JPS5876708A - ナイフマ−ク検査機 - Google Patents
ナイフマ−ク検査機Info
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- JPS5876708A JPS5876708A JP17537081A JP17537081A JPS5876708A JP S5876708 A JPS5876708 A JP S5876708A JP 17537081 A JP17537081 A JP 17537081A JP 17537081 A JP17537081 A JP 17537081A JP S5876708 A JPS5876708 A JP S5876708A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Manufacture Of Wood Veneers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスライサの刃こぼれや異物のつ捷り等によって
スライス単板表面に生じるナイフマークを検出するため
のナイフマーク検を機に関するものである。
スライス単板表面に生じるナイフマークを検出するため
のナイフマーク検を機に関するものである。
第１図は発明者が発明しｆｃ前提となるナイフマーク検
を機を示し、スライス単板Ｈの移送路上に、帯状の投光
をスライス単板（１）に対し浅い角度で照射するように
投光器（２）を配置するとともに、この投光器（２）か
らの帯状の投光がスライス単板ｉｌ１表面に入射する部
分の直上方に、ライン状の受光部を有する受光器（３）
を配置しである。捷たこの投光器（２）からの帯状投光
がスライス単＠（１）に入射する入射部に垂面々面を中
心とじて上記投光器（２）と面対称に別の投光器（２Ａ
）を配置し、スライス単板（１）移送方向の受光器（３
）に対する前方及び後方に夫々投光器（２）及び（２Ａ
）が配置されている。ここでツ′光陪（３）は第１スリ
ツト板（４）とシリンドリカルレンズ（５１と第２スリ
ツト＆（６）と光電子増倍管のような受光素子（７１と
〃・ら構成され、帯状投光がスライス単板［＋１に入射
するライン状の入射部からの反射光がその全長に亘って
受光素子（７）に入射されるようにしである。両投光器
＋２１（２Ａ）からの帯状投光のスライス単板（１）表
面での反射光は単一の受光器（３）で受光できるように
しである。
を機を示し、スライス単板Ｈの移送路上に、帯状の投光
をスライス単板（１）に対し浅い角度で照射するように
投光器（２）を配置するとともに、この投光器（２）か
らの帯状の投光がスライス単板ｉｌ１表面に入射する部
分の直上方に、ライン状の受光部を有する受光器（３）
を配置しである。捷たこの投光器（２）からの帯状投光
がスライス単＠（１）に入射する入射部に垂面々面を中
心とじて上記投光器（２）と面対称に別の投光器（２Ａ
）を配置し、スライス単板（１）移送方向の受光器（３
）に対する前方及び後方に夫々投光器（２）及び（２Ａ
）が配置されている。ここでツ′光陪（３）は第１スリ
ツト板（４）とシリンドリカルレンズ（５１と第２スリ
ツト＆（６）と光電子増倍管のような受光素子（７１と
〃・ら構成され、帯状投光がスライス単板［＋１に入射
するライン状の入射部からの反射光がその全長に亘って
受光素子（７）に入射されるようにしである。両投光器
＋２１（２Ａ）からの帯状投光のスライス単板（１）表
面での反射光は単一の受光器（３）で受光できるように
しである。
かくてこのナイフマーク検査機にあっては、連続して順
次送られてくる各スライス単板（１）に対し上記両投光
器＋２＋（２Ａ）からの投光全交互に行なうようにし、
この投光による反射光を受光器（３）で受光検出してナ
イフマークＸの検出を行なうのである。ここで一般に一
枚のスライス単＆（１）にナイフマークＸが発生すると
、これに続く次のスラーイス単＆ ｉｌｌにも同一形状
のすイフマークＸが発生するものであるから、仮にナイ
フマークＸがある一枚目のスライス単板（１）において
投光器（２）又は（２人）からの帯状投光の投光方向と
スライス単板（ｌ（上のナイフマークＸの断面形状とが
合致せず、ナイフマークＸの検出ミスを生じた場合にお
いても、次に移送されてきたスライス単板＋ｌｊにおい
ては投光状態の投光器＋２！（２Ａ）が切り換り、投光
器（２人）又は（２）からの帯状投光とナイフマークＸ
の断ｒＩ７ｉ形状とが合致し、ナイフマークＸの検出ケ
行なうことが＝Ｊ能になるのである。従って受光器（３
）の出力をバイパスフィルタ（８）ヲ介して２値化回路
（９）に入力することにより、この２値化回路（９１出
力としてナイフマークＸの有無についてのデータを得る
ことができるのであるが、スライス単物（１）が移動状
Ｗの−ｔｔでナイフマークＸの検出が行なわれるため、
投光器（２）又は（２Ａ）からの投光方向がスライス単
板ｉｌ＋の移送方向に対して同方向か反対方向かにより
、第２図、第３図に示すように同一断面形状のナイフマ
ークＸであってもバイパスフィルタ（８）の出力の極性
に正負の差異を生じる。即ち第２図及び第３図において
（ａ）はスライス単板（］）の断断面形状、（ｂ）は受
光器（２）出力、（ｃ）Ｉ″ｉｉバイパスフイルタ）の
出力を夫々示すものであるが、スライス単板（ｌｊ表表
向の反射光による誤動作成分全除去するためのバイパス
フィルタ（８］の出力は、投光方向がスライス単板＋Ｉ
Ｉの移送方向と同方向のとき第２図（ｃ）のように正方
向にピークを持って大きく変化し、逆に投光方向がスラ
イス単板（１１の移送方向と逆方向のとき、第３図（Ｃ
）に示すように負方向にピークラ技って大きく変化する
。従ってこのバイパスフィルタ（８）の出力をそのま捷
２値化回路（９）に入力すると、投光器（２）による検
出動作時と投光１ｉｊ’４（２Ａ）による検出動作時と
ではその検出動作レベルに差異が生じ、条件によっては
検出ミスを生じる場合もあるという問題がある。そこで
このナイフマーク検査機にあっては、第４ドＩに示すよ
うにバイパスフィルタ（８）の出力を振分は回路（１０
）に入力して投光器（２）の場合の出力信号と投光器（
２人）の場合の出力信ち゛とに振り分け、投光器（２）
による投光を使用したときのバイパスフィルタ（８）の
出力信号の場合には振分は回路（１０）よりそのまま［
正転して１２値化回路（９）に入力し、投光器（２Ａ）
による投光ケ使用したときのバイパスフィルタ（８）の
出力信号の場合には振分は回路（Ｉｌｌ］より反転回路
０１１に入力し、反転回路α１）で正負逆転した信号を
２値化回路（９）に入力することになるものである。従
って２値化回路（９）には投光器ｔ２［２Ａ）いずれ全
便用している場合にも、同一レベルの信号が入力するこ
とに々す、検出ミスを生じるおそれを犬ｌ］に低減でき
るものである。しかしながらかかる場合においては、振
分は回路（ｌＯ）や反転回路（ｌ］）等の回路構成が複
雑になり部品α敗が多くなるという問題があった。
次送られてくる各スライス単板（１）に対し上記両投光
器＋２＋（２Ａ）からの投光全交互に行なうようにし、
この投光による反射光を受光器（３）で受光検出してナ
イフマークＸの検出を行なうのである。ここで一般に一
枚のスライス単＆（１）にナイフマークＸが発生すると
、これに続く次のスラーイス単＆ ｉｌｌにも同一形状
のすイフマークＸが発生するものであるから、仮にナイ
フマークＸがある一枚目のスライス単板（１）において
投光器（２）又は（２人）からの帯状投光の投光方向と
スライス単板（ｌ（上のナイフマークＸの断面形状とが
合致せず、ナイフマークＸの検出ミスを生じた場合にお
いても、次に移送されてきたスライス単板＋ｌｊにおい
ては投光状態の投光器＋２！（２Ａ）が切り換り、投光
器（２人）又は（２）からの帯状投光とナイフマークＸ
の断ｒＩ７ｉ形状とが合致し、ナイフマークＸの検出ケ
行なうことが＝Ｊ能になるのである。従って受光器（３
）の出力をバイパスフィルタ（８）ヲ介して２値化回路
（９）に入力することにより、この２値化回路（９１出
力としてナイフマークＸの有無についてのデータを得る
ことができるのであるが、スライス単物（１）が移動状
Ｗの−ｔｔでナイフマークＸの検出が行なわれるため、
投光器（２）又は（２Ａ）からの投光方向がスライス単
板ｉｌ＋の移送方向に対して同方向か反対方向かにより
、第２図、第３図に示すように同一断面形状のナイフマ
ークＸであってもバイパスフィルタ（８）の出力の極性
に正負の差異を生じる。即ち第２図及び第３図において
（ａ）はスライス単板（］）の断断面形状、（ｂ）は受
光器（２）出力、（ｃ）Ｉ″ｉｉバイパスフイルタ）の
出力を夫々示すものであるが、スライス単板（ｌｊ表表
向の反射光による誤動作成分全除去するためのバイパス
フィルタ（８］の出力は、投光方向がスライス単板＋Ｉ
Ｉの移送方向と同方向のとき第２図（ｃ）のように正方
向にピークを持って大きく変化し、逆に投光方向がスラ
イス単板（１１の移送方向と逆方向のとき、第３図（Ｃ
）に示すように負方向にピークラ技って大きく変化する
。従ってこのバイパスフィルタ（８）の出力をそのま捷
２値化回路（９）に入力すると、投光器（２）による検
出動作時と投光１ｉｊ’４（２Ａ）による検出動作時と
ではその検出動作レベルに差異が生じ、条件によっては
検出ミスを生じる場合もあるという問題がある。そこで
このナイフマーク検査機にあっては、第４ドＩに示すよ
うにバイパスフィルタ（８）の出力を振分は回路（１０
）に入力して投光器（２）の場合の出力信号と投光器（
２人）の場合の出力信ち゛とに振り分け、投光器（２）
による投光を使用したときのバイパスフィルタ（８）の
出力信号の場合には振分は回路（１０）よりそのまま［
正転して１２値化回路（９）に入力し、投光器（２Ａ）
による投光ケ使用したときのバイパスフィルタ（８）の
出力信号の場合には振分は回路（Ｉｌｌ］より反転回路
０１１に入力し、反転回路α１）で正負逆転した信号を
２値化回路（９）に入力することになるものである。従
って２値化回路（９）には投光器ｔ２［２Ａ）いずれ全
便用している場合にも、同一レベルの信号が入力するこ
とに々す、検出ミスを生じるおそれを犬ｌ］に低減でき
るものである。しかしながらかかる場合においては、振
分は回路（ｌＯ）や反転回路（ｌ］）等の回路構成が複
雑になり部品α敗が多くなるという問題があった。
本発明は上述の９． Ｋ鑑みて提供したものであって、
ナイフマークを検査する際における投光器からの投光方
向の違いによるナイフマーク検出信号の出力差を吸収処
理する回路を簡便にするとともにナイフマークの検出漏
れを防止することを目的としたナイフマーク検査機を提
供するものである以下本発明の−・実施例を図面により
詳述する。
ナイフマークを検査する際における投光器からの投光方
向の違いによるナイフマーク検出信号の出力差を吸収処
理する回路を簡便にするとともにナイフマークの検出漏
れを防止することを目的としたナイフマーク検査機を提
供するものである以下本発明の−・実施例を図面により
詳述する。
投光器＋２）（２Ａ）や受光器（３）の構成は前述と同
様にしてあり、受光素子（７）からの出力信号を処理す
るブロック図を第５図に示す。即ち、前述の第４図にお
ける振分は回路（ｌＯ）と反転回路（１υとの代わりに
１回路からなる絶対値回路（１５）を挿入接続したもの
である。両投光ｚＨ２）＜ ２Ａ ）から投光されてス
ライス単板（１）の表面にて反射さねた反射光は、ナイ
フマークＸＴｈ検出すると夫々正方向、負方向に大きな
ピーフケ持ってバイパスフィルタ（８）から電気信刃が
出力される。この正方向、負方向のし−クを持つンｈ層
？）は絶対値回路（１５）で夫々絶対値でもって信−リ
が１−１１力され、次段″の２値化回路（９）へ入力さ
れる。従って２値化回路（９）には投光オニｔ２１（２
Ａ）いずれを・使用している場合にも、同一１７ペルの
信号が入力することになり、検出ミス？生じるおそれを
大Ｉ’ｌｌに低減できるものである。しかも投光方向の
違いによる出力差を１個の絶対値回路（１５）で吸収処
理できて構ｊ戊が簡便となるものである。
様にしてあり、受光素子（７）からの出力信号を処理す
るブロック図を第５図に示す。即ち、前述の第４図にお
ける振分は回路（ｌＯ）と反転回路（１υとの代わりに
１回路からなる絶対値回路（１５）を挿入接続したもの
である。両投光ｚＨ２）＜ ２Ａ ）から投光されてス
ライス単板（１）の表面にて反射さねた反射光は、ナイ
フマークＸＴｈ検出すると夫々正方向、負方向に大きな
ピーフケ持ってバイパスフィルタ（８）から電気信刃が
出力される。この正方向、負方向のし−クを持つンｈ層
？）は絶対値回路（１５）で夫々絶対値でもって信−リ
が１−１１力され、次段″の２値化回路（９）へ入力さ
れる。従って２値化回路（９）には投光オニｔ２１（２
Ａ）いずれを・使用している場合にも、同一１７ペルの
信号が入力することになり、検出ミス？生じるおそれを
大Ｉ’ｌｌに低減できるものである。しかも投光方向の
違いによる出力差を１個の絶対値回路（１５）で吸収処
理できて構ｊ戊が簡便となるものである。
第６図Ｖｊ他の実施例を示［２、第４図実施例のものに
おいてバイパスフィルタ（８）の出力を絶対値化した信
号全２値化回路（９）に入力するに際し、スライス単板
（１）の表面状１島に応じた正却、化のための割Ｗ６１
ζ（１４′ｊｆ介して入力するようにしたものである。
おいてバイパスフィルタ（８）の出力を絶対値化した信
号全２値化回路（９）に入力するに際し、スライス単板
（１）の表面状１島に応じた正却、化のための割Ｗ６１
ζ（１４′ｊｆ介して入力するようにしたものである。
かくて割′＃、都（１２）は絶対値回路（１５）側から
の入力をχとし、ローパスフィルタ（１３）からの入力
’ｔｙとしたとき、χ／ｙ の演算動作を行なうもので
あり、Ｄ−バスフィルタ（１３１はスライス単板（１）
の全体的な表面状態についての情報全出力してくるため
、上記χ／ｙの演算−１作によりスライス単板（ｌｌの
模様や色調等による表面状態に応じて検出信号の正規化
が行なわれることになり、スライス単板＋１＋の表面状
態が変化しても常に一定のレベルの信号が２値化回路（
９）に送られ、ナイフマークＸの有無を判別する２値化
信号が出力されることになる。従って一ヒ述の絶対値化
された出力信号をスライス単板ｉｌ＋の地肌の違いによ
り正規化処理したものであるから、スライス単板（１）
の表面状態が多種にわたるような場合においても常に一
定のレベ）してナイフマークＸの検出判別を行なうこと
ができるものである。
の入力をχとし、ローパスフィルタ（１３）からの入力
’ｔｙとしたとき、χ／ｙ の演算動作を行なうもので
あり、Ｄ−バスフィルタ（１３１はスライス単板（１）
の全体的な表面状態についての情報全出力してくるため
、上記χ／ｙの演算−１作によりスライス単板（ｌｌの
模様や色調等による表面状態に応じて検出信号の正規化
が行なわれることになり、スライス単板＋１＋の表面状
態が変化しても常に一定のレベルの信号が２値化回路（
９）に送られ、ナイフマークＸの有無を判別する２値化
信号が出力されることになる。従って一ヒ述の絶対値化
された出力信号をスライス単板ｉｌ＋の地肌の違いによ
り正規化処理したものであるから、スライス単板（１）
の表面状態が多種にわたるような場合においても常に一
定のレベ）してナイフマークＸの検出判別を行なうこと
ができるものである。
本発明は上述のように、投光器から交互に投光されてそ
の反射光の受光器における光量変化に対応する出力信号
を絶対値化する絶対値回路を形成し、この絶対値回路か
らの信号を２値化するようにしたので、投光方向の違い
による反射光の受光器からの出力信号を、正方向、負方
向に夫々ピークを持っていたのヲ撮分は回路と反転回路
とで吸収処理していた場合と比べ、１個の絶対値回路で
構成しであるから、部品Ｑ数が少々く、回路を複雑にす
ることなく投光方向によるナイフマークの見逃し？解消
することができる効果を奏する。
の反射光の受光器における光量変化に対応する出力信号
を絶対値化する絶対値回路を形成し、この絶対値回路か
らの信号を２値化するようにしたので、投光方向の違い
による反射光の受光器からの出力信号を、正方向、負方
向に夫々ピークを持っていたのヲ撮分は回路と反転回路
とで吸収処理していた場合と比べ、１個の絶対値回路で
構成しであるから、部品Ｑ数が少々く、回路を複雑にす
ることなく投光方向によるナイフマークの見逃し？解消
することができる効果を奏する。
第１図は前提と々るナイフマーク検査機の斜視図、第２
図及び第３図（ａ）〜（ｃ）は同上の投光方向が互いに
異なる場合の動作説明図であって夫々（ａ）はナイフマ
ーク断面に対する投光状惑の説明図、（ｂ）は受光素子
の出力特性図、（Ｃ）はバイパスフィルタの出力特性図
、第４図はｌｉｌ上の改良したづ０ツク図、第５図は本
発明の一実施例のづ０９９図、第６図は同上の他の実施
例のづ０ツク図で、（１）はスライス単板、（２１（２
Ａ）は投光器、（３）は受光器、（１５）は絶対値回路
、Ｘはナイフマークである。 代理人 弁理士 石 １）長 七 （９１３ｇ
図及び第３図（ａ）〜（ｃ）は同上の投光方向が互いに
異なる場合の動作説明図であって夫々（ａ）はナイフマ
ーク断面に対する投光状惑の説明図、（ｂ）は受光素子
の出力特性図、（Ｃ）はバイパスフィルタの出力特性図
、第４図はｌｉｌ上の改良したづ０ツク図、第５図は本
発明の一実施例のづ０９９図、第６図は同上の他の実施
例のづ０ツク図で、（１）はスライス単板、（２１（２
Ａ）は投光器、（３）は受光器、（１５）は絶対値回路
、Ｘはナイフマークである。 代理人 弁理士 石 １）長 七 （９１３ｇ
Claims (2)
- （１） スライス単板の移送路上に投光器を配置して帯
状の投光をスライス単板に対し浅い角度で照射し、上記
帯状の投光のスライス単板への入射部の直上方にライン
状の受光器を配置し、受光器配設部に対しスライス単板
移送方向の前方及び後方に夫々投光器を配置し、順次送
られてくるスライス単板毎に上記両投光器より交互に投
光を行ない、この投光の反射光に対応する受光器への入
射光量の変化によりすイフマークを検出するようにした
ナイフマーク検査機において、投光器からの交互に投光
されてその反射光の光量変化に対応する出力信号を絶対
値化する絶対値面１％を形成し、この絶対値回路からの
信号を２値化して成ることを特徴とするナイフマーク検
査機。 - （２）絶対値回路からの信号を、スライス単板の地肌の
違いにより正規化処理し、この正規化処理された信号分
２値化して成ることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載のナイフマーク検査＠８
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17537081A JPS5876708A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17537081A JPS5876708A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876708A true JPS5876708A (ja) | 1983-05-09 |
| JPS6351481B2 JPS6351481B2 (ja) | 1988-10-14 |
Family
ID=15994901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17537081A Granted JPS5876708A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | ナイフマ−ク検査機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876708A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04282888A (ja) * | 1991-03-11 | 1992-10-07 | Nec Toyama Ltd | 印刷配線板の製造方法 |
-
1981
- 1981-10-31 JP JP17537081A patent/JPS5876708A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6351481B2 (ja) | 1988-10-14 |
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