JPS5876745A - 傷検出装置 - Google Patents

傷検出装置

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Publication number
JPS5876745A
JPS5876745A JP56175475A JP17547581A JPS5876745A JP S5876745 A JPS5876745 A JP S5876745A JP 56175475 A JP56175475 A JP 56175475A JP 17547581 A JP17547581 A JP 17547581A JP S5876745 A JPS5876745 A JP S5876745A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detected
light
optical system
detection device
flaw detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP56175475A
Other languages
English (en)
Inventor
Kihachiro Nishikawa
西川 喜八郎
Shoichi Nishizawa
西沢 章一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP56175475A priority Critical patent/JPS5876745A/ja
Publication of JPS5876745A publication Critical patent/JPS5876745A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、金属板、プラスナック板等の被検出体の表面
傷を検出する装置に関するものである。
第1図に示すように金属板、プラス−J−ツク板等の板
1の表面に+Jけられた。引掻き傷の如き微小な表面傷
aid切欠状となっている。 l、J<かってその板1
を透かして見なければ肉眼でtl、その表面傷aの識別
が困難であり、しかも確実1’lがない、このため、従
来、このような板1の表面傷aを検出するには、顕微鏡
測定の際に用いらJするlli’l祝!11f照明法が
採用されている。即ち、仮10人面に光を矢印で示すよ
うに斜め方向より照射し、表面傷aのノl 検出光を」一方に反射させて表面傷aのメヲ浮上がらせ
るようにしている。しかしながら板10表面傷は第2図
に示すようにal、 a2. a3の如く種々の方向に
伺けられているので、各表面傷a1.a2゜a3毎r(
光線の照射方向が傷の直角方向から当るように、光の向
きを変えて照射し、捷だその反射光を検出しなければな
らないっ従って種々の方向から光線を照射する複数個の
照明機を必要とし、特に産業用の板のように広い視野を
照明する必要がある場合には、照明機が大型化し、設置
も困難であった。−!、た一1=述した方法では微小な
引掻き傷aの検出が困難であった。
本発明は」−記従来の欠点を除去し、−個の光源で、被
検出体に付けられた種々の表面傷を簡単。
且つ確実に検出することができ、また装置全体をコンバ
クi・にまとめることができて取扱いの便を図ることが
でき、史にはコストの低下を図ることができるようにし
た傷検出装置全提供することを目的とするものである。
本発明は、か\る目的を二達成する/とめ、)1′、源
からの入射光を第1のミラーによりわに検出体の被検出
面に対し所定の方向に偏向さ、1(、(の反Q1ハ: 
4第2のミラーにより被検出面に勾(2,i、1め方向
に反射させて照射させ、被検出面の傷<、明部、!、:
 I、、、 T−検出することを特徴とするもので、(
うzl。
身重、本発明についてイ、−の実がり例118共に訂細
に説明する。
第3図幻−その実施例の)Y、掌部分の昂“、族4小す
断面図であって、1は仮状の測定物体、2 il、検出
カメラで、内部に前記測定物体1からの反射光を集光す
るレンズ4及びフ、、lトダイオート゛リニアアレイ(
通称ラインセンザー)等の尤電横出素r3を・備えてい
るj 3’kiこの九電検出素r3の出力4・処理する
2値化変換器、5幻、前記力メシ2の1)II方にこれ
と一体に設けたミラーボックス、6t1牢而反面ミラー
で、前記ミラーボックス6の佃し1.・に利(。
て4ピの角度で設けらlじCいる。9t1.照明づ1土
りガる光源、10す:前記光源からの)v4の集)15
度111・ひに3r行度の調節を行なう集)Y、レンズ
、7t、1前記ミラーボツクス5の下部で、前記平面形
状の第1の反射ミラー6から離隔するに従って次第に径
が縮小する逆円錐状の反射面を有する散光用の第2の反
射ミラーである。なお第1の反射ミラー6は前記光電素
子1への光の通過のために中心部6′は透明になってい
る。11は前記集光レンズ10の前方でこれと同軸に設
けた透明ガラス等よりなる透光部である。
次にこの実施例の動作について説明する。光源9からの
光は集光レンズ10.透光部11を経て、第1の反射ミ
ラー6の周辺部で下方に反射され、次に第2の反射ミラ
ーTにより再び反射され測定物体1の斜上方よりこI′
15を照射する。1lIII定物体1からの反射光のう
ち測定物体1と垂直な成分は、第1の反射ミラー6を透
過後、集光レンズ4により集光し、これを光電検出素子
3で検出して、2値化変換器3′ヲ経て電気信号として
取り出す、前記信号のレベルと傷の有無との関係を第4
図に示す。
第4図Aにおいて、12は○レベル、14はスライスレ
ベル、15i1:実際の電気信シシのレベル(検出レベ
ル)を示す、)Y4電検出素子3の走査が同図の左から
右に向って行なわ、tまたとずろと、測定物1の表面に
傷がないと−1,方・\の散乱>Y4&:1.’ fJ
:いので、検出レベル15f:I:l″r、 p*:○
に近い暗レベルになる。しかしその1lll jY物1
0表面に傷かあ右d:、同図のイで示す」:うにその点
で11を乱光か急増し、スライスレベル14を越える。
CのlL’j、I、’、iの出力を2値化して2値化変
換器3/ 、1: (′)取りIli 4!−t、I、
同図Bに示すように出力がデジタル(l’i’ j;と
し、、 −C(IC〕れる。
上記実施例によれば、光計9か1)の)r1ケ第2のミ
ラーにより反射させて、#III ’Ml物1の外周方
向の多方向の斜上方から光な二照Q1できるので、傷が
どちらの方向を向いでいでも常に111を乱光がイ:l
ら、11る利点を有する。
なお、ミラーボックス6は小型11.(す7.)/コめ
に、逆円錐体に限らず、複数個の平面反則fE:; V
C分割して多面体で構成してもよい。このような多面体
反射ミラー7′ヲ用いて構成1−た他の実施例の外観図
全第6図に示す。
同図において、2′は検出力ノラ、5′はミラーボック
ス、7′は多面体反射ミラー、8′は照明灯による光源
9′の支持具、11′は透光部、12は光電検出素子3
と処理機13を接続するケーブル、14は装置の支持台
である。
この実施例によ扛ば、装置全体をコンパクトに1とめら
れ、測定物体1の前方に置くたけで高速に移動する測定
物体1」−の傷を確実に検出することができるっ なお上記実施例では反射ミラー6.7を用いでいるが、
この代りにプリズム等の偏向手段を用いてもよい。
以上の説明より明らかなように本発明によれば、光源か
らの光を第1の光学系により被検出体の被検出面方向に
偏向させ、この反射光を第2の光学系により被検出面に
対し斜め方向に偏向させて照射するので、−個の光源で
種々の表面傷を簡単。
且つ確実に検出することができる。、また装置全体をコ
ンパクトに1とめることができるので、取扱い便を図る
ことができ、史にc−1、:Jストの低1−′ヲ図るこ
とができる等の利点かある。
【図面の簡単な説明】
第1図は被検出体の表面傷と一子の検出用の照明灯の関
係の説明図、第2図&:1:被イが111体の表面傷を
示す平面図、第3図&J木発明の 実施例に1、る傷検
出装置の断面図、第4図A、J、1回υ部の出方信号波
形図、第5図rJ、他の実施例(/4目)11図である
−11・・・・・・被検出体、2・・・・・・検出ツノ
メラ、3・・・・・光電検出素子、4・−・・・・レン
ズ、5・・・・・・ミラーボックス、6・−・・・・第
1の反射ミラー、7・・・・・第2の反射ミラー、9・
・・・・・)Y、di瓶a・・・・・・傷。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源の発した光を被検出体の被検出面の方向に偏
    向する第1の光学手段と、この第1の光学手段からの光
    を前記被検出面に対し斜め方向に反射して照射する第2
    の光学系と、被検出而の傷を明部として検出する手段と
    を備えたことを特徴とする傷検出装置。
  2. (2)被検出而の傷の検出手段としてラインセンサーカ
    メラを用いラインセンサーの明暗判別スライスレベルを
    被検出面からの反射光の暗レベルを基準として設定し、
    被検出面上の傷からの反射光を明レベルとして検出する
    こと全特徴とする特許請求の範囲第1項記載の傷検出装
    置。
  3. (3)第1の光学系として反射ミラーを用い、被検出面
    の傷からの反射光とラインセンサーカメラに対し造渦さ
    せる部分前記反射ミラーに設けたことを特徴とする特許
    請求の範囲第2項記載の傷検出装置。
  4. (4)第2の光学系(d第1の光学系1.す1加隔する
    に従い径が次第に縮小する円釦状に形成しl(−反射ミ
    ラーを用いたことを唱°徴とする牛ll、τ′1..l
    lI水の範囲第2項または第3項記載の傷検出装置。
  5. (5)第2の光学系として複数個の1/1rlj f!
    +! ?i”多角卸台形状に組合せて用いたこと4−1
    冒;t11−する実用1jJl案登録請求の範囲第2項
    71・たiL第a JJ:i記載の傷検出装置。
JP56175475A 1981-10-30 1981-10-30 傷検出装置 Pending JPS5876745A (ja)

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JPS5876745A true JPS5876745A (ja) 1983-05-09

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ID=15996701

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0344655U (ja) * 1989-09-06 1991-04-25

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0344655U (ja) * 1989-09-06 1991-04-25

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