、第５図は不発り］一
実施例のが１Ａ図であり、（１）はスライス単槽、ｆ２
１（２Ａ）は投光器、（３）は受光線、Ｘけナイフマー
クである。 代理人 弁理士 石 １）長 七
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋１＋ スライス単板の移送路上の投光器より帯状の
投光をスライス単板に対し浅い角度で照射し、上記帯状
の投光のスライス単板への入射部の直上方に配置したラ
イフ状の受光器へ反射光を入党せしめるようにし、この
受光器配設部に対しスライス単板移送方向の前方及び彼
方に夫々配置した投光器より、順次送られてくるスライ
ス単板毎に交互に投光を行い、これら両投光器からの投
光の反射光を上記受光器で受光して受光光量の変化によ
りナイフマークを検出するようにしたことを特徴とする
ナイフマーク検査方法。 （２） スライス単板の移送路上に投光器を配置して
帯状の投光をスライス単板に対し浅い角度で照射し、上
記帯状の投光のスライス単板への入射１５６の直上方に
ライフ状の受光器を配置し、この受光器への入射光量の
変化によりナイフマークを検出するようにしたナイフマ
ーク検査機において、受光器配設部に対しスライス単板
移送方向の前方及び後方に夫々投光器を配設し、順次送
られてくるスライス単板毎に上記両投光器より交互に投
光され次反射光を受光検出する受光器を設けて成ること
を特徴とするナイフマーク検査機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17536881A JPS5876706A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17536881A JPS5876706A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876706A true JPS5876706A (ja) | 1983-05-09 |
| JPS6322523B2 JPS6322523B2 (ja) | 1988-05-12 |
Family
ID=15994864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17536881A Granted JPS5876706A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査方法及びナイフマ−ク検査機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876706A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249856A (en) * | 1975-10-17 | 1977-04-21 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | Display device for surface of steel |
| JPS55158505A (en) * | 1979-05-28 | 1980-12-10 | Matsushita Electric Works Ltd | Knifed mark inspector |
-
1981
- 1981-10-31 JP JP17536881A patent/JPS5876706A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249856A (en) * | 1975-10-17 | 1977-04-21 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | Display device for surface of steel |
| JPS55158505A (en) * | 1979-05-28 | 1980-12-10 | Matsushita Electric Works Ltd | Knifed mark inspector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6322523B2 (ja) | 1988-05-12 |
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