JPS5878359A - イオン生成装置 - Google Patents
イオン生成装置Info
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- JPS5878359A JPS5878359A JP56176738A JP17673881A JPS5878359A JP S5878359 A JPS5878359 A JP S5878359A JP 56176738 A JP56176738 A JP 56176738A JP 17673881 A JP17673881 A JP 17673881A JP S5878359 A JPS5878359 A JP S5878359A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/14—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
- H01J49/142—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers using a solid target which is not previously vapourised
Landscapes
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は質量分析装置或いはイオン化検出装置等に用い
て好適なイオン生成装−に関するものである0゛ 本発明番は先lこキャリヤーガスより作成した電荷i項
一ない励起種を試料擾こあてて該試料をイオン化する新
しいイオン生成方法を提案した。この提案方法は特開昭
55−9107号Iど詳説されているが、大略第1図に
例示した装置t構成で実施することができる。同図1こ
おいで1は導入口2から内部へキャリヤーガス例えばア
ルゴンが導入されるガラス管で、該ガラス管1の一端は
絶縁体6Iこよって封止されでおり、該絶縁体6を貫通
して針を極4がガラス管内に挿入されている。ガラス管
の他端lこは上起針鑞極4と向き合う対向W1極5が収
付けられ、該対向I!lt極5に続けて網−極6.リペ
ラ電極7,8が間に絶縁と気密を兼ねるリング9゜10
.11を介してこの順序で配置されている。
て好適なイオン生成装−に関するものである0゛ 本発明番は先lこキャリヤーガスより作成した電荷i項
一ない励起種を試料擾こあてて該試料をイオン化する新
しいイオン生成方法を提案した。この提案方法は特開昭
55−9107号Iど詳説されているが、大略第1図に
例示した装置t構成で実施することができる。同図1こ
おいで1は導入口2から内部へキャリヤーガス例えばア
ルゴンが導入されるガラス管で、該ガラス管1の一端は
絶縁体6Iこよって封止されでおり、該絶縁体6を貫通
して針を極4がガラス管内に挿入されている。ガラス管
の他端lこは上起針鑞極4と向き合う対向W1極5が収
付けられ、該対向I!lt極5に続けて網−極6.リペ
ラ電極7,8が間に絶縁と気密を兼ねるリング9゜10
.11を介してこの順序で配置されている。
12は試料である。
そして針電極4と対向電極5の間にコロナ放電を起こさ
せてアルゴンイオンAr+、を子C−及び励起、状態の
アルゴン原子Ar (励起S)を作成し、電極6によ
りこのうちAr 及びe−を除いてムrゝのみを取出
し、該Ar の持つ励起(内部)エネルギー醗こよって
試料をイオン化することがこの提案方法の特徴であり、
ta+液体試料を大気圧下で直接イオン化できる、(b
)特にアルゴンを用いると大部分の有機化合物をイオン
化でき、しかも水、空気等は殆んどイオン化しないので
試料を空気中で自由に扱うことができる、(C)大気圧
のイオン化なので厳密な気密が不快となり装置構成を簡
略化できる、等多くの優れた点を有している0 本発明はこの様に優れた点を持つ提案方法を更に改善す
ることを目的とするものであり、特に試料を多数の突起
を有する保持部材に付着保持さぜると共−こ該保持部材
1こ高電圧を印加Vることにより試料イオンの生成量を
飛躍的に増大させ、感度をこれまでよりも桁違い−こ向
上させることのできるイオン生成litを提供するもの
である。以下図面に基づき本発明を詳説する。
せてアルゴンイオンAr+、を子C−及び励起、状態の
アルゴン原子Ar (励起S)を作成し、電極6によ
りこのうちAr 及びe−を除いてムrゝのみを取出
し、該Ar の持つ励起(内部)エネルギー醗こよって
試料をイオン化することがこの提案方法の特徴であり、
ta+液体試料を大気圧下で直接イオン化できる、(b
)特にアルゴンを用いると大部分の有機化合物をイオン
化でき、しかも水、空気等は殆んどイオン化しないので
試料を空気中で自由に扱うことができる、(C)大気圧
のイオン化なので厳密な気密が不快となり装置構成を簡
略化できる、等多くの優れた点を有している0 本発明はこの様に優れた点を持つ提案方法を更に改善す
ることを目的とするものであり、特に試料を多数の突起
を有する保持部材に付着保持さぜると共−こ該保持部材
1こ高電圧を印加Vることにより試料イオンの生成量を
飛躍的に増大させ、感度をこれまでよりも桁違い−こ向
上させることのできるイオン生成litを提供するもの
である。以下図面に基づき本発明を詳説する。
−第2図は本発明1こかかるイオン生成装置を四重極m
貞電分析装置のイオン源として用いた実施例を示す断面
図、第3図はそのI−I断面図であり、第1図と同一の
傳成Ij!索には同−査号が付されている。本実施−り
ではアルゴンイオンAr十及び電子e−の除去を確実に
するため網颯憧6とリペラ畦極7の間1こもう1枚の網
離極16を配置し適宜な電位を与えており、併せてリン
グ141追加されている。又リング11には排気口15
が設けられると共蓼こ、多数の突起を有する部材を備え
た試料ホルダ16が押入されている。該ホルダ16はガ
ラス緘基台17.該基台を全通する2本の支持旺億18
,19及び該区惚間に張架されたタングステン4I20
から成り、試料液は該タングステン線2uの衣面看こ多
数成長させた針状突起(ウィスカー:例えばシリコンあ
るいは炭素の針状結晶)21に付着保持される。上記タ
ングステン4I2u基こは電源22によりaiv乃至千
赦百Vの高電圧が印加されでおり、必要に応じて鑞#2
6により通電加熱を行うことができる。
貞電分析装置のイオン源として用いた実施例を示す断面
図、第3図はそのI−I断面図であり、第1図と同一の
傳成Ij!索には同−査号が付されている。本実施−り
ではアルゴンイオンAr十及び電子e−の除去を確実に
するため網颯憧6とリペラ畦極7の間1こもう1枚の網
離極16を配置し適宜な電位を与えており、併せてリン
グ141追加されている。又リング11には排気口15
が設けられると共蓼こ、多数の突起を有する部材を備え
た試料ホルダ16が押入されている。該ホルダ16はガ
ラス緘基台17.該基台を全通する2本の支持旺億18
,19及び該区惚間に張架されたタングステン4I20
から成り、試料液は該タングステン線2uの衣面看こ多
数成長させた針状突起(ウィスカー:例えばシリコンあ
るいは炭素の針状結晶)21に付着保持される。上記タ
ングステン4I2u基こは電源22によりaiv乃至千
赦百Vの高電圧が印加されでおり、必要に応じて鑞#2
6により通電加熱を行うことができる。
1紀リング11の後段1こはレンズ磁極24,25、四
極子を極26、イオン検出器27、真空ポンプ28を備
えた四重極屋質量分析装@29が接続されており、両者
の間−こは高真空の′1![′M分析装喧との圧力差を
維持し得る鎌なコンダクタンスが与えられたピンホール
60を何する1他61が設置されている。該電極61は
リング32.こより周囲と絶縁され、vt # 66か
ら適宜な電圧を印加することができる。
極子を極26、イオン検出器27、真空ポンプ28を備
えた四重極屋質量分析装@29が接続されており、両者
の間−こは高真空の′1![′M分析装喧との圧力差を
維持し得る鎌なコンダクタンスが与えられたピンホール
60を何する1他61が設置されている。該電極61は
リング32.こより周囲と絶縁され、vt # 66か
ら適宜な電圧を印加することができる。
上述の如き構成身こおいて、イオン生成装置の内s暑こ
は導入口2からガラスf1.リング9 、 ILI。
は導入口2からガラスf1.リング9 、 ILI。
14.11を介して排気口15へ抜ける1気圧@度のア
ルゴンガスの定常流が形成されており、そのうちの一部
はピンホール60を介して買緻分析誠1置内へ流入rる
。そして針fIL億4に例えば3KV4!4tLの員の
高電圧を印加rると、磁極5との間でコロナ放電が起こ
り、この放l1tIとよってカラス管内のアルゴンガス
中にはそのイオンAr、[子e−及び励起状態のアルゴ
ン原子Ar F紅 が生成する。その反応はおよそ
次式で示される。
ルゴンガスの定常流が形成されており、そのうちの一部
はピンホール60を介して買緻分析誠1置内へ流入rる
。そして針fIL億4に例えば3KV4!4tLの員の
高電圧を印加rると、磁極5との間でコロナ放電が起こ
り、この放l1tIとよってカラス管内のアルゴンガス
中にはそのイオンAr、[子e−及び励起状態のアルゴ
ン原子Ar F紅 が生成する。その反応はおよそ
次式で示される。
放 区
Ar−−→Ar++e−・・・・ (1)Ar LAr
*−、**** L2)(2)式の反応で生成するA
r1は準安定状態(励起エネルギー11−55eV及び
11.72eV)を示す0この人rの状態は寿命が長(
(10sec以J:)、Ar原子と衝突しでも次式の嫌
に共鳴的にエネルギー移動が起こるだけでAr の総数
は変わらないOAr 十 Ar −一一一一一一繁A
r +Ar本 −−−−131この葎にしてコロナ
放1こより生成されたAr+。
*−、**** L2)(2)式の反応で生成するA
r1は準安定状態(励起エネルギー11−55eV及び
11.72eV)を示す0この人rの状態は寿命が長(
(10sec以J:)、Ar原子と衝突しでも次式の嫌
に共鳴的にエネルギー移動が起こるだけでAr の総数
は変わらないOAr 十 Ar −一一一一一一繁A
r +Ar本 −−−−131この葎にしてコロナ
放1こより生成されたAr+。
e−及びArは定常tlLl(乗って試料ホルダ方向へ
移動するが、amを持つAr十及びe−は適宜な電位が
与えられたsft極6,16を通過することができず除
去されるため、リング11内には電荷を持たないAr*
のみが到達することになる。このAr寧が試料に触れる
とAr’の持つ励起エネルギー(11,55eV或いは
11.72eV )よりも低いイオン比エネルギーを持
つ化合−1jl1Mは次式に従ってすべてイオン化され
る。
移動するが、amを持つAr十及びe−は適宜な電位が
与えられたsft極6,16を通過することができず除
去されるため、リング11内には電荷を持たないAr*
のみが到達することになる。このAr寧が試料に触れる
とAr’の持つ励起エネルギー(11,55eV或いは
11.72eV )よりも低いイオン比エネルギーを持
つ化合−1jl1Mは次式に従ってすべてイオン化され
る。
Ar + M−チAr 十M++ e @ 11@
141本発明ではこの時試料を多数の針状突起を持つ部
材−こよって付着保持し、これに高電圧を印加している
ため、針状突起部分ICは極めて強い屯がが存在し試料
表向はこの直昇にさらされている0従ってAr*との接
触着こよりAr’の持つエネルギー(11,55eV或
いは11・72 eV )を受は取った試料分子は即座
にイオン化されてこの強電界1こより表向から速やかに
脱離するため、高電圧を印加しない時に比べ同じ電のA
r”をあてても脱離する試料イオン量を飛躍的に増大さ
せることができ60更に本発明では試料を多数の針状突
起に付着保持させているため試料の表面M(即らAr’
との接触面積)が大きくなり、この面でも生成する試料
イオン社が増大rる0発明者倉こよる実験では高電圧を
印加しない時iこ比べ検出される試料イオン量が10
〜lO倍曇ζ6増加し、従って感度がl゛02〜10”
匿向上することが確認され、難揮発性試料についても有
効にイオン化できることも確認された0 尚印加する磁圧を^くするS試料イオンの生成・
(7) 量を増加さ@:得ることが確かめられたが、約1500
Vを超えると強電界により試料分子ばかりでなく周囲の
アルゴン励起種がイオン化されてしまい、試料イオンに
比べて圧四的曇こ大きなバックグラウンド電流を与える
ので好ましくCく、実際曇こはioo。
141本発明ではこの時試料を多数の針状突起を持つ部
材−こよって付着保持し、これに高電圧を印加している
ため、針状突起部分ICは極めて強い屯がが存在し試料
表向はこの直昇にさらされている0従ってAr*との接
触着こよりAr’の持つエネルギー(11,55eV或
いは11・72 eV )を受は取った試料分子は即座
にイオン化されてこの強電界1こより表向から速やかに
脱離するため、高電圧を印加しない時に比べ同じ電のA
r”をあてても脱離する試料イオン量を飛躍的に増大さ
せることができ60更に本発明では試料を多数の針状突
起に付着保持させているため試料の表面M(即らAr’
との接触面積)が大きくなり、この面でも生成する試料
イオン社が増大rる0発明者倉こよる実験では高電圧を
印加しない時iこ比べ検出される試料イオン量が10
〜lO倍曇ζ6増加し、従って感度がl゛02〜10”
匿向上することが確認され、難揮発性試料についても有
効にイオン化できることも確認された0 尚印加する磁圧を^くするS試料イオンの生成・
(7) 量を増加さ@:得ることが確かめられたが、約1500
Vを超えると強電界により試料分子ばかりでなく周囲の
アルゴン励起種がイオン化されてしまい、試料イオンに
比べて圧四的曇こ大きなバックグラウンド電流を与える
ので好ましくCく、実際曇こはioo。
Vからtsoo yの範囲が印加電圧として破過である
。
。
爽に従来試料を加熱することにより生成する試料イオン
量を増加させることが試みられでいたが、A@圧を印加
すること1こよりイオン量を飛躍的に増加させ得る本発
明では加熱は必ずしも必要はなく、従って熱不安定性試
料であっても試料を波層することなくイオン化rること
かでさる0ただし本発明でb屯諒26によるX111区
カロ熱を併用すれば更に生成するイオン量を増加させる
ことができることは言うまでもなく、そのJM&らそれ
S扁濫にする必要はない〇 この様蚤こして生琲された多電の試料イオンは、リベラ
を極7:こ印刀口される電圧身こよる力と試料付近から
ピンホール60へ向けて流れるアルゴンガス流−こよっ
て賞童分析!1111内へ尋人され、買瀘分(8) 析されるため買置分析の感度も着しく向上すること1こ
なる0尚本夾施例は正イオンを質量分析装置へ導入する
例であるが、負イオンを分析するのであればタングステ
ン線20.リベラ電惨7及びピ :ンホール電極61へ
印加する電圧の極性を逆にすればよい。
量を増加させることが試みられでいたが、A@圧を印加
すること1こよりイオン量を飛躍的に増加させ得る本発
明では加熱は必ずしも必要はなく、従って熱不安定性試
料であっても試料を波層することなくイオン化rること
かでさる0ただし本発明でb屯諒26によるX111区
カロ熱を併用すれば更に生成するイオン量を増加させる
ことができることは言うまでもなく、そのJM&らそれ
S扁濫にする必要はない〇 この様蚤こして生琲された多電の試料イオンは、リベラ
を極7:こ印刀口される電圧身こよる力と試料付近から
ピンホール60へ向けて流れるアルゴンガス流−こよっ
て賞童分析!1111内へ尋人され、買瀘分(8) 析されるため買置分析の感度も着しく向上すること1こ
なる0尚本夾施例は正イオンを質量分析装置へ導入する
例であるが、負イオンを分析するのであればタングステ
ン線20.リベラ電惨7及びピ :ンホール電極61へ
印加する電圧の極性を逆にすればよい。
本発明は上述した実施例暑〔限定されることな(幾多の
変形が司能である。例えば本発明をイオン化検出a1こ
適用するのであればイオンコレクタ電極を試料に近接し
て配置し、生成した試料イオンをコレクタ駐極tC集め
で検出するようにすれば良いO 又J:述した実施例ではタングステン線1こ多数の針状
突起を成長させたもの1こ試料を付着させたか、多数の
突起を有する部lであれば板状でもコイル状でも形状は
印章に選ぶことができる。
変形が司能である。例えば本発明をイオン化検出a1こ
適用するのであればイオンコレクタ電極を試料に近接し
て配置し、生成した試料イオンをコレクタ駐極tC集め
で検出するようにすれば良いO 又J:述した実施例ではタングステン線1こ多数の針状
突起を成長させたもの1こ試料を付着させたか、多数の
突起を有する部lであれば板状でもコイル状でも形状は
印章に選ぶことができる。
又リング11内に液体クロマトグラフの分離カラムに接
続したパイプを挿入し、流出rる試料m液を針状突起部
に滴下あるいは連続的iこ付着させれば、液体クロマト
グラフと′x址分析装置をオンラインで結&rることが
可能とぼる、 又上述した実施例では励起種Ar を生成1さぜるの
1こ放眠を用いたが、光その他の放射−を用いることも
考えられ、キャリヤーガスもアルゴン1こ限らfltl
lのガスを使用rることができる。
続したパイプを挿入し、流出rる試料m液を針状突起部
に滴下あるいは連続的iこ付着させれば、液体クロマト
グラフと′x址分析装置をオンラインで結&rることが
可能とぼる、 又上述した実施例では励起種Ar を生成1さぜるの
1こ放眠を用いたが、光その他の放射−を用いることも
考えられ、キャリヤーガスもアルゴン1こ限らfltl
lのガスを使用rることができる。
又E述しIこ実施例では網曜、極6 、161こより荷
電粒子(Ar+、e )を除去したが中央が穴1こな
った電極を用いることができるし、鍔砿粒子を除去する
ためiこはガス流に対し直焚する方向の磁場或いは磁場
を印ノ)口するよう1こしても良い〇更1こ励起種は紙
面と直父する方向から試料にめてる方法すある〇
電粒子(Ar+、e )を除去したが中央が穴1こな
った電極を用いることができるし、鍔砿粒子を除去する
ためiこはガス流に対し直焚する方向の磁場或いは磁場
を印ノ)口するよう1こしても良い〇更1こ励起種は紙
面と直父する方向から試料にめてる方法すある〇
第1図は提案方法を説明するための装fil構成を示す
図、第2図は本発明の一実施例の構成を示す断面図、第
3図はそのI−I断面図である04:針1極、5:対向
に極、6,7:網畷憧、16:試料ホルダ、20:タン
グステン線、21:針状突起、22二蹴源、29:@瀘
分析装置、60:ピンホール。
図、第2図は本発明の一実施例の構成を示す断面図、第
3図はそのI−I断面図である04:針1極、5:対向
に極、6,7:網畷憧、16:試料ホルダ、20:タン
グステン線、21:針状突起、22二蹴源、29:@瀘
分析装置、60:ピンホール。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 L キャリヤーガスを励起する励起手段と、励起着こよ
り生成された荷電粒子及び励゛起種が導かれる通路に配
置される荷電粒子除去手段と、該除去手段を通過した励
起種が通る位置lこ配置された多数の突起を有する部材
と、該部材に高電圧を印加するための手段とを備え、前
記多数の突起を信する部材に試料を付着させ、該試料に
前記励起種をあててイオン化するよう1こしたことを特
徴とするイオン生成装置O a 励起sIこよりイオン化した試料イオンが質量分析
装置へ導入される特許請求の範囲第1項記載の装置。 & 励起種1こよりイオン化した試料イオンがイオンコ
レクタへ導かれる特許請求の範囲第1項記載の装置。 本 前記励起手段はコロナ族[1こよってキャリヤーガ
スを励起する特許請求の範囲第1項記載の装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56176738A JPS5838911B2 (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | イオン生成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56176738A JPS5838911B2 (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | イオン生成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5878359A true JPS5878359A (ja) | 1983-05-11 |
| JPS5838911B2 JPS5838911B2 (ja) | 1983-08-26 |
Family
ID=16018926
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56176738A Expired JPS5838911B2 (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | イオン生成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5838911B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02114441A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Fumio Watanabe | 質量分析型残留ガス分析計 |
-
1981
- 1981-11-04 JP JP56176738A patent/JPS5838911B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02114441A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Fumio Watanabe | 質量分析型残留ガス分析計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5838911B2 (ja) | 1983-08-26 |
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