JPS5880187A - 同時アクセスメモリセル - Google Patents
同時アクセスメモリセルInfo
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- JPS5880187A JPS5880187A JP56177094A JP17709481A JPS5880187A JP S5880187 A JPS5880187 A JP S5880187A JP 56177094 A JP56177094 A JP 56177094A JP 17709481 A JP17709481 A JP 17709481A JP S5880187 A JPS5880187 A JP S5880187A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- memory cell
- series
- circuit
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/16—Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体集積回路装置の記憶素子として好適な
メモリセルの回路方式に係り、特に複数のデータバス及
びアドレスバスを持ち、複数系列からの同時アクセスが
可能なメモリセルの回路方式に関する。
メモリセルの回路方式に係り、特に複数のデータバス及
びアドレスバスを持ち、複数系列からの同時アクセスが
可能なメモリセルの回路方式に関する。
同時アクセスメモリの従来方式としては、二つの独立し
たメモリセルを用意し、読出しは個々のメモリセルに対
して別個に行ない、書込みは同じアドレスを持つ対応す
る他のメモリセルにもデータを読込む方式が知られてい
る。
たメモリセルを用意し、読出しは個々のメモリセルに対
して別個に行ない、書込みは同じアドレスを持つ対応す
る他のメモリセルにもデータを読込む方式が知られてい
る。
よシ詳しい説明を行なうために、この方式で用いられて
いる。1個のメモリセルについての説明から行なう。
いる。1個のメモリセルについての説明から行なう。
第1図は、一般的なメモリ回路である。この回路は部品
数が少なくデコーダが簡単なため広く使用されている。
数が少なくデコーダが簡単なため広く使用されている。
データを保持するのはイ/ノ(−タ401を2個用いた
ループであり、これにデータを1込むにはビットライン
405もしくはピットライン415を「0」とし、ワー
ドライン406を「1」とすれば、トランスミッション
ゲート404を通じてデータを書込むことができる二畜
込むデータの種類はビットライン415及び405のど
ちらに「0」を与えるかで設定する。これは大容°量の
トランジスタ412若しくは414のどちらのゲートに
「1」の信号を与えるかでコントロールされる。読出し
の場合は、リードイネーブルライン410を「0」とし
、トランジスタ411、をオフし、データ保持ループか
らのデータをトランスミッションゲート404を通り、
センスアンプ409で検出することによシデータを得て
いる。
ループであり、これにデータを1込むにはビットライン
405もしくはピットライン415を「0」とし、ワー
ドライン406を「1」とすれば、トランスミッション
ゲート404を通じてデータを書込むことができる二畜
込むデータの種類はビットライン415及び405のど
ちらに「0」を与えるかで設定する。これは大容°量の
トランジスタ412若しくは414のどちらのゲートに
「1」の信号を与えるかでコントロールされる。読出し
の場合は、リードイネーブルライン410を「0」とし
、トランジスタ411、をオフし、データ保持ループか
らのデータをトランスミッションゲート404を通り、
センスアンプ409で検出することによシデータを得て
いる。
さて、前述した従莱゛の同時アクセスメモリを第2図を
用いて説明する。
用いて説明する。
ビットライン415,405およびフードライン406
でアクセスされるインバータ401をループにしたメモ
リセルと、全く同じ構成で異なるパスを、持つメモリセ
ルを用意しておき、セル間ヲシフト用トランスミッショ
ンゲート501で接続している。
でアクセスされるインバータ401をループにしたメモ
リセルと、全く同じ構成で異なるパスを、持つメモリセ
ルを用意しておき、セル間ヲシフト用トランスミッショ
ンゲート501で接続している。
読出し時は、1個のメモリと同じであるが、書込み時は
同じアドレスに同じデータを入れるため別のメモリセル
にも書込みを行なう必要があシ、従って例えばビットラ
イン405のデータをトランスミッションゲート404
を通してインバータ401のデータ保持ループに書込む
だけでなく、トランスミッションゲート501を通して
インバータ401′の対応するデータ保持ループにも同
時に書込みを行ないデータの更新を行なっている。
同じアドレスに同じデータを入れるため別のメモリセル
にも書込みを行なう必要があシ、従って例えばビットラ
イン405のデータをトランスミッションゲート404
を通してインバータ401のデータ保持ループに書込む
だけでなく、トランスミッションゲート501を通して
インバータ401′の対応するデータ保持ループにも同
時に書込みを行ないデータの更新を行なっている。
しかしながらこの方式では、2系列からの1込−みが同
時に同じアドレスに対して行なわれた場合。
時に同じアドレスに対して行なわれた場合。
パス間に干渉が牛じ、トランジスタに多大な′電流11
1: が流れ、最悪の場合はトランジスタを破壊してしまうと
いう欠点があった。つまり、1系列のピットライノ41
5からの「0」書込みと、他の1系列のビットライン4
05′からの「O」書込みが同時に起こったとすると、
シフト用トランスミツ/ヨ/ゲート501は二つとも「
0」信号を運ぶことになシ、互いのインノ(−夕401
,401’の出力をショートしてしまうことになるから
である。
1: が流れ、最悪の場合はトランジスタを破壊してしまうと
いう欠点があった。つまり、1系列のピットライノ41
5からの「0」書込みと、他の1系列のビットライン4
05′からの「O」書込みが同時に起こったとすると、
シフト用トランスミツ/ヨ/ゲート501は二つとも「
0」信号を運ぶことになシ、互いのインノ(−夕401
,401’の出力をショートしてしまうことになるから
である。
また、この方式では1つのメモリセルに比べて同時アク
セスメモリ゛にしたことで、回路部品数が2倍以上にな
り、パスも、ンフト用ラインが追加で必要になるという
欠点がおった。
セスメモリ゛にしたことで、回路部品数が2倍以上にな
り、パスも、ンフト用ラインが追加で必要になるという
欠点がおった。
更に、この方式で2系列以上のアドレスを持つマルチポ
ートの同時アクセスメモリを構成しようとすれば、相互
のメモリセル間を結ぶシフト用トランスミッションゲー
ト501の数が急増(例えば3ボートにすると2ポート
の3倍、4ポートは2ポートの6倍)シ、それに伴いト
ランジスタの拡散容量及び配線容量が増し、ディレーが
大きくなる。そして、マルチポート化されると直列につ
ながるトランスミッションケートの数が増え、伝達され
る電位が段々低くなるためノイズに対してマニジンが取
れなくなり、従ってこの方式では。
ートの同時アクセスメモリを構成しようとすれば、相互
のメモリセル間を結ぶシフト用トランスミッションゲー
ト501の数が急増(例えば3ボートにすると2ポート
の3倍、4ポートは2ポートの6倍)シ、それに伴いト
ランジスタの拡散容量及び配線容量が増し、ディレーが
大きくなる。そして、マルチポート化されると直列につ
ながるトランスミッションケートの数が増え、伝達され
る電位が段々低くなるためノイズに対してマニジンが取
れなくなり、従ってこの方式では。
原理的にマルチポート、のポート数つまりアクセスを許
す一系列数は限定されることになる。
す一系列数は限定されることになる。
次に、現在カスタムLSIに対して、配線層やコンタク
トな、どの一部を変更するだけで所望のLSIを製造す
るセミカスタムLSIの需要が延びているが、このよう
なLSIについて考える。
トな、どの一部を変更するだけで所望のLSIを製造す
るセミカスタムLSIの需要が延びているが、このよう
なLSIについて考える。
ゲートアレイもしくはマスタスライスと呼ばれるセミカ
スタムLSIの特徴は、同じ大きさのトランジスタが多
数用意されていることにある。この点で、前述した従来
方式のメモリセルには、ビットラインを駆動する大容量
トランジスタ、センスアンプを形成するために計算され
た大きさを持つトランジスタ、セルやセル近辺のトラン
スミッションケートを形成する小型トランジスタ等の多
種類の大きさが必要である。これらを同一のトランジス
タで作るとすれば、速度がおそ〈、ノイズマージンの少
ない、不安定なメモリになる可能性があるという欠点が
ある。
スタムLSIの特徴は、同じ大きさのトランジスタが多
数用意されていることにある。この点で、前述した従来
方式のメモリセルには、ビットラインを駆動する大容量
トランジスタ、センスアンプを形成するために計算され
た大きさを持つトランジスタ、セルやセル近辺のトラン
スミッションケートを形成する小型トランジスタ等の多
種類の大きさが必要である。これらを同一のトランジス
タで作るとすれば、速度がおそ〈、ノイズマージンの少
ない、不安定なメモリになる可能性があるという欠点が
ある。
また、C−MO81−ランジスタを用いたマスクスライ
スではP型とN型をペアで用いるため、従来の回路方式
では、N型MO8)ランジスタを使用する割合がかなり
大きいので、それに対応するP型MO8)ランジスタを
未使用のままで残しておくという不経済なことになると
いう欠点がある。
スではP型とN型をペアで用いるため、従来の回路方式
では、N型MO8)ランジスタを使用する割合がかなり
大きいので、それに対応するP型MO8)ランジスタを
未使用のままで残しておくという不経済なことになると
いう欠点がある。
本発明の目的は、前述の欠点を除去した新規な同時アク
セスメモリセルを提供することにある。
セスメモリセルを提供することにある。
本発明の目的を具体的に言えば、簡単な回路で。
マスタスライスLSIにも適し、一つのメモリセルに対
し同時に複数系列からの読出し、書込みを行なっても何
らデータバス間で干渉が生じず、アクセスを許す系列の
数に制限がないマルチボートメモリを構成可能な同時ア
クセスメモリセルを提供することにある。
し同時に複数系列からの読出し、書込みを行なっても何
らデータバス間で干渉が生じず、アクセスを許す系列の
数に制限がないマルチボートメモリを構成可能な同時ア
クセスメモリセルを提供することにある。
か\る目的を奏する本発明同時アクセスメモリセルの特
徴とするところは、書込み用データバスに連なる第1端
子と入力端子との間に21固のトランスミッションゲー
トを直列接続し、読出し用データバスに連なる第2端子
と出力端子との間に1個のトランスミッションゲートを
接続し、直列接続した2個のトランスミッションゲート
の接続点と出力端子との間に否定型論理素子を接続して
単位回路全構成し、この単位回路を偶数個、一つの単位
回路の入力端子が隣接する単位回路の出力端子に連なる
よ2に接続し、これによって否定型論理素子とトランス
ミッションゲートとが交互に直列接続された閉回路を構
成した点にある。こ\で使用される否定型論理素子とし
ては、インバータ。
徴とするところは、書込み用データバスに連なる第1端
子と入力端子との間に21固のトランスミッションゲー
トを直列接続し、読出し用データバスに連なる第2端子
と出力端子との間に1個のトランスミッションゲートを
接続し、直列接続した2個のトランスミッションゲート
の接続点と出力端子との間に否定型論理素子を接続して
単位回路全構成し、この単位回路を偶数個、一つの単位
回路の入力端子が隣接する単位回路の出力端子に連なる
よ2に接続し、これによって否定型論理素子とトランス
ミッションゲートとが交互に直列接続された閉回路を構
成した点にある。こ\で使用される否定型論理素子とし
ては、インバータ。
NANDゲート、NORゲート、EARゲート等から選
ばれた論理菓子が使用される。本発明の他の特徴は、以
下に述べる実施例の説明から明らかとなろう。
ばれた論理菓子が使用される。本発明の他の特徴は、以
下に述べる実施例の説明から明らかとなろう。
以下、本発明を実施例どして示した図面により詳述する
。
。
第3図は本発明の同時ア久セスメモリセルを構成する単
位回路で1本発明のメモリセルはこの単位回路を偶数個
使用して構成される。この単位回路は、入力端子11.
出力端子12、書込み用データバスに連なる第1端子1
6.読出し用データバスに連なる第2端子17.第1端
子16と入力端子11との間に直列接続された2個のト
ランスミッションゲート(以下TGと称す)13及び1
5、第2端子17と出力端子12との間に接続したTG
14.TG13とTG15との接続点と出力端子12と
の間に接続した否定型論理素子としてのインバータ1か
ら回路構成されている。
位回路で1本発明のメモリセルはこの単位回路を偶数個
使用して構成される。この単位回路は、入力端子11.
出力端子12、書込み用データバスに連なる第1端子1
6.読出し用データバスに連なる第2端子17.第1端
子16と入力端子11との間に直列接続された2個のト
ランスミッションゲート(以下TGと称す)13及び1
5、第2端子17と出力端子12との間に接続したTG
14.TG13とTG15との接続点と出力端子12と
の間に接続した否定型論理素子としてのインバータ1か
ら回路構成されている。
第4図は、第3図の単位回路を2個用いた本発明同時ア
クセスメモリセルの実施例で、第1の単位回路は第3図
と同符号で示し、第2の単位回路はインバータを2で示
し、各端子及び各TGを第3図で使用した符号の10の
位を2に置き換えた21〜27で示しておる。2個の単
位回路は、インバータとTGが交互に直列接続された閉
回路を構成する如く、第1の単位回路の入力端子11と
第2の単位回路の出力端子22間、及び第1の単位回路
の出力端子12と第2の単位回路の入力端子21間でそ
れぞれ接続されている。
クセスメモリセルの実施例で、第1の単位回路は第3図
と同符号で示し、第2の単位回路はインバータを2で示
し、各端子及び各TGを第3図で使用した符号の10の
位を2に置き換えた21〜27で示しておる。2個の単
位回路は、インバータとTGが交互に直列接続された閉
回路を構成する如く、第1の単位回路の入力端子11と
第2の単位回路の出力端子22間、及び第1の単位回路
の出力端子12と第2の単位回路の入力端子21間でそ
れぞれ接続されている。
換言すれば、この同時アクセスメモリセルは。
イ/パータ1,2及び帰還用TG15.25で情報保持
ループを形成し、このループに情報を書込むための書込
み用13と書込み用TG 23 、そして情報を読出す
ための読出し用24と読出し用TGL4で構成されてい
る。データ保持状態においては、書込み用TG13.2
3および読出し用TG14.24は開いた状態っまシ非
導通状態にあシJ帰還用TG15.25は閉じた状態つ
まシ導通状態にあり、帰還ループは、つながっており定
常状態にある。次に1つの端子16よりデー夛を書込む
場合は、書込み用TG13を閉じ、帰還用TG15を開
ける。そうすると、帰還ループが、帰還用TG15で切
れてしまうので、データバス16のデータは、書込み用
TG13.インバ〜り1、帰還用TG25.インバータ
2という経路で伝えられることになる。その後書込み用
TG13を開き、帰還用TG15を閉じると、新しくで
きた帰還ループは新しいデータを保持することになる。
ループを形成し、このループに情報を書込むための書込
み用13と書込み用TG 23 、そして情報を読出す
ための読出し用24と読出し用TGL4で構成されてい
る。データ保持状態においては、書込み用TG13.2
3および読出し用TG14.24は開いた状態っまシ非
導通状態にあシJ帰還用TG15.25は閉じた状態つ
まシ導通状態にあり、帰還ループは、つながっており定
常状態にある。次に1つの端子16よりデー夛を書込む
場合は、書込み用TG13を閉じ、帰還用TG15を開
ける。そうすると、帰還ループが、帰還用TG15で切
れてしまうので、データバス16のデータは、書込み用
TG13.インバ〜り1、帰還用TG25.インバータ
2という経路で伝えられることになる。その後書込み用
TG13を開き、帰還用TG15を閉じると、新しくで
きた帰還ループは新しいデータを保持することになる。
次に、帰還ループに蓄わ見られているデータを、端子2
7に読出す場合は、読出し用TG24を閉じれば容易に
読出すことができる。
7に読出す場合は、読出し用TG24を閉じれば容易に
読出すことができる。
これまでの説明では、何ら従来のラッチと変わらない動
作であるが、この同時アクセスメモリの特徴は帰還用T
G、書込み用TG、読出し用TGをそれぞれ2個持って
いる点にあ#)、それによって読出しだけではなく、一
方で書込み中に、他方から同時に書込みも可能にした点
である。
作であるが、この同時アクセスメモリの特徴は帰還用T
G、書込み用TG、読出し用TGをそれぞれ2個持って
いる点にあ#)、それによって読出しだけではなく、一
方で書込み中に、他方から同時に書込みも可能にした点
である。
、ここで、同時に書込みを行なうということについても
う少し詳しく述べる。同じメモリセルに対して同時に異
なるデータを書込むことは、物理的に考えて不可能であ
る。実際的には、メモリセルに対して少しでも後まで与
えられていたデータが書かれることになる。しかし、こ
の同時アクセス機能は、このセルを用いてメモリシステ
ムを構成した場合に絶大な効果を発揮する。これについ
ては、後述するが、ここでは、同じセルに対し、同時に
異なるデータが与えられたとしても、それぞれのデータ
・バスに何ら悪影響をおよぼさないということが大切で
ある。再び、第4図を用いて、この状態を考えると端子
16及び26から書込みが行なわれるから、書込み用T
G13と書込み用TG23は閉じており、帰還用TG1
5と帰還用TG25は開いている。このため端子16の
データは、書込み用TG13.インバータ1まで伝ゎ
゛るだけ、であり、端子26のデータは書込み用TG2
3、インバータ2まで伝わるだけであり、互いのデータ
が干渉しあうことはない。
う少し詳しく述べる。同じメモリセルに対して同時に異
なるデータを書込むことは、物理的に考えて不可能であ
る。実際的には、メモリセルに対して少しでも後まで与
えられていたデータが書かれることになる。しかし、こ
の同時アクセス機能は、このセルを用いてメモリシステ
ムを構成した場合に絶大な効果を発揮する。これについ
ては、後述するが、ここでは、同じセルに対し、同時に
異なるデータが与えられたとしても、それぞれのデータ
・バスに何ら悪影響をおよぼさないということが大切で
ある。再び、第4図を用いて、この状態を考えると端子
16及び26から書込みが行なわれるから、書込み用T
G13と書込み用TG23は閉じており、帰還用TG1
5と帰還用TG25は開いている。このため端子16の
データは、書込み用TG13.インバータ1まで伝ゎ
゛るだけ、であり、端子26のデータは書込み用TG2
3、インバータ2まで伝わるだけであり、互いのデータ
が干渉しあうことはない。
次にTGを具体的な回路素子で実現した例を第5図を用
いて説明する。第5図(a)は、N−MOSトランジス
タのTG13,14,24.23とP−MOSトランジ
スタのTG15.25で構成した簡易型である。ライト
・イネ−プル端子(以下WE端子と略す)1050レベ
ルを変化させることによりTG13とTG15を制御す
ることができる。しかし、この回路では、端子101か
ら。
いて説明する。第5図(a)は、N−MOSトランジス
タのTG13,14,24.23とP−MOSトランジ
スタのTG15.25で構成した簡易型である。ライト
・イネ−プル端子(以下WE端子と略す)1050レベ
ルを変化させることによりTG13とTG15を制御す
ることができる。しかし、この回路では、端子101か
ら。
「0」レベルの書込みを行なった後の状態において、イ
ンバータ1の入力電圧が外来ノイズ等によって影響を受
は変化する可能性があるので、あまり実用的ではない。
ンバータ1の入力電圧が外来ノイズ等によって影響を受
は変化する可能性があるので、あまり実用的ではない。
第5図(b)は、その欠点を補った回路で全てのTGを
N−MOSトランジスタで構成している。そのかわシ、
TG13とTG15を反転した位相で駆動しなければな
らないため複雑になっている。第5図(C)は帰還TO
15,25をP−MO8)ランジスタ、N−MO8トラ
ンジスタを並列に接続し、ノイズマージンを高めたもの
、第5図(d)は、書込み用TG13.23%読出し用
TG14.24、帰還用TG15.25の全てt−P−
MO8l−ランジスタとN−MOSトランジスタを並列
接続したTGで構成したものである。
N−MOSトランジスタで構成している。そのかわシ、
TG13とTG15を反転した位相で駆動しなければな
らないため複雑になっている。第5図(C)は帰還TO
15,25をP−MO8)ランジスタ、N−MO8トラ
ンジスタを並列に接続し、ノイズマージンを高めたもの
、第5図(d)は、書込み用TG13.23%読出し用
TG14.24、帰還用TG15.25の全てt−P−
MO8l−ランジスタとN−MOSトランジスタを並列
接続したTGで構成したものである。
これらの回路と従来の方式のものとの比較を行なうと、
同じアドレスに同時にアクセスを行なった場合バスが干
渉しないことは前述した通シであり、゛帰還ループに帰
還用TGがあるため、高速書込みが可能で、大容量トラ
ンジスタが不要、かつ特殊なトランジスタを用いるセン
スアンプも不要でアシ、マスタスライスに向いていると
言える。
同じアドレスに同時にアクセスを行なった場合バスが干
渉しないことは前述した通シであり、゛帰還ループに帰
還用TGがあるため、高速書込みが可能で、大容量トラ
ンジスタが不要、かつ特殊なトランジスタを用いるセン
スアンプも不要でアシ、マスタスライスに向いていると
言える。
また回路部品数については、従来の方式では、製造プロ
セスが定かでないため明言ができないが。
セスが定かでないため明言ができないが。
仮にC−MO8プロセスに換算すると、インバータがP
−MOSトランジスタ1個、N−MOSトランジスタ1
個で構成されるため、N−MO8?ランラスタ10個、
P−MO8)う/ラヌク4佃計14個で構成されている
と言える。
−MOSトランジスタ1個、N−MOSトランジスタ1
個で構成されるため、N−MO8?ランラスタ10個、
P−MO8)う/ラヌク4佃計14個で構成されている
と言える。
これに対し、第5図(→では、N−MOSトランジスタ
ー6個、P−MO8)ランジス24個の計10個であり
、同図(b)ではN−MO8)ランジス28個、p−v
os トランジスタ2個の計10個であ#)1同図(C
)でもN−MO81−ランジス28個。
ー6個、P−MO8)ランジス24個の計10個であり
、同図(b)ではN−MO8)ランジス28個、p−v
os トランジスタ2個の計10個であ#)1同図(C
)でもN−MO81−ランジス28個。
P−MOSトランジスタ4個の計12個であり、部品数
においても従来の方式にまさっている。高速、高ノイズ
マージン型の同図(d)では、N−MOSトランジスタ
8個、P−MO8トランジスタ8個の計16個となり若
干部品数が多くなっている。
においても従来の方式にまさっている。高速、高ノイズ
マージン型の同図(d)では、N−MOSトランジスタ
8個、P−MO8トランジスタ8個の計16個となり若
干部品数が多くなっている。
しかしC−MOSマスタスライスにおいては、P−MO
8I−ランジスタとN−MOSトランジスタが同数用意
されているので、従来の方式を実現したとすると、N−
MO8を10個用いているため必然的にP−MOSトラ
ンジスタも10個は使うことになり、結局第5図の(d
)よりも多くの素子を必要とすることになる。
8I−ランジスタとN−MOSトランジスタが同数用意
されているので、従来の方式を実現したとすると、N−
MO8を10個用いているため必然的にP−MOSトラ
ンジスタも10個は使うことになり、結局第5図の(d
)よりも多くの素子を必要とすることになる。
以上のように、本発明の回路によれば、マスタスライス
のようなLSIにも応用することが可能で、部品数の少
ない、同時に同じアドレスにアクセスしてもデータバス
に干渉が生じない、同時ア。
のようなLSIにも応用することが可能で、部品数の少
ない、同時に同じアドレスにアクセスしてもデータバス
に干渉が生じない、同時ア。
クセスメモリセルを構成できるという利点がある。
次に、このメモリセルを用いてメモリを構成する例を第
6図を用いて説明する。第1系列の書込み用デコーダ6
01は、与えられたアドレスをデコードし、書込み用パ
ルスが出ると、書込みTG13をONL、帰還用TGを
OFFするように信号を発生する。第2系列の書込み用
デコーダ603も同様にTG23.TG25’!5−コ
ントロールする。
6図を用いて説明する。第1系列の書込み用デコーダ6
01は、与えられたアドレスをデコードし、書込み用パ
ルスが出ると、書込みTG13をONL、帰還用TGを
OFFするように信号を発生する。第2系列の書込み用
デコーダ603も同様にTG23.TG25’!5−コ
ントロールする。
第1系列の読出し用デコーダ602は読出し用TG24
を読出し用パルスが出たらONするようにコントロール
し、第2系列の読出し用デコーダ604も同様にTG1
4をコントロールする。
を読出し用パルスが出たらONするようにコントロール
し、第2系列の読出し用デコーダ604も同様にTG1
4をコントロールする。
このようにして、1つのメモリセルについて。
アドレス、データが完全に独立しているので、メモリシ
ステムにおいてさまざまなアドレス形式が許される。つ
まシ、書込みを1ビット単位で行ない、読出しを16ビ
ツト単位で行なうといったようにシリアル・イン・パラ
レル・アウトの7フトレジδりの如く動作させることも
可能である。しかも、同時に、複数からのアクセスも可
能であるがゆえに0、今まででは考えられなかったよう
な高度なシステムを構成することが可能である。
ステムにおいてさまざまなアドレス形式が許される。つ
まシ、書込みを1ビット単位で行ない、読出しを16ビ
ツト単位で行なうといったようにシリアル・イン・パラ
レル・アウトの7フトレジδりの如く動作させることも
可能である。しかも、同時に、複数からのアクセスも可
能であるがゆえに0、今まででは考えられなかったよう
な高度なシステムを構成することが可能である。
第7図を用いてその1例を紹介する。2系列からの読出
し及び書込みを独立して同時に行なえる第6図のメモリ
セルフ00の集合であるメモリ701に対し、1系列の
書込みパスを用いて人力信号を1ビット単位で書込み7
02を行なっている。一方同時に、1ビット単位で書込
まれたデータはCPU703によって今度は7ビツト単
位で読出され、CPU703で処理後再び7ビツト単位
で書込まれている。この処理は例えば、ノイズ除去、エ
ラー補正、パリティ−チェック、エンコード、デコード
、暗号化などである。また一方同時に、CPU703で
処理されたデータは、他の処理を行なうため今度は14
ピット単位で読出し704が行なわれている。
し及び書込みを独立して同時に行なえる第6図のメモリ
セルフ00の集合であるメモリ701に対し、1系列の
書込みパスを用いて人力信号を1ビット単位で書込み7
02を行なっている。一方同時に、1ビット単位で書込
まれたデータはCPU703によって今度は7ビツト単
位で読出され、CPU703で処理後再び7ビツト単位
で書込まれている。この処理は例えば、ノイズ除去、エ
ラー補正、パリティ−チェック、エンコード、デコード
、暗号化などである。また一方同時に、CPU703で
処理されたデータは、他の処理を行なうため今度は14
ピット単位で読出し704が行なわれている。
このような回路を従来のメモリで行なうためには難しい
タイミング設定を行なわねばならず、また部品数、コス
トの増大は避けられない。しかし本発明を用いることに
より、簡単なアドレス管理を行なうだけで、このような
高度なシステムを実現できるという利点がある。
タイミング設定を行なわねばならず、また部品数、コス
トの増大は避けられない。しかし本発明を用いることに
より、簡単なアドレス管理を行なうだけで、このような
高度なシステムを実現できるという利点がある。
第8図及び第9図に本発明の他の実施例を挙げである。
第8図(→は、4系列からのアクセスを可能とした−の
で、同図(b)はイン・く−夕の代りにゲートを用いた
もの、第9図(、ioは、インバータとゲートを組み合
わせたもの、(b)はリード用データ・(スとライト用
データバスを同じパスで行なうものなどである。
で、同図(b)はイン・く−夕の代りにゲートを用いた
もの、第9図(、ioは、インバータとゲートを組み合
わせたもの、(b)はリード用データ・(スとライト用
データバスを同じパスで行なうものなどである。
本発明によれば、マスタスライスLSIにおいても、部
品数の少ない、同時に複数のパスからアクセスが可能で
、データバス間に何ら干渉を生じさせない、原理上ボー
ト数に上限なく増設可能なマルチボート同時アクセスメ
モリを実現できるという効果がある。
品数の少ない、同時に複数のパスからアクセスが可能で
、データバス間に何ら干渉を生じさせない、原理上ボー
ト数に上限なく増設可能なマルチボート同時アクセスメ
モリを実現できるという効果がある。
第1図は従来のメモリの回路図、第2図は従来の同時ア
クセスメモリの回路図、第3図は本発明のメモリセルに
使用する単位回路を示す回路図、第4図は本発明の同時
アクセスメモリセルの回路図、第5図は第4図のセルの
詳細回路図、第6図は同時アクセスメモリシステムのブ
ロック図、第7図は本発明の詳細な説明するだめの概念
図、第8図は本発明の池の実施例の回路図、第9図は本
発明の他の実施例の回路図である。 1.2・・・インバータ、11.21・・・入力端子。 12.22・・・出力端子、13,14,15,23゜
24.25・・・トランスミツンヨ/ゲート、16゜第
2 口 1lIJ 図 3 !$6 口 第 7f1 02 第 8 口
クセスメモリの回路図、第3図は本発明のメモリセルに
使用する単位回路を示す回路図、第4図は本発明の同時
アクセスメモリセルの回路図、第5図は第4図のセルの
詳細回路図、第6図は同時アクセスメモリシステムのブ
ロック図、第7図は本発明の詳細な説明するだめの概念
図、第8図は本発明の池の実施例の回路図、第9図は本
発明の他の実施例の回路図である。 1.2・・・インバータ、11.21・・・入力端子。 12.22・・・出力端子、13,14,15,23゜
24.25・・・トランスミツンヨ/ゲート、16゜第
2 口 1lIJ 図 3 !$6 口 第 7f1 02 第 8 口
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、書込み用データバスに連なる第1端子。 読出−用データバスに連なる第2端子。 入力端子。 出力端子。 入力端子と出力端子間に、第1トランスミツシヨンゲー
トが入力端子側となるように直列接続すれた第1トラン
スミツシヨンゲート及び否定型論理素子。 第1トランスミツ/ヨ/ゲートと否定型論理素子との接
続点と、第1端子との間に、接続した第2トランスミツ
シヨンゲート、 第2端子と出力端子との間に接続した第3トランスミツ
シヨンゲート、 によって単位回路を構成し、この単位回路を偶数個準備
し、一つの単位回路の入力端子と隣接する単位回路の出
力端子とを接続し、これによって第1トランスミツシヨ
ンゲートと否定論理素子とを交互に偶数個直列接続した
閉回路を構成したことを特徴とする同時アクセスメモリ
セル。 2、特許請求の範囲第1項において、否定型論理素子が
、インバータ、NANDゲート、NOR,ゲート、FO
Rゲートから選ばれた論理素子であることを特徴とする
同時アクセスメモリセル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56177094A JPS5880187A (ja) | 1981-11-06 | 1981-11-06 | 同時アクセスメモリセル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56177094A JPS5880187A (ja) | 1981-11-06 | 1981-11-06 | 同時アクセスメモリセル |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5880187A true JPS5880187A (ja) | 1983-05-14 |
| JPS6120080B2 JPS6120080B2 (ja) | 1986-05-20 |
Family
ID=16025022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56177094A Granted JPS5880187A (ja) | 1981-11-06 | 1981-11-06 | 同時アクセスメモリセル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5880187A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6412300U (ja) * | 1987-07-06 | 1989-01-23 |
-
1981
- 1981-11-06 JP JP56177094A patent/JPS5880187A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6412300U (ja) * | 1987-07-06 | 1989-01-23 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6120080B2 (ja) | 1986-05-20 |
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