JPS5876776A - 変圧器の絶縁破壊個所検出方式 - Google Patents
変圧器の絶縁破壊個所検出方式Info
- Publication number
- JPS5876776A JPS5876776A JP56175230A JP17523081A JPS5876776A JP S5876776 A JPS5876776 A JP S5876776A JP 56175230 A JP56175230 A JP 56175230A JP 17523081 A JP17523081 A JP 17523081A JP S5876776 A JPS5876776 A JP S5876776A
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- Japan
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- dielectric breakdown
- transformer
- winding
- pulse
- breakdown
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/62—Testing of transformers
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- Power Engineering (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は変圧器の絶縁破壊個所検出方式に関するもの
である。
である。
従来、変圧器の絶縁破壊試験を行なった後、その破壊個
所の検出は目視によっていた。即ち、絶縁破壊を起こし
た変圧器の中身を取り出し、巻線の外周部やリード部分
などの比較的容易に観察出来る部分について放電痕の有
無を調べ、放電痕が発見できなければ次に巻線を解体し
て更に巻線の内部を点検するようにしていた。
所の検出は目視によっていた。即ち、絶縁破壊を起こし
た変圧器の中身を取り出し、巻線の外周部やリード部分
などの比較的容易に観察出来る部分について放電痕の有
無を調べ、放電痕が発見できなければ次に巻線を解体し
て更に巻線の内部を点検するようにしていた。
従来の目視による点検は、このようなルて進められてい
たため、絶縁破壊個所が発見出来ない場合には、発見出
来るまで変圧器を解体し詳、１１１１１に点検する結果
となり、破壊個所検出作業に多くの労力を要する上、健
全な部分まで解体してしまうという不都合があった。特
にタップ間の微小絶縁破壊の場合などは、はとんど破壊
痕跡が残らないため目視によっては被接個所を発見出来
ないか、見逃してしまう恐れがあり確実な検出作業が出
来ないという欠点があった。
たため、絶縁破壊個所が発見出来ない場合には、発見出
来るまで変圧器を解体し詳、１１１１１に点検する結果
となり、破壊個所検出作業に多くの労力を要する上、健
全な部分まで解体してしまうという不都合があった。特
にタップ間の微小絶縁破壊の場合などは、はとんど破壊
痕跡が残らないため目視によっては被接個所を発見出来
ないか、見逃してしまう恐れがあり確実な検出作業が出
来ないという欠点があった。
この発明はこのような欠点を除去するためになされたも
ので、従来、変圧器巻線内部の電位分布を測定するとき
などに使用するノぐルス発生装置に、パルス発生後、所
定時間経過してゲートトリガ用のパルスを発生させる装
置を付加し、このゲー））リガ用パルスによって導通ず
るサイリスタ装置を変圧器巻線のに「示の部分に接続し
て、この部分の絶縁破壊を模擬すると共に、この時の変
圧器巻線電流の波形と絶縁４ＭＩｔ堕試験時の変圧器巻
線電流の波形とを比較することにより絶縁破壊個所を判
定するようにした装置？ｔを提供するものである。
ので、従来、変圧器巻線内部の電位分布を測定するとき
などに使用するノぐルス発生装置に、パルス発生後、所
定時間経過してゲートトリガ用のパルスを発生させる装
置を付加し、このゲー））リガ用パルスによって導通ず
るサイリスタ装置を変圧器巻線のに「示の部分に接続し
て、この部分の絶縁破壊を模擬すると共に、この時の変
圧器巻線電流の波形と絶縁４ＭＩｔ堕試験時の変圧器巻
線電流の波形とを比較することにより絶縁破壊個所を判
定するようにした装置？ｔを提供するものである。
以下１図に示すこの発明の一実施例について説明する。
第１図において（１）は絶縁破壊試験が行なわれる変圧
器の被検査巻線、（２）は同じ変圧器の他の巻線、（３
）・（４）は被検査巻線のタップ、（５）は被検査巻線
の１１Ｌ流波形を観測するためのオシロスコープ、（６
）は巻線の任意の個所に接続され１その個所の電圧波形
を測定するオシロスコープで、図ではタップ（３Ｌ（４
１間に接続さｔしている。（７）はこの発明の主要部を
構成する絶縁破壊模擬装置で、以下に述べる各装置によ
り構成されている。即ち（８）は被検査巻線（１）に試
験ノぐルスを印加する。＜ルス発生装置で、試験パルス
の発生後、所定時 ”聞経過後にゲートトリガ用の
／＜ルスを発生する装置を内蔵しており、このゲートト
リガ用のノぐルスを端子（９）に発生させる。また、（
１０）は端子（１１）、（１２）間に接続されたサイリ
スタ装置で、そのゲート電極は上述したゲートトリガ用
のパルスが取り出される端子（９）に接続されている。
器の被検査巻線、（２）は同じ変圧器の他の巻線、（３
）・（４）は被検査巻線のタップ、（５）は被検査巻線
の１１Ｌ流波形を観測するためのオシロスコープ、（６
）は巻線の任意の個所に接続され１その個所の電圧波形
を測定するオシロスコープで、図ではタップ（３Ｌ（４
１間に接続さｔしている。（７）はこの発明の主要部を
構成する絶縁破壊模擬装置で、以下に述べる各装置によ
り構成されている。即ち（８）は被検査巻線（１）に試
験ノぐルスを印加する。＜ルス発生装置で、試験パルス
の発生後、所定時 ”聞経過後にゲートトリガ用の
／＜ルスを発生する装置を内蔵しており、このゲートト
リガ用のノぐルスを端子（９）に発生させる。また、（
１０）は端子（１１）、（１２）間に接続されたサイリ
スタ装置で、そのゲート電極は上述したゲートトリガ用
のパルスが取り出される端子（９）に接続されている。
次に動作について説明する。
変圧器巻線の被検査巻線（１）に対する絶縁破壊試験は
試験パルス発生装置（８）によって発生する試験インパ
ルスを被検査巻線（１）に印加して行なわれる。そして
この時の被検査巻線（１）の電流波形をオシロスコープ
（５）によって観測しておく。
試験パルス発生装置（８）によって発生する試験インパ
ルスを被検査巻線（１）に印加して行なわれる。そして
この時の被検査巻線（１）の電流波形をオシロスコープ
（５）によって観測しておく。
その後、被検査巻線（１）のどの個所で絶縁破壊が生じ
たかを予想し、その予想個所からチェックを開始する。
たかを予想し、その予想個所からチェックを開始する。
今、被検査巻線（１）のタップ（３）、（４）聞で絶縁
破壊が起こったと予想した場合、サイリスタ装置ａ（１
０）の端子（１１）、（］ ２ ）に接続された外部引
出しり一ド（Ａ）、（Ｂ）をタップ（３）、（４）曲に
接続１し、この状態でパルス発生装置（８）から被検査
巻線（１）に試験インパルスを印加する。この時、タッ
プ（３）、（４）間に発生する電圧の波形をオシロスコ
ープ（６）で読み取る。第２図はパルス発生装置ｇ’ｒ
（８）によって発生された試験インパルス（１３）と
、オシロスコープ（６）によって読み取られたタップ（
３Ｌ（４）間の電圧波形（１４）を示す。
破壊が起こったと予想した場合、サイリスタ装置ａ（１
０）の端子（１１）、（］ ２ ）に接続された外部引
出しり一ド（Ａ）、（Ｂ）をタップ（３）、（４）曲に
接続１し、この状態でパルス発生装置（８）から被検査
巻線（１）に試験インパルスを印加する。この時、タッ
プ（３）、（４）間に発生する電圧の波形をオシロスコ
ープ（６）で読み取る。第２図はパルス発生装置ｇ’ｒ
（８）によって発生された試験インパルス（１３）と
、オシロスコープ（６）によって読み取られたタップ（
３Ｌ（４）間の電圧波形（１４）を示す。
タップ間電圧のピークは試験インノぐパルス（１３）の
発生後Ｔ１を経過した時点で発生し、これはタップ（３
） （４）間で放電が発生した時と推測さｉするため、
このＴＩ経過時点でパルス発生装＋１ｆｆｉ （８）の
端子（９）にゲートトリガ用のパルスを発生するように
パルス発生装置（８）をセットする。この状硬て再度、
パルス発生装置（８）から被検査巻線（１）に試験イン
パルスを印加する。この場合、タップ（３）、（４）（
５） 間で放電が発生したと推測される時間に端子（９）から
のゲートトリガ用パルスによってサイリスク装置（１０
）が導通しタップ（３）、（４）間は電気的に接続され
る。つまり放電によってタップ（３）、（４）間が短絡
される状態を模擬したことになる。この時の被検査巻＃
（１）の電流波形をオシロスコープ（５）で観測し、
先に述べた絶縁破壊試験時に観測した電流波形と比較検
討する。
発生後Ｔ１を経過した時点で発生し、これはタップ（３
） （４）間で放電が発生した時と推測さｉするため、
このＴＩ経過時点でパルス発生装＋１ｆｆｉ （８）の
端子（９）にゲートトリガ用のパルスを発生するように
パルス発生装置（８）をセットする。この状硬て再度、
パルス発生装置（８）から被検査巻線（１）に試験イン
パルスを印加する。この場合、タップ（３）、（４）（
５） 間で放電が発生したと推測される時間に端子（９）から
のゲートトリガ用パルスによってサイリスク装置（１０
）が導通しタップ（３）、（４）間は電気的に接続され
る。つまり放電によってタップ（３）、（４）間が短絡
される状態を模擬したことになる。この時の被検査巻＃
（１）の電流波形をオシロスコープ（５）で観測し、
先に述べた絶縁破壊試験時に観測した電流波形と比較検
討する。
電流波形が同じであればタップ（３）、（４） 間で絶
縁破壊が起こっていたことを確認する形となるが、電流
波形が異なる場合には、タップ（３）、（４）聞は絶縁
破壌を起こしていないことを確認することになるため更
に別の個所について同じ操作をくり返し同じ電流波形と
なる位置を確認することにより絶縁破壊個所を知ること
が出来るものである。
縁破壊が起こっていたことを確認する形となるが、電流
波形が異なる場合には、タップ（３）、（４）聞は絶縁
破壌を起こしていないことを確認することになるため更
に別の個所について同じ操作をくり返し同じ電流波形と
なる位置を確認することにより絶縁破壊個所を知ること
が出来るものである。
なお、以上の説明ではタップ間の絶縁破壊を想定したが
、タップ間に限らず高圧側の端子と接地部との間の絶縁
破壊のように微小絶縁破壊といえないような部分に対し
ても適用可能であ（６） リ、その部分が裸電極などのために放電痕跡が小さく目
視では放電したかどうか判定しにくい部分などに対して
は特に効果的である。この発明は以上のように構成され
ているため変圧器の絶縁破壊個所をすみやかにかつ４７
（Ｒ実に検出することか出来るものである。
、タップ間に限らず高圧側の端子と接地部との間の絶縁
破壊のように微小絶縁破壊といえないような部分に対し
ても適用可能であ（６） リ、その部分が裸電極などのために放電痕跡が小さく目
視では放電したかどうか判定しにくい部分などに対して
は特に効果的である。この発明は以上のように構成され
ているため変圧器の絶縁破壊個所をすみやかにかつ４７
（Ｒ実に検出することか出来るものである。
第１図はこの発明の一実施例を示す接続図、第２図は試
験用インパルスと、破検査巻線の電圧波形の説明図であ
る。 図中、（８）はパルス発生装置、（９）はゲートトリガ
用パルスの発生端子、（１０）はサイリスタＭ ｉｔ
、（５）、（６）はオシロスコープである。 代理人 弁理士 葛 野 信 −（７） 章１図 ９ 第２図 ４３
験用インパルスと、破検査巻線の電圧波形の説明図であ
る。 図中、（８）はパルス発生装置、（９）はゲートトリガ
用パルスの発生端子、（１０）はサイリスタＭ ｉｔ
、（５）、（６）はオシロスコープである。 代理人 弁理士 葛 野 信 −（７） 章１図 ９ 第２図 ４３
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 変圧器巻線に印加するためのパルスを発生すると
共に、上記パルスの発生後所定時間経過時にゲートトリ
ガ用の別のパルスを発生するパルス発生装置、上記変圧
器巻線の絶縁破壊予測個所に接続し得るようにされ・上
記ゲートトリガ用のパルスによって導通制御されるサイ
リスク装置および上記サイリスク装置の導通時における
上記変圧器巻線の電流波形と、絶縁破壊試験時における
上記変圧器巻線の電流波形とをそれぞれ観測する電流波
形観測装置を備え、上記面電流波形を比較することによ
り上記変圧器巻線の絶縁破壊を判定するようにした変圧
器の絶縁破壊個所検出方式。 ２、電流波形観測装置はオシロスコープであることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の変圧器の絶縁破壊
個所検出方式。 （１）
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56175230A JPS5876776A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | 変圧器の絶縁破壊個所検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56175230A JPS5876776A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | 変圧器の絶縁破壊個所検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876776A true JPS5876776A (ja) | 1983-05-09 |
Family
ID=15992542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56175230A Pending JPS5876776A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | 変圧器の絶縁破壊個所検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876776A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103323736A (zh) * | 2013-07-04 | 2013-09-25 | 艾柯电器（苏州）有限公司 | 一种变压器上用半短路点检测装置 |
| EP2474710A3 (en) * | 2011-01-05 | 2014-03-19 | Hamilton Sundstrand Corporation | Ram air turbine with flux regulated permanent magnet generator and testing method |
-
1981
- 1981-10-31 JP JP56175230A patent/JPS5876776A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2474710A3 (en) * | 2011-01-05 | 2014-03-19 | Hamilton Sundstrand Corporation | Ram air turbine with flux regulated permanent magnet generator and testing method |
| US8855952B2 (en) | 2011-01-05 | 2014-10-07 | Hamilton Sundstrand Corporation | Ram air turbine with flux regulated permanent magnet generator and testing method |
| CN103323736A (zh) * | 2013-07-04 | 2013-09-25 | 艾柯电器（苏州）有限公司 | 一种变压器上用半短路点检测装置 |
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