JPS587806A - 磁気薄膜材料 - Google Patents
磁気薄膜材料Info
- Publication number
- JPS587806A JPS587806A JP57064846A JP6484682A JPS587806A JP S587806 A JPS587806 A JP S587806A JP 57064846 A JP57064846 A JP 57064846A JP 6484682 A JP6484682 A JP 6484682A JP S587806 A JPS587806 A JP S587806A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- atoms
- thin film
- magnetic
- magnetic recording
- magnetostriction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 53
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims description 52
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 22
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 20
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 20
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 11
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 40
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 25
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 25
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 16
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 13
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 13
- 229910018979 CoPt Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 8
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 4
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 3
- 229910020707 Co—Pt Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017061 Fe Co Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 2
- 229910001004 magnetic alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 2
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910020637 Co-Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002546 FeCo Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002549 Fe–Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000691 Re alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000929 Ru alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000010420 art technique Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JUWSSMXCCAMYGX-UHFFFAOYSA-N gold platinum Chemical compound [Pt].[Au] JUWSSMXCCAMYGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005298 paramagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000010587 phase diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007847 structural defect Effects 0.000 description 1
- 229910002070 thin film alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
- G11B5/65—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition
- G11B5/656—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition containing Co
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
- H01F41/18—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates by cathode sputtering
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/922—Static electricity metal bleed-off metallic stock
- Y10S428/9265—Special properties
- Y10S428/928—Magnetic property
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12431—Foil or filament smaller than 6 mils
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気記録媒体被覆に関連し、さらに具体的には
磁気の極性によって符号化された離散的領域の形でデー
タが記録される薄膜磁気記録層に関連する。記録層は磁
気記録ヘッドの如き磁気記録変換器によって、磁化が制
御され、感知される。
磁気の極性によって符号化された離散的領域の形でデー
タが記録される薄膜磁気記録層に関連する。記録層は磁
気記録ヘッドの如き磁気記録変換器によって、磁化が制
御され、感知される。
磁気記録媒体は、テープ、ディスク、ドラム及び磁気記
録材料の薄膜を支持し得る他の基板材料上に支持され得
る。
録材料の薄膜を支持し得る他の基板材料上に支持され得
る。
背景技法
磁気記録媒体中の情報の記憶によっては、データの記憶
の信頼性が特に重要である。現在のデータ処理における
傾向はデータ処理装置のユニットをたえず小さくする事
に向けられている。磁気記録媒体の場合には、この事は
磁気的情報が以前よシも狭い領域に記憶される事を意味
する。この事による問題は媒体及び媒体を読取る磁気記
録ヘッドが正確に使用されなければならない点でよりき
わどくなる点にある。ヘッドは情報が記憶されていると
推定される正しい位置に正確に移動される必要がある。
の信頼性が特に重要である。現在のデータ処理における
傾向はデータ処理装置のユニットをたえず小さくする事
に向けられている。磁気記録媒体の場合には、この事は
磁気的情報が以前よシも狭い領域に記憶される事を意味
する。この事による問題は媒体及び媒体を読取る磁気記
録ヘッドが正確に使用されなければならない点でよりき
わどくなる点にある。ヘッドは情報が記憶されていると
推定される正しい位置に正確に移動される必要がある。
もし媒体が機械的に安定に保持されているとすると、磁
気記録媒体を読取るための位置に磁気記録ヘッドを移動
させるサーボ制御システム及び駆動装置は基板上の暁知
の位置に基づいてそれ自身を位置付ける。しかじなか・
ら、現在使用されている磁気記録媒体は情報が媒体中に
記憶される時に、発生される磁歪力が記憶された情報を
変化し得る。従って、出来るだけ磁歪のない材料より成
る磁気記録媒体が極めて望まれる。磁気記録媒体は0の
磁歪を有する事が好ましい。
気記録媒体を読取るための位置に磁気記録ヘッドを移動
させるサーボ制御システム及び駆動装置は基板上の暁知
の位置に基づいてそれ自身を位置付ける。しかじなか・
ら、現在使用されている磁気記録媒体は情報が媒体中に
記憶される時に、発生される磁歪力が記憶された情報を
変化し得る。従って、出来るだけ磁歪のない材料より成
る磁気記録媒体が極めて望まれる。磁気記録媒体は0の
磁歪を有する事が好ましい。
米国特許第5755796号は円筒ドメイン構造体を形
成するため単結晶六方晶系コバル) (Co)薄@全形
成するため不活性気体中でコバルトを含むターゲット全
エピタキシャルにスパッタする方法が説明されている。
成するため単結晶六方晶系コバル) (Co)薄@全形
成するため不活性気体中でコバルトを含むターゲット全
エピタキシャルにスパッタする方法が説明されている。
この事に関連して、ターゲットはルテニウム、レニウム
等の如き貴金属を含む事が提案きれている。第1表は、
高温に対する六方晶系相構造全安定化てせる事にょっで
高い異方性磁場を保持しつつ、coの消磁場を抑制する
ために5乃至12原子チの白金icoに添加する方法を
示している。この特許請求の範囲第(6)項は5乃至2
5原子チのptがCoに添加され得る事を述べている。
等の如き貴金属を含む事が提案きれている。第1表は、
高温に対する六方晶系相構造全安定化てせる事にょっで
高い異方性磁場を保持しつつ、coの消磁場を抑制する
ために5乃至12原子チの白金icoに添加する方法を
示している。この特許請求の範囲第(6)項は5乃至2
5原子チのptがCoに添加され得る事を述べている。
ルテニウム及びレニウム及びロジウムを夫々35.25
及び2o原子チ迄合金中に含まし得る。インジウム及び
オスミウムは4o原子チ迄加えられ得る。この特許は同
筒ドメイン・メモリに対する材料に向けられている。こ
の材料の磁気パラメータは示されていない。低磁歪もし
くは高保磁力の提案はなされていない。多結晶薄膜は提
案されていす、まして面中心立体構造体ではない。
及び2o原子チ迄合金中に含まし得る。インジウム及び
オスミウムは4o原子チ迄加えられ得る。この特許は同
筒ドメイン・メモリに対する材料に向けられている。こ
の材料の磁気パラメータは示されていない。低磁歪もし
くは高保磁力の提案はなされていない。多結晶薄膜は提
案されていす、まして面中心立体構造体ではない。
米国特許第4202932号はレニウム、ルテニウムも
しくはオスミニウムとコバルトの合金より成る磁気記録
媒体を開示している。この材料は5oooe迄の保持力
を有する。飽和誘導は5000ガウスに達し得る。混合
体中のReXRuもしくはOsの好ましい原子百分率は
5乃至15原子俤であり(第4欄、第64行)、白金(
第■−族)金属は2乃至25原子チ含まれる事を開示し
ているが、磁歪についての言及はなされていない。
しくはオスミニウムとコバルトの合金より成る磁気記録
媒体を開示している。この材料は5oooe迄の保持力
を有する。飽和誘導は5000ガウスに達し得る。混合
体中のReXRuもしくはOsの好ましい原子百分率は
5乃至15原子俤であり(第4欄、第64行)、白金(
第■−族)金属は2乃至25原子チ含まれる事を開示し
ているが、磁歪についての言及はなされていない。
米国特許第3929604号はイオンめっきによって多
数の磁気合金の中からとりわけCo’−Ptの磁気薄膜
を形成する方法を開示している。詳細に説明されている
合金(Co−Pt以外)の保持力は4000e以下であ
る。
数の磁気合金の中からとりわけCo’−Ptの磁気薄膜
を形成する方法を開示している。詳細に説明されている
合金(Co−Pt以外)の保持力は4000e以下であ
る。
米国特許第3625849号はスパッタリング、これに
続く加熱及び約600℃における焼なましによって高保
磁力及び低磁歪含有する磁気媒体の製造を開示している
。コバルトはCo−Cu合金の25−50重量%含まれ
る。他の提案されている第■族金属はFe及びNiであ
る。他の提案されている第rB族はAuである。提案さ
れている合金はCo−Au、Fe−Au、Fe−Cu及
びNi−Auである。Co−Pt合金の使用は提案され
ていない。
続く加熱及び約600℃における焼なましによって高保
磁力及び低磁歪含有する磁気媒体の製造を開示している
。コバルトはCo−Cu合金の25−50重量%含まれ
る。他の提案されている第■族金属はFe及びNiであ
る。他の提案されている第rB族はAuである。提案さ
れている合金はCo−Au、Fe−Au、Fe−Cu及
びNi−Auである。Co−Pt合金の使用は提案され
ていない。
米国特許出願第956.296号は磁気記録媒体に対す
るFe−Co−Cr組成の使用を開示している。しかし
ながら、本出願人はこの明細書に開示された組成中のF
eO量はかなりな値の磁歪音生ずる事を発見した。なん
となれば第2図中の相図でFeO量は45原子チから1
00原子チ迄変化し、さらに重要な事は、coの量が最
大量55原子チから0原子チの範囲にあるからである。
るFe−Co−Cr組成の使用を開示している。しかし
ながら、本出願人はこの明細書に開示された組成中のF
eO量はかなりな値の磁歪音生ずる事を発見した。なん
となれば第2図中の相図でFeO量は45原子チから1
00原子チ迄変化し、さらに重要な事は、coの量が最
大量55原子チから0原子チの範囲にあるからである。
他方本発明に従えば、coの最小量は64原子チで、最
大量は78原子俤に及ぶ。いずれの場合も、材料のクロ
ムの量(Cr)は略同−である。Crは耐腐食性を与え
るために存在する。この点においてこの特許出願の目的
は@3食性の新しい磁気記録媒体を与える事にある事を
強調しておきたい。
大量は78原子俤に及ぶ。いずれの場合も、材料のクロ
ムの量(Cr)は略同−である。Crは耐腐食性を与え
るために存在する。この点においてこの特許出願の目的
は@3食性の新しい磁気記録媒体を与える事にある事を
強調しておきたい。
従って磁歪によって生ずる開明についての言及はなされ
ていない。なんとなれば、この明細書で14磁歪の問題
よりもさらに重要である初期の磁気記録媒体の腐食の問
題にむけられているからである。
ていない。なんとなれば、この明細書で14磁歪の問題
よりもさらに重要である初期の磁気記録媒体の腐食の問
題にむけられているからである。
第3A図(参考1−3)における1点にはとりわけスパ
ッタリング過程によって付着式れるFe19原子%、C
o67原子チ及びCr14原子チの組Wtあげている。
ッタリング過程によって付着式れるFe19原子%、C
o67原子チ及びCr14原子チの組Wtあげている。
この参考項目にはこの様な組成を使用子る利点について
は述べられていない。
は述べられていない。
ここには使用可能ではない材料に関連する大量のデータ
が述べられているにすぎない。
が述べられているにすぎない。
要約すると、上記米国特許出願第956296号は0−
55原子チ、Co、8−22原子%、Cr及び残部のF
e(23−77原子%)の磁気媒体に関する。合金中の
Crの百分率は略同−であるが、Fe及びCoの百分率
は全く異な″す、Feの百分率の最適値は本文では16
原子%Feで参考項目の最低値1i23原子チであシ、
この値は本明細書における最大の許容可能値Fe21原
子チよりも大きい。この合金は変化している点がFe−
Co比が減少しているところを除き本願に最も近いもの
である。しかしながら、第3A図(参考1゜3 )Ic
見られる如く、組成はFr(9原子チ、C。
55原子チ、Co、8−22原子%、Cr及び残部のF
e(23−77原子%)の磁気媒体に関する。合金中の
Crの百分率は略同−であるが、Fe及びCoの百分率
は全く異な″す、Feの百分率の最適値は本文では16
原子%Feで参考項目の最低値1i23原子チであシ、
この値は本明細書における最大の許容可能値Fe21原
子チよりも大きい。この合金は変化している点がFe−
Co比が減少しているところを除き本願に最も近いもの
である。しかしながら、第3A図(参考1゜3 )Ic
見られる如く、組成はFr(9原子チ、C。
67原子チ、及びCrt41j子チであり、Hcilo
oe、Ms1050emu/f、Mr670emu/を
及び80.65及び腐食度4oである。
oe、Ms1050emu/f、Mr670emu/を
及び80.65及び腐食度4oである。
米国特許第3614893号は物質の磁化の変化に依存
して温度を感知するためKF615−55重量%、Co
45−65重量%及びCrもしくはVIO−20重量%
の組成の常磁性を利用した誘導性温度計全開示している
。しかしながら磁歪に関連する記述はみられない。しか
しながら、Fe23チ、Cr12%、0065重量%な
る最大の百分率のCof含む組成はFe25.6原子%
、Cr13.2原子チ及びCo62.3原子チなる組成
に換算されるが、本発明のCoに対する最大値64原子
チに重畳させる事は出来ない。実施例■における、合金
の組成はCr12重量%、Co52重量%及びFe56
重量%であるが、これJricr131原子チ、Co5
0.3原子チ及びFe56.7原子チに換算される。
して温度を感知するためKF615−55重量%、Co
45−65重量%及びCrもしくはVIO−20重量%
の組成の常磁性を利用した誘導性温度計全開示している
。しかしながら磁歪に関連する記述はみられない。しか
しながら、Fe23チ、Cr12%、0065重量%な
る最大の百分率のCof含む組成はFe25.6原子%
、Cr13.2原子チ及びCo62.3原子チなる組成
に換算されるが、本発明のCoに対する最大値64原子
チに重畳させる事は出来ない。実施例■における、合金
の組成はCr12重量%、Co52重量%及びFe56
重量%であるが、これJricr131原子チ、Co5
0.3原子チ及びFe56.7原子チに換算される。
” 5putter、ing Fe Co Cr
Th1n FilmMagnetic Media
’と題するKlokholm及びTan著の論文、I
BM TechnicalDisclosure
Bulletin 21、Jf6ACJ、4241(
1979年3月刊)は耐腐食性のための高Cr含量組成
を開示している。Crの含量は10原子チ迄である。
Th1n FilmMagnetic Media
’と題するKlokholm及びTan著の論文、I
BM TechnicalDisclosure
Bulletin 21、Jf6ACJ、4241(
1979年3月刊)は耐腐食性のための高Cr含量組成
を開示している。Crの含量は10原子チ迄である。
米国特許出願第221867号は0@歪Fe−Co−C
r磁気合金全説明している。合金は(FeCo ) 1−yl−xCrx であり、y(Fe)は合金のF
e −’Co部分に対して15−23原子係である事が
好ましい。x(Cr)の値は合金中7−20@子チで及
び残部の1−x(Fe−Co)は合金中85−92原子
百分率である。合金組成の最大範囲は次の通シでちる。
r磁気合金全説明している。合金は(FeCo ) 1−yl−xCrx であり、y(Fe)は合金のF
e −’Co部分に対して15−23原子係である事が
好ましい。x(Cr)の値は合金中7−20@子チで及
び残部の1−x(Fe−Co)は合金中85−92原子
百分率である。合金組成の最大範囲は次の通シでちる。
Fe:8−24原子チ
Co:56−83原子チ
Crニア−20原子チ
高濃度のFe(約50原子チ)及び低濃度のCr(約1
原子チ以下)の範囲についての多くの実験がな1れてい
るが、従来技法のどれも、本発明の磁気記録媒体として
使用するための低磁歪合金のための特定の範囲のCo−
Pt合金の使用全提案していない。
原子チ以下)の範囲についての多くの実験がな1れてい
るが、従来技法のどれも、本発明の磁気記録媒体として
使用するための低磁歪合金のための特定の範囲のCo−
Pt合金の使用全提案していない。
上述の如き米国特許第5755796号はスパッタリン
グによって付着される広範囲のCo−Pt材料を提案し
ているがこの特許は高保磁力、多結晶薄膜もしくは低も
しくは0の磁歪薄膜を開示していない。この特許におけ
るptの原子チの範囲は所望の結果を信頼性金もって形
成するには広過ぎる。さらに、この特許は本願発明の高
保磁力を生じる如き面心立方晶系相及び六方晶系相の組
合せの多結晶薄膜を開示していない。この様な高保磁力
は本発明でもくろんでいる磁気記録ディスク及び薄膜磁
歪記録ヘッドの硬磁性バイアスの応用には不可欠である
。
グによって付着される広範囲のCo−Pt材料を提案し
ているがこの特許は高保磁力、多結晶薄膜もしくは低も
しくは0の磁歪薄膜を開示していない。この特許におけ
るptの原子チの範囲は所望の結果を信頼性金もって形
成するには広過ぎる。さらに、この特許は本願発明の高
保磁力を生じる如き面心立方晶系相及び六方晶系相の組
合せの多結晶薄膜を開示していない。この様な高保磁力
は本発明でもくろんでいる磁気記録ディスク及び薄膜磁
歪記録ヘッドの硬磁性バイアスの応用には不可欠である
。
Co Pt なるバルク合金への主たる関心1
−)’ )’ は従来等原子組成領域の合金に中心がむけられていた。
−)’ )’ は従来等原子組成領域の合金に中心がむけられていた。
この様な合金は1000℃以上の温度から冷却される時
無秩序面心結晶構造をなし、600℃で焼きなましされ
る時、面心六方晶系構造となる。得られる極めて高い保
磁力(数10000e )は無秩序化処理の冷却率、熟
成の結果であり、成る程度、この化学量論値のまわりの
白金含量からの変動から生ずる。等原子組成の領域にお
いては薄膜の保磁力は(薄膜付着時の)400eから6
00℃の焼なまし後の10000eに増大する事が出来
る。
無秩序面心結晶構造をなし、600℃で焼きなましされ
る時、面心六方晶系構造となる。得られる極めて高い保
磁力(数10000e )は無秩序化処理の冷却率、熟
成の結果であり、成る程度、この化学量論値のまわりの
白金含量からの変動から生ずる。等原子組成の領域にお
いては薄膜の保磁力は(薄膜付着時の)400eから6
00℃の焼なまし後の10000eに増大する事が出来
る。
本発明の要約
スパッタされる多結晶薄膜である10乃至30原子チの
白金金含むCo Pt 薄膜において1−7
)’ は、高いCo原子チの好ましい範囲内でO磁歪、高保磁
力、及び高い飽和磁化を生ずるという予期せざる結果が
得られた。
白金金含むCo Pt 薄膜において1−7
)’ は、高いCo原子チの好ましい範囲内でO磁歪、高保磁
力、及び高い飽和磁化を生ずるという予期せざる結果が
得られた。
上述の範囲にあり(飽和磁化は約10000乃至250
0ガウス、第3図参照)、3000Xの厚さの薄膜の保
磁力は室温において付着されたままの状態で約400乃
至BDOOe間で変化する。
0ガウス、第3図参照)、3000Xの厚さの薄膜の保
磁力は室温において付着されたままの状態で約400乃
至BDOOe間で変化する。
焼きなましはこれらの保磁力全得るために必要とされな
い。600℃への焼きなましはこれ等の薄膜の保磁力を
変化させない。
い。600℃への焼きなましはこれ等の薄膜の保磁力を
変化させない。
これ等の薄膜の磁歪は一50X10’(純粋コバルト)
から25−50原子係の白金全含む薄膜に対する正の値
に迄変化する。従って0磁歪薄膜がこの系において得ら
れる。第1図を参照されたい。これ等の薄膜は磁気記録
ディスク上の媒体のみならず磁歪記録ヘッドのために使
用てれる如き硬磁性磁歪バイアス機構中でバイアス用の
永久磁石を与える薄膜として有用である。
から25−50原子係の白金全含む薄膜に対する正の値
に迄変化する。従って0磁歪薄膜がこの系において得ら
れる。第1図を参照されたい。これ等の薄膜は磁気記録
ディスク上の媒体のみならず磁歪記録ヘッドのために使
用てれる如き硬磁性磁歪バイアス機構中でバイアス用の
永久磁石を与える薄膜として有用である。
本発明の目的は高度の信頼性ある磁気記録ディスクを与
える低磁歪を有する磁気記録材料を与える事にある。
える低磁歪を有する磁気記録材料を与える事にある。
記録された情報は記録後も保持される事が望まれるので
、磁気記録材料の保持力(He )は周辺磁場によるデ
ータの偶然の消去を避けるために高くなければならない
。保磁力は500久程変の極めて薄い薄膜でも約500
0eのHcの値を有するFeCoCr媒体の保磁力を越
えなくてはならない。500叉よりも厚い薄膜では高い
HCを有する事が望ましい。
、磁気記録材料の保持力(He )は周辺磁場によるデ
ータの偶然の消去を避けるために高くなければならない
。保磁力は500久程変の極めて薄い薄膜でも約500
0eのHcの値を有するFeCoCr媒体の保磁力を越
えなくてはならない。500叉よりも厚い薄膜では高い
HCを有する事が望ましい。
本発明の他の目的は、大きな値の磁化はより大きな信号
全発生するので、磁気記憶ヘッドが媒体中に記録された
データを読取る時により良い信号を発生する磁化(4π
Mg)の値を有する磁気記録媒体材料を与える事にある
。
全発生するので、磁気記憶ヘッドが媒体中に記録された
データを読取る時により良い信号を発生する磁化(4π
Mg)の値を有する磁気記録媒体材料を与える事にある
。
本発明に従う薄膜磁気材料は磁歪記録ヘッド、データを
表わす磁気遷移を記録するための媒体及び他の磁気的応
用に適用され得る。層はCo及びptがスパッタされた
多結晶薄膜であり、磁歪値はx(Co)の値が材料の約
90原子チ迄の値を占めptの値(y)が約10乃至約
30原子チの値を占めるものとして、式Co Pt
に従って約−x y 35X10″から略0に近い正の値を経て、約+10″
に達する値を有する。従って外・部の機械(磁歪)力に
よる磁気状態の変化が避けられる。
表わす磁気遷移を記録するための媒体及び他の磁気的応
用に適用され得る。層はCo及びptがスパッタされた
多結晶薄膜であり、磁歪値はx(Co)の値が材料の約
90原子チ迄の値を占めptの値(y)が約10乃至約
30原子チの値を占めるものとして、式Co Pt
に従って約−x y 35X10″から略0に近い正の値を経て、約+10″
に達する値を有する。従って外・部の機械(磁歪)力に
よる磁気状態の変化が避けられる。
材料は約5C100eから約2 ’00 CI Oe迄
の保磁力He、約4000ガウスから約15000ガウ
スの飽和磁化を有する事が好ましい。
の保磁力He、約4000ガウスから約15000ガウ
スの飽和磁化を有する事が好ましい。
同様に合金はCo Pt なる式を有し、Xがy
約80原子%、yが約20及び60原子チの間にあり、
実質上0の磁歪゛±10X10”、約500エルステツ
ドよりも大きな保磁力及び約5000ガウスよりも大き
な飽和磁化又0の磁歪を有する事が好ましい。
実質上0の磁歪゛±10X10”、約500エルステツ
ドよりも大きな保磁力及び約5000ガウスよりも大き
な飽和磁化又0の磁歪を有する事が好ましい。
本発明の他の態様においては、Co Pt 合x
y 金はスパッタリングによって基板に付着される。
y 金はスパッタリングによって基板に付着される。
付着された薄膜はyが合金の10乃至50原子チに等し
いとして保磁力は保磁力は少なく共500’、1工ルス
テツド付着時の飽和磁化は4000乃至15000ガウ
スである。薄膜は合金中の20及び60原子チ間の白金
に対して磁化の正の値からOを通って正の値に変化す−
る磁歪、もしくは合金中の約45原子チの白金に対して
平坦な最大の、白金約50及び35原子チ間で最小の飽
和磁化を有する。
いとして保磁力は保磁力は少なく共500’、1工ルス
テツド付着時の飽和磁化は4000乃至15000ガウ
スである。薄膜は合金中の20及び60原子チ間の白金
に対して磁化の正の値からOを通って正の値に変化す−
る磁歪、もしくは合金中の約45原子チの白金に対して
平坦な最大の、白金約50及び35原子チ間で最小の飽
和磁化を有する。
本発明の薄膜は上述の如く、少なく共650℃迄の焼き
なましに対して安定である。
なましに対して安定である。
好ましくは、上述の材料の各々は磁気記録媒体もしくは
磁歪薄嘆記碌ヘツ′ド中の磁気的に硬いバイアス層とし
て使用される事が好ましい。
磁歪薄嘆記碌ヘツ′ド中の磁気的に硬いバイアス層とし
て使用される事が好ましい。
好ましい実施例の説明
第1図は以下に説明される如くスパッタリング薄膜中の
106倍された飽和磁歪対白金の百分率の曲線を示す。
106倍された飽和磁歪対白金の百分率の曲線を示す。
薄膜中のptの20及び35原子チ間で磁歪1d [1
を通過することが明らかである。
を通過することが明らかである。
磁歪の値は磁歪が伴う時に媒体上の機械的歪の効果を最
小にする磁気記録ディスク中の使用に対し゛て優れた値
から極めて適切な値にわたる約−10から+10の間に
存在する。
小にする磁気記録ディスク中の使用に対し゛て優れた値
から極めて適切な値にわたる約−10から+10の間に
存在する。
第■表
磁 歪
−51
10・5 ’=、−52
12−29
15,5−26
20,5−5
20,7−9,7
25,5−5,4
30,5+8.1
29.3 +1.75
45.5 +25
50.5 41
55.5 tl
60.5 +32
76.4
+2 5第2図は薄膜の厚き(オングス
トローム単位)の関数としてCo Pt の6
つの薄膜の保i −y y 磁力を示した図である。Pt18−28原子チもしくは
Co32−72原子チの6つの組成に対して保磁力は4
000e以上である事が明らかであろう。データはPt
25原子係の薄膜の場合に約600えの厚でにおいて保
磁力約20000eなる極めて高い値に達し、約500
久の厚さで約7000eに降下する事が明らかである。
+2 5第2図は薄膜の厚き(オングス
トローム単位)の関数としてCo Pt の6
つの薄膜の保i −y y 磁力を示した図である。Pt18−28原子チもしくは
Co32−72原子チの6つの組成に対して保磁力は4
000e以上である事が明らかであろう。データはPt
25原子係の薄膜の場合に約600えの厚でにおいて保
磁力約20000eなる極めて高い値に達し、約500
久の厚さで約7000eに降下する事が明らかである。
さらに、一般に、保磁力HcO値はPt23及び28原
子チの場合にはPt18原子チの場合よりも高い事が明
らかである。白金濃度の関数としてFe Pt1−
x x 及びCo Pt のスパッタ薄膜の磁気的性質−
yy を調べてみると、約3oooiの厚さのF ’e 1−
xpt の薄膜(ハバルク合金と類似の振舞をするが
、Co Pt の性質は予想に反してバルク材
−yy 料(同一の組成で厚いCo Pt 層)と対比−
y y して薄膜の場合は同様には振舞わない事が発見された。
子チの場合にはPt18原子チの場合よりも高い事が明
らかである。白金濃度の関数としてFe Pt1−
x x 及びCo Pt のスパッタ薄膜の磁気的性質−
yy を調べてみると、約3oooiの厚さのF ’e 1−
xpt の薄膜(ハバルク合金と類似の振舞をするが
、Co Pt の性質は予想に反してバルク材
−yy 料(同一の組成で厚いCo Pt 層)と対比−
y y して薄膜の場合は同様には振舞わない事が発見された。
特に、第6図に示された如く、Co1−ypt 薄膜
の飽和磁化はpto原子チにおける16000ガウスか
ら約34原子チにおける0ガウスに急激に減少する。よ
り高い白金含量では磁化は増大し、次いでFe
Pt 薄膜で得られ1−x x る結果と似た振舞をする。
の飽和磁化はpto原子チにおける16000ガウスか
ら約34原子チにおける0ガウスに急激に減少する。よ
り高い白金含量では磁化は増大し、次いでFe
Pt 薄膜で得られ1−x x る結果と似た振舞をする。
第4図はCoが夫々18.23及び28原子チの値を有
するCo Pt の6つの異なる組成1−y3’ の成る厚さの範囲に対する飽和磁化値の比較を示す。磁
化[P t 18原子チに対する約15キロガウス、P
t23原子チの場合に対する12キロガウス及びPt2
8原子チに対する10キロガウスから夫々Pt18.2
3及び28原子チに対する約12.7.5及び5キロガ
ウスの値に降下する。
するCo Pt の6つの異なる組成1−y3’ の成る厚さの範囲に対する飽和磁化値の比較を示す。磁
化[P t 18原子チに対する約15キロガウス、P
t23原子チの場合に対する12キロガウス及びPt2
8原子チに対する10キロガウスから夫々Pt18.2
3及び28原子チに対する約12.7.5及び5キロガ
ウスの値に降下する。
第5図はptが約25原子チで5i02スペ一サ層がパ
ーマロイ80 : 20/Ni : Feである場合に
Co Pt 合金を使用した時のスペ1−)
’ y −す厚さの関数としての保磁力H,cの曲線を示す。
ーマロイ80 : 20/Ni : Feである場合に
Co Pt 合金を使用した時のスペ1−)
’ y −す厚さの関数としての保磁力H,cの曲線を示す。
曲線は5i02スペーサの厚さの関数として描かれてい
る。375久から800X迄のC01−ypt 薄膜
の種々の厚さの場合に、保磁力はスペ−サの厚さの増大
と共に減少する事が明らかである。HeO値はCo
Pt 薄膜の厚さが81−y y 00Xの時はスペーサの厚さ5oonの近傍で最大値約
160eから・100e以下に降下し、C01−ypt
薄膜の厚さが375にの時はスペーサの厚さが20
00Xの場合には30e以下に降下する。
る。375久から800X迄のC01−ypt 薄膜
の種々の厚さの場合に、保磁力はスペ−サの厚さの増大
と共に減少する事が明らかである。HeO値はCo
Pt 薄膜の厚さが81−y y 00Xの時はスペーサの厚さ5oonの近傍で最大値約
160eから・100e以下に降下し、C01−ypt
薄膜の厚さが375にの時はスペーサの厚さが20
00Xの場合には30e以下に降下する。
Co−Pt薄膜の構造
Co−Pt系の電子回折による構造の研究1は付着時及
び2時間500℃で焼きなましされた後のCo P
t に対してa =2.53L Cニア5
25 。
び2時間500℃で焼きなましされた後のCo P
t に対してa =2.53L Cニア5
25 。
4、11 Kの格子パラメータを有する六方晶系の存在
を示した。六方晶系相は強い[101]繊細構造を有し
、粒子は極めて微細な条線がある。この条線は極めて高
保磁力(He−17000e)の源であると信じられる
a=3.61iの格子構造を有する面心立方体(fee
)構造の欠陥構造の存在を示している。600℃で2時
間焼きなましされた後、上記相はa=3.68iを有す
るfee構造へ変態する。試料は700℃に焼きなまし
された後、4000eへ減少される。
を示した。六方晶系相は強い[101]繊細構造を有し
、粒子は極めて微細な条線がある。この条線は極めて高
保磁力(He−17000e)の源であると信じられる
a=3.61iの格子構造を有する面心立方体(fee
)構造の欠陥構造の存在を示している。600℃で2時
間焼きなましされた後、上記相はa=3.68iを有す
るfee構造へ変態する。試料は700℃に焼きなまし
された後、4000eへ減少される。
Co45Pt55の研究は薄膜の場合、付着された時点
でa=5.78の格子パラメータのfee構造が得られ
る事を示した。500℃における焼きなましに基づいて
、構造は格子パラメータがa。
でa=5.78の格子パラメータのfee構造が得られ
る事を示した。500℃における焼きなましに基づいて
、構造は格子パラメータがa。
= 3.79えに対応する追加の電子回折線を示した。
付着時の5−1 ox 10−9mから5oo℃の焼き
なまし後の550−80X104に至る粒子成長には粒
子内の欠陥及び条線が伴う。この傾向は600℃の焼き
なまし後も続き、fcc相から分離された秩序ある六方
品系相の形成を示す線の分離かみられる。この相が15
00eから6oo℃の焼きなまし後の10000eK及
び高保磁力の源である。
なまし後の550−80X104に至る粒子成長には粒
子内の欠陥及び条線が伴う。この傾向は600℃の焼き
なまし後も続き、fcc相から分離された秩序ある六方
品系相の形成を示す線の分離かみられる。この相が15
00eから6oo℃の焼きなまし後の10000eK及
び高保磁力の源である。
付着時の格子パラメータがa =3.815にである
秩序あるfcc構造であるco Pt25 75 は500℃の加熱で強い[: 11 j)の繊細構造の
発達を伴う5x10x1(I□9m粒子成長を生じ、追
加の線の出現はa=3.85λの格子パラメータを有す
るfee構造の秩序がみだれた面心立方体を示した。
秩序あるfcc構造であるco Pt25 75 は500℃の加熱で強い[: 11 j)の繊細構造の
発達を伴う5x10x1(I□9m粒子成長を生じ、追
加の線の出現はa=3.85λの格子パラメータを有す
るfee構造の秩序がみだれた面心立方体を示した。
2時間の600℃の焼きなましの後、無秩序化は増大し
若干幅広くなったa =5.865Xの格子パラメー
タを有するfcc構造の(100)、[211)及び[
321)電子回折線を生じた。
若干幅広くなったa =5.865Xの格子パラメー
タを有するfcc構造の(100)、[211)及び[
321)電子回折線を生じた。
保磁力の変化はこの試料に対してはみられず、粒子内に
は線条は観察されなかった。この事はco45Pt55
試料中の高い保磁力が立方晶系無秩序相内の秩序ある六
方晶系相の形成によるものであって、立方晶系の無秩序
化によるものではない事を裏付ける。同様に、六方晶系
Co75Pt25合金中のfee相の析出が高保磁力の
原因である。
は線条は観察されなかった。この事はco45Pt55
試料中の高い保磁力が立方晶系無秩序相内の秩序ある六
方晶系相の形成によるものであって、立方晶系の無秩序
化によるものではない事を裏付ける。同様に、六方晶系
Co75Pt25合金中のfee相の析出が高保磁力の
原因である。
第1表
保磁力Heに対する種々の温度における焼きなましの効
果 Co Pt 723 1150i 9500e10000e 750 2
30 200500X 1700 1700 17
00 400 220o Pt 555 1100X 1so 1200極めて高い4
s OX 90 1200極メチ高イ450C
o Pt 6 74 1100X 190 190 50 so
650450X 1601509080川 薄膜スパツタリング 詳細には、水冷の1stM直径陰極ターゲットは70ミ
クロンの厚さの純粋コバルトが取付けられた鋼板から形
成された。0.5mmの厚さのptで形成された複数の
三角形の条片がコバルト板上に底面が板の外部の周辺上
のばねによって保持され、頂点が板の中心に取り付けら
れたコバルトのねじによって保持された。暖極は水冷さ
れ回転され得る。陽極は同様に加熱され得る。金属の合
金薄膜が2.5 cmの直径の熱的に酸化されたケイ素
ウェハ上にスパッタされた。室は代表的な場合(I X
l 0” )mmHgに排気された。高い純度のアルゴ
ンが系中に導入され、圧力は20mmHgに制御された
。基板保磁器を覆うシャッタにより、条片化されたター
ゲットは1時間予じめスパッタされ、その表面が清浄に
され、システムの背景不純物が除去された。基板は次い
で入射フラックスに露された。予備スパッタリング及び
スパッタリングの両者は同一の予定の条件、1000ボ
ルト陰極バイアス及び−50ボルト陽極バイアスである
。回転基板保磁器(60r、 p、 m、 )は付着薄
膜の周辺の組成の均一性を確実にする。
果 Co Pt 723 1150i 9500e10000e 750 2
30 200500X 1700 1700 17
00 400 220o Pt 555 1100X 1so 1200極めて高い4
s OX 90 1200極メチ高イ450C
o Pt 6 74 1100X 190 190 50 so
650450X 1601509080川 薄膜スパツタリング 詳細には、水冷の1stM直径陰極ターゲットは70ミ
クロンの厚さの純粋コバルトが取付けられた鋼板から形
成された。0.5mmの厚さのptで形成された複数の
三角形の条片がコバルト板上に底面が板の外部の周辺上
のばねによって保持され、頂点が板の中心に取り付けら
れたコバルトのねじによって保持された。暖極は水冷さ
れ回転され得る。陽極は同様に加熱され得る。金属の合
金薄膜が2.5 cmの直径の熱的に酸化されたケイ素
ウェハ上にスパッタされた。室は代表的な場合(I X
l 0” )mmHgに排気された。高い純度のアルゴ
ンが系中に導入され、圧力は20mmHgに制御された
。基板保磁器を覆うシャッタにより、条片化されたター
ゲットは1時間予じめスパッタされ、その表面が清浄に
され、システムの背景不純物が除去された。基板は次い
で入射フラックスに露された。予備スパッタリング及び
スパッタリングの両者は同一の予定の条件、1000ボ
ルト陰極バイアス及び−50ボルト陽極バイアスである
。回転基板保磁器(60r、 p、 m、 )は付着薄
膜の周辺の組成の均一性を確実にする。
薄膜の厚さは機械的表面プロフィール計を使用して、ウ
ェハの中心で測定された。精度は成る場合は試料の1端
から他方へ20チ程も大きくなり得る厚さの均一性によ
って制御限される。代表的な3000Xの厚さの合金薄
膜の化学的組成が電子マイクロープで測定された。磁気
的性質はオシロスコープ上に直接B−H曲線を表示する
誘導ループ・トレーサを使用して測定された。室温にお
ける飽和磁化がB−Hループ中の高磁場で測定された。
ェハの中心で測定された。精度は成る場合は試料の1端
から他方へ20チ程も大きくなり得る厚さの均一性によ
って制御限される。代表的な3000Xの厚さの合金薄
膜の化学的組成が電子マイクロープで測定された。磁気
的性質はオシロスコープ上に直接B−H曲線を表示する
誘導ループ・トレーサを使用して測定された。室温にお
ける飽和磁化がB−Hループ中の高磁場で測定された。
計測器は力平衡磁力計を使用していくつかの試料の飽和
磁化を測定する事によって較正された。保磁力H・Cは
容易軸のヒステリシス・ループから得られた。飽和異方
磁場社は小さな駆動磁場における困難軸ループを飽和磁
化値に外挿する事によって得られた。固有抵抗測定は室
温で4点グローブを使用してなされた。磁歪測定はE、
Klokholmによって開発された装置(IEEE
Trans、 MAG−12,6(1976)参照
)を使用して室温でなされた。
磁化を測定する事によって較正された。保磁力H・Cは
容易軸のヒステリシス・ループから得られた。飽和異方
磁場社は小さな駆動磁場における困難軸ループを飽和磁
化値に外挿する事によって得られた。固有抵抗測定は室
温で4点グローブを使用してなされた。磁歪測定はE、
Klokholmによって開発された装置(IEEE
Trans、 MAG−12,6(1976)参照
)を使用して室温でなされた。
結果と吟味
合金のスパッタリング:ここでの報告の結果は一50ボ
ルトの陽極バイアス及び1000ボルトの陰極電位並び
に20ミクロンのアルゴン圧力でなされたスパッタ付着
に対するものである。薄膜の組成の変化はptによるC
Oターゲット板の被覆面積を変える事によって得られ、
薄膜の分析は電子プローブ分析によってなされた。シス
テムが較正された後、種々の組成が再生可能に得られた
。付着された薄膜の化学組成の均一性は電子マイクログ
ローブ分析の精度(コバルト及び白金に対して精度±2
チ)で一定に保持された。薄膜の付着率は毎分約50オ
ングストロームである。
ルトの陽極バイアス及び1000ボルトの陰極電位並び
に20ミクロンのアルゴン圧力でなされたスパッタ付着
に対するものである。薄膜の組成の変化はptによるC
Oターゲット板の被覆面積を変える事によって得られ、
薄膜の分析は電子プローブ分析によってなされた。シス
テムが較正された後、種々の組成が再生可能に得られた
。付着された薄膜の化学組成の均一性は電子マイクログ
ローブ分析の精度(コバルト及び白金に対して精度±2
チ)で一定に保持された。薄膜の付着率は毎分約50オ
ングストロームである。
工業的応用
20乃至30原子チptを有するCo−Pt薄膜合金は
焼きなましの必要なく簡単な付着技法(スパッタリング
)と関連して400乃至8000eの範囲の保磁力、4
πMに5000乃至1 []00C1及び殆んど0の磁
歪を有する事が示された。これはディスク上に磁気的記
憶をさせる応用にとって極めて望ましい性質の組合せで
ある。
焼きなましの必要なく簡単な付着技法(スパッタリング
)と関連して400乃至8000eの範囲の保磁力、4
πMに5000乃至1 []00C1及び殆んど0の磁
歪を有する事が示された。これはディスク上に磁気的記
憶をさせる応用にとって極めて望ましい性質の組合せで
ある。
これ等の材料は同様に薄膜磁気記録ヘッドのための硬磁
性バイアス材料として有用である。
性バイアス材料として有用である。
第1図は3000X程度の厚さを有するC o 1−9
pt 合金薄膜中の飽和磁化λ(XIO”)対白金の
原子チの関係を示した不連続な曲線のグラフである。第
2図はCo Pt 、Co Pt72
28 77 23ゝ C082Pt18に対するデータを基にして、Co 1
−ypt 薄膜の保磁力Hc f薄膜の原石の関数と
して描いた一組の曲線のグラフである。 第6図は約3000大の厚さの薄膜に対するFe1−X
pt 及びCo Pt 薄膜の飽和磁化(キ
ロx 1−y y ガウス)を薄膜中の白金含量の関数と・して示したグラ
フである。第4図は上述の第2図中に示された如pt
合金 き5つの異なる合金に対する、C01□ アの飽和磁化
(キロガウス)対Co Pt の薄1−y
y 膜の厚さの曲線関係を示したグラフである。第5図はパ
ーマロイ80:2ONi :Fe、5iOz、ペーサ層
及びCo Pt 合金より成る多層薄膜中1−y
y のスペーサ厚さの関数として保磁力Heの値を示したグ
ラフである。
pt 合金薄膜中の飽和磁化λ(XIO”)対白金の
原子チの関係を示した不連続な曲線のグラフである。第
2図はCo Pt 、Co Pt72
28 77 23ゝ C082Pt18に対するデータを基にして、Co 1
−ypt 薄膜の保磁力Hc f薄膜の原石の関数と
して描いた一組の曲線のグラフである。 第6図は約3000大の厚さの薄膜に対するFe1−X
pt 及びCo Pt 薄膜の飽和磁化(キ
ロx 1−y y ガウス)を薄膜中の白金含量の関数と・して示したグラ
フである。第4図は上述の第2図中に示された如pt
合金 き5つの異なる合金に対する、C01□ アの飽和磁化
(キロガウス)対Co Pt の薄1−y
y 膜の厚さの曲線関係を示したグラフである。第5図はパ
ーマロイ80:2ONi :Fe、5iOz、ペーサ層
及びCo Pt 合金より成る多層薄膜中1−y
y のスペーサ厚さの関数として保磁力Heの値を示したグ
ラフである。
Claims (1)
- Co及びptのスパッタリングにより作られcoxpt
なる組成を有する磁気薄膜材料であって、上記XU
上記材料中の90原子チ迄の値を占めyは上記材料中1
0乃至60原子チの範囲内にあり、上記X及びyの値に
従って磁歪が一!l 5 X 10”’から略0に近い
正の値を通って±10 X 10−6に至る@全有し、
上記材料の外部機械力による磁化状態の変化が避けられ
る事を特徴とする磁気薄膜材料。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US280144 | 1981-06-30 | ||
| US06/280,144 US4438066A (en) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | Zero to low magnetostriction, high coercivity, polycrystalline, Co-Pt magnetic recording media |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS587806A true JPS587806A (ja) | 1983-01-17 |
| JPS6249722B2 JPS6249722B2 (ja) | 1987-10-21 |
Family
ID=23071869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57064846A Granted JPS587806A (ja) | 1981-06-30 | 1982-04-20 | 磁気薄膜材料 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4438066A (ja) |
| EP (1) | EP0068131B1 (ja) |
| JP (1) | JPS587806A (ja) |
| DE (1) | DE3267119D1 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58147540A (ja) * | 1982-02-26 | 1983-09-02 | Hitachi Ltd | 薄膜永久磁石の製造方法 |
| JPS5961107A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-07 | Nec Corp | 磁気記憶体 |
| JPS59142744A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-16 | Nec Corp | 磁気記憶体 |
| JPS6015819A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-26 | Sanyo Electric Co Ltd | 磁気記録媒体 |
| JPS6015818A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-26 | Sanyo Electric Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
| JPS60111323A (ja) * | 1983-11-03 | 1985-06-17 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 磁気記録媒体 |
| JPH03500071A (ja) * | 1987-08-21 | 1991-01-10 | ドナルドソン・カンパニー・インコーポレーテッド | マフラ装置、微粒子用フィルタモジュールの製造方法及び該フィルタモジュールからの微粒子の除去方法 |
| JPH0777036A (ja) * | 1993-09-03 | 1995-03-20 | Ngk Insulators Ltd | セラミックハニカム触媒コンバータ |
| JPH07127443A (ja) * | 1993-10-29 | 1995-05-16 | Ngk Insulators Ltd | セラミックハニカム触媒コンバータ |
| US5723198A (en) * | 1993-06-11 | 1998-03-03 | Hitachi, Ltd. | Multi-layered magnetic recording medium and magnetic recording system employing the same |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4544612A (en) * | 1982-09-22 | 1985-10-01 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corporation | Iron oxide magnetic film and process for fabrication thereof |
| JPH07105027B2 (ja) * | 1982-10-01 | 1995-11-13 | 株式会社日立製作所 | 垂直磁気記録媒体 |
| JPS5971112A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-21 | Comput Basic Mach Technol Res Assoc | 薄膜磁気ヘツド |
| JPS60160015A (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-21 | Sony Corp | 磁気記録媒体 |
| US4663009A (en) * | 1985-02-08 | 1987-05-05 | Hewlett-Packard Company | System and method for depositing plural thin film layers on a substrate |
| US4686151A (en) * | 1985-04-09 | 1987-08-11 | Dynamic Disk | Substrate material for magnetic recording media |
| US4626336A (en) * | 1985-05-02 | 1986-12-02 | Hewlett Packard Company | Target for sputter depositing thin films |
| US4988578A (en) * | 1986-03-10 | 1991-01-29 | Komag, Inc. | Method for manufacturing a thin film magnetic recording medium |
| US4749459A (en) * | 1986-03-10 | 1988-06-07 | Komag, Inc. | Method for manufacturing a thin film magnetic recording medium |
| US4749628A (en) * | 1986-04-29 | 1988-06-07 | International Business Machines Corporation | Multilayered vertical magnetic recording medium |
| US4652499A (en) * | 1986-04-29 | 1987-03-24 | International Business Machines | Magnetic recording medium with a chromium alloy underlayer and a cobalt-based magnetic layer |
| US4654276A (en) * | 1986-04-29 | 1987-03-31 | International Business Machines Corporation | Magnetic recording medium with an underlayer and a cobalt-based magnetic layer |
| JP2522246B2 (ja) * | 1986-05-06 | 1996-08-07 | ブラザー工業株式会社 | 薄膜磁気記録媒体の製造方法 |
| US4789598A (en) * | 1987-01-20 | 1988-12-06 | International Business Machines Corporation | Thin film medium for horizontal magnetic recording having an improved cobalt-based alloy magnetic layer |
| US5063120A (en) * | 1988-02-25 | 1991-11-05 | International Business Machines Corporation | Thin film magentic media |
| US4902583A (en) * | 1989-03-06 | 1990-02-20 | Brucker Charles F | Thick deposited cobalt platinum magnetic film and method of fabrication thereof |
| US5106703A (en) * | 1989-11-27 | 1992-04-21 | Carcia Peter F | Platinum/cobalt multilayer film for magneto-optical recording |
| DE69117350T2 (de) * | 1990-05-29 | 1996-10-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | Verfahren zur Herstellung magnetischer Aufzeichnungsträger |
| US5180640A (en) * | 1990-10-01 | 1993-01-19 | Komag, Inc. | Magnetic recording medium comprising a magnetic alloy layer of cobalt nickel, platinum and chromium formed directly on a nickel alloy amorphous underlayer |
| JPH04265511A (ja) * | 1991-02-19 | 1992-09-21 | Sony Corp | 磁気記録媒体 |
| US5626973A (en) * | 1992-06-25 | 1997-05-06 | Teijin Limited | Magneto-optical layer and magneto-optical recording medium |
| US6287429B1 (en) * | 1992-10-26 | 2001-09-11 | Hoya Corporation | Magnetic recording medium having an improved magnetic characteristic |
| US5750230A (en) * | 1992-11-20 | 1998-05-12 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording media and magnetic recording system using the same |
| US5363794A (en) * | 1992-12-02 | 1994-11-15 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Uniaxial thin film structures formed from oriented bilayers and multilayers |
| JPH0682587U (ja) * | 1993-04-28 | 1994-11-25 | 日本マリナ株式会社 | Gpsセンサーを備えたラジオブイ |
| US5492775A (en) * | 1993-05-28 | 1996-02-20 | International Business Machines Corporation | Barium ferrite thin film for longitudinal recording |
| JP3368064B2 (ja) * | 1994-08-19 | 2003-01-20 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録媒体 |
| US5989728A (en) * | 1994-11-02 | 1999-11-23 | International Business Machines Corporation | Thin film magnetic recording medium having high coercivity |
| US5750270A (en) * | 1995-02-07 | 1998-05-12 | Conner Peripherals, Inc. | Multi-layer magnetic recording media |
| JP3448698B2 (ja) | 1995-06-27 | 2003-09-22 | 株式会社日立製作所 | 磁気記憶装置及び磁気記録媒体 |
| US5834085A (en) * | 1996-02-26 | 1998-11-10 | Densitek Corporation | Grain isolated multilayer perpendicular recording medium |
| GB9718915D0 (en) * | 1997-09-05 | 1997-11-12 | Greenbrook Electrical Plc | Magneto-resistor |
| AU2003275352A1 (en) * | 2002-09-27 | 2004-06-30 | University Of Utah Research Foundation | Control of engineering processes using magnetostrictive alloy compositions |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50140899A (ja) * | 1974-05-01 | 1975-11-12 | ||
| JPS57149706A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Tdk Corp | Magnetic recording medium |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3755796A (en) | 1971-06-30 | 1973-08-28 | Ibm | Cobalt-platinum group alloys whose anisotrophy is greater than their demagnetizable field for use as cylindrical memory elements |
| JPS5650340B2 (ja) * | 1973-07-25 | 1981-11-28 | ||
| US3976436A (en) | 1975-02-13 | 1976-08-24 | General Electric Company | Metal of improved environmental resistance |
| US4103315A (en) | 1977-06-24 | 1978-07-25 | International Business Machines Corporation | Antiferromagnetic-ferromagnetic exchange bias films |
-
1981
- 1981-06-30 US US06/280,144 patent/US4438066A/en not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-04-20 JP JP57064846A patent/JPS587806A/ja active Granted
- 1982-05-14 EP EP82104238A patent/EP0068131B1/en not_active Expired
- 1982-05-14 DE DE8282104238T patent/DE3267119D1/de not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50140899A (ja) * | 1974-05-01 | 1975-11-12 | ||
| JPS57149706A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Tdk Corp | Magnetic recording medium |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58147540A (ja) * | 1982-02-26 | 1983-09-02 | Hitachi Ltd | 薄膜永久磁石の製造方法 |
| JPS5961107A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-07 | Nec Corp | 磁気記憶体 |
| JPS59142744A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-16 | Nec Corp | 磁気記憶体 |
| JPS6015819A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-26 | Sanyo Electric Co Ltd | 磁気記録媒体 |
| JPS6015818A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-26 | Sanyo Electric Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
| JPS60111323A (ja) * | 1983-11-03 | 1985-06-17 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 磁気記録媒体 |
| JPH03500071A (ja) * | 1987-08-21 | 1991-01-10 | ドナルドソン・カンパニー・インコーポレーテッド | マフラ装置、微粒子用フィルタモジュールの製造方法及び該フィルタモジュールからの微粒子の除去方法 |
| US5723198A (en) * | 1993-06-11 | 1998-03-03 | Hitachi, Ltd. | Multi-layered magnetic recording medium and magnetic recording system employing the same |
| JPH0777036A (ja) * | 1993-09-03 | 1995-03-20 | Ngk Insulators Ltd | セラミックハニカム触媒コンバータ |
| JPH07127443A (ja) * | 1993-10-29 | 1995-05-16 | Ngk Insulators Ltd | セラミックハニカム触媒コンバータ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0068131A3 (en) | 1983-07-13 |
| EP0068131A2 (en) | 1983-01-05 |
| US4438066A (en) | 1984-03-20 |
| DE3267119D1 (en) | 1985-12-05 |
| EP0068131B1 (en) | 1985-10-30 |
| JPS6249722B2 (ja) | 1987-10-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS587806A (ja) | 磁気薄膜材料 | |
| US5989728A (en) | Thin film magnetic recording medium having high coercivity | |
| US4245008A (en) | Corrosion resistant magnetic recording media | |
| JP2003162806A (ja) | 垂直磁気記録媒体および磁気記憶装置 | |
| TW424234B (en) | Magnetic recording medium, method of fabricating magnetic recording medium, and magnetic storage | |
| TW209294B (ja) | ||
| US20020098381A1 (en) | Thin film magnetic recording medium having high coercivity | |
| JP2007317304A (ja) | 磁気記録媒体および磁気記憶装置 | |
| JPH06314617A (ja) | 交換結合膜および磁気抵抗効果素子 | |
| JPH0342806A (ja) | 軟磁性薄膜 | |
| WO2003058609A1 (en) | Magnetic recording head with annealed multilayer, high moment structure | |
| US4396575A (en) | Zero magnetostriction Fe-Co-Cr magnetic recording media | |
| JPS6021508A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JP2001093139A (ja) | 磁気記録媒体および磁気記録再生装置 | |
| CN101154392A (zh) | 磁记录介质和磁记录设备 | |
| Aboaf et al. | Magnetic properties of thin films of 3d transition metals alloyed with Cr | |
| JP2757586B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
| JPS60231911A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH01125911A (ja) | 高耐食性非晶質磁性膜 | |
| JP2574901B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 | |
| JP2737721B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子 | |
| JPS63124213A (ja) | 垂直磁気記録媒体 | |
| JPH0130219B2 (ja) | ||
| JPS6157028A (ja) | 垂直磁気記録媒体 | |
| JPS61110329A (ja) | 垂直磁気記録媒体 |